JP7106937B2 - 微粒子除去膜、微粒子除去装置及び微粒子除去方法 - Google Patents
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Description
また、超純水製造プロセスで水中の微粒子を除去する装置として、弱カチオン性官能基を有する精密濾過膜(MF膜)もしくは限外濾過膜(UF膜)を有する膜濾過手段を設けたものが提案されている(特許文献2)。
なお、特許文献1には、ポリケトン膜に導入するカチオン性官能基が分子量1000以上のポリマーであると、膜に対する物理的な結合力が強く、ゼータ電位の発現において好ましいことが記載されているが、このカチオン性官能基は、カチオン性官能基の分子量が1000以上であると微粒子除去性能が高くなることを示唆するものではない。
また、特許文献1の実施例14では、ポリエチレンイミンを用いてポリケトン多孔膜にカチオン性官能基を導入しているが、その分子量については明らかにされておらず、実施例14で製造された膜の粒子捕捉率が、エチレンジアミン等の低分子量の化合物を用いた他の実施例と同等であることから、ここで使用されているポリエチレンイミンの分子量は、後掲の比較例に示されるように、高々分子量300程度と考えられる。
即ち、本発明は以下を要旨とする。
本発明によれば、水系全般、特に純水や超純水製造プロセス、あるいは電子部品製造および半導体洗浄プロセスにおける各種の液体から、極微小の微粒子を高度に除去して効率的に高純度化を図ることができる。
本発明において、分子量600以上、或いは重合度10以上の高分子量のカチオン性官能基で修飾した膜を用いることで、高い微粒子除去能を得ることができるメカニズムについては、次のように考えられる。
即ち、マイナスに荷電した液体中の微粒子は、膜に導入されたカチオン性官能基のプラス荷電により引き寄せられて捕捉除去されるが、図1(a)に示すように、カチオン性官能基の分子量が小さい(或いは重合度が低い)と、膜表面からのカチオン性官能基鎖が短いことにより、立体構造的に微粒子を捕捉し難いが、図1(b)に示すように、カチオン性官能基の分子量が大きい(或いは重合度が高い)と、膜表面からのカチオン性官能基鎖が長いことにより、立体構造的に微粒子を捕捉し易くなり、微粒子を高度に除去し得るようになる。
本発明において、微粒子を除去する被処理液体としては特に制限はなく、例えば、純水、イソプロピルアルコール等のアルコール、硫酸水溶液、塩酸水溶液等の無機酸水溶液、アンモニア水溶液等のアルカリ水溶液、シンナー、炭酸水、過酸化水素水、フッ化水素溶液などが挙げられる。
本発明の微粒子除去膜の基材となる精密濾過(MF)膜又は限外濾過(UF)膜の材質としては特に制限はなく、高分子膜であってもよく、無機膜であってもよく、金属膜であってもよい。
無機膜としては、アルミナ、ジルコニアなどの金属酸化膜が挙げられる。
MF膜又はUF膜にカチオン性官能基を導入する方法については特に制限はないが、化学反応による方法、コーティングによる方法、さらにこれらを組み合わせた方法などが挙げられる。化学修飾(化学反応)による方法は、脱水縮合反応などが挙げられる。また、プラズマ処理やコロナ処理などが挙げられる。コーティングによる方法はポリマーを含む水溶液などに含浸させる方法が挙げられる。
本発明の微粒子除去膜を有する本発明の微粒子除去装置は、超純水製造・供給システムにおいて、一次純水システムから超純水を製造するサブシステム、特にそのサブシステムの最後段の微粒子除去装置として好適に用いられる。また、サブシステムからユースポイントに超純水を送給する給水系路に設けられてもよい。更に、ユースポイントにおける最終微粒子除去装置として用いることもできる。
カチオン膜(600):上記のブランク膜に対して、カチオン性官能基として分子量600のPEI(ポリエチレンイミン)を導入した3級アミノ基修飾ポリケトン膜
カチオン膜(70000):上記のブランク膜に対して、カチオン性官能基として分子量70000のPEIを導入した3級アミノ基修飾ポリケトン膜
カチオン膜(300):上記のブランク膜に対して、カチオン性官能基として分子量300のPEIを導入した3級アミノ基修飾ポリケトン膜
金微粒子試験水:超純水に粒子径10nmの金微粒子(BBIソリューション社製)を250μg/Lの濃度となるように添加したもの
シリカ微粒子試験水:超純水に粒径12nmのシリカ微粒子(シグマアルドリッチ社製)を1×109個/mLの濃度に添加したもの
図2に示す試験装置を用い、金微粒子タンク1から超純水に金微粒子を注入して金微粒子試験水を調製し、試験膜を装着した微粒子除去膜モジュール2に5mL/minの条件で0.5時間通水した。
金微粒子試験水の通水後、膜モジュールから試験膜を取り出し、膜の断面を観察し、マイクロスコープにより試験膜表面からの金微粒子の潜り込み深さを計測し、結果を表1に示した。
潜り込み深さが大きいことは微粒子を膜で吸着できないことを示し、微粒子捕捉能の面で好ましくない。
なお、ブランク膜を用いた比較例I-1では、金微粒子を捕捉できず、ブレークした。
図3に示す試験装置を用い、シリカ微粒子タンク3から超純水にシリカ微粒子を注入してシリカ微粒子試験水を調製し、試験膜を装着した微粒子除去膜モジュール4に10L/minの条件で通水した。
この微粒子除去膜モジュール4の入口と出口にそれぞれオンライン微粒子モニター(KANOMAX社製「LiquiTrac Scanning TPC1000」)5,6を設け、入口水と出口水の微粒子数から、微粒子除去率を算出した。結果を表2に示す。
2,4 微粒子除去モジュール
3 シリカ微粒子タンク
5,6 オンライン微粒子モニター
Claims (4)
- 液体中の微粒子を除去する微粒子除去膜において、超純水中の粒径10nm以下の極微小粒子除去用膜であって、カチオン性官能基を有する精密濾過膜又は限外濾過膜よりなり、該カチオン性官能基が分子量600以上であるかもしくは重合度10以上の高分子官能基であることを特徴とする微粒子除去膜。
- 請求項1に記載の微粒子除去膜を有する液体中の微粒子除去装置。
- 請求項2に記載の微粒子除去装置を備える純水又は超純水製造装置。
- 請求項1に記載の微粒子除去膜又は請求項2に記載の微粒子除去装置を用いる液体中の微粒子除去方法。
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