JP6899249B2 - ウェーハカセット - Google Patents

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Description

本発明は、複数枚のウェーハを収容するウェーハカセットに関する。
従来、半導体デバイスが形成される半導体ウェーハや、光デバイスが形成される光デバイスウェーハといった各種板状のウェーハ(被加工物)を製造(加工)する工程において、複数枚のウェーハをカセットに収容し、カセット単位で各加工装置間を搬送する技術が知られている。例えば、特許文献1には、ウェーハを支持する支持プレートと、支持プレート同士の間に配設された隔壁プレートとを備えたウェーハカセットが開示されている。このウェーハカセットは、ウェーハを搬出する際、ウェーハを搬出するための保持部によってウェーハを隔壁プレートに押し当てることによってウェーハの湾曲を矯正した後、保持部によってウェーハを吸引して保持する。
特開2005‐228867号公報
上記特許文献1に記載のウェーハカセットは、ウェーハの搬出に際してウェーハの湾曲を矯正することができるものの、カセット内に収容されている状態のウェーハが湾曲すること自体を抑制することができない。ウェーハカセット内に収容されるウェーハは、個々のデバイスチップに分割するための分割予定ラインに沿って、ハーフカット溝といった後の工程において分割の基点とされる構造を含む場合がある。このような分割の基点とされる構造を含むウェーハがウェーハカセット内で湾曲すると、ウェーハカセットの搬送中に、この構造を基点としてウェーハに損傷が生じるおそれがある。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、ウェーハに損傷を生じさせることなく、安定的にウェーハを収容して搬送することができるウェーハカセットを提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、複数枚のウェーハを収容するウェーハカセットであって、対向する側壁と、該側壁に連結し、ウェーハを支持する複数の棚板部と、該棚板部のウェーハを支持する領域に設置され、該ウェーハを静電吸着する電極を含む静電吸着機構と、該静電吸着機構に給電する給電部と、を備え、該ウェーハカセット内に収容されている該ウェーハの全面が該静電吸着機構により吸着される
また、該給電部は、ウェーハカセット載置領域に該ウェーハカセットが載置されると電源と電気的に接続されることが好ましい。
また、該給電部は、二次電池を備え、該二次電池から該静電吸着機構に給電することが好ましい。
また、該棚板部は、ウェーハを吸着保持する搬送プレートの進入が許容される間隔を空けて上下に重なって設定されることが好ましい。
また、複数枚のウェーハを収容するウェーハカセットであって、対向する側壁と、該側壁に連結し、ウェーハを支持する複数の棚板部と、該棚板部のウェーハを支持する領域に設置され、該ウェーハを静電吸着する電極を含む静電吸着機構と、該静電吸着機構に給電する給電部と、を備え、該ウェーハは、環状フレームの開口を覆うシート部材を介して該環状フレームの開口に位置付けられてフレームユニットを構成し、該フレームユニットが該棚板部に載置されると該シート部材を介して該ウェーハが該電極に静電吸着されることが好ましい。
また、ウェーハは、ハーフカット溝又は改質層が形成されていることが好ましい。
本発明にかかるウェーハカセットは、複数の棚板部のウェーハを支持する領域に設置された静電吸着機構によって、ウェーハの全面を吸着することができるため、棚板部上でウェーハが湾曲したり、動いたりすることを抑制することができる。従って、本発明にかかるウェーハカセットは、ウェーハに損傷を生じさせることなく、安定的にウェーハを収容して搬送することができる、という効果を奏する。
図1は、ウェーハにレーザー加工を施すレーザー加工装置を示す概略図である。 図2は、実施形態にかかるウェーハカセットにより搬送されるウェーハの一例を示す斜視図である。 図3は、実施形態にかかるウェーハカセットを示す斜視図である。 図4は、静電吸着機構を示す平面図である。 図5は、静電吸着機構を示す断面図である。 図6は、ウェーハカセットをカセット載置領域に載置する様子を示す斜視図である。 図7は、ウェーハカセットの底板に設けられた給電部を示す底面図である。 図8は、実施形態にかかるウェーハカセットにより搬送されるウェーハの他の形態を示す説明図である。
本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。
図1は、ウェーハにレーザー加工を施すレーザー加工装置を示す概略図であり、図2は、実施形態にかかるウェーハカセットにより搬送されるウェーハの一例を示す斜視図であり、図3は、実施形態にかかるウェーハカセットを示す斜視図である。実施形態にかかるウェーハカセット20は、被加工物としてのウェーハ201の製造(加工)工程において、複数枚のウェーハ201を収容して各加工装置間を搬送する際に用いられる。本実施形態では、図1に示すレーザー加工装置1をウェーハ201の搬送対象となる加工装置の一例として、ウェーハカセット20の構成及び機能について説明する。レーザー加工装置1は、図示しない切削装置により裏面201bにハーフカット溝205が形成されたウェーハ201に対して、レーザー光線の照射によるアブレーション加工を施し、ハーフカット溝205の溝底にフルカット溝を形成する装置である。
ウェーハカセット20に収容されて搬送されるウェーハ201は、本実施形態では、シリコン、サファイア、ガリウムヒ素などを基板とする円板状の半導体ウェーハや光デバイスウェーハである。ウェーハ201は、図2に示すように、表面201aに交差(本実施形態では、直交)する複数の分割予定ライン202によって区画された複数の領域にそれぞれデバイス203が形成されている。また、図2に示すように、ウェーハ201は、図示しない切削装置において、切削ブレードにより分割予定ライン202に沿って形成されたハーフカット溝205を有する。ハーフカット溝205は、ウェーハ201の裏面201bから表面201aの近傍まで形成されている。また、本実施形態において、ウェーハ201は、図2に示すように、デバイス203を保護するために表面201aに保護テープ204が貼り付けられている。ウェーハ201は、保護テープ204側が鉛直方向の下側に位置した状態で、ウェーハカセット20内に収容され、レーザー加工装置1へと搬送される。
レーザー加工装置1は、図1に示すように、チャックテーブル10と、レーザー光線照射ユニット11と、X軸移動手段12と、Y軸移動手段13と、回転手段14と、カセット支持台15と、搬送ユニット16と、洗浄ユニット17とを備える。
チャックテーブル10は、ウェーハ201を保持する保持面10aを有する。保持面10aは、金属やポーラスセラミック等から形成された円盤形状であり、図示しない真空吸引経路を介して図示しない真空吸引源と接続されている。保持面10aは、ウェーハ201の保護テープ204を介して表面201a側を保持する。チャックテーブル10は、X軸移動手段12によりレーザー光線照射ユニット11に対してX軸方向(加工送り方向)に相対移動可能とされている。チャックテーブル10は、Y軸移動手段13によりレーザー光線照射ユニット11に対してY軸方向(割り出し送り方向)に相対移動可能とされている。また、チャックテーブル10は、回転手段14によりZ軸方向と平行な中心軸線回りに回転可能とされている。
レーザー光線照射ユニット11は、チャックテーブル10に保持されたウェーハ201にレーザー加工を施す。レーザー光線照射ユニット11は、レーザー光を発振する発振手段と、ウェーハ201の所望の位置にレーザー光を集光させる集光手段とを有する。レーザー光線照射ユニット11は、分割予定ライン202に沿って、すなわちハーフカット溝205に沿ってウェーハ201の裏面201b側にレーザー光線を照射し、ハーフカット溝205の溝底をアブレーション加工することで、ウェーハ201の表面201aまで達するフルカット溝を形成する。
X軸移動手段12は、チャックテーブル10をX軸方向に移動させることで、チャックテーブル10をX軸方向に加工送りする加工送り手段である。X軸移動手段12は、軸心回りに回転自在に設けられたボールねじと、ボールねじを軸心回りに回転させるパルスモータと、チャックテーブル10をX軸方向に移動自在に支持するガイドレールとを備える。
Y軸移動手段13は、チャックテーブル10をY軸方向に移動させることで、チャックテーブル10を割り出し送りする割り出し送り手段である。Y軸移動手段13は、軸心回りに回転自在に設けられたボールねじと、ボールねじを軸心回りに回転させるパルスモータと、チャックテーブル10をY軸方向に移動自在に支持するガイドレールとを備える。
回転手段14は、チャックテーブル10をZ軸方向と平行な中心軸線回りに回転させる。回転手段14は、X軸移動手段12によりX軸方向に移動される移動テーブル上に配置されている。
カセット支持台15は、その上面がウェーハカセット20を載置するカセット載置領域(ウェーハカセット載置領域)15aとされている。カセット支持台15は、鉛直方向に移動自在なカセットエレベータとして構成されている。
搬送ユニット16は、第一搬送プレート16aと、第二搬送プレート16bとを備える。本実施形態において、第一搬送プレート16a及び第二搬送プレート16bは、ウェーハ201の一方の面(本実施形態では、ウェーハ201の裏面201b)を吸着保持可能な真空吸引式の搬送プレートである(図5参照)。第一搬送プレート16aは、ウェーハカセット20と、レーザー加工前またはレーザー加工後のウェーハ201が仮置きされる図示しない仮置きテーブルとの間で、ウェーハ201を搬送する。また、第二搬送プレート16bは、図示しない仮置きテーブルと、チャックテーブル10と、洗浄ユニット17との間で、レーザー加工前またはレーザー加工後のウェーハ201を搬送する。
このように構成されたレーザー加工装置1において、ウェーハ201にレーザー加工を施す際には、第一搬送プレート16aによってウェーハカセット20からウェーハ201を取り出し、図示しない仮置きテーブルに仮置きする。次に、第二搬送プレート16bによって図示しない仮置きテーブルからチャックテーブル10へとウェーハ201を搬送する。そして、レーザー光線照射ユニット11をウェーハ201の分割予定ライン202に沿って相対的に移動させながら、レーザー光線を照射する。それにより、ウェーハ201のハーフカット溝205の溝底にフルカット溝を形成し、ウェーハ201を分割予定ライン202に沿って複数のデバイスチップに分割する。その後、複数のデバイスチップに分割されて保護テープ204に固定された状態のウェーハ201を、第二搬送プレート16bによってチャックテーブル10から洗浄ユニット17へと搬送し、洗浄ユニット17によるウェーハ201の洗浄後、再び第二搬送プレート16bによってウェーハ201を図示しない仮置きテーブルに仮置きする。最後に、第一搬送プレート16aによって図示しない仮置きテーブルに仮置きされたウェーハ201をウェーハカセット20内に収容する。
次に、実施形態にかかるウェーハカセット20について説明する。ウェーハカセット20は、図3に示すように、底板21と、側壁22と、天板23と、複数の棚板部24と、各棚板部24に設置された静電吸着機構30と、各静電吸着機構30へと電力を供給する給電部40(図4及び図7参照)とを備える。ウェーハカセット20は、立方体状の筐体であり、ウェーハ201を搬出入するための開口部20aを有する。
底板21は、複数の脚部21aを有している。ウェーハカセット20は、脚部21aを介してレーザー加工装置1のカセット支持台15に設けられたカセット載置領域15aに載置される(図6参照)。本実施形態において、底板21とカセット載置領域15aとの間には、わずかに隙間が形成される。複数の側壁22は、底板21の3つの縁部から鉛直方向上側に延びる。複数の側壁22のうち、2つは互いに対向して配置され、1つは開口部20aと対向して配置される。天板23は、各側壁22の上端に取り付けられる。天板23は、ウェーハカセット20の搬送を容易にするための持ち手部23aが中央部に設けられている。
複数の棚板部24は、図3に示すように、鉛直方向において互いに等間隔を空けて、互いに対向する2つの側壁22に連結されている。各棚板部24は、上面がウェーハ201を支持するウェーハ支持領域24aである。各棚板部24は、互いに隣り合うもの同士が、ウェーハ201を吸着保持する第一搬送プレート16aの進入が許容される間隔を空けて、鉛直方向の上下に重なって設定される(配置される)。
次に、静電吸着機構30について説明する。図4は、静電吸着機構を示す平面図であり、図5は、静電吸着機構を示す断面図である。静電吸着機構30は、図4及び図5に示すように、各棚板部24のウェーハ201を支持するウェーハ支持領域24aに設置されている。静電吸着機構30は、一対の電極31と、電源ユニット32と、ウェーハ検出ユニット33と、制御ユニット34とを備える。
一対の電極31は、正極電極31aと、負極電極31bとを一つずつ有する。正極電極31a及び負極電極31bは、図4に示すように、半円板状の電極である。正極電極31a及び負極電極31bは、本実施形態において、棚板部24のウェーハ支持領域24aの中央部に互いに間隔を空けて配置される。正極電極31a及び負極電極31bは、図5に示すように、絶縁性の樹脂材料等で形成される絶縁層31cにより被覆されている。
電源ユニット32は、本実施形態において、棚板部24のウェーハ支持領域24aの四隅の一角に配置される。電源ユニット32は、給電部40のバッテリー41に電力線35を介して接続される。電源ユニット32は、正極端子32aに一対の電極31の正極電極31aが接続されている。また、電源ユニット32は、負極端子32bに一対の電極31の正極電極31aが接続されている。電源ユニット32は、給電部40のバッテリー41から供給された電力を、正極端子32aを介して正極電極31aへと供給すると共に、負極端子32bを介して負極電極31bへと供給する。本実施形態において、電源ユニット32は、正極端子32aから出力する電圧、及び、負極端子32bから出力する電圧を、プラスの直流電圧からマイナスの直流電圧まで可変な直流電源装置として構成されている。電源ユニット32による電圧の出力は、制御ユニット34により制御される。
ウェーハ検出ユニット33は、本実施形態において、棚板部24のウェーハ支持領域24aの四隅の一角に配置される。ウェーハ検出ユニット33は、一対の電極31上にウェーハ201が載置されているか否かを検出する装置である。ウェーハ検出ユニット33は、給電部40のバッテリー41に電力線35を介して接続されている。ウェーハ検出ユニット33は、静電容量センサ電極33aと、検出部33bとを有する。静電容量センサ電極33aは、本実施形態において、正極電極31aと負極電極31bとの間に配置される。静電容量センサ電極33aは、検出部33bを介してバッテリー41と接続されている。検出部33bは、静電容量センサ電極33aにおける静電容量の変化に基づいて、一対の電極31上にウェーハ201が載置されたことを検出する。検出部33bは、信号線36により制御ユニット34に接続されている。検出部33bは、一対の電極31上にウェーハ201が載置されたという検出結果を制御ユニット34に出力する。
制御ユニット34は、本実施形態において、棚板部24のウェーハ支持領域24aの四隅の一角に配置される。制御ユニット34は、給電部40のバッテリー41に電力線35を介して接続される。制御ユニット34は、信号線36により、電源ユニット32及びウェーハ検出ユニット33の検出部33bに接続されている。また、本実施形態において、制御ユニット34は、レーザー加工装置1等の各加工装置の図示しない制御部と通信可能に構成されている。制御ユニット34は、ウェーハ検出ユニット33によるウェーハ201の検出結果、及び、レーザー加工装置1の図示しない制御部から受信した情報に基づいて、電源ユニット32から一対の電極31へと供給する電圧を制御し、静電吸着機構30によるウェーハ201の吸着保持の実行と解除とを切り替える。
次に、静電吸着機構30に電力を供給する給電部40について説明する。給電部40は、複数のバッテリー41と、ワイヤレス受電コイル42(図7参照)と、給電ユニット43(図7参照)とを有する。
複数のバッテリー41は、各静電吸着機構30に対応して一つずつ設けられている。各バッテリー41は、図4に示すように、棚板部24のウェーハ支持領域24aの四隅の一角に配置されている。本実施形態において、バッテリー41は、二次電池である。バッテリー41は、電源ユニット32、ウェーハ検出ユニット33、及び制御ユニット34に電力線35を介して接続されている。バッテリー41は、ワイヤレス受電コイル42が受電し、給電ユニット43から供給された電力を蓄電すると共に、蓄電した電力を電源ユニット32、ウェーハ検出ユニット33、及び制御ユニット34に供給する。
各バッテリー41へと電力を供給する給電ユニット43及びワイヤレス受電コイル42は、ウェーハカセット20の底板21のカセット載置領域15aに載置される面側に設けられている。図6は、ウェーハカセットをカセット載置領域に載置する様子を示す斜視図であり、図7は、ウェーハカセットの底板に設けられた給電部を示す底面図である。
ワイヤレス受電コイル42は、ウェーハカセット20が載置されるカセット支持台15のカセット載置領域15aに設けられたワイヤレス送電コイル15b(図6参照)から、例えば電磁誘導方式、磁界共鳴方式またはその他の方式によって電力を受電することができる。
給電ユニット43は、ワイヤレス受電コイル42と、各バッテリー41とに接続されている。また、給電ユニット43は、ワイヤレス受電コイル42から各バッテリー41への給電を制御する給電制御部を含む。給電ユニット43の給電制御部は、レーザー加工装置1の図示しない制御部と通信可能に構成されている。給電ユニット43の給電制御部は、ウェーハカセット20がカセット載置領域15aに載置されると、レーザー加工装置1の図示しない制御部へと給電指示を出力する。給電指示を受信したレーザー加工装置1の図示しない制御部は、図示しない外部電源からの電力をワイヤレス送電コイル15bへと供給する。それにより、ワイヤレス送電コイル15bとワイヤレス受電コイル42との間で電力がやり取りされ、さらに、給電ユニット43から蓄電電力が低下しているバッテリー41へと電力が供給される。すなわち、給電部40は、カセット載置領域15aにウェーハカセット20が載置されると、図示しない外部電源と電気的に接続される。
ウェーハカセット20を用いたウェーハ201の搬送動作について説明する。まず、オペレータがウェーハカセット20をレーザー加工装置1へと搬送している際には、各バッテリー41に蓄えられた電力を用いて、静電吸着機構30によるウェーハ201の吸着保持がなされている。具体的には、制御ユニット34は、ウェーハカセット20内に各ウェーハ201が収容されている状態であるため、ウェーハ検出ユニット33からウェーハ201が一対の電極31上に載置されているという検出結果を受信する。このとき、制御ユニット34は、電源ユニット32を制御し、正極端子32aから正極電極31aへとプラスの電圧を印加させると共に、負極端子32bから負極電極31bへとマイナスの電圧を印加させる。その結果、ウェーハ201が導電体である場合には静電誘導によって、また、ウェーハ201が絶縁体又は半導体である場合には誘電分極によって、正極電極31aおよび負極電極31bとウェーハ201との間で正負の電荷が引き寄せられ、静電気力が発生する。この静電気力により、ウェーハ201の表面201a側の全面が保護テープ204を介して静電吸着機構30により吸着される。
次に、ウェーハカセット20がレーザー加工装置1のカセット支持台15のカセット載置領域15aに搬送されると、上述したように、図示しない外部電源からの電力が各静電吸着機構30のバッテリー41へと供給される。これにより、バッテリー41に電力が蓄電される。また、制御ユニット34は、レーザー加工装置1の図示しない制御部と通信し、各ウェーハ201にレーザー加工を順次施すために、ウェーハカセット20から搬出すべきウェーハ201の情報を受信する。制御ユニット34は、ウェーハカセット20から搬出すべきウェーハ201を吸着保持している静電吸着機構30について、電源ユニット32を制御し、正極端子32aから正極電極31aへとマイナスの電圧を印加させると共に、負極端子32bから負極電極31bへとプラスの電圧を印加させる。その結果、正極電極31aおよび負極電極31bとウェーハ201との間に蓄積された電荷が除電され、静電吸着機構30によるウェーハ201の吸着が解除される。それにより、レーザー加工装置1の第一搬送プレート16aを各棚板部24同士の間に進入させ、第一搬送プレート16aにより容易に搬出することが可能となる。
その後、上述した手順によってレーザー加工が施され、フルカット溝が形成された(複数のデバイスチップに分割された)ウェーハ201は、第一搬送プレート16aにより再びウェーハカセット20内へと搬送される。第一搬送プレート16aによりレーザー加工後のウェーハ201が棚板部24のウェーハ支持領域24a上に搬送されると、ウェーハ検出ユニット33からウェーハ201が一対の電極31上に載置されているという検出結果が制御ユニット34へと出力される。検出結果を受信した制御ユニット34は、電源ユニット32を制御し、正極端子32aから正極電極31aへとプラスの電圧を印加させると共に、負極端子32bから負極電極31bへとマイナスの電圧を印加させる。その結果、上述したように、ウェーハ201の表面201a側の全面が保護テープ204を介して静電吸着機構30に吸着される。各ウェーハ201は、この状態でウェーハカセット20内に収容され、オペレータにより他の加工装置へと搬送される。
以上説明したように、実施形態にかかるウェーハカセット20は、複数の棚板部24のウェーハ201を支持するウェーハ支持領域24aに設置された静電吸着機構30によって、ウェーハ201の全面を吸着することができるため、棚板部24上でウェーハ201が湾曲したり、動いたりすることを抑制することができる。従って、実施形態にかかるウェーハカセット20は、ウェーハ201に損傷を生じさせることなく、安定的にウェーハ201を収容して搬送することが可能となる。
特に、本実施形態で例示したように、裏面201bにハーフカット溝205が形成されたウェーハ201をウェーハカセット20に収容してレーザー加工装置1へと搬送する際に、ウェーハ201がウェーハカセット20内で湾曲した状態となることを抑制することで、湾曲したウェーハ201がハーフカット溝205を基点として損傷することを良好に抑制することが可能となる。
また、本実施形態のウェーハカセット20は、例えば真空吸引源と接続された真空吸引機構を棚板部24上に設け、真空吸引機構によってウェーハ201を吸引保持する構成に比べて、常に真空吸引源とウェーハカセット20とを接続しておく必要がない。それにより、ウェーハカセット20の搬送の自由度を高めることができる。
また、給電部40は、カセット載置領域15aにウェーハカセット20が載置されると図示しない外部電源と電気的に接続される。これにより、給電部40と外部電源とを容易に接続することができる。
また、給電部40は二次電池としてのバッテリー41を備え、バッテリー41から静電吸着機構30に給電する。これにより、静電吸着機構30を作動させる電力をバッテリー41に蓄電することができるため、ウェーハカセット20を搬送する際に、静電吸着機構30に電力を供給するための配線を常時つないでおく必要がない。従って、ウェーハカセット20の搬送の自由度を高めることができる。
また、棚板部24は、ウェーハ201を吸着保持する第一搬送プレート16aの進入が許容される間隔を空けて上下に重なって設定される。これにより、第一搬送プレート16aによって、棚板部24のウェーハ支持領域24a上からウェーハ201を容易に搬出することができると共に、ウェーハ支持領域24a上へとウェーハ201を容易に搬入することができる。
また、本実施形態では、表面201aに保護テープ204を貼着したウェーハ201をウェーハカセット20に収容し、レーザー加工装置1へとウェーハカセット20を搬送する場合を例示したが、ウェーハ201の形態は、これに限られず、また、ウェーハカセット20の搬送対象となる加工装置は、レーザー加工装置1に限られない。
図8は、実施形態にかかるウェーハカセットにより搬送されるウェーハの他の形態を示す説明図である。図示するように、ウェーハ201は、環状フレーム211の開口211aを覆うシート部材212を介して、環状フレーム211の開口211aに位置づけられてフレームユニット210を構成するものであってもよい。図8に示す例では、ウェーハ201は、デバイス203が形成された表面201a側がシート部材212に貼着される。また、図8に示すウェーハ201も、図2に示す例と同様に、図示しない切削装置により裏面201bにハーフカット溝205が形成されている。
このようなフレームユニット210を構成するウェーハ201についても、実施形態にかかるウェーハカセット20に収容して、ハーフカット溝205の溝底にフルカット溝を形成するためのレーザー加工装置といった他の加工装置へと搬送することができる。なお、この場合のレーザー加工装置は、図1に示すレーザー加工装置1の図示しない仮置きテーブルに代えて、フレームユニット210の外縁を支持する仮置き用の一対のガイドレールを備えるものであればよい。また、他の加工装置としては、例えば、ウェーハ201に外力を付与して、ハーフカット溝205を基点としてウェーハ201を複数のデバイスチップに分割するための装置等が挙げられる。
図8に例示するフレームユニット210をウェーハカセット20に収容する場合、ウェーハ201の表面201aが貼着されたシート部材212側が鉛直方向の下側に位置する状態で、フレームユニット210を各棚板部24のウェーハ支持領域24a上に載置する。制御ユニット34は、ウェーハ検出ユニット33からのフレームユニット210が一対の電極31上に載置されているという検出結果に基づき、電源ユニット32を制御し、正極端子32aから正極電極31aへとプラスの電圧を印加させると共に、負極端子32bから負極電極31bへとマイナスの電圧を印加させる。その結果、ウェーハ201は、シート部材212を介して、表面201a側の全面が静電吸着機構30の電極31上に吸着される。それにより、棚板部24のウェーハ支持領域24a上において、ウェーハ201が湾曲したり、動いたりすることが抑制される。特に、ガイドレールによってフレームユニット210の外縁部を支持する構成に比べて、シート部材212が撓むことをより良好に抑制することができる。そのため、シート部材212が撓むことにより、ウェーハ201を拡張させる方向の外力がウェーハ201に付与され、ハーフカット溝205を基点としてウェーハ201が損傷することを抑制することができる。このように、実施形態にかかるウェーハカセット20は、ウェーハ201の裏面201bにハーフカット溝205が形成され、かつ、表面201aにシート部材212が貼着されたフレームユニット210を収容する場合に、より好適である。
また、実施形態にかかるウェーハカセット20に収容されて搬送されるウェーハ201は、裏面201bにハーフカット溝205が形成されたものに限られず、表面201aにハーフカット溝205が形成されたものであってもよい。この場合、ウェーハ201は、裏面201b側が各棚板部24のウェーハ支持領域24aに載置され、静電吸着機構30により裏面201b側の全面が吸着される。なお、この場合にも、ウェーハ201は、裏面201bに保護テープ204が貼着されてもよいし、裏面201bにシート部材212が貼着されたフレームユニットを構成するものであってもよい。また、表面201aにハーフカット溝205が形成されたウェーハ201を搬送する加工装置としては、例えば、上述したようなフルカット溝を形成するためのレーザー加工装置や、ウェーハ201を裏面201b側からハーフカット溝205に至るまで研削し、複数のデバイスチップへと分割するための研削装置や、ウェーハ201に外力を付与して、ハーフカット溝205を基点にウェーハ201を複数のデバイスチップに分割するための装置等が挙げられる。
さらに、実施形態にかかるウェーハカセット20に収容されて搬送されるウェーハ201は、ハーフカット溝205が形成されたものでなくてもよい。この場合、実施形態にかかるウェーハカセット20によるウェーハ201の搬送対象は、例えば、ウェーハ201を研削するための研削装置や、ウェーハ201を研磨するための研磨装置、ウェーハ201の分割予定ライン202に沿って改質層を形成するためのレーザー加工装置、形成した改質層に沿ってウェーハ201を複数のデバイスチップに分割するための外力を付与する装置といった、種々の加工装置であってもよい。特に、分割予定ライン202に沿って改質層が形成されたウェーハ201を実施形態にかかるウェーハカセット20に収容して搬送する場合、ウェーハ201の湾曲を抑制することで、後の工程において複数のデバイスチップに分割される基点となる改質層を基点として、ウェーハ201に損傷が発生することを良好に抑制することができる。
また、本実施形態では、ウェーハカセット20からウェーハ201を取り出す際に、制御ユニット34は、レーザー加工装置1の図示しない制御部から、搬出すべきウェーハ201の情報を受信し、このウェーハ201に対応した静電吸着機構30の正極電極31aおよび負極電極31bとウェーハ201との間に蓄積された電荷を除電させるものとした。これにより、ウェーハ201を容易に搬出することが可能となる。なお、ウェーハカセット20からウェーハ201を取り出す際に、正極電極31aおよび負極電極31bとウェーハ201との間に蓄積された電荷を除電することなく、第一搬送プレート16aの吸引力によって、ウェーハ201を静電吸着機構30から引き離すものとしてもよい。この場合、制御ユニット34は、レーザー加工装置1の図示しない制御部と通信可能なものでなくてもよい。
また、本実施形態では、各棚板部24上に設置される静電吸着機構30が、制御ユニット34をひとつずつ備えるものとした。ただし、各棚板部24上に設置される電源ユニット32、及びウェーハ検出ユニット33のすべてと接続され、各ウェーハ検出ユニット33によるウェーハ201の検出結果やレーザー加工装置1の図示しない制御部からの情報に基づいて、各電源ユニット32を制御する制御ユニットを一つだけ設けるものとしてもよい。この場合、制御ユニットは、ウェーハカセット20のいかなる位置に配置されてもよい。
また、本実施形態では、ウェーハカセット20の底板21にワイヤレス受電コイル42及び給電ユニット43を設けたが、給電部40の構成は、これに限られない。例えば、給電部40の給電ユニット43を、底板21ではなく、側壁22のいずれかの位置に設けてもよい。また、ワイヤレス受電コイル42も、側壁22のいずれかの位置に設け、ワイヤレス送電コイル15bを、カセット支持台15とは異なる他の送電用装置に設けてもよい。さらに、給電部40は、接触方式で給電が可能なものであってもよい。例えば、ワイヤレス受電コイル42に代えて、底板21の脚部21aに受電用の接触端子を設け、かつ、カセット載置領域15aのワイヤレス送電コイル15bに代えて、カセット載置領域15aの脚部21aに対応した位置に送電用の接触端子を設ける構成としてもよい。
また、本実施形態では、給電部40のバッテリー41を各静電吸着機構30に対応させて一つずつ設けるものとしたが、バッテリー41は、少なくとも一つあればよい。この場合、バッテリー41は、ウェーハカセット20のいかなる位置に配置されてもよい。また、バッテリー41は、二次電池に限られず、予め電力が蓄電され、交換可能な一次電池であってもよい。この場合、給電部40は、ワイヤレス受電コイル42及び給電ユニット43を備えなくてもよい。
また、本実施形態では、静電吸着機構30は、一対の電極31が、正極電極31a及び負極電極31bを一つずつ有するものとしたが、一対の電極31の構成は、これに限られない。例えば、一対の電極31は、複数の正極電極31aと、複数の負極電極31bとを含み、各正極電極31aと各負極電極31bとが互い違いに並んで配置されるもの等であってもよい。
また、ウェーハ201を搬送する第一搬送プレート16aは、本実施形態に示したものに限られない。例えば、第一搬送プレート16aの代わりに、ウェーハ201の外周縁やフレームユニット210の外周縁を保持可能な搬送アームを用いてもよい。この場合、隣り合う棚板部24同士の間隔は、本実施形態で示した例よりも狭い間隔に設定されてもよい。
1 レーザー加工装置
10 チャックテーブル
10a 保持面
11 レーザー光線照射ユニット
12 X軸移動手段
13 Y軸移動手段
14 回転手段
15 カセット支持台
15a カセット載置領域
15b ワイヤレス送電コイル
16 搬送ユニット
16a 第一搬送プレート
16b 第二搬送プレート
17 洗浄ユニット
20 ウェーハカセット
20a 開口部
21 底板
21a 脚部
22 側壁
23 天板
23a 持ち手部
24a ウェーハ支持領域
24 棚板部
30 静電吸着機構
31 電極
31a 正極電極
31b 負極電極
31c 絶縁層
32 電源ユニット
32a 正極端子
32b 負極端子
33 ウェーハ検出ユニット
33a 静電容量センサ電極
33b 検出部
34 制御ユニット
35 電力線
36 信号線
40 給電部
41 バッテリー
42 ワイヤレス受電コイル
43 給電ユニット
201 ウェーハ
201a 表面
201b 裏面
202 分割予定ライン
203 デバイス
204 保護テープ
205 ハーフカット溝
210 フレームユニット
211 環状フレーム
211a 開口
212 シート部材

Claims (6)

  1. 複数枚のウェーハを収容するウェーハカセットであって、
    対向する側壁と、
    該側壁に連結し、ウェーハを支持する複数の棚板部と、
    該棚板部のウェーハを支持する領域に設置され、該ウェーハを静電吸着する電極を含む静電吸着機構と、
    該静電吸着機構に給電する給電部と、を備え、
    該ウェーハカセット内に収容されている該ウェーハの全面が該静電吸着機構により吸着されるウェーハカセット。
  2. 該給電部は、ウェーハカセット載置領域に該ウェーハカセットが載置されると電源と電気的に接続される請求項1記載のウェーハカセット。
  3. 該給電部は、二次電池を備え、該二次電池から該静電吸着機構に給電する請求項1記載のウェーハカセット。
  4. 該棚板部は、ウェーハを吸着保持する搬送プレートの進入が許容される間隔を空けて上下に重なって設定される請求項1記載のウェーハカセット。
  5. 複数枚のウェーハを収容するウェーハカセットであって、
    対向する側壁と、
    該側壁に連結し、ウェーハを支持する複数の棚板部と、
    該棚板部のウェーハを支持する領域に設置され、該ウェーハを静電吸着する電極を含む静電吸着機構と、
    該静電吸着機構に給電する給電部と、を備え、
    該ウェーハは、環状フレームの開口を覆うシート部材を介して該環状フレームの開口に位置付けられてフレームユニットを構成し、該フレームユニットが該棚板部に載置されると該シート部材を介して該ウェーハが該電極に静電吸着されるウェーハカセット。
  6. 該ウェーハは、ハーフカット溝又は改質層が形成されている請求項1から請求項5のうちいずれか一項に記載のウェーハカセット。
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