JP7132993B2

JP7132993B2 - 誤り率測定装置、及び誤り率測定方法

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Publication number: JP7132993B2
Application number: JP2020166889A
Authority: JP
Inventors: 昂孝南
Original assignee: Anritsu Corp
Current assignee: Anritsu Corp
Priority date: 2020-10-01
Filing date: 2020-10-01
Publication date: 2022-09-07
Anticipated expiration: 2040-10-01
Also published as: JP2022059263A

Description

本発明は、誤り率の測定範囲を自動で再設定する機能を有する誤り率測定装置、及び誤り率測定方法に関する。

スマートフォンやモバイル端末によるデータ通信量の増加に伴い、通信システムは膨大なデータを扱うようになり、通信システムを構成する各種の通信機器のインタフェースは高速化とシリアル伝送化が進んでいる。このような通信機器で採用されているＰＣＩｅ（登録商標）（Peripheral Component Interconnect Express）などのハイスピードシリアルバス（High Speed Serial Bus）の規格では、ＬＴＳＳＭ（Link Training and Status State Machine：「リンク状態管理機構」）と呼ばれるステートマシンにより、デバイス間の通信の初期化やリンク速度の調整などが管理されている。

インタフェースの高速化が著しい上記通信機器における信号の品質評価の指標の一つとして、受信データのうちビット誤りが発生した数と受信データの総数との比較として定義されるビット誤り率（Bit Error Rate：ＢＥＲ）が知られている。ＢＥＲ測定は、例えば、下記特許文献１～２に開示される誤り率測定装置などにより実現可能である。

特許文献１には、擬似ランダム（Pseudo-Random Bit Sequence：ＰＲＢＳ）パターン等の各種デジタルデータの通信試験に用いられる技術であって、単位インターバルｕｉでの遅延時間とビット誤り率（ＢＥＲ値）との関係を示す特性、いわゆるバスタブ特性からジッタのヒストグラムを求め、そのジッタヒストグラムからランダムジッタの推定値を得る技術（ＢＥＲテスタ）が開示されている（段落０００４、００１２、００２８～００３５、図１、図２参照）。

特許文献２には、既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、テスト信号の送信に伴う被測定物からの出力を受信してＢＥＲ（ビット誤り率）を測定する誤り率測定装置において、エラーフリーや低頻度のエラーでも位相マージンと閾値電圧マージンを調整して短期間でアイマージンを測定する技術が開示されている。

特許文献３には、４値パルス振幅変調（Pulse-Amplitude Modulation）信号、すなわち、ＰＡＭ４信号において、低レベル、中レベル、高レベルのそれぞれの誤り率を測定する技術が開示されている。

今日、特許文献２、３に記載される誤り率測定装置においても、特許文献１に記載されたＢＥＲテスタのように、バスタブ特性からジッタを測定する機能を有するものが提案されている。

特開２００３－３２４４８９号公報特開２０１９－２０１３１１号公報特開２０２０－４３４８０号公報

バスタブ特性を測定するバスタブ測定機能を有する従来の誤り率測定装置においては、バスタブ測定を効率よく実施するために、上限値と下限値を指定して誤り率の測定範囲を設定することで不要な測定範囲での測定を行わせないようにするものが知られている。

一方で、ＰＡＭ４信号は、信号のレベルとして低レベル、中レベル、高レベルを有し（図２参照）、１または０のレベルのみからなるＮＲＺ信号に比べると各レベルの電圧の間隔が狭くなり、レベル判定に際して誤判定を生じ易い特性を有している。

このため、ＰＡＭ４信号を扱うものでは、OIF-CEI-56G-VSR-PAM4などの規格については誤り訂正（FEC：Forward Error Correction）を前提とした系が検討されており、測定範囲としては例えば誤り率BER<1E-6を想定している場合が多い。したがって、エラーフリーが取れない場合も想定される。

この種の従来の誤り率測定装置におけるバスタブ測定のシミュレーション結果の一例を図１２（ａ）に例示している。この例においてはエラーフリーがとれない。すなわち、この種の従来の誤り率測定装置では、ＢＥＲ測定に際して、測定範囲を例えば上限値1E-6～下限値1E-9に設定したとき（デフォルトで設定するようになっている。）には、そもそもバスタブ測定を行うことができなかった。

この場合、測定失敗してからユーザが測定範囲を適切に指定しない限り測定がいつまでも成功しないこととなった。しかしながら、この種の従来の誤り率測定装置では、ユーザが測定失敗の原因を知るすべはなく、設定された上限値が低すぎることが原因で測定の失敗が発生した場合、被測定物の問題なのか、誤り率測定範囲を含む設定の問題なのかに関する問題の切り分けが行えず、原因究明や測定失敗対策に無駄に時間がかかるという問題点があった。

本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、設定された上限値を再設定して測定を確実に完了させることができ、測定失敗時には、上限値の設定に起因する問題と切り分けて当該測定失敗の問題に対して迅速に対処可能な誤り率測定装置及び誤り率測定方法を提供することを目的とする。

上記課題を解決するために、本発明の請求項１に係る誤り率測定装置は、被測定信号として入力するデータの誤り率の測定範囲を上限値と下限値を用いて設定する設定手段（６、７ａ）と、入力する前記データと該データの２値判定の処理に用いるクロック信号の位相関係を操作する位相操作を行う位相操作手段（３ｄ、７ｂ）と、前記位相操作を伴う前記データの２値判定の判定結果を用いて前記データの誤り率を測定する誤り率測定手段（３ｆ）と、前記データの誤り率の測定に合わせて、前記位相操作手段により操作された前記位相関係と、前記誤り率測定手段により測定された前記データの誤り率との関係を示すバスタブ特性を測定するバスタブ測定手段（７ｅ）と、を備え、前記測定範囲を対象に前記データの誤り率を測定する誤り率測定装置であって、前記位相操作手段により誤り率最小となる位置に前記位相関係を合わせた状態で、前記誤り率測定手段により前記データの誤り率を測定させる最小誤り率測定動作を前記バスタブ特性の測定に先行して実行させる先行測定動作制御手段（７ｃ１）と、前記設定手段により設定された前記上限値を、前記最小誤り率測定動作で測定された前記データの最小誤り率（BER_opt）に応じて前記上限値より大きな値を有する再設定上限値として再設定する再設定手段（７ｄ）と、前記再設定上限値と前記設定手段により設定された前記下限値との間の測定範囲を対象に前記バスタブ特性を測定させるように前記位相操作手段、前記誤り率測定手段及び前記バスタブ測定手段を制御する測定制御手段（７ｃ）と、を有することを特徴とする。

この構成により、本発明の請求項１に係る誤り率測定装置は、最初に設定された上限値をより大きな値に自動で再設定することで上限値の設定に起因する測定の失敗を低減することができる。上限値の設定に起因する測定の失敗が低減されることで、測定を確実に完了させることができるようになり、測定失敗した場合でも、該失敗の問題を上限値の設定の問題とは切り分けて問題解決にあたることで被測定信号を送信する被測定物の評価を効率的に実施することができる。

また、本発明の請求項２に係る誤り率測定装置は、前記設定手段により設定された前記上限値から一定レベル（Ｌ１）下回る誤り率を閾値として設定し、測定された前記最小誤り率が前記閾値より大きいか前記閾値以下かに応じて前記上限値の再設定が必要か不要かを判定する判定手段（７ｄ１）をさらに有し、前記再設定手段は、前記判定手段による前記上限値の再設定が必要か不要かの判定結果に応じて前記上限値の再設定を実行または実行しないようにする構成であってもよい。

この構成により、本発明の請求項２に係る誤り率測定装置は、測定された最小誤り率と閾値との関係によっては必ずしも再設定上限値としての再設定を行う必要がなく、バスタブ測定を効率よく実施できる。

また、本発明の請求項３に係る誤り率測定装置においては、前記再設定手段は、前記再設定上限値として、前記設定手段により設定された前記上限値に対して所定レベル（Ｌ２）上回る誤り率を再設定する構成であってもよい。

この構成により、本発明の請求項３に係る誤り率測定装置は、設定済みの上限値を再設定上限値として再設定する際に、設定済みの上限値を一定レベル上回る値に容易に再設定することができ、処理を簡略化し、測定時間を短縮することが可能となる。

また、本発明の請求項４に係る誤り率測定装置においては、前記設定手段は、－１乗の誤り率範囲を１目盛として、前記上限値と前記下限値を目盛り単位に設定可能であり、前記再設定手段は、前記所定レベルとして、少なくとも１目盛に相当するレベルを上回る誤り率を再設定する構成であってもよい。

この構成により、本発明の請求項４に係る誤り率測定装置は、設定手段が有する１目盛り単位の設定機能に合わせて、設定済みの上限値に対して目盛り単位のレベルを上回る再設定上限値を容易に再設定可能であり、処理負荷を軽減することができる。

また、本発明の請求項５に係る誤り率測定装置は、前記バスタブ特性の測定結果を示すグラフ（５２ａ）と、前記グラフを形成するバスタブ曲線（５２ａ１、５２ａ２）に関連付けて描画される前記再設定上限値を示す線分（５２ｃ）と、前記再設定上限値が自動設定されたものであることを報知する報知情報（５４ｅ）と、を含む測定画面（５１）を、表示部（５）に表示させる表示制御手段（７ｇ）をさらに有する構成であってもよい。

この構成により、本発明の請求項５に係る誤り率測定装置は、測定画面上の線分、及び報知情報の表示内容から、上限値の自動再設定により測定が成功している状況であることをユーザが容易に認識可能となる。

上記課題を解決するために、本発明の請求項６に係る誤り率測定方法は、被測定信号として入力するデータの誤り率の測定範囲を上限値と下限値を用いて設定する設定手段（６、７ａ）と、入力する前記データと該データの２値判定の処理に用いるクロック信号の位相関係を操作する位相操作を行う位相操作手段（３ｄ、７ｂ）と、前記位相操作を伴う前記データの２値判定の判定結果を用いて前記データの誤り率を測定する誤り率測定手段（３ｆ）と、前記データの誤り率の測定に合わせて、前記位相操作手段により操作された前記位相関係と、前記誤り率測定手段により測定された前記データの誤り率との関係を示すバスタブ特性を測定するバスタブ測定手段（７ｅ）と、を備える誤り率測定装置を用いて前記測定範囲を対象に前記データの誤り率を測定する誤り率測定方法であって、前記位相操作手段により誤り率最小となる位置に前記位相関係を合わせた状態で、前記誤り率測定手段により前記データの誤り率を測定させる最小誤り率測定動作を前記バスタブ特性の測定に先行して実行させる先行測定動作制御ステップ（Ｓ４２、Ｓ４３）と、前記設定手段により設定された前記上限値を、前記最小誤り率測定動作で測定された前記データの最小誤り率（BER_opt）に応じて前記上限値より大きな値を有する再設定上限値として再設定する再設定ステップ（Ｓ４４）と、前記再設定上限値と前記設定手段により設定された前記下限値との間の測定範囲を対象に前記バスタブ特性を測定させるように前記位相操作手段、前記誤り率測定手段及び前記バスタブ測定手段を制御する測定制御ステップ（Ｓ５～Ｓ１２）と、を含むことを特徴とする。

この構成により、本発明の請求項６に係る誤り率測定方法は、本誤り率測定方法を適用し、最初に設定された上限値をより大きな値に自動で再設定することで上限値の設定に起因する測定の失敗を低減でき、測定失敗した場合でも、該失敗の問題を上限値の設定の問題とは切り分けて問題解決にあたることで被測定信号を送信する被測定物の評価を効率的に実施することができる。

本発明は、設定された上限値を再設定して測定を確実に完了させることができ、測定失敗時には、上限値の設定に起因する問題と切り分けて当該測定失敗の問題に対して迅速に対処可能な誤り率測定装置及び誤り率測定方法を提供することができる。

本発明の一実施形態に係る誤り率測定装置の概略構成を示すブロック図である。本発明の一実施形態に係る誤り率測定装置におけるＰＡＭ４信号のアイパターンの一例を示す模式図である。本発明の一実施形態に係る誤り率測定装置の信号受信部の構成を示すブロック図である。本発明の一実施形態に係る誤り率測定装置の制御部の機能構成を示すブロック図である。本発明の一実施形態に係る誤り率測定装置での誤り率測定によって得られるバスタブ特性の一例を示すグラフである。本発明の一実施形態に係る誤り率測定装置での複数のバスタブ特性のデータセットから正常なデータセットのみ選別して行うジッタ算出処理イメージを示す図である。図５に示すバスタブ特性におけるバスタブ曲線の近似線の傾きによって定義されるランダムジッタＲＪ_ｒｍｓを説明するための模式図である。ジッタ測定に際して誤り率の測定範囲として設定可能な誤り率（ＢＥＲ）とＱ（ＢＥＲ）値との関係を示す表図である。本発明の一実施形態に係る誤り率測定装置におけるＰＡＭ４信号の各アイパターンにそれぞれ対応するバスタブ特性の測定イメージを示す図である。本発明の一実施形態に係る測定装置におけるＰＡＭ４信号のジッタ測定制御動作を示すフローチャートである。図１０のステップＳ４における測定範囲再設定処理の詳細処理動作を示すフローチャートである。本発明の一実施形態に係る測定装置における測定範囲再設定処理例を示すグラフであり、（ａ）は設定済みの誤り率測定範囲と最小誤り率測定動作での誤り率測定結果の関係を示し、（ｂ）は再設定後の誤り率測定範囲と同測定結果の関係を示している。本発明の一実施形態に係る誤り率測定装置におけるジッタ測定画面の表示例を示す図である。本発明の他の実施形態に係るＮＲＺ信号の誤り率測定装置における信号受信部の構成を示すブロック図である。

以下、本発明に係る誤り率測定装置、及び誤り率測定方法の実施形態について図面を用いて説明する。

まず、本実施形態が対象とするＰＡＭ４信号について説明する。ＰＡＭ４方式は、情報信号の振幅をパルス信号の系列で符号化したパルス振幅変調信号として、論理「０」および「１」から構成されるビット列を、４つの電圧レベルまたは光電力のパルス信号として変調して伝送する方式である。

そして、ＰＡＭ４方式によるＰＡＭ４信号は、振幅がシンボルごとに４種類に分けられ、図２に示すように、４つの異なる振幅レベルＬ０，Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３を有し、全体の振幅電圧範囲がベースライン（Ｌ０：０レベル）から低電圧範囲Ｈ１、中電圧範囲Ｈ２、高電圧範囲Ｈ３に分けられ、ベースライン（Ｌ０：０レベル）に対する振幅レベルの大きさが異なるＵｐｐｅｒ信号（高レベル信号）、Ｍｉｄｄｌｅ信号（中レベル信号）、Ｌｏｗｅｒ信号（低レベル信号）による３つのアイパターン開口部が連続した振幅範囲の信号からなる。

本実施形態に係る誤り率測定装置１は、図１に示す構成を有し、所定の測定開始操作に基づいてパルスパターン発生器（Pulse Pattern Generator：ＰＰＧ）２から任意のパルスパターンを有するＰＡＭ４方式による試験信号（ＰＡＭ４信号）を発生させ、該試験信号を受信したＤＵＴ１０が送出するＰＡＭ４方式の信号を被測定信号として誤り率測定器（Error Detector：ＥＤ）３に入力して該被測定信号のビット誤り率を測定することでＤＵＴ１０の性能評価を行う装置である。

本実施形態において、ＥＤ３は、被測定信号として入力するデータ（以下、入力データ）と、該入力データの２値判定（１か０かの判定）の処理に用いるクロック信号との位相関係をユーザ操作に応じて操作する位相操作制御機能を有している。また、ＥＤ３は、位相操作制御機能によって操作された入力データとクロック信号の位相関係（クロック遅延量）と、測定された誤り率との関係を示す特性（誤り率／遅延量特性）、所謂、バスタブ特性を算出するとともに、算出したバスタブ特性に基づいて入力データのジッタ（Jitter）を求めるジッタ算出処理機能をさらに有している。

（ジッタについて）
ジッタは、ディジタル信号の時間軸方向の揺らぎである。この揺らぎの周期が長周期である時、具体的には変調周波数が１０Ｈｚ以上の変調周波数で揺らぎが発生する場合にジッタと定義される。ジッタは様々なジッタ成分から構成されている。例えば、広がりが有限な確定的ジッタ（Deterministic Jitter：ＤＪ）と、無限な広がりを持つランダムジッタ（Random Jitter：ＲＪ）が存在し、両者の和をトータルジッタ（Total Jitter：ＴＪ）と称する。

ジッタ量の単位には、ｎｓ（ナノ（１０^－９）秒）、ｐｓ（ピコ（１０^－１２）秒）、ｆｓ（フェムト（１０^－１５）秒）等の時間単位のほか、ユニットインターバル（Unit Interval：UI）が用いられる。UIとは、１ｂｉｔあたりのジッタ量の比率で、Jitter量をTj[ps]、1bit の間隔を Tbit [ps]としたとき、下式（ａ）によって算出される。
Jitter[UI] ＝ Tj ／ Tbit ・・・（ａ）

これにより、例えば、１０Ｇｂｉｔ／ｓの信号であれば、１ｂｉｔの間隔は１００ｐｓとなる。この信号に１０ｐｓのジッタが存在すれば、ジッタ量は０．１UIと算出されることとなる。

性能評価の対象（被測定対象）であるＤＵＴ１０は、背景技術の欄で挙げたインタフェースの高速化が進む通信機器等に用いられる、例えば、フリップフロップ（Ｆ／Ｆ）回路等の各種デバイスで構成されている。性能評価の種別は有線系に限られるものであり、ＤＵＴ１０は、ＰＰＧ２及びＥＤ３と接続ケーブル等を用いて有線接続され、ＰＰＧ２からの試験信号を受信し、その応答信号としての所定の規格の被測定信号をＥＤ３に送出する。ＤＵＴ１０が対応する規格の例としては、OIF CEI-56G-VSR-PAM4、IEEE802.3bs、PCI Express Gen6、CEI（Common Electrical Interface）、Ethernet（登録商標）などが挙げられる。ＤＵＴ１０は、ビット列からなるデータを表す信号を送信するものであれば、上述したＦ／Ｆ回路等以外のデバイスで構成されていてもよい。

本実施形態に係る誤り率測定装置１において、ＥＤ３は、上述した位相操作制御機能、ジッタ算出処理機能に加え、バスタブ測定に際して誤り率の測定範囲を規定する上限値と下限値を指定することによって誤り率測定範囲を設定する機能を有している。この機能を用いて上限値と下限値を設定し、該上限値と下限値間の制限された測定範囲内で誤り率を測定するように制御することによって測定時間を短縮することができる。

一方で、ＦＥＣを前提とするＰＡＭ４信号の誤り率測定においては、例えば、デフォルトで誤り率測定範囲を設定する状況下で、設定された誤り率の測定範囲内でエラーフリーがとれなくなり、設定された誤り率測定範囲内ではバスタブ測定が行えなくなることも発生し得る。

これを回避するため、本実施形態では、バスタブ測定に先行して誤り率の最適値（最小誤り率）を測定するための最小誤り率測定動作を実施し、該最小誤り率測定動作によって測定された最小誤り率と既に設定されている測定範囲（上限値）の関係に応じて、該上限値をより大きな上限値に再設定する誤り率測定範囲再設定機能をさらに有している。

本実施形態に係る誤り率測定装置１の構成について図１～図４を参照して説明する。本実施形態に係る誤り率測定装置１は、図１に示すように、ＰＰＧ２、ＥＤ３、記憶部４、表示部５、操作部６、制御部７を備えて構成される。

ＰＰＧ２は、ＤＵＴ１０に試験信号としてのＰＡＭ４信号を送信するものであり、図１に示すように、集積回路などによって構成される信号送信部２ａ、ＲＡＭなどのメモリによって構成されるデータ記憶部２ｂを含んで構成される。

データ記憶部２ｂは、例えば１２８Ｍビットサイズからなる基準になるデータを予め記憶している。信号送信部２ａは、ユーザにより設定された測定パターンに基づいてデータ記憶部２ｂからデータを読み込んで該データを表すＰＡＭ４信号を生成し、該ＰＡＭ４信号を試験信号としてＤＵＴ１０に送信するようになっている。信号送信部２ａが送信するＰＡＭ４信号を生成するための具体的なパターン信号としては、それぞれパターン長が異なる各種疑似ランダムパターン（ＰＲＢＳ）や、ＰＲＢＳ１３Ｑ、ＰＲＱＳ１０、ＳＳＰＲ等のＰＡＭを評価するための評価用パターンがある。

ＥＤ３は、ＰＰＧ２からの試験信号が入力されたＤＵＴ１０が送出するＰＡＭ４信号を被測定信号として受信してＢＥＲ測定を行うパターン受信部としての機能を有するものであり、ＰＡＭデコーダとしての機能を有する信号受信部３ａ、及び誤り率測定部３ｆを含んで構成される。

信号受信部３ａは、ＰＡＭ４信号を被測定信号として入力し、該被測定信号のレベルをシンボルごとに検出することにより当該被測定信号を２値信号にデコードするものである。信号受信部３ａは、例えば、図３に示すように、ＰＡＭ４信号のＵｐｐｅｒ信号（高レベル信号）、Ｍｉｄｄｌｅ信号（中レベル信号）、Ｌｏｗｅｒ信号（低レベル信号）を０／１判別する０／１判別回路３ｂと、０／１判別回路３ｂにて０／１判別した判別信号からＰＡＭ４信号を最上位ビット列信号（ＭＳＢ）と最下位ビット列信号（ＬＳＢ）にデコードするデコード回路３ｃと、可変遅延器３ｄと、を備えて構成されている。

０／１判別回路３ｂは、ＰＡＭ４信号が伝送される伝送線路に対し、３つの０／１判別器（第１の０／１判別器３ｂａ、第２の０／１判別器３ｂｂ、第３の０／１判別器３ｂｃ）が並列接続される。

第１の０／１判別器３ｂａは、ＰＡＭ４信号のＵｐｐｅｒ信号の０／１を第１の基準電圧Ｖｔｈ１との比較によって判別する。すなわち、第１の０／１判別器３ｂａは、図３に示すように、Ｕｐｐｅｒ信号を第１の基準電圧Ｖｔｈ１で打ち抜いてＵｐｐｅｒ信号と第１の基準電圧Ｖｔｈ１とを比較し、Ｕｐｐｅｒ信号が第１の基準電圧Ｖｔｈ１以上であればＤＵ＝「１」を判別信号として出力し、Ｕｐｐｅｒ信号が第１の基準電圧Ｖｔｈ１以上でなければＤＵ＝「０」を判別信号として出力する。

第２の０／１判別器３ｂｂは、ＰＡＭ４信号のＭｉｄｄｌｅ信号の０／１を第２の基準電圧Ｖｔｈ２との比較によって判別する。すなわち、第２の０／１判別器３ｂｂは、図３に示すように、Ｍｉｄｄｌｅ信号を第２の基準電圧Ｖｔｈ２で打ち抜いてＭｉｄｄｌｅ信号と第２の基準電圧Ｖｔｈ２とを比較し、Ｍｉｄｄｌｅ信号が第２の基準電圧Ｖｔｈ２以上であればＤＭ＝「１」を判別信号として出力し、Ｍｉｄｄｌｅ信号が第２の基準電圧Ｖｔｈ２以上でなければＤＭ＝「０」を判別信号として出力する。

第３の０／１判別器３ｂｃは、ＰＡＭ４信号のＬｏｗｅｒ信号の０／１を第３の基準電圧Ｖｔｈ３との比較によって判別する。すなわち、第３の０／１判別器３ｂｃは、図３に示すように、Ｌｏｗｅｒ信号を第３の基準電圧Ｖｔｈ３で打ち抜いてＬｏｗｅｒ信号と第３の基準電圧Ｖｔｈ３とを比較し、Ｌｏｗｅｒ信号が第３の基準電圧Ｖｔｈ３以上であればＤＬ＝「１」を判別信号として出力し、Ｌｏｗｅｒ信号が第３の基準電圧Ｖｔｈ３以上でなければＤＬ＝「０」を判別信号として出力する。

デコード回路３ｃは、論理回路で構成され、例えば、図３に示すように、第１のＡＮＤ（論理積）回路３ｃａ、第２のＡＮＤ（論理積）回路３ｃｂ、第３のＡＮＤ（論理積）回路３ｃｃ、ＯＲ（論理和）回路３ｃｄを備える。

第１のＡＮＤ回路３ｃａは、第１の０／１判別器３ｂａからの判別信号（ＤＵ）と第３の０／１判別器３ｂｃからの判別信号（ＤＬ）とを入力として論理積演算を行う。

第２のＡＮＤ回路３ｃｂは、第１の０／１判別器３ｂａからの判別信号（ＤＵ）と第２の０／１判別器３ｂｂからの判別信号（ＤＭ）を反転した信号とを入力として論理積演算を行う。

第３のＡＮＤ回路３ｃｃは、第２の０／１判別器３ｂｂからの判別信号（ＤＭ）を反転した信号と第３の０／１判別器３ｂｃからの判別信号（ＤＬ）とを入力として論理積演算を行う。

ＯＲ回路３ｃｄは、第１のＡＮＤ回路３ｃａ、第２のＡＮＤ回路３ｃｂ、第３のＡＮＤ回路３ｃｃからの信号を入力として論理和演算を行う。

上述した構成を有する信号受信部３ａでは、第１の基準電圧Ｖｔｈ１を高電圧範囲Ｈ３に設定し、第２の基準電圧Ｖｔｈ２を中電圧範囲Ｈ２に設定し、第３の基準電圧Ｖｔｈ３を低電圧範囲Ｈ１に設定する。そして、ＰＡＭ４信号をデコードする際には、第１の基準電圧Ｖｔｈ１がＵｐｐｅｒ信号の打ち抜き、第２の基準電圧Ｖｔｈ２がＭｉｄｄｌｅ信号の打ち抜き、第３の基準電圧Ｖｔｈ３がＬｏｗｅｒ信号の打ち抜きに用いられる。

また、デコード回路３ｃでは、第２の０／１判別器３ｂｂからの判別信号（ＤＭ）をそのまま最上位ビット列信号（ＭＳＢ）として出力し、ＯＲ回路３ｃｄの出力を最下位ビット列信号（ＬＳＢ）として出力する。これにより、信号受信部３ａは、被測定信号としてのＰＡＭ４信号を取り込みつつ、該ＰＡＭ４信号から最上位ビット列信号（ＭＳＢ）及び最下位ビット列信号（ＬＳＢ）にデコード処理を行う。

可変遅延器３ｄは、ＥＤ３が、被測定信号として入力するデータ（以下、入力データ）と、該入力データの２値判定の処理に用いるクロック信号との位相関係を位相操作指令に応じて遅延操作するものである。具体的に、可変遅延器３ｄは０／１判別回路３ｂとデコード回路３ｃの間に配置され、操作部６でのユーザ操作に基づき位相操作制御部７ｂ（図４参照）から与えられる上記位相操作指令に応じて、０／１判別回路３ｂから出力される判別信号のデコード回路３ｃに対する入力タイミングを遅延させる制御を行う。可変遅延器３ｄは、位相操作制御部７ｂとともに、本発明の位相操作手段を構成する。

ＥＤ３において、誤り率測定部３ｆは、ビットエラー測定部としての機能を有し、図１に示すように、同期検出部３ｆ１、比較部３ｆ２を備えて構成される。同期検出部３ｆ１は、データ記憶部２ｂから読み込んだ基準となるデータ（参照信号）と、受信した入力データとを同期させるための処理を行い、同期が取れた場合にはその旨を比較部３ｆ２へ通知するようになっている。誤り率測定部３ｆは、本発明の誤り率測定手段を構成する。

比較部３ｆ２は、例えば、排他的論理和回路（ＥＸ－ＯＲ）により構成され、同期検出部３ｆ１から入力されるデータのパターン、すなわち、信号受信部３ａによりデコードされた２値信号（ＭＳＢ、ＬＳＢ）と上記参照信号（既定のパターン）とをシンボル（ビット）ごとに比較することにより、被測定信号のレベルと参照信号のレベルとが相違するビットエラーを測定する。２値信号（ＭＳＢ、ＬＳＢ）と参照信号とのシンボルごとのビットの比較結果は、比較データとして記憶部４の比較データ記憶領域に順次格納されるようになっている。ここで誤り率測定部３ｆは、上記比較データに基づき、全シンボル数に対するエラーとなったビットの割合を誤り率として算出し、算出した誤り率のデータを記憶部４にさらに記憶する構成であってもよい。

記憶部４は、上述した比較データ（誤り率のデータ）の他、操作部６にて設定される測定パターンのＰＡＭ４信号を発生させるためのパターンファイル、高電圧範囲Ｈ３の閾値電圧Ｖｔｈ１、中電圧範囲Ｈ２の閾値電圧Ｖｔｈ２、低電圧範囲Ｈ１の閾値電圧Ｖｔｈ３、制御部７の各機能部を実現するための処理プログラム等、各種の情報を記憶する。本実施形態においては、後述の誤り率と遅延量の関係を示す誤り率／遅延量特性データ、該誤り率／遅延量特性データから算出されるバスタブ特性、さらにはバスタブ特性に基づくジッタ測定結果などのデータも記憶部４に記憶されるようになっている。

表示部５は、例えば液晶表示器などで構成され、ＢＥＲ測定に関わる設定画面や、ＢＥＲ測定、バスタブ測定、及びジッタ測定の測定結果を表示する測定画面（図１３参照）などの画面、及びその他の各種情報を表示する。

操作部６は、例えば操作ノブ、各種キー、スイッチ、ボタンや表示部５の表示画面上のソフトキーなどで構成される。操作部６は、測定パターンの選択、誤り率の測定範囲、誤り率の測定の開始・終了の指示など、ＰＡＭ４信号の誤り率測定、誤り率／遅延量特性に基づくバスタブ測定に関わる各種設定を行う際にユーザにより操作される。操作部６は、後述するパラメータ設定部７ａとともに、本発明の設定手段を構成する。

制御部７は、上述した各種デバイスをＤＵＴ１０としてビット誤り率（ＢＥＲ）を含む各種測定を行う際にＰＰＧ２、ＥＤ３、記憶部４、表示部５、操作部６を統括制御するものであり、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、通信インタフェースを含むコンピュータ装置によって構成される。

このコンピュータ装置は、ＣＰＵがＲＡＭを作業領域としてＲＯＭに格納されたプログラムを実行することにより、パラメータ設定部７ａ、位相操作制御部７ｂ、測定制御部７ｃ、測定範囲再設定部７ｄ、バスタブ特性算出部７ｅ、ジッタ測定制御部７ｆ、表示制御部７ｇを実現している。

パラメータ設定部７ａは、ＰＡＭ４信号の誤り率測定を行うための各種のパラメータを設定するものである。この種のパラメータとしては、測定対象の信号の規格、誤り率の測定範囲、位相操作パターン、位相操作の掃引回数などが挙げられる。パラメータ設定部７ａは、この他、後述する要否判定用レベルＬ１、上回りレベルＬ２（図１２（ａ））といった測定範囲の再設定制御に係るパラメータを設定する機能を有していてもよい。パラメータ設定部７ａは、上述した操作部６とともに、本発明の設定手段を構成する。

位相操作制御部７ｂは、後述する測定制御部７ｃでのＰＡＭ４信号の誤り率測定制御の実行中、ユーザによる操作部６で操作に基づいて信号受信部３ａの可変遅延器３ｄに対して位相操作指令を入力し、入力データとクロック信号との位相関係を操作させる（順次変動させる）制御を実行するようになっている。

測定制御部７ｃは、設定された測定パラメータに基づいてＰＰＧ２から指定された規格のパルスパターンを有する試験信号（ＰＡＭ４信号）を発生させ、該試験信号を受信したＤＵＴ１０が送出するＰＡＭ４信号を被測定信号としてＥＤ３に入力して誤り率測定部３ｆで該被測定信号のビット誤り率を測定する誤り率測定制御を実行する。

具体的に、上記誤り率測定制御において、測定制御部７ｃは、可変遅延器３ｄ及び位相操作制御部７ｂ、誤り率測定部３ｆを制御し、入力データに対し、位相関係を操作させつつ該入力データの被測定信号の誤り率を測定させるとともに、閾値電圧を操作させつつ入力データの誤り率を測定させる測定動作を実行する（図１０のステップＳ５～Ｓ８、図１１のステップＳ４２参照）。また、測定制御部７ｃは、入力データの上述した誤り率測定に合わせてバスタブ測定、ジッタ測定を実行させるようにバスタブ特性算出部７ｅ、ジッタ測定制御部７ｆを制御する。

さらに測定制御部７ｃは、後述する測定範囲再設定部７ｄによる測定範囲の再設定制御を実現すべく、可変遅延器３ｄ及び位相操作制御部７ｂにより誤り率最小となる位置にデータとクロック信号との位相関係を合わせた状態で、誤り率測定部３ｆによりデータの誤り率を測定させる最小誤り率測定動作を上述したバスタブ特性の測定に先行して実行させる制御を行う先行測定動作制御部７ｃ１を有している。

上記最小誤り率測定動作において、測定制御部７ｃは、被測定信号（入力データ）を入力し、可変遅延器３ｄ及び位相操作制御部７ｂにより位相操作された該データの信号受信部３ａ（デコード回路３ｃ）での２値判定結果を誤り率測定部３ｆにさらに入力し、該誤り率測定部３ｆによって当該データのパターンと既定のバターンを比較し、その比較結果に基づき当該データの誤り率を測定させるように、信号受信部３ａ、可変遅延器３ｄ及び位相操作制御部７ｂ、誤り率測定部３ｆを統括的に制御する。測定制御部７ｃ、先行測定動作制御部７ｃ１は、それぞれ、本発明の誤り率測定制御手段、先行測定動作制御手段を構成する。

測定範囲再設定部７ｄは、操作部６での設定操作に基づいてパラメータ設定部７ａにより設定された誤り率の測定範囲を再設定する制御を行う機能部である。具体的に、測定範囲再設定部７ｄは、既に設定されている測定範囲における上限値を、先行測定動作制御部７ｃ１により実施される最小誤り率測定動作により測定される最小誤り率に応じて、該最小誤り率よりも大きな値を有する再設定上限値として再設定するようになっている。

上述した測定範囲の再設定機能を実現するために、測定範囲再設定部７ｄは、既に設定されている上限値から一定レベル（図１２（ａ）の要否判定閾値レベルＬ１参照）下回る誤り率を閾値として設定し、測定された最小誤り率が閾値より大きいか閾値以下かに応じて既に設定されている上限値の再設定が必要であるか不要であるかを判定する再設定判定部７ｄ１をさらに有している。これにより、測定範囲再設定部７ｄは、再設定判定部７ｄ１による上限値の再設定の要否判定結果に応じて上限値の再設定を実行または実行しないように制御することができるようになっている。

また、測定範囲再設定部７ｄは、再設定上限値として、ユーザによって既に設定されている上限値に対して所定レベル（図１２（ａ）の引き上げレベルＬ２参照）を上回る誤り率を再設定する機能を有している。ここでパラメータ設定部７ａは、操作部６での入力操作に応じて、例えば、－１乗の誤り率範囲を１目盛として、上限値と下限値を目盛り単位に設定可能な構成により実現できる。この場合、測定範囲再設定部７ｄは、上述した所定レベルとして、少なくとも１目盛に相当するレベルを上回る誤り率を再設定する構成で実現することもできる。測定範囲再設定部７ｄ、再設定判定部７ｄ１は、それぞれ、本発明における測定範囲再設定手段、判定手段を構成する。

バスタブ特性算出部７ｅは、上述したプレ測定動作の終了後、可変遅延器３ｄ及び位相操作制御部７ｂによる位相操作を予め設定した掃引回数実施しつつ実施される誤り率測定部３ｆでの誤り率測定に合わせ、このときの誤り率測定の測定結果と位相操作されるクロック遅延量との対応関係を示すバスタブ特性を算出するための演算機能部である。バスタブ特性算出部７ｅは、本発明のバスタブ測定手段を構成する。

ジッタ測定制御部７ｆは、バスタブ特性算出部７ｅにより算出されたバスタブ特性に基づき、該バスタブ特性におけるバスタブ曲線部分を近似する近似線を規定し、該近似線の傾きによって定義されるジッタを算出するジッタ算出処理機能を有する。

表示制御部７ｇは、測定制御部７ｃの制御に基づく測定動作中のビット誤り率の測定結果、バスタブ測定結果などの測定結果や、その他の各種情報を、表示部５に表示させる制御を行うものである。本実施形態において、表示制御部７ｇは、バスタブ特性算出部７ｅ及びジッタ測定制御部７ｆの制御によって測定（算出）されるジッタ測定結果を含む測定画面を表示させる表示制御機能を備えている。

具体的に、表示制御部７ｇは、例えば図１３に示すように、バスタブ特性の測定結果を示すグラフ５２ａと、グラフ５２ａを形成するバスタブ曲線５２ａ１、５２ａ２に関連付けて描画される上記再設定上限値を示す線分５２ｃと、再設定上限値が自動設定されたものであることを報知する報知メッセージ５４ｅと、をジッタ測定画面５１上に表示させるようになっている。表示制御部７ｇは、本発明の表示制御手段を構成している。

図１、図３及び図４に示すように、本実施形態に係る誤り率測定装置１において、ＥＤ３は、誤り率測定範囲設定機能（操作部６、パラメータ設定部７ａ）、位相操作制御機能（可変遅延器３ｄ、操作部６、位相操作制御部７ｂ）、バスタブ特性及びジッタ測定機能（バスタブ特性算出部７ｅ、ジッタ測定制御部７ｆ）を有している。そのうえで、ＥＤ３は、バスタブ測定に先行して最小誤り率測定動作を実施し、該最小誤り率測定動作によって測定された最小誤り率に応じて、誤り率測定範囲設定機能により既に設定されている誤り率測定範囲の上限値をより大きな値を有する再設定上限値として再設定する誤り率測定範囲再設定機能（測定範囲再設定部７ｄ、再設定判定部７ｄ１）をさらに有している。

ここでまずバスタブ特性及びジッタ測定について図５～図９を参照して説明する。上記構成（図１、図３、図４参照）を有する誤り率測定装置１において、制御部７では、誤り率測定部３ｆでの被測定信号の誤り率の測定に合わせて、バスタブ特性算出部７ｅが被測定信号のバスタブ特性を算出し、ジッタ測定制御部７ｆがそのバスタブ特性からランダムジッタＲＪと確定的ジッタＤＪとを分離して算出できるようになっている。

バスタブ特性算出部７ｅにより算出される被測定信号のバスタブ特性の一例を図５に示している。図５において、横軸はDelay、すなわち、クロック遅延量（クロック信号と入力データの位相関係）を示し、縦軸は誤り率（ＢＥＲ値）を例えば対数log10(BER)により示している。

なお、誤り率測定装置１は被測定信号としてＰＡＭ４信号を扱うものであり、図５に示すバスタブ特性については、図２に示す３つのアイパターンにそれぞれ対応したものを生成するようになっている（図９の（ｂ１）、（ｂ２）、（ｂ３）参照）。図５～図８については便宜上、３つのバスタブ特性についてひとくくりで説明するものとする。

図５に示すバスタブ特性におけるクロック遅延量の変動操作（同図の左端から右端に向けて動かす操作）は、位相操作制御部７ｂによる信号受信部３ａの可変遅延器３ｄに対する位相操作制御により行われる。位相操作制御は、入力データとクロック信号の位相関係（クロック遅延量）を例えば１周期の間隔で細かく操作する（動かす）ことができるようになっている。これにより、クロック遅延量を例えば初期値から１周期の範囲で決められた値（クロック遅延量）で動かしつつ、誤り率測定部３ｆでは、個々のクロック位相に対応する誤り率を測定することが可能となる。

上述したクロック遅延量（Delay）の操作に対して、誤り率測定部３ｆで測定されるＢＥＲ値を対応付けてグラフとして表すと、図５に示すように、クロック遅延量を初期値から次第に大きくしていく過程で、例えば黒丸で示される各測定ポイントでのＢＥＲ値が次第に小さくなっていく区間（第１の区間）と、その後、クロック遅延量を最終周期（１周期に相当する）までさらに大きくしていく過程で各測定ポイントでのＢＥＲ値が次第に大きくなっていく区間（第２の区間）が現れるようになっている。第１の区間における測定ポイントの集まりが描く曲線と、第２の区間における測定ポイントの集まりが描く曲線とは左右対称であり、両者を合わせるとバスタブ形状をなしている。このため、図５に示す一連のクロック遅延量対誤り率の特性は、一般にバスタブ特性と呼ばれている。本実施形態においても同様であり、以下、第１の区間における測定ポイントの集まりが描く曲線、第２の区間における測定ポイントの集まりが描く曲線を、それぞれ、第１のバスタブ曲線、第２のバスタブ曲線と呼称するものとする。

図５に示すバスタブ特性において、第１のバスタブ曲線、第２のバスタブ曲線に対しては、共に、それぞれの曲線を近似する近似線が引かれている。第１のバスタブ曲線の近似線は、例えば、log10(BER)＝ａ１ｘ＋ｂ１で表され、第２のバスタブ曲線の近似線は、例えば、log10(BER)＝ａ２ｘ＋ｂ２で表される。

また、このバスタブ特性においては、縦軸における任意のＢＥＲ値が、それぞれ、ＢＥＲ₀、ＢＥＲ₁、ＢＥＲ_U、ＢＥＲ_Lとして指定されている。ここで、ＢＥＲ₀は、確定的ジッタＤＪの推定に使用する基準誤り率であり、ＢＥＲ₁はトータルジッタＴＪの推定に使用する基準誤り率である。ＢＥＲ₀、ＢＥＲ₁は、事前に決められている。

ＢＥＲ_Uは、ジッタの計算に使用する誤り率の測定範囲の上限値であり、ＢＥＲ_Lは、ジッタの計算に使用する誤り率の測定範囲の下限値である。ＢＥＲ_U、ＢＥＲ_Lは、ジッタ測定に際してユーザが設定するようになっている（図１０のステップＳ１参照）。ジッタ測定に際して誤り率の測定範囲として設定可能な誤り率（ＢＥＲ）とＱ（ＢＥＲ）値との関係を図８に示している。

ジッタ測定制御部７ｆは、ユーザによって設定された上限値ＢＥＲ_Uと下限値ＢＥＲ_Lとにより規定される誤り率の測定範囲としてジッタ算出処理を実施するようになっている。これにより、ＢＥＲ₀からＢＥＲ₁までの範囲でＢＥＲ測定を行う場合に比べて処理負荷及び処理時間を低減することができる。

図５に示すバスタブ特性に基づいてランダムジッタＲＪ、確定的ジッタＤＪを算出する手法の一例として、以下に示す式（１）から式（４）を用いる方法が挙げられる。

式（１）において、NORM.INV（確率、平均、標準偏差）は、正規分布の累積分布関数の逆関数の値に対応するものである。TDは、Mark Ratioを表し、具体値としては例えば、１／２が設定されている。

図５に示すバスタブ特性において、ＢＥＲ_U、及びＢＥＲ_Lが設定されているときに、最小２乗法によって求められる上述した各近似線の係数ａ１、ｂ１、ａ２、ｂ２は、当該バスタブ特性について規定される図中のＴ_L、Ｔ_Uを用いて以下の式（５）及び式（６）で表すことができる。

上記式（２）で表されるランダムジッタＲＪ_ｒｍｓは、上記式（５）、式（６）を代入することにより、下式（７）で表すことができる。式（７）によってランダムジッタＲＪ_ｒｍｓを算出可能であることは図７の模式図からも理解できる。

さらにＦを定義することにより、下式（８）から下式（１０）を導くことができる。

上記式（１０）において、（１／ａ_１－１／ａ_２）という係数は、近似線の傾きを示している。以上の式変換から、ランダムジッタＲＪ_ｒｍｓは以下２点の特質を有することが分かる。１つ目の特質は、Ｆ(ＢＥＲ_L，ＢＥＲ_U）は測定条件から決まる固定の係数である点であり、２つ目の特質は、２本の近似線の傾きの逆数からランダムジッタＲＪ_ｒｍｓを算出することができる点である。したがって、バスタブ測定においては、近似線の傾きを求めることが重要であることを理解することができる。

さらに、確定的ジッタＤＪ、及びトータルジッタＴＪは、ランダムジッタＲＪ_ｒｍｓを用いて下式（１１）、（１２）により算出可能である。

次に、本実施形態に係る誤り率測定装置１におけるジッタ測定の概略手順について図６を参照して説明する。図６に示すように、本実施形態に係る誤り率測定装置１では、規定回数の掃引により得られるバスタブ特性に関する複数のデータセットから正常でないデータセットを排除し、正しいデータセットのみを選別して該選別されたデータセットに基づいてジッタを算出するようになっている。

１つのバスタブ特性を得る手順としては、それぞれ、Delayを初期値から１周期の範囲で動かして誤り率を測定する。ここでDelayを初期値から１周期の範囲で動かして誤り率を測定することを１掃引と定義し、１掃引によって得られたクロック信号とデータの位相関係と誤り率の関係をデータセットと定義する。

バスタブ特性算出部７ｅは、可変遅延器３ｄ、位相操作制御部７ｂと協働して、図６に示すように１掃引を複数回行うことで複数のデータセットを得ることができる。図６の例では、６掃引を実施して６つのデータセットを得られる様子を示している。ここでバスタブ特性算出部７ｅは、バスタブ特性を正しく測定できないＮＧの要件を定義しておくことで、得られたデータセットがＮＧの要件を満たす場合には当該データセットを削除し、ＮＧの要件に該当しないデータセットを残す選別機能を有する構成であってもよい。図６においては、６掃引を実施して得られた６つのデータセットのうちの一つが上記選別機能によってＮＧと判定されて削除され、残された５つのデータセットを用いてジッタを算出する際の処理イメージを示している。

ジッタ測定制御部７ｆは、残された５つのデータセットを用い、統計処理によってランダムジッタＲＪ、確定的ジッタＤＪ、トータルジッタＴＪ等の各種ジッタを計算する機能構成となっている。

なお、本実施形態に係る誤り率測定装置１は、ＰＡＭ４信号を扱うものであり、当該ＰＡＭ４信号の３つのアイパターン（図２参照）のそれぞれについてバスタブ測定を行うことができるものである。誤り率測定装置１におけるＰＡＭ４信号の誤り率／遅延量特性（バスタブ測定）の測定（算出処理）イメージを図９に示している。

図９において、図９（ａ）は、入力データ（ＰＡＭ４信号）に対する遅延量操作（図１０のステップＳ７参照）の処理イメージを示している。図９（ｂ１）は、ＰＡＭ４信号のＵｐｐｅｒ信号（高レベル信号）を対象とする誤り率／遅延量特性（バスタブ特性）ｄ１１の測定処理イメージを示している。同様に、図８（ｂ２）、（ｂ３）は、それぞれ、Ｍｉｄｄｌｅ信号、Ｌｏｗｅｒ信号の誤り率／遅延量特性ｄ１２、ｄ１３の測定処理イメージを示している。

次に、本実施形態に係る誤り率測定装置１におけるＰＡＭ４信号を対象とするジッタ測定制御動作について図１０に示すフローチャートを参照して説明する。図１０に示すジッタ測定制御動作においては、誤り率の測定範囲を設定するステップ（ステップＳ１参照）、及び再設定するステップ（ステップＳ４参照）が含まれている。

誤り率測定装置１においてジッタ測定処理を行うにはまず、ユーザが操作部６を操作して所望の測定パラメータの値を入力し、パラメータ設定部７ａがその入力された値を有する測定パラメータを設定する（ステップＳ１）。設定する測定パラメータとしては、試験信号の規格、誤り率の測定範囲、測定範囲の再設定に係る再設定用パラメータ、クロック信号の位相操作パターン、位相操作の掃引回数等が挙げられる。

試験信号の規格は、例えば、各種パターン長を有する擬似ランダム（Pseudo Random Binary Sequence：ＰＲＢＳ）パターンの中から所望する一つのパターンを選択的に指定することで設定する。

誤り率の測定範囲は、上限値（ＢＥＲ_Ｕ）と下限値（ＢＥＲ_Ｌ）を指定することで設定する。一例として、図１２（ａ）には、上限値を－６乗、下限値を－９乗に指定し、－６乗～－９乗までの誤り率の範囲を設定した例を挙げている。また、測定範囲の再設定に係る再設定用パラメータとしては、前述したように、再設定が必要か不要かを判定するための要否判定閾値レベルＬ１、再設定時に引き上げるべき所定の引き上げレベルＬ２を合わせ設定するようにしてもよい。

クロック信号の位相操作パターンとしては、変動させる単位位相量、１掃引の周期等を設定する。位相操作の掃引回数は、例えば、５回等、任意の回数を設定する。

測定パラメータの設定完了後、測定制御部７ｃは、アイ番号１、２、３のうちからいずれか１つのアイ番号の選択を受け付ける処理を行う（ステップＳ２）。ここでアイ番号１、２、３は、それぞれ、図２に示すＵｐｐｅｒ信号、Ｍｉｄｄｌｅ信号、Ｌｏｗｅｒ信号にそれぞれ対応するアイパターン開口部を識別するための番号である。

ここでユーザが、操作部６を操作して所望のアイ番号を選択すると、測定制御部７ｃは、選択されたアイ番号に対応する電圧範囲（低電圧範囲Ｈ１、中電圧範囲Ｈ２、高電圧範囲Ｈ３のうちのいずれか）を測定対象として設定したうえで、誤り率の測定を開始することを指示する測定開始操作が行われたか否かを監視する（ステップＳ３）。ここで測定開始操作が行われてないと判定された場合（ステップＳ２でＮＯ）、測定制御部７ｃは当該監視を続行する（ステップＳ３）。

これに対し、測定開始操作が行われたと判定された場合（ステップＳ３でＹＥＳ）、測定範囲再設定部７ｄは、測定制御部７ｃと共働し、ステップＳ１で設定された誤り率の測定範囲を、上限値のみを対象により大きな値に変更することにより再設定する測定範囲再設定処理を実行する（ステップＳ４）。

ステップＳ４における誤り率の測定範囲の再設定処理について図１１を参照して説明する。この再設定処理においてはまず、バスタブ測定を行う前段階として、可変遅延器３ｄによって、クロック信号と入力データの位相関係を誤り率最小の位置に合わせた状態を確立する（ステップＳ４１）。この操作は、例えば、ユーザが可変遅延器３ｄを手動で動かすことで行うことができる。

次いで、測定制御部７ｃでは、先行測定動作制御部７ｃ１が、例えば測定範囲再設定部７ｄからの最小誤り率測定動作の開始指令に応じて可変遅延器３ｄ及び位相操作制御部７ｂ、並びに誤り率測定部３ｆをそれぞれ制御し、上述した位置に位相関係を合わせた状態で、誤り率測定部３ｆによりデータの誤り率を測定させる最小誤り率測定動作を実行させる（ステップＳ４２）。

引き続き測定範囲再設定部７ｄでは、再設定判定部７ｄ１が、測定範囲の再設定が必要であるか不要であるかを判定する（ステップＳ４３）。この判定処理においては、測定範囲再設定部７ｄは、ステップＳ４２での最小誤り率測定動作での測定結果のうちの最小誤り率が予め設定した判定条件を満たすかどうかによって再設定が必要、若しくは不要と判定する方法が考えられる。

測定範囲再設定部７ｄは、上記判定条件としては、例えば、既に設定されている上限値から一定レベル下回るレベルを要否判定用レベルＬ１として設定し、ステップＳ４２での最小誤り率測定動作により測定された最小誤り率の測定値が、設定されている上限値から要否判定用レベルＬ１までの範囲のレベルにあるかそれよりも小さいレベルかによって再設定が必要、若しくは不要と判定する。図１２（ａ）においては、要否判定用レベルＬ１として、例えば、１．５目盛り分のレベルが設定されている例を挙げている。

ここで誤り率測定範囲の再設定が必要であると判定された場合（ステップＳ４３で「必要」）、次いで測定範囲再設定部７ｄは、ステップＳ４４へと移行する。これに対して、誤り率測定範囲の再設定が不要であると判定された場合（ステップＳ４３で「不要」）、ステップＳ４４を飛ばして図１０のステップＳ５へと移行する。

ステップＳ４４に移行すると、測定範囲再設定部７ｄは、ステップＳ１（図１０参照）で設定済の誤り率測定範囲の上限値を、ステップＳ４２での最小誤り率測定動作による誤り率の測定値（最小誤り率）に応じて、より大きな誤り率に自動で再設定する自動再設定処理を実行する（ステップＳ４４）。

この自動再設定処理において、測定範囲再設定部７ｄは、設定済の誤り率測定範囲の誤り率上限値を、事前に設定しておいたレベルだけ大きな誤り率に設定する。ここでの再設定にあたり既に設定されている上限値に対して上回せるための所定のレベルを上回りレベルＬ２として事前に設定しておくようにしてもよい。図１２においては、上回りレベルＬ２として、例えば、２目盛り分のレベルを設定しておき（図１２（ａ）参照）、設定済の上限値を該上回りレベルＬ２分大きなレベルまで大きくする設定制御例を挙げている。

ステップＳ４４の処理を終了すると、引き続き図１０のステップＳ５へ移行する。

ステップＳ５以降、測定制御部７ｃは、ＰＰＧ２、及びＥＤ３の各部（可変遅延器３ｄ及び位相操作制御部７ｂ、誤り率測定部３ｆ等）を統括的に制御し、入力データに対し、位相関係を操作させつつ該入力データ（被測定信号）の誤り率を測定させる測定動作を実行する。合わせてこの測定動作では、ステップＳ２で選択されたアイ番号に対応する電圧範囲における誤り率と遅延量の関係を示す誤り率／遅延量特性、所謂、バスタブ特性を測定するバスタブ測定と、誤り率／遅延量特性に基づいてジッタを測定するジッタ測定が実行される。こうした測定動作は、ステップＳ１２でユーザによる測定終了の指示があるまで、ステップＳ２で選択されたアイ番号に対応して繰り返し行われる。

まず、ステップＳ５において、測定制御部７ｃは、信号送信部２ａからステップＳ１で設定された規格の試験信号を送信させるように制御する（ステップＳ５）。信号送信部２ａから試験信号が送信された後、ＤＵＴ１０が該試験信号を受信すると、当該ＤＵＴ１０はその応答信号として被測定信号を送信する。

ステップＳ５で信号送信部２ａから試験信号を送信させる制御を行った後、測定制御部７ｃは、その試験信号の受信によりＤＵＴ１０が送出するＰＡＭ４信号である被測定信号を信号受信部３ａの０／１判別回路３ｂに順次入力させる（ステップＳ６）。

その際、測定制御部７ｃは位相操作制御部７ｂに位相操作制御を指示し、該指示に基づき位相操作制御部７ｂが、遅延操作ステップを示す番号ｎ１を＋１にインクリメントし、次いで、信号受信部３ａの可変遅延器３ｄを、当該番号ｎ１の位相操作ステップについて、入力するデータ（入力データ）に対してクロック信号をステップＳ１で設定された遅延操作パターンで遅延させる位相操作制御を実施する。具体的に、位相操作制御部７ｂは、予め設定した１周期の範囲内で初期値から最後の位相値まで、上記番号ｎ１に対応する位相操作ステップごとに所定の位相値ずつ順に動かすようにクロック遅延量（Delay）を操作制御する（ステップＳ７）。

ステップＳ７での位相操作制御により、信号受信部３ａでは、上記位相操作後のＰＡＭ４信号が０／１判別回路３ｂに入力されて０／１判別され、該０／１判別の判別信号がデコード回路３ｃでＭＳＢ、ＬＳＢにデコードされた後、誤り率測定部３ｆにより当該ＰＡＭ４信号の誤り率の測定が行われる（ステップＳ８）。これによりステップＳ８では、初期値から１周期の範囲内のクロック遅延量の変動に対応する誤り率測定結果が得られる。

引き続き、測定制御部７ｃは、バスタブ特性算出部７ｅによりバスタブ特性を演算させるように制御する。この制御により、バスタブ特性算出部７ｅは、ステップＳ７でのクロック遅延量の操作制御とステップＳ８でのＢＥＲ測定結果に基づき、クロック信号とデータの位相関係と、測定された誤り率との関係を示すバスタブ特性のデータセットを生成する演算処理を実行する（ステップＳ９）。

ステップＳ７、Ｓ８及びＳ９の処理は、図６を参照して説明した処理、つまり、クロック遅延量（Delay）を初期値から１周期の範囲で動かして誤り率を測定する測定処理を１回（１掃引）実施してバスタブ特性のデータセット（１掃引に係るデータセット）を取得する処理に相当する。本実施形態において、測定制御部７ｃは、上記掃引を複数回（ステップＳ１で設定された掃引回数）実施し、それぞれの回の掃引に対応する既定の数のデータセットを生成するように信号受信部３ａ、誤り率測定部３ｆ及びバスタブ特性算出部７ｅを制御するようになっている。

上述した複数回の掃引を行うべく、測定制御部７ｃは、ステップＳ９で１掃引によるバスタブ特性のデータセットを生成した後、掃引回数が規定回数に達したか否かを判定する（ステップＳ１０）。ここで掃引回数が規定回数に達していないと判定された場合（ステップＳ１０でＮＯ）、ステップＳ５からステップＳ１０までの処理を繰り返し実行する。

上記処理を繰り返し実行する間に、掃引回数が規定回数に達したと判定された場合（ステップＳ１０でＹＥＳ）、測定制御部７ｃは、ジッタ測定制御部７ｆにジッタを算出することを指示する。ジッタ測定制御部７ｆは、上記指示に基づき、それまでに得られた複数のデータセット（それぞれが１掃引に係るデータセット）に基づくジッタの演算処理を行う（ステップＳ１１）。この演算処理により、ジッタ測定制御部７ｆは、最終的には上記式（１０）、式（１１）、式（１２）に基づいてそれぞれランダムジッタＲＪ、確定的ジッタＤＪ、トータルジッタＴＪのジッタ値を算出する。

上述したステップＳ１からステップＳ１１までの一連のジッタ測定処理中、表示制御部７ｇは、各処理ステップでの処理結果に基づいて、例えば、図１３に示す構成を有するジッタ測定画面５１を表示部５に表示する制御を行う（ステップＳ１２）。ジッタ測定画面５１の表示形態については後で詳述する。

ジッタ測定画面５１の表示中、測定制御部７ｃは、測定終了を指示する測定終了操作が行われたか否かを監視する（ステップＳ１３）。ここで測定開始操作が行われてないと判定された場合（ステップＳ１３でＮＯ）、測定制御部７ｃはステップＳ２に戻ってアイ番号の選択を受け付け、その後、ステップＳ４以降の処理を続行する。

これに対し、測定終了操作が行われたと判定された場合（ステップＳ１３でＹＥＳ）、測定制御部７ｃは、上述した一連の測定処理を終了するように制御する。

図１０に示す一連のジッタ測定処理により、本実施形態に係る誤り率測定装置１では、ユーザによる誤り率測定範囲の上限値が小さかった場合でも、ステップＳ４における誤り率測定範囲の再設定処理により、当該誤り率測定範囲、特に、誤り率上限値をより大きな誤り率に再設定することにより、測定成功に導くことが可能となる。

ステップＳ４における誤り率測定範囲の再設定の具体例について図１２を参照して説明する。図１２においては、ステップＳ４での誤り率測定範囲の再設定処理を行うために、要否判定用レベルＬ１、及び上回りレベルＬ２が事前に設定されているものとする。また、ステップＳ４２の最小誤り率測定動作（先行測定動作）において最小誤り率（BER_opt）が得られたものとする。図１２において、最小誤り率（BER_opt）は、最小誤り率測定動作で得られたバスタブ特性における２つのバスタブ曲線の近似線が互いに交わる位置の値に相当する。

図１２に示す例の場合、バスタブ測定に先行する最小誤り率測定動作で測定された最小誤り率（BER_opt）が、設定されている上限値から要否判定用レベルＬ１内のレベルであるため、ステップＳ４３で再設定が必要であると判定される。

この判定結果にしたがい、ステップＳ４４では、既に設定されている測定範囲の上限値（－６乗）が、予め設定された上回りレベルＬ２だけ上回った（－４乗）の再設定上限値として再設定されることになる。

なお、ステップＳ４３における判定の結果、最小誤り率（BER_opt）が設定されている上限値から要否判定用レベルＬ１以上小さいレベルのときには、ステップＳ４３で再設定が不要であると判定される。この場合、誤り率の測定範囲の上限値の再設定を行わず、－９乗から－６乗の測定範囲での誤り率測定が実施されることになる。

図１２の例からも分かるように、再設定判定部７ｄ１は、設定されている上限値から一定レベル（要否判定用レベルＬ１）を下回る誤り率を閾値として設定し、測定された最小誤り率（BER_opt）がその閾値より大きいか閾値以下かに応じて上限値の再設定が必要か不要かを判定する機能構成となっている。

なお、図１２においては、設定されている上限値を上回る再設定上限値を再設定する処理に係る上回りレベルＬ２として、誤り率測定範囲設定機能における上限値と下限値を－１乗の目盛り単位に設定可能な機能構成に対して２目盛り分に相当するレベルとして例を挙げているが、本発明はこれに限らず、上記上回りレベルＬ２として、少なくとも１目盛に相当するレベルを設定して起き、既に設定されている上限値に対して１目盛分上回る再設定誤り率を再設定できる構成であればよい。

次に、ステップＳ１２の表示処理におけるジッタ測定画面５１の表示例について図１３を参照して説明する。図１３は、ユーザが設定した上限値（Ｅ－６）から下限値（Ｅ－９）の測定範囲（図１２（ｂ）参照）の上限値を再設定上限値（Ｅ－３）とする再設定が実施されたときのジッタ測定画面５１の表示例を示している。

図１３に示すように、ジッタ測定画面５１は、バスタブ測定表示領域５２と、ジッタ測定表示領域５３と、測定状況表示領域５４と、を有している。バスタブ測定表示領域５２は、例えば、縦軸に誤り率、横軸にクロック遅延量が目盛られたグラフ表示領域を有している。ジッタ測定表示領域５３は、Opt Phase、Opt BER、TJ(E-7)、DJ、RJ、J2(2.5E-3)、J9(2.5E-10)等の項目ごとにジッタ測定結果をそれぞれ数字で表示する構成を有している。測定状況表示領域５４は、ジッタ測定状況を項目ごとに表示するためのツール５４ａ、５４ｂ、５４ｃ、５４ｄを備えている。ツール５４ａ、５４ｂ、５４ｃ、５４ｄは、それぞれ、Phase Unit、Phase Resolution[単位：mUI]、Jitter Calculation、Calculation Error Thresholdの各項目のジッタ測定状況を表示するようになっている。

表示制御部７ｇは、図１０のステップＳ９で生成されるバスタブ特性のデータセットに基づき、図１３に示すジッタ測定画面５１のバスタブ測定表示領域５２に対してバスタブ特性を示すグラフ５２ａを表示する。グラフ５２ａは、第１のバスタブ曲線５２ａ１と第２のバスタブ曲線５２ａ１とにより構成されている。また、表示制御部７ｇは、グラフ５２ａ上にバスタブ曲線５２ａ１、５２ａ２にそれぞれ対応する近似線５２ｂ１、５２ｂ２を表示する。

また、表示制御部７ｇは、図１０のステップＳ１１におけるジッタ測定結果に基づき、図１３に示すジッタ測定画面５１のジッタ測定表示領域５３に対し、項目ごとのジッタ測定結果を数字で表示する。

また、表示制御部７ｇは、図１３のジッタ測定画面５１の測定状況表示領域５４に対して、測定状況に関する各項目の設定状況をさらに表示する。図１３の例では、上記各項目のうち、特に、Calculation Error Thresholdについては、誤り率の測定範囲を指定するツール５４ｄを用いて、Ｅ－３ to Ｅ－１１の範囲が誤り率の範囲として設定されている様子が表示されている。

ツール５４ｄの表示に合わせて、表示制御部７ｇは、誤り率の測定範囲の上限値が自動的に再設定されたものであることをユーザに認知させるための表示制御も実施する。図１３の例において、表示制御部７ｇは、バスタブ測定表示領域５２内における誤り率の測定範囲の上限を示す線分（横線）５２ｃで示される上限値（この例では、「Ｅ－３」に相当する）が再設定されたものであることが分かる態様で表示するようになっている。

表示制御部７ｇは、誤り率の測定範囲の上限値が自動的に再設定されたものであることを報知する報知メッセージ５４ｅをツール５４ｄに対応付けてさらに表示するようになっている。図１３の例では、「Auto Tune ！」という表現内容の報知メッセージ５４ｅが表示されている。

なお、再設定された上限値を示すツール５４ｄ、及び再設定された上限値であることを報知するための報知メッセージ５４ｅの表示形態については、図１３に示す表示形態に限らず、例えば、表示内容、表示色、表示パターン（点灯、または点滅）等を適宜変更する等、様々な形態が考えられる。

図１３に示す表示形態を有するジッタ測定画面５１によれば、ユーザは、グラフ５２ａ上にバスタブ曲線７２ａ１、に関連付けて表された上限値（「Ｅ－３」）を示す線分５２ｃの表示形態と、測定状況表示領域５４内にツール５４ｄに対応付けて表示される報知メッセージ５４ｅを見ることにより、自ら設定した誤り率測定範囲の上限値が再設定されたうえでジッタ測定が完了していることを目視によって理解できるようになる。

上述したように、本実施形態に係る誤り率測定装置１は、被測定信号として入力するデータの誤り率の測定範囲を上限値と下限値を用いて設定するパラメータ設定部７ａと、入力するデータと該データの２値判定の処理に用いるクロック信号の位相関係を可変遅延器３ｄで操作する位相操作を行う位相操作制御部７ｂと、位相操作を伴うデータの２値判定の判定結果を用いてデータの誤り率を測定する誤り率測定部３ｆと、データの誤り率の測定に合わせて、可変遅延器３ｄにより操作されたデータとクロック信号の位相関係と、誤り率測定部３ｆにより測定されたデータの誤り率との関係を示すバスタブ特性を測定するバスタブ特性算出部７ｅと、を備え、設定された測定範囲を対象にデータの誤り率を測定するものである。

この誤り率測定装置１は、可変遅延器３ｄにより誤り率最小となる位置に位相関係を合わせた状態で、誤り率測定部３ｆによりデータの誤り率を測定させる最小誤り率測定動作をバスタブ特性の測定に先行して実行させる先行測定動作制御部７ｃ１と、パラメータ設定部７ａにより設定された上限値を、最小誤り率測定動作で測定されたデータの最小誤り率（BER_opt）に応じて上限値より大きな値を有する再設定上限値として再設定する測定範囲再設定部７ｄと、再設定上限値とパラメータ設定部７ａにより設定された下限値との間の測定範囲を対象にバスタブ特性を測定させるように可変遅延器３ｄ、誤り率測定部３ｆ及びバスタブ特性算出部７ｅを制御する測定制御部７ｃと、を有して構成されている。

この構成により、本実施形態に係る誤り率測定装置１は、最初に設定された上限値をより大きな値に自動で再設定することで上限値の設定に起因する測定の失敗を低減することができる。上限値の設定に起因する測定の失敗が低減されることで、測定を確実に完了させることができるようになり、測定失敗した場合でも、該失敗の問題を上限値の設定の問題とは切り分けて問題解決にあたることで被測定信号を送信する被測定物の評価を効率的に実施することができる。

また、本実施形態に係る誤り率測定装置１は、パラメータ設定部７ａにより設定された上限値から一定レベル（要否判定用レベルＬ１）下回る誤り率を閾値として設定し、測定された最小誤り率（BER_opt）が閾値より大きいか閾値以下かに応じて上限値の再設定が必要か不要かを判定する再設定判定部７ｄ１をさらに有し、測定範囲再設定部７ｄは、再設定判定部７ｄ１による上限値の再設定が必要か不要かの判定結果に応じて上限値の再設定を実行または実行しないようにする構成を有している。

この構成により、本実施形態に係る誤り率測定装置１は、測定された最小誤り率と閾値との関係によっては必ずしも再設定上限値としての再設定を行う必要がなく、バスタブ測定を効率よく実施できる。

また、本実施形態に係る誤り率測定装置１においては、測定範囲再設定部７ｄは、再設定上限値として、パラメータ設定部７ａにより設定された上限値に対して所定レベル（上回りレベルＬ２）上回る誤り率を再設定する構成を有している。

この構成により、本実施形態に係る誤り率測定装置１は、設定済みの上限値を再設定上限値として再設定する際に、設定済みの上限値を上回りレベルＬ２分上回る値に容易に再設定することができ、処理を簡略化し、測定時間を短縮することが可能となる。

また、本実施形態に係る誤り率測定装置１においては、パラメータ設定部７ａは、－１乗の誤り率範囲を１目盛として、上限値と下限値を目盛り単位に設定可能であり、測定範囲再設定部７ｄは、上回りレベルＬ２として、少なくとも１目盛に相当するレベルを上回る誤り率を再設定する構成である。

この構成により、本実施形態に係る誤り率測定装置１は、１目盛り単位の上限値及び下限値の設定機能に合わせて、設定済みの上限値に対して目盛り単位のレベルを上回る再設定上限値を容易に再設定可能であり、処理負荷を軽減することができる。

また、本実施形態に係る誤り率測定装置１は、バスタブ特性の測定結果を示すグラフ５２ａと、グラフ５２ａを形成するバスタブ曲線５２ａ１、５２ａ２に関連付けて描画される再設定上限値を示す線分５２ｃと、再設定上限値が自動設定されたものであることを報知する報知メッセージ５４ｅと、を含むジッタ測定画面５１を、表示部５に表示させる表示制御部７ｇをさらに有する構成である。この構成により、本実施形態に係る誤り率測定装置１は、ジッタ測定画面５１上の線分５２ｃ、及び報知メッセージ５４ｅの表示内容から、上限値の自動再設定により測定が成功している状況であることをユーザが容易に認識可能となる。

また、本実施形態に係る誤り率測定方法は、被測定信号として入力するデータの誤り率の測定範囲を上限値と下限値を用いて設定するパラメータ設定部７ａと、入力するデータと該データの２値判定の処理に用いるクロック信号の位相関係を可変遅延器３ｄで操作する位相操作を行う位相操作制御部７ｂと、位相操作を伴うデータの２値判定の判定結果を用いてデータの誤り率を測定する誤り率測定部３ｆと、データの誤り率の測定に合わせて、可変遅延器３ｄにより操作されたデータとクロック信号の位相関係と、誤り率測定部３ｆにより測定されたデータの誤り率との関係を示すバスタブ特性を測定するバスタブ特性算出部７ｅと、を備える誤り率測定装置１を用いて測定範囲を対象にデータの誤り率を測定する誤り率測定方法であって、可変遅延器３ｄにより誤り率最小となる位置にデータとクロック信号の位相関係を合わせた状態で、誤り率測定部３ｆによりデータの誤り率を測定させる最小誤り率測定動作をバスタブ特性の測定に先行して実行させる先行測定動作制御ステップ（Ｓ４２、Ｓ４３）と、パラメータ設定部７ａにより設定された上限値を、最小誤り率測定動作で測定された前記データの最小誤り率（BER_opt）に応じて上限値より大きな値を有する再設定上限値として再設定する再設定ステップ（Ｓ４４）と、再設定上限値とパラメータ設定部７ａにより設定された下限値との間の測定範囲を対象にバスタブ特性を測定させるように可変遅延器３ｄ、誤り率測定部３ｆ及びバスタブ特性算出部７ｅを制御する測定制御ステップ（Ｓ５～Ｓ１２）と、を含む構成である。

この構成により、本実施形態に係る誤り率測定方法は、本誤り率測定方法を適用し、最初に設定された上限値をより大きな値に自動で再設定することで上限値の設定に起因する測定の失敗を低減でき、測定失敗した場合でも、該失敗の問題を上限値の設定の問題とは切り分けて問題解決にあたることで被測定信号を送信する被測定物の評価を効率的に実施することができる。

（他の実施形態）
上述した実施形態においては、ＰＡＭ４信号のアイダイヤグラムの生成、描画処理について述べてきたが、本発明は、他の実施形態として、誤り率測定装置１の信号受信部３ａに代えて、例えば、図１４に示す構成を有する信号受信部３０を採用することでＮＲＺ信号のアイダイヤグラムの生成、描画処理にも適用可能である。

図１４に示すように、他の実施形態に係る信号受信部３０は、被測定信号として入力するＮＲＺ信号の２値（０、または１）判定を行う０／１判定器３１と、０／１判定器３１に入力する被測定信号とクロック信号の遅延量を操作する可変遅延器３２と、を備えて構成されている。かかる構成により、他の実施形態においては、位相操作制御部４０から可変遅延器３２を制御して遅延操作（位相操作）を実施しながら、誤り率の測定範囲の自動設定を行いつつＮＲＺ信号のバスタブ測定、ジッタ測定を実現することができる。

以上のように、本発明に係る誤り率測定装置、及び誤り率測定方法は、設定された上限値を再設定して測定を確実に完了させることができ、測定失敗時には、上限値の設定に起因する問題と切り分けて当該測定失敗の問題に対して迅速に対処可能であるという効果を奏し、位相操作を行いつつ誤り率を測定して得たバスタブ特性に基づくジッタ測定を行う誤り率測定装置、及び誤り率測定方法全般に有用である。

１誤り率測定装置
２パルスパターン発生器（ＰＰＧ）
３誤り率測定器（ＥＤ）
３ａ信号受信部
３ｄ可変遅延器（位相操作手段）
３ｆ誤り率測定部（誤り率測定手段）
５表示部
６操作部（設定手段）
７制御部
７ａパラメータ設定部（設定手段）
７ｂ位相操作制御部（位相操作手段）
７ｃ測定制御部（測定制御手段）
７ｃ１先行測定動作制御部（先行測定動作制御手段）
７ｄ測定範囲再設定部（再設定手段）
７ｄ１再設定判定部（判定手段）
７ｅバスタブ特性算出部（バスタブ測定手段）
７ｆジッタ測定制御部
７ｇ表示制御部（表示制御手段）
５１ジッタ測定画面（測定画面）
５２ａバスタブ特性の測定結果を示すグラフ
５２ａ１、５２ａ２バスタブ曲線
５２ｃ再設定上限値を示す線分
５４ｅ報知メッセージ（報知情報）

Claims

被測定信号として入力するデータの誤り率の測定範囲を上限値と下限値を用いて設定する設定手段（６、７ａ）と、
入力する前記データと該データの２値判定の処理に用いるクロック信号の位相関係を操作する位相操作を行う位相操作手段（３ｄ、７ｂ）と、
前記位相操作を伴う前記データの２値判定の判定結果を用いて前記データの誤り率を測定する誤り率測定手段（３ｆ）と、
前記データの誤り率の測定に合わせて、前記位相操作手段により操作された前記位相関係と、前記誤り率測定手段により測定された前記データの誤り率との関係を示すバスタブ特性を測定するバスタブ測定手段（７ｅ）と、を備え、前記測定範囲を対象に前記データの誤り率を測定する誤り率測定装置であって、
前記位相操作手段により誤り率最小となる位置に前記位相関係を合わせた状態で、前記誤り率測定手段により前記データの誤り率を測定させる最小誤り率測定動作を前記バスタブ特性の測定に先行して実行させる先行測定動作制御手段（７ｃ１）と、
前記設定手段により設定された前記上限値を、前記最小誤り率測定動作で測定された前記データの最小誤り率（BER_opt）に応じて前記上限値より大きな値を有する再設定上限値として再設定する再設定手段（７ｄ）と、
前記再設定上限値と前記設定手段により設定された前記下限値との間の測定範囲を対象に前記バスタブ特性を測定させるように前記位相操作手段、前記誤り率測定手段及び前記バスタブ測定手段を制御する測定制御手段（７ｃ）と、
を有することを特徴とする誤り率測定装置。
前記設定手段により設定された前記上限値から一定レベル（Ｌ１）下回る誤り率を閾値として設定し、測定された前記最小誤り率が前記閾値より大きいか前記閾値以下かに応じて前記上限値の再設定が必要か不要かを判定する判定手段（７ｄ１）をさらに有し、
前記再設定手段は、前記判定手段による前記上限値の再設定が必要か不要かの判定結果に応じて前記上限値の再設定を実行または実行しないことを特徴とする請求項１に記載の誤り率測定装置。
前記再設定手段は、前記再設定上限値として、前記設定手段により設定された前記上限値に対して所定レベル（Ｌ２）上回る誤り率を再設定することを特徴とする請求項１または２に記載の誤り率測定装置。
前記設定手段は、－１乗の誤り率範囲を１目盛として、前記上限値と前記下限値を目盛り単位に設定可能であり、
前記再設定手段は、前記所定レベルとして、少なくとも１目盛に相当するレベルを上回る誤り率を再設定することを特徴とする請求項３に記載の誤り率測定装置。
前記バスタブ特性の測定結果を示すグラフ（５２ａ）と、前記グラフを形成するバスタブ曲線（５２ａ１、５２ａ２）に関連付けて描画される前記再設定上限値を示す線分（５２ｃ）と、前記再設定上限値が自動設定されたものであることを報知する報知情報（５４ｅ）と、を含む測定画面（５１）を、表示部（５）に表示させる表示制御手段（７ｇ）をさらに有することを特徴とする請求項１～４のいずれか一項に記載の誤り率測定装置。
被測定信号として入力するデータの誤り率の測定範囲を上限値と下限値を用いて設定する設定手段（６、７ａ）と、
入力する前記データと該データの２値判定の処理に用いるクロック信号の位相関係を操作する位相操作を行う位相操作手段（３ｄ、７ｂ）と、
前記位相操作を伴う前記データの２値判定の判定結果を用いて前記データの誤り率を測定する誤り率測定手段（３ｆ）と、
前記データの誤り率の測定に合わせて、前記位相操作手段により操作された前記位相関係と、前記誤り率測定手段により測定された前記データの誤り率との関係を示すバスタブ特性を測定するバスタブ測定手段（７ｅ）と、を備える誤り率測定装置を用いて前記測定範囲を対象に前記データの誤り率を測定する誤り率測定方法であって、
前記位相操作手段により誤り率最小となる位置に前記位相関係を合わせた状態で、前記誤り率測定手段により前記データの誤り率を測定させる最小誤り率測定動作を前記バスタブ特性の測定に先行して実行させる先行測定動作制御ステップ（Ｓ４２、Ｓ４３）と、
前記設定手段により設定された前記上限値を、前記最小誤り率測定動作で測定された前記データの最小誤り率（BER_opt）に応じて前記上限値より大きな値を有する再設定上限値として再設定する再設定ステップ（Ｓ４４）と、
前記再設定上限値と前記設定手段により設定された前記下限値との間の測定範囲を対象に前記バスタブ特性を測定させるように前記位相操作手段、前記誤り率測定手段及び前記バスタブ測定手段を制御する測定制御ステップ（Ｓ５～Ｓ１２）と、
を含むことを特徴とする誤り率測定方法。