JP6926244B2 - 特にストリップ巻取りにおけるタイヤ構成方法およびタイヤ構成システム - Google Patents

Description

本発明は、特にストリップ巻取りにおけるタイヤ構成方法およびタイヤ構成システムに関する。

特開２００４−２９９１８４Ａは、従来、成形されたタイヤのプロファイル、すなわち、外部形状のプロファイル測定は、タイヤの成形が完了した後に行われたことを開示している。しかし、成形品質を判断することは時間がかかり、その結果、成形工程は長くなる。さらに、従来のプロファイル測定において、巻取り中に成形の品質を知ることは不可能であった。その結果、タイヤ形成の完了後に、品質問題が生じたと決定された場合、材料および作業時間が無駄になる。

前述の問題に対処するために、特開２００４−２９９１８４Ａは、ストリップが巻かれ、層の上に層を重ねることによりプロファイルが構成されているとき、蓄積されたプロファイルを直ちに測定するように、押出しノズルの近傍に配置された変位センサを備えるプロファイル測定機器を開示する。ドラムの回転位置と、ノズルの横断位置とを同時に測定することにより、計算ユニットは、成形の開始から成形の完了までの実時間で、蓄積するプロファイルを正確に計算することができる。したがって、どんな品質問題も、成形の完了後ではなく、成形中に検出され得る。

ＷＯ２０１７／１９８４６５Ａ１は、連続的にストリップを押し出すことにより作られる１つまたは複数のエラストマー層を有する製品プロファイルを制御するためのタイヤ製作システムを開示する。ストリップは、隣接するストリップの縁部が重ならないように、形成面の周囲に渦巻き状に付着される。各層の円周は、その層の付着中に測定され、また予測される閾値と比較される。プロセスは、検出された値を、目標とする円周値と比較したとき、同等ではないとの指示があると、後続する別の層の付着に先だって、付着サイクルを終了させることを含むことができる。プロセスパラメータが次いで調整され、どの製品プロファイルの円周も予測値を実現していることを保証するために、連続する付着サイクル中に反復される。

特開２００４−２９９１８４ＡおよびＷＯ２０１７／１９８４６５Ａ１による知られた測定機器の不利な点は、生産中に形成されている蓄積されたプロファイルに対して、実時間の品質管理を提供するに過ぎないことである。タイヤ成形の最後に、またはその近くで、品質問題が生じた場合、材料および作業時間がやはり無駄になり、その解決策は、従来のプロファイル測定とほぼ同様になってしまう。このように終了された生産サイクルは、試運転と見なされ得るかもしれないが、生産サイクルの初期の意図は、完成した製品を得ることであったことは明らかである。したがって、使用されたパラメータおよび値は、構成されたプロファイルに対応している。操作者は、終了した生産サイクルに基づいて、様々なパラメータをわずかに調整することによって、試行錯誤を行うことができるが、品質が実際に改良されたかどうかを決定するために、タイヤ成形が、品質問題が前に生じたのと同じ段階に達するまで待つ必要がある。加えて、素材の新しいバッチに、またはタイヤ構成要素の異なるタイプへと切り換えるとき、新しい品質問題が、タイヤ成形の異なる領域で生ずる可能性があり、試行錯誤プロセスが、最初から開始する。

したがって、特開２００４−２９９１８４ＡおよびＷＯ２０１７／１９８４６５Ａ１で開示される解決策は、操作者に、後続するタイヤ成形中にストリップの挙動を予測させ、またまず第一に品質問題が生ずるのを阻止するための行動を起こせるようにする適正なフィードバックを提供していない。

特に、ストリップ巻取りに対するタイヤ構成システムおよび方法を提供することが本発明の目的であり、タイヤ構成の品質が向上され得る。

第１の態様によれば、本発明は、タイヤ構成方法を提供し、方法は、
− タイヤ構成要素を構成するための生産モードと、試験測定値を取得するための試験モードとの間の選択肢を提供するステップを備え、ここにおいて、選択肢は、試験モードを実行する前に提供される、
試験モードは、
− 中心軸の周りで同心に延びる円筒形の測定面を提供するステップと、
− 連続する試験ストリップを、前記中心軸回りの複数の巻取りへと円筒形の測定面上で螺旋状に巻くステップと、ここにおいて、試験ストリップの複数の巻取りのうちの１つまたは複数の巻取りは、前記１つまたは複数の巻取りにおいて、同じ軸方向に、試験ストリップの幅よりも大きい、中心軸に対して平行な軸方向のピッチを有する、
− 試験ストリップの１つまたは複数の巻取りのうちの少なくとも１つの巻取りから、試験測定値を取得するステップと
を備え、
生産モードは、
− １つまたは複数の構成パラメータを用いて、生産面上で生産ストリップからタイヤ構成要素を構成するステップを備え、
方法は、最初に試験モードを実行するステップと、次いで生産モードを実行するステップとをさらに備え、１つまたは複数の構成パラメータの少なくとも１つは、試験ストリップの試験測定値に基づいて、タイヤ構成要素を構成する前に設定される。

指定されたピッチで、試験ストリップの１つまたは複数の巻取りを螺旋状に巻くことは、前記１つまたは複数の巻取りが、直接連続する巻取りから、軸方向に分離される、または離間される結果となる。言い換えると、１つまたは複数の巻取りは、円筒形の測定面上に、重ならないように適用され得る。したがって、試験ストリップの１つまたは複数の巻取りから得られた測定値は、個々の巻取りにおける測定値、および／または前記測定値から導出された前記試験ストリップの特性に関する正確なフィードバックを操作者に提供することができる。生産モードではなく、試験モードを開始することを選択することは、前記試験モードは、生産モードで使用されるパラメータおよび／または値に制限されない利点を有する。そうではなくて、多数の測定値を提供するために、１つまたは複数の構成パラメータに対して多くの様々な構成パラメータ、および／または広い範囲の値が、同じ試験ストリップの個々の巻取りに対して試験され得る。この大量のフィードバックは、生産モード中における生産ストリップの挙動をより正確に予測するために使用され得る。測定値はまた、異なる生産プログラム中に、すなわち、異なるタイプのタイヤ構成要素へと切り換えるとき、生産ストリップの挙動を予測するために使用され得る。特に、単一の試験モードに基づき、操作者は、１つまたは複数のタイプのタイヤ構成要素を構成するために、構成パラメータを決定し、計算し、検証し、較正し、および／または調整することができる。測定値に基づき、操作者は、タイヤ構成の品質を向上させるために、最終的に、構成パラメータをプログラム、または設定することができる。

好ましい実施形態では、選択肢は、ユーザインターフェースを介して操作者に提供される。したがって、操作者は、前記モードの一方を実行する前に、手動で選択して、試験モードまたは生産モードを選ぶことができる。

別の実施形態では、生産ストリップは、構成されるタイヤ構成要素内における生産ストリップの位置に基づき、生産シーケンスによる生産ストリップの巻取り中に設定された値を有する第１の構成パラメータを用いて巻かれ、試験ストリップは、生産シーケンスとは独立した試験シーケンスによる試験ストリップの巻取り中に設定された値を備える第１の構成パラメータを用いて巻かれる。言い換えると、試験シーケンスは、前記構成プログラムの値、構成パラメータ、構成プログラム、および／または順序に限定されない。したがって、試験ストリップは、前記試験ストリップが、生産用に意図されていないので、多数の様々な構成パラメータ、および／または前記構成パラメータに対する広い範囲の値を用いて生産され得る。

別の実施形態では、生産ストリップは、生産値範囲内にすべて存在する生産値を備えた第１の構成パラメータを用いて巻かれ、試験ストリップは、生産値範囲外に存在する少なくとも１つの試験値を備える第１の構成パラメータを用いて巻かれる。したがって、生産モードと比較して、生産モード中に使用される通常の範囲内にある値に対して、また範囲外にある値に対しても、比較的大量の測定値が取得され得る。これは、現在選択されたものとは異なる生産プログラムに対して構成パラメータを設定するために、その測定値が使用され得るようにする。したがって、試験モードは、新しいタイプのタイヤ構成要素に切り換えるごとに、再度実施される必要がなくなる。

別の実施形態では、試験ストリップの１つまたは複数の巻取りのうちの第１の巻取りは、第１の値に設定された第１の構成パラメータを用いて少なくとも部分的に巻かれ、また試験ストリップの１つまたは複数の巻取りのうちの第２の巻取りは、第１の値とは異なる第２の値に設定された第１の構成パラメータを用いて少なくとも部分的に巻かれ、方法は、第１の値と第２の値の間の範囲にある、または第１の値および第２の値により規定された範囲外にある第１の構成パラメータの値に対して、それぞれ、試験ストリップの試験測定値を内挿または外挿するステップを備える。試験測定値を内挿または外挿することにより、範囲内の各値に対して実際に測定値を取得せずに、広い範囲にわたって試験測定値が予測され得る。

試験モード中に取得された試験ストリップは、生産モードにおいて、タイヤ構成要素またはその一部を構成するために使用されないことが好ましい。再度、試験ストリップは、生産モードで使用されないため、構成パラメータおよび／またはその値は、生産モードとは独立して、大きく変えることができる。

さらなる実施形態では、試験ストリップの１つまたは複数の巻取りのうちの第１の巻取りは、第１の値に設定された第１の構成パラメータを用いて、少なくとも部分的に巻かれ、また試験ストリップの１つまたは複数の巻取りのうちの第２の巻取りは、第１の値とは異なる第２の値に設定された第１の構成パラメータを用いて少なくとも部分的に巻かれ、第１の巻取り、第２の巻取り、またはその両方は、第３の値に設定された、第１の構成パラメータとは異なる第２の構成パラメータを用いて少なくとも部分的に巻かれ、試験ストリップの１つまたは複数の巻取りのうちの第３の巻取りは、第３の値とは異なる第４の値に設定された第２の構成パラメータを用いて少なくとも部分的に巻かれる。第１の巻取り、第２の巻取り、またはその両方の測定値を、第３の巻取りの測定値と比較することにより、第３の値から第４の値への変化の効果が評価され、また第２の構成パラメータを設定するとき、構成ストリップの挙動を予測するために使用され得る。

代替的に、構成パラメータは、試験ストリップの複数の巻取りのすべての巻取りに対して一定に維持され、１つまたは複数の構成パラメータの少なくとも１つは、時間経過に伴う試験測定値の変化を補償するために、生産モードにおいて調整される。試験ストリップは、例えば、試験ストリップが硬化し始めるために、時間経過と共に異なる挙動をし始める可能性がある。試験測定値は、試験ストリップに対する時間経過に伴うこれらの変化の影響に関して、操作者にフィードバックを提供することができ、操作者が、構成パラメータの１つまたは複数のものを調整し、それに従って補償できるようにする。

別の実施形態では、試験ストリップの１つまたは複数の巻取りは、試験ストリップの螺旋状の巻取りの起動段階中に、円筒形の測定面に試験ストリップを最初に巻き取ることを含み、試験測定値は、円筒形の測定面への最初の巻取り開始時の測定値を含む。加えて、または代替的に、試験ストリップの１つまたは複数の巻取りは、試験ストリップの螺旋状の巻取りの終了段階中に、円筒形の測定面上に試験ストリップを最後に巻き取ることを含み、試験測定値は、円筒形の測定面に対する最後の巻取りの終了の測定値を含む。巻取りの開始時に、試験ストリップは、例えば、押出機が起動する結果、または試験ストリップの先導する端部を測定面に適用する結果、異なる挙動をする可能性がある。最後の巻取りの終了時に、試験ストリップは、例えば、試験ストリップを切断する、または引き離す結果として、異なる挙動をする可能性がある。試験測定値は、初期の巻取りの開始中、または最後の巻取りの終了中における試験ストリップの挙動に関するフィードバックを操作者に提供することができ、そのフィードバックは、構成パラメータの１つまたは複数のものを調整するために使用され、それに従って補償することができる。

さらなる実施形態では、複数の巻取りは、円筒形の測定面の回りに単一の層で巻かれ、試験モードは、単一層が完了した後に終了する。試験ストリップを単一層で巻くことにより、各巻取りは視認可能であり、また外側から測定され得る。

さらなる実施形態では、円筒形の測定面は、生産面であり、本方法は、生産モードにおいて、タイヤ構成要素を構成する前に、測定面から試験ストリップを除去するステップを備える、生産面および測定面は同じなので、測定面上の試験ストリップの挙動は、生産面上の生産ストリップの挙動に相当する。したがって、試験ストリップの試験測定値は、生産面上の生産ストリップの挙動を予測するための信頼性のあるフィードバックとして使用され得る。

代替的に、生産面は円筒形の生産面であり、本方法は、試験ストリップの螺旋状の巻取りの前に、円筒形の生産面の周囲に測定ツールを嵌合させるステップと、試験ストリップの螺旋状の巻取りの完了後であり、タイヤ構成要素を構成する前に、測定ツールを生産面から除去するステップとを備え、円筒形の測定面は、測定ツールによって形成され、また測定ツールが円筒形の生産面の周囲に嵌合されたとき、中心軸の周りで同心に延びる。円筒形の生産面は、測定値を取得するために最適化されていないこともあり得る。例えば、光学的な測定を可能にするには、コントラストが低すぎる可能性がある、生産面が十分に平滑ではない、または完全に円形ではない可能性があるなどである。いくつかの適用において、生産面は、試験ストリップの材料の進入を可能にするスリットまたは間隙を含む。より信頼性のある、および／またはより一貫した試験測定値を取得するために、測定面は、生産面の周囲に延びる測定ツール上に設けられ得る。測定ツールにおける直径の増加の影響が、最小化される、および／または無視できるように、測定ツール上の測定面の外径は、可能な限り生産面の外径に近いことが好ましい。

別の代替的な実施形態では、生産面は、円筒形の生産面であり、円筒形の測定面および円筒形の生産面は、軸方向に互いに対してオフセットされる。生産面の横に軸方向に測定面を設けることにより、タイヤ構成要素の構成は、前の実施形態による測定ツールの除去、またはその前の実施形態における生産面からの試験ストリップの除去とは独立している、および／またはそれにより遅延することはない。

円筒形の生産面を特徴とする前の実施形態のそれぞれにおいて、タイヤ構成要素は、生産ストリップを、複数の巻取りへと生産面上に螺旋状に巻くことにより構成され得る。試験ストリップと生産ストリップの両方が巻かれるので、試験ストリップの試験測定値は、同様の巻取りにおける生産ストリップの挙動を予測するための有用なフィードバックを提供することができる。

生産ストリップの複数の巻取りは、同じ軸方向に、生産ストリップの幅よりも小さいピッチを軸方向に有することが好ましい。その結果、試験ストリップとは対照的に、生産ストリップの巻取りは、重複するように配置されて、前記生産ストリップの巻取りからタイヤ構成要素を構成する。

試験ストリップの１つまたは複数の巻取りのピッチは、生産ストリップの螺旋状の巻取りの最大ピッチよりも少なくとも１．５倍、または２倍大きいことがより好ましい。したがって、試験ストリップの巻取りは、各個々の巻取りに対して試験測定値が取得され得るように、十分に離間され得る。

別の実施形態では、試験ストリップの１つまたは複数の巻取りのピッチは、一定である。その結果、巻取りは、等しく離間され得る、および／または巻取りは、知られた位置または間隔で位置決めされ得る。

第２の態様によれば、本発明は、タイヤ構成システムを提供し、タイヤ構成システムは、連続する試験ストリップを供給するためのストリップ供給部材と、前記試験ストリップをストリップ供給部材から受け取るための円筒形の測定面と、円筒形の測定面を、前記円筒形の測定面と同心の中心軸回りで回転させるための回転駆動装置と、円筒形の測定面と供給部材の間の、中心軸に対して平行な軸方向への相対的な変位を提供するためのピッチ駆動装置とを備え、タイヤ構成システムは、試験ストリップが、軸方向へのピッチで、中心軸回りの複数の巻取りへと円筒形の測定面上に螺旋状に巻かれるように、回転駆動装置およびピッチ駆動装置が制御される試験モードと、タイヤ構成要素が、１つまたは複数の構成パラメータを用いて生産面上で生産ストリップから構成される生産モードとの間を切換え可能である制御ユニットをさらに備え、供給部材は、試験ストリップを形成するためのダイ開口部を有するダイを備え、ダイ開口部は、試験ストリップの幅を画定するダイ幅を有し、制御ユニットは、軸方向における、試験ストリップの複数の巻取りのうちの１つまたは複数の巻取りのピッチが、ダイ幅よりも大きくなるように、回転駆動装置とピッチ駆動装置とを制御するように構成され、タイヤ構成システムは、円筒形状の測定面上の試験ストリップの１つまたは複数の巻取りから試験測定値を取得するためのセンサをさらに備え、制御ユニットは、試験モードを実行する前に、試験モードと生産モードの間の選択肢を提供するように構成され、また試験モードの完了後であり、タイヤ構成を構成する前に、試験ストリップの試験測定値に基づき、１つまたは複数の構成パラメータの少なくとも１つを設定するために、試験測定値を用いる。

タイヤ構成システムの制御ユニットは、本発明の第１の態様による前述の方法におけるものと同じ選択肢を提供するように構成され、したがって、同じ技術的利点を有する。

好ましい実施形態では、タイヤ構成システムは、制御ユニットに動作可能に接続されたユーザインターフェースを備え、制御ユニットは、ユーザインターフェースを制御して、操作者に選択肢を提供するように構成される。

別の好ましい実施形態では、タイヤ構成システムは、制御ユニットに動作可能に接続されたメモリを備え、メモリには、生産シーケンスおよび試験シーケンスがロードされ、生産ストリップは、構成されているタイヤ構成要素内の生産ストリップの位置に基づき、生産シーケンスによる生産ストリップの巻取り中に設定された値を備える第１の構成パラメータを用いて巻かれ、試験ストリップは、生産シーケンスとは独立した試験シーケンスによる試験ストリップの巻取り中に設定された値を備える第１の構成パラメータを用いて巻かれる。

試験ストリップの１つまたは複数の巻取りのピッチは、ダイ幅よりも少なくとも１．５倍、または２倍大きいことが好ましい。好ましくは、タイヤ構成システムは、ドラムシャフトを備えるドラムと、ドラムシャフトに対して直角な半径方向に移動可能な複数のセグメントとを備え、複数のセグメントは、生産面を形成する。一実施形態では、円筒形の測定面は生産面である。生産面および測定面が同じであるので、測定面上の試験ストリップの挙動は、生産面上の生産ストリップの挙動に相当する。

代替的な実施形態では、生産面は円筒形の生産面であり、タイヤ構成システムは、円筒形の生産面の周囲に嵌合するように構成された測定ツールをさらに備え、円筒形の測定面は、測定ツールによって形成され、また測定ツールが円筒形の生産面の周囲に嵌合されたとき、円筒形の生産面の周囲に同心に延びる。

円筒形の測定面は、円筒形の生産面よりもさらに円形であることが好ましく、また完全な円に近似する、または形成することが好ましい。さらなる代替の実施形態では、生産面は円筒形の生産面であり、円筒形の測定面および円筒形の生産面は、軸方向に互いに対してオフセットされる。別の実施形態では、制御ユニットは、生産ストリップが、軸方向へのピッチを備えて生産面上に、複数の巻取りにおいて螺旋状に巻かれるように、生産モードにおいて、回転駆動装置とピッチ駆動装置とを制御するように構成され、生産ストリップの複数の巻取りは、ダイ幅よりも小さい軸方向におけるピッチを有する。本明細書で述べられ、示される様々な態様および特徴は、個々に、可能な場合はどこであれ適用され得る。これらの個々の態様、特に、添付の従属請求項で述べられる態様および特徴は、分割特許出願の主題にすることができる。

本発明は、添付の概略的な図面で示された例示的な実施形態に基づいて説明される。

試験モード中における本発明の第１の実施形態によるタイヤ構成システムの上面図。 生産モード中における図１のタイヤ構成システムの上面図。 図１によるタイヤ構成システムの側面図。 図３における円ＩＶによるタイヤ構成システムの細部を示す図。 本発明の第２の実施形態による代替的なタイヤ構成システムの上面図。 図５による代替的なタイヤ構成システムの等角図。 図５による代替的なタイヤ構成システムの側面図。 図７における円ＶＩＩＩによる代替的なタイヤ構成システムの細部を示す図。 本発明の第３の実施形態によるさらに代替的なタイヤ構成システムの上面図。 図１の円Ｘによるタイヤ構成システムの測定面上に形成された試験ストリップの細部を示す図。 図１０の試験ストリップから得られた試験測定値を表すグラフ。

図１〜図４は、本発明の例示的な第１の実施形態による、特に、ストリップ巻取りに対するタイヤ構成システム１を示す。

図１で示されるように、タイヤ構成システム１は、試験モードＴＭにおいて、連続する試験ストリップＴを供給するように構成されたストリップ供給部材２を備える。この例示的な実施形態では、ストリップ供給部材２は、押出機２１と、ギヤポンプ２２とを備える。ストリップ供給部材２は、試験ストリップＴを形成するためのダイ開口部２４を備えるダイ２３をさらに備える。前記ダイ開口部２４は、試験ストリップＴのストリップ幅Ｅを画定するダイ幅Ｄを有する。タイヤ構成システム１は、試験モードＴＭにおいて、ストリップ供給部材２から前記試験ストリップＴを受け取るための円筒形の測定面３０をさらに備える。

図２で示されるように、ストリップ供給部材２は、生産モードＰＭにおいて、連続する生産ストリップＰを供給するように構成される。タイヤ構成システム１は、生産モードＰＭにおいて、ストリップ供給部材２から連続する生産ストリップＰを受け取るための円筒形の生産面４０を備えた、特にストリップ巻取りドラムであるドラム４を備える。ドラム４は、軸方向Ａに中心軸Ｓに沿って延びるドラムシャフト４１上に取り付けられるように構成される。ドラム４は、ドラム４の直径を変えるために、ドラムシャフト４１および／または中心軸Ｓに対して直角な半径方向に移動可能な複数のセグメント４２を備える。ドラム４の各直径において、セグメント４２は、円筒を近似する円周面を形成する。前記円周面は、生産面４０を形成する。セグメント４２は、ドラム４の各直径において、完全に円筒形の、または円形の生産面４０を形成することができない可能性がある。具体的には、生産面４０は、わずかに不規則であり、および／または多角形であり得る。さらに、図４で概略的に示されるように、セグメント４２の間で、生産ストリップＰの材料の侵入を可能にするセグメント４２間の小さなスリットまたは間隙が存在し得る。

この例示的な実施形態では、円筒形の生産面４０はまた、円筒形の測定面３０を形成する。したがって、試験ストリップＴおよび生産ストリップＰは、タイヤ構成システム１の異なるモード中であるが、同じ円筒面３０、４０上で受け取られる。

図１および図２で示されるように、タイヤ構成システム１は、ドラム４を、したがって、円筒形の生産面４０と、円筒形の測定面３０とを、前記円筒形の測定面４に対して同心の中心軸Ｓ回りで回転させるための回転駆動装置５を備える。タイヤ構成システム１は、中心軸Ｓに対して平行な軸方向Ａに、ドラム４と供給部材２の間に相対的な変位を提供するためのピッチ駆動装置６をさらに備える。ピッチ駆動装置６は、供給部材２、ドラム４、またはその両方を移動させるように構成され得る。

タイヤ構成システム１はまた、タイヤ構成システム１を、試験モードＴＭおよび生産モードＰＭで動作させるように構成された制御ユニット７を備える。タイヤ構成システム１は、制御ユニット７に動作可能に接続されたユーザインターフェースＵＩをさらに備える。制御ユニット７は、前記モードＴＭ、ＰＭの一方を実行する前に、ユーザインターフェースＵＩを制御して、操作者に試験モードＴＭと生産モードＰＭの間の選択肢を提供する。タイヤ構成システム１は、制御ユニット７に動作可能に接続されたメモリ７０をさらに備える。メモリ７０には、試験プログラムまたは試験シーケンス、すなわち、試験モードＴＭを実行するための所定の順序の一連の命令と、生産プログラムまたは生産シーケンス、すなわち、生産モードを実行するための所定の順序の一連の命令とがロードされる。試験シーケンスは、生産シーケンスから独立している、または無関係である。言い換えると、試験シーケンスにおける命令の順序、命令のコンテンツ、および／または命令のタイプは、生産シーケンスで使用されるものとは異なる、または完全に異なることができる。

制御ユニット７は、回転駆動装置５およびピッチ駆動装置６に、動作可能に、および／または電子的に接続される。具体的には、制御ユニット７は、図１で示されるように、試験ストリップＴが、中心軸Ｓの周りで、複数の巻取りＷ１へと螺旋状に巻き取られるように、試験モードＴＭにおいて、回転駆動装置５とピッチ駆動装置６とを制御するように構成される。より具体的には、制御ユニット７は、試験ストリップＴの巻取りＷ１の１つまたは複数のものが、ダイ幅Ｄおよび／またはストリップ幅Ｅよりも大きいピッチＫ１で軸方向Ａに巻かれるように、試験モードＴＭにおいて、回転駆動装置５とピッチ駆動装置６とを制御するように構成される。好ましくは、試験ストリップＴの１つまたは複数の巻取りＷ１のピッチＫ１は、ダイ幅Ｄおよび／またはストリップ幅Ｅよりも少なくとも１．５倍または２倍大きい。ピッチＫ１は、軸方向Ａで、またはそれと平行に測定された試験ストリップＴの単一の巻き、回転、または巻取りＷ１の高さである。巻取りＷ１のうちの３個が図１０でより詳細に示されている。

ダイ幅Ｄおよび／またはストリップ幅Ｅよりも大きいピッチＫ１を有することにより、１つまたは複数の巻取りＷ１の各巻取りは、軸方向Ａに、直接隣接する巻取りＷ１から離間される。言い換えると、試験ストリップＴの１つまたは複数の巻取りＷ１は、重複しない状態で配置される。

図１では、試験ストリップＴのすべての巻取りＷ１は、ダイ幅Ｄおよび／またはストリップ幅Ｅよりも大きいピッチＫ１を有する。１つまたは複数の巻取りＷ１のすべての巻取りＷ１は、一定のピッチＫ１を有することが好ましい。

制御ユニット７は、試験ストリップＴの巻取りＷ１が、単一の層に配置されるだけであるように、回転駆動装置５およびピッチ駆動装置６を制御するようにさらに構成される。したがって、巻取りＷ１の前記単一の層に重複する試験ストリップＴの巻取りＷ１の層は存在しない。

図１で示されるように、タイヤ構成システム１は、円筒形の測定面３０上の試験ストリップＴの１つまたは複数の巻取りＷ１のうちの少なくとも１つから、図１１で示されるように試験測定値Ｍを取得するためのセンサ８をさらに備える。センサ８は、試験ストリップＴのいくつかの巻取りＷ１から、測定値を同時に取得するように構成されることが好ましい。具体的には、センサ８は、測定面３０上のいくつかの巻取りＷ１の幅に沿って延びる視野を有する光学的またはレーザ三角測量システムの一部とすることができる。センサ８は、図１１で示されるように、高さまたは幅など、巻取りＷ１に対する位置データを含む試験測定値Ｍを取得するように構成される。

制御ユニット７は、センサ８から試験測定値Ｍを受け取り、および／または処理するように、センサ８に動作可能に、および／または電子的に接続される。制御ユニット７は、測定された高さおよび幅から、例えば、巻取りＷの容積または横断面積を計算することができる。

制御ユニット７は、タイヤ構成システム１を、試験モードＴＭから生産モードＰＭへと切り換えるように構成される。生産モードＰＭでは、制御ユニット７は、ストリップ巻取りにより、タイヤ構成要素（図示せず）を構築する、または構成するために、図２で示すように、生産ストリップＰが、中心軸Ｓの周りで、複数の巻取りＷ２へと螺旋状に巻かれるように、回転駆動装置５およびピッチ駆動装置６を制御するように構成される。より具体的には、制御ユニット７は、生産モードＰＭにおいて、生産ストリップＰの巻取りＷ２の１つまたは複数のものが、ダイ幅Ｄおよび／またはストリップ幅Ｅよりも小さいピッチＫ２で、軸方向Ａに巻かれるように、回転駆動装置５とピッチ駆動装置６とを制御するように構成される。その結果、生産ストリップＰの巻取りＷ２は、重複された状態で、すなわち、直接隣接する巻取りＷ２の間に間隔を含まずに巻かれる。さらに、生産ストリップＰの巻取りＷ２は、いくつかの層に積層され、個々の巻取りＷ２の厚さよりも大きい厚さを備えるタイヤ構成要素を構築する。

タイヤ構成要素は、１つまたは複数の構成パラメータを用いて、生産面４０上に構築される。構成パラメータは、速度、速度比、流量、温度、圧力、または湿度もしくは周囲温度などの環境条件を備える群のパラメータを備えることができる。生産ストリップＰが押出機２１により押し出されるこの特定の例では、構成パラメータの１つは、押出速度、押出流量、押出温度、または押出圧力とすることができる。さらに生産ストリップＰが、ギヤポンプ２２で計測しながら供給されるこの特定の例では、構成パラメータの１つは、ギヤポンプ速度、ギヤポンプ流量、またはギヤポンプ圧力とすることができる。加えて、または代替的に、生産ストリップＰが、供給速度で生産面４０に向けて供給され、また生産面４０が、受取り速度で動くとき、構成パラメータのうちの１つは、供給速度、受取り速度、または供給速度と受取り速度の間の速度比とすることができる。

１つまたは複数の構成パラメータは、制御ユニット７により計算される、またはユーザインターフェース（図示せず）を介して操作者により入力され得る。制御ユニット７はまた、１つまたは複数の構成パラメータを提案することができ、それは次いで、操作者により、再検討され、修正され、および／または承認される。制御ユニット７は、供給部材２、押出機２１、ギヤポンプ２２、回転駆動装置５、およびピッチ駆動装置６のうちの１つまたは複数のものに対して動作可能に、および／または電子的に接続されて、１つまたは複数の構成パラメータに基づき、タイヤ構成システム１の前記各構成要素の１つまたは複数のものを制御する。

タイヤ構成要素（図示せず）を構成するためのタイヤ構成方法は、図１〜図４、図１０、図１１を参照して、以下でより詳細に述べられる。

方法は、ユーザインターフェースＵＩで概略的に示されるように、最初に、試験モードＴＭと生産モードＰＭの間の選択肢を提供するステップを備える。選択肢は、試験モードＴＭを実行する前に提供される。試験モードＴＭが完了した後、生産モードＰＭが開始される。

図１は、タイヤ構成システム１の試験モードＴＭを示す。試験モードＴＭの開始時において、円筒形の測定面３０は空である。方法の前のサイクルからのいずれかの残りのストリップＰ、Ｔも除去されている。タイヤ構成システム１は、ここで、試験モードＴＭを開始する用意ができている。

図１では、連続する試験ストリップＴの長さは、最終的に、生産ストリップＰを供給するためにも使用される１つまたは複数の構成パラメータを用いて、供給部材２により供給されている。制御ユニット７は、連続する試験ストリップＴを、中心軸Ｓの回りの複数の巻取りＷ１へと円筒状の測定面３０上で螺旋状に巻くように、回転駆動装置５とピッチ駆動装置６とを同時に制御している。複数の巻取りＷ１の１つまたは複数の巻取りＷ１のピッチＫ１は、軸方向Ａに、ダイ幅Ｄおよび／またはストリップ幅Ｅよりも大きい。試験ストリップＴの巻取り中、および／またはその後に、センサ８は、図１１で示すように、試験ストリップＴの１つまたは複数の巻取りＷ１のうちの少なくとも１つの巻取りＷ１から、試験測定値Ｍを取得する。前記試験測定値Ｍは、試験ストリップＴを巻くために使用された構成パラメータが、前記試験ストリップＴの巻取りＷ１の特性にどのように影響を与えるかに関する有用なフィードバックを提供することができる。

好ましい適用においては、試験ストリップＴは、生産値の範囲外に存在する少なくとも１つの試験値を有する第１の構成パラメータを用いて巻かれる。より好ましくは、試験値は、生産値範囲のものをかなり超える範囲において使用される。したがって、多数の様々な生産シナリオに対する比較的多数の測定値Ｍが生成され得る。

いくつかの適用においては、第１の値に設定された第１の構成パラメータを用いて、１つまたは複数の巻取りＷ１のうちの第１の巻取りＷ１を巻き、また第１の値とは異なる第２の値に設定された第１の構成パラメータを用いて、１つまたは複数の巻取りＷ１のうちの第２の巻取りＷ１を巻くことが有用であり得る。したがって、試験測定値Ｍは、第１の構成パラメータの値の変化が、試験ストリップＴの測定された特性にどのように影響を与えるかに関するフィードバックを提供することになる。

さらなる適用において、第１の巻取りＷ１、第２の巻取りＷ１、またはその両方のいずれかが、第３の値に設定された第２の構成パラメータを用いて、少なくとも部分的に巻かれる。次いで、第３の値とは異なる第４の値に設定された第２の構成パラメータを用いて、１つまたは複数の巻取りＷ１の第３の巻取りを巻くことは有利になり得る。再度、試験測定値Ｍは、第１の構成パラメータの値の変化が、試験ストリップＴの測定された特性にどのように影響を与えるかに関するフィードバックを提供することになる。

円筒形の測定面３０に適合し得る、試験ストリップＴの巻取りＷ１の数によってのみ限定されるが、前記構成パラメータに対するさらに多くの構成パラメータおよび値が試験され得ることが、当業者には明らかであろう。任意選択で、構成パラメータに対する様々な値が、単一の巻取りＷ１内で試験され得る。例えば、単一の巻取りＷ１は、第１の値の第１の構成パラメータを用いて部分的に巻かれ、また第２の値の第１の構成パラメータを用いて部分的に巻かれ得る。

制御ユニット７は、各巻取り、または巻取りの一部に対して使用される構成パラメータおよび値を記憶するように、また記憶された構成パラメータおよび値を、センサ８により取得された試験測定値Ｍに関連付けるように構成される。このために、タイヤ構成システム１は、例えば、エンコーダおよび／または変位センサなど、１つ以上の位置センサ（図示せず）を備え、タイヤ構成システム１の各構成要素の位置を正確に検出し、また前記位置を表す信号を制御ユニット７に送ることができる。

代替的に、構成パラメータは、試験ストリップＴの複数の巻取りＷ１のすべての巻取りＷ１に対して一定に維持され得る。こうすることは、例えば、材料の硬化の結果としてなど、時間経過と共に、試験ストリップＴの特性がどのように変化するかに関する有用なフィードバックを提供することができる。

試験測定値Ｍが、試験ストリップＴの螺旋状の巻取りの起動段階中に取得され得るように、円筒形の測定面３０上への試験ストリップＴの初期の巻取りＷ１は、重複しないピッチＫ１を用いて巻かれることが好ましい。同様に、試験測定値Ｍが、螺旋状の巻取りの最後の段階中に、円筒形の測定面３０上の最後の巻取りＷ１の終了を含み得るように、円筒形の測定面３０上への試験ストリップＴの最後の巻取りＷ１が、重複しないピッチＫ１を用いて巻かれることが好ましい。

試験測定値Ｍは、処理を行うために制御ユニット７に送られる。制御ユニット７は、例えば、図１１で示されるグラフと同様に、試験測定値Ｍからの生データをグラフ表現へと変換して、有用なフィードバックを操作者に提供することができる。代替的に、試験測定値Ｍからの生データは、操作者に直接提供され得る。別の可能な実施形態では、制御ユニット７は、例えば、測定された高さおよび幅から、試験ストリップＴの横断面積または容積を導出するために、試験測定値Ｍからのデータに対して計算を実施することができる。制御ユニット７はまた、第１の値と第２の値の間の範囲内の第１の構成パラメータの値に対して、試験ストリップＴの試験測定値Ｍを内挿するように、または第１の値および第２の値により規定された範囲外の第１の構成パラメータの値に対して、試験ストリップＴの試験測定値Ｍを外挿するように構成され得る。

図２は、タイヤ構成システム１の生産モードＰＭを示す。試験ストリップＴは、多数の様々な構成パラメータおよび／または値が試験モードＴＭにおいて使用されているため、生産モードＰＭで使用されない、または使用され得ない。したがって、生産モードＰＭにおいては、試験モードＴＭからの試験ストリップＴは、円筒形の測定面３０から除去され、この例では、測定面３０はまた、生産面４０を形成する。その後に、タイヤ構成要素（図示せず）が、１つまたは複数の構成パラメータを用いて構成される。

図１で示されるような試験モードＴＭから、図２で示されるような生産モードＰＭに切り換える前に、制御ユニット７および／または操作者は、構成パラメータのうちの１つまたは複数のものを設定する。本発明による方法では、１つまたは複数の構成パラメータのうちの少なくとも１つが、試験ストリップＴの試験測定値Ｍに基づいて設定され、調整され、構成され、較正され、有効化され、および／または検証される。具体的には、制御ユニット７および／または操作者は、試験ストリップＴの試験測定値Ｍに基づいて、予想される結果と測定された結果の間の、試験ストリップＴにおける測定された差に対して調整または補償するように決定することができる。さらに構成パラメータの１つは、例えば、硬化の結果として、時間経過に伴う試験測定値Ｍにおける変化を補償するように調整され得る。試験測定値Ｍはまた、ダイの膨張の影響を、すなわち、ダイの開口部２４の下流で、試験ストリップＴの横断面が拡大する傾向を予測するために使用され得る。さらに進んだ適用においては、試験測定値Ｍは、例えば、容積または横断面など、試験ストリップＴの予想される特性を、試験ストリップＴの実際に測定された特性と比較することによって、押出機２１、ギヤポンプ２２、および／またはダイ２３の過度の摩耗を知らせることもできる。

したがって、試験測定値Ｍは、試験ストリップＴの測定された特性に基づき、生産ストリップＰの挙動を予測するために有効に使用され得る。試験モードＴＭにおける試験ストリップＴの試験測定値Ｍにより提供されるフィードバックは、それに従って構成パラメータの１つまたは複数のものを設定または調整し、それにより、タイヤ構成要素の構成中の品質問題を阻止し、および／または生産モードＰＭ中のタイヤ構成要素の品質を向上させるために使用され得る。測定値は、操作者により使用されて、構成パラメータの１つまたは複数のものを手動で設定することができる。代替的に、測定値は、機械学習および／または人工知能プログラム用のデータセットとして使用されて、構成パラメータおよび／または生産モードＰＭを自動的に、調整および／または制御することができる。

試験モードＴＭは、生産モードＰＭの各構成サイクルの前に反復され得る、または時間を節約するために、生材料の新しいバッチまたは化合物へと切り換えたときに限って開始され得る。試験モードＴＭからの測定値は、単一タイプのタイヤ構成要素を繰り返して生産するように構成パラメータを設定するために使用され得るが、あるいは測定値の量が、構成パラメータの比較的広い範囲を予測するのに十分である場合、それは、新しいタイプのタイヤ構成要素へと切り換える間に試験モードＴＭを再稼働することを必要とせずに、様々なタイプのタイヤ構成要素の構成パラメータを設定するために使用され得る。

図５〜図８は、本発明の例示的な第２の実施形態による代替的なタイヤ構成システム１０１を示す。

代替的なタイヤ構成システム１０１は、ドラム４から分離した、または分離可能な測定ツール１０３を備える点で、前に論じたタイヤ構成システム１とは異なる。測定ツール１０３は、ドラム４の円筒形の生産面４０の周囲に嵌合するように構成される。測定ツール１０３は、測定ツール１０３が、円筒形の生産面４０の周囲に嵌合されたとき、円筒形の生産面４０の周りで同心に延びる。測定ツール１０３は、円筒形の生産面４０の外側に、または円筒形の生産面４０よりも大きな直径で、円筒形の測定面１３０を形成する。測定ツール１０３の外径は、円筒形の生産面４０の外径よりもわずかに大きいだけであることが好ましい。円筒形の測定面１３０は、円筒形の生産面４０よりもさらに円形である。具体的には、円筒形の測定面１３０は、その下の生産面４０とは異なり、完全な円を形成することができる。したがって、ドラム４のセグメント４２間の間隙またはスリットの負の作用は阻止され、また前記完全な円筒形の測定面１３０から取得される試験測定値Ｍの一貫性、正確さ、および／または信頼性が向上され得る。円筒形の測定面１３０はまた、例えば、より大きなコントラストを提供することによるなど、測定に対して最適化され得る。

図９は、本発明の例示的な第３の実施形態によるさらなる代替的なタイヤ構成システム２０１を示す。さらなる代替的なタイヤ構成システム２０１は、円筒形の生産面４０に対して、軸方向Ａにオフセットされている代替的な円筒形の測定面２３０を備える点で、前に論じたタイヤ構成システム１、１０１と異なっているだけである。具体的には、円筒形の測定面２３０は、ドラム４の分離した部分に、または延長部に、あるいは生産面４０を形成するドラム４と並んださらなる測定ドラムに設けられ得る。

上記の記述は、好ましい実施形態の動作を示すために含まれており、本発明の範囲を限定することを意味していないことを理解されたい。上記の議論から、本発明の範囲によってさらに包含されるはずの多くの変形形態が、当業者には明らかになろう。

明示的に示されていないが、試験ストリップＴの巻取りＷから取得される試験測定値はまた、例えば、平面の生産面、または移送機など、非円筒形の生産面上における生産ストリップＰの挙動を予測するためにも使用され得ることが当業者には明らかであろう。

以下に、出願当初の特許請求の範囲に記載の事項を付記する。
［１］ タイヤ構成方法であって、
− タイヤ構成要素を構成するための生産モードと、試験測定値を取得するための試験モードとの間の選択肢を提供するステップを備え、ここにおいて、前記選択肢は、前記試験モードを実行する前に提供される、
前記試験モードは、
− 中心軸の周りで同心に延びる円筒形の測定面を提供するステップと、
− 連続する試験ストリップを、前記中心軸回りの複数の巻取りへと円筒形の測定面上で螺旋状に巻くステップと、ここにおいて、前記試験ストリップの前記複数の巻取りのうちの１つまたは複数の巻取りは、前記１つまたは複数の巻取りにおいて、同じ軸方向に、前記試験ストリップの幅よりも大きい、前記中心軸に対して平行な前記軸方向のピッチを有する、
− 前記試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りのうちの少なくとも１つの巻取りから試験測定値を取得するステップと
を備え、
前記生産モードは、
− １つまたは複数の構成パラメータを用いて、生産面上で生産ストリップからタイヤ構成要素を構成するステップを備え、
前記方法は、最初に前記試験モードを実行するステップと、次いで、前記生産モードを実行するステップとをさらに備え、前記１つまたは複数の構成パラメータの少なくとも１つは、前記試験ストリップの前記試験測定値に基づいて、前記タイヤ構成要素を構成する前に設定される、タイヤ構成方法。
［２］ 前記選択肢は、ユーザインターフェースを介して操作者に提供される、［１］に記載のタイヤ構成方法。
［３］ 前記生産ストリップは、構成されるタイヤ構成要素内における前記生産ストリップの位置に基づき、生産シーケンスによる前記生産ストリップの巻取り中に設定された値を有する第１の構成パラメータを用いて巻かれ、前記試験ストリップは、前記生産シーケンスとは独立した試験シーケンスによる前記試験ストリップの巻取り中に設定された値を備える前記第１の構成パラメータを用いて巻かれる、［１］または［２］に記載のタイヤ構成方法。
［４］ 前記生産ストリップは、生産値範囲内にすべて存在する生産値を備えた第１の構成パラメータを用いて巻かれ、前記試験ストリップは、前記生産値範囲外に存在する少なくとも１つの試験値を備える前記第１の構成パラメータを用いて巻かれる、先行する請求項のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
［５］ 前記試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りのうちの第１の巻取りは、第１の値に設定された第１の構成パラメータを用いて少なくとも部分的に巻かれ、また前記試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りのうちの第２の巻取りは、前記第１の値とは異なる第２の値に設定された前記第１の構成パラメータを用いて少なくとも部分的に巻かれ、前記方法は、前記第１の値と前記第２の値の間の範囲にある、または前記第１の値および前記第２の値により規定された範囲外にある前記第１の構成パラメータの値に対して、それぞれ、前記試験ストリップの前記試験測定値を内挿または外挿するステップを備える、先行する請求項のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
［６］ 前記試験モード中に取得された前記試験ストリップは、前記生産モードにおいて、前記タイヤ構成要素、またはその一部を構成するためには使用されない、先行する請求項のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
［７］ 前記試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りのうちの第１の巻取りは、第１の値に設定された第１の構成パラメータを用いて、少なくとも部分的に巻かれ、また前記試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りのうちの第２の巻取りは、前記第１の値とは異なる第２の値に設定された前記第１の構成パラメータを用いて少なくとも部分的に巻かれ、前記第１の巻取り、前記第２の巻取り、またはその両方は、第３の値に設定された、前記第１の構成パラメータとは異なる第２の構成パラメータを用いて少なくとも部分的に巻かれ、前記試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りのうちの第３の巻取りは、前記第３の値とは異なる第４の値に設定された前記第２の構成パラメータを用いて少なくとも部分的に巻かれる、先行する請求項のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
［８］ 前記構成パラメータは、前記試験ストリップの前記複数の巻取りのすべての巻取りに対して一定に維持され、前記１つまたは複数の構成パラメータのうちの少なくとも１つは、時間経過に伴う前記試験測定値の変化を補償するために、前記生産モードにおいて調整される、［１］から［３］のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
［９］ 試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りは、前記試験ストリップの前記螺旋状の巻取りの起動段階中における前記円筒形の測定面上への前記試験ストリップの初期巻取り、または前記試験ストリップの前記螺旋状の巻取りの終了段階中における前記円筒形の測定面上への前記試験ストリップの最後の巻取りを含み、前記試験測定値は、前記円筒形の測定面上への前記初期巻取りの開始の測定値、または前記円筒形の測定面上への前記最後の巻取りの終了の測定値をそれぞれ含む、先行する請求項のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
［１０］ 前記複数の巻取りは、前記円筒形の測定面の回りに単一層で巻かれ、前記試験モードは、前記単一層が完了した後に終了する、先行する請求項のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
［１１］ 前記円筒形の測定面は、前記生産面であり、前記方法は、前記生産モードにおいて、前記タイヤ構成要素を構成する前記ステップの前に、前記測定面から前記試験ストリップを除去するステップを含む、先行する請求項のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
［１２］ 前記生産面は、円筒形の生産面であり、前記方法は、前記試験ストリップの前記螺旋状の巻取りの前に、前記円筒形の生産面の周囲に測定ツールを嵌合させるステップと、前記試験ストリップの前記螺旋状の巻取りの完了後であり、前記タイヤ構成要素を構成する前記ステップの前に、前記測定ツールを前記生産面から除去するステップとを備え、前記円筒形の測定面は、前記測定ツールによって形成され、また前記測定ツールが、前記円筒形の生産面の周囲に嵌合されたとき、前記中心軸の周りで同心に延びる、［１］から［１０］のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
［１３］ 前記生産面は、円筒形の生産面であり、前記円筒形の測定面および前記円筒形の生産面は、前記軸方向に互いに対してオフセットされる、［１］から［１０］のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
［１４］ 前記タイヤ構成要素は、前記生産ストリップを、複数の巻取りへと前記生産面上に螺旋状に巻くことにより構成される、［１１］から［１３］のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
［１５］前記生産ストリップの前記複数の巻取りは、同じ軸方向に、前記生産ストリップの幅よりも小さい軸方向のピッチを有する、［１４］に記載のタイヤ構成方法。
［１６］ 前記試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りの前記ピッチは、前記生産ストリップの前記螺旋状の巻取りの最大ピッチよりも少なくとも１．５倍、または２倍大きい、［１５］に記載のタイヤ構成方法。
［１７］ タイヤ構成システムであって、
連続する試験ストリップを供給するためのストリップ供給部材と、前記試験ストリップを前記ストリップ供給部材から受け取るための円筒形の測定面と、前記円筒形の測定面を、前記円筒形の測定面と同心の中心軸回りで回転させるための回転駆動装置と、前記円筒形の測定面と前記供給部材の間の、前記中心軸に対して平行な軸方向への相対的な変位を提供するためのピッチ駆動装置とを備え、前記タイヤ構成システムは、前記試験ストリップが、前記軸方向へのピッチで、前記中心軸回りの複数の巻取りへと前記円筒形の測定面上に螺旋状に巻かれるように、前記回転駆動装置および前記ピッチ駆動装置が制御される試験モードと、タイヤ構成要素が、１つまたは複数の構成パラメータを用いて生産面上で生産ストリップから構成される生産モードとの間を切換え可能である制御ユニットをさらに備え、前記供給部材は、前記試験ストリップを形成するためのダイ開口部を有するダイを備え、前記ダイ開口部は、前記試験ストリップの幅を画定するダイ幅を有し、前記制御ユニットは、前記軸方向における、前記試験ストリップの前記複数の巻取りのうちの１つまたは複数の巻取りの前記ピッチが、前記ダイ幅よりも大きくなるように、前記回転駆動装置と前記ピッチ駆動装置とを制御するように構成され、前記タイヤ構成システムは、前記円筒形の測定面上の前記試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りから試験測定値を取得するためのセンサをさらに備え、前記制御ユニットは、前記試験モードを実行する前に、前記試験モードと前記生産モードの間の選択肢を提供するように構成された、前記試験モードの完了後であり、前記タイヤ構成を構成する前に、前記試験ストリップの前記試験測定値に基づき、前記１つまたは複数の構成パラメータの少なくとも１つを設定するために、前記試験測定値を用いる、タイヤ構成システム。
［１８］ 前記タイヤ構成システムは、前記制御ユニットに動作可能に接続されるユーザインターフェースを備え、前記制御ユニットは、前記ユーザインターフェースを制御して、操作者に前記選択肢を提供するように構成される、［１７］に記載のタイヤ構成システム。
［１９］ 前記タイヤ構成システムは、前記制御ユニットに動作可能に接続されたメモリを備え、前記メモリは、生産シーケンスおよび試験シーケンスがロードされ、前記生産ストリップは、構成されているタイヤ構成要素内の前記生産ストリップの位置に基づき、前記生産シーケンスによる前記生産ストリップの前記巻取り中に設定された値を備える第１の構成パラメータを用いて巻かれ、前記試験ストリップは、前記生産シーケンスとは独立した前記試験シーケンスによる前記試験ストリップの前記巻取り中に設定された値を備える前記第１の構成パラメータを用いて巻かれる、［１７］または［１８］に記載のタイヤ構成システム。
［２０］ 前記試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りの前記ピッチは、前記ダイ幅よりも少なくとも１．５倍または２倍大きい、［１７］から［１９］のいずれか一項に記載のタイヤ構成システム。
［２１］ 前記タイヤ構成システムは、ドラムシャフトを備えるドラムと、前記ドラムシャフトに対して直角な半径方向に移動可能な複数のセグメントとを備え、前記複数のセグメントは、前記生産面を形成する、［１７］から［２０］のいずれか一項に記載のタイヤ構成システム。
［２２］ 前記円筒形の測定面は前記生産面である、［１７］から［２１］のいずれか一項に記載のタイヤ構成システム。
［２３］ 前記生産面は、円筒形の生産面であり、前記タイヤ構成システムは、前記円筒形の生産面の周囲に嵌合するように構成された測定ツールをさらに備え、前記円筒形の測定面は、前記測定ツールによって形成され、また前記測定ツールが前記円筒形の生産面の周囲に嵌合されたとき、前記円筒形の生産面の回りに同心に延びる、［１７］から［２１］のいずれか一項に記載のタイヤ構成システム。
［２４］ 前記円筒形の測定面は、前記円筒形の生産面よりもさらに円形であり、完全な円に近似する、または形成することが好ましい、［２２］に記載のタイヤ構成システム。
［２５］ 前記生産面は、円筒形の生産面であり、前記円筒形の測定面および前記円筒形の生産面は、前記軸方向に互いに対してオフセットされる、［１７］から［２１］のいずれか一項に記載のタイヤ構成システム。
［２６］ 前記制御ユニットは、前記生産ストリップが、前記生産面上で、前記軸方向にピッチを備えて複数の巻取りへと螺旋状に巻かれるように、前記生産モードにおいて、前記回転駆動装置と前記ピッチ駆動装置とを制御するように構成され、前記生産ストリップの前記複数の巻取りは、前記ダイ幅よりも小さい前記軸方向のピッチを有する、［１７］から［２５］のいずれか一項に記載のタイヤ構成システム。

１ タイヤ構成システム
２ ストリップ供給部材
４ ドラム
５ 回転駆動装置
６ ピッチ駆動装置
７ 制御ユニット
８ センサ
２１ 押出機
２２ ギヤポンプ
２３ ダイ
２４ ダイ開口部
３０ 円筒形の測定面
４０ 円筒形の生産面
４１ ドラムシャフト
４２ セグメント
７０ メモリ
１０１ 代替的なタイヤ構成システム
１０３ 測定ツール
１３０ 円筒形の測定面
２０１ さらなる代替的なタイヤ構成システム
２３０ 円筒形の測定面
Ａ 軸方向
Ｄ ダイ幅
Ｅ ストリップ幅
Ｍ 測定値
Ｐ 連続する生産ストリップ
ＰＭ 生産モード
Ｋ１ 試験ストリップのピッチ
Ｋ２ 生産ストリップのピッチ
Ｓ 中心軸
Ｔ 連続する試験ストリップ
ＴＭ 試験モード
ＵＩ ユーザインターフェース
Ｗ１ 試験ストリップの巻取り
Ｗ２ 生産ストリップの巻取り

Claims (26)

1. タイヤ構成方法であって、
   − タイヤ構成要素を構成するための生産モードと、試験測定値を取得するための試験モードとの間の選択肢を提供するステップを備え、ここにおいて、前記選択肢は、前記試験モードを実行する前に提供される、
   前記試験モードは、
   − 中心軸の周りで同心に延びる円筒形の測定面を提供するステップと、
   − 連続する試験ストリップを、前記中心軸回りの複数の巻取りへと円筒形の測定面上で螺旋状に巻くステップと、ここにおいて、前記試験ストリップの前記複数の巻取りのうちの１つまたは複数の巻取りは、前記１つまたは複数の巻取りにおいて、同じ軸方向に、前記試験ストリップの幅よりも大きい、前記中心軸に対して平行な前記軸方向のピッチを有する、
   − 前記試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りのうちの少なくとも１つの巻取りから試験測定値を取得するステップと
   を備え、
   前記生産モードは、
   − １つまたは複数の構成パラメータを用いて、生産面上で生産ストリップからタイヤ構成要素を構成するステップを備え、
   前記方法は、最初に前記試験モードを実行するステップと、次いで、前記生産モードを実行するステップとをさらに備え、前記１つまたは複数の構成パラメータの少なくとも１つは、前記試験モードが完了した後、前記試験ストリップの前記試験測定値に基づいて、前記タイヤ構成要素を構成する前に設定される、タイヤ構成方法。
2. 前記選択肢は、ユーザインターフェースを介して操作者に提供される、請求項１に記載のタイヤ構成方法。
3. 前記生産ストリップは、構成されるタイヤ構成要素内における前記生産ストリップの位置に基づき、生産シーケンスによる前記生産ストリップの巻取り中に設定された値を有する第１の構成パラメータを用いて巻かれ、前記試験ストリップは、前記生産シーケンスとは独立した試験シーケンスによる前記試験ストリップの巻取り中に設定された値を備える前記第１の構成パラメータを用いて巻かれる、請求項１または２に記載のタイヤ構成方法。
4. 前記生産ストリップは、生産値範囲内にすべて存在する生産値を備えた第１の構成パラメータを用いて巻かれ、前記試験ストリップは、前記生産値範囲外に存在する少なくとも１つの試験値を備える前記第１の構成パラメータを用いて巻かれる、請求項１から３のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
5. 前記試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りのうちの第１の巻取りは、第１の値に設定された第１の構成パラメータを用いて少なくとも部分的に巻かれ、また前記試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りのうちの第２の巻取りは、前記第１の値とは異なる第２の値に設定された前記第１の構成パラメータを用いて少なくとも部分的に巻かれ、前記方法は、前記第１の値と前記第２の値の間の範囲にある、または前記第１の値および前記第２の値により規定された範囲外にある前記第１の構成パラメータの値に対して、それぞれ、前記試験ストリップの前記試験測定値を内挿または外挿するステップを備える、請求項１から４のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
6. 前記試験モード中に取得された前記試験ストリップは、前記生産モードにおいて、前記タイヤ構成要素、またはその一部を構成するためには使用されない、請求項１から５のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
7. 前記試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りのうちの第１の巻取りは、第１の値に設定された第１の構成パラメータを用いて、少なくとも部分的に巻かれ、また前記試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りのうちの第２の巻取りは、前記第１の値とは異なる第２の値に設定された前記第１の構成パラメータを用いて少なくとも部分的に巻かれ、前記第１の巻取り、前記第２の巻取り、またはその両方は、第３の値に設定された、前記第１の構成パラメータとは異なる第２の構成パラメータを用いて少なくとも部分的に巻かれ、前記試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りのうちの第３の巻取りは、前記第３の値とは異なる第４の値に設定された前記第２の構成パラメータを用いて少なくとも部分的に巻かれる、請求項１から６のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
8. 前記構成パラメータは、前記試験ストリップの前記複数の巻取りのすべての巻取りに対して一定に維持され、前記１つまたは複数の構成パラメータのうちの少なくとも１つは、時間経過に伴う前記試験測定値の変化を補償するために、前記生産モードにおいて調整される、請求項１から３のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
9. 試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りは、前記試験ストリップの前記螺旋状の巻取りの起動段階中における前記円筒形の測定面上への前記試験ストリップの初期巻取り、または前記試験ストリップの前記螺旋状の巻取りの終了段階中における前記円筒形の測定面上への前記試験ストリップの最後の巻取りを含み、前記試験測定値は、前記円筒形の測定面上への前記初期巻取りの開始の測定値、または前記円筒形の測定面上への前記最後の巻取りの終了の測定値をそれぞれ含む、請求項１から８のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
10. 前記複数の巻取りは、前記円筒形の測定面の回りに単一層で巻かれ、前記試験モードは、前記単一層が完了した後に終了する、請求項１から９のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
11. 前記円筒形の測定面は、前記生産面であり、前記方法は、前記生産モードにおいて、前記タイヤ構成要素を構成する前記ステップの前に、前記測定面から前記試験ストリップを除去するステップを含む、請求項１から１０のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
12. 前記生産面は、円筒形の生産面であり、前記方法は、前記試験ストリップの前記螺旋状の巻取りの前に、前記円筒形の生産面の周囲に測定ツールを嵌合させるステップと、前記試験ストリップの前記螺旋状の巻取りの完了後であり、前記タイヤ構成要素を構成する前記ステップの前に、前記測定ツールを前記生産面から除去するステップとを備え、前記円筒形の測定面は、前記測定ツールによって形成され、また前記測定ツールが、前記円筒形の生産面の周囲に嵌合されたとき、前記中心軸の周りで同心に延びる、請求項１から１０のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
13. 前記生産面は、円筒形の生産面であり、前記円筒形の測定面および前記円筒形の生産面は、前記軸方向に互いに対してオフセットされる、請求項１から１０のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
14. 前記タイヤ構成要素は、前記生産ストリップを、複数の巻取りへと前記生産面上に螺旋状に巻くことにより構成される、請求項１１から１３のいずれか一項に記載のタイヤ構成方法。
15. 前記生産ストリップの前記複数の巻取りは、同じ軸方向に、前記生産ストリップの幅よりも小さい軸方向のピッチを有する、請求項１４に記載のタイヤ構成方法。
16. 前記試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りの前記ピッチは、前記生産ストリップの前記螺旋状の巻取りの最大ピッチよりも少なくとも１．５倍、または２倍大きい、請求項１５に記載のタイヤ構成方法。
17. タイヤ構成システムであって、
    連続する試験ストリップを供給するためのストリップ供給部材と、前記試験ストリップを前記ストリップ供給部材から受け取るための円筒形の測定面と、前記円筒形の測定面を、前記円筒形の測定面と同心の中心軸回りで回転させるための回転駆動装置と、前記円筒形の測定面と前記供給部材の間の、前記中心軸に対して平行な軸方向への相対的な変位を提供するためのピッチ駆動装置とを備え、前記タイヤ構成システムは、前記試験ストリップが、前記軸方向へのピッチで、前記中心軸回りの複数の巻取りへと前記円筒形の測定面上に螺旋状に巻かれるように、前記回転駆動装置および前記ピッチ駆動装置が制御される試験モードと、タイヤ構成要素が、１つまたは複数の構成パラメータを用いて生産面上で生産ストリップから構成される生産モードとの間を切換え可能である制御ユニットをさらに備え、前記供給部材は、前記試験ストリップを形成するためのダイ開口部を有するダイを備え、前記ダイ開口部は、前記試験ストリップの幅を画定するダイ幅を有し、前記制御ユニットは、前記軸方向における、前記試験ストリップの前記複数の巻取りのうちの１つまたは複数の巻取りの前記ピッチが、前記ダイ幅よりも大きくなるように、前記回転駆動装置と前記ピッチ駆動装置とを制御するように構成され、前記タイヤ構成システムは、前記円筒形の測定面上の前記試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りから試験測定値を取得するためのセンサをさらに備え、前記制御ユニットは、前記試験モードを実行する前に、前記試験モードと前記生産モードの間の選択肢を提供するように構成され、前記試験モードの完了後であり、前記タイヤ構成要素を構成する前に、前記試験ストリップの前記試験測定値に基づき、前記１つまたは複数の構成パラメータの少なくとも１つを設定するために、前記試験測定値を用いる、タイヤ構成システム。
18. 前記タイヤ構成システムは、前記制御ユニットに動作可能に接続されるユーザインターフェースを備え、前記制御ユニットは、前記ユーザインターフェースを制御して、操作者に前記選択肢を提供するように構成される、請求項１７に記載のタイヤ構成システム。
19. 前記タイヤ構成システムは、前記制御ユニットに動作可能に接続されたメモリを備え、前記メモリは、生産シーケンスおよび試験シーケンスがロードされ、前記生産ストリップは、構成されているタイヤ構成要素内の前記生産ストリップの位置に基づき、前記生産シーケンスによる前記生産ストリップの前記巻取り中に設定された値を備える第１の構成パラメータを用いて巻かれ、前記試験ストリップは、前記生産シーケンスとは独立した前記試験シーケンスによる前記試験ストリップの前記巻取り中に設定された値を備える前記第１の構成パラメータを用いて巻かれる、請求項１７または１８に記載のタイヤ構成システム。
20. 前記試験ストリップの前記１つまたは複数の巻取りの前記ピッチは、前記ダイ幅よりも少なくとも１．５倍または２倍大きい、請求項１７から１９のいずれか一項に記載のタイヤ構成システム。
21. 前記タイヤ構成システムは、ドラムシャフトを備えるドラムと、前記ドラムシャフトに対して直角な半径方向に移動可能な複数のセグメントとを備え、前記複数のセグメントは、前記生産面を形成する、請求項１７から２０のいずれか一項に記載のタイヤ構成システム。
22. 前記円筒形の測定面は前記生産面である、請求項１７から２１のいずれか一項に記載のタイヤ構成システム。
23. 前記生産面は、円筒形の生産面であり、前記タイヤ構成システムは、前記円筒形の生産面の周囲に嵌合するように構成された測定ツールをさらに備え、前記円筒形の測定面は、前記測定ツールによって形成され、また前記測定ツールが前記円筒形の生産面の周囲に嵌合されたとき、前記円筒形の生産面の回りに同心に延びる、請求項１７から２１のいずれか一項に記載のタイヤ構成システム。
24. 前記円筒形の測定面は、前記円筒形の生産面よりもさらに円形である、請求項２３に記載のタイヤ構成システム。
25. 前記生産面は、円筒形の生産面であり、前記円筒形の測定面および前記円筒形の生産面は、前記軸方向に互いに対してオフセットされる、請求項１７から２１のいずれか一項に記載のタイヤ構成システム。
26. 前記制御ユニットは、前記生産ストリップが、前記生産面上で、前記軸方向にピッチを備えて複数の巻取りへと螺旋状に巻かれるように、前記生産モードにおいて、前記回転駆動装置と前記ピッチ駆動装置とを制御するように構成され、前記生産ストリップの前記複数の巻取りは、前記ダイ幅よりも小さい前記軸方向のピッチを有する、請求項１７から２５のいずれか一項に記載のタイヤ構成システム。

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