JP6973208B2 - グラフェンナノリボン前駆体、グラフェンナノリボン及び電子装置、グラフェンナノリボン前駆体の製造方法及びグラフェンナノリボンの製造方法 - Google Patents

グラフェンナノリボン前駆体、グラフェンナノリボン及び電子装置、グラフェンナノリボン前駆体の製造方法及びグラフェンナノリボンの製造方法 Download PDF

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Description

本発明は、グラフェンナノリボン前駆体、グラフェンナノリボン及び電子装置、グラフェンナノリボン前駆体の製造方法及びグラフェンナノリボンの製造方法に関する。
グラフェンはC原子がハニカム状に並んだ二次元のシート構造の材料である。グラフェンの電子移動度及びホール移動度は室温においても極めて高く、グラフェンはバリスティック伝導及び半整数量子ホール効果等の特異な電子物性を示す。グラフェンは、π電子共役が二次元に拡張しているため、バンドギャップが実質的にゼロであり、金属的な性質(ギャップレス半導体)を示す。近年、これらの特徴的な電子的機能を活かしたエレクトロニクスデバイスの研究開発が盛んに行われている。
その一方で、ナノサイズのグラフェンは、エッジにあるC原子の個数とエッジの内側にあるC原子の個数との差が小さく、グラフェン自体の形状やエッジの形状の影響が大きく、バルク状のグラフェンとは大きく異なる物性を示す。ナノサイズのグラフェンとして、幅が数nmのリボン形状の擬一次元のグラフェン、所謂、グラフェンナノリボン(graphene nanoribbon:GNR)が知られている。GNRの物性は、エッジの構造及びリボン幅によって大きく変化する。
GNRのエッジ構造には、C原子が2原子周期で配列したアームチェアエッジ及びC原子がジグザグ状に配列したジグザグエッジの2種類がある。アームチェアエッジ型のGNR(AGNR)では、量子閉じ込め効果及びエッジ効果によって有限のバンドギャップが広がるため、AGNRは半導体的な性質を示す。一方、ジグザグエッジ型のGNR(ZGNR)は金属的な性質を示す。
一般に、リボン幅方向のC−Cダイマーラインの数がNのAGNRは「N−AGNR」とよばれる。例えば、リボン幅方向に六員環が3つ配列したアントラセンを基本ユニットとするAGNRは7−AGNRとよばれる。AGNRは、Nの値によって、N=3p、3p+1、3p+2(ここで、pは正の整数)の3つのサブファミリーに分類されることがある。多体効果を考慮した第一原理計算から、同じサブファミリー内でのN−AGNRのバンドギャップEは、Nの値の増加、すなわちリボン幅の増加に伴って減少することが示されている。また、各サブファミリー間でのバンドギャップEには、「E 3p+1>E 3p>E 3p+2」の関係がある。
これまで、所望の物性を備えたAGNRを製造することを目的として、ボトムアップ法等の種々の方法が提案されているが、電子装置に用いることができるような長さを備えたAGNRは製造されていない。つまり、従来のAGNRの適用範囲が限定的である。
特表2015−525186号公報 特表2017−520618号公報
J.Cai et al.,Nature 466,470(2010) Y.-C.Chen et al.,ACS Nano 7,6123(2013)
本開示の目的は、長いグラフェンナノリボンを合成することができるグラフェンナノリボン前駆体、グラフェンナノリボン及び電子装置、グラフェンナノリボン前駆体の製造方法及びグラフェンナノリボンの製造方法を提供することにある。
グラフェンナノリボン前駆体の一態様は、下記の化学式(1)で表される構造式を有する。下記の化学式(1)において、nは、以上6以下の整数であり、X、Y及びZは、F、Cl、Br、I、H、OH、SH、SOH、SOH、SONH、PO、NO、NO、NH、CH、CHO、COCH、COOH、CONH、COCl、CN、CF、CCl、CBr又はCIであり、六員環を構成する炭素原子からのX、Y、Zの脱離温度をそれぞれT、T、Tとしたとき、T<T≦Tの関係が成り立つ。
Figure 0006973208
グラフェンナノリボンの一態様は、下記の化学式(2)に表される構造式の繰り返し単位からなり、長さ方向に沿った両端のエッジ構造がアームチェア型である。下記の化学式(2)において、nは、以上6以下の整数であり、X、Y及びZは、F、Cl、Br、I、H、OH、SH、SOH、SOH、SONH、PO、NO、NO、NH、CH、CHO、COCH、COOH、CONH、COCl、CN、CF、CCl、CBr又はCIである。
Figure 0006973208
グラフェンナノリボン前駆体の製造方法の一態様では、下記の化学式(3)に構造式を示す第1の物質と下記の化学式(4)に構造式を示す第2の物質との間で鈴木カップリング反応を生じさせ、前記第1の物質に含まれる一方のヨウ素がモノカップリングした第3の物質を得る。前記第3の物質と前記第2の物質との間で鈴木カップリング反応を生じさせ、前記第3の物質に含まれるヨウ素がモノカップリングした第4の物質を得る。下記の化学式(3)及び(4)において、nは、以上6以下の整数であり、X、Y及びZは、F、Cl、Br、I、H、OH、SH、SOH、SOH、SONH、PO、NO、NO、NH、CH、CHO、COCH、COOH、CONH、COCl、CN、CF、CCl、CBr又はCIであり、六員環を構成する炭素原子からのX、Y、Zの脱離温度をそれぞれT、T、Tとしたとき、T<T≦Tの関係が成り立つ。

Figure 0006973208
Figure 0006973208
グラフェンナノリボンの製造方法の一態様では、基板上で、上記のグラフェンナノリボン前駆体を第1の温度に加熱して、Xの脱離及びC−C結合反応を誘起し、前記基板上にポリマーを得る。前記ポリマーを前記第1の温度よりも高い第2の温度に加熱して、Yの脱離及びC−C結合反応を誘起する。前記ポリマーを前記第2の温度以上の第3の温度に加熱して、Zの脱離及びC−C結合反応を誘起する。
本開示の技術によれば、長いグラフェンナノリボンを合成することができる。
第1の実施形態に係るGNR前駆体の構造式を示す図である。 第1の実施形態に係るGNR前駆体を用いたGNRの製造方法を示す図(その1)である。 第1の実施形態に係るGNR前駆体を用いたGNRの製造方法を示す図(その2)である。 第1の実施形態に係るGNR前駆体を用いたGNRの製造方法を示す図(その3)である。 第1の実施形態に係るGNR前駆体の製造方法を示す図(その1)である。 第1の実施形態に係るGNR前駆体の製造方法を示す図(その2)である。 第1の実施形態に係るGNR前駆体の原料の構造式(その1)を示す図である。 第1の実施形態に係るGNR前駆体の原料の構造式(その2)を示す図である。 第2の実施形態に係るGNR前駆体の構造式を示す図である。 第2の実施形態に係るGNR前駆体を用いたGNRの製造方法を示す図(その1)である。 第2の実施形態に係るGNR前駆体を用いたGNRの製造方法を示す図(その2)である。 第2の実施形態に係るGNRのトポグラフィック像を示す図(その1)である。 第2の実施形態に係るGNRのトポグラフィック像を示す図(その2)である。 第2の実施形態に係るGNR前駆体の製造方法を示す図(その1)である。 第2の実施形態に係るGNR前駆体の製造方法を示す図(その2)である。 第2の実施形態に係るGNR前駆体の製造方法を示す図(その3)である。 第3の実施形態に係るGNR前駆体の構造式を示す図である。 第3の実施形態に係るGNR前駆体を用いたGNRの製造方法を示す図(その1)である。 第3の実施形態に係るGNR前駆体を用いたGNRの製造方法を示す図(その2)である。 第3の実施形態に係るGNRのトポグラフィック像を示す図(その1)である。 第3の実施形態に係るGNRのトポグラフィック像を示す図(その2)である。 第3の実施形態に係るGNR前駆体の製造方法を示す図(その1)である。 第3の実施形態に係るGNR前駆体の製造方法を示す図(その2)である。 第3の実施形態に係るGNR前駆体の製造方法を示す図(その3)である。 第4の実施形態に係るGNR前駆体の構造式を示す図である。 第4の実施形態に係るGNR前駆体を用いたGNRの製造方法を示す図(その1)である。 第4の実施形態に係るGNR前駆体を用いたGNRの製造方法を示す図(その2)である。 第4の実施形態に係るGNR前駆体の製造方法を示す図(その1)である。 第4の実施形態に係るGNR前駆体の製造方法を示す図(その2)である。 第4の実施形態に係るGNR前駆体の製造方法を示す図(その3)である。 C−Cダイマーラインとリボン幅Wとの関係を示す図である。 第5の実施形態に係る電子装置の製造方法を示す上面図(その1)である。 第5の実施形態に係る電子装置の製造方法を示す上面図(その2)である。 第5の実施形態に係る電子装置の製造方法を示す上面図(その3)である。 第5の実施形態に係る電子装置の製造方法を示す上面図(その4)である。 第5の実施形態に係る電子装置の製造方法を示す上面図(その5)である。 第5の実施形態における金属パターンとN−AGNRとの位置関係を示す図である。 第5の実施形態に係る電子装置の製造方法を示す断面図(その1)である。 第5の実施形態に係る電子装置の製造方法を示す断面図(その2)である。 第6の実施形態に係る電子装置の製造方法を示す上面図(その1)である。 第6の実施形態に係る電子装置の製造方法を示す上面図(その2)である。 第6の実施形態に係る電子装置の製造方法を示す上面図(その3)である。 第6の実施形態に係る電子装置の製造方法を示す上面図(その4)である。 第6の実施形態に係る電子装置の製造方法を示す上面図(その5)である。 第6の実施形態における金属パターンとN−AGNRとの位置関係を示す図である。 第6の実施形態に係る電子装置の製造方法を示す断面図(その1)である。 第6の実施形態に係る電子装置の製造方法を示す断面図(その2)である。 第6の実施形態に係る電子装置の製造方法を示す断面図(その3)である。 第6の実施形態におけるヘテロ接合AGNRのバンド構造を示す図である。
以下、実施形態について添付の図面を参照しながら具体的に説明する。
(第1の実施形態)
先ず、第1の実施形態について説明する。第1の実施形態は、グラフェンナノリボン(GNR)、及びその製造に好適なGNR前駆体に関する。図1は、第1の実施形態に係るGNR前駆体の構造式を示す図である。
第1の実施形態に係るGNR前駆体100は図1に示す構造式を有する。図1において、nは、1以上6以下の整数である。X、Y及びZは、F、Cl、Br、I、H、OH、SH、SOH、SOH、SONH、PO、NO、NO、NH、CH、CHO、COCH、COOH、CONH、COCl、CN、CF、CCl、CBr又はCIである。六員環を構成する炭素原子からのX、Y、Zの脱離温度をそれぞれT、T、Tとしたとき、T<T≦Tの関係が成り立つ。
ここで、第1の実施形態に係るGNR前駆体100を用いたGNRの製造方法について説明する。図2A〜図2Cは、第1の実施形態に係るGNR前駆体を用いたGNRの製造方法を示す図である。この方法では、AGNRをin situで製造する。
先ず、GNRを成長させる基板の表面清浄処理を行う。表面清浄処理により、基板の表面上の有機系汚染物質を除去したり、表面の平坦性を向上したりすることができる。
次いで、表面清浄処理を施した基板を大気に曝すことなく、真空下にて、基板の温度を脱離温度T以上脱離温度T未満の第1の温度に保持し、GNR前駆体100を加熱して昇華させる。第1の温度の基板上でGNR前駆体100の脱X化及びC−C結合反応が誘起され、図2Aに示すように、GNR前駆体100の複数の分子が凸の向きを反転しながら一方向に配列したポリマー110が安定的に形成される。
その後、基板の温度を脱離温度T以上脱離温度T未満の第2の温度に加熱し、第2の温度に保持する。この結果、脱Y化及び環化反応が誘起され、図2Bに示すように、ポリマー110からポリマー120が安定的に形成される。
続いて、基板の温度を脱離温度T以上の高い第3の温度に加熱し、第3の温度に保持する。この結果、脱Z化及び環化反応が誘起され、図2Cに示すように、ポリマー120からエッジ構造がアームチェア型のAGNR150が形成される。
脱離温度Tと脱離温度Tとが等しい場合、第2の温度を脱離温度T及び脱離温度T以上とすればよい。第2の温度を脱離温度T及び脱離温度T以上とすることで、ポリマー120の形成が省略されて、ポリマー110からAGNR150が形成される。
このように、GNR前駆体100を加熱すると、Xが脱離して、Xと結合していたC同士がGNR前駆体100間で結合し、その後に、Yが脱離して、Yと結合していたC同士がGNR前駆体100間で結合し、Zが脱離して、Zと結合していたC同士がGNR前駆体100間で結合する。Xと結合していたC同士の結合によりGNR前駆体100の配列が決定され、その後のY、Zと結合していたC同士の結合によりAGNR150の構造が固定される。このため、長いAGNR150を安定して合成することができる。例えば、数十nmレベルのAGNR150を安定して合成することができる。従って、第1の実施形態に係るGNR前駆体100を用いることで、ボトムアップ法により長いAGNR150を製造することができる。なお、AGNR150は上記の化学式(2)に表される構造式の繰り返し単位からなる。
次に、第1の実施形態に係るGNR前駆体100の製造方法について説明する。図3A〜図3Bは、第1の実施形態に係るGNR前駆体100の製造方法を示す図である。
先ず、図4Aに構造式を示す物質160及び図4Bに構造式を示す物質130を準備する。図4Aに示す物質は、例えば、1,4−ジブロモ−2,3−ジヨードベンゼン(1,4-dibromo-2,3-diiodobenzene)であり、図4Bに示す物質130は、例えば、ベンゼン、ナフタレン、アントラセン、ナフタセン、ペンタセン又はヘキサセンのボロン酸である。
次いで、これらを溶媒に溶解させ、触媒を加え、塩基の存在下で攪拌することで鈴木カップリング反応を生じさせる。攪拌を継続して溶媒を蒸発させることで、図3Aに示すように、物質160に含まれる一方のヨウ素(I)がモノカップリングした物質140が得られる。
その後、図3Aに示す物質140及び物質130を溶媒に溶解させ、触媒を加え、塩基の存在下で攪拌することで鈴木カップリング反応を生じさせる。攪拌を継続して溶媒を蒸発させることで、図3Bに示すように、物質140に含まれるヨウ素(I)がモノカップリングしたGNR前駆体100が得られる。
そして、例えばカラムクロマトグラフィーによりGNR前駆体100の精製を行う。
このようにして、GNR前駆体100を製造することができる。
(第2の実施形態)
次に、第2の実施形態について説明する。第2の実施形態は、GNR及びその製造に好適なGNR前駆体に関する。図5は、第2の実施形態に係るGNR前駆体の構造式を示す図である。
第2の実施形態に係るGNR前駆体200は図5に示す構造式を有する。すなわち、第2の実施形態に係るGNR前駆体200は、図1において、nが2であり、XがBrであり、Y及びZがHである構造式を有する。六員環を構成する炭素原子からのBrの脱離温度は、六員環を構成する炭素原子からのHの脱離温度よりも低い。GNR前駆体200は、いわば1,2−ビス(2−ナフタレニル)−3,6−ジブロモベンゼン(1,2-bis-(2-naphthalenyl)-3,6-dibromobenzen)である。
ここで、第2の実施形態に係るGNR前駆体200を用いたGNRの製造方法について説明する。図6A〜図6Bは、第2の実施形態に係るGNR前駆体を用いたGNRの製造方法を示す図である。この方法では、13−AGNRをin situで製造する。
先ず、GNRを成長させる基板の表面清浄処理を行う。この表面清浄処理では、例えば、表面へのArイオンスパッタ及び超高真空下でのアニールを1サイクルとし、これを複数サイクル実施する。例えば、各サイクルにおいて、Arイオンスパッタでは、イオン加速電圧を1.0kVとし、イオン電流を10μAとし、時間を1分間とし、アニールでは、5×10−7Pa以下の真空度を保持しつつ、温度を400℃〜500℃とし、時間を10分間とする。例えば、サイクル数は3サイクルとする。表面清浄処理により、基板の表面上の有機系汚染物質を除去したり、表面の平坦性を向上したりすることができる。
次いで、表面清浄処理を施した基板を大気に曝すことなく、超高真空下にて、基板の温度を、Brの脱離温度以上、かつHの脱離温度未満の第1の温度に保持し、GNR前駆体200を加熱して昇華させる。例えば、真空槽内の基本真空度は5×10−8Pa以下とし、第1の温度は150℃〜250℃とし、GNR前駆体200の加熱及び昇華にはK−cell型エバポレーターを用い、GNR前駆体200の加熱温度は約90℃とする。
第1の温度の基板上でGNR前駆体200の脱Br化及びC−C結合反応が誘起され、図6Aに示すように、GNR前駆体200の複数の分子が凸の向きを反転しながら一方向に配列したポリマー210が安定的に形成される。例えば、このときの蒸着速度は0.01nm/分〜0.05nm/分、蒸着膜厚は0.5ML〜1MLである。1ML(monolayer)は約0.25nmである。
続いて、基板の温度を、Hの脱離温度以上の第2の温度に加熱し、第2の温度に保持する。この結果、脱H化及び環化反応が誘起され、図6Bに示すように、ポリマー210からエッジ構造がアームチェア型の13−AGNR250が形成される。例えば、第2の温度は350℃〜450℃とし、第1の温度から第2の温度までの昇温速度は1℃/分〜5℃/分とし、第2の温度での保持時間は10分間〜1時間とする。
このように、GNR前駆体200を加熱すると、Brが脱離して、Brと結合していたC同士がGNR前駆体200間で結合し、その後に、Hが脱離して、Hと結合していたC同士がGNR前駆体200間で結合する。Brと結合していたC同士の結合によりGNR前駆体200の配列が決定され、その後のHと結合していたC同士の結合により13−AGNR250の構造が固定される。このため、長い13−AGNR250を安定して合成することができる。例えば、数十nmレベルの13−AGNR250を安定して合成することができる。従って、第2の実施形態に係るGNR前駆体200を用いることで、ボトムアップ法により長い13−AGNR250を製造することができる。
図7A及び図7Bに、第2の実施形態に倣って製造した13−AGNRの走査型トンネル顕微鏡(scanning tunneling microscope:STM)で撮影したトポグラフィック像を示す。図7Aのスキャン領域は100nm×100nmであり、この撮影では、サンプルバイアスVを=2.0V、トンネル電流Iを30pAとした。図7Bのスキャン領域は5nm×5nmであり、この撮影では、サンプルバイアスVを=−1.8V、トンネル電流Iを7.1nAとした。13−AGNRはAu(111)基板上に合成させており、図7A及び図7Bに示すように、リボン長が20nm〜50nmの13−AGNRを合成することができる。多体効果を考慮した第一原理シミュレーションによれば、13−AGNRのバンドギャップEは2.34eVと見積もられる。
基板としては、触媒作用を有するものを用い、例えば表面のミラー指数が(111)の金属単結晶基板を用いることができる。基板の材料としてはAu、Cu、Ni、Rh、Pd、Ag、Ir及びPtが挙げられる。13−AGNR250の指向性を制御するために、数nm幅のステップ及びテラス周期構造を有する高指数面の単結晶基板を用いてもよい。このような基板の表面のミラー指数は、例えば(788)である。基板として、マイカ、サファイア及びMgO等の絶縁基板上に上記のAu等の金属薄膜を堆積した金属薄膜基板を用いてもよい。13−AGNR250の指向性を制御するために、金属薄膜を電子線リソグラフィ及びエッチング加工により幅数nmの細線状にパターンニングしたものを用いてもよい。IV族半導体、III−V族化合物半導体、II−VI族化合物半導体及び遷移金属酸化物半導体等の半導体基板を用いてもよい。
次に、第2の実施形態に係るGNR前駆体200の製造方法について説明する。図8A〜図8Cは、第2の実施形態に係るGNR前駆体200の製造方法を示す図である。
先ず、図4Aに示す構造式でXがBrである1,4−ジブロモ−2,3−ジヨードベンゼン、及び図8Aに構造式を示す2−ナフタレンボロン酸(2-naphthylboronic acid)230を準備する。
次いで、これらを溶媒に溶解させ、触媒を加え、塩基の存在下で攪拌することで鈴木カップリング反応を生じさせる。攪拌を継続して溶媒を蒸発させることで、図8Bに示すように、1,4−ジブロモ−2,3−ジヨードベンゼンに含まれる一方のヨウ素(I)がモノカップリングした物質240が得られる。
その後、図8Bに示す物質240及び2−ナフタレンボロン酸230を溶媒に溶解させ、触媒を加え、塩基の存在下で攪拌することで鈴木カップリング反応を生じさせる。攪拌を継続して溶媒を蒸発させることで、図8Cに示すように、物質240に含まれるヨウ素(I)がモノカップリングし、GNR前駆体200が得られる。
そして、例えばカラムクロマトグラフィーによりGNR前駆体200の精製を行う。
このようにして、GNR前駆体200を製造することができる。
例えば、溶媒はジオキサン(C)であり、触媒はテトラキス(トリフェニルホスフィン)パラジウム(Pd(PPh)であり、塩基は水酸化ナトリウム(NaOH)であり、攪拌時の溶液の温度は80℃〜100℃とする。
(第3の実施形態)
次に、第3の実施形態について説明する。第3の実施形態は、GNR及びその製造に好適なGNR前駆体に関する。図9は、第3の実施形態に係るGNR前駆体の構造式を示す図である。
第3の実施形態に係るGNR前駆体300は図9に示す構造式を有する。すなわち、第3の実施形態に係るGNR前駆体300は、図1において、nが3であり、XがBrであり、Y及びZがHである構造式を有する。六員環を構成する炭素原子からのBrの脱離温度は、六員環を構成する炭素原子からのHの脱離温度よりも低い。GNR前駆体300は、いわば1,2−ビス(2−アントラセニル)−3,6−ジブロモベンゼン(1,2-bis-(2-anthracenyl)-3,6-dibromobenzen)である。
ここで、第3の実施形態に係るGNR前駆体300を用いたGNRの製造方法について説明する。図10A〜図10Bは、第3の実施形態に係るGNR前駆体を用いたGNRの製造方法を示す図である。この方法では、17−AGNRをin situで製造する。
先ず、第2の実施形態と同様に、GNRを成長させる基板の表面清浄処理を行う。表面清浄処理により、基板の表面上の有機系汚染物質を除去したり、表面の平坦性を向上したりすることができる。
次いで、表面清浄処理を施した基板を大気に曝すことなく、超高真空下にて、基板の温度を、Brの脱離温度以上、かつHの脱離温度未満の第1の温度に保持し、GNR前駆体300を加熱して昇華させる。例えば、真空槽内の基本真空度は5×10−8Pa以下とし、基板の温度は150℃〜250℃とし、GNR前駆体300の加熱及び昇華にはK−cell型エバポレーターを用い、GNR前駆体300の加熱温度は約100℃とする。
第1の温度の基板上でGNR前駆体300の脱Br化及びC−C結合反応が誘起され、図10Aに示すように、GNR前駆体300の複数の分子が凸の向きを反転しながら一方向に配列したポリマー310が安定的に形成される。例えば、このときの蒸着速度は0.01nm/分〜0.05nm/分、蒸着膜厚は0.5ML〜1MLである。
続いて、基板の温度を、Hの脱離温度以上の第2の温度に加熱し、第2の温度に保持する。この結果、脱H化及び環化反応が誘起され、図10Bに示すように、ポリマー310からエッジ構造がアームチェア型の17−AGNR350が形成される。例えば、第2の温度は350℃〜450℃とし、第1の温度から第2の温度までの昇温速度は1℃/分〜5℃/分とし、第2の温度での保持時間は10分間〜1時間とする。
このように、GNR前駆体300を加熱すると、Brが脱離して、Brと結合していたC同士がGNR前駆体300間で結合し、その後に、Hが脱離して、Hと結合していたC同士がGNR前駆体300間で結合する。Brと結合していたC同士の結合によりGNR前駆体300の配列が決定され、その後のHと結合していたC同士の結合により17−AGNR350の構造が固定される。このため、長い17−AGNR350を安定して合成することができる。例えば、数十nmレベルの17−AGNR350を安定して合成することができる。従って、第3の実施形態に係るGNR前駆体300を用いることで、ボトムアップ法により長い17−AGNR350を製造することができる。
図11A及び図11Bに、第3の実施形態に倣って製造した17−AGNRのSTMで撮影したトポグラフィック像を示す。図11Aのスキャン領域は100nm×100nmであり、この撮影では、サンプルバイアスVを=−1.0V、トンネル電流Iを50pAとした。図11Bのスキャン領域は5nm×5nmであり、この撮影では、サンプルバイアスVを=1.2V、トンネル電流Iを0.81nAとした。17−AGNRはAu(111)基板上に合成させており、図11A及び図11Bに示すように、リボン長が20nm〜50nmの17−AGNRを合成することができる。多体効果を考慮した第一原理シミュレーションによれば、17−AGNRのバンドギャップEは0.62eVと見積もられる。
基板としては、第2の実施形態と同様のものを用いることができる。
次に、第3の実施形態に係るGNR前駆体300の製造方法について説明する。図12A〜図12Cは、第3の実施形態に係るGNR前駆体300の製造方法を示す図である。
先ず、図4Aに示す構造式でXがBrである1,4−ジブロモ−2,3−ジヨードベンゼン、及び図12Aに構造式を示す2−アントラセンボロン酸(2-anthraceneboronic acid)330を準備する。
次いで、これらを溶媒に溶解させ、触媒を加え、塩基の存在下で攪拌することで鈴木カップリング反応を生じさせる。攪拌を継続して溶媒を蒸発させることで、図12Bに示すように、1,4−ジブロモ−2,3−ジヨードベンゼンに含まれる一方のヨウ素(I)がモノカップリングした物質340が得られる。
その後、図12Bに示す物質340及び2−アントラセンボロン酸330を溶媒に溶解させ、触媒を加え、塩基の存在下で攪拌することで鈴木カップリング反応を生じさせる。攪拌を継続して溶媒を蒸発させることで、図12Cに示すように、物質340に含まれるヨウ素(I)がモノカップリングし、GNR前駆体300が得られる。
そして、例えばカラムクロマトグラフィーによりGNR前駆体300の精製を行う。
このようにして、GNR前駆体300を製造することができる。
例えば、溶媒はジオキサン(C)であり、触媒はテトラキス(トリフェニルホスフィン)パラジウム(Pd(PPh)であり、塩基は水酸化ナトリウム(NaOH)であり、攪拌時の溶液の温度は80℃〜100℃とする。
(第4の実施形態)
次に、第4の実施形態について説明する。第4の実施形態は、GNR及びその製造に好適なGNR前駆体に関する。図13は、第4の実施形態に係るGNR前駆体の構造式を示す図である。
第4の実施形態に係るGNR前駆体400は図13に示す構造式を有する。すなわち、第4の実施形態に係るGNR前駆体400は、図1において、nが6であり、XがBrであり、Y及びZがHである構造式を有する。六員環を構成する炭素原子からのBrの脱離温度は、六員環を構成する炭素原子からのHの脱離温度よりも低い。GNR前駆体400は、いわば1,2−ビス(2−ヘキサセニル)−3,6−ジブロモベンゼン(1,2-bis-(2-anthracenyl)-3,6-dibromobenzen)である。
ここで、第4の実施形態に係るGNR前駆体400を用いたGNRの製造方法について説明する。図14A〜図14Bは、第4の実施形態に係るGNR前駆体を用いたGNRの製造方法を示す図である。この方法では、29−AGNRをin situで製造する。
先ず、第2の実施形態と同様に、GNRを成長させる基板の表面清浄処理を行う。表面清浄処理により、基板の表面上の有機系汚染物質を除去したり、表面の平坦性を向上したりすることができる。
次いで、表面清浄処理を施した基板を大気に曝すことなく、超高真空下にて、基板の温度を、Brの脱離温度以上、かつHの脱離温度未満の第1の温度に保持し、GNR前駆体400を加熱して昇華させる。例えば、真空槽内の基本真空度は5×10−8Pa以下とし、基板の温度は150℃〜250℃とし、GNR前駆体400の加熱及び昇華にはK−cell型エバポレーターを用い、GNR前駆体400の加熱温度は約250℃とする。
第1の温度の基板上でGNR前駆体400の脱Br化及びC−C結合反応が誘起され、図14Aに示すように、GNR前駆体400の複数の分子が凸の向きを反転しながら一方向に配列したポリマー410が安定的に形成される。例えば、このときの蒸着速度は0.01nm/分〜0.05nm/分、蒸着膜厚は0.5ML〜1MLである。
続いて、基板の温度を、Hの脱離温度以上の第2の温度に加熱し、第2の温度に保持する。この結果、脱H化及び環化反応が誘起され、図14Bに示すように、ポリマー410からエッジ構造がアームチェア型の29−AGNR450が形成される。例えば、第2の温度は350℃〜450℃とし、第1の温度から第2の温度までの昇温速度は1℃/分〜5℃/分とし、第2の温度での保持時間は10分間〜1時間とする。
このように、GNR前駆体400を加熱すると、Brが脱離して、Brと結合していたC同士がGNR前駆体400間で結合し、その後に、Hが脱離して、Hと結合していたC同士がGNR前駆体400間で結合する。Brと結合していたC同士の結合によりGNR前駆体400の配列が決定され、その後のHと結合していたC同士の結合により29−AGNR450の構造が固定される。このため、長い29−AGNR450を安定して合成することができる。例えば、数十nmレベルの29−AGNR450を安定して合成することができる。従って、第4の実施形態に係るGNR前駆体400を用いることで、ボトムアップ法により長い29−AGNR450を製造することができる。
基板としては、第2の実施形態と同様のものを用いることができる。
次に、第4の実施形態に係るGNR前駆体400の製造方法について説明する。図15A〜図15Cは、第4の実施形態に係るGNR前駆体400の製造方法を示す図である。
先ず、図4Aに示す構造式でXがBrである1,4−ジブロモ−2,3−ジヨードベンゼン、及び図15Aに構造式を示す2−ヘキサセンボロン酸(2-hexaceneboronic acid)430を準備する。
次いで、これらを溶媒に溶解させ、触媒を加え、塩基の存在下で攪拌することで鈴木カップリング反応を生じさせる。攪拌を継続して溶媒を蒸発させることで、図15Bに示すように、1,4−ジブロモ−2,3−ジヨードベンゼンに含まれる一方のヨウ素(I)がモノカップリングした物質440が得られる。
その後、図15Bに示す物質440及び2−ヘキサセンボロン酸430を溶媒に溶解させ、触媒を加え、塩基の存在下で攪拌することで鈴木カップリング反応を生じさせる。攪拌を継続して溶媒を蒸発させることで、図15Cに示すように、物質440に含まれるヨウ素(I)がモノカップリングし、GNR前駆体400が得られる。
そして、例えばカラムクロマトグラフィーによりGNR前駆体400の精製を行う。
このようにして、GNR前駆体400を製造することができる。
例えば、溶媒はジオキサン(C)であり、触媒はテトラキス(トリフェニルホスフィン)パラジウム(Pd(PPh)であり、塩基は水酸化ナトリウム(NaOH)であり、攪拌時の溶液の温度は80℃〜100℃とする。
AGNRのnの値、リボン幅方向のC−Cダイマーラインの数N、サブファミリー、リボン幅W及びバンドギャップEの関係を表1に示す。バンドギャップEは、多体効果を考慮した第一原理シミュレーションから計算される値であり、この計算ではAGNRのエッジ修飾基はすべてHである。図16に、C−Cダイマーラインとリボン幅Wとの関係を示す。
Figure 0006973208
表1に示すように、修飾基Xを含む六員環のC配置1,2に修飾される六員環の数(n)により、N−AGNRのリボン幅を系統的にコントロールしてバンドギャップエンジニアリングを実現することができる。
(第5の実施形態)
次に、第5の実施形態について説明する。第5の実施形態は、N−AGNRをチャネルに用いた電界効果トランジスタ(field effect transistor:FET)を含む電子装置及びその製造方法に関する。図17A〜図17Eは、第5の実施形態に係る電子装置の製造方法を工程順に示す上面図である。図18は、第5の実施形態における金属パターンとN−AGNRとの位置関係を示す図である。図19A〜図19Bは、第5の実施形態に係る電子装置の製造方法を工程順に示す断面図である。
先ず、図17Aに示すように、絶縁基板11上に金属層を堆積し、電子線リソグラフィ及びドライエッチングにより金属層をパターニングすることにより金属パターン12を形成する。例えば、絶縁基板11は劈開して清浄表面を出したマイカ基板であり、金属層は厚さが10nm〜50nmのAu層である。Au層は蒸着法によりマイカ基板の劈開面上に堆積することができる。マイカ基板を400℃〜550℃の温度に加熱しながらAu層を堆積することにより、Au層の表面を(111)面に配向させることができる。金属層の材料に、Cu、Ni、Rh、Pd、Ag、Ir又はPtを用いてもよい。基板の種類に応じて金属層のエピタキシャル結晶面を制御することができる。
GNR前駆体の重合反応及び環化反応は絶縁基板11の表面上では誘起されない。従って、金属パターン12の位置及びサイズよりN−AGNRの位置及びサイズを制御することができる。例えば、金属パターン12の長手方向の寸法(長さ)は製造しようとするFETのチャネル長を考慮して調整し、短手方向の寸法(幅)はFETに用いるN−AGNRのバンドギャップ(リボン幅)を考慮して調整する。例えば、金属パターン12の長さは50nm〜500nmとし、幅は1nm〜5nmとする。
金属層のパターニングでは、金属層上に電子線レジストをスピンコートし、金属層をエッチングするためのマスクパターンを電子線レジストに形成する。電子線レジストには、ZEP 520A(日本ゼオン社製)をZEP−A(同社製)で1:1に希釈したレジストを用いることができる。そして、マスクパターンを用いて、Arイオンミリングにより金属層のエッチング処理を行う。このようにして、金属パターン12を形成することができる。
次いで、図17Bに示すように、金属パターン12上にN−AGNR13を形成する。N−AGNR13は、第1の実施形態に係るGNR前駆体100を用いて形成することができる。N−AGNR13の形成の前処理として、金属パターン12の表面清浄処理を行う。この表面清浄処理により、金属パターン12の表面に付着したレジスト残渣などの有機系汚染物質を除去することができ、さらに、Au層の(111)面の平坦性をより向上させることができる。N−AGNR13は、表面清浄処理を施した金属パターン12を大気に曝すことなく、超高真空の真空槽内にてin situで形成する。
例えば、絶縁基板11及び金属パターン12の温度を150℃〜250℃に保持しながらGNR前駆体100を金属パターン12の表面上に蒸着し、その後、絶縁基板11及び金属パターン12の温度を350℃〜450℃に昇温する。この結果、GNR前駆体100の重合反応、脱H化及び環化反応が誘起され、金属パターン12により位置及びサイズが制御されたN−AGNR13が形成される。すなわち、図18に示すように、金属パターン12の長手方向に沿って延びるようにN−AGNR13が自己組織的に形成される。
続いて、図17Cに示すように、電子線リソグラフィ、蒸着法及びリフトオフにより、N−AGNR13の一方の端部上にソース電極14を形成し、他方の端部上にドレイン電極15を形成する。ソース電極14及びドレイン電極15は、例えばTi膜及びその上のCr膜を含む2層電極である。ソース電極14及びドレイン電極15の形成では、N−AGNR13、金属パターン12及び絶縁基板11上に2層レジストをスピンコートし、電子線リソグラフィにより2層レジストに電極パターンを形成する。例えば、2層レジストの上層にはZEP 520Aの希釈レジストを用い、犠牲層である下層にはPMGI SFG2S(Michrochem社製)を用いる。電極パターンの形成後、厚さが0.5nm〜1nmのTi膜及び厚さが30nm〜50nmのCr膜を蒸着法により堆積する。続いて、2層レジストの除去によりリフトオフする。このようにして、ソース電極14及びドレイン電極15が形成される。
次いで、図17D及び図19Aに示すように、電子線リソグラフィ、蒸着法及びリフトオフにより、N−AGNR13上にゲート電極16及びゲート絶縁層17のゲートスタック構造を形成する。このゲートスタック構造は、ソース電極14との間及びドレイン電極15との間に開口部18が形成されるように形成する。例えば、ゲート長は8nm〜12nmとし、ゲート絶縁層17はY層であり、ゲート電極16はTi膜及びその上のCr膜を含む2層電極である。ゲート電極16及びゲート絶縁層17の形成では、ソース電極14及びドレイン電極15の形成と同様に、2層レジストをスピンコートし、電子線リソグラフィにより2層レジストにゲートパターンを形成する。例えば、2層レジストの上層にはZEP 520Aの希釈レジストを用い、犠牲層である下層にはPMGI SFG2Sを用いる。ゲートパターンの形成後、厚さが5nm〜10nmのY層並びに厚さが0.5nm〜1nmのTi膜及び厚さが30nm〜50nmのCr膜を蒸着法により堆積する。続いて、2層レジストの除去によりリフトオフする。このようにして、ゲート電極16及びゲート絶縁層17のゲートスタック構造が形成される。Y層は、真空槽内にOガスを導入しながらY金属を蒸着することで形成することができる。ゲート絶縁層17の材料に、SiO、HfO、ZrO、La又はTiOを用いてもよい。これらの材料を用いる場合も、真空槽内にOガスを導入しながら金属を蒸着することでゲート絶縁層17を形成することができる。
その後、図17E及び図19Bに示すように、ウェットエッチングにより、金属パターン12のうち、ソース電極14又はドレイン電極15により覆われていない部分を除去し、空隙19を形成する。金属パターンにAuが用いられている場合、エッチャントとしてKI水溶液を用いることができる。ソース電極14、ドレイン電極15及びゲート電極16はTi膜及びCr膜を含む2層電極であるため、KI水溶液に対して優れたエッチング耐性を有する。金属パターン12のウェットエッチング後には、純水による洗浄及びイソプロピルアルコールによるリンス処理を順次行う。続いて、乾燥処理として、例えばCOガスを用いた超臨界乾燥処理を行う。COガスを用いた超臨界乾燥処理は、溶液の表面張力又は毛管力によるN−AGNR13の切断の防止に好適である。
このようにして、ソース電極14、ドレイン電極15及びゲート絶縁層17によって懸架されたN−AGNR13をチャネルとするFETを備えた電子装置を製造することができる。この電子装置は、グラフェン固有の高移動度キャリアにより動作することができる。
(第6の実施形態)
次に、第6の実施形態について説明する。第6の実施形態は、ヘテロ接合AGNRを用いた共鳴トンネルダイオード(resonant tunneling diode:RTD)を含む電子装置及びその製造方法に関する。ヘテロ接合AGNRはAGNRの一例である。図20A〜図20Eは、第6の実施形態に係る電子装置の製造方法を工程順に示す上面図である。図21は、第6の実施形態における金属パターンとN−AGNRとの位置関係を示す図である。図22A〜図22Cは、第6の実施形態に係る電子装置の製造方法を工程順に示す断面図である。
先ず、図20Aに示すように、絶縁基板21上に金属層を堆積し、電子線リソグラフィ及びドライエッチングにより金属層をパターニングすることにより金属パターン22を形成する。例えば、絶縁基板21は劈開して清浄表面を出したマイカ基板であり、金属層は厚さが10nm〜50nmのAu層である。絶縁基板21、金属パターン22の材料には、絶縁基板11、金属パターン12の材料と同様のものをもちいることができる。例えば、金属パターン22の長手方向の寸法(長さ)は製造しようとするRTDの長さを考慮して調整し、短手方向の寸法(幅)はRTDに用いるヘテロ接合AGNRのバンドギャップ(リボン幅)を考慮して調整する。例えば、金属パターン22の長さは40nm〜60nmとし、幅は4nm〜6nmとする。
次いで、図20Bに示すように、金属パターン22上にヘテロ接合AGNR23を形成する。ヘテロ接合AGNR23は、第2の実施形態に係るGNR前駆体200、第3の実施形態に係るGNR前駆体300及び第4の実施形態に係るGNR前駆体400を用いて形成することができる。ヘテロ接合AGNR23の形成の前処理として、金属パターン22の表面清浄処理を行う。この表面清浄処理により、金属パターン22の表面に付着したレジスト残渣などの有機系汚染物質を除去することができ、さらに、Au層の(111)面の平坦性をより向上させることができる。ヘテロ接合AGNR23は、表面清浄処理を施した金属パターン22を大気に曝すことなく、超高真空の真空槽内にてin situで形成する。
例えば、絶縁基板21及び金属パターン22の温度を150℃〜250℃に保持しながらGNR前駆体300、GNR前駆体200及びGNR前駆体400をこの順で金属パターン22の表面上に蒸着する。GNR前駆体300の蒸着により図10Aに示すポリマー310が金属パターン22上に自己組織的に形成される。GNR前駆体200の蒸着により図6Aに示すポリマー210がポリマー310の長手方向の両端に自己組織的に重合する。GNR前駆体400の蒸着により図14Aに示すポリマー410がポリマー210の長手方向の両端に自己組織的に重合する。このようにして金属パターン22上に高分子鎖が形成される。
その後、絶縁基板21及び金属パターン22の温度を350℃〜450℃に昇温する。この結果、GNR前駆体300、GNR前駆体200及びGNR前駆体400の脱H化及び環化反応が誘起され、金属パターン22により位置及びサイズが制御されたヘテロ接合AGNR23が形成される。すなわち、図21に示すように、金属パターン22の長手方向に沿って延びるようにヘテロ接合AGNR23が形成される。ヘテロ接合AGNR23は、17−AGNR領域23a、その両端の13−AGNR領域23b及びその両端の29−AGNR領域23cを含む。17−AGNR領域23a、13−AGNR領域23b及び29−AGNR領域23cの長さは、GNR前駆体300、GNR前駆体200及びGNR前駆体400の蒸着量により制御することができる。
続いて、図20C及び図22Aに示すように、電子線リソグラフィ、蒸着法及びリフトオフにより、一方の29−AGNR23c上に電極24を形成し、他方の29−AGNR23c上に電極25を形成し、電極24及び電極25は、例えばTi膜及びその上のCr膜を含む2層電極である。電極24及び電極25は、ソース電極14及びドレイン電極15と同様の方法で形成することができる。
次いで、ウェットエッチングにより、金属パターン22のうち、電極24又は電極25により覆われていない部分を除去し、空隙26を形成する。金属パターンにAuが用いられている場合、エッチャントとしてKI水溶液を用いることができる。この結果、ヘテロ接合AGNR23が電極24及び電極25によって懸架される。
その後、図20D及び図22Bに示すように、絶縁基板21の表面側の全体に保護層27を形成する。保護層27としては、例えば原子層堆積(atomic layer deposition:ALD)法により厚さが3nm〜10nmのHfOを形成する。この場合、例えば、保護層27の前駆体にテトラキス(ジメチルアミノ)ハフニウム(tetrakis (dimethylamino) hafnium)及びHOを用い、堆積温度は220℃〜280℃とする。保護層27はヘテロ接合AGNR23の切断の防止に好適である。ALD法では堆積方向に指向性がないため、図20Dに示すように、保護層27はヘテロ接合AGNR23の露出面の全体を包含し、かつ空隙26の内壁面を覆うように形成される。保護層27は、このようにしてヘテロ接合AGNR23を保護する。保護層27の材料は絶縁性を有していればよい。保護層27の材料に、Al、Si、HfSiO、HfAlON、Y、SrTiO、PbZrTiO又はBaTiOを用いてもよい。
続いて、図20E及び図22Cに示すように、電子線リソグラフィ及びドライエッチングにより、保護層27に、電極24の一部を露出するコンタクトホール28及び電極25の一部を露出するコンタクトホール29を形成する。
このようにして、ヘテロ接合AGNR23を用いたRTDを備えた電子装置を製造することができる。
このようにして製造される第6の実施形態に係る電子装置のヘテロ接合AGNR23のバンド構造を図23に示す。17−AGNR領域23aのバンドギャップは0.62eV、13−AGNR領域23bのバンドギャップは2.34eV、29−AGNR領域23cのバンドギャップは0.38eVである。従って、ヘテロ接合AGNR23は、17−AGNR領域23aを量子井戸領域、13−AGNR領域23bを障壁領域とするRTDに好適に用いることができる。この電子装置は、グラフェン固有の高移動度キャリアにより動作することができる。
GNR前駆体200、GNR前駆体300及びGNR前駆体400の間で、nの値は異なるが基本骨格は共通である。このため、リボン幅が相違する17−AGNR領域23a、13−AGNR領域23b及び29−AGNR領域23cが、リボン長さ方向に接合欠陥を生じさせることなくsp混成の六員環接合される。
以下、本発明の諸態様を付記としてまとめて記載する。
(付記1)
上記の化学式(1)で表される構造式を有し、
上記の化学式(1)において、
は、1以上6以下の整数であり、
X、Y及びZは、F、Cl、Br、I、H、OH、SH、SOH、SOH、SONH、PO、NO、NO、NH、CH、CHO、COCH、COOH、CONH、COCl、CN、CF、CCl、CBr又はCIであり、
六員環を構成する炭素原子からのX、Y、Zの脱離温度をそれぞれT、T、Tとしたとき、T<T≦Tの関係が成り立つ
ことを特徴とするグラフェンナノリボン前駆体。
(付記2)
上記の化学式(2)に表される構造式の繰り返し単位からなり、
長さ方向に沿った両端のエッジ構造がアームチェア型であり、
上記の化学式(2)において、
は、1以上6以下の整数であり、
X、Y及びZは、F、Cl、Br、I、H、OH、SH、SOH、SOH、SONH、PO、NO、NO、NH、CH、CHO、COCH、COOH、CONH、COCl、CN、CF、CCl、CBr又はCIであり、
六員環を構成する炭素原子からのX、Y、Zの脱離温度をそれぞれT、T、Tとしたとき、T<T≦Tの関係が成り立つ
ことを特徴とするグラフェンナノリボン。
(付記3)
長さが10nm以上であることを特徴とする付記2に記載のグラフェンナノリボン。
(付記4)
第1のグラフェンナノリボン領域及び第2のグラフェンナノリボン領域を有し、
前記第1のグラフェンナノリボン領域は、前記化学式(2)で表される構造式の繰り返し単位からなり、長さ方向に沿った両端のエッジ構造がアームチェア型である第1のグラフェンナノリボンを含み、
前記第2のグラフェンナノリボン領域は、前記化学式(2)で表される構造式の繰り返し単位からなり、長さ方向に沿った両端のエッジ構造がアームチェア型である第2のグラフェンナノリボンを含み、
前記第1のグラフェンナノリボンのnの値が前記第2のグラフェンナノリボンのnの値よりも小さく、
前記第1のグラフェンナノリボンと前記第2のグラフェンナノリボンとが互いに六員環を介してヘテロ接合されている
ことを特徴とする付記2又は3に記載のグラフェンナノリボン。
(付記5)
前記化学式(2)で表される構造式の繰り返し単位からなり、長さ方向に沿った両端のエッジ構造がアームチェア型である第3のグラフェンナノリボンを含む第3のグラフェンナノリボン領域を有し、
前記第3のグラフェンナノリボンのnの値が前記第2のグラフェンナノリボンのnの値よりも大きく、
前記第1のグラフェンナノリボンは前記第2のグラフェンナノリボンの長さ方向の両端に六員環を介して一つずつヘテロ接合され、
前記第3のグラフェンナノリボンは前記第1のグラフェンナノリボンの前記第2のグラフェンナノリボンとは反対側の端に六員環を介して一つずつヘテロ接合されている
ことを特徴とする付記4に記載のグラフェンナノリボン。
(付記6)
付記2又は3に記載のグラフェンナノリボンを電界効果トランジスタのチャネルに有する
ことを特徴とする電子装置。
(付記7)
付記5に記載のグラフェンナノリボンを共鳴トンネルダイオードに有する
ことを特徴とする電子装置。
(付記8)
上記の化学式(3)に構造式を示す第1の物質と上記の化学式(4)に構造式を示す第2の物質との間で鈴木カップリング反応を生じさせ、前記第1の物質に含まれる一方のヨウ素がモノカップリングした第3の物質を得る工程と、
前記第3の物質と前記第2の物質との間で鈴木カップリング反応を生じさせ、前記第3の物質に含まれるヨウ素がモノカップリングした第4の物質を得る工程と、
を有することを特徴とするグラフェンナノリボン前駆体の製造方法。
(付記9)
前記第2の物質は、ベンゼン、ナフタレン、アントラセン、ナフタセン、ペンタセン又はヘキサセンのボロン酸であることを特徴とする付記8に記載のグラフェンナノリボン前駆体の製造方法。
(付記10)
基板上で、付記1に記載のグラフェンナノリボン前駆体を第1の温度に加熱して、Xの脱離及びC−C結合反応を誘起し、前記基板上にポリマーを得る工程と、
前記ポリマーを前記第1の温度よりも高い第2の温度に加熱して、Yの脱離及びC−C結合反応を誘起する工程と、
前記ポリマーを前記第2の温度以上の第3の温度に加熱して、Zの脱離及びC−C結合反応を誘起する工程と、
を有することを特徴とするグラフェンナノリボンの製造方法。
(付記11)
Y及びZが同一であり、前記第2の温度及び前記第3の温度が互いに等しいことを特徴とする付記10に記載のグラフェンナノリボンの製造方法。
(付記12)
前記グラフェンナノリボンは、第1のグラフェンナノリボン領域及び第2のグラフェンナノリボン領域を有し、
前記基板上に前記ポリマーを得る工程は、
前記第1のグラフェンナノリボン領域において、前記グラフェンナノリボン前駆体を前記第1の温度に加熱して、Xの脱離及びC−C結合反応を誘起する工程と、
前記第2のグラフェンナノリボン領域において、前記グラフェンナノリボン前駆体を前記第1の温度に加熱して、Xの脱離及びC−C結合反応を誘起する工程と、
を有し、
前記第1のグラフェンナノリボン領域に用いる前記グラフェンナノリボン前駆体のnの値が前記第2のグラフェンナノリボン領域に用いる前記グラフェンナノリボン前駆体のnの値よりも小さく、
前記第1のグラフェンナノリボン領域に形成する第1のグラフェンナノリボンと前記第2のグラフェンナノリボン領域に形成する第2のグラフェンナノリボンとを互いに六員環を介してヘテロ接合させる
ことを特徴とする付記10又は11に記載のグラフェンナノリボンの製造方法。
(付記13)
前記グラフェンナノリボンは、第3のグラフェンナノリボン領域を有し、
前記基板上に前記ポリマーを得る工程は、前記第3のグラフェンナノリボン領域において、前記グラフェンナノリボン前駆体を前記第1の温度に加熱して、Xの脱離及びC−C結合反応を誘起する工程を有し、
前記第3のグラフェンナノリボン領域に用いる前記グラフェンナノリボン前駆体のnの値が前記第2のグラフェンナノリボン領域に用いる前記グラフェンナノリボン前駆体のnの値よりも大きく、
前記第1のグラフェンナノリボンを前記第2のグラフェンナノリボンの長さ方向の両端に六員環を介して一つずつヘテロ接合させ、
前記第3のグラフェンナノリボン領域に形成する前記第3のグラフェンナノリボンを前記第1のグラフェンナノリボンの前記第2のグラフェンナノリボンとは反対側の端に六員環を介して一つずつヘテロ接合させる
ことを特徴とする付記12に記載のグラフェンナノリボンの製造方法。
13:N−AGNR
14:ソース電極
15:ドレイン電極15
16:ゲート電極
23:ヘテロ接合AGNR
24、25:電極
100、200、300、400:グラフェンナノリボン前駆体
110、120、210、310、410:ポリマー
150、250、350、450:グラフェンナノリボン

Claims (10)

  1. 下記の化学式(1)で表される構造式を有し、
    下記の化学式(1)において、
    は、以上6以下の整数であり、
    X、Y及びZは、F、Cl、Br、I、H、OH、SH、SOH、SOH、SONH、PO、NO、NO、NH、CH、CHO、COCH、COOH、CONH、COCl、CN、CF、CCl、CBr又はCIであり、
    六員環を構成する炭素原子からのX、Y、Zの脱離温度をそれぞれT、T、Tとしたとき、T<T≦Tの関係が成り立つ
    ことを特徴とするグラフェンナノリボン前駆体。
    Figure 0006973208
  2. 下記の化学式(2)に表される構造式の繰り返し単位からなり、
    長さ方向に沿った両端のエッジ構造がアームチェア型であり、
    下記の化学式(2)において、
    は、以上6以下の整数であり、
    X、Y及びZは、F、Cl、Br、I、H、OH、SH、SOH、SOH、SONH、PO、NO、NO、NH、CH、CHO、COCH、COOH、CONH、COCl、CN、CF、CCl、CBr又はCIであ
    とを特徴とするグラフェンナノリボン。
    Figure 0006973208
  3. 第1のグラフェンナノリボン領域及び第2のグラフェンナノリボン領域を有し、
    前記第1のグラフェンナノリボン領域は、前記化学式(2)で表される構造式の繰り返し単位からなり、長さ方向に沿った両端のエッジ構造がアームチェア型である第1のグラフェンナノリボンを含み、
    前記第2のグラフェンナノリボン領域は、前記化学式(2)で表される構造式の繰り返し単位からなり、長さ方向に沿った両端のエッジ構造がアームチェア型である第2のグラフェンナノリボンを含み、
    前記第1のグラフェンナノリボンのnの値が前記第2のグラフェンナノリボンのnの値よりも小さく、
    前記第1のグラフェンナノリボンと前記第2のグラフェンナノリボンとが互いに六員環を介してヘテロ接合されている
    ことを特徴とする請求項2に記載のグラフェンナノリボン。
  4. 前記化学式(2)で表される構造式の繰り返し単位からなり、長さ方向に沿った両端のエッジ構造がアームチェア型である第3のグラフェンナノリボンを含む第3のグラフェンナノリボン領域を有し、
    前記第3のグラフェンナノリボンのnの値が前記第2のグラフェンナノリボンのnの値よりも大きく、
    前記第1のグラフェンナノリボンは前記第2のグラフェンナノリボンの長さ方向の両端に六員環を介して一つずつヘテロ接合され、
    前記第3のグラフェンナノリボンは前記第1のグラフェンナノリボンの前記第2のグラフェンナノリボンとは反対側の端に六員環を介して一つずつヘテロ接合されている
    ことを特徴とする請求項3に記載のグラフェンナノリボン。
  5. 請求項2に記載のグラフェンナノリボンを電界効果トランジスタのチャネルに有する
    ことを特徴とする電子装置。
  6. 請求項4に記載のグラフェンナノリボンを共鳴トンネルダイオードに有する
    ことを特徴とする電子装置。
  7. 下記の化学式(3)に構造式を示す第1の物質と下記の化学式(4)に構造式を示す第2の物質との間で鈴木カップリング反応を生じさせ、前記第1の物質に含まれる一方のヨウ素がモノカップリングした第3の物質を得る工程と、
    前記第3の物質と前記第2の物質との間で鈴木カップリング反応を生じさせ、前記第3の物質に含まれるヨウ素がモノカップリングした第4の物質を得る工程と、
    を有し、
    下記の化学式(3)及び(4)において、
    は、以上6以下の整数であり、
    X、Y及びZは、F、Cl、Br、I、H、OH、SH、SOH、SOH、SONH、PO、NO、NO、NH、CH、CHO、COCH、COOH、CONH、COCl、CN、CF、CCl、CBr又はCIであり、
    六員環を構成する炭素原子からのX、Y、Zの脱離温度をそれぞれT、T、Tとしたとき、T<T≦Tの関係が成り立つ
    ことを特徴とするグラフェンナノリボン前駆体の製造方法。
    Figure 0006973208
    Figure 0006973208
  8. 前記第2の物質は、ベンゼン、ナフタレン、アントラセン、ナフタセン、ペンタセン又はヘキサセンのボロン酸であることを特徴とする請求項7に記載のグラフェンナノリボン前駆体の製造方法。
  9. 基板上で、請求項1に記載のグラフェンナノリボン前駆体を第1の温度に加熱して、Xの脱離及びC−C結合反応を誘起し、前記基板上にポリマーを得る工程と、
    前記ポリマーを前記第1の温度よりも高い第2の温度に加熱して、Yの脱離及びC−C結合反応を誘起する工程と、
    前記ポリマーを前記第2の温度以上の第3の温度に加熱して、Zの脱離及びC−C結合反応を誘起する工程と、
    を有することを特徴とするグラフェンナノリボンの製造方法。
  10. Y及びZが同一であり、前記第2の温度及び前記第3の温度が互いに等しいことを特徴とする請求項9に記載のグラフェンナノリボンの製造方法。
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