JP7097736B2 - ポリイミド系フィルム及び表示装置 - Google Patents
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Description
[1]ポリイミド系高分子を含み、小角X線散乱測定において、波数領域q(nm-1)が0.01<q<0.2の範囲で散乱強度の極大ピークを有し、且つ、q=0.03での散乱強度を初期散乱強度(I0)として、極大ピークの散乱強度(Ip)と初期散乱強度との比(Ip/I0)が0.8以上3.8以下である、ポリイミド系フィルム。
[2]微粒子をさらに含む、上記[1]に記載のポリイミド系フィルム。
[3]前記微粒子が、BET法により測定された比表面積を用いて算出される一次粒子径が31nm以上60nm以下の第1のシリカ微粒子と、BET法により測定された比表面積を用いて算出される一次粒子径が16nm以上30nm以下である第2のシリカ微粒子との混合物である、上記[2]に記載のポリイミド系フィルム。
[4]前記微粒子が、動的光散乱法により測定される体積平均粒子径が50nm以上100nm以下の第1のシリカ微粒子と、動的光散乱法により測定される体積平均粒子径が25nm以上49nm以下の第2のシリカ微粒子との混合物である、上記[2]又は[3]に記載のポリイミド系フィルム。
[5]前記微粒子の多分散指数が10~29%である、上記[2]~[4]のいずれかに記載のポリイミド系フィルム。
[6]前記微粒子の含有量が、前記ポリイミド系高分子及び前記微粒子の合計の含有量を基準として10質量%以上60質量%以下であり、前記微粒子がシリカ微粒子である、上記[2]~[5]のいずれかに記載のポリイミド系フィルム。
[7]前記ポリイミド系高分子及び前記微粒子の合計の含有量100質量部に対して、0.1質量部以上3.0質量部以下の金属アルコキシドをさらに含み、前記微粒子がシリカ微粒子である、上記[2]~[6]のいずれかに記載のポリイミド系フィルム。
[8]上記[1]~[7]のいずれかに記載のポリイミド系フィルムを備える表示装置。
まず、本実施形態のポリイミド系フィルムを形成するためのポリイミド系樹脂組成物について説明する。本実施形態に係るポリイミド系樹脂組成物は、ポリイミド系高分子を含む。ポリイミド系樹脂組成物は、フィルムの特性改善に寄与する微粒子を含むことが好ましく、該微粒子としては、金属酸化物等の無機微粒子や樹脂微粒子が挙げられる。
本明細書において、ポリイミド系高分子とは、式(PI)、式(a)、式(a’)又は式(b)で表される繰り返し構造単位を少なくとも1種含む重合体を意味する。なかでも、式(PI)で表される繰り返し構造単位が、ポリイミド系高分子の主な構造単位であると、フィルムの強度及び透明性の観点で好ましい。式(PI)で表される繰り返し構造単位は、ポリイミド系高分子の全繰り返し構造単位を基準として、好ましくは40モル%以上であり、より好ましくは50モル%以上であり、さらに好ましくは70モル%以上であり、殊更好ましくは90モル%以上であり、殊更さらに好ましくは98モル%以上である。
結合基としては、-O-、炭素数1~10のアルキレン基、-SO2-、-CO-又は-CO-NR-(Rは、メチル基、エチル基、プロピル基等の炭素数1~3のアルキル基又は水素原子を表す)が挙げられる。
ポリイミド系樹脂組成物に含まれる微粒子は、透明性を維持しつつ得られるポリイミド系フィルムの強度及び弾性率を高める観点から、シリカ微粒子を含有することが好ましい。上記シリカ微粒子は、動的光散乱法により測定される体積平均粒子径Dv(50)が35nm以上60nm以下であることが好ましい。
このような比率で2種類のシリカ微粒子を混合することで、透明性と耐屈曲性とを両立させやすくなる傾向がある。
d=6000/(A×ρ)
式中、dはBET径(nm)、ρはシリカ微粒子の比重(g/cm3)を示す。
本実施形態のポリイミド系フィルムは、上述したポリイミド系樹脂組成物を用いて形成することができる。ポリイミド系樹脂組成物が微粒子を含有し、且つ、微粒子が上述したBET径及びDv(50)の好ましい条件を満たす場合、当該ポリイミド系樹脂組成物を用いて形成されたポリイミド系フィルム中の微粒子も、ポリイミド系樹脂組成物中での一次粒子径を維持する。
次に、本実施形態のポリイミド系樹脂組成物の製造方法及び本実施形態のポリイミド系フィルムの製造方法の一例を説明する。
このようなポリイミド系フィルムは、透明性及び耐屈曲性に優れるのでフレキシブルディスプレイ等の表示装置の構成要素として使用できる。例えば、フレキシブルディスプレイ等の表示装置の表面保護用の前面板(ウィンドウフィルム)として使用することができる。
ナスフラスコに、原料シリカゾルとして、表1に示す各粒子径のシリカ微粒子の水ゾル(シリカ微粒子の固形分濃度:20~30質量%)を入れた。そこにγ-ブチロラクトン(以下、「GBL」ともいう)を添加し、エバポレーターで減圧しながら攪拌した。圧力を60hPa、40hPa、25hPa、15hPaと段階的に下げていき、残留する水を減らしていった。得られたゾル分を目開き10μmのメンブレンフィルターでろ過し、シリカ/GBL置換ゾル(シリカゾル1~5)を得た。得られたシリカ/GBL置換ゾルはいずれも、シリカ成分が30~32質量%であり、水分値が1.0質量%以下であった。また、得られたシリカ/GBL置換ゾルに含まれるシリカ微粒子の平均粒子径をBET法及び動的光散乱法により測定し、それぞれの原料と同等の一次粒子径(BET径)および体積平均粒子径DV(50)を有することを確認した。
ポリイミド樹脂(三菱瓦斯化学(株)製「ネオプリム(登録商標)6A20S」、ガラス転移温度390℃)のGBL溶液に、シリカゾル1~5のうちの1種類又は2種類を、表2に示す組み合わせ(第1のシリカゾル単独又は第1及び第2のシリカゾルの混合物)及び比率(質量比)で添加して混合した。このとき、ポリイミド樹脂とシリカ微粒子(2種用いている場合はその合計量)との固形分質量比が70:30(ポリイミド樹脂:シリカ微粒子)となるようにシリカゾル1~5を添加した。次いで、アミノ基を有するアルコキシシランをポリイミド樹脂及びシリカ微粒子の固形分総量100質量部に対して1.7質量部と、GBLとを加えて充分に混合し、目開き10μmのメンブレンフィルターにてろ過した後、撹拌脱泡を行って、実施例1~5及び比較例1~3のポリイミド系樹脂組成物を得た。
実施例1~5及び比較例1~3で用いたシリカゾル(シリカゾル1~5の1種類又は2種類の混合物)を水で0.1質量%に希釈し、体積平均粒子径DV(50)を測定した。
分析装置としては、Zetasizer Nano ZS(Malvern Instruments Ltd.製)を用いた。得られた結果を表2に示す。
体積平均粒子径DV(50)の測定と同様に、実施例1~5及び比較例1~3で用いたシリカゾル(シリカゾル1~5の1種類又は2種類の混合物)を水で0.1質量%に希釈し、シリカゾルの多分散指数(PDI)を評価した。分析装置としては、Zetasizer Nano ZS(Malvern Instruments Ltd.製)を用いた。得られた結果を表2に示す。
実施例1~5及び比較例1~3で得られた各フィルムの小角X線散乱プロファイルを小角散乱測定装置(SPring-8、BL19B2)により以下の条件で取得した。X線のエネルギーは18keV、波数qの範囲は0.001~0.4nmとした。実施例1~5及び比較例1~3で得られたフィルムを適切な大きさに切り取り、35mmスライドマウントにセットし、光を照射し、プロファイルを測定した。データを解析し、0.01~0.2nmのデータを抽出した。
実施例1~5及び比較例1~3で得られたフィルムに対して、以下に記載の評価手法により、光学特性(全光線透過率、ヘイズ及びYI値)を評価した。全光線透過率、ヘイズ及びYI値について、全ての評価結果の判定がAである場合、光学特性の総合評価をAと判定し、全ての評価結果の判定がCである場合、光学特性の総合評価をCと判定し、それ以外の場合、光学特性の総合評価をBと判定した。光学特性の総合評価が良好であるほど、透明性に優れる。光学特性の総合評価がA又はBである場合、良好な透明性を有していると言える。全光線透過率、ヘイズ及びYI値のそれぞれの評価手法及び評価基準は以下の通りとした。各評価の結果を表3に示す。
実施例1~5及び比較例1~3で得られたフィルムを30mm×30mmの大きさにカットし、紫外可視近赤分光光度計(日本分光(株)製「V-670」)を用いて、全光線透過率(%)の測定を行った。評価は下記基準に基づいて行った。
A:85%≦全光線透過率
C:85%>全光線透過率
実施例1~5及び比較例1~3で得られたフィルムを30mm×30mmの大きさにカットし、ヘイズメーター(高千穂精機(株)製)にてヘイズを測定した。評価は下記基準に基づいて行った。
A:3.0%≦ヘイズ
C:3.0%>ヘイズ
測定手法はJIS K 7105に従って行った。実施例1~5及び比較例1~3で得られたフィルムを30mm×30mmの大きさにカットし、紫外可視近赤分光光度計(日本分光(株)製「V-670」)を用いて、三刺激値(X,Y,Z)を求め、下記計算式に代入することにより、YI値を計算で求めた。
YI=100×(1.2769X-1.0592Z)/Y
評価は下記基準に基づいて行った。
A:2.5≦YI
B:2.5<YI≦5.0
C:5.0<YI
実施例1~5及び比較例1~3で得られたフィルムを、ダンベルカッターを用いて10mm×100mmの短冊状にカットした。カットしたフィルムをMIT耐折疲労試験機((株)東洋精機製作所製「MIT-DA」)本体にセットして、試験速度175cpm、折り曲げ角度135°、加重750g、折り曲げクランプのR 1.0mmの条件で、裏表両方向への折り曲げ試験を実施した。各フィルムの耐屈曲回数(破断せずに折り曲げ可能な回数)を測定し、下記基準に基づいて判定した。なお、評価サンプル数はn=2とし、耐屈曲回数はその平均値を用いた。結果を表3に示す。
A:0.55万回≦屈曲回数
B:0.50万回≦屈曲回数<0.55万回
C:0.50万回>屈曲回数
Claims (6)
- ポリイミド系高分子と、シリカ微粒子と、を含み、
前記ポリイミド系高分子が、式(PI)で表される繰り返し構造単位を少なくとも1種含む重合体であり、
前記シリカ微粒子の合計量が、前記ポリイミド系高分子及び前記シリカ微粒子の合計の含有量を基準として、10質量%以上40質量%以下であり、
小角X線散乱測定において、波数領域q(nm-1)が0.01<q<0.2の範囲で散乱強度の極大ピークを有し、且つ、q=0.03での散乱強度を初期散乱強度(I0)として、極大ピークの散乱強度(Ip)と初期散乱強度との比(Ip/I0)が0.8以上3.8以下である、ポリイミド系フィルム。
[式(PI)中、Gは式(20)、式(21)、式(22)、式(23)、式(24)、式(25)又は式(26)で表される基、或いはこれらの基の水素原子のうち少なくとも1つがフッ素系置換基で置換された基を示し、Aは式(32)、式(33)又は式(34)で表される基、或いはこれらの基の水素原子のうち少なくとも1つがフッ素系置換基で置換された基を示し、式中の*は結合手を示す。]
[式(26)中、Zは単結合、-O-、-CH2-、-C(CH3)2-、-Ar-O-Ar-、-Ar-CH2-Ar-、-Ar-C(CH3)2-Ar-又は-Ar-SO2-Ar-を表し、Arは炭素数6~20のアリーレン基を表す。]
[式(32)、式(33)及び式(34)中、Z1、Z2及びZ3はそれぞれ独立に、単結合、-O-、-CH2-、-C(CH3)2-、-SO2-、-CO-又は-CO-NR-(Rは炭素数1~3のアルキル基又は水素原子を表す)を表す。] - 前記シリカ微粒子が、BET法により測定された比表面積を用いて算出される一次粒子径が31nm以上60nm以下の第1のシリカ微粒子と、BET法により測定された比表面積を用いて算出される一次粒子径が16nm以上30nm以下である第2のシリカ微粒子との混合物である、請求項1に記載のポリイミド系フィルム。
- 前記シリカ微粒子が、動的光散乱法により測定される体積平均粒子径が50nm以上100nm以下の第1のシリカ微粒子と、動的光散乱法により測定される体積平均粒子径が25nm以上49nm以下の第2のシリカ微粒子との混合物である、請求項1又は2に記載のポリイミド系フィルム。
- 前記シリカ微粒子の多分散指数が10~29%である、請求項1~3のいずれか一項に記載のポリイミド系フィルム。
- 前記ポリイミド系高分子及び前記シリカ微粒子の合計の含有量100質量部に対して、0.1質量部以上3.0質量部以下の金属アルコキシドをさらに含む、請求項1~4のいずれか一項に記載のポリイミド系フィルム。
- 請求項1~5のいずれか一項に記載のポリイミド系フィルムを備える表示装置。
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