JP7140191B2 - 情報処理装置、制御方法、及びプログラム - Google Patents

情報処理装置、制御方法、及びプログラム Download PDF

Info

Publication number
JP7140191B2
JP7140191B2 JP2020533925A JP2020533925A JP7140191B2 JP 7140191 B2 JP7140191 B2 JP 7140191B2 JP 2020533925 A JP2020533925 A JP 2020533925A JP 2020533925 A JP2020533925 A JP 2020533925A JP 7140191 B2 JP7140191 B2 JP 7140191B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
time
series data
sensor
contribution
characteristic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2020533925A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2020026327A1 (ja
Inventor
亮太 鈴木
力 江藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Publication of JPWO2020026327A1 publication Critical patent/JPWO2020026327A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7140191B2 publication Critical patent/JP7140191B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/0004Gaseous mixtures, e.g. polluted air
    • G01N33/0009General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
    • G01N33/0062General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the measuring method, e.g. intermittent, or the display, e.g. digital
    • G01N33/0067General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the measuring method, e.g. intermittent, or the display, e.g. digital by measuring the rate of variation of the concentration
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02Devices for withdrawing samples
    • G01N1/22Devices for withdrawing samples in the gaseous state
    • G01N1/24Suction devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N19/00Investigating materials by mechanical methods
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/0004Gaseous mixtures, e.g. polluted air
    • G01N33/0009General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/0004Gaseous mixtures, e.g. polluted air
    • G01N33/0009General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
    • G01N33/0011Sample conditioning
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/0004Gaseous mixtures, e.g. polluted air
    • G01N33/0009General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
    • G01N33/0011Sample conditioning
    • G01N33/0016Sample conditioning by regulating a physical variable, e.g. pressure, temperature
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/0004Gaseous mixtures, e.g. polluted air
    • G01N33/0009General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
    • G01N33/0027General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/0004Gaseous mixtures, e.g. polluted air
    • G01N33/0009General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
    • G01N33/0027General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector
    • G01N33/0031General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector comprising two or more sensors, e.g. a sensor array
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N5/00Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid
    • G01N5/02Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid by absorbing or adsorbing components of a material and determining change of weight of the adsorbent, e.g. determining moisture content

Description

本発明はガスの特徴の解析に関する。
ガスをセンサで測定することにより、ガスに関する情報を得る技術が開発されている。特許文献1は、ナノメカニカルセンサで試料ガスを測定することで得られるシグナル(検出値の時系列データ)を利用して、試料ガスの種類を判別する技術を開示している。具体的には、センサの受容体に対する試料ガスの拡散時定数が、受容体の種類と試料ガスの種類の組み合わせによって決まるため、シグナルから得られる拡散時定数と、受容体の種類とに基づいて、試料ガスの種類を判別できることが開示されている。
特開2017-156254号公報
特許文献1では、試料ガスに含まれている分子が1種類であることが前提となっており、複数種類の分子が混合している試料ガスを扱うことが想定されていない。本願発明は上記の課題に鑑みてなされたものであり、複数種類の分子が混合しているガスの特徴を抽出する技術を提供することである。
本発明の情報処理装置は、1)対象ガスに含まれる分子の付着と離脱に応じて検出値が変化するセンサから出力された、検出値の時系列データを取得する時系列データ取得部と、2)時系列データに対して寄与する複数の特徴定数と、各特徴定数の時系列データに対する寄与の大きさを表す寄与値とを算出する算出部と、3)複数の特徴定数と各特徴定数について算出された寄与値の組み合わせを、センサによってセンシングされたガスの特徴量として出力する出力部と、を有する。特徴定数は、センサに付着している分子の量の時間変化の大きさに関する時定数又は速度定数である。算出部は、時系列データを用いて、各時刻における検出値及びその時刻における検出値の時間変化率を要素とする時系列のベクトルデータを算出し、算出した各時系列のベクトルデータそれぞれについて速度ベクトルを算出する。また、算出部は、速度ベクトルの向きに基づいて、時系列データの測定期間から、複数の部分期間を抽出し、部分期間ごとに、その部分期間における速度ベクトルの向きに基づいて、特徴定数を算出する。部分期間は、その中に含まれる速度ベクトルの向きが略同一の期間である。
本発明の制御方法は、コンピュータによって実行される。当該制御方法は、1)対象ガスに含まれる分子の付着と離脱に応じて検出値が変化するセンサから出力された、検出値の時系列データを取得する時系列データ取得ステップと、2)時系列データに対して寄与する複数の特徴定数と、各特徴定数の時系列データに対する寄与の大きさを表す寄与値とを算出する算出ステップと、3)複数の特徴定数と各特徴定数について算出された寄与値の組み合わせを、センサによってセンシングされたガスの特徴量として出力する出力ステップと、を有する。特徴定数は、センサに付着している分子の量の時間変化の大きさに関する時定数又は速度定数である。算出ステップでは、時系列データを用いて、各時刻における検出値及びその時刻における検出値の時間変化率を要素とする時系列のベクトルデータを算出し、算出した各時系列のベクトルデータそれぞれについて速度ベクトルを算出する。また、算出ステップでは、速度ベクトルの向きに基づいて、時系列データの測定期間から、複数の部分期間を抽出し、部分期間ごとに、その部分期間における速度ベクトルの向きに基づいて、特徴定数を算出する。部分期間は、その中に含まれる速度ベクトルの向きが略同一の期間である。
本発明のプログラムは、コンピュータに、本発明の制御方法が有する各ステップを実行させる。
本発明によれば、複数種類の分子が混合しているガスの特徴を抽出する技術が提供される。
上述した目的、およびその他の目的、特徴および利点は、以下に述べる好適な実施の形態、およびそれに付随する以下の図面によってさらに明らかになる。
実施形態1の情報処理装置の概要を例示する図である。 情報処理装置が取得するデータを得るためのセンサを例示する図である。 実施形態1の情報処理装置の機能構成を例示する図である。 情報処理装置を実現するための計算機を例示する図である。 実施形態1の情報処理装置によって実行される処理の流れを例示するフローチャートである。 センサから得られる複数の時系列データを例示する図である。 g(t) のグラフを例示する図である。 AIC をグラフで表す図である。 (y(t), y'(t)) の速度ベクトルを例示する図である。 対象ガスの特徴量をグラフで例示する図である。 立ち上がりの時系列データと立ち下がりの時系列データそれぞれから特徴行列を得るケースを例示する図である。 複数のセンサそれぞれから時系列データを得ることで、複数の特徴行列を得るケースを例示する図である。
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。また、特に説明する場合を除き、各ブロック図において、各ブロックは、ハードウエア単位の構成ではなく、機能単位の構成を表している。
[実施形態1]
<発明の概要と理論的背景>
図1は、実施形態1の情報処理装置2000の概要を例示する図である。また、図2は、情報処理装置2000が取得するデータを得るためのセンサ10を例示する図である。センサ10は、分子が付着する受容体を有し、その受容体における分子の付着と離脱に応じて検出値が変化するセンサである。なお、センサ10によってセンシングされているガスを、対象ガスと呼ぶ。また、センサ10から出力される検出値の時系列データを、時系列データ14と呼ぶ。ここで、必要に応じ、時系列データ14を Y とも表記し、時刻 t の検出値を y(t) とも表記する。Y は、y(t) が列挙されたベクトルとなる。
例えばセンサ10は、膜型表面応力(Membrane-type Surface Stress; MSS)センサである。MSS センサは、受容体として、分子が付着する官能膜を有しており、その官能膜に対する分子の付着と離脱によってその官能膜の支持部材に生じる応力が変化する。MSS センサは、この応力の変化に基づく検出値を出力する。なお、センサ10は、MSS センサには限定されず、受容体に対する分子の付着と離脱に応じて生じる、センサ10の部材の粘弾性や動力学特性(質量や慣性モーメントなど)に関連する物理量の変化に基づいて検出値を出力するものであればよく、カンチレバー式、膜型、光学式、ピエゾ、振動応答などの様々なタイプのセンサを採用することができる。
ここで、説明のため、センサ10によるセンシングを以下のようにモデル化する。
(1)センサ10は、K 種類の分子を含む対象ガスに曝されている。
(2)対象ガスにおける各分子 k の濃度は一定のρkである。
(3)センサ10には、合計 N 個の分子が吸着可能である。
(4)時刻t においてセンサ10に付着している分子k の数は nk(t) 個である。
センサ10に付着している分子 k の数 nk(t) の時間変化は、以下のように定式化できる。
Figure 0007140191000001
式(1)の右辺の第1項と第2項はそれぞれ、単位時間当たりの分子 k の増加量(新たにセンサ10に付着する分子 k の数)と減少量(センサ10から離脱する分子 k の数)を表している。また、αk とβk はそれぞれ、分子 k がセンサ10に付着する速度を表す速度定数と、分子 k がセンサ10から離脱する速度を表す速度定数である。
ここで、濃度ρkが一定であるため、上記式(1)から、時刻t における分子 k の数 nk(t) は、以下のように定式化できる。
Figure 0007140191000002
また、時刻 t0(初期状態)でセンサ10に分子が付着していないと仮定すれば、nk(t) は以下のように表される。
Figure 0007140191000003
センサ10の検出値は、対象ガスに含まれる分子によってセンサ10に働く応力によって定まる。そして、複数の分子によってセンサ10に働く応力は、個々の分子に働く応力の線形和で表すことができると考えられる。ただし、分子によって生じる応力は、分子の種類によって異なると考えられる。すなわち、センサ10の検出値に対する分子の寄与は、その分子の種類によって異なると言える。
そこで、センサ10の検出値 y(t) は、以下のように定式化できる。
Figure 0007140191000004
ここで、γk とξk はいずれも、センサ10の検出値に対する分子 k の寄与を表す。なお、「立ち上がり」と「立ち下がり」の意味については、後述する。
ここで、対象ガスをセンシングしたセンサ10から得た時系列データ14を上述の式(4)のように分解できれば、対象ガスに含まれる分子の種類や、各種類の分子が対象ガスに含まれる割合を把握することができる。すなわち、式(4)に示す分解によって、対象ガスの特徴を表すデータ(すなわち、対象ガスの特徴量)が得られる。
そこで情報処理装置2000は、センサ10によって出力された時系列データ14を取得し、時系列データ14を以下の式(5)に示すように分解する。
Figure 0007140191000005
ここで、ξi は、センサ10の検出値に対する特徴定数θi の寄与を表す寄与値である。
具体的には、まず情報処理装置2000は、時系列データ14を用いて、時系列データ14に対して寄与する複数の特徴定数の集合Θ={θ1,..., θm} と、各特徴定数θi の時系列データ14に対する寄与の大きさを表す寄与値ξi を算出する。なお、後述するように、特徴定数θi を算出してから寄与値ξi が算出されるケースと、特徴定数θi と共に寄与値ξi が算出されるケースとがある。
さらに情報処理装置2000は、特徴定数の集合Θと寄与値の集合Ξとを対応づけた情報を、対象ガスの特徴を表す特徴量として出力する。特徴定数の集合Θと寄与値の集合Ξとの対応づけは、例えば、m 行2列の特徴行列 F で表される(m は特徴定数と寄与値それぞれの数)。例えばこの行列 F は、特徴定数の集合を表す特徴定数ベクトルΘ=(θ1,..., θm) を第1列に有し、なおかつ寄与値の集合を表す寄与ベクトルΞ=(ξ1,..., ξm) を第2列に有する。すなわち、F=(ΘT, ΞT) である。以降の説明では、特に断らない限り、対象ガスの特徴量は、特徴行列 F で表されるとする。ただし、対象ガスの特徴量は、必ずベクトルとして表現しなければならないわけではない。
ここで、特徴定数θとしては、前述した速度定数βや、速度定数の逆数である時定数τを採用することができる。θとしてβとτを使う場合それぞれについて、式(5)は、以下のように表すことができる。
Figure 0007140191000006
なお、図1では、特徴定数として速度定数βが利用されている。そのため、特徴定数の集合Θは、β1 からβm を示している。
<作用・効果>
前述したように、センサ10の検出値に対する分子の寄与は、その分子の種類によって異なると考えられるため、上述した特徴定数の集合Θとそれに対応する寄与値の集合Ξは、対象ガスに含まれる分子の種類やその混合比率に応じて異なるものになると考えられる。よって、特徴定数の集合Θと寄与値の集合Ξとを対応づけた情報は、複数種類の分子が混合されているガスを互いに区別することができる情報、すなわちガスの特徴量として利用することができる。
そこで本実施形態の情報処理装置2000は、対象ガスをセンサ10でセンシングすることで得られた時系列データ14に基づいて、特徴定数の集合Θと、各特徴定数の時系列データ14に対する寄与を表す寄与値の集合Ξとを算出し、算出した集合ΘとΞとを対応づけた情報を、対象ガスの特徴量として出力する。こうすることで、複数種類の分子が混合しているガスを識別することが可能な特徴量を、そのガスをセンサ10でセンシングした結果から自動的に生成することができる。
なお、図1を参照した上述の説明は、情報処理装置2000の理解を容易にするための例示であり、情報処理装置2000の機能を限定するものではない。以下、本実施形態の情報処理装置2000についてさらに詳細に説明する。
<情報処理装置2000の機能構成の例>
図3は、実施形態1の情報処理装置2000の機能構成を例示する図である。情報処理装置2000は、時系列データ取得部2020、算出部2040、及び出力部2060を有する。時系列データ取得部2020は、センサ10から時系列データ14を取得する。特徴定数生成部2030は、時系列データ14を用いて、複数の特徴定数θi と、各特徴定数θi の時系列データ14に対する寄与の大きさを表す寄与値ξi を算出する。出力部2060は、特徴定数の集合Θと寄与値の集合Ξとを対応づけた情報を、センサ10によってセンシングされたガスの特徴量として出力する。
<情報処理装置2000のハードウエア構成>
情報処理装置2000の各機能構成部は、各機能構成部を実現するハードウエア(例:ハードワイヤードされた電子回路など)で実現されてもよいし、ハードウエアとソフトウエアとの組み合わせ(例:電子回路とそれを制御するプログラムの組み合わせなど)で実現されてもよい。以下、情報処理装置2000の各機能構成部がハードウエアとソフトウエアとの組み合わせで実現される場合について、さらに説明する。
図4は、情報処理装置2000を実現するための計算機1000を例示する図である。計算機1000は任意の計算機である。例えば計算機1000は、Personal Computer(PC)やサーバマシンなどの据え置き型の計算機である。その他にも例えば、計算機1000は、スマートフォンやタブレット端末などの可搬型の計算機である。計算機1000は、情報処理装置2000を実現するために設計された専用の計算機であってもよいし、汎用の計算機であってもよい。
計算機1000は、バス1020、プロセッサ1040、メモリ1060、ストレージデバイス1080、入出力インタフェース1100、及びネットワークインタフェース1120を有する。バス1020は、プロセッサ1040、メモリ1060、ストレージデバイス1080、入出力インタフェース1100、及びネットワークインタフェース1120が、相互にデータを送受信するためのデータ伝送路である。ただし、プロセッサ1040などを互いに接続する方法は、バス接続に限定されない。
プロセッサ1040は、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、FPGA(Field-Programmable Gate Array)などの種々のプロセッサである。メモリ1060は、RAM(Random Access Memory)などを用いて実現される主記憶装置である。ストレージデバイス1080は、ハードディスク、SSD(Solid State Drive)、メモリカード、又は ROM(Read Only Memory)などを用いて実現される補助記憶装置である。
入出力インタフェース1100は、計算機1000と入出力デバイスとを接続するためのインタフェースである。例えば入出力インタフェース1100には、キーボードなどの入力装置や、ディスプレイ装置などの出力装置が接続される。その他にも例えば、入出力インタフェース1100には、センサ10が接続される。ただし、センサ10は必ずしも計算機1000と直接接続されている必要はない。例えばセンサ10は、計算機1000と共有している記憶装置に時系列データ14を記憶させてもよい。
ネットワークインタフェース1120は、計算機1000を通信網に接続するためのインタフェースである。この通信網は、例えば LAN(Local Area Network)や WAN(Wide Area Network)である。ネットワークインタフェース1120が通信網に接続する方法は、無線接続であってもよいし、有線接続であってもよい。
ストレージデバイス1080は、情報処理装置2000の各機能構成部を実現するプログラムモジュールを記憶している。プロセッサ1040は、これら各プログラムモジュールをメモリ1060に読み出して実行することで、各プログラムモジュールに対応する機能を実現する。
<処理の流れ>
図5は、実施形態1の情報処理装置2000によって実行される処理の流れを例示するフローチャートである。時系列データ取得部2020は時系列データ14を取得する(S102)。算出部2040は、時系列データ14を用いて、複数の特徴定数θi と、各特徴定数θi に対応する寄与値ξiとを算出する(S104)。出力部2060は、特徴定数の集合と寄与値の集合とを対応づけた情報を、対象ガスの特徴量として出力する(S106)。
情報処理装置2000が図5に示す一連の処理を実行するタイミングは様々である。例えば、情報処理装置2000は、時系列データ14を指定する入力操作を受け付け、指定された時系列データ14について一連の処理を実行する。その他にも例えば、情報処理装置2000は、時系列データ14を受信できるように待機しておき、時系列データ14を受信したこと(すなわち、S102を実行したこと)に応じて、S104以降の処理を実行する。
<時系列データ14の取得:S102>
時系列データ取得部2020は時系列データ14を取得する(S102)。時系列データ取得部2020が時系列データ14を取得する方法は任意である。例えば情報処理装置2000は、時系列データ14が記憶されている記憶装置にアクセスすることで、時系列データ14を取得する。時系列データ14が記憶されている記憶装置は、センサ10の内部に設けられていてもよいし、センサ10の外部に設けられていてもよい。その他にも例えば、時系列データ取得部2020は、センサ10から出力される検出値を順次受信することで、時系列データ14を得てもよい。
時系列データ14は、センサ10が出力した検出値を、センサ10から出力された時刻が早い順に並べた時系列のデータである。ただし、時系列データ14は、センサ10から得られた検出値の時系列データに対して、所定の前処理が加えられたものであってもよい。また、前処理が行われた時系列データ14を取得する代わりに、時系列データ取得部2020が時系列データ14に対して前処理を行ってもよい。前処理としては、例えば、時系列のデータからノイズ成分を除去するフィルタリングなどを採用することができる。
ここで、時系列データ14は、センサ10を対象ガスに曝すことで得られる。ただし、センサを用いてガスに関する測定を行う場合、センサを測定対象のガスに曝す操作と、センサから測定対象のガスを取り除く操作を繰り返すことで、センサから解析対象の時系列データを複数得ることがある。
図6は、センサから得られる複数の時系列データを例示する図である。図6では、立ち上がりの時系列データと立ち下がりの時系列データとを区別しやすいように、立ち上がりの時系列データが実線で表されており、立ち下がりの時系列データが点線で表されている。図6において、期間P1の時系列データ14-1と期間P3の時系列データ14-3は、センサを測定対象のガスに曝す操作によって得られる。このように、センサを測定対象のガスに曝す操作を行うと、センサの検出値が増加する。そこで、センサを測定対象のガスに曝す操作によって得られる時系列データを、「立ち上がり」の時系列データとも呼ぶ。式(4)における「立ち上がりの場合」は、「時系列データ14が立ち上がりの時系列データである場合」を意味する。以降の式においても同様である。
一方、期間P2の時系列データ14-2と期間P4の時系列データ14-4は、センサから測定対象のガスを取り除く操作によって得られる。なお、センサから測定対象のガスを取り除く操作は、例えば、センサをパージガスと呼ばれるガスに曝すことで実現される。このように、センサから測定対象のガスを取り除く操作を行うと、センサの検出値が減少する。そこで、センサから測定対象のガスを取り除く操作によって得られる時系列データを、「立ち下がり」の時系列データとも呼ぶ。式(4)における「立ち下がりの場合」は、「時系列データ14が立ち下がりの時系列データである場合」を意味する。以降の式においても同様である。
情報処理装置2000では、センサ10を対象ガスに曝す操作とセンサ10から対象ガスを取り除く操作のそれぞれで得られる時系列データ14とが区別され、それぞれ異なる時系列データ14として扱われる。例えば図6の例では、期間P1からP4という4つの期間それぞれで得られる時系列データが、それぞれ異なる時系列データ14として扱われる。そのため、センサ10を対象ガスに曝す操作とセンサ10から対象ガスを取り除く操作とを繰り返すことで一連の時系列データを得た場合には、その一連の時系列データを複数の時系列データ14に分割する必要がある。
センサ10から得られた一連の時系列データを分割して複数の時系列データ14を得る方法には、様々な方法を採用することができる。例えば、センサ10から得られた一連の時系列データを人手で分割することで、複数の時系列データ14を得る。その他にも例えば、情報処理装置2000が一連の時系列データを取得し、その時系列データを分割して複数の時系列データ14を得てもよい。
なお、情報処理装置2000によって時系列データを分割する方法には、様々な方法を採用できる。例えば、以下のような方法がある。
<<(a)1階微分を用いる方法>>
時系列データ14において、分割すべき部分では、センサ値の微分が不連続となり、直後に絶対値が最大となる。そこで、1階微分の絶対値が大きくなる点を用いて、時系列データ14を分割することができる。
<<(b)2階微分を用いる方法>>
同様に、分割すべき点では微分が不連続となるため、2階微分は無限大に発散する。したがって、2階微分の絶対値が大きくなる点を用いて、時系列データ14を分割することができる。
<<(c)センサから得られるメタデータを利用する方法>>
センサの種類によっては、検出値以外のメタデータが提供される。例えば MSS のモジュールでは、測定対象のガス(サンプル)とパージガスの吸引にそれぞれ異なるポンプ(サンプルポンプとパージポンプ)が用意されており、これらを交互にオン/オフすることで、立ち上がりの測定と立ち下がりの測定が行われている。そして、記録される検出値には、ポンプの動作シーケンス(どちらのポンプを利用して得られた検出値であるかを表す情報や、流量のフィードバック制御に用いる流量計測値など)が、時系列情報として付加される。そこで例えば、情報処理装置2000は、時系列データ14と共に得られるポンプの動作シーケンスを利用することで、時系列データ14を分割することができる。
<<上記方法の組み合わせ>>
(c)の方法では、ポンプが動作してからセンサにガスが届くまでの遅延を加味した修正を加えることが好ましい。そこで例えば、情報処理装置2000は、(c)の方法で時系列データ14を仮に複数の区間に分割した後、各区間の中で1階微分の絶対値が最大となる時点を特定し、特定した各時点で時系列データ14を分割する。
なお、情報処理装置2000は、センサ10を対象ガスに曝す操作で得られる時系列データ14と、センサ10から対象ガスを取り除く操作で得られる時系列データ14のうち、いずれか一方のみを利用するように構成されてもよい。
<特徴定数と寄与値の算出:S104>
算出部2040は、時系列データ14を用いて、複数の特徴定数θi と、特徴定数θi に対応する寄与値ξi とを算出する(S104)。この処理は、時系列データ14を、式(5)に示したξi*f(θi) の和に分解することに相当する。
算出部2040が時系列データ14から特徴定数とその寄与値を算出する方法には、様々な方法を利用することができる。以下、まずは特徴定数の算出方法について説明する。なお、特徴定数を算出する過程でその寄与値が算出されるケースもある。このケースについては後述する。
<<特徴定数の算出方法1>>
例えば算出部2040は、時系列データ14の微分 y'(t) に log をとることで得られる log[y'(t)] の傾きに基づいて、特徴定数の集合を算出する。log[y'(t)] は、以下のようになる。
Figure 0007140191000007
なお、log をとるため、y'(t) が常に正であることを前提とする。y'(t) が負になるケースでは、後述する他の方法を利用して、特徴定数を算出する。
図7は、g(t) のグラフを例示する図である。式(8)より、g(t)=log[y'(t)] は、いわゆる log-sum-exp と呼ばれる形式の関数であり、この関数は、積算されている exp のうちの最大値に近い値をとることが知られている。すなわち、式(8)では、g(t)の値が、その時刻 t における ci-βit のうちで最大のものに近い値となる。
ここで、近似的に g(t)=ci-βit とおくと、この関数の傾き g'(t) は速度定数 βi となる。よって、時刻 t における g(t) の傾き g'(t) は、その時刻において ci-βit が最大となる i に対応するβi と略同一になる。また、exp(ci-βit) は単調減少関数であることから、図7に示すように、g(t) の傾きは段階的に切り替わると言える。
そこで算出部2040は、各時刻 t における g(t) の傾き g'(t) を算出し、g(t) の定義域(時系列データ14の測定期間)から、g'(t) が略同一である複数の期間(以下、部分期間)を複数抽出する。そして算出部2040は、抽出した各部分期間における g'(t) を、速度定数βi として算出する。例えば算出部2040は、各部分期間における g'(t) の統計値(平均値など)を、その部分期間に対応する速度定数として算出する。その他にも例えば、算出部2040は、部分期間ごとに、その部分期間に含まれる (t, g(t)) について線形回帰を行い、各部分期間について得られる回帰直線の傾きを、速度定数としてもよい。なお、g'(t) が略同一である期間は、例えば、g'(t) の集合をその値の大きさでクラスタリングすることで特定することができる。
例えば図7において、g(t) の定義域から、3つの部分期間が抽出されている。算出部2040は、これら3つの部分期間それぞれに対応する速度定数として、β1、β2、及びβ3 を算出する。このようにして、特徴定数の集合Θ={β1, β2, β3} が算出される。
ここで、図7に示す区間20のように、g(t) の傾きが切り替わる部分に、その前後の傾きのいずれとも異なる傾きが、短い期間現れることがある。このような短い期間だけ現れる傾きについては、特徴定数に含めないようにしてもよい。
例えば、部分期間の長さの最小値を予め定めておく。そして、算出部2040は、傾き g'(t) の大きさに基づいて g(t) の定義域を複数の期間に分割し、最小値以上の長さを持つ期間のみを、前述した部分期間として抽出する(すなわち、最小値未満の長さの期間に対応する g'(t) は特徴定数の集合に含めない)。こうすることで、短い期間だけ現れる g'(t) については、特徴定数に含めないようにすることができる。なお、部分期間の長さの最小値は、部分期間に含まれる検出値の数の最小値として表すこともできる。
その他にも例えば、算出部2040は、後述する方法で特徴定数の個数 m を決定し、その個数の部分期間を g(t) の定義域から抽出してもよい。この場合、例えば算出部2040は、傾き g'(t) の大きさに基づいて g(t) の定義域を複数の期間に分割し、その中から期間の長さについて上位にある m 個の期間を、前述した部分期間として抽出する。
<<特徴定数の算出方法2>>
前述した算出方法1を採用するためには、y'(t) の log をとる必要があることから、y'(t) の値が常に正である必要がある。これに対し、ここで説明する算出方法2では、前述した g(t) の傾き g'(t) に相当する指標を利用しつつ、y'(t) の値が負になることがあっても利用することができる。
まず、前述した g(t)=log[y'(t)] の傾きである g'(t) は、以下のように表すことができる。
Figure 0007140191000008
そこで算出方法2では、y'(t) の log をとらず、y''(t)/y'(t) を g(t) の傾き g'(t) に相当する指標として利用することで、y'(t) が負になることがあるケースも扱えるようにする。
ここで、g'(t) は、(y'(t), y''(t)) というベクトルの向きということができる。さらに言い換えれば、g'(t) は、(y(t), y'(t)) というベクトルの速度ベクトル(時間変化を表すベクトル)の向きであるといえる。
そこで算出部2040は、各時刻 t についてベクトル (y(t), y'(t)) を算出し、さらに算出した各ベクトルを利用して、各時刻 t について速度ベクトル (y(t+1)-y(t), y'(t+1)-y'(t)) を算出する。そして算出部2040は、算出された複数の速度ベクトルについて、その向きが略同一である複数の部分期間を、y(t) の測定期間から抽出する。なお、y(t+1) は、センサにおいて y(t) の次に得られる検出値である。
そして、算出部2040は、抽出した各部分期間における (y(t), y'(t)) の速度ベクトルの向きを、その部分期間に対応する速度定数として算出する。例えば算出部2040は、各部分期間における上記速度ベクトルの向きの統計値(平均値など)を、その部分期間に対応する速度定数として算出する。その他にも例えば、算出部2040は、部分期間ごとに、その部分期間に含まれる点 (y(t), y'(t)) について線形回帰を行い、各部分期間について得られる回帰直線の傾きを、その部分期間に対応する速度定数としてもよい。なお、y(t) の測定期間の分割は、上記速度ベクトルをその向きでクラスタリングすることで実現することができる。なお、速度ベクトル (y(t+1)-y(t), y'(t+1)-y'(t)) の向きは、{y'(t+1)-y'(t)}/{y(t+1)-y(t)} で表される。
は、(y(t), y'(t)) の速度ベクトルを例示する図である。図では、時系列データ14から2つの部分期間が得られている。算出部2040は、部分期間1における速度ベクトルの向きに基づいて速度定数β1 を算出し、部分期間2における速度ベクトルの向きに基づいて速度定数β2 を算出している。
ここで、図に示す区間30のように、速度ベクトルの向きが変化する部分に、その前後の向きのいずれとも異なる向きが、短い期間現れることがある。これは、図7の区間20と同様である。このような短い期間だけ現れる速度ベクトルの向きについては、特徴定数に含めないようにしてもよい。その具体的な方法には、方法1で説明したように、部分期間の長さの最小値を定めておいたり、特徴定数の個数を決定したりする方法を利用することができる。
<<寄与値の算出方法>>
ここでは、特徴定数を算出した後に、その特徴定数に対応する寄与値を算出する方法を説明する。算出部2040は、算出された特徴定数の集合Θ={θ1,..., θm} に対応する寄与値ξiの集合(すなわち、寄与ベクトル)Ξ={ξ1,..., ξm} をパラメータとして、センサ10の検出値を予測する予測モデルを生成する。この予測モデル生成する際、観測データである時系列データ14を利用して寄与ベクトルΞについてパラメータ推定を行うことにより、寄与ベクトルΞを算出することができる。特徴定数として速度定数βを使う場合の予測モデルの一例は、式(6)で表すことができる。また、特徴定数として時定数τを使う場合の予測モデルの一例は、式(7)で表すことができる。
予測モデルのパラメータ推定には、種々の方法を利用することができる。以下、その方法についていくつか例示する。なお、以下の説明では、速度定数βを特徴定数として利用するケースに説明している。時定数τを特徴定数とする場合におけるパラメータ推定の方法は、以下の説明における速度定数βを1/τと読み替えることで実現できる。
<<パラメータ推定の方法1>>
例えば算出部2040は、予測モデルから得られる予測値と、センサ10から得られた観測値(すなわち、時系列データ14)とを用いた最尤推定により、パラメータΞを推定する。最尤推定には、例えば最小二乗法を用いることができる。この場合、具体的には、以下の目的関数に従ってパラメータΞを決定する。
Figure 0007140191000009
ここで、T は時系列データ14の長さ(検出値の数)を表す。また、y^(ti) は、時刻 ti の予測値を表す。
上述の目的関数を最小化するベクトルΞは、以下の式(11)を用いて算出することができる。
Figure 0007140191000010
ここで、ベクトル Y=(y(t0), y(t1),...) である。
そこで、算出部2040は、時系列データ Yと特徴定数の集合Θ={β1, β2,...}を上記式(11)に適用することで、パラメータΞを算出する。
<<パラメータ推定の方法2>>
上述した最小二乗法において、正則化項を導入して正則化を行ってもよい。例えば以下の式(12)は、L2 正則化を行う例を示している。
Figure 0007140191000011
ここで、λは正則化項に与える重みを表すハイパーパラメータである。
この場合、以下の式(13)に従ってパラメータΞを決定することができる。
Figure 0007140191000012
このような正則化項を導入すると、正則化項を導入しない場合と比較し、行列計算において測定誤差が増幅されてしまうことを抑えることができるため、各寄与値ξi をより正確に算出することができる。また、誤差の増幅を抑えることで、寄与値ξが数値的に安定するため、混合比に対する特徴量のロバスト性が向上する。
なお、前述したように、λはハイパーパラメータであり、予め定めておく必要がある。例えば、テスト測定やシミュレーションを通じて、λの値を決定する。ここで、λの値は、寄与値ξが振動しない程度に小さい値とすることが好ましい。
ここでは、λの値を決定するためのシミュレーションについて説明する。シミュレーションでは、仮想的に「寄与が1の単一の分子」を測定した場合(たとえば、立下りの場合、単一の分子の速度定数をβ0とすれば、y(t)=exp{-β0*t} となる)を考え、この場合の式(13)による特徴量推定値の結果を観察する。仮想的に、理想的な観測(無限小の測定間隔で無限長時間の測定ができ、観測誤差がゼロ)が可能であるとした場合、仮想的な単一分子のシミュレーションでは、以下のようにβ0だけに尖ったピークがある特徴量が得られ、もとの速度定数β=β0と寄与ξ=1 が完全に再現されるはずである。
Figure 0007140191000013
しかし、実際には理想的な観測は不可能であるため、寄与値のピークが鈍化してしまったり、寄与値が振動してしまったりする。図7は、単一分子について得られる特徴量を例示する図である。この図から、λの値による、ピークの鈍化と振動の増加のトレードオフが分かる。具体的には、λが大きすぎると、振動は減るものの、ピークの幅が大きくなってしまう。ピークの幅が大きくなると、速度定数が近い2つの分子を測定した結果が、1つの大きなピークに見えてしまうため、これらの分子を見分けることが難しくなる。すなわち、感度が下がることになる。一方で、λが小さすぎると、ピークの幅は小さくなるものの、振動が増えてしまう。振動が増えると、後述するように、特徴量のロバスト性が低下してしまう。よって、振動が発生しない(ロバスト性を損なわない)程度にλを小さくするように決定することで、ピークを鋭く(感度を向上)することが好ましいと言える。
シミュレーションの目的は、λを変化させながら、このようなピークの鈍化や振動の発生度合を評価することである。「振動の大きさ」と「ピーク幅」を定量的に測るためには、例えばシミュレーションにより、2つの異なる速度定数β1、β2をそれぞれ持つ2つの仮想的な単一分子の寄与ベクトルΞ1、Ξ2を計算する。そして、これら2つの寄与ベクトルの内積を以下のように計算する。
Figure 0007140191000014
この関数 f(Δv) は、振動しながら減衰する。そこで、この振動のメインローブの幅を「ピーク幅」、サイドローブのレベルを「振動の大きさ」として定量化することができる。そこで、メインローブ幅がなるべく細く、なおかつサイドローブのレベルがなるべく小さくなるようなλの値を選択することにより、λを決定する。
ここで、寄与値の振動を抑えることの利点の1つは、前述したように、特徴量が時定数や速度定数の変化に対してロバストになることである。言い換えれば、特徴量が温度変化に対してロバストになる。以下、その理由を説明する。
温度変化によって時定数や速度定数に変化が生じると、図7や後述する図8に示す寄与値は、X軸方向に平行移動することになる。寄与値が大きく振動していると、寄与値がX軸方向に少し平行移動しただけでも、平行移動前後の寄与ベクトルの距離が大きくなってしまう。すなわち、時定数や速度定数が少し変化しただけで特徴量が大きく変化してしまい、時定数変化や速度定数変化に対する特徴量のロバスト性が低くなる。
これに対し、寄与値の振動が少なければ、平行移動前後の寄与ベクトルの距離は短くなる。これは、時定数や速度定数が少し変化した場合に、特徴量も少しだけ変化することを意味する。すなわち、特徴量のロバスト性が高いことを意味する。よって、特徴量の振動を抑えることで、特徴量のロバスト性が向上すると言える。
なお、最小二乗法における正則化は、前述した L2 正則化には限定されず、L1 正則化などの他の正則化を導入してもよい。
<<パラメータ推定の方法3>>
この方法では、パラメータΞについて事前分布 P(Ξ) を設定しておく。そして算出部2040は、観測値である時系列データ14を用いた MAP (Maximum a Posteriori)推定により、パラメータΞを決定する。具体的には、以下の目的関数を最大化するパラメータΞを採用する。
Figure 0007140191000015
P(Y|Ξ)とP(Ξ)は、例えば次のように多変量正規分布で定義される。
Figure 0007140191000016
ここで、N(・|μ,Σ)は、平均μ、共分散Σの多変量正規分布である。また、ベクトル y^=(y^(t1), y^(t2),...)=ΦΞである。σ^2 は観測誤差の分散を表すパラメータである。
ΛはΞの事前分布の共分散行列であり、予め任意の半正定値行列を与えても良いし、後述の方法などにより決定しても良い。
また、P(Y|Ξ)、P(Ξ)は、次のように、ガウス過程(Gaussian Process; GP)によって定めても良い。
Figure 0007140191000017
ここで、GP(ξ(β)|μ(β),Λ(β,β’))は、平均値関数がμ(β)、共分散関数(カーネル関数)がΛ(β,β’)のガウス過程である。また、ガウス過程は連続関数を生成する確率過程であるため、ここでは、ξ(β)は、寄与率をβ(もしくはτ)に関して表した連続関数であり、ベクトルΞは、関数ξ(β)の「β=β1,β2,・・・」における値を配列したベクトルΞ=(ξ(β1),ξ(β2),...)である。この場合、式(17) は式(18)の特別な場合とみなすことができ、式(17) における共分散行列Λの(i,j)成分は、式(18)の共分散関数Λ(β,β’)の(β,β’)=(β1, β2)における値である。すなわち、式(17)における行列Λは、所謂ガウス過程におけるグラム行列である。
また、算出部2040は、観測値である時系列データ14を用いたベイズ推定により、パラメータΞを決定しても良い。具体的には、以下の条件付き期待値を計算することにより、パラメータΞを決定する。
Figure 0007140191000018
ここで、E[Ξ|Y] は、ΞおよびYが式(18)の確率分布に従っていると仮定した場合の、条件付き期待値である。
上記目的関数(14)を最大化する特徴ベクトルΞ、および、上記条件付き期待値(19)によって求まる特徴ベクトルΞは、いずれも以下の式(20)によって算出することができる。
Figure 0007140191000019
<<<ハイパーパラメータの定め方>>>
ガウス過程を利用する場合、事前に設定しておくハイパーパラメータとして、a)共分散関数 Λ(β,β’)の形、b)共分散関数のパラメータ、及びc)測定誤差パラメータ σ^2 がある。これらを変えながら、次の手順を実行する。
1.仮想的な速度定数β0の単一分子の測定値をシミュレーションする。
2.シミュレーションした測定値から、寄与値を推定する。
3.推定した寄与値の振動の大きさ・ピーク幅を定量化する。
4.上述の a ~ c のハイパーパラメータを変更しながら、1~3を繰り返す。
5.グリッドサーチや最急降下法により、振動が小さく、ピーク幅が狭くなるように a ~ c のハイパーパラメータを決定する。
なお、特徴量の振動の大きさとピーク幅を定量化する指標には、例えば、上述の関数 f(Δv) のインローブの幅とサイドローブのレベルを用いる。また、そのほかにも、推定したΞを確率分布として見做した際の分散値(二乗分散や絶対値分散)を用いてもよい。これらの分散値は、振動が小さく、ピーク幅が狭くなるほど、小さい値となる。なお、シミュレーションの代わりに、実際の測定(テスト測定)を実施してもよい。
<特徴定数と共に寄与値が算出されるケース>
前述したように、特徴定数に対応する寄与値の算出方法の1つとして、最小二乗法を利用する方法がある。算出部2040は、特徴定数を算出した後に最小二乗法を利用する代わりに、前述した最小二乗法の目的関数の最小値を特徴定数の集合Θに関して最小化するという組み合わせ最適化問題を解くことにより、特徴定数の集合Θと寄与値の集合Ξの双方を算出してもよい。具体的には、以下の目的関数 h(Θ) を最小化するΘと、最小化された h(Θ) におけるパラメータΞが、算出部2040の算出結果となる。
Figure 0007140191000020
ここで、上記の組み合わせ最適化問題を解く具体的な方法には、既存の方法を利用することができる。特に、Ξの要素がすべて正の数であるとき、上記の目的関数は単調減少な優モジュラ関数になるため、たとえば、貪欲アルゴリズムによって精度よく計算することができる。
<特徴定数の個数を決定する方法>
算出部2040は、特徴定数の個数を決定してもよい。決定した特徴定数の個数は、例えば前述した、g(t) の定義域や y(t) の測定期間から抽出する部分期間の数を定めるために利用することができる。
例えば特徴定数の個数は、AIC(Akaike's Information Criterion)や BIC(Bayesian Information Criterion)などの情報量基準を利用して決定することができる。情報量規準の算出には、前述した式(22)の関数 h(Θ) を利用する。例えば AIC は、以下の様に算出することができる。なお、下記 AIC の導出方法については後述する。
Figure 0007140191000021
ここで、σ^2 は観測誤差の分散である。
算出部2040は、AIC が最小となる整数 K を、特徴定数の個数として決定する。図は、AIC をグラフで表す図である。図において、上段は関数 L のグラフであり、下段は AIC のグラフである。AIC が最小になる整数 K は、K* である。そのため、算出部2040は、特徴定数の個数を K* とする。
このように情報量規準を利用して特徴定数の個数を決定することにより、予測モデルのパラメータ(ここでは特徴定数や寄与値の数)の個数を増やすことによって得られる予測精度の向上というメリットと、パラメータの個数を増やすことによってモデルの複雑さが増すというデメリットとのバランスを考慮して、特徴定数の個数を適切に決定することができる。
式(24)の AIC を導出する方法について説明する。まず、AIC の定義は以下の通りである。
Figure 0007140191000022
ただし、l は最大尤度であり、p はパラメータ数である。
パラメータ数 p は、特徴定数と寄与値が K 個ずつであるため、2K である。また、最大尤度は以下のように算出される。
Figure 0007140191000023
上記 l と p を AIC の定義に代入することで、式(24)を得ることができる。
<特徴量の出力:S106>
出力部2060は、前述した方法で得られた特徴定数の集合Θと寄与値の集合Ξとを対応づけた情報(以下、出力情報)を、ガスの特徴を表す特徴量として出力する(S106)。例えば出力情報は、特徴行列 F を表すテキストデータである。その他にも例えば、出力情報は、特徴定数の集合Θと寄与値の集合Ξとの対応付けを、表やグラフなどでグラフィカルに表現した情報であってもよい。
図10は、対象ガスの特徴量をグラフで例示する図である。図10のグラフは、横軸に時定数τを示し、縦軸に寄与値ξを示している。そして、算出部2040によって算出された(τi, ξi)のペアがグラフ上にプロットされている。このように対象ガスの特徴量をグラフィカルな情報で表すことにより、人がガスの特徴を直感的に理解しやすくなる。
出力情報を出力する具体的な方法は様々である。例えば出力部2060は、出力情報を任意の記憶装置に記憶させる。その他にも例えば、出力部2060は、出力情報をディスプレイ装置に表示させる。その他に例えば、出力部2060は、情報処理装置2000以外の装置に出力情報を送信してもよい。
<特徴定数の集合と寄与値の集合との対応付けを複数算出するケース>
情報処理装置2000は、同一の対象ガスについて得られた複数の時系列データ14それぞれについて、特徴定数の集合Θと寄与値の集合Ξとの対応付けを算出してもよい。そしてこの場合、出力部2060は、これら複数の対応付けの集合を、対象ガスの特徴量としてもよい。
例えば情報処理装置2000は、立ち上がりの時系列データ14について、特徴定数の集合Θu と寄与値の集合Ξu とを算出し、これらを対応づけた特徴行列 Fu を生成する。また、情報処理装置2000は、立ち下がりの時系列データ14について、特徴定数の集合Θd と寄与値の集合Ξd とを算出し、これらを対応づけた特徴行列Fd を生成する。そして情報処理装置2000は、生成した特徴行列の組である {Fu, Fd} を対象ガスの特徴量として出力する。
図11は、立ち上がりの時系列データ14と立ち下がりの時系列データ14それぞれから特徴行列を得るケースを例示する図である。図11において、立ち上がりの時系列データある時系列データ14-1から、特徴行列Fu が得られている。また、立ち下がりの時系列データである時系列データ14-2から、特徴行列Fd が得られている。そこで出力部2060は、得られた2つの特徴行列を組み合わせた {Fu, Fd} を、対象ガスの特徴量として出力する。
なお、出力部2060は、立ち上がりの時系列データ14から得られる特徴行列と、立ち下がりの時系列データ14から得られる特徴行列とを連結することで得られる1つの行列を、対象ガスの特徴量としてもよい。例えばこの場合、出力部2060は、Fu=(ΘuT, ΞuT) とFd=(ΘdT, ΞdT) を連結したFc=(ΘuT, ΞuT, ΘdT, ΞdT) を、対象ガスの特徴量として出力する。なお、連結する特徴行列の行数が互いに異なる場合、行数が少ない方の行列をゼロパディング等の方法で拡張することで、連結する特徴行列の行数を互いに一致させる。
複数の特徴行列は、立ち上がりの時系列データ14と立ち下がりの時系列データ14それぞれから得られるものに限定されない。例えば、特性の異なる複数のセンサ10それぞれを対象ガスに曝すことで、複数の時系列データ14を得てもよい。分子をセンサに付着させる場合、センサに対する各分子の付着しやすさは、センサの特性によって異なる。例えば官能膜に分子が付着するタイプのセンサを利用する場合、官能膜の材質によって、その官能膜に対する各分子の付着しやすさが異なる。各分子の離脱しやすさについても同様である。そのため、それぞれ異なる材質の官能膜を持つセンサ10を用意し、これら複数のセンサ10それぞれから時系列データ14を得て解析することで、対象ガスの特徴をより正確に把握することができる。
そこで情報処理装置2000は、特性の異なる複数のセンサ10それぞれから時系列データ14を取得し、各時系列データ14について、特徴定数の集合と寄与値の集合とを対応づけた情報を生成する。出力部2060は、このようにして得られた複数の情報の組を、対象ガスの特徴量として出力する。
図12は、複数のセンサ10それぞれから時系列データ14を得ることで、複数の特徴行列を得るケースを例示する図である。この例では、それぞれ特性が異なる3つのセンサ10-1、センサ10-2、及びセンサ10-3が用意されており、それぞれから時系列データ14-1、時系列データ14-2、及び時系列データ14-3が得られている。情報処理装置2000は、これら複数の時系列データ14からそれぞれ、特徴行列F1、F2、及び F3 を算出する。そして情報処理装置2000は、これら3つの特徴行列の組を、対象ガスの特徴量として出力する。なお、前述したように、複数の特徴行列の組を出力する代わりに、これら複数の特徴行列を連結した1つの特徴行列Fc を出力してもよい。
ここで、特性の異なる複数のセンサ10は、1つの筐体に収められてもよいし、それぞれ異なる筐体に収められてもよい。前者の場合、例えば、1つのセンサ筐体の中に材質の異なる複数の官能膜を収納し、各官能膜について検出値が得られるように、センサ10が構成される。
さらに、図11で説明した方法と、図12で説明した方法を組み合わせてもよい。すなわち、情報処理装置2000は、複数のセンサ10それぞれから、立ち上がりの時系列データ14と立ち下がりの時系列データ14を得て、得られた各時系列データ14について特徴行列 F を算出し、算出した複数の特徴行列の組や、これらを連結した1つの特徴行列を、対象ガスの特徴量としてもよい。
<バイアスを考慮した特徴量の算出>
センサ10の検出値には、時間に応じた変化を表さないバイアス項が含まれていることがある。この場合、時系列データ14は以下のように表される。なお、ここでは特徴定数として、速度定数βを用いている。
Figure 0007140191000024
バイアスは、例えば、センサ10のオフセットがずれていることによって生じる。その他にも例えば、バイアスは、対象ガスとパージガスに共通して含まれている成分の寄与(例えば、大気中の窒素や酸素の寄与)により生じる。
情報処理装置2000は、時系列データ14からオフセットを除去する機能を有していてもよい。こうすることで、対象ガスの特徴量をより正確に算出することができる。以下、オフセットを考慮して特徴量を算出する方法について説明する。
算出部2040は、上記式(27)で表される時系列データ14の予測モデルを生成することにより、バイアスを考慮して寄与ベクトルΞを算出する。すなわち、算出部2040は、式(27)で表現された予測モデルについて、パラメータΞ及び b の推定を行う。具体的には、算出部2040は、目的関数(10)、(12)、又は(16)を、Ξのみならず、b についても最適化することにより、Ξと b を推定する。なお、特徴定数として時定数を用いる場合には、式(27)においてβk を1/τk に置き換える。
例えば、目的関数として式(14)を用いるとする。この場合、算出部2040は、Ξ及び b を以下の最適化問題によって計算する。目的関数に(8)や(10)を用いる場合も同様である。
Figure 0007140191000025
上記最適化問題の解Ξ及び b は、以下の式によって算出することができる。
Figure 0007140191000026
このように、バイアス b と寄与ベクトルΞの両方を推定することにより、寄与ベクトルからバイアスの効果が取り除かれ、センサ10の検定値にバイアスが含まれている場合にも正確に寄与ベクトルを計算することができる。
なお、出力部2060は、特徴行列 F に加え、バイアス b や b0 を出力しても良い。バイアスが上記センサのオフセットのずれによるものである場合、b0の値を用いてセンサのオフセットをキャリブレーションすることができる。
以上、図面を参照して本発明の実施形態について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。
上記の実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載されうるが、以下には限られない。
1. 対象ガスに含まれる分子の付着と離脱に応じて検出値が変化するセンサから出力された、検出値の時系列データを取得する時系列データ取得部と、
前記時系列データに対して寄与する複数の特徴定数と、各前記特徴定数の前記時系列データに対する寄与の大きさを表す寄与値とを算出する算出部と、
複数の特徴定数と各特徴定数について算出された寄与値の組み合わせを、前記センサによってセンシングされたガスの特徴量として出力する出力部と、を有し、
前記特徴定数は、前記センサに付着している分子の量の時間変化の大きさに関する時定数又は速度定数である、情報処理装置。
2. 前記算出部は、
前記時系列データの測定期間から複数の部分期間を抽出し、
前記部分期間ごとに、その部分期間における前記検出値の時間変化率の対数に基づいて、前記特徴定数を算出し、
前記部分期間は、その中に含まれる検出値の時間変化率の対数が略同一の期間である、1.に記載の情報処理装置。
3. 前記算出部は、
前記時系列データを用いて、各時刻における検出値及びその時刻における検出値の時間変化率を要素とする時系列のベクトルデータを算出し、
各前記算出した時系列のベクトルデータそれぞれについて速度ベクトルを算出し、
前記速度ベクトルの向きに基づいて、前記時系列データの測定期間から、複数の部分期間を抽出し、
前記部分期間ごとに、その部分期間における前記速度ベクトルの向きに基づいて、前記特徴定数を算出し、
前記部分期間は、その中に含まれる前記速度ベクトルの向きが略同一の期間である、1.に記載の情報処理装置。
4. 前記算出部は、複数の特徴定数それぞれの寄与値をパラメータとする前記センサの検出値の予測モデルについて、前記取得した時系列データを用いたパラメータ推定を行うことで、各寄与値を算出する、1.乃至3.いずれか一つに記載の情報処理装置。
5. 前記算出部は、前記予測モデルから得られる時系列データと前記取得した時系列データとについて、最小二乗法による最尤推定を行うことで、各前記寄与値を算出する、4.に記載の情報処理装置。
6. 前記最小二乗法における最尤推定において、目的関数に正則化項が含まれている、5.に記載の情報処理装置。
7. 前記算出部は、各前記寄与値の事前分布と前記取得した時系列データとを用いた MAP(Maximum a Posteriori)推定又はベイズ推定により、各前記寄与値を算出する、4.に記載の情報処理装置。
8. 前記事前分布は、多変量正規分布又はガウス過程である、7.に記載の情報処理装置。
9. 前記算出部は、前記予測モデルから得られる時系列データと前記取得した時系列データとの二乗誤差を表す目的関数について、その目的関数の最小値を複数の特徴定数に関して最小化することにより、複数の特徴定数及び複数の寄与値を算出する、4.に記載の情報処理装置。
10. 前記予測モデルには、バイアスを表すパラメータが含まれており、
前記算出部は、前記予測モデルについて寄与値とバイアスそれぞれを表すパラメータを推定する、4.乃至9.いずれか一つに記載の情報処理装置。
11. 前記時系列データ取得部は、複数の時系列データを取得し、
前記算出部は、複数の時系列データそれぞれについて、特徴定数の集合と寄与値の集合の組みを算出し、
前記出力部は、前記算出された特徴定数の集合と寄与値の集合の組みを複数まとめた情報を、前記対象ガスの特徴量として出力する、1.乃至10.いずれか一つに記載の情報処理装置。
12. 前記複数の時系列データは、前記センサを前記対象ガスに曝す際に得られる時系列データと、前記センサから前記対象ガスを取り除く際に得られる時系列データとの双方を含む、11.に記載の情報処理装置。
13. 前記複数の時系列データは、特性の異なる複数の前記センサそれぞれから得られる時系列データを含む、11.に記載の情報処理装置。
14. コンピュータによって実行させる制御方法であって、
対象ガスに含まれる分子の付着と離脱に応じて検出値が変化するセンサから出力された、検出値の時系列データを取得する時系列データ取得ステップと、
前記時系列データに対して寄与する複数の特徴定数と、各前記特徴定数の前記時系列データに対する寄与の大きさを表す寄与値とを算出する算出ステップと、
複数の特徴定数と各特徴定数について算出された寄与値の組み合わせを、前記センサによってセンシングされたガスの特徴量として出力する出力ステップと、を有し、
前記特徴定数は、前記センサに付着している分子の量の時間変化の大きさに関する時定数又は速度定数である、制御方法。
15. 前記算出ステップにおいて、
前記時系列データの測定期間から複数の部分期間を抽出し、
前記部分期間ごとに、その部分期間における前記検出値の時間変化率の対数に基づいて、前記特徴定数を算出し、
前記部分期間は、その中に含まれる検出値の時間変化率の対数が略同一の期間である、14.に記載の制御方法。
16. 前記算出ステップにおいて、
前記時系列データを用いて、各時刻における検出値及びその時刻における検出値の時間変化率を要素とする時系列のベクトルデータを算出し、
各前記算出した時系列のベクトルデータそれぞれについて速度ベクトルを算出し、
前記速度ベクトルの向きに基づいて、前記時系列データの測定期間から、複数の部分期間を抽出し、
前記部分期間ごとに、その部分期間における前記速度ベクトルの向きに基づいて、前記特徴定数を算出し、
前記部分期間は、その中に含まれる前記速度ベクトルの向きが略同一の期間である、14.に記載の制御方法。
17. 前記算出ステップにおいて、複数の特徴定数それぞれの寄与値をパラメータとする前記センサの検出値の予測モデルについて、前記取得した時系列データを用いたパラメータ推定を行うことで、各寄与値を算出する、14.乃至16.いずれか一つに記載の制御方法。
18. 前記算出ステップにおいて、前記予測モデルから得られる時系列データと前記取得した時系列データとについて、最小二乗法による最尤推定を行うことで、各前記寄与値を算出する、17.に記載の制御方法。
19. 前記最小二乗法における最尤推定において、目的関数に正則化項が含まれている、18.に記載の制御方法。
20. 前記算出ステップにおいて、各前記寄与値の事前分布と前記取得した時系列データとを用いた MAP(Maximum a Posteriori)推定又はベイズ推定により、各前記寄与値を算出する、17.に記載の制御方法。
21. 前記事前分布は、多変量正規分布又はガウス過程である、20.に記載の制御方法。
22. 前記算出ステップにおいて、前記予測モデルから得られる時系列データと前記取得した時系列データとの二乗誤差を表す目的関数について、その目的関数の最小値を複数の特徴定数に関して最小化することにより、複数の特徴定数及び複数の寄与値を算出する、17.に記載の制御方法。
23. 前記予測モデルには、バイアスを表すパラメータが含まれており、
前記算出ステップにおいて、前記予測モデルについて寄与値とバイアスそれぞれを表すパラメータを推定する、17.乃至22.いずれか一つに記載の制御方法。
24. 前記時系列データ取得ステップにおいて、複数の時系列データを取得し、
前記算出ステップにおいて、複数の時系列データそれぞれについて、特徴定数の集合と寄与値の集合の組みを算出し、
前記出力ステップにおいて、前記算出された特徴定数の集合と寄与値の集合の組みを複数まとめた情報を、前記対象ガスの特徴量として出力する、14.乃至23.いずれか一つに記載の制御方法。
25. 前記複数の時系列データは、前記センサを前記対象ガスに曝す際に得られる時系列データと、前記センサから前記対象ガスを取り除く際に得られる時系列データとの双方を含む、24.に記載の制御方法。
26. 前記複数の時系列データは、特性の異なる複数の前記センサそれぞれから得られる時系列データを含む、24.に記載の制御方法。
27. 14.乃至26.いずれか一つに記載の制御方法の各ステップをコンピュータに実行させるプログラム。

Claims (14)

  1. 対象ガスに含まれる分子の付着と離脱に応じて検出値が変化するセンサから出力された、検出値の時系列データを取得する時系列データ取得部と、
    前記時系列データに対して寄与する複数の特徴定数と、各前記特徴定数の前記時系列データに対する寄与の大きさを表す寄与値とを算出する算出部と、
    複数の特徴定数と各特徴定数について算出された寄与値の組み合わせを、前記センサによってセンシングされたガスの特徴量として出力する出力部と、を有し、
    前記特徴定数は、前記センサに付着している分子の量の時間変化の大きさに関する時定数又は速度定数であり、
    前記算出部は、
    前記時系列データを用いて、各時刻における検出値及びその時刻における検出値の時間変化率を要素とする時系列のベクトルデータを算出し、
    各前記算出した時系列のベクトルデータそれぞれについて速度ベクトルを算出し、
    前記速度ベクトルの向きに基づいて、前記時系列データの測定期間から、複数の部分期間を抽出し、
    前記部分期間ごとに、その部分期間における前記速度ベクトルの向きに基づいて、前記特徴定数を算出し、
    前記部分期間は、その中に含まれる前記速度ベクトルの向きが略同一の期間である、情報処理装置。
  2. 前記算出部は、複数の特徴定数それぞれの寄与値をパラメータとする前記センサの検出値の予測モデルについて、前記取得した時系列データを用いたパラメータ推定を行うことで、各寄与値を算出する、請求項1に記載の情報処理装置。
  3. 前記算出部は、前記予測モデルから得られる時系列データと前記取得した時系列データとについて、最小二乗法による最尤推定を行うことで、各前記寄与値を算出する、請求項に記載の情報処理装置。
  4. 前記最小二乗法における最尤推定において、目的関数に正則化項が含まれている、請求項に記載の情報処理装置。
  5. 前記算出部は、各前記寄与値の事前分布と前記取得した時系列データとを用いた MAP(Maximum a Posteriori)推定又はベイズ推定により、各前記寄与値を算出する、請求項に記載の情報処理装置。
  6. 前記事前分布は、多変量正規分布又はガウス過程である、請求項に記載の情報処理装置。
  7. 前記算出部は、前記予測モデルから得られる時系列データと前記取得した時系列データとの二乗誤差を表す目的関数について、その目的関数の最小値を複数の特徴定数に関して最小化することにより、複数の特徴定数及び複数の寄与値を算出する、請求項に記載の情報処理装置。
  8. 前記予測モデルには、バイアスを表すパラメータが含まれており、
    前記算出部は、前記予測モデルについて寄与値とバイアスそれぞれを表すパラメータを推定する、請求項乃至いずれか一項に記載の情報処理装置。
  9. 前記時系列データ取得部は、複数の時系列データを取得し、
    前記算出部は、複数の時系列データそれぞれについて、特徴定数の集合と寄与値の集合とを対応付けた特徴行列を算出し、
    前記出力部は、前記算出された複数の特徴行列を連結することで得られる行列を前記対象ガスの特徴量として出力する、請求項1乃至いずれか一項に記載の情報処理装置。
  10. 前記複数の時系列データは、前記センサを前記対象ガスに曝す際に得られる時系列データと、前記センサから前記対象ガスを取り除く際に得られる時系列データとの双方を含む、請求項に記載の情報処理装置。
  11. 前記複数の時系列データは、特性の異なる複数の前記センサそれぞれから得られる時系列データを含む、請求項に記載の情報処理装置。
  12. コンピュータによって実行させる制御方法であって、
    対象ガスに含まれる分子の付着と離脱に応じて検出値が変化するセンサから出力された、検出値の時系列データを取得する時系列データ取得ステップと、
    前記時系列データに対して寄与する複数の特徴定数と、各前記特徴定数の前記時系列データに対する寄与の大きさを表す寄与値とを算出する算出ステップと、
    複数の特徴定数と各特徴定数について算出された寄与値の組み合わせを、前記センサによってセンシングされたガスの特徴量として出力する出力ステップと、を有し、
    前記特徴定数は、前記センサに付着している分子の量の時間変化の大きさに関する時定数又は速度定数であり、
    前記算出ステップでは、
    前記時系列データを用いて、各時刻における検出値及びその時刻における検出値の時間変化率を要素とする時系列のベクトルデータを算出し、
    各前記算出した時系列のベクトルデータそれぞれについて速度ベクトルを算出し、
    前記速度ベクトルの向きに基づいて、前記時系列データの測定期間から、複数の部分期間を抽出し、
    前記部分期間ごとに、その部分期間における前記速度ベクトルの向きに基づいて、前記特徴定数を算出し、
    前記部分期間は、その中に含まれる前記速度ベクトルの向きが略同一の期間である、制御方法。
  13. 請求項1に記載の制御方法の各ステップをコンピュータに実行させるプログラム。
  14. 前記算出部は、前記速度ベクトルの向きの統計値またはその統計値の逆数を前記特徴定数として算出する、請求項1乃至11いずれか一項に記載の情報処理装置。
JP2020533925A 2018-07-31 2018-07-31 情報処理装置、制御方法、及びプログラム Active JP7140191B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2018/028565 WO2020026327A1 (ja) 2018-07-31 2018-07-31 情報処理装置、制御方法、及びプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2020026327A1 JPWO2020026327A1 (ja) 2021-08-02
JP7140191B2 true JP7140191B2 (ja) 2022-09-21

Family

ID=69232427

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020533925A Active JP7140191B2 (ja) 2018-07-31 2018-07-31 情報処理装置、制御方法、及びプログラム

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20210311009A1 (ja)
JP (1) JP7140191B2 (ja)
WO (1) WO2020026327A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7140191B2 (ja) * 2018-07-31 2022-09-21 日本電気株式会社 情報処理装置、制御方法、及びプログラム
WO2023037999A1 (ja) * 2021-09-07 2023-03-16 パナソニックIpマネジメント株式会社 ガス分析方法及びガス分析システム

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004090517A1 (ja) 2003-04-04 2004-10-21 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology 蛍光寿命を利用した物質の定量用試薬、方法及び装置
JP2006275606A (ja) 2005-03-28 2006-10-12 Kyoto Univ ガス検出方法及びガス検出装置
WO2014103560A1 (ja) 2012-12-25 2014-07-03 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション 分析装置、分析プログラム、分析方法、推定装置、推定プログラム、及び、推定方法。
JP2014221005A (ja) 2010-09-16 2014-11-20 ソニー株式会社 データ処理装置、データ処理方法、およびプログラム
WO2018101128A1 (ja) 2016-11-29 2018-06-07 国立研究開発法人物質・材料研究機構 試料に対応付けられた推定対象値を推定する方法及び装置

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2845554B2 (ja) * 1990-03-27 1999-01-13 科学技術振興事業団 多入力型過渡波形解析装置
JP3815041B2 (ja) * 1998-03-17 2006-08-30 株式会社島津製作所 ガス識別装置
GB0509833D0 (en) * 2005-05-16 2005-06-22 Isis Innovation Cell analysis
US9122705B1 (en) * 2011-03-15 2015-09-01 Google Inc. Scoring hash functions
US8732528B1 (en) * 2012-01-06 2014-05-20 Amazon Technologies, Inc. Measuring test effects using adjusted outlier data
US10309924B2 (en) * 2013-06-07 2019-06-04 Cornell University Floating gate based sensor apparatus and related floating gate based sensor applications
FR3026188B1 (fr) * 2014-09-20 2017-06-23 Commissariat Energie Atomique Procede et dispositif de determination d'une composition d'un echantillon gazeux traite par chromatographie gazeuse
EP3062103A1 (en) * 2015-02-27 2016-08-31 Alpha M.O.S. Portable fluid sensory device with learning capabilities
US10127694B2 (en) * 2016-11-18 2018-11-13 Adobe Systems Incorporated Enhanced triplet embedding and triplet creation for high-dimensional data visualizations
JP7069581B2 (ja) * 2017-07-07 2022-05-18 富士通株式会社 分析方法、分析装置及び分析プログラム
JP6950504B2 (ja) * 2017-12-08 2021-10-13 富士通株式会社 異常候補抽出プログラム、異常候補抽出方法および異常候補抽出装置
US20210224664A1 (en) * 2018-06-07 2021-07-22 Nec Corporation Relationship analysis device, relationship analysis method, and recording medium
JP7017712B2 (ja) * 2018-06-07 2022-02-09 日本電気株式会社 関係性分析装置、関係性分析方法およびプログラム
US20210293681A1 (en) * 2018-07-31 2021-09-23 Nec Corporation Information processing apparatus, control method, and non-transitory storage medium
JP7140191B2 (ja) * 2018-07-31 2022-09-21 日本電気株式会社 情報処理装置、制御方法、及びプログラム
JP7101084B2 (ja) * 2018-08-29 2022-07-14 株式会社東芝 情報処理装置、情報処理システム及び情報処理方法
US20220036223A1 (en) * 2018-09-27 2022-02-03 Nec Corporation Processing apparatus, processing method, and non-transitory storage medium
WO2020100285A1 (ja) * 2018-11-16 2020-05-22 日本電気株式会社 情報処理装置、制御方法、及びプログラム
EP3912099A1 (en) * 2019-01-23 2021-11-24 Google LLC Compound model scaling for neural networks
JP7099623B2 (ja) * 2019-03-29 2022-07-12 日本電気株式会社 情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム
US20220309397A1 (en) * 2019-06-19 2022-09-29 Nec Corporation Prediction model re-learning device, prediction model re-learning method, and program recording medium
US11468364B2 (en) * 2019-09-09 2022-10-11 Humana Inc. Determining impact of features on individual prediction of machine learning based models
JP7384059B2 (ja) * 2020-02-06 2023-11-21 富士通株式会社 検知プログラム、検知方法及び検知装置
CN115917558A (zh) * 2020-09-10 2023-04-04 艾佐斯株式会社 超参数调整装置、记录有超参数调整程序的非暂时性记录介质以及超参数调整程序
CN112418395B (zh) * 2020-11-17 2022-08-26 吉林大学 一种基于生成对抗网络的气体传感器阵列漂移补偿方法
CN112464999B (zh) * 2020-11-19 2021-10-19 深圳大学 一种混合气体种类与浓度识别方法、装置及存储介质
US20220172086A1 (en) * 2020-11-30 2022-06-02 Nice Ltd. System and method for providing unsupervised model health monitoring
WO2023037999A1 (ja) * 2021-09-07 2023-03-16 パナソニックIpマネジメント株式会社 ガス分析方法及びガス分析システム

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004090517A1 (ja) 2003-04-04 2004-10-21 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology 蛍光寿命を利用した物質の定量用試薬、方法及び装置
JP2006275606A (ja) 2005-03-28 2006-10-12 Kyoto Univ ガス検出方法及びガス検出装置
JP2014221005A (ja) 2010-09-16 2014-11-20 ソニー株式会社 データ処理装置、データ処理方法、およびプログラム
WO2014103560A1 (ja) 2012-12-25 2014-07-03 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション 分析装置、分析プログラム、分析方法、推定装置、推定プログラム、及び、推定方法。
WO2018101128A1 (ja) 2016-11-29 2018-06-07 国立研究開発法人物質・材料研究機構 試料に対応付けられた推定対象値を推定する方法及び装置

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
瀬戸 就一 他,半導体ガスセンサの過渡応答出力の解析,電気学会論文誌E,2005年,第125巻,第3号,pp.129-134
関原 謙介,ベイズ信号処理 初版第2刷,共立出版株式会社,2016年01月10日,9-32頁

Also Published As

Publication number Publication date
US20210311009A1 (en) 2021-10-07
JPWO2020026327A1 (ja) 2021-08-02
WO2020026327A1 (ja) 2020-02-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Zheng et al. Partly conditional survival models for longitudinal data
TW201224431A (en) Monitoring, detecting and quantifying chemical compounds in a sample
JP7063389B2 (ja) 処理装置、処理方法、およびプログラム
WO2008001105A1 (en) Sensor system for estimating varying field
US20170249559A1 (en) Apparatus and method for ensembles of kernel regression models
JP7140191B2 (ja) 情報処理装置、制御方法、及びプログラム
JP6631540B2 (ja) 情報処理システム、変化点検出方法、およびプログラム
CA3186873A1 (en) Activity level measurement using deep learning and machine learning
JP7276450B2 (ja) 予測モデル再学習装置、予測モデル再学習方法及びプログラム
US20210224664A1 (en) Relationship analysis device, relationship analysis method, and recording medium
JP7127697B2 (ja) 情報処理装置、制御方法、及びプログラム
JP7074194B2 (ja) 情報処理装置、制御方法、及びプログラム
JP7099623B2 (ja) 情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム
JP7056747B2 (ja) 情報処理装置、処理装置、情報処理方法、処理方法、決定方法、およびプログラム
US11846620B2 (en) Noise removing apparatus, noise removing method, and recording medium
WO2020026328A1 (ja) 情報処理装置、制御方法、及びプログラム
JP7143895B2 (ja) 情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム
JP7327648B2 (ja) データ生成装置、データ生成方法、及び、プログラム
JP2014093042A (ja) 生存率推定装置、方法、及びプログラム
JPWO2020065889A1 (ja) 情報処理装置、伝達関数生成方法、およびプログラム
KR20110100894A (ko) 시스템 성능의 통계적 예측 방법
Waller Using surrogate data for nonlinear identification: A case study
Johansson Mauricio Selection of preprocessing methods for partial least squares regression of acoustic spectrometry data using a genetic algorithm

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210121

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210121

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220118

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220318

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220517

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220719

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220809

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220822

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 7140191

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151