JP7028420B2 - スイッチ制御装置及び方法 - Google Patents

スイッチ制御装置及び方法 Download PDF

Info

Publication number
JP7028420B2
JP7028420B2 JP2020543770A JP2020543770A JP7028420B2 JP 7028420 B2 JP7028420 B2 JP 7028420B2 JP 2020543770 A JP2020543770 A JP 2020543770A JP 2020543770 A JP2020543770 A JP 2020543770A JP 7028420 B2 JP7028420 B2 JP 7028420B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
switch
output
control
processor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2020543770A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2021515447A (ja
Inventor
リー、ギュ－ヨル
Original Assignee
エルジー・ケム・リミテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by エルジー・ケム・リミテッド filed Critical エルジー・ケム・リミテッド
Publication of JP2021515447A publication Critical patent/JP2021515447A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7028420B2 publication Critical patent/JP7028420B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/42—Methods or arrangements for servicing or maintenance of secondary cells or secondary half-cells
    • H01M10/4285—Testing apparatus
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
    • G01R31/3277—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches
    • G01R31/3278—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches of relays, solenoids or reed switches
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
    • G01R31/3277—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16566—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/385—Arrangements for measuring battery or accumulator variables
    • G01R31/387—Determining ampere-hour charge capacity or SoC
    • G01R31/388—Determining ampere-hour charge capacity or SoC involving voltage measurements
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/42—Methods or arrangements for servicing or maintenance of secondary cells or secondary half-cells
    • H01M10/48—Accumulators combined with arrangements for measuring, testing or indicating the condition of cells, e.g. the level or density of the electrolyte
    • H—ELECTRICITY
    • H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02J—CIRCUIT ARRANGEMENTS OR SYSTEMS FOR SUPPLYING OR DISTRIBUTING ELECTRIC POWER; SYSTEMS FOR STORING ELECTRIC ENERGY
    • H02J7/00—Circuit arrangements for charging or depolarising batteries or for supplying loads from batteries
    • H—ELECTRICITY
    • H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02J—CIRCUIT ARRANGEMENTS OR SYSTEMS FOR SUPPLYING OR DISTRIBUTING ELECTRIC POWER; SYSTEMS FOR STORING ELECTRIC ENERGY
    • H02J7/00—Circuit arrangements for charging or depolarising batteries or for supplying loads from batteries
    • H02J7/0063—Circuit arrangements for charging or depolarising batteries or for supplying loads from batteries with circuits adapted for supplying loads from the battery
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/005—Testing of electric installations on transport means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/396—Acquisition or processing of data for testing or for monitoring individual cells or groups of cells within a battery
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/42—Methods or arrangements for servicing or maintenance of secondary cells or secondary half-cells
    • H01M10/425—Structural combination with electronic components, e.g. electronic circuits integrated to the outside of the casing
    • H01M2010/4271—Battery management systems including electronic circuits, e.g. control of current or voltage to keep battery in healthy state, cell balancing
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M2220/00—Batteries for particular applications
    • H01M2220/20—Batteries in motive systems, e.g. vehicle, ship, plane
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M2220/00—Batteries for particular applications
    • H01M2220/30—Batteries in portable systems, e.g. mobile phone, laptop
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/10—Energy storage using batteries

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

本発明は、スイッチ制御装置及び方法に関し、より詳しくは、複数のスイッチを制御する過程で効果的にスイッチを制御することができるスイッチ制御装置及び方法に関する。
本出願は、２０１８年１１月３０日出願の韓国特許出願第１０－２０１８－０１５２７８５号に基づく優先権を主張し、当該出願の明細書及び図面に開示された内容は、すべて本出願に組み込まれる。
近年、ノートパソコン、ビデオカメラ、携帯電話などのような携帯用電子製品の需要が急激に伸び、電気自動車、エネルギー貯蔵用蓄電池、ロボット、衛星などの開発が本格化するにつれて、繰り返して充放電可能な高性能二次電池に対する研究が活発に行われている。
モバイル機器、電気自動車、ハイブリッド自動車、電力貯蔵装置、無停電電源装置などに対する技術開発と需要の増加とともに、エネルギー源としての二次電池の需要も急激に増加している。特に、電気自動車やハイブリッド自動車に適用される二次電池は、高出力、大容量二次電池であって、それに対する研究が活発に行われている。
また、二次電池に対する需要の増加とともに、二次電池関連の周辺部品や装置に対する研究も一緒に行われている。すなわち、複数の二次電池を接続して一つのモジュールにしたセルアセンブリ、セルアセンブリの充放電を制御して各二次電池の状態をモニタリングするＢＭＳ（Ｂａｔｔｅｒｙ Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ Ｓｙｓｔｅｍ）、セルアセンブリとＢＭＳとを一つのパックにしたバッテリーパック、セルアセンブリをモーターのような負荷と接続するスイッチなどの多様な部品と装置に対する研究が行われている。
特に、スイッチは、セルアセンブリと負荷とを接続し、電力の供給を制御するものであって、これに対する多くの研究が行われている。一例として、広く使用されるリチウムイオン二次電池の動作電圧は約３．７Ｖ～４．２Ｖであって、高電圧を提供するためには複数の二次電池を直列で接続してセルアセンブリを構成する。
このようなセルアセンブリとモーターとを接続するスイッチは、電源システムに備えられる。また、前記電源システムは、少なくとも一つのスイッチを選択的に開閉することで、バッテリーと負荷との間の安定的な電源供給を担当する。このような電源システムが車両に備えられる場合、電源システムの安全に関連して、車両の走行中にシステム的な誤謬によってスイッチが開放されることなく閉状態を維持することが重要である。
したがって、当業界では、システム誤謬があっても効果的にスイッチを閉状態に維持できる技術が求められている。このような要求は回路の複雑性を増加させる。
本発明は、上記のような従来技術の背景の下でなされたものであり、複数のスイッチの制御可否を診断し、効果的に複数のスイッチを制御することができる改善されたスイッチ制御装置及び方法を提供することを目的とする。
本発明の他の目的及び長所は、下記の説明によって理解でき、本発明の実施形態によってより明らかに分かるであろう。また、本発明の目的及び長所は、特許請求の範囲に示される手段及びその組合せによって実現することができる。
本発明の一態様によるスイッチ制御装置は、第１スイッチの動作状態を制御する第１制御信号、第２スイッチの動作状態を制御する第２制御信号、及び診断信号を出力するように構成された第１プロセッサと、前記第１スイッチ及び前記第２スイッチの動作状態を検証するための検証信号を出力するように構成された第２プロセッサと、第１制御ラインを通じて前記第１スイッチと接続され、第２制御ラインを通じて前記第２スイッチと接続され、前記第１プロセッサから前記第１制御信号、前記第２制御信号及び前記診断信号を受信し、前記第２プロセッサから前記検証信号を受信し、前記診断信号及び前記検証信号に基づいて、前記第１スイッチ及び前記第２スイッチのそれぞれに前記検証信号または対応する制御信号を出力するように構成された診断部と、前記第１制御ライン及び前記第２制御ラインの電圧を測定し、測定した複数の電圧値を前記第１プロセッサに出力するように構成された電圧測定部とを含む。
前記第１プロセッサは、前記電圧測定部によって測定された複数の電圧値に基づいて前記第１制御ライン及び前記第２制御ラインのそれぞれに流れる信号を検出し、検出された信号に基づいて前記第１スイッチ及び前記第２スイッチを制御可能であるか否かを診断するように構成され得る。
前記診断部は、前記第１プロセッサから前記第２制御信号を受信し、受信した第２制御信号と同じ第１出力値及び前記第１出力値の反転値である第２出力値をそれぞれ出力するように構成されたフリップフロップを含み得る。
前記診断部は、前記第１プロセッサから前記診断信号を受信すれば、受信した診断信号に対応するクロック信号を前記フリップフロップに出力するように構成されたクロック信号出力部を含み得る。
前記診断部は、前記フリップフロップから出力された前記第１出力値及び前記第２出力値、前記第１プロセッサから出力された前記第１制御信号及び前記第２制御信号、及び前記第２プロセッサから出力された前記検証信号を受信し、前記第１出力値及び前記第２出力値に応じて前記第１制御信号及び前記第２制御信号、または前記検証信号を出力するように構成されたバッファ部を含み得る。
前記バッファ部は、前記第１出力値及び前記第２出力値のいずれか一つの出力値の入力を受け、入力を受けた出力値の大きさに応じてそれぞれの動作状態が決定されるように構成された複数のバッファを含むように構成され得る。
前記バッファ部は、前記第１制御信号及び前記第２出力値を受信し、前記第２出力値の大きさに応じて前記第１制御信号の出力が決定されるように構成された第１バッファと、前記検証信号及び前記第１出力値を受信し、前記第１出力値の大きさに応じて前記検証信号の出力が決定されるように構成された第２バッファ及び第３バッファと、前記第２制御信号及び前記第２出力値を受信し、前記第２出力値の大きさに応じて前記第２制御信号の出力が決定されるように構成された第４バッファとを含むように構成され得る。
前記診断部は、前記第１スイッチ及び前記第２スイッチの少なくとも一つと前記バッファ部との間に接続され、前記第２プロセッサから前記検証信号を受信するように構成されたゲート部をさらに含むように構成され得る。
前記ゲート部は、前記第２プロセッサから前記検証信号を受信すれば、前記バッファ部から入力を受けた信号を前記第１スイッチ及び前記第２スイッチのうち接続されたスイッチに出力するように構成され得る。
前記第１プロセッサは、前記第１制御ライン及び前記第２制御ラインで前記検証信号が検出されれば、前記第１スイッチ及び前記第２スイッチが制御可能であると判断するように構成され得る。
前記第１プロセッサは、前記診断信号としてローレベル信号に該当する信号を出力し、前記第１制御ライン及び前記第２制御ラインのそれぞれで検出された信号が直前の検出過程で検出された信号と同一である場合、前記診断部が正常に作動していると判断するように構成され得る。
本発明の他の態様によるＢＭＳは、本発明の一態様によるスイッチ制御装置を含む。
本発明のさらに他の態様によるバッテリーパックは、本発明の一態様によるスイッチ制御装置を含む。
本発明のさらに他の態様によるスイッチ制御方法は、第１スイッチの動作状態を制御する第１制御信号、第２スイッチの動作状態を制御する第２制御信号、及び診断信号を出力する第１信号出力段階と、前記第１スイッチ及び前記第２スイッチの動作状態を検証するための検証信号を出力する第２信号出力段階と、前記診断信号及び前記検証信号に基づいて、前記第１スイッチと接続された第１制御ライン、及び前記第２スイッチと接続された第２制御ラインのそれぞれに前記検証信号または対応する制御信号を出力する第３信号出力段階と、前記第１制御ライン及び前記第２制御ラインに流れる信号を検出する信号検出段階と、前記信号検出段階で検出された信号に基づいて、前記第１スイッチ及び前記第２スイッチを制御可能であるか否かを診断するスイッチ制御状態診断段階を含む。
本発明の一態様によれば、複数のプロセッサを通じて効果的にスイッチの状態を維持することができる。
また、本発明の一態様によれば、診断部を通じて効果的に複数のスイッチの状態を確認してスイッチの状態を維持することができる。
特に、本発明の一実施形態によれば、平常時にもスイッチ制御状態が正常であるか否かを確認することで、効果的にスイッチの状態を維持することができる改善されたスイッチ制御装置及び方法を提供することができる。
外にも本発明は他の多様な効果を有し得、このような本発明の他の効果は後述する詳細な説明によって理解でき、本発明の実施形態からより明らかに分かるであろう。
本明細書に添付される次の図面は、本発明の望ましい実施形態を例示するものであり、発明の詳細な説明とともに本発明の技術的な思想をさらに理解させる役割をするものであるため、本発明は図面に記載された事項だけに限定されて解釈されてはならない。
本発明の一実施形態によるスイッチ制御装置が含まれたバッテリーパックの構成を概略的に示した図である。 本発明の一実施形態によるスイッチ制御装置の構成を概略的に示した図である。 本発明の一実施形態によるスイッチ制御装置の構成を具体的に示した図である。 本発明の一実施形態によるスイッチ制御装置に備えられたフリップフロップの真理値表を示した図である。 本発明の他の実施形態によるスイッチ制御方法を概略的に示したフロー図である。
以下、添付された図面を参照して本発明の望ましい実施形態を詳しく説明する。これに先立ち、本明細書及び請求範囲に使われた用語や単語は通常的や辞書的な意味に限定して解釈されてはならず、発明者自らは発明を最善の方法で説明するために用語の概念を適切に定義できるという原則に則して本発明の技術的な思想に応ずる意味及び概念で解釈されねばならない。
したがって、本明細書に記載された実施形態及び図面に示された構成は、本発明のもっとも望ましい一実施形態に過ぎず、本発明の技術的な思想のすべてを代弁するものではないため、本出願の時点においてこれらに代替できる多様な均等物及び変形例があり得ることを理解せねばならない。
また、本発明の説明において、関連公知構成または機能についての具体的な説明が本発明の要旨を不明瞭にし得ると判断される場合、その詳細な説明は省略する。
明細書の全体において、ある部分がある構成要素を「含む」とするとき、これは特に言及されない限り、他の構成要素を除外するものではなく、他の構成要素をさらに含み得ることを意味する。また、明細書に記載された「プロセッサ」のような用語は、少なくとも一つの機能または動作を処理する単位を意味し、ハードウェア、ソフトウェア、またはハードウェアとソフトウェアとの組合せとして具現され得る。
さらに、明細書の全体において、ある部分が他の部分と「連結（接続）」されるとするとき、これは「直接的な連結（接続）」だけではなく、他の素子を介在した「間接的な連結（接続）」も含む。
図１は、本発明の一実施形態によるスイッチ制御装置が含まれたバッテリーパックの構成を概略的に示した図である。図２は、本発明の一実施形態によるスイッチ制御装置の構成を概略的に示した図である。
図１を参照すると、本発明の一実施形態によるスイッチ制御装置は、制御部１及び電圧測定部４００を含むことができる。より具体的には、図２を参照すると、制御部１は、第１プロセッサ２００、第２プロセッサ３００及び診断部１００を含むことができる。すなわち、本発明の一実施形態によるスイッチ制御装置は、第１プロセッサ２００、第２プロセッサ３００及び診断部１００を含む制御部１、並びに電圧測定部４００を含むことができる。
また、本発明の一実施形態によるスイッチ制御装置は、バッテリーパックに備えられ得る。すなわち、図１の実施形態において、バッテリーパックは、セルアセンブリ１０、第１スイッチ２０及び第２スイッチ３０を含み、車両負荷４０と接続され得る。
ここで、セルアセンブリ１０には一つ以上のバッテリーセルが直列及び／または並列で接続されて備えられ得る。そして、バッテリーセルは、負極端子と正極端子を備え、物理的に分離可能な一つの独立したセルを意味する。一例として、一つのパウチ型リチウムポリマーセルをバッテリーセルとして見なし得る。
また、第１スイッチ２０及び第２スイッチ３０は、セルアセンブリ１０の充放電経路上に備えられたスイッチであり得る。ここで、充放電経路とは、セルアセンブリ１０の充電または放電時に電流が流れる経路であって、バッテリーパックの大電流経路であり得る。例えば、第１スイッチ２０は、セルアセンブリ１０の正極端子と車両負荷４０との間の充放電経路上に備えられ得る。また、第２スイッチ３０は、セルアセンブリ１０の負極端子と車両負荷４０との間の充放電経路上に備えられ得る。
例えば、図１の実施形態において、本発明の一実施形態によるスイッチ制御装置は、バッテリーパックに備えられた第１スイッチ２０及び第２スイッチ３０の開閉動作を制御することができる。具体的には、スイッチ制御装置は、第１制御ラインＬ１を通じて第１スイッチ２０と接続され、第２制御ラインＬ２を通じて第２スイッチ３０と接続され得る。
また、スイッチ制御装置は、第１スイッチ２０及び第２スイッチ３０が制御可能であるか否かを診断することができる。以下、スイッチ制御装置のそれぞれの構成について具体的に説明する。
第１プロセッサ２００は、第１スイッチ２０の動作状態を制御する第１制御信号Ｓ１、第２スイッチ３０の動作状態を制御する第２制御信号Ｓ２、及び診断信号Ｓ３を出力するように構成され得る。
第１制御信号Ｓ１は、第１スイッチ２０の開閉動作を制御するため第１プロセッサ２００が出力する信号であり得る。第１制御信号Ｓ１は、第１スイッチ２０の動作状態を切り換えるための電圧値を有する信号であり得る。例えば、第１スイッチ２０を閉状態に切り換えるための臨界電圧が５Ｖである場合、第１制御信号Ｓ１は、第１スイッチ２０を閉状態に切り換えるため５Ｖの電圧値を有する信号であり得る。
また、第２制御信号Ｓ２は、第２スイッチ３０の開閉動作を制御するため第１プロセッサ２００が出力する信号であり得る。第２制御信号Ｓ２は、第２スイッチ３０の動作状態を切り換えるための電圧値を有する信号であり得る。例えば、第２スイッチ３０を閉状態に切り換えるための臨界電圧が５Ｖである場合、第２制御信号Ｓ２は、第２スイッチ３０を閉状態に切り換えるため５Ｖの電圧値を有する信号であり得る。
診断信号Ｓ３は、第１スイッチ２０及び第２スイッチ３０を制御する制御動作が正常に動作するか否かを診断するため第１プロセッサ２００が出力する信号であり得る。例えば、第１プロセッサ２００から診断信号Ｓ３が出力されれば、本発明による診断プロセスが行われ得る。ここで、診断信号Ｓ３は、予め指定された電圧値を有する信号であり得る。
例えば、図２の実施形態において、第１プロセッサ２００は、診断部１００と電気的に接続され得る。そして、第１プロセッサ２００は、第１制御信号Ｓ１、第２制御信号Ｓ２及び診断信号Ｓ３を診断部１００に出力し得る。
第２プロセッサ３００は、前記第１スイッチ２０及び前記第２スイッチ３０の動作状態を検証するための検証信号Ｓ４を出力するように構成され得る。
検証信号Ｓ４は、前記第１スイッチ２０及び前記第２スイッチ３０を制御可能であるか否かを診断する過程で、スイッチを制御可能であるか否かを検証するための信号であり得る。
望ましくは、検証信号Ｓ４は、予め指定された電圧値を有する信号であり得る。より望ましくは、検証信号Ｓ４は、第１制御信号Ｓ１及び第２制御信号Ｓ２と相異なる電圧値を有する信号であり得る。
図２の実施形態において、第２プロセッサ３００は、診断部１００と接続され得る。そして、第２プロセッサ３００は、診断部１００に検証信号Ｓ４を出力し得る。
例えば、上述した実施形態と同様に、第１制御信号Ｓ１及び第２制御信号Ｓ２が５Ｖの電圧値を有する信号であると仮定する。検証信号Ｓ４は、第１制御信号Ｓ１及び第２制御信号Ｓ２と相異なる３Ｖの電圧値を有する信号であり得る。このとき、望ましくは、診断信号Ｓ３の電圧値は、第１制御信号Ｓ１、第２制御信号Ｓ２及び検証信号Ｓ４の電圧値によって制限されなくてもよい。
例えば、図２の実施形態において、第１プロセッサ２００と第２プロセッサ３００とは互いに接続され得る。第１プロセッサ２００は、第２プロセッサ３００に検証信号Ｓ４の出力を命令し、命令を受信した第２プロセッサ３００は検証信号Ｓ４を出力し得る。
他の例として、第２プロセッサ３００は、第１プロセッサ２００から検証信号Ｓ４の出力に関する命令を受信しなくても、診断部１００に検証信号Ｓ４を出力し得る。
診断部１００は、第１制御ラインＬ１を通じて前記第１スイッチ２０と接続され、第２制御ラインＬ２を通じて前記第２スイッチ３０と接続されるように構成され得る。すなわち、制御部１は、診断部１００を通じて第１スイッチ２０及び第２スイッチ３０と接続され得る。
例えば、図２の実施形態において、診断部１００は、第１制御ラインＬ１を通じて第１スイッチ２０と接続され、第２制御ラインＬ２を通じて第２スイッチ３０と接続され得る。
診断部１００は、前記第１プロセッサ２００から前記第１制御信号Ｓ１、前記第２制御信号Ｓ２及び前記診断信号Ｓ３を受信し、前記第２プロセッサ３００から前記検証信号Ｓ４を受信するように構成され得る。
例えば、図２の実施形態において、診断部１００は、第１プロセッサ２００及び第２プロセッサ３００と接続され得る。そして、診断部１００は、第１プロセッサ２００から第１制御信号Ｓ１、第２制御信号Ｓ２及び診断信号Ｓ３を受信し得る。また、診断部１００は、第２プロセッサ３００から検証信号Ｓ４を受信し得る。
診断部１００は、前記診断信号Ｓ３及び前記検証信号Ｓ４に基づいて、前記第１スイッチ２０及び前記第２スイッチ３０のそれぞれに前記検証信号Ｓ４または対応する制御信号を出力するように構成され得る。
具体的には、診断部１００は、診断信号Ｓ３及び検証信号Ｓ４に応じて第１制御信号Ｓ１及び第２制御信号Ｓ２、または検証信号Ｓ４を出力し得る。より具体的には、診断部１００は、診断信号Ｓ３及び検証信号Ｓ４に応じて、第１スイッチ２０に第１制御信号Ｓ１または検証信号Ｓ４を出力し、第２スイッチ３０に第２制御信号Ｓ２または検証信号Ｓ４を出力し得る。
例えば、図２の実施形態において、診断部１００は、第１出力信号ＣＳ１を第１スイッチ２０に出力し、第２出力信号ＣＳ２を第２スイッチ３０に出力し得る。ここで、第１出力信号ＣＳ１は、第１制御信号Ｓ１または検証信号Ｓ４であり得る。また、第２出力信号ＣＳ２は、第２制御信号Ｓ２または検証信号Ｓ４であり得る。
電圧測定部４００は、前記第１制御ラインＬ１及び前記第２制御ラインＬ２の電圧を測定するように構成され得る。
具体的には、電圧測定部４００は、第１制御ラインＬ１及び第２制御ラインＬ２と電気的に接続され、第１制御ラインＬ１及び第２制御ラインＬ２の電圧をそれぞれ測定し得る。より具体的には、電圧測定部４００は、第１制御ラインＬ１及び第２制御ラインＬ２から受信した電気的信号に基づいて第１制御ラインＬ１及び第２制御ラインＬ２の電圧をそれぞれ測定し得る。
例えば、図１及び図２の実施形態において、電圧測定部４００は、第１制御ラインＬ１及び第２制御ラインＬ２とそれぞれ電気的に接続され得る。そして、電圧測定部４００は、第１制御ラインＬ１及び第２制御ラインＬ２の電圧を測定し得る。
また、電圧測定部４００は、測定した複数の電圧値を前記第１プロセッサ２００に出力するように構成され得る。
具体的には、電圧測定部４００は、電気的信号を送受信できるように第１プロセッサ２００と電気的に接続され得る。望ましくは、電圧測定部４００は、第１プロセッサ２００の統制下で時間間隔を置いて第１制御ラインＬ１及び第２制御ラインＬ２と基準接地との間の電位差をそれぞれ測定し、測定した電圧値を示す信号を第１プロセッサ２００に出力し得る。電圧測定部４００は、当業界で一般に使用される電圧測定回路を用いて具現され得る。
例えば、図１及び図２の実施形態において、電圧測定部４００は、測定した第１制御ラインＬ１の電圧値及び第２制御ラインＬ２の電圧値を第１プロセッサ２００に出力し得る。
前記第１プロセッサ２００は、前記電圧測定部４００によって測定された複数の電圧値に基づいて前記第１制御ラインＬ１及び前記第２制御ラインＬ２のそれぞれに流れる信号を検出するように構成され得る。
上述したように、第１制御信号Ｓ１の電圧値と第２制御信号Ｓ２の電圧値とは同一に設定され、第１制御信号Ｓ１の電圧値と検証信号Ｓ４の電圧値とは相異なるように設定され得る。したがって、第１プロセッサ２００は、電圧測定部４００から受信した第１制御ラインＬ１の電圧値に基づいて第１制御ラインＬ１に流れる信号の種類を検出し得る。また、第１プロセッサ２００は、電圧測定部４００から受信した第２制御ラインＬ２の電圧値に基づいて第２制御ラインＬ２に流れる信号の種類を検出し得る。
例えば、上述した実施形態と同様に、第１制御信号Ｓ１及び第２制御信号Ｓ２の電圧値は５Ｖであり、検証信号Ｓ４の電圧値は３Ｖであると仮定する。第１プロセッサ２００が電圧測定部４００から受信した第１制御ラインＬ１の電圧値と第２制御ラインの電圧値が３Ｖであれば、第１プロセッサ２００は、第１制御ラインＬ１と第２制御ラインＬ２に検証信号Ｓ４が流れていると判断することができる。すなわち、第１プロセッサ２００は、診断部１００から出力された第１出力信号ＣＳ１及び第２出力信号ＣＳ２が全て検証信号Ｓ４であると判断することができる。
第１プロセッサ２００は、検出された信号に基づいて前記第１スイッチ２０及び前記第２スイッチ３０を制御可能であるか否かを診断するように構成され得る。
具体的には、第１プロセッサ２００は、前記第１制御ラインＬ１及び前記第２制御ラインＬ２で前記検証信号Ｓ４が検出されれば、前記第１スイッチ２０及び前記第２スイッチ３０が制御可能であると判断するように構成され得る。
例えば、第１プロセッサ２００が第１制御信号Ｓ１、第２制御信号Ｓ２及び診断信号Ｓ３を診断部１００に出力し、第２プロセッサ３００に検証信号Ｓ４の出力を命令したと仮定する。診断部１００は、第１プロセッサ２００から第１制御信号Ｓ１、第２制御信号Ｓ２及び診断信号Ｓ３を受信し、第２プロセッサ３００から検証信号Ｓ４を受信し得る。そして、診断部１００は、受信した検証信号Ｓ４及び診断信号Ｓ３の電圧値に基づいて、第１出力信号ＣＳ１として検証信号Ｓ４を出力し、第２出力信号ＣＳ２として検証信号Ｓ４を出力し得る。第１プロセッサ２００は、電圧測定部４００によって測定された複数の電圧値（第１制御ラインＬ１の電圧値及び第２制御ラインＬ２の電圧値）に基づいて、第１制御ラインＬ１及び第２制御ラインＬ２に検証信号Ｓ４が流れることを検出し得る。この場合、第１プロセッサ２００は、第１スイッチ２０及び第２スイッチ３０が制御可能であると判断することができる。
他の例として、診断部１００の第１出力信号ＣＳ１として第１制御信号Ｓ１が出力され、第２出力信号ＣＳ２として第２制御信号Ｓ２が出力されたと仮定する。この場合、第１制御信号Ｓ１は第１スイッチ２０に入力され、第２制御信号Ｓ２は第２スイッチ３０に入力され得る。結果的に、第１スイッチ２０は第１制御信号Ｓ１に対応するように動作状態が制御され、第２スイッチ３０は第２制御信号Ｓ２に対応するように動作状態が制御され得る。
本発明の一実施形態によるスイッチ制御装置は、複数の信号を受信する診断部１００の出力結果に基づいて複数のスイッチ２０、３０を正常に制御可能であるか否かを診断することができる。結果的に、スイッチ制御装置は、スイッチを正常に制御可能であるか否かを診断することで、スイッチを正常に制御できない突然の状況で発生し得る事故を予め防止することができる。
以下、図３を参照して診断部１００の構成についてより具体的に説明する。
図３は、本発明の一実施形態によるスイッチ制御装置の構成を具体的に示した図である。
図３を参照すると、診断部１００は、クロック信号出力部１２０、フリップフロップ１１０、バッファ部１３０及びゲート部１４０を含むことができる。
ここで、フリップフロップ１１０は、１ビットの情報を保存及び維持できる論理回路であり得る。例えば、フリップフロップ１１０は、クロック端子Ｃｌｋを通じて入力されるクロック信号Ｃの立ち上がりエッジでデータ端子Ｄを通じて入力されるデータ信号を保持するＤフリップフロップであり得る。外にも、フリップフロップ１１０としては、ＲＳフリップフロップ、ＪＫフリップフロップまたはＴフリップフロップが適用され得る。以下、説明の便宜上、フリップフロップ１１０がＤフリップフロップであるとして説明する。
クロック信号出力部１２０は、前記第１プロセッサ２００から前記診断信号Ｓ３を受信するように構成され得る。
例えば、図３の実施形態において、第１プロセッサ２００とクロック信号出力部１２０とは接続され得る。そして、第１プロセッサ２００から出力された診断信号Ｓ３がクロック信号出力部１２０に入力され得る。
クロック信号出力部１２０は、受信した診断信号Ｓ３に対応するクロック信号Ｃを前記フリップフロップ１１０に出力するように構成され得る。
望ましくは、クロック信号出力部１２０は、第１プロセッサ２００から診断信号Ｓ３を受信すれば、受信した診断信号Ｓ３の大きさ（信号レベル）に対応するクロック信号Ｃを出力するように構成され得る。
例えば、図３の実施形態において、クロック信号出力部１２０から出力されたクロック信号Ｃはフリップフロップ１１０のクロック端子Ｃｌｋに入力され得る。
ただし、図３には診断部１００にクロック信号出力部１２０が備えられた実施形態が示されたが、診断部１００にはクロック信号出力部１２０が選択的に備えられてもよい。すなわち、他の実施形態の診断部１００にはクロック信号出力部１２０が備えられないこともあり得る。この場合、第１プロセッサ２００から出力された診断信号Ｓ３がクロック信号Ｃであり得る。例えば、第１プロセッサ２００から出力された診断信号Ｓ３がフリップフロップ１１０のクロック端子Ｃｌｋに入力され得る。
フリップフロップ１１０は、前記第１プロセッサ２００から前記第２制御信号Ｓ２を受信するように構成され得る。すなわち、フリップフロップ１１０は、データ端子Ｄで第２制御信号Ｓ２の入力を受け、クロック端子Ｃｌｋでクロック信号Ｃの入力を受け得る。
フリップフロップ１１０は、受信した第２制御信号Ｓ２と同じ第１出力値Ｑ１及び前記第１出力値Ｑ１の反転値である第２出力値Ｑ２をそれぞれ出力するように構成され得る。
図４は、本発明の一実施形態によるスイッチ制御装置に備えられたフリップフロップ１１０の真理値表を示した図である。
図４に示されたフリップフロップ１１０の真理値表において、Ｈはクロック端子Ｃｌｋまたはデータ端子Ｄにハイレベル信号が入力されたことを意味する。Ｌは、クロック端子Ｃｌｋまたはデータ端子Ｄにローレベル信号が入力されたか、または、信号が入力されていないことを意味する。Ｘは、データ端子Ｄへの第２制御信号Ｓ２の入力と関係がないことを意味する。すなわち、クロック信号ＣがＬであるときは、フリップフロップ１１０の出力結果がデータ端子Ｄに入力された第２制御信号Ｓ２と無関係であり得る。
例えば、図４の真理値表において、１はローレベル信号であるクロック信号Ｃがクロック端子Ｃｌｋに入力された場合である。２は、ハイレベル信号であるクロック信号Ｃがクロック端子Ｃｌｋに入力され、ハイレベル信号である第２制御信号Ｓ２がデータ端子Ｄに入力された場合である。３は、ハイレベル信号であるクロック信号Ｃがクロック端子Ｃｌｋに入力され、ローレベル信号である第２制御信号Ｓ２がデータ端子Ｄに入力された場合である。
また、フリップフロップ１１０のクロック端子Ｃｌｋに入力されたクロック信号Ｃのレベルに応じて、第１出力端子Ｑ及び第２出力端子Ｑ'から出力される信号が変更され得る。
例えば、図４に示された１の場合、フリップフロップ１１０は、第１出力端子Ｑを通じて以前順次に出力された第１出力値Ｑ１を出力し、第２出力端子Ｑ'を通じて以前順次に出力された第２出力値Ｑ２を出力し得る。
他の例として、図４に示された２の場合、フリップフロップ１１０は、第１出力端子Ｑを通じて第２制御信号Ｓ２と同じ値の第１出力値Ｑ１を出力し、第２出力端子Ｑ'を通じて第１出力値Ｑ１の反転値である第２出力値Ｑ２を出力し得る。
さらに他の例として、図４に示された３の場合、フリップフロップ１１０は、第１出力端子Ｑを通じて第２制御信号Ｓ２の反転値である第１出力値Ｑ１を出力し、第２出力端子Ｑ'を通じて第１出力値Ｑ１の反転値である第２出力値Ｑ２を出力し得る。
図１の実施形態において、第１スイッチ２０及び第２スイッチ３０の動作状態がターンオン状態であり、車両負荷４０がセルアセンブリ１０から電力の供給を受ける状況を仮定する。第１スイッチ２０または第２スイッチ３０の動作状態が突然ターンオフ状態に切り換えられれば、車両負荷４０への電力供給が急に遮断されるため、車両に損傷が生じ得る。また、この場合、急に車両が停止することで事故につながるおそれがある。
このように第１スイッチ２０または第２スイッチ３０の動作状態が突然ターンオフ状態に切り換えられる場合は、第１プロセッサ２００が予期せず終了される場合であり得る。すなわち、第１プロセッサ２００が急にシャットダウンされれば、第１制御信号Ｓ１及び第２制御信号Ｓ２が診断部１００に入力されなくなり得る。この場合、第１スイッチ２０及び第２スイッチ３０の動作状態がターンオフ状態に切り換えられることを防止するため、フリップフロップ１１０が動作され得る。すなわち、第１プロセッサ２００が急にシャットダウンされた場合は、図４の真理値表のうち１の状況が発生した場合であって、フリップフロップ１１０には以前に出力された第１出力値Ｑ１及び第２出力値Ｑ２が維持され得る。すなわち、第１プロセッサ２００がリセットされる間にも診断部１００から出力される信号が同じく維持されることで、バッテリーパックを含む車両のような負荷の駆動電力に突然の変化が発生することを防止することができる。その後、第１プロセッサ２００がリセットされて第１制御信号Ｓ１及び第２制御信号Ｓ２を出力すれば、第１スイッチ２０及び第２スイッチ３０の動作状態はターンオン状態を維持することができる。
すなわち、本発明の一実施形態によるスイッチ制御装置は、フリップフロップ１１０が備えられた診断部１００を含むことで、第１メインリレーの予期せぬリセット状況でも複数のスイッチ２０、３０の動作状態を維持することができる。したがって、スイッチの動作状態が突然に切り換えられることによる事故を予め防止することができる。
バッファ部１３０は、前記フリップフロップ１１０から出力された前記第１出力値Ｑ１及び前記第２出力値Ｑ２、前記第１プロセッサ２００から出力された前記第１制御信号Ｓ１及び前記第２制御信号Ｓ２、及び前記第２プロセッサ３００から出力された前記検証信号Ｓ４を受信するように構成され得る。
例えば、図３の実施形態において、バッファ部１３０は、第１プロセッサ２００から第１制御信号Ｓ１及び第２制御信号Ｓ２を受信し得る。また、バッファ部１３０は、第２プロセッサ３００から検証信号Ｓ４を受信し得る。また、バッファ部１３０は、フリップフロップ１１０の第１出力端子Ｑから出力された第１出力値Ｑ１及び第２出力端子Ｑ'から出力された第２出力値Ｑ２を受信し得る。
また、バッファ部１３０は、前記第１出力値Ｑ１及び前記第２出力値Ｑ２に基づいて前記第１制御信号Ｓ１及び前記第２制御信号Ｓ２、または前記検証信号Ｓ４を出力するように構成され得る。
望ましくは、バッファ部１３０は、第１出力値Ｑ１及び第２出力値Ｑ２の大きさ（信号レベル）に応じて、第１出力信号ＣＳ１として第１制御信号Ｓ１または検証信号Ｓ４を出力し、第３出力信号ＣＳ３として第２制御信号Ｓ２または検証信号Ｓ４を出力し得る。
より望ましくは、バッファ部１３０は、第１出力信号ＣＳ１として第１制御信号Ｓ１を出力するとき、第３出力信号ＣＳ３として第２制御信号Ｓ２を出力し得る。そして、バッファ部１３０は、第１出力信号ＣＳ１として検証信号Ｓ４を出力するとき、第３出力信号ＣＳ３として検証信号Ｓ４を出力し得る。
より具体的には、バッファ部１３０は複数のバッファを含むように構成され得る。
バッファ部１３０に含まれた複数のバッファは、前記第１出力値Ｑ１及び前記第２出力値Ｑ２のいずれか一つの出力値の入力を受け、入力を受けた出力値の大きさに応じてそれぞれの動作状態が決定されるように構成され得る。
フリップフロップ１１０から出力された第１出力値Ｑ１または第２出力値Ｑ２は、複数のバッファに入力され得る。そして、第１出力値Ｑ１または第２出力値Ｑ２が対応するバッファの動作電源に該当し得る。例えば、ハイレベル信号の入力を受けたバッファは動作し、ローレベル信号の入力を受けたバッファは動作しなくなり得る。
すなわち、フリップフロップ１１０の出力結果によってバッファ部１３０に含まれた複数のバッファの動作状態が決定され得る。具体的には、フリップフロップ１１０の出力結果はフリップフロップ１１０に入力されるクロック信号Ｃに影響を受けるため、第１プロセッサ２００から出力された診断状態に基づいて複数のバッファの動作状態が決定され得る。
例えば、バッファ部１３０は、第１バッファ、第２バッファ、第３バッファ及び第４バッファを含み得る。
第１バッファは、前記第１制御信号Ｓ１及び前記第２出力値Ｑ２を受信し、前記第２出力値Ｑ２の大きさ（信号レベル）に応じて前記第１制御信号Ｓ１の出力が決定されるように構成され得る。
第２バッファ及び第３バッファは、前記検証信号Ｓ４及び前記第１出力値Ｑ１を受信し、前記第１出力値Ｑ１の大きさ（信号レベル）に応じて前記検証信号Ｓ４の出力が決定されるように構成され得る。
第４バッファは、前記第２制御信号Ｓ２及び前記第２出力値Ｑ２を受信し、前記第２出力値Ｑ２の大きさ（信号レベル）に応じて前記第２制御信号Ｓ２の出力が決定されるように構成され得る。
ゲート部１４０は、前記第１スイッチ２０及び前記第２スイッチ３０の少なくとも一つと前記バッファ部１３０との間に接続されるように構成され得る。
具体的には、ゲート部１４０は、バッファの役割を果たし得る。望ましくは、第２プロセッサ３００から出力される検証信号Ｓ４は遅延時間を有する信号であり得る。すなわち、第２プロセッサ３００は、信号遅延時間を決定し、決定された信号遅延時間を有する検証信号Ｓ４を生成して出力するように構成され得る。例えば、第２プロセッサ３００で信号遅延時間を３秒と決定し、決定された３秒の遅延時間を有する検証信号Ｓ４を生成して出力し得る。そして、検証信号Ｓ４がゲート部１４０に入力されれば、ゲート部１４０で信号が出力されるまで３秒がかかり得る。
望ましくは、診断部１００は、一つ以上のゲート部１４０を含み得る。すなわち、ゲート部１４０は、第１制御ラインＬ１及び／または第２制御ラインＬ２上に配置され得る。ゲート部１４０は、バッファの役割を果たすため、ゲート部１４０が配置された制御ラインには検証信号Ｓ４に設定された時間だけの信号遅延が生じ得る。
例えば、ゲート部１４０で信号遅延が発生する間、ゲート部１４０に接続されたスイッチの動作状態が維持され得る。したがって、上述した例と同様に、第１プロセッサ２００が急にリセットされる間にも、フリップフロップ１１０による以前信号の維持及びゲート部１４０による信号遅延によってスイッチの動作状態を維持することができる。
以下、説明の便宜上、図３の実施形態と同様に第２制御ラインＬ２のみにゲート部１４０が配置されたことにして説明する。
例えば、図３のゲート部１４０は、バッファ部１３０と第２スイッチ３０との間に接続され、バッファ部１３０から第３出力信号ＣＳ３を受信し得る。また、ゲート部１４０は、第２制御ラインＬ２に第２出力信号ＣＳ２を出力し得る。
具体的な例として、バッファ部１３０に含まれた第１バッファ及び第２バッファは第１制御ラインＬ１と接続され、第３バッファ及び第４バッファは第２制御ラインＬ２に配置されたゲート部１４０と接続され得る。他の例として、第１制御ラインＬ１のみにゲート部１４０が備えられた場合、バッファ部１３０に含まれた第１バッファ及び第２バッファは第１制御ラインＬ１に配置されたゲート部１４０と接続され、第３バッファ及び第４バッファは第２制御ラインＬ２と接続され得る。
また、ゲート部１４０は、前記第２プロセッサ３００から前記検証信号Ｓ４を受信するように構成され得る。
望ましくは、ゲート部１４０は、前記第２プロセッサ３００から前記検証信号Ｓ４の入力を受ければ、前記バッファ部１３０から入力を受けた第３出力信号ＣＳ３を前記第２制御ラインＬ２に出力するように構成され得る。
すなわち、ゲート部１４０は、第２プロセッサ３００から検証信号Ｓ４の入力を受ければ、ゲート部１４０は前記第２出力信号ＣＳ２として前記バッファ部１３０から入力を受けた第３出力信号ＣＳ３を出力し得る。この場合、診断部１００から第２制御ラインＬ２を通じて出力される第２出力信号ＣＳ２は、バッファ部１３０がゲート部１４０に出力した第３出力信号ＣＳ３であり得る。
例えば、図３の実施形態において、ゲート部１４０は、ハイレベル信号である検証信号Ｓ４の入力を受ければ、バッファ部１３０から入力を受けた第２制御信号Ｓ２または検証信号Ｓ４を第２制御ラインＬ２に出力し得る。逆に、ゲート部１４０は、ローレベル信号である検証信号Ｓ４の入力を受ければ、バッファ部１３０から入力を受けた第２制御信号Ｓ２または検証信号Ｓ４を第２制御ラインＬ２に出力しないこともできる。
例えば、バッファ部１３０から出力された第１出力信号ＣＳ１が第１制御信号Ｓ１であり、第３出力信号ＣＳ３が第２制御信号Ｓ２であると仮定する。バッファ部１３０から出力された第１出力信号ＣＳ１は、第１制御ラインＬ１を通じて第１スイッチ２０に入力され得る。そして、検証信号Ｓ４がハイレベル信号であれば、バッファ部１３０から出力された第３出力信号ＣＳ３は、ゲート部１４０及び第２制御ラインＬ２を通じて第２スイッチ３０に入力され得る。
他の例として、バッファ部１３０から出力された第１出力信号ＣＳ１及び第３出力信号ＣＳ３が全て検証信号Ｓ４であると仮定する。バッファ部１３０から出力された第１出力信号ＣＳ１は、第１制御ラインＬ１を通じて第１スイッチ２０に入力され得る。そして、検証信号Ｓ４がハイレベル信号であれば、バッファ部１３０から出力された第３出力信号ＣＳ３は、ゲート部１４０及び第２制御ラインＬ２を通じて第２スイッチ３０に入力され得る。
以下、第１プロセッサ２００のリセット状況を仮定して診断部１００の正常動作如何を判断する実施形態を説明する。
前記第１プロセッサ２００は、前記診断信号Ｓ３としてローレベル信号に該当する信号を出力するように構成され得る。
すなわち、第１プロセッサ２００は、リセット状況を仮定するため、ローレベル信号に該当する診断信号Ｓ３を出力し得る。図４の真理値表を参照すると、１の場合に診断部１００の出力がそのまま維持されるかを診断するため、第１プロセッサ２００のリセット状況を仮定するので、第１プロセッサ２００はローレベル信号に該当する診断信号Ｓ３を出力し得る。
その後、第１プロセッサ２００は、前記第１制御ラインＬ１及び前記第２制御ラインＬ２のそれぞれで検出された信号が直前の検出過程で検出された信号と同一である場合、前記診断部１００が正常に動作していると判断するように構成され得る。
望ましくは、診断部１００が正常に動作しているとき、第１プロセッサ２００から出力された診断信号Ｓ３がローレベル信号であれば、第１制御ラインＬ１及び第２制御ラインＬ２では直前の信号検出過程で検出された信号と同じ信号が検出され得る。
例えば、直前の信号検出過程で第１制御ラインＬ１及び第２制御ラインＬ２で検証信号Ｓ４が検出されたと仮定する。第１プロセッサ２００が診断信号Ｓ３としてローレベル信号を出力すれば、フリップフロップ１１０から出力される第１出力値Ｑ１及び第２出力値Ｑ２は直前の信号検出過程でフリップフロップ１１０から出力された値と同一であり得る。そして、第２プロセッサ３００から出力された検証信号Ｓ４がバッファ部１３０及びゲート部１４０を経て、第１制御ラインＬ１及び第２制御ラインＬ２上に流れ得る。望ましくは、検証信号Ｓ４の信号レベルは、第１スイッチ２０及び第２スイッチ３０の動作状態をターンオン状態に維持できる大きさを有し得る。したがって、第１プロセッサ２００がローレベル信号を出力する場合、すなわち、第１プロセッサ２００がリセットされるなどの状況でも、第１スイッチ２０及び第２スイッチ３０の動作状態を維持することができる。
したがって、第１プロセッサ２００は、ローレベル信号に該当する診断信号Ｓ３を出力した後、直前の信号検出過程と現在の信号検出過程とで同じ信号が検出された場合、診断部１００が正常に動作していると判断することができる。この場合、第１プロセッサ２００は、診断部１００が正常に動作するため、診断部１００と接続された第１スイッチ２０及び第２スイッチ３０を正常に制御可能であると判断することができる。
すなわち、本発明の一実施形態によるスイッチ制御装置は、第１制御ラインＬ１及び第２制御ラインＬ２に検証信号Ｓ４が検出されるか否かによって複数のスイッチ２０、３０の制御可否を判断でき、第１プロセッサ２００のリセット状況を仮定して複数のスイッチ２０、３０の制御可否もさらに判断することができる。したがって、スイッチ制御装置は、多様な面から診断部１００の正常動作如何及び複数のスイッチ２０、３０の制御可否を診断することができる。
結果的に、スイッチ制御装置によるこのような診断の結果として診断部１００の正常動作及びスイッチの正常制御を保障できるため、第１プロセッサ２００がリセットされるなどの予期せぬ状況でも複数のスイッチ２０、３０の動作状態を維持することができる。したがって、複数のスイッチ２０、３０の動作状態が突然に切り換えられることで生じ得る事故などを予め防止することができる。
本発明によるスイッチ制御装置は、ＢＭＳに適用できる。すなわち、本発明によるＢＭＳは、上述した本発明によるスイッチ制御装置を含むことができる。このような構成において、本発明によるスイッチ制御装置の各構成要素のうち少なくとも一部は、従来ＢＭＳに含まれた構成の機能を補完または追加することで具現され得る。例えば、本発明によるスイッチ制御装置のプロセッサ及びメモリデバイスは、ＢＭＳの構成要素として具現され得る。
また、本発明によるスイッチ制御装置は、バッテリーパックに備えることができる。例えば、図１の実施形態のように、本発明の一実施形態によるスイッチ制御装置はバッテリーパックに含まれ得る。ここで、バッテリーパックは、電装品（ＢＭＳ、リレー、ヒューズなど）及びケースなどをさらに含み得る。
図５は、本発明の他の実施形態によるスイッチ制御方法を概略的に示したフロー図である。スイッチ制御方法の各段階はスイッチ制御装置によって実行できる。
図５を参照すると、本発明の他の実施形態によるスイッチ制御方法は、第１信号出力段階Ｓ１００、第２信号出力段階Ｓ２００、第３信号出力段階Ｓ３００、信号検出段階Ｓ４００及びスイッチ制御状態診断段階Ｓ５００を含むことができる。
第１信号出力段階Ｓ１００は、第１スイッチ２０の動作状態を制御する第１制御信号Ｓ１、第２スイッチ３０の動作状態を制御する第２制御信号Ｓ２、及び診断信号Ｓ３を出力する段階であって、第１プロセッサ２００よって実行できる。
図２を参照すると、第１プロセッサ２００は、第１制御信号Ｓ１、第２制御信号Ｓ２及び診断信号Ｓ３を診断部１００に出力し得る。
より具体的には、図３を参照すると、第１プロセッサ２００は、第１制御信号Ｓ１をバッファ部１３０に出力し、第２制御信号Ｓ２をフリップフロップ１１０及びバッファ部１３０に出力し、診断信号Ｓ３をクロック信号出力部１２０に出力し得る。
他の例として、診断部１００にクロック信号出力部１２０が備えられていない場合、第１プロセッサ２００は、診断信号Ｓ３をフリップフロップ１１０に出力し、出力された診断信号Ｓ３はクロック端子Ｃｌｋに入力され得る。
第２信号出力段階Ｓ２００は、前記第１スイッチ２０及び前記第２スイッチ３０の動作状態を検証するための検証信号Ｓ４を出力する段階であって、第２プロセッサ３００よって実行できる。
図２を参照すると、第２プロセッサ３００は、検証信号Ｓ４を診断部１００に出力し得る。
より具体的には、図３を参照すると、第２プロセッサ３００は、検証信号Ｓ４をバッファ部１３０及びゲート部１４０に出力し得る。
第３信号出力段階Ｓ３００は、前記診断信号Ｓ３及び前記検証信号Ｓ４に基づいて、前記第１スイッチ２０と接続された第１制御ラインＬ１及び前記第２スイッチ３０と接続された第２制御ラインＬ２のそれぞれに前記検証信号Ｓ４または対応する制御信号を出力する段階であって、診断部１００よって実行できる。
図３の実施形態において、診断部１００に含まれたフリップフロップ１１０は、データ端子Ｄに入力された第２制御信号Ｓ２及びクロック端子Ｃｌｋに入力されたクロック信号Ｃに基づいて、第１出力端子Ｑから第１出力値Ｑ１を出力し、第２出力端子Ｑ'から第２出力値Ｑ２を出力し得る。
また、図３の実施形態において、診断部１００に含まれたバッファ部１３０は、フリップフロップ１１０から受信した第１出力値Ｑ１及び第２出力値Ｑ２の信号レベルに基づいて、第１スイッチ２０と接続された第１制御ラインＬ１に第１制御信号Ｓ１または検証信号Ｓ４を出力し得る。また、バッファ部１３０は、フリップフロップ１１０から受信した第１出力値Ｑ１及び第２出力値Ｑ２の信号レベルに基づいて、ゲート部１４０に第２制御信号Ｓ２または検証信号Ｓ４を出力し得る。
また、図３の実施形態において、診断部１００に含まれたゲート部１４０は、第２プロセッサ３００から受信した検証信号Ｓ４に基づいて、第２スイッチ３０と接続された第２制御ラインＬ２にバッファ部１３０から受信した信号を出力し得る。この場合、ゲート部１４０がバッファ部１３０から第２制御信号Ｓ２を受信した場合は、第２制御ラインＬ２に第２制御信号Ｓ２が出力され得る。逆に、ゲート部１４０がバッファ部１３０から検証信号Ｓ４を受信した場合は、第２制御ラインＬ２に検証信号Ｓ４が出力され得る。
例えば、第１制御ラインＬ１及び第２制御ラインＬ２に全て検証信号Ｓ４が出力されるか、または、第１制御ラインＬ１には第１制御信号Ｓ１が出力され、第２制御ラインＬ２には第２制御信号Ｓ２が出力され得る。
信号検出段階Ｓ４００は、前記第１制御ラインＬ１及び前記第２制御ラインＬ２に流れる信号を検出する段階であって、第１プロセッサ２００よって実行できる。
まず、電圧測定部４００は、第１制御ラインＬ１及び第２制御ラインＬ２それぞれの電圧を測定し、測定した電圧値を第１プロセッサ２００に送信し得る。
第１プロセッサ２００は、電圧測定部４００から受信した第１制御ラインＬ１に対する電圧値の信号レベルを確認して第１制御ラインＬ１に流れる信号を検出し得る。また、第１プロセッサ２００は、電圧測定部４００から受信した第２制御ラインＬ２に対する電圧値の信号レベルを確認して第２制御ラインＬ２に流れる信号を検出し得る。
スイッチ制御状態診断段階Ｓ５００は、前記信号検出段階Ｓ４００で検出された信号に基づいて、前記第１スイッチ２０及び前記第２スイッチ３０の制御可否を診断する段階であって、第１プロセッサ２００よって実行できる。
望ましくは、第１プロセッサ２００によって第１制御ラインＬ１及び第２制御ラインＬ２に流れる信号が検証信号Ｓ４であると検出された場合、第１プロセッサ２００は、第１スイッチ２０及び第２スイッチ３０が正常に制御可能な状態であると診断することができる。
以上のように、本発明を限定された実施形態と図面によって説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、本発明の属する技術分野で通常の知識を持つ者によって本発明の技術思想と特許請求の範囲の均等範囲内で多様な修正及び変形が可能であることは言うまでもない。
１：制御部
１０：セルアセンブリ
２０：第１スイッチ
３０：第２スイッチ
４０：車両負荷
１００：診断部
１１０：フリップフロップ
１２０：クロック信号出力部
１３０：バッファ部
１４０：ゲート部
２００：第１プロセッサ
３００：第２プロセッサ
４００：電圧測定部

Claims (12)

  1. 第１スイッチの動作状態を制御する第１制御信号、第２スイッチの動作状態を制御する第２制御信号、及び診断信号を出力するように構成された第１プロセッサと、
    前記第１スイッチ及び前記第２スイッチの動作状態を検証するための検証信号を出力するように構成された第２プロセッサと、
    第１制御ラインを通じて前記第１スイッチと接続され、第２制御ラインを通じて前記第２スイッチと接続され、前記第１プロセッサから前記第１制御信号、前記第２制御信号及び前記診断信号を受信し、前記第２プロセッサから前記検証信号を受信し、前記診断信号がハイレベル信号である場合、前記第１スイッチ及び前記第２スイッチのそれぞれに現在検出過程で受信した前記検証信号または対応する制御信号を出力し、前記診断信号がローレベル信号である場合、前記第１スイッチ及び前記第２スイッチのそれぞれに直前検出過程で出力された前記検証信号または対応する制御信号を出力するように構成された診断部と、
    前記第１制御ラインの電圧及び前記第２制御ラインの電圧を測定し、測定した複数の電圧値を前記第１プロセッサに出力するように構成された電圧測定部とを含み、
    前記第１プロセッサは、
    前記診断信号がハイレベル信号であって、前記第１制御ライン及び前記第２制御ラインで前記検証信号が検出された場合、前記第１スイッチ及び前記第２スイッチが制御可能であると判断するように構成された、スイッチ制御装置。
  2. 前記診断部は、前記第１プロセッサから前記第２制御信号を受信し、受信した第２制御信号と同じ第１出力値及び前記第１出力値の反転値である第２出力値をそれぞれ出力するように構成されたフリップフロップを含む、請求項１に記載のスイッチ制御装置。
  3. 前記診断部は、前記第１プロセッサから前記診断信号を受信すれば、受信した診断信号に対応するクロック信号を前記フリップフロップに出力するように構成されたクロック信号出力部を含む、請求項２に記載のスイッチ制御装置。
  4. 前記診断部は、前記フリップフロップから出力された前記第１出力値及び前記第２出力値、前記第１プロセッサから出力された前記第１制御信号及び前記第２制御信号、及び前記第２プロセッサから出力された前記検証信号を受信し、前記第１出力値及び前記第２出力値に応じて前記第１制御信号及び前記第２制御信号、または前記検証信号を出力するように構成されたバッファ部を含む、請求項２に記載のスイッチ制御装置。
  5. 前記バッファ部は、前記第１出力値及び前記第２出力値のいずれか一つの出力値の入力を受け、入力を受けた出力値の大きさに応じてそれぞれの動作状態が決定されるように構成された複数のバッファを含むように構成された、請求項４に記載のスイッチ制御装置。
  6. 前記バッファ部は、
    前記第１制御信号及び前記第２出力値を受信し、前記第２出力値の大きさに応じて前記第１制御信号の出力が決定されるように構成された第１バッファと、
    前記検証信号及び前記第１出力値を受信し、前記第１出力値の大きさに応じて前記検証信号の出力が決定されるように構成された第２バッファ及び第３バッファと、
    前記第２制御信号及び前記第２出力値を受信し、前記第２出力値の大きさに応じて前記第２制御信号の出力が決定されるように構成された第４バッファとを含むように構成された、請求項５に記載のスイッチ制御装置。
  7. 前記診断部は、前記第１スイッチ及び前記第２スイッチの少なくとも一つと前記バッファ部との間に接続され、前記第２プロセッサから前記検証信号を受信するように構成されたゲート部をさらに含むように構成された、請求項５に記載のスイッチ制御装置。
  8. 前記ゲート部は、前記第２プロセッサから前記検証信号を受信すれば、前記バッファ部から入力を受けた信号を前記第１スイッチ及び前記第２スイッチのうち接続されたスイッチに出力するように構成された、請求項７に記載のスイッチ制御装置。
  9. 前記第１プロセッサは、前記診断信号としてローレベル信号に該当する信号を出力し、前記第１制御ライン及び前記第２制御ラインのそれぞれで検出された信号が直前の検出過程で検出された信号と同一である場合、前記診断部が正常に作動していると判断するように構成された、請求項１から８のいずれか一項に記載のスイッチ制御装置。
  10. 請求項１から９のいずれか一項に記載のスイッチ制御装置を含む、ＢＭＳ。
  11. 請求項１から９のいずれか一項に記載のスイッチ制御装置を含む、バッテリーパック。
  12. 第１スイッチの動作状態を制御する第１制御信号、第２スイッチの動作状態を制御する第２制御信号、及び診断信号を出力する第１信号出力段階と、
    前記第１スイッチ及び前記第２スイッチの動作状態を検証するための検証信号を出力する第２信号出力段階と、
    前記診断信号がハイレベル信号である場合、前記第１スイッチと接続された第１制御ライン及び前記第２スイッチと接続された第２制御ラインに現在検出過程で受信した前記検証信号または対応する制御信号を出力し、前記診断信号がローレベル信号である場合、前記第１制御ライン及び前記第２制御ラインに直前検出過程で出力された前記検証信号または対応する制御信号を出力する第３信号出力段階と、
    前記第１制御ライン及び前記第２制御ラインに流れる信号を検出する信号検出段階と、
    前記信号検出段階で検出された信号に基づいて、前記第１スイッチ及び前記第２スイッチを制御可能であるか否かを診断するスイッチ制御状態診断段階とを含み、
    前記スイッチ制御状態診断段階は、
    前記診断信号がハイレベル信号であって、前記第１制御ライン及び前記第２制御ラインで前記検証信号が検出された場合、前記第１スイッチ及び前記第２スイッチが制御可能であると判断する段階である、スイッチ制御方法。
JP2020543770A 2018-11-30 2019-11-29 スイッチ制御装置及び方法 Active JP7028420B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20180152785 2018-11-30
KR10-2018-0152785 2018-11-30
PCT/KR2019/016802 WO2020111899A1 (ko) 2018-11-30 2019-11-29 스위치 제어 장치 및 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021515447A JP2021515447A (ja) 2021-06-17
JP7028420B2 true JP7028420B2 (ja) 2022-03-02

Family

ID=70852363

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020543770A Active JP7028420B2 (ja) 2018-11-30 2019-11-29 スイッチ制御装置及び方法

Country Status (8)

Country Link
US (1) US11255915B2 (ja)
EP (1) EP3779482B1 (ja)
JP (1) JP7028420B2 (ja)
KR (1) KR20200066247A (ja)
CN (1) CN111868538B (ja)
ES (1) ES2972122T3 (ja)
HU (1) HUE065054T2 (ja)
WO (1) WO2020111899A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102680305B1 (ko) * 2019-10-30 2024-06-28 주식회사 엘지에너지솔루션 병렬 멀티 팩 시스템의 출력 제어 장치 및 방법
KR20220065603A (ko) * 2020-11-13 2022-05-20 주식회사 엘지에너지솔루션 릴레이 제어 장치 및 방법

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015147261A (ja) 2014-02-05 2015-08-20 株式会社マキタ 電動機械器具

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3775001B2 (ja) 1997-07-30 2006-05-17 株式会社デンソー 車両用ナビゲーション装置
US6882155B2 (en) 2001-04-19 2005-04-19 Vince J Lazzaro Remotely actuated, circuit testing emergency stop apparatus and method
KR100442326B1 (ko) 2002-10-30 2004-07-30 김종백 자기진단형 안전 계전기
JP2004293733A (ja) 2003-03-28 2004-10-21 Nissan Diesel Motor Co Ltd オートマチックトランスミッションの非常時回路
JP2006316638A (ja) 2005-05-10 2006-11-24 Denso Corp メインリレー故障診断方法及び電子制御装置
KR100840060B1 (ko) 2005-09-05 2008-06-19 주식회사 케이티 이상적인 상태판단 조건부 인터록 장치
JP5076812B2 (ja) 2006-12-18 2012-11-21 日産自動車株式会社 異常診断装置
EP1936777B1 (en) 2006-12-18 2017-11-01 Nissan Motor Ltd. Abnormality Diagnostic Device
JP2012208120A (ja) * 2011-03-17 2012-10-25 Ricoh Co Ltd 二次電池の保護用半導体装置
JP2012205410A (ja) 2011-03-25 2012-10-22 Sanyo Electric Co Ltd 蓄電池集合体制御システム
KR101498763B1 (ko) 2012-03-05 2015-03-04 주식회사 엘지화학 절연 저항 검출 장치 및 이의 진단 장치
EP2796887B1 (en) 2012-03-27 2019-11-27 LG Chem, Ltd. Isolation resistance measurement apparatus having fault self-diagnosis function and fault self-diagnosing method using the same
JP5945804B2 (ja) * 2012-03-29 2016-07-05 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 リレー溶着診断装置
KR101539692B1 (ko) 2012-12-06 2015-07-27 주식회사 엘지화학 Fet 센싱을 이용하는 bmu 테스트 시스템 및 bmu 테스트 방법
JP6093253B2 (ja) * 2013-06-21 2017-03-08 株式会社マキタ バッテリユニット
JP6190213B2 (ja) * 2013-08-28 2017-08-30 日立マクセル株式会社 電池パック
KR102247393B1 (ko) * 2014-03-12 2021-05-03 삼성에스디아이 주식회사 배터리 팩 및 이의 제어방법
KR102365769B1 (ko) * 2014-12-04 2022-02-21 삼성전자주식회사 배터리 관리 시스템에서의 암전류 차단 방법 및 장치
KR101806996B1 (ko) * 2014-12-26 2017-12-08 주식회사 엘지화학 릴레이 구동 회로 상태진단 장치 및 방법
JP6435891B2 (ja) 2015-02-02 2018-12-12 オムロン株式会社 継電ユニット、継電ユニットの制御方法
JP6523747B2 (ja) 2015-03-31 2019-06-05 株式会社Ｓｕｂａｒｕ 車両用電源装置
KR101942908B1 (ko) * 2015-09-14 2019-04-17 주식회사 엘지화학 배터리 스웰링 감지 시스템 및 방법
KR102059076B1 (ko) * 2016-02-19 2020-02-11 주식회사 엘지화학 스위치 부품의 고장 진단 장치 및 방법
JP6477593B2 (ja) * 2016-05-16 2019-03-06 株式会社デンソー 組電池監視システム
EP3309811B1 (de) 2016-10-11 2018-12-19 Siemens Aktiengesellschaft Schütz mit einer elektronischen spulenansteuerung
CN107991603B (zh) 2016-10-26 2020-11-27 宁德时代新能源科技股份有限公司 继电器诊断方法及系统
AU2018218181B2 (en) * 2017-02-08 2019-10-24 Relectrify Holdings Pty Ltd Battery system
KR102307999B1 (ko) * 2017-03-06 2021-09-30 엘에스일렉트릭(주) 인버터의 파워릴레이 고장감지장치
CN107749647B (zh) * 2017-09-28 2019-10-15 维沃移动通信有限公司 一种电池组结构、移动终端及充电控制方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015147261A (ja) 2014-02-05 2015-08-20 株式会社マキタ 電動機械器具

Also Published As

Publication number Publication date
JP2021515447A (ja) 2021-06-17
ES2972122T3 (es) 2024-06-11
KR20200066247A (ko) 2020-06-09
US20210011085A1 (en) 2021-01-14
HUE065054T2 (hu) 2024-04-28
US11255915B2 (en) 2022-02-22
EP3779482A4 (en) 2021-10-06
WO2020111899A1 (ko) 2020-06-04
CN111868538B (zh) 2023-05-26
EP3779482A1 (en) 2021-02-17
EP3779482B1 (en) 2024-01-10
CN111868538A (zh) 2020-10-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10241154B2 (en) Voltage monitoring module and voltage monitoring system
JP7027670B2 (ja) スイッチ診断装置及び方法
KR101069951B1 (ko) 배터리 제어 장치 및 방법
US8471529B2 (en) Battery fault tolerant architecture for cell failure modes parallel bypass circuit
US9024586B2 (en) Battery fault tolerant architecture for cell failure modes series bypass circuit
EP2919346B1 (en) Device and method for managing battery, including malfunction prevention algorithm
JP2012519298A (ja) バッテリーパック電流測定部の異常診断方法及び装置
KR102610269B1 (ko) 전력 공급 회로 및 이를 포함하는 배터리 팩
JP2021517448A (ja) バランシング装置、それを含むバッテリー管理システム及びバッテリーパック
JP7028420B2 (ja) スイッチ制御装置及び方法
US9634500B2 (en) Storage battery system
JP7222488B2 (ja) スイッチ診断装置及び方法
KR102515604B1 (ko) 배터리 시스템을 위한 제어 장치, 및 이를 포함하는 배터리 시스템 및 차량
KR102610270B1 (ko) 전력 공급 회로 및 이를 포함하는 배터리 팩
JP7239243B2 (ja) リレー制御装置及び方法
JP7315142B2 (ja) 並列バッテリーリレー診断装置及び方法
JP7521733B2 (ja) リレー制御装置及び方法
KR102717608B1 (ko) 배터리 관리 시스템 및 이의 제어방법, 및 이를 포함하는 배터리 팩
EP4199303A1 (en) Battery device, battery management system, and diagnosis method
KR20230051801A (ko) 단위 배터리 모듈별 제어가 가능한 리튬배터리 시스템
KR20220080471A (ko) 배터리 관리 시스템을 내장한 대용량 배터리 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200819

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210831

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20211129

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220118

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220208

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7028420

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350