JP7069713B2 - 液体吐出装置 - Google Patents

Description

本発明は、液体吐出装置に関する。

インクを吐出して画像や文書を印刷するインクジェットプリンターなどの液体吐出装置には、圧電素子（例えばピエゾ素子）を用いたものが知られている。圧電素子は、ヘッド（インクジェットヘッド）において複数の吐出部のそれぞれに対応して設けられ、それぞれが駆動信号にしたがって駆動されることにより、吐出部のノズルから所定のタイミングで所定量のインク（液体）が吐出されて、紙等の媒体にドットが形成される。

このような液体吐出装置において、吐出部に充填されているインクの増粘や吐出部への気泡の混入等により、吐出部からインクを正常に吐出できなくなる吐出異常が生じる場合がある。吐出異常が生じると、媒体に形成される予定のドットが正確に形成されなくなり、画質が低下する。従来、吐出部の駆動後に吐出部において残留している振動（以下、「残留振動」と称する）を検出し、当該検出結果に基づいて吐出部におけるインクの吐出状態を判定する技術が知られている。残留振動の程度はインクの粘度によって異なり、インクの粘度は種類（色）によって異なるため、特許文献１には、残留振動の増幅率をインクの種類毎に設定し、残留振動が増幅された信号に基づいて吐出部におけるインクの吐出状態を判定する印刷装置が開示されている。

特開２０１７－１４９０７７号公報

しかしながら、吐出部の温度（インクの温度）の変化によってもインクの粘度が変化するため、特許文献１に記載の手法では、吐出部の温度によらず吐出状態の判定精度を一定に維持するためには、吐出部の温度変化に追従して残留振動の増幅率の設定を変更するか吐出状態の判定基準を変更しなければならないため、残留振動の検出から吐出状態の判定までの検査シーケンスが複雑になる場合がある。

本発明のいくつかの態様によれば、残留振動の検出から吐出状態の判定までの検査シーケンスを簡単化することが可能な液体吐出装置を提供することができる。

本発明は前述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の態様または適用例として実現することが可能である。

［適用例１］
本適用例に係る液体吐出装置は、圧電素子が駆動されることにより液体を吐出する吐出部と、前記圧電素子を駆動する駆動信号を生成する駆動信号生成部と、前記圧電素子への前記駆動信号の印加後の前記吐出部の残留振動を検出する残留振動検出部と、前記残留振動検出部による前記残留振動の検出の開始を指示する検査制御信号を生成する検査制御信号生成部と、を備え、前記吐出部の温度が第１温度であるときの前記検査制御信号と前記吐出部の温度が前記第１温度よりも低い第２温度であるときの前記検査制御信号とは異なる。

本適用例に係る液体吐出装置によれば、残留振動の検出の開始を指示する検査制御信号が、吐出部の温度が第１温度のときと第２温度のときで異なることにより、残留振動検出部が残留振動の検出を開始するタイミングと吐出部において残留振動が開始するタイミングとの時間差を、吐出部の温度が第１温度のときと第２温度のときでほぼ等しくすることができる。従って、本適用例に係る液体吐出装置によれば、残留振動検出部による検出の基準を一定にしたまま、吐出部の温度が第１温度のときと第２温度のときで、残留振動検出部による残留振動の位相や周期の検出結果がほぼ同じになるので、残留振動の位相や周期に基づく吐出状態の判定における判定基準を同一にすることが可能であり、検査シーケンスを簡単化することができる。

［適用例２］
上記適用例に係る液体吐出装置は、圧電素子が駆動されることにより液体を吐出する吐出部と、前記圧電素子を駆動する駆動信号を生成する駆動信号生成部と、前記圧電素子への前記駆動信号の印加後の前記吐出部の残留振動を検出する残留振動検出部と、前記残留振動検出部による前記残留振動の検出の開始を指示する検査制御信号を生成する検査制御信号生成部と、を備え、前記吐出部の温度が第１温度であるときの前記駆動信号と前記吐出部の温度が前記第１温度よりも低い第２温度であるときの前記駆動信号とは異なる。

本適用例に係る液体吐出装置によれば、残留振動の検出のための駆動信号が、吐出部の温度が第１温度のときと第２温度のときで異なることにより、残留振動検出部による残留振動の検出結果の信号の振幅を、吐出部の温度が第１温度のときと第２温度のときでほぼ等しくすることができる。従って、本適用例に係る液体吐出装置によれば、吐出部の温度が第１温度のときと第２温度のときで、残留振動検出部による残留振動の振幅の検出結果がほぼ同じになるので、残留振動の振幅に基づく吐出状態の判定における判定基準を同一にすることが可能であり、検査シーケンスを簡単化することができる。

［適用例３］
上記適用例に係る液体吐出装置において、前記吐出部の温度が前記第１温度であるときの前記駆動信号の振幅は、前記吐出部の温度が前記第２温度であるときの前記駆動信号の振幅よりも小さくてもよい。

「駆動信号の振幅」は、例えば、駆動信号の最大電位と最小電位の差である。

本適用例に係る液体吐出装置によれば、吐出部の温度が第１温度のときは第２温度のときよりも吐出部に充填される液体の粘度が低くなるので、吐出部の温度が第１温度のときは第２温度のときよりも駆動信号の振幅が小さいことにより、残留振動の振幅を、吐出部の温度が第１温度のときと第２温度のときでほぼ等しくすることができる。従って、本適用例に係る液体吐出装置によれば、吐出部の温度が第１温度のときと第２温度のときで、残留振動検出部による残留振動の振幅の検出結果がほぼ同じになるので、残留振動の振幅に基づく吐出状態の判定における判定基準を同一にすることが可能であり、検査シーケンスを簡単化することができる。

［適用例４］
上記適用例に係る液体吐出装置において、前記吐出部の温度が前記第１温度であるときの前記検査制御信号による検出の開始の指示は、前記吐出部の温度が前記第２温度であるときの前記検査制御信号による検出の開始の指示よりも早く行われてもよい。

本適用例に係る液体吐出装置では、吐出部の温度が第１温度のときは第２温度のときよりも駆動信号の振幅が小さいので、吐出部において残留振動が開始するタイミングが早く
なる。そのため、本適用例に係る液体吐出装置によれば、残留振動の検出の開始の指示が、吐出部の温度が第１温度のときは第２温度のときよりも早く行われることにより、残留振動検出部が残留振動の検出を開始するタイミングと吐出部において残留振動が開始するタイミングとの時間差を、吐出部の温度が第１温度のときと第２温度のときでほぼ等しくすることができる。従って、本適用例に係る液体吐出装置によれば、吐出部の温度が第１温度のときと第２温度のときで、残留振動検出部による残留振動の位相や周期の検出結果がほぼ同じになるので、残留振動の位相や周期に基づく吐出状態の判定における判定基準も同一にすることが可能であり、検査シーケンスをさらに簡単化することができる。

［適用例５］
上記適用例に係る液体吐出装置において、前記検査制御信号は、前記残留振動の検出の終了をさらに指示し、前記吐出部の温度が前記第１温度であるときの前記検査制御信号による検出の終了の指示は、前記吐出部の温度が前記第２温度であるときの前記検査制御信号による検出の終了の指示よりも早く行われてもよい。

本適用例に係る液体吐出装置によれば、残留振動の検出の終了の指示が、残留振動の検出の開始の指示と同様に、吐出部の温度が第１温度のときは第２温度のときよりも早く行われることにより、残留振動検出部が残留振動を検出する期間を、吐出部の温度が第１温度のときと第２温度のときでほぼ同じにすることができる。

［適用例６］
上記適用例に係る液体吐出装置において、前記吐出部の温度が前記第１温度であるときの前記駆動信号と前記吐出部の温度が前記第２温度であるときの前記駆動信号とは等しく、前記吐出部の温度が前記第１温度であるときの前記検査制御信号による検出の開始の指示は、前記吐出部の温度が前記第２温度であるときの前記検査制御信号による検出の開始の指示よりも遅く行われてもよい。

「駆動信号が等しい」とは、駆動信号が正確に等しい場合のみならず、駆動信号が実質的に等しい場合、例えば、残留振動検出部による残留振動の検出結果に基づく吐出部の吐出状態の判定において同一の判定基準を用いることが可能である限りにおいて、駆動信号が差を有する場合も含まれる。

本適用例に係る液体吐出装置では、吐出部の温度が第１温度のときと第２温度のときで駆動信号が等しいので、第２温度よりも高い第１温度のときの残留振動の振幅の方が大きくなる。そのため、残留振動の第１波を検出すると電圧レベルの飽和等によって信号が歪みやすくなる。本適用例に係る液体吐出装置によれば、残留振動の検出の開始の指示が、吐出部の温度が第１温度のときは第２温度のときよりも遅く行われることにより、残留振動の第２波以降を検出することができるので、検出結果の信号に基づく判定精度の低下のおそれが低減される。

［適用例７］
上記適用例に係る液体吐出装置において、前記検査制御信号は、前記残留振動の検出の終了をさらに指示し、前記吐出部の温度が前記第１温度であるときの前記検査制御信号による検出の終了の指示は、前記吐出部の温度が前記第２温度であるときの前記検査制御信号による検出の終了の指示よりも遅く行われてもよい。

本適用例に係る液体吐出装置によれば、残留振動の検出の終了の指示が、残留振動の検出の開始の指示と同様に、吐出部の温度が第１温度のときは第２温度のときよりも遅く行われることにより、残留振動検出部が残留振動を検出する期間を、吐出部の温度が第１温度のときと第２温度のときでほぼ同じにすることができる。

［適用例８］
上記適用例に係る液体吐出装置において、前記吐出部の温度が前記第１温度であるときの前記残留振動と、前記吐出部の温度が前記第２温度であるときの前記残留振動とは等しくてもよい。

「残留振動が等しい」とは、残留振動が正確に等しい場合のみならず、残留振動が実質的に等しい場合、例えば、残留振動検出部による残留振動の検出結果に基づく吐出部の吐出状態の判定において同一の判定基準を用いることが可能である限りにおいて、残留振動が差を有する場合も含まれる。

本適用例に係る液体吐出装置によれば、残留振動の検出の開始を指示する検査制御信号が、吐出部の温度が第１温度のときと第２温度のときで残留振動が等しいので、残留振動検出部による残留振動の検出結果を、吐出部の温度が第１温度のときと第２温度のときでほぼ等しくすることができる。従って、本適用例に係る液体吐出装置によれば、吐出部の温度が第１温度のときと第２温度のときで、残留振動の検出結果に基づく吐出状態の判定における判定基準を同一にすることが可能であり、検査シーケンスを簡単化することができる。

液体吐出装置の概略構成を示す図である。 ヘッドの下面（インク吐出面）を示す図である。 液体吐出装置の電気的な構成を示すブロック図である。 １つの吐出部に対応した概略構成を示す図である。 駆動信号ＣＯＭＡ，ＣＯＭＢの波形を示す図である。 駆動信号ＶＯＵＴの波形を示す図である。 切替回路の構成を示す図である。 デコーダーにおけるデコード内容を示す図である。 選択回路の構成を示す図である。 切替回路の動作を説明するための図である。 検査回路の構成を示す図である。 計測部の動作を説明するための図である。 判定部による判定論理の一例を示す図である。 第１実施形態における駆動信号、検査制御信号及び残留振動信号の波形の一例を示す図である。 第１実施形態における駆動信号、検査制御信号及び残留振動信号の波形の他の一例を示す図である。 第１実施形態における駆動信号、検査制御信号及び残留振動信号の波形の他の一例を示す図である。 第２実施形態における駆動信号、検査制御信号及び残留振動信号の波形の一例を示す図である。 第２実施形態における駆動信号、検査制御信号及び残留振動信号の波形の他の一例を示す図である。 第２実施形態における駆動信号、検査制御信号及び残留振動信号の波形の他の一例を示す図である。 第３実施形態における駆動信号、検査制御信号及び残留振動信号の波形の一例を示す図である。 第３実施形態における駆動信号、検査制御信号及び残留振動信号の波形の他の一例を示す図である。 第３実施形態における駆動信号、検査制御信号及び残留振動信号の波形の他の一例を示す図である。 第３実施形態における計測部の動作を説明するための図である。 第３実施形態における計測部の動作を説明するための図である。

以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。用いる図面は説明の便宜上のものである。なお、以下に説明する実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。

１．第１実施形態
１－１．液体吐出装置の概要
本実施形態に係る液体吐出装置の一例としての印刷装置は、外部のホストコンピューターから供給された画像データに応じてインクを吐出させることによって、紙などの印刷媒体にインクドット群を形成し、これにより、当該画像データに応じた画像（文字、図形等を含む）を印刷するインクジェットプリンターである。

図１は、本実施形態に係る液体吐出装置１の内部の概略構成を示す斜視図である。図１に示されるように、液体吐出装置１は、シリアルスキャン型（シリアル印刷型）の液体吐出装置であり、ヘッドユニット２０と、ヘッドユニット２０を主走査方向Ｘに移動（往復動）させる移動機構３と、を備える。また、図示を省略するが、液体吐出装置１の後面には、ＵＳＢポートおよび電源ポートが配設されている。すなわち、液体吐出装置１は、ＵＳＢポートを介してコンピューター等に接続可能に構成されている。なお、本実施形態では、液体吐出装置１において、キャリッジ２４の移動方向を主走査方向Ｘ、印刷媒体Ｐの搬送方向を副走査方向Ｙ、鉛直方向をＺとして説明する。また、主走査方向Ｘと、副走査方向Ｙと、鉛直方向Ｚとは互いに直交する３軸として図面に記載するが、各構成の配置関係が必ずしも直交するものに限定されるものではない。

移動機構３は、ヘッドユニット２０の駆動源となるキャリッジモーター３１と、両端が固定されたキャリッジガイド軸３２と、キャリッジガイド軸３２とほぼ平行に延在し、キャリッジモーター３１により駆動されるタイミングベルト３３と、を有している。

ヘッドユニット２０は、キャリッジ２４と、印刷媒体Ｐと対向するようにキャリッジ２４に搭載されたヘッド２１とを含んで構成されている。キャリッジ２４は、キャリッジガイド軸３２に往復動自在に支持されるとともに、タイミングベルト３３の一部に固定されている。そのため、キャリッジモーター３１によりタイミングベルト３３を正逆走行させると、ヘッドユニット２０がキャリッジガイド軸３２に案内されて往復動する。ヘッド２１は、多数のノズルからインク滴（液滴）を吐出させるためのものであり、ケーブル１９０を介して各種の制御信号等が供給される構成となっている。ケーブル１９０は、例えば、フレキシブルフラットケーブル（ＦＦＣ：Flexible Flat Cable）であってもよい。

図２は、ヘッド２１の下面（インク吐出面）を示す図である。図２に示されるように、ヘッド２１のインク吐出面には、それぞれ多数のノズル６５１が副走査方向Ｙに沿って所定のピッチＰｙで並ぶノズル列６５０を２つ有する４つのノズルプレート６３２が主走査方向Ｘに沿って並んで設けられている。各ノズルプレート６３２に設けられている２つのノズル列６５０の間では、各ノズル６５１が副走査方向ＹにピッチＰｙの半分だけシフトした関係となっている。このように、本実施形態では、ヘッド２１のインク吐出面には、８個のノズル列６５０（第１ノズル列６５０ａ～第８ノズル列６５０ｈ）が設けられている。

また、図１に示されるように、液体吐出装置１は、印刷媒体Ｐを副走査方向Ｙにプラテン４０上で搬送させる搬送機構４を備える。搬送機構４は、駆動源である搬送モーター４１と、搬送モーター４１により回転して、印刷媒体Ｐを副走査方向Ｙに搬送する搬送ローラー４２と、を備える。

本実施形態では、キャリッジ２４には、４個のインクカートリッジ２２が格納されており、各インクカートリッジ２２に充填されているインクがヘッド２１に供給される。例えば、４個のインクカートリッジ２２には、シアン、マゼンタ、イエロー及びブラックの４色（ＣＭＹＫ）のインクがそれぞれ充填されている。なお、各インクカートリッジ２２は、キャリッジ２４に搭載されずに本体側に取り付けられたインクタンクに設けられ、各インクカートリッジ２２に充填されているインクがインクチューブを介してヘッド２１まで供給されてもよい。

印刷媒体Ｐが搬送機構４によって搬送されたタイミングで、ヘッド２１が当該印刷媒体Ｐに向けて鉛直方向Ｚ（鉛直下向き）にインク滴を吐出することによって、印刷媒体Ｐの表面に画像が形成される。

１－２．液体吐出装置の電気的構成
図３は、本実施形態に係る液体吐出装置１の電気的な構成を示すブロック図である。図３に示されるように、液体吐出装置１は、制御基板１００とヘッドユニット２０とを備えている。制御基板１００は、液体吐出装置１の本体内部の所定の場所に固定されており、ケーブル１９０によってヘッドユニット２０と接続されている。

制御基板１００には、制御部１１１、電源回路１１２及び８個の駆動回路５０（５０ａ－１～５０ａ－４，５０ｂ－１～５０ｂ－４）が設けられている（実装されている）。

制御部１１１は、例えば、マイクロコントローラー等のプロセッサーで実現され、ホストコンピューターから供給される画像データ等の各種の信号に基づいて、各種のデータや信号を生成する。

具体的には、制御部１１１は、ホストコンピューターからの各種の信号に基づき、それぞれ、ヘッド２１が有する各吐出部６００を駆動する駆動信号ＣＯＭＡ－１～ＣＯＭＡ－４，ＣＯＭＢ－１～ＣＯＭＢ－４の元となるデジタルデータである駆動データｄＡ１～ｄＡ４，ｄＢ１～ｄＢ４を生成する。駆動データｄＡ１～ｄＡ４は、駆動回路５０ａ－１～５０ａ－４にそれぞれ供給され、駆動データｄＢ１～ｄＢ４は、駆動回路５０ｂ－１～５０ｂ－４にそれぞれ供給される。駆動データｄＡ１～ｄＡ４は駆動信号ＣＯＭＡ－１～ＣＯＭＡ－４の波形をそれぞれ規定するデジタルデータであり、駆動データｄＢ１～ｄＢ４は駆動信号ＣＯＭＢ－１～ＣＯＭＢ－４の波形をそれぞれ規定するデジタルデータである。

また、制御部１１１は、ホストコンピューターからの各種の信号に基づき、各吐出部６００からの液体の吐出を制御する複数種類の制御信号として、４つの印刷データ信号ＳＩ１～ＳＩ４、ラッチ信号ＬＡＴ、チェンジ信号ＣＨ及びクロック信号ＳＣＫを生成する。また、制御部１１１は、吐出部６００の駆動後に吐出部６００において残留している振動である残留振動の検出の開始及び終了を指示する検査制御信号ＴＳＩＧを生成する。印刷データ信号ＳＩ１～ＳＩ４、ラッチ信号ＬＡＴ、チェンジ信号ＣＨ、クロック信号ＳＣＫ及び検査制御信号ＴＳＩＧは、ケーブル１９０によって制御部１１１からヘッドユニット２０に転送される。

なお、制御部１１１は、上記の処理以外にも、ヘッドユニット２０（キャリッジ２４）
の走査位置（現在位置）を把握し、ヘッドユニット２０の走査位置に基づいて、キャリッジモーター３１を駆動する処理を行う。これにより、ヘッドユニット２０の主走査方向Ｘへの移動が制御される。また、制御部１１１は、搬送モーター４１を駆動する処理を行う。これにより、印刷媒体Ｐの副走査方向Ｙへの移動が制御される。

さらに、制御部１１１は、不図示のメンテナンス機構に、ヘッド２１のインクの吐出状態を正常に回復させるためのメンテナンス処理（クリーニング処理（ポンピング処理）やワイピング処理）を実行させる。

電源回路１１２は、一定の高電源電圧ＶＨＶ（例えば、４２Ｖ）、一定の低電源電圧ＶＤＤ（例えば、３．３Ｖ）、一定のオフセット電圧ＶＢＳ（例えば、６Ｖ）及びグラウンド電圧ＧＮＤ（０Ｖ）を生成する。高電源電圧ＶＨＶ、低電源電圧ＶＤＤ、オフセット電圧ＶＢＳ及びグラウンド電圧ＧＮＤは、ケーブル１９０によって電源回路１１２からヘッドユニット２０に転送される。また、高電源電圧ＶＨＶ、低電源電圧ＶＤＤ及びグラウンド電圧ＧＮＤは、駆動回路５０ａ－１～５０ａ－４，５０ｂ－１～５０ｂ－４にそれぞれ供給される。

駆動回路５０ａ－１～５０ａ－４，５０ｂ－１～５０ｂ－４は、駆動データｄＡ１～ｄＡ４，ｄＢ１～ｄＢ４のそれぞれに基づいて吐出部６００（圧電素子６０）を駆動する駆動信号ＣＯＭＡ－１～ＣＯＭＡ－４，ＣＯＭＢ－１～ＣＯＭＢ－４を生成する。例えば、駆動回路５０ａ－１～５０ａ－４，５０ｂ－１～５０ｂ－４は、駆動データｄＡ１～ｄＡ４，ｄＢ１～ｄＢ４をそれぞれデジタル／アナログ変換した後にＤ級増幅して駆動信号ＣＯＭＡ－１～ＣＯＭＡ－４，ＣＯＭＢ－１～ＣＯＭＢ－４を生成する。駆動データｄＡ１～ｄＡ４，ｄＢ１～ｄＢ４は、それぞれ、駆動信号ＣＯＭＡ－１～ＣＯＭＡ－４，ＣＯＭＢ－１～ＣＯＭＢ－４の波形を規定するデータである。なお、駆動回路５０ａ－１～５０ａ－４，５０ｂ－１～５０ｂ－４については、入力するデータ、及び、出力する駆動信号が異なるのみであって、回路的な構成は同一であってもよい。

駆動信号ＣＯＭＡ－１～ＣＯＭＡ－４，ＣＯＭＢ－１～ＣＯＭＢ－４は、ケーブル１９０によって制御基板１００からヘッドユニット２０に転送される。

ヘッドユニット２０には、４個の切替回路７０（７０－１～７０－４）、４個の検査回路８０（８０－１～８０－４）及び温度センサー９０が設けられている（実装されている）。

切替回路７０－１～７０－４には、駆動信号ＣＯＭＡ－１～ＣＯＭＡ－４のそれぞれ、駆動信号ＣＯＭＢ－１～ＣＯＭＢ－４のそれぞれ及び印刷データ信号ＳＩ１～ＳＩ４のそれぞれが入力される。また、切替回路７０－１～７０－４には、クロック信号ＳＣＫ、ラッチ信号ＬＡＴ、チェンジ信号ＣＨ及び検査制御信号ＴＳＩＧが共通に入力される。切替回路７０－１～７０－４は、高電源電圧ＶＨＶ、低電源電圧ＶＤＤ及びグラウンド電圧ＧＮＤが供給されて動作し、ヘッド２１が有する複数の吐出部６００にそれぞれ駆動信号ＶＯＵＴを出力する。具体的には、切替回路７０－１は、クロック信号ＳＣＫ、印刷データ信号ＳＩ１、ラッチ信号ＬＡＴ、チェンジ信号ＣＨ及び検査制御信号ＴＳＩＧに基づいて、駆動信号ＣＯＭＡ－１と駆動信号ＣＯＭＢ－１のいずれかを選択して駆動信号ＶＯＵＴとして出力し、あるいは、いずれも選択せずに出力をハイインピーダンスとする。同様に、切替回路７０－２～７０－４は、クロック信号ＳＣＫ、印刷データ信号ＳＩ２～ＳＩ４のそれぞれ、ラッチ信号ＬＡＴ、チェンジ信号ＣＨ及び検査制御信号ＴＳＩＧに基づいて、駆動信号ＣＯＭＡ－２～ＣＯＭＡ－４のそれぞれと駆動信号ＣＯＭＢ－２～ＣＯＭＢ－４のそれぞれのいずれかを選択して駆動信号ＶＯＵＴとして出力し、あるいは、いずれも選択せずに出力をハイインピーダンスとする。

切替回路７０－１が出力する駆動信号ＶＯＵＴは、第１ノズル列６５０ａ及び第２ノズル列６５０ｂに対応して設けられる各吐出部６００が有する圧電素子６０の一端に印加される。また、切替回路７０－２が出力する駆動信号ＶＯＵＴは、第３ノズル列６５０ｃ及び第４ノズル列６５０ｄに対応して設けられる各吐出部６００が有する圧電素子６０の一端に印加される。また、切替回路７０－３が出力する駆動信号ＶＯＵＴは、第５ノズル列６５０ｅ及び第６ノズル列６５０ｆに対応して設けられる各吐出部６００が有する圧電素子６０の一端に印加される。また、切替回路７０－４が出力する駆動信号ＶＯＵＴは、第７ノズル列６５０ｇ及び第８ノズル列６５０ｈに対応して設けられる各吐出部６００が有する圧電素子６０の一端に印加される。圧電素子６０のそれぞれにおける他端は、オフセット電圧ＶＢＳが共通に印加される。そして、圧電素子６０は、駆動信号ＶＯＵＴとオフセット電圧ＶＢＳとの電位差に応じて変位し、変位に応じた量の液体（インク）をノズル６５１から吐出される。あるいは、圧電素子６０は、駆動信号ＶＯＵＴとオフセット電圧ＶＢＳとの電位差に応じて変位し、ノズル６５１から液体（インク）から吐出されずに吐出部６００に振動（残留振動）が発生する。

また、切替回路７０－１は、印刷データ信号ＳＩ１及び検査制御信号ＴＳＩＧに基づいて、第１ノズル列６５０ａ又は第２ノズル列６５０ｂに対応して設けられる各吐出部６００が有する圧電素子６０の一端と検査回路８０－１とを電気的に接続するか否かを切り替える。同様に、切替回路７０－２は、印刷データ信号ＳＩ２及び検査制御信号ＴＳＩＧに基づいて、第３ノズル列６５０ｃ又は第４ノズル列６５０ｄに対応して設けられる各吐出部６００が有する圧電素子６０の一端と検査回路８０－２とを電気的に接続するか否かを切り替える。同様に、切替回路７０－３は、印刷データ信号ＳＩ３及び検査制御信号ＴＳＩＧに基づいて、第５ノズル列６５０ｅ又は第６ノズル列６５０ｆに対応して設けられる各吐出部６００が有する圧電素子６０の一端と検査回路８０－３とを電気的に接続するか否かを切り替える。同様に、切替回路７０－４は、印刷データ信号ＳＩ４及び検査制御信号ＴＳＩＧに基づいて、第７ノズル列６５０ｇ又は第８ノズル列６５０ｈに対応して設けられる各吐出部６００が有する圧電素子６０の一端と検査回路８０－４とを電気的に接続するか否かを切り替える。

具体的には、切替回路７０－１～７０－４は、印刷データ信号ＳＩ１～ＳＩ４のそれぞれに基づいて吐出状態の検査対象となる吐出部６００（以下、「検査対象の吐出部６００」と称する）を選択し、検査制御信号ＴＳＩＧに基づいて、選択した吐出部６００が有する圧電素子６０の一端を検査回路８０－１～８０－４のそれぞれと電気的に接続し、選択しなかった他の圧電素子６０（検査対象でない吐出部６００が有する圧電素子６０）の一端を検査回路８０－１～８０－４のそれぞれと電気的に切断する。そして、検査対象の４個の吐出部６００がそれぞれ有する圧電素子６０の一端と検査回路８０－１～８０－４のそれぞれとが電気的に接続された状態において、検査対象の４個の吐出部６００がそれぞれ有する圧電素子６０の各一端に現れる検査対象信号ＰＯ１～ＰＯ４が検査回路８０－１～８０－４のそれぞれに入力される。

なお、切替回路７０－１～７０－４の回路的な構成は同一であってもよく、その詳細については後述する。

検査回路８０－１～８０－４は、検査制御信号ＴＳＩＧ及び検査対象信号ＰＯ１～ＰＯ４のそれぞれが入力され、低電源電圧ＶＤＤ及びグラウンド電圧ＧＮＤが供給されて動作する。検査回路８０－１～８０－４は、検査制御信号ＴＳＩＧに同期して、検査対象信号ＰＯ１～ＰＯ４のそれぞれに基づいて、検査対象の吐出部６００が有する圧電素子６０への駆動信号ＶＯＵＴの印加後の当該吐出部６００の残留振動を検出する。さらに、検査回路８０－１～８０－４は、残留振動の検出結果に基づいて、検査対象の吐出部６００にお
けるインクの吐出状態を判定し、判定結果を表す判定結果信号ＲＳ１～ＲＳ４をそれぞれ出力する。判定結果信号ＲＳ１～ＲＳ４は、ケーブル１９０によってヘッドユニット２０から制御部１１１に転送される。

制御部１１１は、判定結果信号ＲＳ１～ＲＳ４に応じた処理を行う。例えば、制御部１１１は、判定結果信号ＲＳ１～ＲＳ４の少なくとも１つが吐出部６００に吐出異常が生じていることを示している場合には、液体吐出装置１が備える不図示のディスプレイにエラーメッセージを表示させてもよい。また、例えば、制御部１１１は、不図示のメンテナンス機構にメンテナンス処理を実行させるための制御信号を生成してもよいし、吐出異常の吐出部６００に代えて吐出異常のない吐出部６００により印刷媒体Ｐへの記録（印刷）を補完する補完記録処理を行うための印刷データ信号ＳＩ１～ＳＩ４を生成してもよい。

温度センサー９０は、低電源電圧ＶＤＤ及びグラウンド電圧ＧＮＤが供給されて動作し、ヘッド２１の温度を検出し、ヘッド２１の温度を示す温度信号ＶＴＥＭＰを出力する。例えば、温度センサー９０は、ヘッド２１の内部に設けられていてもよいし、ヘッド２１の外面に設けられていてもよい。温度信号ＶＴＥＭＰは、ケーブル１９０によってヘッドユニット２０から制御部１１１に転送される。

制御部１１１は、温度信号ＶＴＥＭＰに基づいて、駆動信号ＣＯＭＡ－１～ＣＯＭＡ－４，ＣＯＭＢ－１～ＣＯＭＢ－４を補正するための駆動データｄＡ１～ｄＡ４，ｄＢ１～ｄＢ４を生成する。本実施形態では、画像データに基づく画像を印刷媒体Ｐに印刷するために各吐出部６００からインクを吐出させるための駆動信号ＶＯＵＴは、駆動信号ＣＯＭＡ－１～ＣＯＭＡ－４に基づいて生成される。そして、制御部１１１は、各吐出部６００から吐出されるインクの量が温度によらず一定となるように、温度信号ＶＴＥＭＰの値（電圧レベルあるいはデジタル値）に応じて駆動データｄＡ１～ｄＡ４を変更する。具体的には、吐出部６００の温度（インクの温度）が低いほどインクの粘度が高くなってノズル６５１からインクが吐出されにくくなるので、制御部１１１は、吐出部６００の温度（すなわち、温度信号ＶＴＥＭＰによって示されるヘッド２１の温度）が低いほど、駆動信号ＣＯＭＡ－１～ＣＯＭＡ－４の振幅（電位変化量）が大きくなるように（換言すれば、吐出部６００の温度が高いほど駆動信号ＣＯＭＡ－１～ＣＯＭＡ－４の振幅が小さくなるように）、駆動データｄＡ１～ｄＡ４を生成する。なお、以下では、単に「温度」と言うときは、吐出部６００の温度を指すものとする。

また、本実施形態では、各吐出部６００の吐出状態を検査する際に各吐出部６００に残留振動を発生させるための駆動信号ＶＯＵＴは、駆動信号ＣＯＭＢ－１～ＣＯＭＢ－４に基づいて生成される。そして、制御部１１１は、各吐出部６００において発生する残留振動の大きさが温度によらず一定となるように、温度信号ＶＴＥＭＰの値に応じて駆動データｄＢ１～ｄＢ４を変更する。具体的には、温度が低いほどインクの粘度が高くなって残留振動が小さくなるので、制御部１１１は、温度が低いほど駆動信号ＣＯＭＢ－１～ＣＯＭＢ－４の振幅が大きくなるように（換言すれば、温度が高いほど駆動信号ＣＯＭＢ－１～ＣＯＭＢ－４の振幅が小さくなるように）、駆動データｄＢ１～ｄＢ４を生成する。

また、詳細については後述するが、本実施形態では、制御部１１１は、検査回路８０－１～８０－４による残留振動の検出開始時の残留振動の位相が温度によらず一定となるように、温度信号ＶＴＥＭＰの値に応じて検査制御信号ＴＳＩＧを変更する。

なお、本実施形態では、駆動回路５０ａ－１～５０ａ－４，５０ｂ－１～５０ｂ－４は、圧電素子６０を駆動する駆動信号ＣＯＭＡ－１～ＣＯＭＡ－４，ＣＯＭＢ－１～ＣＯＭＢ－４を生成する駆動信号生成部１１０を構成する。また、検査回路８０－１～８０－４は、圧電素子６０への駆動信号ＣＯＭＢの印加後の吐出部６００の残留振動を検出する残
留振動検出部１２０を構成する。また、制御部１１１は、残留振動検出部１２０による残留振動の検出の開始及び終了を指示する検査制御信号ＴＳＩＧを生成する検査制御信号生成部として機能する。

１－３．吐出部の構成
図４は、ヘッド２１が有する１つの吐出部６００に対応した概略構成を示す図である。図４に示されるように、ヘッド２１は、吐出部６００と、リザーバー６４１とを含む。

リザーバー６４１は、インクの色毎に設けられており、インクが供給口６６１からリザーバー６４１に導入される。なお、インクは、インクカートリッジ２２から供給口６６１まで供給される。

吐出部６００は、圧電素子６０と振動板６２１とキャビティー（圧力室）６３１とノズル６５１とを含む。このうち、振動板６２１は、図において上面に設けられた圧電素子６０によって変位（屈曲振動）し、インクが充填されるキャビティー６３１の内部容積を拡大／縮小させるダイヤフラムとして機能する。ノズル６５１は、ノズルプレート６３２に設けられるとともに、キャビティー６３１に連通する開孔部である。キャビティー６３１は、内部に液体（例えば、インク）が充填され、圧電素子６０の変位により、内部容積が変化する。ノズル６５１は、キャビティー６３１に連通し、キャビティー６３１の内部容積の変化に応じてキャビティー６３１内の液体を液滴として吐出する。このように、吐出部６００は、圧電素子６０が駆動されることによりノズル６５１からインクを吐出する。

図４で示される圧電素子６０は、圧電体６０１を一対の電極６１１，６１２で挟んだ構造である。この構造の圧電体６０１にあっては、電極６１１，６１２により印加された電圧に応じて、電極６１１，６１２、振動板６２１とともに図４において中央部分が両端部分に対して上下方向に撓む。具体的には、圧電素子６０の一端である電極６１１には駆動信号ＶＯＵＴが印加され、圧電素子６０の他端である電極６１２にはオフセット電圧ＶＢＳが印加される。そして、圧電素子６０は、駆動信号ＶＯＵＴの電圧が低くなると上方向に撓む一方、駆動信号ＶＯＵＴの電圧が高くなると、下方向に撓む構成となっている。この構成において、上方向に撓めば、キャビティー６３１の内部容積が拡大するので、インクがリザーバー６４１から引き込まれる一方、下方向に撓めば、キャビティー６３１の内部容積が縮小するので、縮小の程度によっては、インクがノズル６５１から吐出される。

なお、圧電素子６０は、図示した構造に限られず、圧電素子６０を変形させてインクのような液体を吐出させることができる型であればよい。また、圧電素子６０は、屈曲振動に限られず、いわゆる縦振動を用いる構成でもよい。

また、圧電素子６０は、ヘッド２１においてキャビティー６３１とノズル６５１とに対応して設けられ、後述する選択回路２３０（図７参照）にも対応して設けられる。このため、圧電素子６０、キャビティー６３１、ノズル６５１および選択回路２３０のセットは、ノズル６５１毎に設けられることになる。

１－４．駆動信号の構成
本実施形態では、第１ノズル列６５０ａ又は第２ノズル列６５０ｂに含まれる各ノズル６５１から吐出される液滴により、１つのドットについて、「大ドット」、「中ドット」、「小ドット」及び「非記録（ドットなし）」の４階調を表現させるために駆動信号ＣＯＭＡ－１を用意し、駆動信号ＣＯＭＡ－１の１周期に前半パターンと後半パターンとを持たせている。１周期のうち、前半・後半において駆動信号ＣＯＭＡ－１を、表現すべき階調に応じて選択して（又は選択しないで）、各ノズル６５１に対応して設けられている圧電素子６０に供給する構成となっている。さらに、本実施形態では、第１ノズル列６５０
ａ又は第２ノズル列６５０ｂに対応して設けられている吐出部６００のうちの検査対象の吐出部６００に対して「検査」を行うために、駆動信号ＣＯＭＡ－１とは別に駆動信号ＣＯＭＢ－１も用意している。また、本実施形態では、駆動信号ＣＯＭＡ－１と同様の目的のために駆動信号ＣＯＭＡ－２～ＣＯＭＡ－４を用意し、駆動信号ＣＯＭＢ－１と同様の目的のためにＣＯＭＢ－２～ＣＯＭＢ－４を用意している。

なお、駆動信号ＣＯＭＡ－１～ＣＯＭＡ－４は、吐出させるインクの種類（シアン、マゼンタ、イエロー及びブラック）が異なるため波形が多少異なるものの基本的な構成は同じであるから、以下では、駆動信号ＣＯＭＡ－１～ＣＯＭＡ－４を総称して駆動信号ＣＯＭＡとし、駆動信号ＣＯＭＡについて図示及び説明を行う。同様に、駆動信号ＣＯＭＢ－１～ＣＯＭＢ－４は、波形が多少異なるとしても基本的な構成は同じであるから、以下では、駆動信号ＣＯＭＢ－１～ＣＯＭＢ－４を総称して駆動信号ＣＯＭＢとし、駆動信号ＣＯＭＢについて図示及び説明を行う。

図５は、駆動信号ＣＯＭＡ，ＣＯＭＢの波形を示す図である。図５に示されるように、駆動信号ＣＯＭＡは、ラッチ信号ＬＡＴのパルスの立ち上がりからチェンジ信号ＣＨのパルスの立ち上がりまでの期間Ｔ１に配置された台形波形Ａｄｐ１と、チェンジ信号ＣＨのパルスの立ち上がりからラッチ信号ＬＡＴの次のパルスの立ち上がりまでの期間Ｔ２に配置された台形波形Ａｄｐ２とを連続させた波形となっている。期間Ｔ１と期間Ｔ２からなる期間を周期Ｔａとして、周期Ｔａ毎に、印刷媒体Ｐに新たなドットが形成される。

本実施形態において、台形波形Ａｄｐ１、Ａｄｐ２とは、互いに異なる波形である。このうち、台形波形Ａｄｐ１は、仮に圧電素子６０の一端に供給されたとしたならば、当該圧電素子６０に対応するノズル６５１から所定量、具体的には中程度の量のインクをそれぞれ吐出させる波形である。また、台形波形Ａｄｐ２は、仮に圧電素子６０の一端に供給されたとしたならば、当該圧電素子６０に対応するノズル６５１から上記所定量よりも少ない量、具体的には小程度の量のインクを吐出させる波形である。

駆動信号ＣＯＭＢは、周期Ｔａ全体にわたって配置された台形波形Ｂｄｐ１を有している。台形波形Ｂｄｐ１は、仮に台形波形Ｂｄｐ１が圧電素子６０の一端に供給されたとしたならば、ノズル６５１からインク滴が吐出されないように、当該圧電素子６０を駆動するための波形である。

なお、台形波形Ａｄｐ１，Ａｄｐ２，Ｂｄｐ１の開始タイミングでの電圧と終了タイミングでの電圧とは、いずれも電圧Ｖｃで共通である。すなわち、台形波形Ａｄｐ１，Ａｄｐ２，Ｂｄｐ１は、それぞれ電圧Ｖｃで開始し、電圧Ｖｃで終了する波形となっている。制御部１１１は、吐出部６００の温度（温度信号ＶＴＥＭＰによって示されるヘッド２１の温度）が低いほど電圧Ｖｃが高くなるように、駆動データｄＡ１～ｄＡ４，ｄＢ１～ｄＢ４を生成する。

図６は、「大ドット」、「中ドット」、「小ドット」、「非記録」及び「検査」のそれぞれに対応する駆動信号ＶＯＵＴの波形を示す図である。

図６に示されるように、「大ドット」に対応する駆動信号ＶＯＵＴは、期間Ｔ１における駆動信号ＣＯＭＡの台形波形Ａｄｐ１と期間Ｔ２における駆動信号ＣＯＭＡの台形波形Ａｄｐ２とを連続させた波形となっている。この駆動信号ＶＯＵＴが圧電素子６０の一端に供給されると、周期Ｔａにおいて、当該圧電素子６０に対応したノズル６５１から、中程度及び小程度の量のインクが２回にわけて吐出される。このため、印刷媒体Ｐにはそれぞれのインクが着弾し合体して大ドットが形成されることになる。

「中ドット」に対応する駆動信号ＶＯＵＴは、期間Ｔ１では駆動信号ＣＯＭＡの台形波形Ａｄｐ１となり、期間Ｔ２ではハイインピーダンスとなるため圧電素子６０が有する容量性によって保持された直前の電圧Ｖｃとなっている。この駆動信号ＶＯＵＴが圧電素子６０の一端に供給されると、周期Ｔａにおいて、当該圧電素子６０に対応したノズル６５１から、期間Ｔ１においてのみ中程度の量のインクが吐出される。このため、印刷媒体Ｐにはこのインクが着弾して中ドットが形成されることになる。

「小ドット」に対応する駆動信号ＶＯＵＴは、期間Ｔ１ではハイインピーダンスとなるため圧電素子６０が有する容量性によって保持された直前の電圧Ｖｃとなり、期間Ｔ２では駆動信号ＣＯＭＡの台形波形Ａｄｐ２となっている。この駆動信号ＶＯＵＴが圧電素子６０の一端に供給されると、周期Ｔａにおいて、当該圧電素子６０に対応したノズル６５１から、期間Ｔ２においてのみ小程度の量のインクが吐出される。このため、印刷媒体Ｐにはこのインクが着弾して小ドットが形成されることになる。

「非記録」に対応する駆動信号ＶＯＵＴは、期間Ｔ１及び期間Ｔ２においてハイインピーダンスとなるため、圧電素子６０が有する容量性によって保持された直前の電圧Ｖｃとなっている。この駆動信号ＶＯＵＴが圧電素子６０の一端に供給されると、周期Ｔａにおいて、当該圧電素子６０に対応したノズル６５１からインクは吐出されない。このため、印刷媒体Ｐにはインクが着弾せず、ドットが形成されない。

「検査」に対応する駆動信号ＶＯＵＴは、期間ＴＳ１及び期間ＴＳ３において駆動信号ＣＯＭＢの台形波形Ｂｄｐ１の一部となり、期間ＴＳ２ではハイインピーダンスとなる。ここで、期間ＴＳ１，ＴＳ２，ＴＳ３は、検査制御信号ＴＳＩＧによって規定される。具体的には、検査制御信号ＴＳＩＧは、検査回路８０－１～８０－４による各吐出部６００に対する残留振動の検出の開始を指示する信号であり、周期Ｔａにおいて残留振動の検出開始タイミングを規定する第１パルスＰＬ１を有している。また、検査制御信号ＴＳＩＧは、検査回路８０－１～８０－４による各吐出部６００に対する残留振動の検出の終了を指示する信号でもあり、周期Ｔａにおいて残留振動の検出の終了タイミングを規定する第２パルスＰＬ２を有している。そして、周期Ｔａは、ラッチ信号ＬＡＴのパルスの立ち上がりから第１パルスＰＬ１の立ち上がりまでの期間ＴＳ１と、第１パルスＰＬ１の立ち上がりから第２パルスＰＬ２の立ち上がりまでの期間ＴＳ２と、検査制御信号ＴＳＩＧの第２パルスＰＬ２の立ち上がりからラッチ信号ＬＡＴの次のパルスの立ち上がりまでの期間ＴＳ３とに分けられる。

検査用の駆動信号ＶＯＵＴが圧電素子６０の一端に供給されると、当該圧電素子６０を有する吐出部６００は、期間ＴＳ１において、駆動信号ＶＯＵＴの電位の上昇に伴ってキャビティー６３１が急激に拡大した後、駆動信号ＶＯＵＴの電位の下降に伴ってキャビティー６３１が急激に縮小する。その後、駆動信号ＶＯＵＴの電位の上昇が終わって一定電位になると、キャビティー６３１は拡大と縮小を繰り返しながら元の容積に戻るが、このときキャビティー６３１に時間の経過とともに減衰する振動（残留振動）が発生し、圧電素子６０に加わる。この残留振動に従って圧電素子６０の起電力が変化し、期間ＴＳ２において駆動信号ＶＯＵＴに残留振動波形が現れる。詳細については後述するが、本実施形態では、検査回路８０－１～８０－４において、駆動信号ＶＯＵＴに現れる残留振動波形に基づいて、検査対象の吐出部６００の吐出状態が判定される。

本実施形態では、各周期Ｔａにおいて、各吐出部６００に対して、「大ドット」、「中ドット」、「小ドット」又は「非記録」のための駆動信号ＶＯＵＴを供給する印刷処理と、「検査」のための駆動信号ＶＯＵＴの供給及び吐出状態の判定を行う検査処理との一方または双方を実行可能である。液体吐出装置１は、連続的または間欠的な複数の周期Ｔａにわたって印刷処理を繰り返し実行することにより、印刷媒体Ｐに画像データに応じた画
像を形成する。

例えば、この複数の周期Ｔａのそれぞれに対して、印刷処理において「非記録」のための駆動信号ＶＯＵＴが供給される吐出部６００のうちのいずれか１つについて、これに代えて「検査」のための駆動信号ＶＯＵＴが供給されるようにしてもよい。本実施形態では、液体吐出装置１は４個の検査回路８０－１～８０－４を有しているので、Ｍ回の周期Ｔａに亘って印刷媒体Ｐに画像データに応じた画像を形成する場合には、印刷処理と並行して最大Ｍ×４個吐出部６００に対する検査処理を行うことが可能である。

また、例えば、検査処理は、印刷処理が不要な期間（複数ページの印刷の場合に１ページの印刷終了から次のページの印刷開始までの期間等）に行われてもよいし、検査モードに設定された場合に印刷処理とは別に行われてもよい。

１－５．切替回路の構成
次に、切替回路７０（７０－１～７０－４）の構成について説明する。図７は、切替回路７０（７０－１～７０－４）の構成を示す図である。図７に示されるように、切替回路７０は、選択制御部２２０と、複数の選択回路２３０とを含む。

選択制御部２２０には、クロック信号ＳＣＫ、印刷データ信号ＳＩ（ＳＩ１～ＳＩ４のいずれか）、ラッチ信号ＬＡＴ、チェンジ信号ＣＨ及び検査制御信号ＴＳＩＧが供給される。選択制御部２２０では、シフトレジスター（Ｓ／Ｒ）２２２とラッチ回路２２４とデコーダー２２６との組が、圧電素子６０（ノズル６５１）のそれぞれに対応して設けられている。すなわち、１つの切替回路７０が有するシフトレジスター（Ｓ／Ｒ）２２２とラッチ回路２２４とデコーダー２２６との組の数は、２つのノズル列６５０に含まれるノズル６５１の総数ｍと同じである。

印刷データ信号ＳＩは、ｍ個の吐出部６００（圧電素子６０）のそれぞれに対して、「大ドット」、「中ドット」、「小ドット」、「非記録」及び「検査」のいずれかを選択するための３ビットの印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）を含む、合計３ｍビットの信号である。

印刷データ信号ＳＩは、クロック信号ＳＣＫに同期した信号であり、ノズル６５１に対応して、印刷データ信号ＳＩに含まれる３ビット分の印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）毎に、一旦保持するための構成がシフトレジスター２２２である。

詳細には、圧電素子６０（ノズル６５１）に対応した段数のシフトレジスター２２２が互いに縦続接続されるとともに、シリアルで供給された印刷データ信号ＳＩが、クロック信号ＳＣＫに従って順次後段に転送される構成となっている。

なお、シフトレジスター２２２を区別するために、印刷データ信号ＳＩが供給される上流側から順番に１段、２段、…、ｍ段と表記している。

ｍ個のラッチ回路２２４の各々は、ｍ個のシフトレジスター２２２の各々で保持された３ビットの印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）をラッチ信号ＬＡＴの立ち上がりでラッチする。

ｍ個のデコーダー２２６の各々は、ｍ個のラッチ回路２２４の各々によってラッチされた３ビットの印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）をデコードして、ラッチ信号ＬＡＴとチェンジ信号ＣＨとで規定される期間Ｔ１，Ｔ２ごとに選択信号Ｓａを出力し、ラッチ信号ＬＡＴと検査制御信号ＴＳＩＧとで規定される期間ＴＳ１，ＴＳ２，ＴＳ３ごとに選
択信号Ｓｂ，Ｓｃを出力し、選択回路２３０での選択を規定する。

図８は、デコーダー２２６におけるデコード内容を示す図である。図８に示されるように、デコーダー２２６は、ラッチされた３ビットの印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）が「大ドット」を示す（１，１，０）であれば、選択信号Ｓａの論理レベルを期間Ｔ１，Ｔ２のいずれでもＨレベルとして出力し、選択信号Ｓｂ，Ｓｃの論理レベルを期間ＴＳ１，ＴＳ２，ＴＳ３のいずれでもＬレベルとして出力する。

また、デコーダー２２６は、３ビットの印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）が「中ドット」を示す（１，０，０）であれば、選択信号Ｓａの論理レベルを期間Ｔ１ではＨレベルとし、期間Ｔ２ではＬレベルとして出力し、選択信号Ｓｂ，Ｓｃの論理レベルを期間ＴＳ１，ＴＳ２，ＴＳ３のいずれでもＬレベルとして出力する。

また、デコーダー２２６は、３ビットの印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）が「小ドット」を示す（０，１，０）であれば、選択信号Ｓａの論理レベルを期間Ｔ１ではＬレベルとし、期間Ｔ２ではＨレベルとして出力し、選択信号Ｓｂ，Ｓｃの論理レベルを期間ＴＳ１，ＴＳ２，ＴＳ３のいずれでもＬレベルとして出力する。

また、デコーダー２２６は、３ビットの印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）が「非記録」を示す（０，０，０）であれば、選択信号Ｓａの論理レベルを期間Ｔ１，Ｔ２のいずれでもＬレベルとして出力し、選択信号Ｓｂ，Ｓｃの論理レベルを期間ＴＳ１，ＴＳ２，ＴＳ３のいずれでもＬレベルとして出力する。

また、デコーダー２２６は、３ビットの印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）が「検査」を示す（１，１，１）であれば、選択信号Ｓａの論理レベルを期間Ｔ１，Ｔ２のいずれでもＬレベルとして出力し、選択信号Ｓｂの論理レベルを期間ＴＳ１，ＴＳ３ではＨレベルとし、期間ＴＳ２ではＬレベルとして出力し、選択信号Ｓｃの論理レベルを期間ＴＳ１，ＴＳ３ではＬレベルとし、期間ＴＳ２ではＨレベルとして出力する。

なお、選択信号Ｓａ，Ｓｂ，Ｓｃの論理レベルについては、クロック信号ＳＣＫ、印刷データ信号ＳＩ、ラッチ信号ＬＡＴ、チェンジ信号ＣＨ及び検査制御信号ＴＳＩＧの論理レベルよりも、レベルシフター（図示省略）によって、高振幅論理にレベルシフトされる。

選択回路２３０は、圧電素子６０（ノズル６５１）のそれぞれに対応して設けられている。すなわち、１つの切替回路７０が有する選択回路２３０の数は、２つのノズル列６５０に含まれるノズル６５１の総数ｍと同じである。

図９は、圧電素子６０（ノズル６５１）の１個分に対応する選択回路２３０の構成を示す図である。

図９に示されるように、選択回路２３０は、インバーター（ＮＯＴ回路）２３２ａ，２３２ｂ，２３２ｃと、トランスファーゲート２３４ａ，２３４ｂ，２３４ｃとを有する。

デコーダー２２６からの選択信号Ｓａは、トランスファーゲート２３４ａの正制御端に供給される一方で、インバーター２３２ａによって論理反転されて、トランスファーゲート２３４ａの負制御端に供給される。同様に、選択信号Ｓｂは、トランスファーゲート２３４ｂの正制御端に供給される一方で、インバーター２３２ｂによって論理反転されて、トランスファーゲート２３４ｂの負制御端に供給される。同様に、選択信号Ｓｃは、トランスファーゲート２３４ｃの正制御端に供給される一方で、インバーター２３２ｃによっ
て論理反転されて、トランスファーゲート２３４ｃの負制御端に供給される。

トランスファーゲート２３４ａの入力端には、駆動信号ＣＯＭＡが供給され、トランスファーゲート２３４ｂの入力端には、駆動信号ＣＯＭＢが供給される。トランスファーゲート２３４ａ，２３４ｂの出力端同士は共通接続されて、吐出部６００が有する圧電素子６０の一端と接続されている。

また、トランスファーゲート２３４ｃの入力端は、トランスファーゲート２３４ａ，２３４ｂの出力端とともに、吐出部６００が有する圧電素子６０の一端と接続されている。トランスファーゲート２３４ｃの出力端は、切替回路７０の他のすべての選択回路２３０のトランスファーゲート２３４ｃの出力端と共通接続されている（図７参照）。

トランスファーゲート２３４ａは、選択信号ＳａがＨレベルであれば、入力端および出力端の間を導通（オン）させ、選択信号ＳａがＬレベルであれば、入力端と出力端との間を非導通（オフ）させる。トランスファーゲート２３４ｂ，２３４ｃについても同様に選択信号Ｓｂ，Ｓｃに応じて、入力端および出力端の間をオンオフさせる。

トランスファーゲート２３４ａがオンすることにより、駆動信号ＣＯＭＡが駆動信号ＶＯＵＴとして圧電素子６０の一端に供給され、トランスファーゲート２３４ｂがオンすることにより、駆動信号ＣＯＭＢが駆動信号ＶＯＵＴとして圧電素子６０の一端に供給される。また、トランスファーゲート２３４ｃがオンすることにより、吐出部６００で発生した残留振動に基づく波形を有する検査対象信号ＰＯが検査回路８０に出力される。

次に、切替回路７０（７０－１～７０－４）の動作について図１０を参照して説明する。

印刷データ信号ＳＩ（ＳＩ１～ＳＩ４のいずれか）が、クロック信号ＳＣＫに同期してシリアルで供給されて、ノズルに対応するシフトレジスター２２２において順次転送される。そして、クロック信号ＳＣＫの供給が停止すると、シフトレジスター２２２のそれぞれには、ノズル６５１に対応した３ビットの印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）が保持された状態になる。なお、印刷データ信号ＳＩは、シフトレジスター２２２における最終ｍ段、…、２段、１段のノズルに対応した順番で供給される。

ここで、ラッチ信号ＬＡＴが立ち上がると、ラッチ回路２２４のそれぞれは、シフトレジスター２２２に保持された３ビットの印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）を一斉にラッチする。図１０において、ＬＴ１、ＬＴ２、…、ＬＴｍは、１段、２段、…、ｍ段のシフトレジスター２２２に対応するラッチ回路２２４によってラッチされた３ビットの印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）を示している。

デコーダー２２６は、ラッチされた３ビットの印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）に応じて、期間Ｔ１，Ｔ２のそれぞれにおいて、選択信号Ｓａの論理レベルを図８に示されるような内容で出力し、期間ＴＳ１，ＴＳ２，ＴＳ３のそれぞれにおいて、選択信号Ｓｂ，Ｓｃの論理レベルを図８に示されるような内容で出力する。

すなわち、デコーダー２２６は、当該印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）が（１，１，０）である場合、選択信号Ｓａを期間Ｔ１，Ｔ２においてＨ，Ｈレベルとし、選択信号Ｓｂ，Ｓｃを期間ＴＳ１，ＴＳ２，ＴＳ３においてＬ，Ｌ，Ｌレベルとする。また、デコーダー２２６は、当該印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）が（１，０，０）である場合、選択信号Ｓａを期間Ｔ１，Ｔ２においてＨ，Ｌレベルとし、選択信号Ｓｂ，Ｓｃを期間ＴＳ１，ＴＳ２，ＴＳ３においてＬ，Ｌ，Ｌレベルとする。また、デコーダー２２６
は、当該印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）が（０，１，０）である場合、選択信号Ｓａを期間Ｔ１，Ｔ２においてＬ，Ｈレベルとし、選択信号Ｓｂ，Ｓｃを期間ＴＳ１，ＴＳ２，ＴＳ３においてＬ，Ｌ，Ｌレベルとする。また、デコーダー２２６は、当該印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）が（０，０，０）である場合、選択信号Ｓａを期間Ｔ１，Ｔ２においてＬ，Ｌレベルとし、選択信号Ｓｂ，Ｓｃを期間ＴＳ１，ＴＳ２，ＴＳ３においてＬ，Ｌ，Ｌレベルとする。また、デコーダー２２６は、当該印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）が（１，１，１）である場合、選択信号Ｓａを期間Ｔ１，Ｔ２においてＬ，Ｌレベルとし、選択信号Ｓｂを期間ＴＳ１，ＴＳ２，ＴＳ３においてＨ，Ｌ，Ｈレベルとし、選択信号Ｓｃを期間ＴＳ１，ＴＳ２，ＴＳ３においてＬ，Ｈ，Ｌレベルとする。

印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）が（１，１，０）のとき、選択回路２３０は、期間Ｔ１では選択信号ＳａがＨレベルであるので駆動信号ＣＯＭＡ（台形波形Ａｄｐ１）を選択し、期間Ｔ２でもＳａがＨレベルであるので駆動信号ＣＯＭＡ（台形波形Ａｄｐ２）を選択する。また、選択回路２３０は、期間ＴＳ１，ＴＳ２，ＴＳ３で選択信号ＳｂがＬレベルであるので駆動信号ＣＯＭＢを選択しない。その結果、図６に示した「大ドット」に対応する駆動信号ＶＯＵＴが生成される。

印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）が（１，０，０）のとき、選択回路２３０は、期間Ｔ１では選択信号ＳａがＨレベルであるので駆動信号ＣＯＭＡ（台形波形Ａｄｐ１）を選択し、期間Ｔ２ではＳａがＬであるので駆動信号ＣＯＭＡを選択しない。また、選択回路２３０は、期間ＴＳ１，ＴＳ２，ＴＳ３で選択信号ＳｂがＬレベルであるので駆動信号ＣＯＭＢを選択しない。その結果、図６に示した「中ドット」に対応する駆動信号ＶＯＵＴが生成される。

印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）が（０，１，０）のとき、選択回路２３０は、期間Ｔ１では選択信号ＳａがＬレベルであるので駆動信号ＣＯＭＡを選択せず、期間Ｔ２では選択信号ＳａがＨレベルであるので駆動信号ＣＯＭＡ（台形波形Ａｄｐ２）を選択する。また、選択回路２３０は、期間ＴＳ１，ＴＳ２，ＴＳ３で選択信号ＳｂがＬレベルであるので駆動信号ＣＯＭＢを選択しない。その結果、図６に示した「小ドット」に対応する駆動信号ＶＯＵＴが生成される。

印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）が（０，０，０）のとき、選択回路２３０は、期間Ｔ１，Ｔ２で選択信号ＳａがＬレベルであるので駆動信号ＣＯＭＡを選択しない。また、選択回路２３０は、期間ＴＳ１，ＴＳ２，ＴＳ３で選択信号ＳｂがＬレベルであるので駆動信号ＣＯＭＢを選択しない。その結果、図６に示した「非記録」に対応する駆動信号ＶＯＵＴが生成される。

印刷データ（ＳＩＨ，ＳＩＭ，ＳＩＬ）が（１，１，１）のとき、選択回路２３０は、期間Ｔ１，Ｔ２で選択信号ＳａがＬレベルであるので駆動信号ＣＯＭＡを選択しない。また、選択回路２３０は、期間ＴＳ１，ＴＳ３では選択信号ＳｂがＨレベルであるので駆動信号ＣＯＭＢ（台形波形Ｂｄｐ１の一部）を選択し、期間ＴＳ２では選択信号ＳｂがＬレベルであるので駆動信号ＣＯＭＢを選択しない。その結果、期間ＴＳ１，ＴＳ３において図６に示した「検査」に対応する駆動信号ＶＯＵＴが生成される。また、選択回路２３０は、期間ＴＳ１，ＴＳ３では選択信号ＳｃがＬレベルであるのでトランスファーゲート２３４ｃをオフし、期間ＴＳ２では選択信号ＳｃがＨレベルであるのでトランスファーゲート２３４ｃをオンする。その結果、期間ＴＳ２において検査対象信号ＰＯが生成される。

なお、図５及び図１０に示した駆動信号ＣＯＭＡ，ＣＯＭＢはあくまでも一例である。実際には、ヘッドユニット２０の移動速度、印刷媒体Ｐ、吐出部６００の構造、インクの粘度などに応じて、予め用意された様々な波形の組み合わせが用いられる。

また、ここでは、圧電素子６０が、電圧の低下に伴って上方向に撓む例で説明したが、電極６１１，６１２に供給する電圧を逆転させると、圧電素子６０は、電圧の低下に伴って下方向に撓むことになる。このため、圧電素子６０が、電圧の低下に伴って下方向に撓む構成では、図５及び図１０に例示した駆動信号ＣＯＭＡ，ＣＯＭＢが、電圧Ｖｃを基準に反転した波形となる。

１－６．検査回路の構成
次に、検査回路８０（８０－１～８０－４）の構成について説明する。図１１は、検査回路８０（８０－１～８０－４）の構成を示す図である。図１１に示されるように、検査回路８０は、波形整形部８１、計測部８２及び判定部８３を含む。

波形整形部８１は、ローパスフィルターあるいはバンドパスフィルターによって、検査対象信号ＰＯ（ＰＯ１～ＰＯ４のいずれか）からノイズ成分を除去するとともに、演算増幅器と抵抗等によって検査対象信号ＰＯの振幅を増幅した残留振動信号ＮＶＴを出力する。

計測部８２には、波形整形部８１が出力する残留振動信号ＮＶＴが入力され、検査制御信号ＴＳＩＧで指定される期間ＴＳ２において、残留振動信号ＮＶＴの位相、周期、振幅などを計測する。

判定部８３は、計測部８２が計測した残留振動信号ＮＶＴの位相、周期、振幅などに基づき、検査対象の吐出部６００の吐出状態を判定し、判定結果を表す判定結果信号ＲＳ（ＲＳ１～ＲＳ４のいずれか）を出力する。判定結果信号ＲＳは、吐出異常の有無を表す信号であってもよいし、吐出異常の原因を判定した情報を含む信号であってもよい。

図１２は、計測部８２の動作を説明するためのタイミングチャートである。図１２に示されるように、計測部８２は、期間ＴＳ２が開始されて、残留振動信号ＮＶＴの供給が開始されると、残留振動信号ＮＶＴと、残留振動信号ＮＶＴの振幅中心レベルの電位である閾値電位Ｖｔｈ２、閾値電位Ｖｔｈ２よりも高電位の閾値電位Ｖｔｈ１、及び、閾値電位Ｖｔｈ２よりも低電位の閾値電位Ｖｔｈ３と、を比較する。そして、計測部８２は、残留振動信号ＮＶＴの電位が閾値電位Ｖｔｈ１以上となる場合にハイレベルとなる比較信号Ｃｍｐ１と、残留振動信号ＮＶＴの電位が閾値電位Ｖｔｈ２となる場合にハイレベルとなる比較信号Ｃｍｐ２と、残留振動信号ＮＶＴの電位が閾値電位Ｖｔｈ３未満となる場合にハイレベルとなる比較信号Ｃｍｐ３と、を生成する。

そして、計測部８２は、期間ＴＳ２の開始時刻ｔ０から、比較信号Ｃｍｐ２が最初にローレベルに立ち下がった後にハイレベルに立ち上がる時刻ｔ１までの時間Ｔｐ１を計測する。また、計測部８２は、時刻ｔ１から、比較信号Ｃｍｐ２が次にローレベルに立ち下がった後にハイレベルに立ち上がる時刻ｔ２までの時間Ｔｐ２を計測する。

例えば、計測部８２は、時刻ｔ０から時刻ｔ１までの間のクロック信号ＳＣＫのパルス数をカウントしてカウント値を時間Ｔｐ１とし、時刻ｔ１から時刻ｔ２までの間のクロック信号ＳＣＫのパルス数をカウントしてカウント値を時間Ｔｐ２とすることができる。

また、残留振動信号ＮＶＴの振幅が小さい場合には、キャビティー６３１にインクが充填されていない等、検査対象の吐出部６００において吐出異常が生じていることが想定される。そこで、計測部８２は、時刻ｔ１から時刻ｔ２までの期間に残留振動信号ＮＶＴの電位が閾値電位Ｖｔｈ１以上となり（すなわち、比較信号Ｃｍｐ１がハイレベルとなり）、且つ、時刻ｔ１から時刻ｔ２までの期間に残留振動信号ＮＶＴの電位が閾値電位Ｖｔｈ
３未満となる（すなわち、比較信号Ｃｍｐ３がハイレベルとなる）場合、振幅判定値Ａｐを「１」に設定し、それ以外の場合には振幅判定値Ａｐを「０」に設定する。

吐出部６００がインク滴を吐出するための動作を行ったにもかかわらず、ノズル６５１からインク滴が正常に吐出されない、即ち吐出異常が発生する原因としては、（１）キャビティー６３１内への気泡の混入、（２）キャビティー６３１内のインクの乾燥等に起因するキャビティー６３１内のインクの増粘、（３）ノズル６５１の出口付近への紙粉等の異物の付着、等が挙げられる。

まず、キャビティー６３１内に気泡が混入した場合には、キャビティー６３１内を満たすインクの総重量が減り、イナータンスが低下するものと考えられる。また、気泡がノズル６５１付近に付着している場合には、その径の大きさだけノズル６５１の径が大きくなったと看做される状態となり、音響抵抗が低下するものと考えられる。そのため、キャビティー６３１内に気泡が混入して吐出異常が生じた場合には、吐出状態が正常である場合と比較して、残留振動の周波数が高くなる。そのため、時間Ｔｐ２が所定の閾値時間Ｔｔｈ２よりも小さくなる。また、気泡の混入が多ければ時間Ｔｐ１が所定の閾値時間Ｔｔｈ１よりも小さくなる。

次に、ノズル６５１付近のインクが乾燥して増粘した場合、キャビティー６３１内のインクは、キャビティー６３１内に閉じこめられたような状況となる。このような場合、音響抵抗が増加するものと考えられる。そのため、キャビティー６３１内のノズル６５１付近のインクが増粘した場合には、吐出状態が正常である場合と比較して、残留振動の周波数が低くなる。そのため、時間Ｔｐ２が所定の閾値時間Ｔｔｈ４よりも大きくなる。

次に、ノズル６５１の出口付近に紙粉等の異物が付着した場合、キャビティー６３１内から紙粉等の異物を介してインクが染み出してしまうため、イナータンスが増加するものと考えられる。また、ノズル６５１の出口付近に付着した紙粉の繊維によって音響抵抗が増大するものと考えられる。そのため、ノズル６５１の出口付近に紙粉等の異物が付着した場合には、吐出状態が正常である場合と比較して、残留振動の周波数が低くなる。そのため、時間Ｔｐ２が所定の閾値時間Ｔｔｈ３よりも大きく閾値時間Ｔｔｈ４以下となる。

そして、上記の（１）～（３）の原因による吐出異常がない場合、すなわち、時間Ｔｐ２が閾値時間Ｔｔｈ２以上かつ閾値時間Ｔｔｈ３以下の場合は、吐出部６００の吐出状態が正常であると判断される。

以上より、判定部８３は、残留振動の位相に対応する時間Ｔｐ１、残留振動の周期に対応する時間Ｔｐ２及び残留振動の振幅判定値Ａｐに基づいて、検査対象の吐出部６００の吐出状態（吐出異常の有無や吐出異常の原因等）を判定することができる。

図１３は、判定部８３による吐出部６００の吐出状態の判定論理の一例を示す図である。図１３の例では、判定部８３は、時間Ｔｐ１が閾値時間Ｔｔｈ１よりも小さい場合は、時間Ｔｐ２及び振幅判定値Ａｐに関係なく、吐出部６００に気泡による吐出異常が発生していると判定し、判定結果信号ＲＳを「２」に設定する。

また、判定部８３は、時間Ｔｐ１が閾値時間Ｔｔｈ１以下の場合は、時間Ｔｐ２及び振幅判定値Ａｐに基づいて、吐出部６００の吐出状態を判定する。具体的には、判定部８３は、振幅判定値Ａｐが「０」であれば、原因を特定できないがキャビティー６３１にインクが充填されていない等の何らかの吐出異常が発生していると判定し、判定結果信号ＲＳを「５」に設定する。また、判定部８３は、振幅判定値Ａｐが「１」であれば、時間Ｔｐ２に基づいて、吐出部６００の吐出状態を判定する。すなわち、判定部８３は、時間Ｔｐ
２が閾値時間Ｔｔｈ２未満の場合は、吐出部６００に気泡による吐出異常が発生していると判定し、判定結果信号ＲＳを「２」に設定する。また、判定部８３は、時間Ｔｐ２が閾値時間Ｔｔｈ２以上かつ閾値時間Ｔｔｈ３以下の場合は、吐出部６００の吐出状態が正常（吐出異常が発生していない）と判定し、判定結果信号ＲＳを「１」に設定する。また、判定部８３は、時間Ｔｐ２が閾値時間Ｔｔｈ３よりも大きく閾値時間Ｔｔｈ４以下の場合は、吐出部６００に異物付着による吐出異常が発生していると判定し、判定結果信号ＲＳを「３」に設定する。また、判定部８３は、時間Ｔｐ２が閾値時間Ｔｔｈ４よりも大きい場合は、吐出部６００に増粘による吐出異常が発生していると判定し、判定結果信号ＲＳを「４」に設定する。

なお、判定部８３が生成する判定結果信号ＲＳは、図１３の例では「１」から「５」までの５値の情報であるが、例えば、吐出異常の有無を表すか否かを示す２値の情報であってもよい。また、判定部８３は、判定結果信号ＲＳの生成に、時間Ｔｐ１、時間Ｔｐ２及び振幅判定値Ａｐの一部のみを用いてもよい。

１－７．検査制御信号ＴＳＩＧ及び駆動信号ＣＯＭＢの温度補正
吐出部６００のキャビティー６３１に充填されているインクの粘度は温度によって変化する。すなわち、温度が高いほどインクの粘度が低くなり、温度が低いほどインクの粘度が高くなる。従って、吐出部６００に一定の駆動信号を供給した場合、インクの粘度が高いほど吐出部６００の駆動後に発生する残留振動が小さくなり、インクの粘度が低いほど残留振動が大きくなる。以上より、吐出部６００の温度（インクの温度）が高いほど残留振動が大きくなり、吐出部６００の温度が低いほど残留振動が小さくなると言える。そのため、温度に応じて残留振動信号ＮＶＴの振幅が変化するため、前述した閾値電位Ｖｔｈ１～Ｖｔｈ３（図１２参照）を温度に応じて変更しなければ判定部８３による判定が誤ることになる。しかしながら、閾値電位Ｖｔｈ１～Ｖｔｈ３を温度に応じて変更すると、残留振動の検出から吐出状態の判定までの検査シーケンスが複雑になりやすい。

そこで、本実施形態では、検査シーケンスをより簡単化するために、温度に応じて駆動信号ＣＯＭＢの振幅を補正することにより、吐出部６００が正常である場合の残留振動が温度によらず一定の大きさになるようにする。すなわち、制御部１１１は、検査対象信号ＰＯ１～ＰＯ４あるいは残留振動信号ＮＶＴ（ＮＶＴ１～ＮＶＴ４）の各振幅が吐出部６００の温度によらず一定になるように、吐出部６００の温度（温度信号ＶＴＥＭＰによって示されるヘッド２１の温度）に応じて駆動データｄＢ１～ｄＢ４を変更する。具体的には、制御部１１１は、温度が高いほど駆動信号ＣＯＭＢの振幅が小さくなり、温度が低いほど駆動信号ＣＯＭＢの振幅が大きくなるように、温度に応じて駆動データｄＢ１～ｄＢ４を変更する。

このように、温度に応じて駆動信号ＣＯＭＢの振幅を変更することで、吐出部６００に対する残留振動信号ＮＶＴの振幅が温度によらず一定になるので、閾値電位Ｖｔｈ１～Ｖｔｈ３を温度に応じて変更させる必要がなくなる。ただし、温度に応じて駆動信号ＣＯＭＢの振幅を変更するとその電位の下降や上昇が終了するタイミングも変化するため、吐出部６００において残留振動が開始するタイミングが温度によって変化することになる。具体的には、温度が高いほど駆動信号ＣＯＭＢの振幅が小さくなるためその電位の下降や上昇が終了するタイミングが早くなり、温度が低いほど駆動信号ＣＯＭＢの振幅が大きくなるためその電位の下降や上昇が終了するタイミングが遅くなる。その結果、温度によって、残留振動が開始するタイミングが変化し、残留振動の検出開始時の残留振動信号ＮＶＴの位相も変化するため、前述した時間Ｔｐ１の閾値時間Ｔｔｈ１を温度に応じて変更しなければ判定部８３による判定が誤ることになる。しかしながら、閾値時間Ｔｔｈ１を温度に応じて変更することは、検査シーケンスの簡単化にとって好ましくない。

そこで、本実施形態では、検査シーケンスをさらに簡単化するために、残留振動の検出開始時の残留振動信号ＮＶＴの位相が温度によらず一定になるように、温度に応じて検査制御信号ＴＳＩＧを変更する。これにより、吐出部６００が正常である場合の時間Ｔｐ１が温度によらず一定になる。具体的には、制御部１１１は、温度が高いほど第１パルスＰＬ１及び第２パルスＰＬ２のタイミングが早くなり、温度が低いほど第１パルスＰＬ１及び第２パルスＰＬ２のタイミングが遅くなるように、温度に応じて検査制御信号ＴＳＩＧを補正する。

図１４～図１６は、周期Ｔａにおける駆動信号ＣＯＭＢ、検査制御信号ＴＳＩＧ及び残留振動信号ＮＶＴの波形の一例を示す図である。図１４は吐出部６００の温度が２５℃の場合であり、図１５は吐出部６００の温度が１０℃の場合であり、図１６は吐出部６００の温度が４０℃の場合である。比較のために、図１５及び図１６では、２５℃における各信号の波形（図１４の各波形）が点線で表記されている。

図１４～図１６に示されるように、温度が４０℃（「第１温度」の一例）であるときの駆動信号ＣＯＭＢと温度が４０℃よりも低い２５℃（「第２温度」の一例）であるときの駆動信号ＣＯＭＢとは異なる。また、温度が２５℃（「第１温度」の他の一例）であるときの駆動信号ＣＯＭＢと温度が２５℃よりも低い１０℃（「第２温度」の他の一例）であるときの駆動信号ＣＯＭＢとは異なる。

具体的には、温度が４０℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢの振幅（最大電位Ｖｍａｘと最小電位Ｖｍｉｎとの電位差）は、温度が２５℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢの振幅よりも小さい（図１６参照）。また、温度が２５℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢの振幅は、温度が１０℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢの振幅よりも小さい（図１５参照）。

図１４～図１６の例では、温度が１０℃、２５℃、４０℃であるときの吐出部６００における残留振動が等しくなるように、温度に応じて駆動信号ＣＯＭＢの振幅が変更されている。ここで、「等しい」とは、正確に等しい場合のみならず、実質的に等しい場合、例えば、判定部８３による判定において同一の判定基準を用いることが可能である限りにおいて差を有する場合も含まれる。以降の説明においても、「等しい」という用語は実質的に等しい場合も含むものとする。

なお、図１４～図１６の例では、最小電位Ｖｍｉｎがオフセット電圧ＶＢＳよりも低くならないように最小電位Ｖｍｉｎを一定として、温度に応じて最大電位Ｖｍａｘが変更されることにより、駆動信号ＣＯＭＢの振幅が変更されている。

さらに、温度が４０℃であるときの検査制御信号ＴＳＩＧと温度が２５℃であるときの検査制御信号ＴＳＩＧとは異なる。また、温度が２５℃であるときの検査制御信号ＴＳＩＧと温度が１０℃であるときの検査制御信号ＴＳＩＧとは異なる。

具体的には、温度が４０℃であるときの検査制御信号ＴＳＩＧによる残留振動の検出の開始の指示（第１パルスＰＬ１の立ち上がり）及び終了の指示（第２パルスＰＬ２の立ち上がり）は、温度が２５℃であるときの検査制御信号ＴＳＩＧによる残留振動の検出の開始の指示及び終了の指示よりも早く行われる。また、温度が２５℃であるときの検査制御信号ＴＳＩＧによる残留振動の検出の開始の指示及び終了の指示は、温度が１０℃であるときの検査制御信号ＴＳＩＧによる残留振動の検出の開始の指示及び終了の指示よりも早く行われる。

そして、図１４～図１６の例では、制御部１１１が第１パルスＰＬ１の立ち上がりと駆動信号ＣＯＭＢの電位上昇が終了するタイミングとを一致させることにより、温度が１０
℃、２５℃、４０℃であるときの第１パルスＰＬ１の立ち上がりを基準とする残留振動信号ＮＶＴの位相が等しくなっている。従って、前述の時間Ｔｐ１（図１２参照）が温度によらず等しくなるため、閾値時間Ｔｔｈ１は一定のままでよい。さらに、前述の通り、温度が１０℃、２５℃、４０℃であるときの吐出部６００における残留振動が等しくなるから、第１パルスＰＬ１の立ち上がりを基準とする残留振動信号ＮＶＴの波形が等しくなっている。従って、前述の時間Ｔｐ２及び時刻ｔ１から時刻ｔ２までの期間における残留振動信号ＮＶＴの振幅が温度によらず等しくなるため、閾値時間Ｔｔｈ２～Ｔｔｈ４及び閾値電位Ｖｔｈ１～Ｖｔｈ３も一定のままでよい。

なお、図１４～図１６では、温度が１０℃、２５℃、４０℃の場合のみを例に挙げているが、実際には、制御部１１１は、他の温度でも駆動信号ＣＯＭＢや検査制御信号ＴＳＩＧを補正する。例えば、液体吐出装置１の特性評価を行う際の実測値に基づき、温度信号ＶＴＥＭＰの値の範囲と駆動データｄＢ１～ｄＢ４及び検査制御信号ＴＳＩＧのタイミングとの関係を示すテーブル情報を不図示の記憶部に記憶させておき、制御部１１１は、当該テーブル情報と温度信号ＶＴＥＭＰの値とに基づいて、駆動データｄＢ１～ｄＢ４の振幅や検査制御信号ＴＳＩＧのタイミングを変更すればよい。駆動データｄＢ１～ｄＢ４の振幅や検査制御信号ＴＳＩＧのタイミングが変更される温度の間隔は、判定部８３による判定精度に対する影響等を考慮して適宜選択すればよく、例えば５℃間隔であってもよい。

また、図１４～図１６の例では、第１パルスＰＬ１の立ち上がりと駆動信号ＣＯＭＢの電位上昇が終了するタイミングとが一致しているが、第１パルスＰＬ１の立ち上がりは、駆動信号ＣＯＭＢの電位上昇が終了するタイミングと同期していればよく、一致している必要はない。例えば、駆動信号ＣＯＭＢの電位上昇が終了するタイミングから第１パルスＰＬ１の立ち上がりまでの時間が温度によらず等しくなるようにすればよい。

１－８．作用効果
以上に説明したように、第１実施形態に係る液体吐出装置１では、制御部１１１が、温度が高いほど、駆動信号ＣＯＭＢ（残留振動を発生させるための駆動信号）の振幅が小さくなるように駆動データｄＢ１～ｄＢ４を変更することにより、温度が変化しても、吐出部６００における残留振動の振幅が実質的に変わらない。また、制御部１１１が、温度が高いほど、検査制御信号ＴＳＩＧの第１パルスＰＬ１（残留振動の開始の指示）のタイミングを早くすることにより、温度が変化しても、検査回路８０が残留振動の検出を開始するタイミングと吐出部６００において残留振動が開始するタイミング（すなわち、残留振動信号ＮＶＴの第１波）との時間差が実質的に変わらない。その結果、温度が変化しても、検査制御信号ＴＳＩＧの第１パルスＰＬ１を基準としたときの残留振動信号ＮＶＴの波形が実質的に変わらないので、閾値電位Ｖｔｈ１～Ｖｔｈ３及び閾値時間Ｔｔｈ１～Ｔｔｈ４を温度に応じて変更する必要がない。

また、第１実施形態に係る液体吐出装置１では、制御部１１１が、温度が高いほど、検査制御信号ＴＳＩＧの第２パルスＰＬ２（残留振動の終了の指示）のタイミングを早くすることにより、温度が変化しても、検査回路８０による残留振動の検出期間が実質的に変わらない。

従って、第１実施形態に係る液体吐出装置１によれば、検査回路８０による残留振動の検出から吐出部６００の吐出状態の判定までの検査シーケンスを簡単化することができる。

２．第２実施形態
以下、第２実施形態に係る液体吐出装置について、第１実施形態と同様の構成要素には
同じ符号を付し、第１実施形態と重複する説明を省略し、主として第１実施形態と異なる内容について説明する。

第２実施形態に係る液体吐出装置１は、温度によらず、閾値時間Ｔｔｈ１～Ｔｔｈ４及び閾値電位Ｖｔｈ１～Ｖｔｈ３を一定にし、さらに、温度が変わっても検査制御信号ＴＳＩＧを変更しなくて済むようにすることで、検査シーケンスをさらに簡単化する。具体的には、制御部１１１は、周期Ｔａにおいて、検査対象の吐出部６００において発生する残留振動の大きさだけでなく、残留振動が発生するタイミングも温度によらず等しくなるように、温度に応じて検査制御信号ＴＳＩＧを補正する。

図１７～図１９は、第２実施形態における、周期Ｔａにおける駆動信号ＣＯＭＢ、検査制御信号ＴＳＩＧ及び残留振動信号ＮＶＴの波形の一例を示す図である。図１７は吐出部６００の温度が２５℃の場合であり、図１８は吐出部６００の温度が１０℃の場合であり、図１９は吐出部６００の温度が４０℃の場合である。比較のために、図１８及び図１９では、２５℃における各信号の波形（図１７の各波形）が点線で表記されている。

図１７～図１９に示されるように、温度が４０℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢと温度が２５℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢとは異なる。また、温度が２５℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢと温度が１０℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢとは異なる。

具体的には、温度が４０℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢの振幅（最大電位Ｖｍａｘと最小電位Ｖｍｉｎとの電位差）は、温度が２５℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢの振幅よりも小さい（図１９参照）。また、温度が２５℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢの振幅は、温度が１０℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢの振幅よりも小さい（図１８参照）。また、期間ＴＳ１において、温度が４０℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢの電位の下降及び上昇は、温度が２５℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢの電位の下降及び上昇よりも緩やかである（図１９参照）。また、吐出部６００の温度が２５℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢの電位の下降及び上昇は、温度が１０℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢの電位の下降及び上昇よりも緩やかである（図１８参照）。さらに、期間ＴＳ１が開始する時刻をゼロとして駆動信号ＣＯＭＢの電位の下降が開始する時刻をｔｆ、駆動信号ＣＯＭＢの電位の上昇が終了する時刻をｔｒ、（ｔｆ＋ｔｒ）／２となる時刻をｔｃとしたとき、温度が１０℃，２５℃，４０℃であるときの時刻ｔｃが等しい。

図１７～図１９の例では、駆動信号ＣＯＭＢがこのように補正されることにより、温度が１０℃、２５℃、４０℃であるときの吐出部６００における残留振動が開始タイミングも含めて等しくなり、残留振動信号ＮＶＴの波形及び位相も等しくなっている。そのため、温度が１０℃、２５℃、４０℃であるときの検査制御信号ＴＳＩＧによる残留振動の検出の開始の指示（第１パルスＰＬ１の立ち上がり）のタイミングは同じであり、閾値時間Ｔｔｈ１～Ｔｔｈ４及び閾値電位Ｖｔｈ１～Ｖｔｈ３は温度によらず一定のままでよい。

なお、図１７～図１９では、温度が１０℃、２５℃、４０℃の場合のみを例に挙げているが、実際には、制御部１１１は、他の温度でも駆動信号ＣＯＭＢを補正する。例えば、液体吐出装置１の特性評価を行う際の実測値に基づき、温度信号ＶＴＥＭＰの値の範囲と駆動データｄＢ１～ｄＢ４との関係を示すテーブル情報を不図示の記憶部に記憶させておき、制御部１１１は、当該テーブル情報と温度信号ＶＴＥＭＰの値とに基づいて、駆動データｄＢ１～ｄＢ４を変更すればよい。

以上に説明したように、第２実施形態に係る液体吐出装置１では、制御部１１１が、温度が高いほど、駆動信号ＣＯＭＢ（残留振動を発生させるための駆動信号）の振幅が小さくなり、かつ、温度が変化しても時刻ｔｃが一致するように駆動データｄＢ１～ｄＢ４を
変更することにより、温度が変化しても、吐出部６００における残留振動の振幅及び位相が実質的に変わらない。また、制御部１１１が、温度が高いほど、検査制御信号ＴＳＩＧの第１パルスＰＬ１（残留振動の開始の指示）のタイミングを早くすることにより、温度が変化しても、検査回路８０が残留振動の検出を開始するタイミングと吐出部６００において残留振動が開始するタイミング（すなわち、残留振動信号ＮＶＴの第１波）との時間差が実質的に変わらない。その結果、温度が変化しても、周期Ｔａにおける残留振動信号ＮＶＴの波形が実質的に変わらないので、閾値電位Ｖｔｈ１～Ｖｔｈ３、閾値時間Ｔｔｈ１～Ｔｔｈ４及び検査制御信号ＴＳＩＧを温度に応じて変更する必要がない。

従って、第２実施形態に係る液体吐出装置１によれば、検査回路８０による残留振動の検出から吐出部６００の吐出状態の判定までの検査シーケンスを簡単化することができる。

３．第３実施形態
以下、第３実施形態に係る液体吐出装置について、第１実施形態と同様の構成要素には同じ符号を付し、第１実施形態と重複する説明を省略し、主として第１実施形態と異なる内容について説明する。

第３実施形態に係る液体吐出装置１では、制御部１１１は、温度に応じて検査制御信号ＴＳＩＧを補正するが、駆動信号ＣＯＭＢを補正しない。すなわち、駆動信号ＣＯＭＢは、温度によらず一定の波形である。従って、温度が高いほど残留振動信号ＮＶＴの振幅が大きくなり、温度が低いほど残留振動信号ＮＶＴの振幅が小さくなる。駆動信号ＣＯＭＢの振幅が小さすぎると温度が低いときの残留振動信号ＮＶＴの振幅が小さくなりすぎて判定部８３による判定精度が低下するので、駆動信号ＣＯＭＢはある程度の振幅を有している必要がある。その結果、温度が高いときの残留振動信号ＮＶＴは、第１波の振幅が大きくなりすぎて、波形整形部８１の出力レンジの上限電圧又は下限電圧で飽和するおそれが生じる。すなわち、残留振動信号ＮＶＴの第１波が歪むため、特に、計測部８２による残留振動の位相に対応する時間Ｔｐ１の計測精度が低下するおそれがある。そこで、制御部１１１は、吐出部６００の温度（温度信号ＶＴＥＭＰによって示されるヘッド２１の温度）が所定の温度以上の場合には、検査制御信号ＴＳＩＧによる検出開始の指示（第１パルスＰＬ１の立ち上がり）を残留振動信号ＮＶＴの第１波の後ろまで遅らせる。

図２０～図２２は、第３実施形態における、周期Ｔａにおける駆動信号ＣＯＭＢ、検査制御信号ＴＳＩＧ及び残留振動信号ＮＶＴの波形の一例を示す図である。図２０は吐出部６００の温度が２５℃の場合であり、図２１は吐出部６００の温度が１０℃の場合であり、図２２は吐出部６００の温度が４０℃の場合である。比較のために、図２１及び図２２では、２５℃における各信号の波形（図２０の各波形）が点線で表記されている。

図２０～図２２に示されるように、温度が２５℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢと温度が１０℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢとは等しい。また、温度が４０℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢと温度が２５℃であるときの駆動信号ＣＯＭＢとは等しい。そのため、温度が２５℃であるときの残留振動は温度が１０℃であるときの残留振動よりも大きくなり、温度が４０℃であるときの残留振動は温度が２５℃であるときの残留振動よりも大きくなる。その結果、図２１に示されるように、温度が２５℃であるときの残留振動信号ＮＶＴの振幅は、温度が１０℃であるときの残留振動信号ＮＶＴの振幅よりも大きい。また、図２２に示されるように、温度が４０℃であるときの残留振動信号ＮＶＴは、温度が２５℃であるときの残留振動信号ＮＶＴよりも振幅が大きく、かつ、第１波が歪んでる。

そのため、図２２に示されるように、温度が４０℃であるときの検査制御信号ＴＳＩＧと温度が２５℃であるときの検査制御信号ＴＳＩＧとは異なる。具体的には、温度が４０
℃であるときの検査制御信号ＴＳＩＧによる残留振動の検出の開始の指示（第１パルスＰＬ１の立ち上がり）及び終了の指示（第２パルスＰＬ２の立ち上がり）は、温度が２５℃であるときの検査制御信号ＴＳＩＧによる残留振動の検出の開始の指示及び終了の指示よりも遅く行われる。すなわち、温度が４０℃であるときの検査制御信号ＴＳＩＧの第１パルスＰＬ１及び第２パルスＰＬ２は、第１パルスＰＬ１が残留振動信号ＮＶＴの第１波の後ろまで遅れるようにシフトされている。

このように、本実施形態では、吐出部６００の温度（温度信号ＶＴＥＭＰによって示されるヘッド２１の温度）が所定の温度以上の場合には、検査制御信号ＴＳＩＧの第１パルスＰＬ１を残留振動信号ＮＶＴの第１波の後ろまで遅らせることにより、温度によって計測部８２の処理を変える必要がない。なお、当該所定の温度は、例えば、液体吐出装置１の特性評価を行う際に、温度を変えながら残留振動信号ＮＶＴを実測する等して適宜設定すればよい。また、残留振動信号ＮＶＴの実測値に基づき、検査制御信号ＴＳＩＧの第１パルスＰＬ１及び第２パルスＰＬ２のシフト量の情報を不図示の記憶部に記憶させておき、制御部１１１は、当該シフト量の情報に基づいて、第１パルスＰＬ１及び第２パルスＰＬ２をシフトすればよい。

図２３及び図２４は、第３実施形態における計測部８２の動作を説明するためのタイミングチャートである。図２３は吐出部６００の温度が所定の温度未満の場合（例えば図２０又は図２１の場合）であり、残留振動信号ＮＶＴの第１波は歪んでいない。図２４は吐出部６００の温度が所定の温度以上の場合（例えば図２２の場合）であり、残留振動信号ＮＶＴの第１波が歪んでいる。

図２３及び図２４に示されるように、計測部８２は、期間ＴＳ２が開始されて、残留振動信号ＮＶＴの供給が開始されると、残留振動信号ＮＶＴと残留振動信号ＮＶＴの振幅中心レベルの電位である閾値電位Ｖｔｈ２とを比較する。そして、計測部８２は、残留振動信号ＮＶＴの電位が閾値電位Ｖｔｈ２となる場合にハイレベルとなる比較信号Ｃｍｐ２を生成する。

そして、計測部８２は、期間ＴＳ２の開始時刻ｔ０から、比較信号Ｃｍｐ２が最初にローレベルに立ち下がった後にハイレベルに立ち上がる時刻ｔ１までの時間Ｔｐ１を計測する。また、計測部８２は、時刻ｔ１から、比較信号Ｃｍｐ２が次にローレベルに立ち下がった後にハイレベルに立ち上がる時刻ｔ２までの時間Ｔｐ２を計測する。ただし、残留振動信号ＮＶＴに振幅は温度によって大きく変化するため、計測部８２が第１実施形態で説明した振幅判定値Ａｐを出力するためには、閾値電位Ｖｔｈ１，Ｖｔｈ３を温度に応じて変更しなければならず、検査シーケンスの簡単化が妨げられる。そこで、本実施形態では、計測部８２は振幅判定値Ａｐを出力せず、これにより、閾値電位Ｖｔｈ１，Ｖｔｈ３は不要である。

すなわち、判定部８３は、残留振動の位相に対応する時間Ｔｐ１、残留振動の周期に対応する時間Ｔｐ２に基づいて、検査対象の吐出部６００の吐出状態（吐出異常の有無や吐出異常の原因等）を判定する。例えば、判定部８３は、図１３に示した判定論理において、振幅判定値Ａｐが常に「１」であるものとして判定すればよい。

ここで、図２３の例では、計測部８２は、検査制御信号ＴＳＩＧの第１パルスＰＬ１の立ち上がりから残留振動信号ＮＶＴの第２波の開始までの時間を時間Ｔｐ１として計測している。これに対して、図２４の例では、計測部８２は、検査制御信号ＴＳＩＧの第１パルスＰＬ１の立ち上がりから残留振動信号ＮＶＴの第３波の開始までの時間を時間Ｔｐ１として計測している。図２３及び図２４の例では、吐出部６００の温度が所定の温度以上である場合と所定の温度未満である場合とで時間Ｔｐ１が等しくなるように、吐出部６０
０の温度が所定の温度以上である場合の検査制御信号ＴＳＩＧの第１パルスＰＬ１及び第２パルスＰＬ２のタイミングが補正されている。そのため、閾値時間Ｔｔｈ１は温度によらず一定のままでよい。また、図２３の例では、計測部８２は、残留振動信号ＮＶＴの第２波の周期を時間Ｔｐ２として計測している。これに対して、図２４の例では、計測部８２は、残留振動信号ＮＶＴの第３波の周期を時間Ｔｐ２として計測している。吐出部６００において発生する残留振動は、時間の経過とともに減衰するが、振動の周期はほとんど変わらないので、残留振動信号ＮＶＴの第１波と第２波の周期は同じとみなしてよい。そのため、閾値時間Ｔｔｈ２～Ｔｔｈ４も温度によらず一定のままでよい。

なお、図２０～図２４の例では、残留振動信号ＮＶＴの位相は温度によらず同じであるものとして説明したが、残留振動信号ＮＶＴの位相が温度によって変わる場合には、制御部１１１は、時間Ｔｐ１が温度によらず等しくなるように、温度信号ＶＴＥＭＰの値に応じて検査制御信号ＴＳＩＧの第１パルスＰＬ１及び第２パルスＰＬ２のタイミングを変更（補正）すればよい。例えば、液体吐出装置１の特性評価を行う際の実測値に基づき、温度信号ＶＴＥＭＰの値の範囲と検査制御信号ＴＳＩＧのタイミングとの関係を示すテーブル情報を不図示の記憶部に記憶させておき、制御部１１１は、当該テーブル情報と温度信号ＶＴＥＭＰの値とに基づいて、検査制御信号ＴＳＩＧのタイミングを変更すればよい。

以上に説明したように、第３実施形態に係る液体吐出装置１では、制御部１１１が、吐出部６００の温度が所定の温度以上の場合には、検査制御信号ＴＳＩＧの第１パルスＰＬ１（残留振動の開始の指示）のタイミングを残留振動信号ＮＶＴの第１波の後ろまで遅らせることにより、検査回路８０が残留振動信号ＮＶＴの歪みのない第２波以降に対して残留振動の検出を行うことができる。そして、吐出部６００の温度が所定の温度以上のときの検査制御信号ＴＳＩＧの第１パルスＰＬ１のタイミングと残留振動信号ＮＶＴの第２波のタイミングとの時間差は、吐出部６００の温度が所定の温度未満のときの検査制御信号ＴＳＩＧの第１パルスＰＬ１のタイミングと残留振動信号ＮＶＴの第１波のタイミングとの時間差と等しい。また、残留振動信号ＮＶＴの第１波と第２波の周期が等しい。

また、第３実施形態に係る液体吐出装置１では、吐出部６００の温度が所定の温度以上の場合には、検査制御信号ＴＳＩＧの第２パルスＰＬ２（残留振動の終了の指示）のタイミングを遅くすることにより、吐出部６００の温度が所定の温度未満のときと所定の温度以上のときで、検査回路８０による残留振動の検出期間が等しい。

従って、第３実施形態に係る液体吐出装置１によれば、検査回路８０による残留振動の検出から吐出部６００の吐出状態の判定までの検査シーケンスを簡単化することができる。

４．変形例
上記の各実施形態では、検査回路８０はヘッドユニット２０に設けられているが、検査回路８０の少なくとも一部が制御基板１００に設けられていてもよい。例えば、判定部８３が制御基板１００に設けられていてもよい。

また、上記の各実施形態では、検査回路８０の判定部８３が検査対象の吐出部６００の吐出状態の判定を行っているが、検査回路８０が制御部１１１に残留振動信号ＮＶＴを出力し、制御部１１１が残留振動信号ＮＶＴに基づいて当該判定を行ってもよい。

また、上記の各実施形態では、検査対象の吐出部６００が駆動信号ＣＯＭＢによって駆動されてもインクが吐出されないものとして説明したが、駆動信号ＣＯＭＢの振幅を大きくして吐出部６００からインクが吐出されるようにしてもよい。駆動信号ＣＯＭＢの振幅が大きいほど残留振動の振幅が大きくなるため、判定精度が向上する。この場合、例えば
、印刷処理が行われない検査モードにおいて残留振動の検出処理が行われる。

また、上記の各実施形態では、制御基板１００とヘッドユニット２０とは１つのケーブル１９０で接続されているが、複数のケーブルで接続されていてもよい。また、各種信号は、制御基板１００からヘッドユニット２０に無線で送信されてもよい。すなわち、制御基板１００とヘッドユニット２０とはケーブル１９０で接続されていなくてもよい。

また、上記の各実施形態では、駆動回路５０は制御基板１００に設けられているが、ヘッドユニット２０に設けられていてもよい。

また、上記の実施形態では、駆動信号ＣＯＭＡの波形の一部又は全部が選択されて「大ドット」、「中ドット」、「小ドット」、「非記録」に対応する駆動信号ＶＯＵＴが生成され、駆動信号ＣＯＭＢの一部が選択されて「検査」に対応する駆動信号ＶＯＵＴが生成されているが、各圧電素子６０に印加される駆動信号の生成方法はこれに限られず、各種の方法が適用可能である。例えば、複数の駆動信号の波形が組み合わされて、「大ドット」、「中ドット」、「小ドット」、「非記録」、「検査」に対応する駆動信号が生成されてもよい。

また、上記の実施形態では、液体吐出装置として、ヘッドが移動して印刷媒体に印刷を行うシリアルスキャン型（シリアル印刷型）のインクジェットプリンターを例に挙げたが、本発明は、ヘッドが移動せずに印刷媒体に印刷を行うラインヘッド型のインクジェットプリンターにも適用可能である。

以上、本実施形態あるいは変形例について説明したが、本発明はこれら本実施形態あるいは変形例に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の態様で実施することが可能である。例えば、上記の各実施形態および各変形例を適宜組み合わせることも可能である。

本発明は、実施形態で説明した構成と実質的に同一の構成（例えば、機能、方法および結果が同一の構成、あるいは目的および効果が同一の構成）を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成または同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。

１…液体吐出装置、３…移動機構、４…搬送機構、２０…ヘッドユニット、２１…ヘッド、２４…キャリッジ、３１…キャリッジモーター、３２…キャリッジガイド軸、３３…タイミングベルト、４０…プラテン、４１…搬送モーター、４２…搬送ローラー、５０，５０ａ－１～５０ａ－４，５０ｂ－１～５０ｂ－４…駆動回路、６０…圧電素子、７０，７０－１～７０－４…切替回路、８０，８０－１～８０－４…検査回路、８１…波形整形部、８２…計測部、８３…判定部、９０…温度センサー、１００…制御基板、１１０…駆動信号生成部、１１１…制御部、１１２…電源回路、１２０…残留振動検出部、１９０…ケーブル、２２０…選択制御部、２２２…シフトレジスター、２２４…ラッチ回路、２２６…デコーダー、２３０…選択回路、２３２ａ，２３２ｂ，２３２ｃ…インバーター、２３４ａ，２３４ｂ，２３４ｃ…トランスファーゲート、６００…吐出部、６０１…圧電体、６１１，６１２…電極、６２１…振動板、６３１…キャビティー、６３２…ノズルプレート、６４１…リザーバー、６５０…ノズル列、６５０ａ～６５０ｈ…第１ノズル列～第８ノズル列、６５１…ノズル、６６１…供給口

Claims (9)

1. 圧電素子が駆動されることにより液体を吐出する吐出部と、
   前記圧電素子を駆動する駆動信号を生成する駆動信号生成部と、
   前記圧電素子への前記駆動信号の印加後の前記吐出部の残留振動を検出する残留振動検出部と、
   前記残留振動検出部による前記残留振動の検出の開始を指示する検査制御信号を生成する検査制御信号生成部と、
   を備え、
   前記吐出部の温度が第１温度であるときの前記検査制御信号と前記吐出部の温度が前記第１温度よりも低い第２温度であるときの前記検査制御信号とは異なる、
   ことを特徴とする液体吐出装置。
2. 前記吐出部の温度が前記第１温度であるときの前記駆動信号と前記吐出部の温度が前記第２温度であるときの前記駆動信号とは異なる、
   ことを特徴とする請求項１に記載の液体吐出装置。
3. 前記吐出部の温度が前記第１温度であるときの前記駆動信号の振幅は、前記吐出部の温度が前記第２温度であるときの前記駆動信号の振幅よりも小さい、
   ことを特徴する請求項２に記載の液体吐出装置。
4. 前記吐出部の温度が前記第１温度であるときの前記検査制御信号による検出の開始の指示は、前記吐出部の温度が前記第２温度であるときの前記検査制御信号による検出の開始の指示よりも早く行われる、
   ことを特徴する請求項１又は３に記載の液体吐出装置。
5. 前記検査制御信号は、前記残留振動の検出の終了をさらに指示し、
   前記吐出部の温度が前記第１温度であるときの前記検査制御信号による検出の終了の指示は、前記吐出部の温度が前記第２温度であるときの前記検査制御信号による検出の終了
   の指示よりも早く行われる、
   ことを特徴する請求項４に記載の液体吐出装置。
6. 前記検査制御信号は、
   前記駆動信号の変化に依存せず、
   前記吐出部の温度が前記第１温度であるときと、
   前記吐出部の温度が前記第２温度であるときとで異なる、
   ことを特徴とする請求項１に記載の液体吐出装置。
7. 前記吐出部の温度が前記第１温度であるときの前記駆動信号と前記吐出部の温度が前記第２温度であるときの前記駆動信号とは等しく、
   前記吐出部の温度が前記第１温度であるときの前記検査制御信号による検出の開始の指示は、前記吐出部の温度が前記第２温度であるときの前記検査制御信号による検出の開始の指示よりも遅く行われる、
   ことを特徴する請求項１又は６に記載の液体吐出装置。
8. 前記検査制御信号は、前記残留振動の検出の終了をさらに指示し、
   前記吐出部の温度が前記第１温度であるときの前記検査制御信号による検出の終了の指示は、前記吐出部の温度が前記第２温度であるときの前記検査制御信号による検出の終了の指示よりも遅く行われる、
   ことを特徴する請求項７に記載の液体吐出装置。
9. 前記吐出部の温度が前記第１温度であるときの前記残留振動と、
   前記吐出部の温度が前記第２温度であるときの前記残留振動とは等しい、
   ことを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の液体吐出装置。

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