JP6940258B2 - 有機半導体をドーピングする方法およびドーピング組成物 - Google Patents

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Description

活性有機材料を含有する電子デバイスは、デバイス、例えば有機発光ダイオード(OLED)、有機光応答性デバイス(特に有機光起電性デバイスおよび有機光センサ)、有機トランジスタおよびメモリアレイデバイスに使用するためにますます関心を集めている。活性有機材料を含有するデバイスは、低重量、低消費電力および可撓性のような利点をもたらす。さらに、可溶性有機材料の使用により、デバイス製造における溶液加工処理、例えばインクジェット印刷またはスピンコーティングの使用が可能となる。
有機発光デバイスは、アノード、カソードおよびこのアノードとカソードとの間に発光材料を含有する有機発光層を保持する基材を有する。
操作中、正孔はアノードを通してデバイスに注入され、電子はカソードを通して注入される。発光材料の最高被占軌道(HOMO)の正孔および最低空軌道(LUMO)の電子が一緒になって励起子を形成し、そのエネルギーを光として放出する。
カソードは、特許文献1に開示されるような、金属、例えばアルミニウムの単層、カルシウムおよびアルミニウムの二層;ならびに非特許文献1に開示されるような、アルカリまたはアルカリ土類化合物の層およびアルミニウムの層の二層を含む。
電子輸送または電子注入層は、カソードと発光層との間に提供されてもよい。
非特許文献2には、(4−(1,3−ジメチル−2,3−ジヒドロ−1H−ベンゾイミダゾール−2−イル)フェニル)ジメチルアミン(N−DMBI)とPCBMとを混合し、N−DMBIを加熱により活性化することによる、[6,6]−フェニルC61酪酸メチルエステル(PCBM)のドーピングが開示されている。
特許文献2には、基材上に配設されたカソードならびに電子輸送材料およびN−DMBIの熱処理によって形成された電子輸送層を有するOLEDが開示されている。N−DMBIの熱処理時に形成されたラジカルがn−ドーパントであってもよいことが開示されている。
特許文献3には、有機半導体材料をドーピングするためのn−ドーパント前駆体が開示されている。
国際公開第98/10621号 米国特許出願公開第2014/070178号明細書 米国特許第8920944号明細書
L.S.Hung,C.W.Tang,and M.G.Mason,Appl.Phys.Lett.70,152(1997) Bao et al,「Use of a 1H−Benzoimidazole Derivative as an n−Type Dopant and To Enable Air−Stable Solution−Processed n−Channel Organic Thin−Film Transistors」J.Am.Chem.Soc.2010,132,8852−8853
第1の態様において、本発明は、n−ドープされた半導体層を形成する方法を提供し、ここで有機半導体およびn−ドーパント試薬を含むフィルムは、有機半導体の吸収範囲である波長を有する光によって照射され、n−ドーパント試薬の吸収最大波長はこの光のいずれかのピーク波長よりも短い。
第2の態様において、本発明は、有機電子バイスのn−ドープされた層を形成する方法が提供され、このn−ドープされた層が第1の態様に従って形成される。
第3の態様において、本発明は:(a)C=N基、ニトリル基、C=O基およびC=S基の1つ以上を含む単位を含む有機半導体ならびに(b)2,3−ジヒドロ−ベンゾイミダゾール基を含むn−ドーパント試薬を含む組成物を提供する。
この第3の態様のC=N基、ニトリル基、C=O基およびC=S基の1つ以上を含む単位を含む有機半導体ならびに2,3−ジヒドロ−ベンゾイミダゾール基を含むn−ドーパント試薬は、本明細書においていずれの箇所において記載される通りであってもよい。
第4の態様において、本発明は、第3の態様に従う組成物からn−ドープされた半導体層を形成する方法が提供され、この方法は、有機半導体を励起する工程を含む。第3の態様に従う組成物は、電磁放射線によって励起されてもよく、第1の態様を参照して記載されるような光で、または熱処理によって励起されてもよい。
本明細書で使用される場合「n−ドーパント試薬」は、25℃での有機半導体の励起のないドーピングの程度に比べて、有機半導体の励起時(本明細書で記載されるような照射によってもよい)には、より大きな程度まで有機半導体をドープする材料を意味する。
好ましくは、ドーピングの程度は、エレクトロンオンリーデバイス測定によって決定される場合に、有機半導体の励起時には少なくとも10倍(少なくとも100倍であってもよい)大きい。好ましくは、25℃において有機半導体の励起なしではドーピングがほとんどまたは全くない。
ここで本発明は、図面を参照してより詳細に記載される。
本発明の実施形態に従うOLEDを図示する。 n−ドーパント試薬についておよび2つの半導体ポリマーについての吸収スペクトルを示す。 照射の前後のn−ドーパント試薬および第1の半導体ポリマーの混合物についての吸収スペクトルを示す。 照射の前後のn−ドーパント試薬および第2の半導体ポリマーの混合物についての吸収スペクトルを示す。 本発明の実施形態に従ってn−ドープされた有機半導体層を含むエレクトロンオンリーデバイスについての、異なる時間長の照射による、電流密度対電圧のグラフである。 本発明の実施形態に従ってn−ドープされた有機半導体層を含むエレクトロンオンリーデバイスについての、照射の前後における、電流密度対電圧のグラフである。
図1は、正確な縮尺では描かれていないが、基材101、例えばガラスまたはプラスチック基材に支持された本発明の実施形態に従うOLED100を示す。OLED100は、アノード103、発光層105、電子注入層107およびカソード109を含む。
アノード103は、伝導性材料の単一層であってもよく、または2つ以上の伝導性層から形成されてもよい。アノード103は、透明アノード、例えばインジウムスズオキシドの層であってもよい。透明アノード103および透明基材101は、光が基材を通して発光されるように使用されてもよい。アノードは、不透明であってもよく、この場合基材101は不透明または透明であってもよく、光は透明カソード109を通して発光され得る。
発光層105は、少なくとも1つの発光材料を含有する。発光材料105は、単一発光化合物からなってもよく、または複数の化合物の混合物であってもよく、1つ以上の発光ドーパントでドープされたホストであってもよい。発光層105は、デバイスが操作中である場合にりん光を発光する少なくとも1つの発光材料、またはデバイスが操作中である場合に、蛍光を発光する少なくとも1つの発光材料を含有してもよい。発光層105は、少なくとも1つのりん光発光材料および少なくとも1つの蛍光発光材料を含有してもよい。
電子注入層107は、n−ドープされた半導体を含むまたはこれらからなる。
カソード109は、電子のデバイスへの注入のために、少なくとも1つの層(2つ以上の層であってもよい)から形成される。
OLED100は、アノード103とカソード109との間に、1つ以上のさらなる層、例えば1つ以上の電荷輸送、電荷ブロッキングまたは電荷注入層を含有してもよい。好ましくは、デバイスは、アノードと発光層105との間に伝導性材料を含む正孔注入層を含む。好ましくは、デバイスは、アノード103と発光層105との間に半導体正孔輸送材料を含む正孔輸送層を含む。
本明細書で使用される場合、「伝導性材料」は、仕事関数を有する材料、例えば金属または縮退半導体を意味する。
本明細書で使用される場合「半導体」は、HOMOおよびLUMO準位を有する材料を意味し、半導体層は、半導体材料を含むまたは1つ以上の半導体材料からなる層である。
電子注入層は、有機半導体(受容体材料)およびn−ドーパント試薬のフィルムを形成し、n−ドーパント試薬の吸収最大波長よりも長いピーク波長を有する光源からの光でフィルムを照射することによって形成される。
好ましくは、本明細書で記載されるような有機半導体のピーク波長は、400〜700nmの範囲において吸収スペクトルの最も強い吸収を示すピークである。好ましくは、n−ドーパント試薬の最も強い吸収は、400nm未満の波長である。
n−ドーパント試薬は、有機半導体のLUMO準位よりも深い(真空から離れた)HOMO準位を有する。n−ドーパント試薬は、有機半導体のLUMO準位よりも少なくとも1eV深い(真空から離れた)HOMO準位を有していてもよい。従って、室温での有機半導体およびn−ドーパント試薬の混合時には、ほとんどまたは全く自発的なドーピングは生じない。
しかしながら、本発明者らは、驚くべきことに、本明細書に記載されるような電磁放射線へのフィルムの曝露がn−ドーピングをもたらし、また、該電磁放射線は、n−ドーパント試薬が吸収できる波長にある必要はないことを見出した。光源から放出される光は、好適には、有機半導体吸収スペクトルの吸収特徴、例えば吸収ピークまたはショルダーとオーバーラップする。光源から放出された光は、有機半導体の吸収最大波長の25nm、10nmまたは5nm以内にピーク波長を有していてもよいが、光のピーク波長は、有機半導体の吸収最大波長と一致する必要はないことが理解される。
ドーピングの程度は;有機半導体/n−ドーパント試薬比;光のピーク波長;フィルムの照射期間;および光の強度の1つ以上によって制御されてもよい。励起は、光のピーク波長が有機半導体の吸収最大値と一致する場合、最も効率が良いことが理解される。
照射時間は、1秒〜1時間(1〜30分であってもよい)であってもよい。
好ましくは光源から放出される光は、400〜700nmの範囲である。好ましくは、電磁放射線は、400nmより大きい(420nmより大きくてもよく、450nmより大きくてもよい)ピーク波長を有する。n−ドーパント試薬の吸収スペクトルの吸収ピークと光源から放出される(1または複数の)光の波長との間にオーバーラップはなくてもよい。n−ドーパント試薬は、有機半導体をドーピングする過程においてカチオンを形成することが理解される。このカチオンの電気化学的還元によって形成され得るラジカルの半占軌道(SOMO)は、n−ドーパント試薬のドーピング強度の指標と考えられ得る。好ましくは、このラジカルのSOMOは、有機半導体のLUMOよりも0.5eV以内の深さを有する。n−ドーパント試薬は、有機半導体のLUMO準位と同じまたはより浅いSOMO準位を有していてもよい。n−ドーパント試薬は、有機半導体のLUMO準位よりも少なくとも0.05eV深い半占軌道(SOMO)を有していてもよい。ラジカルは、真空準位から約3.0eV未満(より浅い)SOMO準位を有していてもよい。
有機半導体は、真空準位から3.2eV以内(真空準位から3.1または3.0eV以内であってもよい)のLUMO準位を有していてもよい。
いずれかの好適な電磁放射線源は、フィルムに照射するために使用されてもよく、蛍光管、白熱電球および有機または無機LEDを含むが、これらに限定されない。電磁放射線源は、無機LEDのアレイであってもよい。電磁放射線源は、1または複数のピーク波長を有する放射線を生じ得る。
好ましくは、電磁放射線源は、少なくとも2000mW(少なくとも3000mWであってもよく、少なくとも4000mWであってもよい)の光出力を有する。
好ましくは電磁放射線源の光出力の10%以下または5%以下は、400nm以下(420nm以下であってもよい)の波長を有する放射線由来である。好ましくは光出力はいずれも、400nm以下(420nm以下であってもよい)の波長を有していない。
短波長光、例えばUV光への曝露なしにn−ドーピングを誘導することは、OLEDの材料への損傷を回避し得る。
n−ドープされた有機半導体は、外因性または縮退半導体であってもよい。
有機電子デバイス、例えば図1に記載されるようなOLEDの製造において、照射工程は、デバイス形成の間に行われてもよく、またはデバイスが形成された後に行われてもよい。好ましくは、照射は、デバイスが形成され、封入された後に行われる。デバイスは、フィルムがデバイスの封入後までn−ドーピングを誘導する光の波長にほとんどまたは全く曝されない環境、例えば電磁放射線源の波長よりも長い波長を有する光によって照らされる環境、例えば黄色光で照らされたクリーンルームで製造されてもよい。
図1に記載されるようなOLEDの場合、n−ドーパント試薬および有機半導体107のフィルムは、有機発光層105にわたって形成されてもよく、カソード109は、このフィルムにわたって形成されてもよい。
次いでフィルムは、透明基材101に形成され、透明アノード103、例えばITOを有するデバイスの場合には、アノード101を通して、照射されてもよく、またはフィルムは、透明カソードを有するデバイスの場合には、カソード109を通して照射されてもよい。n−ドーピングを誘導するために使用される波長は、電磁放射線源とフィルムとの間にあるデバイスの層によって吸収される波長を回避するように選択されてもよい。
好ましくは電子注入層107は、有機発光層105と接触する。好ましくは、有機半導体およびn−ドーパント試薬のフィルムは、有機発光層105に直接形成される。
好ましくは、ドープされた有機半導体は、発光層の材料のLUMO(発光層がホスト材料および発光材料の混合物を含む場合には発光材料のLUMOまたはホスト材料のLUMOであってもよい)に比して約1eV(0.5eVまたは0.2eVであってもよい)未満の深さの仕事関数を有する。好ましくは、ドープされた有機半導体は、発光層の材料のLUMOと同じまたはLUMOより浅い仕事関数を有する。ドープされた有機半導体は、3.0eV未満(約2.1〜2.8eVであってもよい)の仕事関数を有していてもよい。
好ましくは、カソード109は、電子注入層107と接触する。好ましくはカソードは、有機半導体およびn−ドーパント試薬のフィルムに直接形成される。
有機半導体およびn−ドーパント試薬のフィルムは空気中で堆積されてもよい。下層、好ましくは有機発光層105は架橋されてもよい。
OLED100は、ディスプレイ(発光層105が赤色、緑色、青色サブピクセルを含むピクセルを含むようなフルカラーディスプレイであってもよい)であってもよい。
OLED100は、白色発光OLEDであってもよい。本明細書に記載されるような白色発光OLEDは、2500〜9000Kの範囲の温度において黒体によって放出される光と等価なCIEx座標、および黒体によって放出されたこの光のCIEy座標の0.05または0.025範囲内のCIEy座標を有していてもよい(2700〜6000Kの範囲の温度において黒体によって放出された光と等価なCIEx座標であってもよい)。白色発光OLEDは、合わせて白色光を生じる、複数の発光材料、好ましくは赤色、緑色、および青色発光材料、より好ましくは赤色、緑色および青色りん光発光材料を含有してもよい。発光材料はすべて、発光層105に提供されてもよく、または1つ以上の追加の発光層が提供されてもよい。
赤色発光材料は、約550を超えて約700nmまでの範囲(約560nmまたは約580nmを超えて約630nmまたは650nmまでの範囲であってもよい)にピークを有するフォトルミネッセンススペクトルを有していてもよい。
緑色発光材料は、約490nmを超えて約560nmまでの範囲(約500nm、510nmまたは約520nmを超えて約560nmまでの範囲であってもよい)にピークを有するフォトルミネッセンススペクトルを有していてもよい。
青色発光材料は、約490nmまで(約450〜490nmの範囲であってもよい)にピークを有するフォトルミネッセンススペクトルを有していてもよい。
材料のフォトルミネッセンススペクトルは、0.3〜0.4の透過率値を達成するために石英基材上にPMMAフィルム中の材料5重量%をキャスティングし、Hamamatsuによって供給される装置C9920−02を用いて窒素環境中で測定することによって測定されてもよい。
有機半導体
有機半導体は、ポリマー性または非ポリマー性材料であってもよい。好ましくは、有機半導体はポリマーであり、より好ましくは共役ポリマーである。
好ましくは有機半導体は、極性二重結合または三重結合(C=N基、ニトリル基またはC=O基から選択される結合であってもよい)を含む。好ましくはこれらの極性二重または三重結合基は、共役ポリマー骨格に共役される。有機半導体は、ベンゾチアジアゾール単位を含んでいてもよい。ベンゾチアジアゾール単位は、ポリマーの単位であってもよい。ポリマー繰り返し単位は、以下の式の繰り返し単位を含むまたはこれらからなってもよい:
Figure 0006940258
式中、Rは、各出現時において、置換基であり、アルキル(C1−20アルキルであってもよい)から選択される置換基であってもよく、ここで1つ以上の非隣接C原子は、置換されてもよいアリールまたはヘテロアリール、O、S、C=Oまたは−COO−で置き換えられてもよく、1つ以上のH原子はFで置き換えられてもよい。
ベンゾチアジアゾールを含む繰り返し単位は、以下の式を有していてもよい:
Figure 0006940258
式中、Rは、上記で記載される通りである。
ポリマーは、ベンゾチアジアゾール繰り返し単位およびアリーレン繰り返し単位を含む繰り返し単位を含んでいてもよい。
アリーレン繰り返し単位としては、これらに限定されないが、フルオレン、フェニレン、ナフタレン、アントラセン、インデノフルオレン、フェナントレンおよびジヒドロフェナントレン繰り返し単位が挙げられ、これらのそれぞれは、非置換であってもよく、もしくは1つ以上の置換基で置換されてもよい。
存在する場合、アリーレン繰り返し単位の置換基は、C1−40ヒドロカルビル、好ましくはC1−20アルキル;非置換もしくは1つ以上のC1−10アルキル基で置換されてもよいフェニルから選択されてもよい。
1つの好ましいクラスのアリーレン繰り返し単位は、フェニレン繰り返し単位、例えば式(VI)のフェニレン繰り返し単位である:
Figure 0006940258
式中、wは、各出現時において、独立に、0、1、2、3または4であり、1または2であってもよく;nは1、2または3であり;Rは、独立に、各出現時において置換基である。
存在する場合、各Rは、独立に:
−アルキル(C1−20アルキルであってもよい)(ここで1つ以上の非隣接C原子は、置換されてもよいアリールまたはヘテロアリール、O、S、C=Oまたは−COO−で置き換えられてもよく、1つ以上のH原子はFで置き換えられてもよい);
−式−(Arの基(ここで各Arは、独立に、非置換または1つ以上の置換基で置換されてもよいアリールまたはヘテロアリール基であり、rは少なくとも1である(1、2または3であってもよい))、好ましくは分岐状または線状鎖のフェニル基(このそれぞれは1つ以上のC1−20アルキル基を有していてもよい)
からなる群から選択されてもよい。
がアリールまたはヘテロアリール基、線状または分岐状鎖のアリールまたはヘテロアリール基を含む場合、このアリールもしくはヘテロアリール基またはこれらそれぞれは:アルキル、例えばC1−20アルキル(ここで1つ以上の非隣接C原子は、O、S、C=Oおよび−COO−で置き換えられてもよく、アルキル基の1つ以上のH原子は、Fで置き換えられてもよい);フッ素;ニトロおよびシアノからなる群から選択される1つ以上の置換基Rで置換されてもよい。
好ましくは、各Rは、存在する場合、独立に、C1−40ヒドロカルビルから選択され、より好ましくはC1−20アルキル;非置換フェニル;1つ以上のC1−20アルキル基で置換されたフェニル;線状または分岐状鎖のフェニル基(ここで各フェニルは、非置換もしくは1つ以上の置換基で置換されてもよい);および架橋性基から選択される。
nが1である場合、式(VI)の例示的な繰り返し単位は以下が挙げられる:
Figure 0006940258
式(VI)の特に好ましい繰り返し単位は式(VIa)を有する:
Figure 0006940258
式(VIa)の置換基Rは、繰り返し単位の連結位置に隣接し、これは式(VIa)の繰り返し単位と隣接繰り返し単位との間の立体障害を生じることがあり、結果として1つまたは両方の隣接繰り返し単位に対して平面から出てツイストした式(VIa)の繰り返し単位を生じる。
nが2または3である例示的な繰り返し単位としては、以下が挙げられる:
Figure 0006940258
好ましい繰り返し単位は式(VIb)を有する:
Figure 0006940258
上記式(VIb)の2つのR基は、それらが結合したフェニル環の間に立体障害を生じる場合があり、結果として、互いに対して2つのフェニル環がツイストする。
さらなるクラスのアリーレン繰り返し単位は、置換されてもよいフルオレン繰り返し単位、例えば式(VII)の繰り返し単位である:
Figure 0006940258
式中、Rは、各出現時において、同一または異なり、式(VI)を参照して記載されるような置換基であり、ここで2つの基Rは、連結して環を形成してもよく;Rは置換基であり;dは0、1、2または3である。
フルオレン繰り返し単位の芳香族炭素原子は非置換であってもよく、または1つ以上の置換基Rで置換されてもよい。例示的な置換基Rは、アルキル、例えばC1−20アルキル(ここで1つ以上の非隣接C原子は、O、S、C=Oおよび−COO−で置き換えられてもよい)、置換されてもよいアリール、置換されてもよいヘテロアリール、アルコキシ、アルキルチオ、フッ素、シアノおよびアリールアルキルである。特に好ましい置換基としては、C1−20アルキルおよび置換または非置換アリール、例えばフェニルが挙げられる。アリールのための任意の置換基としては、1つ以上のC1−20アルキル基が挙げられる。
ポリマー骨格における隣接繰り返し単位のアリールまたはヘテロアリール基に対する式(VII)の繰り返し単位の共役度は、(a)繰り返し単位にわたって共役度を制限するように3−および/または6−位を通して繰り返し単位を連結させることによって、および/または(b)(1または複数の)隣接繰り返し単位とツイストを創出するために、連結位置に隣接する1つ以上の位置にて1つ以上の置換基Rで繰り返し単位を置換することによって(例えばC1−20アルキル置換基を3−位および6−位の1つまたは両方で保持する2,7−連結フルオレン)、制御されてもよい。
式(VII)の繰り返し単位は、置換されてもよい式(VIIa)の2,7−連結繰り返し単位であってもよい:
Figure 0006940258
式(VIIa)の繰り返し単位は、2−または7−位に隣接する位置において置換されていなくてもよい。2−および7−位を通した連結およびこれらの連結位置に隣接した置換基の不存在は、繰り返し単位にわたる相対的に高い共役度を提供できる繰り返し単位を提供する。
式(VII)の繰り返し単位は、置換されてもよい式(VIIb)の3,6−連結繰り返し単位であってもよい。
Figure 0006940258
式(VIIb)の繰り返し単位にわたる共役度は、式(VIIa)繰り返し単位に比較して相対的に低くてもよい。
別の例示的なアリーレン繰り返し単位は、式(VIII)を有する:
Figure 0006940258
式中、R、Rおよびdは、上記式(VI)および(VII)を参照して記載される通りである。R基のいずれかは、R基のいずれか他の基に連結し、環を形成してもよい。こうして形成された環は、非置換であってもよく、または1つ以上の置換基(1つ以上のC1−20アルキル基であってもよい)で置換されてもよい。
本明細書のいずれかの箇所で記載されるポリマーは好適には、約1×10〜1×10、好ましくは1×10〜5×10の範囲のゲル透過クロマトグラフィによって測定されるポリスチレン換算数平均分子量(Mn)を有する。本明細書のいずれかの箇所で記載されるポリマーのポリスチレン換算重量平均分子量(Mw)は、1×10〜1×10、好ましくは1×10〜1×10であってもよい。
本明細書のいずれかの箇所で記載されるようなポリマーは、好適には非晶質ポリマーである。
n−ドーパント試薬
例示的なn−ドーパント試薬は、2,3−ジヒドロ−ベンゾイミダゾール基(2,3−ジヒドロ−1H−ベンゾイミダゾール基であってもよい)を含む。n−ドーパント試薬は、式(I)を有していてもよい:
Figure 0006940258
式中:
各Rは、独立に、C1−20ヒドロカルビル基(C1−10アルキル基であってもよい)であり;
はHまたはC1−20ヒドロカルビル基(H、C1−10アルキルまたはC1−10アルキルフェニルであってもよい)であり;
各Rは、独立に、C1−20ヒドロカルビル基(C1−10アルキル、フェニルまたは1つ以上のC1−10アルキル基で置換されたフェニルであってもよい)である。
例示的なn−ドーパント試薬としては以下が挙げられる:
Figure 0006940258
Figure 0006940258
N−DMBIは、Adv.Mater.2014,26,4268−4272に開示されており、この内容は本明細書に参考として組み込まれる。
発光層
OLED100は、1つ以上の発光層を含有してもよい。
OLED100の発光材料は、蛍光材料、りん光材料、または蛍光およびりん光材料の混合物であってもよい。発光材料は、ポリマー性および非ポリマー性発光材料から選択されてもよい。例示的な発光ポリマーは、共役ポリマー、例えばポリフェニレンおよびポリフルオレンであり、これらの例は、Bernius,M.T.,Inbasekaran,M.,O’Brien,J.and Wu,W.,Progress with Light−Emitting Polymers.Adv.Mater.,12 1737−1750,2000に記載されており、これらの内容は参考として本明細書に組み込まれる。発光層107は、ホスト材料および蛍光またはりん光発光ドーパントを含んでいてもよい。例示的りん光ドーパントは、2列目および3列目遷移金属錯体、例えばルテニウム、ロジウム、パラジウム、レニウム、オスミウム、イリジウム、白金または金の錯体である。
OLEDの発光層は、パターニングされていなくてもよく、またはパターニングされて区別可能なピクセルを形成してもよい。各ピクセルはさらに、サブピクセルに分割されてもよい。発光層は、単一発光材料、例えばモノクロディスプレイまたは他のモノクロデバイスのための単一発光材料を含有してもよく、またはフルカラーディスプレイのための異なる色を発光する材料、特に赤、緑および青色発光材料を含有してもよい。
発光層は、複数の発光材料の混合物、例えば連携して白色光発光を提供する発光材料の混合物を含有してもよい。複数の発光層は連携して、白色光を生じ得る。
蛍光発光層は、発光材料のみからなってもよく、または発光材料と混合された1つ以上のさらなる材料を含んでいてもよい。例示的なさらなる材料は、正孔輸送材料;電子輸送材料および三重項受容材料、例えば国際公開第2013/114118号(これらの内容は参考として本明細書に組み込まれる)に記載されるような三重項受容ポリマーから選択されてもよい。
カソード
カソードは、1つ以上の層を含んでいてもよい。好ましくは、カソードは、1つ以上の伝導性材料を含むまたはこれらからなる電子注入層と接触した層を含むまたはこれらからなる。例示的な伝導性材料は、金属、好ましくは少なくとも4eVの仕事関数を有する金属(アルミニウム、銅、銀または金または鉄であってもよい)である。例示的な非金属性伝導性材料としては、伝導性金属酸化物、例えばインジウムスズオキシドおよびインジウム亜鉛オキシド、グラファイトおよびグラフェンが挙げられる。金属の仕事関数は、CRC Handbook of Chemistry and Physics,12−114,87th Edition(CRC Press出版、David R.Lide.編)に与えられる。複数の値が金属に与えられている場合、列挙されたうちの最初の値を適用する。
カソードは、不透明または透明であってもよい。透明カソードは、アクティブマトリックスデバイスにとって特に有利である。なぜなら、こうしたデバイスでは透明アノードを通る発光が、少なくとも部分的に発光ピクセルの直ぐ下に位置する駆動回路によってブロックされるからである。
透明カソードデバイスは、透明アノードを必要とせず(完全に透明なデバイスが所望されない限り)、したがって、底部発光デバイスのために使用される透明アノードは、反射性材料の層、例えばアルミニウムの層と置き換えられてもよく、または補充され得ることが理解される。透明のカソードデバイスの例は、例えば英国特許第2348316号明細書に開示される。
正孔輸送層
正孔輸送層が、アノード103と発光層105との間に提供されてもよい。
正孔輸送層は、上層が溶液から堆積される場合は特に、架橋されてもよい。この架橋のために使用される架橋性基は、反応性二重結合、例えばビニルまたはアクリレート基を含む架橋性基、またはベンゾシクロブタン基であってもよい。架橋は、好ましくは約250℃未満の温度(約100〜250℃の範囲であってもよい)における熱処理によって行われてもよい。
正孔輸送層は、正孔輸送ポリマーを含んでいてもよく、またはこれらからなってもよく、2つ以上の異なる繰り返し単位を含むホモポリマーまたはコポリマーであってもよい。正孔輸送ポリマーは、共役または非共役であってもよい。例示的な共役正孔輸送ポリマーは、アリールアミン繰り返し単位、例えば国際公開第99/54385号または国際公開第2005/049546号(これらの内容は参考として本明細書に組み込まれる)に記載される単位を含むポリマーである。アリールアミン繰り返し単位を含む共役正孔輸送コポリマーは、アリーレン繰り返し単位から選択される1つ以上の共繰り返し単位、例えばフルオレン、フェニレン、フェナントレン ナフタレンおよびアントラセン繰り返し単位から選択される1つ以上の繰り返し単位を有していてもよく、これらのそれぞれは、独立に非置換であってもよく、もしくは1つ以上の置換基(1つ以上のC1−40ヒドロカルビル置換基であってもよい)で置換されていてもよい。
存在する場合、アノードと発光層105との間に位置する正孔輸送層は、サイクリックボルタンメトリによって測定される場合、好ましくは5.5eV以下、より好ましくは約4.8〜5.5eVまたは5.1〜5.3eVのHOMO準位を有する。正孔輸送層のHOMO準位は、隣接層との間の正孔輸送に対して小さいバリアを提供するために、隣接層の0.2eV内(0.1eVであってもよい)内であるように選択されてもよい。
好ましくは正孔輸送層、より好ましくは架橋された正孔輸送層は、発光層105に隣接する。
正孔輸送層は、本質的に正孔輸送材料からなってもよく、または1つ以上のさらなる材料を含んでいてもよい。発光材料(りん光材料であってもよい)は、正孔輸送層に提供されてもよい。
りん光材料は、ポリマー骨格の繰り返し単位として、ポリマーの末端基として、またはポリマーの側鎖として、正孔輸送ポリマーに共有結合してもよい。りん光材料が側鎖に提供される場合、ポリマー骨格の繰り返し単位に直接結合してもよく、またはスペーサー基によってポリマー骨格から間隔をあけてもよい。例示的なスペーサー基としては、C1−20アルキルおよびアリール−C1−20アルキル、例えばフェニル−C1−20アルキルが挙げられる。スペーサー基のアルキル基の1つ以上の炭素原子は、O、S、C=OまたはCOOで置き換えられてもよい。
発光正孔輸送層からの発光および発光層105からの発光は、合わせて白色光を生じてもよい。
正孔注入層
伝導性有機または無機材料から形成され得る伝導性正孔注入層は、図1に示されるようなOLEDのアノード103と発光層105との間に提供されて、アノードから半導体ポリマーの(1または複数の)層への正孔注入を補助してもよい。ドープされた有機正孔注入材料の例としては、置換されてもよいドープされたポリ(エチレンジオキシチオフェン)(PEDT)、特に欧州特許第0901176号明細書および欧州特許第0947123号明細書に開示されるような、電荷平衡ポリ酸、例えばポリスチレンスルホネート(PSS)でドープされたPEDT、ポリアクリル酸またはフッ素化スルホン酸、例えばNafion(登録商標);米国特許第5723873号明細書および米国特許第5798170明細書に開示されるようなポリアニリン;および置換されてもよいポリチオフェンまたはポリ(チエノチオフェン)が挙げられる。伝導性無機材料の例としては、遷移金属酸化物、例えばJournal of Physics D:Applied Physics(1996),29(11),2750−2753に開示されるような、VOx、MoOxおよびRuOxが挙げられる。
封入
n−ドーパント試薬および有機半導体のフィルムは、好ましくは、湿分および酸素の進入を防ぐためにフィルムを含有するデバイスの封入された後に、本明細書に記載されるn−ドーピングを生じるように放射線に曝露される。
好適な封入剤としては、ガラスシート、好適なバリア特性を有するフィルム、例えば二酸化ケイ素、一酸化ケイ素、窒化ケイ素、またはポリマーおよび誘導体の交互のスタックまたは気密容器が挙げられる。透明カソードデバイスの場合、透明封入層、例えば一窒化ケイ素または二酸化ケイ素をミクロンレベルの厚さに堆積してもよいが、1つの好ましい実施形態において、こうした層の厚さは20〜300nmの範囲である。基材または封入剤を通って浸透し得るいずれかの大気中湿分および/または酸素の吸収のためのゲッター材料が、基材と封入剤との間に配設されてもよい。
デバイスが形成された基材は、好ましくは良好なバリア特性を有し、こうして封入剤と共に基材は湿分または酸素の進入に対するバリアを形成する。基材は、一般にガラスであるが、代替基材が、特にデバイスの可撓性が所望される場合に、使用されてもよい。例えば、基材は、1つ以上のプラスチック層、例えば交互のプラスチックおよび誘電体バリア層の基材または薄いガラスおよびプラスチックのラミネートを含んでいてもよい。
配合物加工処理
発光層105および電子注入層107は、蒸発および溶液堆積方法を含むいずれの方法によって形成されてもよい。溶液堆積方法が好ましい。
発光層105および電子注入層107を形成するのに好適な配合物はそれぞれ、こうした層を形成する構成成分および1つ以上の好適な溶媒から形成されてもよい。
好ましくは、発光層105は、溶媒が1つ以上の非極性溶媒材料(C1−10アルキルおよびC1−10アルコキシ基から選択される1つ以上の置換基で置換されたベンゼン、例えばトルエン、キシレンおよびメチルアニソール、およびこれらの混合物であってもよい)である溶液を堆積することによって形成される。
電子注入層107を形成するために照射される、有機半導体およびn−ドーパント試薬を含むフィルムは、溶液を堆積させることによって形成されてもよい。
印刷およびコーティング技術、例えばスピンコーティングおよびインクジェット印刷およびリソグラフ印刷を含む特に好ましい溶液堆積技術。
コーティング方法は、発光層のパターニングが不必要であるデバイス、例えば照明用途または単純なモノクロセグメント化ディスプレイのために特に好適である。
印刷方法は、高情報量ディスプレイ、特にフルカラーディスプレイに特に好適である。デバイスは、アノードにわたってパターニングされた層を提供し、1つの色(モノクロデバイスの場合)またはマルチカラー(マルチカラーの場合、特にフルカラーデバイスの場合)の印刷のためのウェルを規定することによってインクジェット印刷され得る。パターニングされた層は、通常、例えば欧州特許第0880303号明細書に記載されるようなウェルを規定するようにパターニングされたフォトレジストの層である。
ウェルの代替として、インクは、パターニングされた層内に規定されるチャンネルに印刷されてもよい。特に、フォトレジストは、ウェルとは異なり、複数のピクセルにわたって延び、チャンネル末端部において閉じていてもよくまたは開いていてもよいチャンネルを形成するためにパターニングされてもよい。
他の溶液堆積技術としては、浸漬コーティング、スロットダイコーティング、ロール印刷およびスクリーン印刷が挙げられる。
用途
ドープされた有機半導体層は、有機発光デバイスの電子注入層を参照して記載されているが、本明細書に記載されるように形成された層は、他の有機電子デバイスにおいて、例えば有機光起電デバイスまたは有機光検出器の電子抽出層として;n型有機薄膜トランジスタの補助電極層としてまたは熱電気発生器のn型半導体として使用されてもよいことが理解される。
測定
プリスチンおよび本明細書で記載されたn−ドープされた受容体材料のUV−可視吸収スペクトルは、ドーパントとのブレンドとして、またはドーパントの上層を用いて、ガラス基材上にスピンコーティングすることによって測定された。フィルム厚さは、20〜100nmの範囲であった。
スピンコーティングおよび乾燥の後、n−ドープされたフィルムと空気が接触するのを排除するために、ポリマーフィルムをグローブボックスに封入した。
封入後、Carey−5000Spectrometerを用いてUV−vis収測定を行い、続いて可視光に連続曝露し、UV−VIS測定を繰り返した。
本明細書のいずれかの箇所で記載されるようなHOMO、SOMOおよびLUMO準位は、矩形波ボルタンメトリによって測定される通りである。
設備:
ソフトウェアを備えたCHI660D Electrochemical workstation(IJ Cambria Scientific Ltd)
CHI 104 3mm Glassy Carbon Disk Working Electrode(IJ Cambria Scientific Ltd)
白金ワイヤ補助電極
参照電極(Ag/AgCl)(Havard Apparatus Ltd)
化学物質
アセトニトリル(Hi−dry無水グレード−ROMIL) (セル溶液溶媒)
トルエン(Hi−dry無水グレード) (サンプル調製溶媒)
フェロセン−FLUKA (参照標準)
テトラブチルアンモニウムヘキサフルオロホスフェート−FLUKA) (セル溶液塩)
サンプル調製
受容体ポリマーを、作用電極上に薄膜(約20nm)として引き伸ばした;ドーパント材料を、トルエン中の希釈溶液(0.3重量%)として測定した。
電気化学セル
測定セルは、電解質、ガラス状炭素作用電極(この上にはサンプルが薄膜としてコーティングされている)、白金対電極、およびAg/AgCl参照ガラス電極を含有する。フェロセンは、参照材料(LUMO(フェロセン)=−4.8eV)として実験の終わりにセルに添加する。
n−ドーパント試薬から生じたドーパントラジカルのSOMO準位を測定するための方法:
n−ドーパントのイオン化は、結果としてイミダゾリウム炭素の形成をもたらす。対応するイミダゾリウムラジカルのSOMO準位を決定するために、カチオンは、酸化走査の間に中性ドーパント分子から最初に生じ、これによりまた中性ドーパント分子のHOMO準位を決定できる。
[実施例]
材料
ドーパント1によるポリマー1およびポリマー2のドーピングを試験した。
ポリマー1を、9,9−ジオクチルフルオレンおよびジブロモベンゾチアジアゾールの2,7−ジボロン酸エステルの国際公開第00/53656号に記載されるようなSuzuki重合によって調製した。ポリマー1は、2.9eVのLUMO準位を有する。
ポリマー2を国際公開第01/49768号に記載されるように調製した。ポリマー2は3.1eVのLUMO準位を有する。
ドーパント1(1,3−ジメチル−2−フェニル−2,3−ジヒドロ−1H−ベンゾイミダゾール)を、Sigma Aldrichから得た。ドーパント1は、2.7eVのSOMO準位および4.7eVのHOMO準位を有する。
Figure 0006940258
Figure 0006940258
Figure 0006940258
図2は、ポリマー1、ポリマー2およびドーパント1についてUV−vis吸収スペクトルを示す。
ポリマー1は、約330nmおよび470nmにて吸収ピークを有する。
ポリマー2は、約375nmおよび535nmにて吸収ピークを有する。
[ドーピング実施例1]
ポリマー1およびドーパント1の配合物を、スピンコーティングによってガラス層上に堆積してフィルムを形成し、Enfis Ltd,UK.から入手可能なENFIS UNO Air Cooled Light Engineを用いて2時間465nmのピーク波長を有する光で照射した。
照射前後にフィルムのUV−visスペクトルを測定した。スペクトルは図3に示され、実線が照射前のスペクトルであり、破線が照射後のスペクトルであるる。
広く新しいピークが、550nm〜800nmの波長範囲に、約1000nmまでの吸収の弱い増大を伴って見られる。
より高い波長でのこれらの新しい吸収特徴は、n−ドーピングの結果として電子ギャップ状態が創出されたことに起因する(ポーラロンおよび/またはバイポーラロン状態)。
[ドーピング実施例2]
ポリマー2およびドーパント1の配合物をスピンコーティングによってガラス層上に堆積してフィルムを形成し、Enfis Ltd,UK.から入手可能なENFIS UNO Air Cooled Light Engineを用いて2時間465nmのピーク波長を有する光で照射した。
[ドーピング実施例3]
Enfis Ltd,UK.から入手可能なENFIS UNO Air Cooled Light Engineを用いて2時間520nmのピーク波長を有する光でフィルムを照射する以外、ドーピング実施例2にて記載されたように、配合物を堆積して照射した。
照射前後にドーピング実施例2および3のフィルムのUV−visスペクトルを測定した。スペクトルを図4に示すが、ここで実線は照射前のスペクトルであり;破線は465nmでの照射後のスペクトルであり(ドーピング実施例2)、点線は520nmでの照射後のスペクトル(ドーピング実施例3)である。
ドーピング実施例1と同様に、約600nmに見られる新しいピークは、n−ドーピングによる。
[デバイス実施例1]
以下の構造を有するエレクトロンオンリーデバイスを調製した:
ガラス基材/ITO/ドナー受容体層/Ag
ドナー−受容体層を、o−キシレン中、ポリマー1:ドーパント1(99:1重量%)の1重量%配合物をスピンコーティングして、約100nmの厚さに形成した。カソードは、約100nmの厚さまで銀の蒸発によって形成された。
ENFIS Ltd,UK.から入手可能なENFIS UNO Air Cooled Light Engineを用いて465nmのピーク波長を有する光を用いて、基材を通してデバイスに照射した。
デバイスの電流−電圧特徴を、照射前、ならびに照射1秒後、10秒後、1分後、5分後および10分後に測定し、これらを図5に示す。
本明細書に記載されるようなエレクトロンオンリーデバイスの電流密度は、有機半導体のドーピングの程度を決定するために使用されてもよく、電流密度はドーピングの程度に比例する。
[デバイス実施例2]
ポリマー1:ドーパント1比が95:5重量%であり、照射時間が30分であった以外は、デバイス実施例1について記載される通りにエレクトロンオンリーデバイスを調製した。
このデバイスについての電流密度対電圧を図6に示す。このデバイスについて、ダイオード特徴は失われ、ドナー−受容体層が縮退半導体層であることを示す。
本発明が特定の例示実施形態に関して記載されたが、本明細書に開示される特徴の種々の変更、代替および/または組み合わせが、以下の特許請求の範囲に示されるような本発明の範囲から逸脱することなく当業者に明らかであることが理解される。
本発明は一態様において、以下を提供する。
[項目1]
n−ドープされた半導体層を形成する方法であって、ここで有機半導体およびn−ドーパント試薬を含むフィルムは、前記有機半導体の吸収範囲である波長を有する光によって照射され、前記n−ドーパント試薬の吸収最大波長は前記光のいずれかのピーク波長よりも短い、方法。
[項目2]
前記有機半導体の吸収最大波長は400nmを超える、項目1に記載の方法。
[項目3]
前記n−ドーパント試薬の吸収最大波長は350nm以下である、項目1から2のいずれかに記載の方法。
[項目4]
前記光が、400〜700nmの範囲のピーク波長を有する、項目1から3のいずれかに記載の方法。
[項目5]
前記n−ドーパント試薬が(4−(1,3−ジメチル−2,3−ジヒドロ−1H−ベンゾイミダゾール−2−イル)フェニル)ジメチルアミンである、項目1から4のいずれかに記載の方法。
[項目6]
前記有機半導体が、C=N基、ニトリル基、C=O基およびC=S基から選択される結合を含む、項目1から5のいずれかに記載の方法。
[項目7]
前記有機半導体がポリマーである、項目1から6のいずれかに記載の方法。
[項目8]
前記ポリマーが共役ポリマーである、項目7に記載の方法。
[項目9]
前記有機半導体が、真空準位から3.2eV以内の最低空軌道を有する、項目1から8のいずれかに記載の方法。
[項目10]
前記n−ドーパント試薬から誘導されるラジカルの半占軌道準位が、前記有機半導体の最低空軌道準位よりも真空準位からみて、さらに0.5eV以上はなれていない、項目1から9のいずれかに記載の方法。
[項目11]
前記フィルムが、溶液堆積方法によって形成される、項目1から10のいずれかに記載の方法。
[項目12]
前記フィルムが、空気中で形成される、項目1から11のいずれかに記載の方法。
[項目13]
前記有機半導体:n−ドーパント試薬比が、99:1〜50:50の範囲である、項目1から12のいずれかに記載の方法。
[項目14]
有機電子バイスのn−ドープされた層を形成する方法であって、前記n−ドープされた層が項目1から13のいずれかに記載の方法に従って形成される、方法。
[項目15]
前記有機電子デバイスが、アノード、カソード、ならび前記アノードと前記カソードとの間の発光層を含む有機発光デバイスであり、前記n−ドープされた層が、前記発光層と前記カソードとの間の電子注入層である、項目14に記載の方法。
[項目16]
前記発光層が、溶液堆積方法によって形成される、項目15に記載の方法。
[項目17]
前記電子注入層が、前記発光層と接触する、項目15または16に記載の方法。
[項目18]
前記フィルムが、前記デバイスのアノードまたはカソードを通して照射される、項目15から17のいずれかに記載の方法。
[項目19]
前記フィルムが、前記デバイスの封入後に照射される、項目15から18のいずれかに記載の方法。
[項目20]
(a)C=N基、ニトリル基、C=O基およびC=S基の1つ以上を含む単位を含む有機半導体および(b)2,3−ジヒドロ−ベンゾイミダゾール基を含むn−ドーパント試薬を含む組成物。
[項目21]
前記n−ドーパント試薬が、2,3−ジヒドロ−1H−ベンゾイミダゾール基を含む、項目20に記載の組成物。
[項目22]
前記n−ドーパント試薬が、式(I)の化合物である、項目20または21に記載の組成物:
Figure 0006940258
式中:
各R は、独立に、C 1−20 ヒドロカルビル基であり;
はHまたはC 1−20 ヒドロカルビル基であり;
各R が独立にC 1−20 ヒドロカルビル基である。
[項目23]
前記有機半導体がポリマーである、項目20から22のいずれかに記載の組成物。
[項目24]
前記有機半導体がベンゾチアジアゾール基を含む、項目20から23に記載の組成物。
[項目25]
前記n−ドーパント試薬が(4−(1,3−ジメチル−2,3−ジヒドロ−1H−ベンゾイミダゾール−2−イル)フェニル)ジメチルアミンである、項目20から24のいずれかに記載の組成物。
[項目26]
項目20から25のいずれかに記載の組成物からn−ドープされた半導体層を形成する方法であって、前記方法が前記有機半導体を励起する工程を含む、方法。
[項目27]
前記有機半導体が、熱処理または電磁照射によって励起される、項目27に記載の方法。
[項目28]
前記n−ドーパント試薬が(4−(1,3−ジメチル−2,3−ジヒドロ−1H−ベンゾイミダゾール−2−イル)フェニル)ジメチルアミンである、項目26または27に記載の方法。
100 OLED
101 基材
103 アノード
105 発光層
107 電子注入層
109 カソード

Claims (12)

  1. アノード、カソード、前記アノードと前記カソードとの間の発光層、および前記発光層と前記カソードとの間の電子注入層を含む有機発光デバイスであって、前記電子注入層は、
    (a)C=N基、ニトリル基、C=O基およびC=S基の1つ以上を含む単位を含む有機ポリマー半導体および(b)2,3−ジヒドロ−ベンゾイミダゾール基を含むn−ドーパント試薬を含む組成物から形成されるn−ドープされた半導体を含み、
    前記カソードは前記電子注入層と接触する、金属を含む層を含み、
    前記ポリマーにカチオンは共有結合していない、
    前記有機発光デバイス
  2. 前記n−ドーパント試薬が、2,3−ジヒドロ−1H−ベンゾイミダゾール基を含む、請求項1に記載の有機発光デバイス
  3. 前記n−ドーパント試薬が、式(I)の化合物である、請求項1または2に記載の有機発光デバイス
    Figure 0006940258
    式中:
    各Rは、独立に、C1−20ヒドロカルビル基であり;
    はHまたはC1−20ヒドロカルビル基であり;
    各Rが独立にC1−20ヒドロカルビル基である。
  4. 前記有機半導体がベンゾチアジアゾール基を含む、請求項1からのいずれかに記載の有機発光デバイス
  5. 前記n−ドーパント試薬が(4−(1,3−ジメチル−2,3−ジヒドロ−1H−ベンゾイミダゾール−2−イル)フェニル)ジメチルアミンである、請求項1からのいずれかに記載の有機発光デバイス
  6. 前記金属は少なくとも4eVの仕事関数を有する、請求項1から5のいずれかに記載の有機発光デバイス。
  7. 前記電子注入層と接触する前記カソード層は金属からなる、請求項1から6のいずれかに記載の有機発光デバイス。
  8. 前記電子注入層は前記発光層と接触している、請求項1から7のいずれかに記載の有機発光デバイス。
  9. 請求項1から8のいずれかに記載の有機発光デバイスを形成する方法であって、前記方法がn−ドープされた半導体を形成するために前記有機半導体を励起する工程を含む、方法。
  10. 前記有機半導体が、熱処理または電磁照射によって励起される、請求項に記載の方法。
  11. 前記n−ドーパント試薬が(4−(1,3−ジメチル−2,3−ジヒドロ−1H−ベンゾイミダゾール−2−イル)フェニル)ジメチルアミンである、請求項または10に記載の方法。
  12. 前記有機半導体およびn−ドーパント試薬を含む組成物が前記発光層の上に堆積され、カソードが前記組成物の上に堆積される、請求項9から11のいずれかに記載の方法。
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6224758B2 (ja) * 2016-03-29 2017-11-01 住友化学株式会社 発光素子及びその製造方法
KR20180025060A (ko) * 2016-08-31 2018-03-08 엘지디스플레이 주식회사 유기발광소자 및 이를 구비한 유기발광 표시장치
KR20230133985A (ko) 2017-04-07 2023-09-19 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 발광 소자, 표시 장치, 전자 기기, 및 조명 장치
CN109390482B (zh) * 2017-08-10 2020-06-02 昆山国显光电有限公司 有机电致发光器件
CN109817836A (zh) * 2017-11-18 2019-05-28 昆山国显光电有限公司 有机电致发光器件
JP7108493B2 (ja) * 2018-08-06 2022-07-28 日本放送協会 有機薄膜および有機薄膜の製造方法、有機エレクトロルミネッセンス素子およびその製造方法、表示装置、照明装置、有機薄膜太陽電池、薄膜トランジスタ
JP2020088028A (ja) * 2018-11-19 2020-06-04 トヨタ自動車株式会社 熱電変換素子、熱電変換システム、及びそれらを用いる発電方法
CN110845420A (zh) * 2019-11-05 2020-02-28 五邑大学 一种化合物及其制备方法和作为n-型掺杂剂的应用
CN113201244B (zh) * 2021-04-30 2022-07-01 桂林理工大学 一种掺杂剂及其制备方法、应用、功能化乳胶漆

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10116876B4 (de) * 2001-04-04 2004-09-23 Infineon Technologies Ag Verfahren zur Dotierung elektrisch leitfähiger organischer Verbindungen, organischer Feldeffekttransistor sowie Verfahren zu dessen Herstellung
US20080015269A1 (en) * 2006-04-17 2008-01-17 Bazan Guillermo C Hybrid polymer light-emitting devices
EP1912268B1 (de) * 2006-10-09 2020-01-01 Novaled GmbH Verfahren zur räumlichen Strukturierung der Leuchtdichte von lichtermittierenden organischen Halbleiterbauelementen, danach hergestelltes Halbleiterbauelement und Verwendung desselben
US20100093598A1 (en) 2006-10-10 2010-04-15 Delphine Davio Silicone Foam Control Agent
WO2011127075A1 (en) * 2010-04-05 2011-10-13 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University. N-type doped organic materials and methods therefor
WO2013018677A1 (ja) * 2011-07-29 2013-02-07 Jsr株式会社 プロトン伝導性基を有する芳香族系共重合体およびその用途
WO2013098648A1 (en) * 2011-12-30 2013-07-04 Imperial Innovations Ltd. Unconventional chemical doping of organic semiconducting materials
JP5993667B2 (ja) * 2012-09-03 2016-09-14 日本放送協会 有機電界発光素子
CN104247073B (zh) * 2012-04-16 2017-07-18 日本放送协会 有机电致发光元件及其制造方法
KR101989057B1 (ko) * 2012-09-07 2019-06-14 삼성디스플레이 주식회사 유기 전계 발광 소자
GB2513378A (en) * 2013-04-25 2014-10-29 Cambridge Display Tech Ltd Device
JP6847873B2 (ja) * 2015-07-01 2021-03-24 ナショナル ユニヴァーシティー オブ シンガポール nドープされた導電性ポリマー材料

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