JP7104275B2 - 増幅器のための同相利得トリミング - Google Patents
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Description
Claims (18)
- 電気デバイスであって、
増幅器であって、
ゲートを有する 第1のバイアストランジスタと、第1のトリムノードと、ゲートを有する第1の入力トランジスタと、第1の抵抗器と、正入力との第1の直列接続と、
前記第1のバイアストランジスタのゲートに結合されるゲートを有する 第2のバイアストランジスタと、第2のトリムノードと、前記第1の入力トランジスタのゲートに結合されるゲートを有する第2の入力トランジスタと、第2の抵抗器と、負入力との第2の直列接続と、
前記第2の入力トランジスタと前記第2の抵抗器との間の結合ノードと出力との間に結合される出力トランジスタであって、前記第1のトリムノードに結合されるゲートを有する、前記出力トランジスタと、
を含む、前記増幅器と、
前記第1のトリムノードに結合される第1の出力と、前記第2のトリムノードに結合される第2の出力と、接地接続と、複数のトリムデータ入力と、前記第1の出力と前記接地接続との間に結合される第1のインピーダンスマッチング要素と、前記第2の出力と前記接地接続との間に結合される第2のインピーダンスマッチング要素とを含む同相利得トリム回路であって、各インピーダンスマッチング要素が制御入力を含む、前記同相利得トリム回路と、
トリムデータのためのストレージと、前記制御入力に結合されるトリムデータ出力とを含むメモリであって、前記トリムデータが、前記第1のトリムノードと前記第2のトリムノードとの間のインピーダンスを均衡させるように決定され、前記増幅器のための同相モード利得値を削減するために用いられる、前記メモリと、
を含む、電気デバイス。 - 請求項1に記載の電気デバイスであって、
前記トリムデータが、前記インピーダンスマッチング要素の各々の状態を制御するために利用可能である、電気デバイス。 - 請求項1に記載の電気デバイスであって、
前記インピーダンスマッチング要素の各々がコンデンサとスイッチとの直列組み合わせを更に含み、前記スイッチが前記トリムデータにより制御され得るように構成される、電気デバイス。 - 請求項3に記載の電気デバイスであって、
前記第1及び第2のインピーダンスマッチング要素内の前記コンデンサが全て共通の静電容量値を有する、電気デバイス。 - 請求項3に記載の電気デバイスであって、
前記第1のインピーダンスマッチング要素内の前記コンデンサがバイナリ重み付けされた静電容量値を含み、前記第2のインピーダンスマッチング要素内の前記コンデンサがバイナリ重み付けされた静電容量値を含む、電気デバイス。 - 請求項1に記載の電気デバイスであって、
前記増幅器が非対称な増幅器である、電気デバイス。 - 請求項1に記載の電気デバイスであって、
前記電気デバイスが集積回路である、電気デバイス。 - 請求項1に記載の電気デバイスであって、
電気モーターを駆動するためにモータードライバ回路を更に含み、
前記増幅器が前記モーターを介する電流レベルを示す電圧入力信号を受信するように構成される、電気デバイス。 - 集積回路であって、
非対称増幅器であって、
ゲートを有する 第1のバイアストランジスタと、第1のトリムノードと、ゲートを有する第1の入力トランジスタと、第1の抵抗器と、正入力との第1の直列接続と、
前記第1のバイアストランジスタのゲートに結合されるゲートを有する 第2のバイアストランジスタと、第2のトリムノードと、前記第1の入力トランジスタのゲートに結合されるゲートを有する第2の入力トランジスタと、第2の抵抗器と、負入力との第2の直接接続と、
前記第2の入力トランジスタと前記第2の抵抗器との間の結合ノードと出力との間に結合される出力トランジスタであって、前記第1のトリムノードに結合されるゲートを有する、前記出力トランジスタと、
を含み、
前記第1及び第2のバイアストランジスタが互いに結合されるゲートを有し、前記第1及び第2の入力トランジスタが互いに結合されるゲートを有する、前記非対称増幅器と、
前記第1のノードと接地との間に結合される第1の複数のインピーダンスマッチング要素と、前記第2のノードと接地との間に結合される第2の複数のインピーダンスマッチング要素とを含む同相利得トリム回路であって、各インピーダンスマッチング要素が制御入力を含む、前記同相利得トリム回路と、
トリムデータのためのストレージと、前記第1及び第2のインピーダンスマッチング要素を構成するために前記制御入力に結合されるトリムデータ出力とを含むメモリであって、前記トリムデータが、前記第1のトリムノードと前記第2のトリムノードとの間のインピーダンスを均衡させるように決定され、前記非対称増幅器のための同相モード利得値を削減するために用いられる、前記メモリと、
を含む、集積回路。 - 請求項9に記載の集積回路であって、
前記第1及び第2の複数のインピーダンスマッチング要素の各々がコンデンサを更に含み、前記第1及び第2のインピーダンスマッチング要素内の前記コンデンサが全て共通の静電容量値を有する、集積回路。 - 請求項9に記載の集積回路であって、
前記第1及び第2の複数のインピーダンスマッチング要素の各々がコンデンサを更に含み、前記第1のインピーダンスマッチング要素内の前記コンデンサがバイナリ重み付けされた静電容量値を有し、前記第2のインピーダンスマッチング要素内の前記コンデンサがバイナリ重み付けされた静電容量値を有する、集積回路。 - 請求項9に記載の集積回路であって、
前記増幅器が感知増幅器である、集積回路。 - 請求項9に記載の集積回路であって、
前記第1及び第2の複数のインピーダンスマッチング要素の各インピーダンスマッチング要素が、コンデンサと、前記コンデンサと直列に結合される構成可能なスイッチとを更に含む、集積回路。 - 方法であって、
増幅器の同相利得を決定することであって、前記増幅器が、負入力と、正入力と、出力と、第1のバイアストランジスタと第1の入力トランジスタとの間に結合されて前記第1の入力トランジスタを介して前記負入力に結合される第1のノードと、第2のバイアストランジスタと第2の入力トランジスタとの間に結合されて前記第2の入力トランジスタを介して前記正入力に結合される第2のノードとを含み、前記第1及び第2のバイアストランジスタが互いに結合されるゲートを有し、前記第1及び第2の入力トランジスタが互いに結合されるゲートを有し、前記第2のノードが前記出力と前記負入力との間に結合される出力トランジスタのゲートに結合される、前記同相利得を決定することと、
前記決定された同相利得を閾値と比較することと、
前記第1及び第2のノードの間のインピーダンスを均衡させて前記同相利得を前記閾値より下に削減することにより前記増幅器の前記同相利得を構成するためのトリムデータを生成することと、
前記トリムデータをメモリに格納することと、
前記メモリに格納された前記トリムデータに応答して前記メモリに結合される同相利得トリム回路の構成を変えることであって、前記同相利得トリム回路が、前記第1のノードに結合される第1のインピーダンスマッチング要素と、前記第2のノードに結合される第2のインピーダンスマッチング要素とを含む、前記変えることと、
を含む、方法。 - 請求項14に記載の方法であって、
前記同相利得トリム回路の構成を変えることが、前記同相利得トリム回路のための新たなトリムデータを生成することを含む、方法。 - 請求項15に記載の方法であって、
前記同相利得トリム回路の構成を変えることが、前記新たに生成されたトリムデータを前記増幅器を含むデバイスに送信することを更に含む、方法。 - 請求項16に記載の方法であって、
前記同相利得を決定することと、前記同相利得を閾値と比較することと、前記構成を変えることとが、前記増幅器と前記同相利得トリム回路とを含むデバイスのための初期化プロセスによりトリガされる、方法。 - 請求項14に記載の方法であって、
ユーザーインタフェースを介して前記閾値を示す値を受け取ることを更に含む、方法。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201662315328P | 2016-03-30 | 2016-03-30 | |
US62/315,328 | 2016-03-30 | ||
US15/142,134 | 2016-04-29 | ||
US15/142,134 US10027295B2 (en) | 2016-03-30 | 2016-04-29 | Common mode gain trimming for amplifier |
PCT/US2017/025093 WO2017173120A1 (en) | 2016-03-30 | 2017-03-30 | Common mode gain trimming for amplifier |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019514275A JP2019514275A (ja) | 2019-05-30 |
JP2019514275A5 JP2019514275A5 (ja) | 2020-04-16 |
JP7104275B2 true JP7104275B2 (ja) | 2022-07-21 |
Family
ID=59961985
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018551870A Active JP7104275B2 (ja) | 2016-03-30 | 2017-03-30 | 増幅器のための同相利得トリミング |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10027295B2 (ja) |
EP (1) | EP3437188A4 (ja) |
JP (1) | JP7104275B2 (ja) |
CN (1) | CN108702137B (ja) |
WO (1) | WO2017173120A1 (ja) |
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- 2017-03-30 JP JP2018551870A patent/JP7104275B2/ja active Active
- 2017-03-30 WO PCT/US2017/025093 patent/WO2017173120A1/en active Application Filing
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Publication number | Publication date |
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EP3437188A4 (en) | 2019-04-10 |
US10027295B2 (en) | 2018-07-17 |
US20170288622A1 (en) | 2017-10-05 |
JP2019514275A (ja) | 2019-05-30 |
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WO2017173120A1 (en) | 2017-10-05 |
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