JP6845090B2 - セラミック配線基板及びその製造方法 - Google Patents
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Description
そこで、配線抵抗を下げる手法として、AgやCuに代表される低抵抗金属を用いたLTCC(Low Temperature Co-fired Ceramics)基板が開発されている。このLTCC基板とは、例えば600℃〜1050℃程度の低温で焼成が可能なように、セラミックにガラス成分等を添加した低温同時焼成セラミック基板である。
配線を構成する導体としてCu金属及びW金属を用いることにより、焼成温度が1000℃以上の比較的高い温度にて焼成可能となることで、セラミックに添加されるガラス成分の量を少なくでき、低抵抗で高強度のセラミック配線基板が実現可能である。
具体的には、焼成温度がCuの融点より高く且つCuW電極部(例えば内部電極)と接するMo貫通電極、即ち、基板の厚み方向にて基板を貫通して延びるMo電極部がある場合に、CuW電極部にてCuの融点を超えて液状化したCuが発生したときには、その液状化したCuが、CuW電極部からMo電極部の領域に浸入することがある。それにより、CuW電極部のCuが減少するので、CuW電極部の電気伝導率が不安定になる(具体的には比抵抗が大きくなる)という問題があった。
また、例えば特許文献2には、主成分としてCuよりも融点の高い金属又はセラミック材料を含むバリア層と、バリア層上に形成された主成分のCuWを含む表面金属層とを備えるとともに、バリア層にさらにCuを含む技術が開示されている。
具体的には、基板内部のCuW電極部が外表面へ接続する距離を長くすると、CuW電極部を用いた低抵抗のメリットが無くなってしまうという問題がある。
このように、Mo電極部の添加成分の含有量が、21.4〜32.5atom%である場合には、製造時に熔融したCuが一層Mo電極部内に浸入しにくいので、CuW電極部の比抵抗が大きくなること等を抑制できる。
このように、Mo電極部の添加成分として、Al2O3を含んでいる場合には、製造時に熔融したCuが一層Mo電極部内に浸入しにくいので、CuW電極部の比抵抗が大きくなること等を抑制できる。
このように、Mo電極部の添加成分において、Al2O3の含有量がガラスの含有量以上である場合には、製造時に熔融したCuが一層Mo電極部内に浸入しにくいので、CuW電極部の比抵抗が大きくなること等を抑制できる。
このセラミック配線基板の製造方法では、セラミック基板となるグリーンシートに、CuW電極部となる材料とMo電極部となる材料とを配置し、同時焼成して、セラミック配線基板を製造する工程を有している。
このように、Mo電極部となる無機材料における添加成分の含有量を、30〜40体積%とした場合には、製造時に熔融したCuが一層Mo電極部内に浸入しにくいので、CuW電極部の比抵抗が大きくなること等を抑制できる。
このように、Mo電極部となる無機材料の添加成分として、Al2O3を含んでいる場合には、製造時に熔融したCuが一層Mo電極部内に浸入しにくいので、CuW電極部の抵抗が大きくなること等を抑制できる。
このように、Mo電極部となる無機材料の添加成分として、Al2O3の含有量がガラスの含有量以上である場合には、製造時に熔融したCuが一層Mo電極部内に浸入しにくいので、CuW電極部の比抵抗が大きくなること等を抑制できる。
このように、Mo電極部となる無機材料の添加成分として、Al2O3の含有量が10体積%以上である場合には、製造時に熔融したCuがMo電極部内に浸入しにくいので、CuW電極部の比抵抗が大きくなること等を抑制できる。
このように、Mo電極部となる無機材料として、D50が1.0μm未満のMo粉末を用いる場合には、Mo電極部を緻密にでき空隙の発生を抑制できるので、例えば後工程にて、メッキを行う場合など、メッキが空隙に浸入して不具合の発生(例えば熱膨張によるクラックの発生)することを抑制できる。
・ガラスの成分としては、熔融したCuのMo電極部の成分に対する濡れ性を考えた場合、Cuの濡れ性が悪い成分、例えば、SiO2、BaCO3、MgCO3、Mn2O5、Nb2O3などが挙げられる。
[1.実施形態]
[1−1.セラミック配線基板の構成]
まず、実施形態のセラミック配線基板について説明する。
前記CuW電極5は、導電成分であるCu及びW以外に、例えばAl2O3等の成分が含まれている。
[1−2.セラミック配線基板の製造方法]
次に、本実施形態のセラミック配線基板1の製造方法の要部について説明する。なお、下記の第1工程〜第4工程の順番は前後してもよい。
まず、セラミック基板3の主原料(主成分となる原料)として、Al2O3粉末を用意するとともに、焼結助剤として、SiO2、MgCO3、BaCO3等の粉末を用意した。
CuW電極5の主原料として、Cu粉末及びW粉末を用意するとともに、Al2O3粉末を用意した。
<Mo電極用の導体ペーストの作製工程:第3工程>
Mo電極7の主原料として、Mo粉末を用意するとともに、Al2O3粉末を用意した。さらに、焼結助剤(ガラスの成分)として、SiO2、BaCO3、MgCO3の粉末を用意した。なお、ここでは、Mo粉末として、Mo粉末の粒径を示すD50が1.0μm未満である粉末を用いた。
特に、本実施形態では、Moを主成分とするMo電極用の導体ペーストには、Al2O3及びガラスの成分の少なくとも一方の成分(添加成分)が含まれており、無機材料(即ちMo、Al2O3、ガラス)における添加成分の含有量が、20〜40体積%(好ましくは30〜40体積%)である。
表面電極9の主原料として、Mo粉末(例えばD50が1μm未満)を用意するとともに、Al2O3粉末を用意した。さらに、焼結助剤として、SiO2、BaCO3、MgCO3、Mn2O5、Nb2O3の粉末を用意した。
<積層体の作製工程:第5工程>
図2(b)に示すように、複数のグリーンシート21を積層して、第1セラミック層11となる第1積層体23を作製する。この第1積層体23の表面に、CuW電極用の導体ペーストをスクリーン印刷して、CuW電極用の導体パターン25を形成する。
次に、前記積層体35を、周知にように脱脂した後に、所定の焼成条件にて同時焼成して、セラミック配線基板1を得る。なお、焼成条件としては、例えば還元雰囲気にて、1200〜1300℃の温度範囲で、0.5〜2時間焼成する条件を採用できる。
次に、本実施形態の効果を説明する。
(1)本実施形態では、Mo電極7には、Al2O3及びガラスの成分の少なくとも一方の添加成分を含むとともに、この添加成分の含有量が16.9〜32.5atom%(好ましくは21.4〜32.5atom%)であるので、電極材料としてCuを用いた場合の低抵抗のメリットを生かしつつ、液状化若しくは熔融したCuがMo電極7に浸入することを抑制できる。
また、熔融したCuが、CuW電極5からMo電極7を介して表面電極9にまで達しにくいので、Cuの外気への蒸発を抑制できる。よって、蒸発したCuが、降温時にセラミック配線基板1の外表面に析出して、基板の外観不良となることを防ぐことができる。
また、熔融したCuが、CuW電極5からMo電極7を介して表面電極9にまで達しにくいので、Cuの外気への蒸発を抑制できる。よって、蒸発したCuが、降温時にセラミック配線基板1の外表面に析出して、基板の外観不良となることを防ぐことができる。
ここで、特許請求の範囲と実施形態とにおける文言の対応関係について説明する。
実施形態の、セラミック配線基板1、セラミック基板3、CuW電極5、Mo電極7、グリーンシート21が、それぞれ、本発明の、セラミック配線基板、セラミック基板、CuW電極部、Mo電極部、グリーンシートの一例に相当する。
次に、本発明の効果を確認するために行った実験例について説明する。
この実験例は、下記表1に示す9種のセラミック配線基板の試料(No.1〜9)に関して、実験条件を変更して、Mo電極に対するCuの浸入状態や、Mo電極の比抵抗などを調べたものである。つまり、各試料を作製する際のMo電極用の導体ペーストの構成を変更して、各試料におけるMo電極に対するCuの浸入状態や、Mo電極の比抵抗などを調べたものである。
a)まず、下記表1に示す各試料のセラミック配線基板の製造方法について説明する。
セラミック基板の主原料(主成分となる原料)として、Al2O3粉末を用意し、焼結助剤として、SiO2、MgCO3、BaCO3の粉末(焼結助剤粉末)を用意した。
また、シート成形時のバインダー成分及び可塑剤成分として、ブチラール系バインダー及び可塑剤(DOP:ジ・オクチル・フタレート)を用意した。
<CuW電極用の導体ペーストの作製工程:第2工程>
CuW電極の主原料として、Cu粉末及びW粉末を用意し、また、Al2O3粉末を用意した。
Mo電極の主原料として、Mo粉末を用意し、また、Al2O3粉末を用意した。さらに、焼結助剤(ガラスの成分)として、SiO2、BaCO3、MgCO3の粉末を用意した。なお、Mo粉末としては、Mo粉末の粒径を示すD50が1.0μm未満である粉末を用いた。
表面電極の主原料として、Mo粉末を用意し、また、Al2O3粉末を用意した。さらに、焼結助剤として、SiO2、BaCO3、MgCO3、Mn2O5、Nb2O3の粉末を用意した。
次に、前記実施形態と同様にして、前記図2(d)に示すような積層体を作製した。
詳しくは、第1積層体と第2積層体との間にCuW電極用の導体パターンを備え、第1積層体の表面に表面電極用の導体パターンを備え、更に、第1積層体を貫通してCuW電極用の導体パターンとCuW電極用の導体パターンとに接続されたMo電極用の導体パターン(導体部)を備えた積層体を作製した。
そして、上述した積層体を、脱脂した後に、窒素水素混合雰囲気にて、1300℃にて、30分間焼成して、各試料のセラミック配線基板を得た。
Cu熔出距離とは、CuがMo電極中においてCuW電極から移動した距離である。
また、前記断面に対して、JOEL製の電子線マイクロアナライザーにより、Mo電極内に移動したCuのマッピングを観察した。
更に、JOEL製の電子線マイクロアナライザーにより、Mo電極内に存在するMo、Al2O3、ガラスの量を算出した。その結果を、同じく下記表1に記す。
この粉末の粒径測定には、マイクロトラック・ベル製の粒度分布測定機を用いた。具体的には、粉末をエタノール中において超音波分散させて懸濁液を作製し、その懸濁液に対してレーザ回折法を用いて粒径を測定した。
c)次に、比抵抗に関する基板評価試験について説明する。
抵抗用試料を作製するためのグリーンシートは、前記Cu用試料と同様であるので、その説明は省略する。
Mo電極の主原料として、Mo粉末を用意し、また、Al2O3粉末を用意した。さらに、焼結助剤(ガラスの成分)として、SiO2、BaCO3、MgCO3の粉末を用意した。なお、Mo粉末としては、Mo粉末の粒径を示すD50が1.0μm未満である粉末を用いた。
・次に、比抵抗の測定方法について説明する。
しかし、Al2O3とガラスの合計添加量が40体積%を上回ると(例えば60体積%以上となると)、導電成分であるMoのネットワークの形成不足や、Al2O3やガラスによるMoの焼結阻害により、急激に抵抗値(比抵抗値)が上昇すると考えられる。
従って、導体として十分に低い抵抗値を確保しつつ、Cu熔出の十分な抑制効果を得るためには、Mo電極の原料におけるAl2O3やガラスの添加量は、20〜40体積%(焼結後のMo電極では、16.9〜32.5atom%)が好ましいことが分かる。
一方、上述した試料とは別に、Mo粒径(D50)が2.0μm、Moが100体積%の材料を用いてMo電極用の導体ペーストを作製し、この導体ペーストを用いて追加試料(Cu用試料)を作製した。
この図6から明らかなように、Mo粉末として、Mo粒径(D50)が2.0μmのものを用いた場合には、多くの空隙が発生していることが分かる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、様々な態様にて実施することが可能である。
(2)セラミック配線基板としては、前記実施形態に限定されることなく、例えばCuW電極からセラミック基板の厚み方向における一方の側又は両方の側に延びるMo電極を採用できる。
(4)なお、上記実施形態における1つの構成要素が有する機能を複数の構成要素に分担させたり、複数の構成要素が有する機能を1つの構成要素に発揮させたりしてもよい。また、上記実施形態の構成の一部を、省略してもよい。また、上記実施形態の構成の少なくとも一部を、他の実施形態の構成に対して付加、置換等してもよい。なお、特許請求の範囲に記載の文言から特定される技術思想に含まれるあらゆる態様が本発明の実施形態である。
3…セラミック基板
5…CuW電極
7…Mo電極
21…グリーンシート
Claims (10)
- Al2O3を90体積%以上含むセラミック基板の内部に、Cu及びWを主成分とするCuW電極部と、Moを主成分とし前記CuW電極部と電気的に接続するとともに前記セラミック基板の厚み方向に延びるMo電極部と、を備えたセラミック配線基板において、
前記Mo電極部には、Al2O3及びガラスの成分の少なくとも一方の添加成分を含むとともに、該添加成分の含有量が、16.9〜32.5atom%である、
セラミック配線基板。 - 前記Mo電極部の前記添加成分の含有量が、21.4〜32.5atom%である、
請求項1に記載のセラミック配線基板。 - 前記Mo電極部の前記添加成分として、前記Al2O3を含む、
請求項1又は2に記載のセラミック配線基板。 - 前記Mo電極部の前記添加成分において、前記Al2O3の含有量が前記ガラスの含有量以上である、
請求項1〜3のいずれか1項に記載のセラミック配線基板。 - 前記請求項1〜4のいずれか1項に記載のセラミック配線基板の製造方法であって、
前記セラミック基板となるグリーンシートに、前記CuW電極部となる材料と前記Mo電極部となる材料とを配置し、同時焼成して、前記セラミック配線基板を製造する工程を有し、
前記Mo電極部となる材料中の無機材料として、Moを主成分とし、Al2O3及びガラスの成分の少なくとも一方の添加成分を含む無機材料を用いるとともに、前記無機材料における前記添加成分の含有量が、20〜40体積%である、
セラミック配線基板の製造方法。 - 前記Mo電極部となる前記無機材料における前記添加成分の含有量が、30〜40体積%である、
請求項5に記載のセラミック配線基板の製造方法。 - 前記Mo電極部となる前記無機材料の前記添加成分として、前記Al2O3を含む、
請求項5又は6に記載のセラミック配線基板の製造方法。 - 前記Mo電極部となる前記無機材料の前記添加成分として、前記Al2O3の含有量が前記ガラスの含有量以上である、
請求項5〜7のいずれか1項に記載のセラミック配線基板の製造方法。 - 前記Mo電極部となる前記無機材料の前記添加成分において、前記Al2O3の含有量が10体積%以上である、
請求項5〜8のいずれか1項に記載のセラミック配線基板の製造方法。 - 前記Mo電極部となる前記無機材料として、Mo粉末を用いるとともに、前記Mo粉末の粒径を示すD50が1.0μm未満である、
請求項5〜9のいずれか1項に記載のセラミック配線基板の製造方法。
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