JP7157248B2 - セルロースエステル位相差フィルム - Google Patents
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Description
Δe=nx-ny
Δth=(nx+ny)/2-nz
Re=Δed=(nx-ny)d
Rth=Δthd=[(nx+ny)/2-nz]d
nx>ny=nz
nx<ny=nz
nz>ny=nx (“ポジティブC”プレート)
nz<ny=nx (“ネガティブC”プレート)
(上記R1、R2は、それぞれ独立的に水素、C1~C20のアルキル、アルコール、酸、エステル、芳香族系炭化水素の中の一つ以上である)
(上記R1、R2は、それぞれ独立的に水素、C1~C20のアルキル、アルコール、酸、エステル、芳香族系炭化水素の中の一つ以上である)
(上記R1、R2は、それぞれ独立的に水素、C1~C20のアルキル、アルコール、酸、エステル、芳香族系列の炭化水素のうちの一つ以上である)
本発明の他の一実施形態においては、第1セルロースエステル樹脂と位相差制御剤が含まれた第1ドープと第2セルロースエステル樹脂を含む第2ドープとをそれぞれソルベントキャスティング及び積層することで製造した多層のセルロースエステル位相差フィルムを提供することを特徴とする。
(上記R1、R2は、それぞれ独立的に水素、C1~C20のアルキル、アルコール、酸、エステル、芳香族系炭化水素の中の一つ以上である)
ドープ100質量%に対して0.01~10質量%、好ましくは0.03~9.94質量%、さらに好ましくは0.03~5.7質量%であるものがよい。
第1ドープ100質量%に対して0.01~10質量%、好ましくは0.03~9.94質量%、より好ましくは0.03~5.7質量%であるのがよい。
数学式(1) Ro=(Nx-Nx-Ny)×d
数学式(2) Rth=(Nx+Ny)/2-Nz×d
ポジティブC:Nz>Nx=Ny
(ただし、dはフィルムの厚さ(nm)、Nxはフィルム面内の最大屈折率、Nyはフィルム面内においてのNxに直核である方向の屈折率、Nzは厚さ方向においてのフィルムの屈折率である)
[実施例1]
<ステップ1>セルロースエステル樹脂
セルロースエステル樹脂としては、下記化学式6においてR1~R3が酢酸とプロピオン酸であるセルロースエステル樹脂(Cellulose Acetate Propionate;CAP)を用いた。
ステップ1において製造したセルロースエステル樹脂(CAP;Cellulose Acetate Propionate)22.7質量%、下記化学式2の構造を有する位相差制御剤5.7質量%及び塩化メチレンとメタノールを80:20の割合で混合した混合溶媒(71.6質量%)で構成されたドープを製造した。
ステップ2において製造したドープを、ベルト柔軟装置を利用して幅800mmのステンレスバンド支持体に均一に柔軟にした。ステンレスバンド支持体上で溶媒を蒸発させ、ステンレスバンド支持体から剥離した。その次に、150℃に設定されたテンタ(Tenter)区間にて3分間搬送させ、ドライヤ(Dryer)100℃にて乾燥を行い、膜厚40μmのセルロースエステル位相差フィルムを製造した。
膜厚を25μmに変更することを除いては、実施例1と同様のプロセスを実施してセルロースエステル位相差フィルムを製造した。
膜厚を60μmに変更することを除いては、実施例1と同様のプロセスを実施してセルロースエステル位相差フィルムを製造した。
膜厚を80μmに変更することを除いては、実施例1と同様のプロセスを実施してセルロースエステル位相差フィルムを製造した。
ドープの位相差制御剤の含有量を0.03質量%に変更したことを除いては、実施例1と同様のプロセスを実施してセルロースエステル位相差フィルムを製造した。
ドープの位相差制御剤の含有量を2.84質量%に変更したことを除いては、実施例1と同様のプロセスを実施してセルロースエステル位相差フィルムを製造した。
ドープの位相差制御剤の含有量を9.94質量%に変更したことを除いては、実施例1と同様のプロセスを実施してセルロースエステル位相差フィルムを製造した。
位相差制御剤として下記化学式4の構造を有する物質を用いることを除いては、実施例1と同様のプロセスを実施してセルロースエステル位相差フィルムを製造した。
位相差制御剤を入れないことを除いては、実施例1と同様のプロセスを実施してセルロースエステル位相差フィルムを製造した。
1.位相差の測定
Axoscan装置を利用し、23℃、55%RHの環境下において、波長550nmで面内方向の位相差値であるRoと厚さ方向の位相差値であるRthを測定して表1に表した。
[実施例9]
<ステップ1>セルロースエステル樹脂
第1セルロースエステル樹脂及び第2セルロースエステル樹脂を準備する。
まず、第1セルロースエステル樹脂としては、下記化学式6においてR1~R3が酢酸とプロピオン酸に置換された樹脂を用い、
第2セルロースエステル樹脂としては、セルローストリアセテート(TAC;Cellulose Triacetate)を用いた。
ステップ1で製造した第1セルロースエステル樹脂22.7質量%及び下記化学式2の構造を有する位相差制御剤5.7質量%を塩化メチレンとメタノールを80:20の割合で混合した混合溶媒に溶解して第1ドープを製造した。
ステップ2で製造された第1ドープを36μmの厚さで第1ドープ層を製造し、上記第1ドープ層の両面にステップ2で製造された第2ドープを各2μmの厚さに導出して無延伸及び乾燥工程を経てフィルムを製造した。
第1ドープを18μmの厚さで第1ドープ層を製造し、上記第1ドープ層の両面に第2ドープを各1μmの厚さに導出して無延伸及び乾燥工程を経て、最終厚さ20μmであるフィルムを製造することを除いて実施例9と同様のステップを実施することで、セルロースエステル多層位相差フィルムを製造した。
第1ドープを72μmの厚さで第1ドープ層を製造し、上記第1ドープ層の両面に第2ドープを各4μmの厚さに導出して無延伸及び乾燥工程を経て、最終厚さ80μmであるフィルムを製造することを除いて実施例9と同様のプロセスを実施することで、セルロースエステル多層位相差フィルムを製造した。
第1ドープに位相差制御剤の含有量を0.03質量%に変更したことを除いては、実施例9と同様のプロセスを実施することで、セルロースエステル多層位相差フィルムを製造した。
第1ドープを72μmの厚さで第1ドープ層を製造し、上記第1ドープ層の両面に第2ドープを各4μmの厚さに導出して無延伸及び乾燥工程を経て、最終厚さ80μmであるフィルムを製造することを除いて実施例12と同様のプロセスを実施することで、セルロースエステル多層位相差フィルムを製造した。
第1ドープの位相差制御剤の含有量を2.84質量%に変更したことを除いては、実施例9と同様のプロセスを実施することで、セルロースエステル多層位相差フィルムを製造した。
第1ドープを72μmの厚さで、第1ドープ層を製造し、上記第1ドープ層の両面に第2ドープを各4μmの厚さに導出して無延伸及び乾燥工程を経て、最終厚さ80μmであるフィルムを製造することを除いて実施例14と同様のプロセスを実施することで、セルロースエステル多層位相差フィルムを製造した。
第1ドープの位相差、制御剤の含有量を9.94質量%に変更したことを除いては、実施例9と同じ手順を実施することで、セルロースエステル多層位相差フィルムを製造した。
第1ドープを72μmの厚さで、第1ドープ層を製造し、上記第1ドープ層の両面に第2ドープを各4μmの厚さに導出して無延伸及び乾燥工程を経て、最終厚さ80μmであるフィルムを製造することを除いて実施例16と同様のプロセスを実施することで、セルロースエステル多層位相差フィルムを製造した。
第1ドープで使用される第1セルロースエステル樹脂において、R1~R3がすべてナフトイル基(Naphthoyl)で置換されたセルロース樹脂を適用し、位相差制御剤を投入しないことを除いては、実施例9と同様のプロセスを実施することで、セルロースエステル多層位相差フィルムを製造した。
Axoscan装置を用いて23℃、55%RHの環境下において、波長550nmで面内方向の位相差値であるRoと厚さ方向の位相差値であるRthを測定し、表2に表した。
実施例及び比較例の第1ドープと第2ドープを80:20の割合で混合した後、15時間の間をミキシングし、22℃、26%RHの環境下でフィルムキャスティング(Casting)後の曇り度計(Hazemeter)で測定した。
Claims (9)
- 下記化学式6において、R1~R3から選択された1種または2種以上が酢酸(Acetic acid)、プロピオン酸(Propionic acid)及び酪酸(butyric acid)からなる群から選択された1種に置換されたセルロースエステル樹脂、及び下記化学式2~5から選択された構造を有する位相差制御剤を含むドープをソルベントキャスティングしてなるドープ層を含み、
前記位相差制御剤の含有量は、位相差フィルム100質量%中、0.1~35質量%であり、
厚さは25~80μmであり、波長550nmで測定した場合の面方向の位相差値(Ro)は0~30nmであり、厚さ方向の位相差値(Rth)は-10~-105nmであることを特徴とする、ポジティブCプレートの光学特性を有するセルロースエステル位相差フィルム。
- 前記位相差フィルムは、1層または2層以上であることを特徴とする、請求項1に記載のポジティブCプレートの光学特性を有するセルロースエステル位相差フィルム。
- 一つ以上のアセチルを含み、アセチル置換度が0.5~2.9であるセルロースエステル樹脂、及び
下記化学式2~5から選択された構造を有する位相差制御剤を含むドープをソルベントキャスティングしてなるドープ層を含み、
前記位相差制御剤の含有量は、位相差フィルム100質量%中、0.1~35質量%であることを特徴とする、ポジティブCプレートの光学特性を有するセルロースエステル位相差フィルム。
- 前記位相差フィルムの厚さは25~80μmであり、波長550nmで測定した場合の面方向の位相差値(Ro)は0~30nmであり、厚さ方向の位相差値(Rth)は-10~-105nmであることを特徴とする、請求項3に記載のポジティブCプレートの光学特性を有するセルロースエステル位相差フィルム。
- 前記位相差フィルムは1層または2層以上であることを特徴とする、請求項3に記載のポジティブCプレートの光学特性を有するセルロースエステル位相差フィルム。
- 下記化学式6において、R1~R3から選択された1種または2種以上が酢酸、プロピオン酸及び酪酸で構成された群から選択された1種に置換された第1セルロースエステル樹脂、及び下記化学式2~5から選択された構造を有する位相差制御剤を含む第1ドープをソルベントキャスティングしてなる第1ドープ層、及び
下記化学式6において、R1~R3から選択された1種または2種以上が炭素数5~15である炭化水素に置換された第2セルロースエステル樹脂を含む第2ドープをソルベントキャスティングしてなる第2ドープ層、を含み、
前記位相差制御剤の含有量は、第1ドープの総質量%を基準として0.01~10質量%であり、多層位相差フィルム100質量%基準としては0.1%~35%であり、
前記第1ドープ層の厚さは、フィルム全体の総厚と比較して10~90%であることを特徴とする、セルロースエステル多層位相差フィルム。
- 前記セルロースエステル多層位相差フィルムの総厚さは20~80μmであり、波長550nmで測定した場合の面方向の位相差値(Ro)は0~30nmであり、厚さ方向の位相差値(Rth)は-5~-105nmであることを特徴とする、請求項6に記載のセルロースエステル多層位相差フィルム。
- 前記セルロースエステル多層位相差フィルムは、3層以上の構造であることを特徴とする、請求項6に記載のセルロースエステル多層位相差フィルム。
- 前記セルロースエステル多層位相差フィルムは、
第1ドープ層の両面に第2ドープ層が備えられ、
第2ドープ層、第1ドープ層及び第2ドープ層が順次に積層された3層構造であることを特徴とする、請求項8に記載のセルロースエステル多層位相差フィルム。
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