JP6828640B2 - 発光装置の発光検査方法 - Google Patents
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Description
上面及び側面に発光面を備え、下面に電極を備えた発光装置を準備する工程と、検査機を用いて発光装置の発光検査をする工程と、を備える発光装置の発光検査方法であって、検査機は、上面に開口を備える貫通孔内に、プローブが挿通されてなる支持台と、支持台上に配置され、第1内側面と、第1内側面と対向する第2内側面とを備え、第1内側面と前記第2内側面との距離が、発光装置の幅より大きい収容部を備えた搬送テーブルと、搬送テーブルから離間し、発光装置収容部の上方に配置される透光部を備える押さえ部材と、を備え、搬送テーブルの収容部の第1内側面に発光装置の側面を当接させると共に、第2内側面から発光装置を離間させ、かつ、透光部の下面に発光装置の上面を当接させる工程と、発光装置の電極に、プローブを当接させて発光装置の発光検査をする工程と、を備える発光装置の発光検査方法。
1)発光装置を準備する工程
2)検査機を用いて発光装置の発光検査をする工程
以下、各工程について詳説する。
図1Aは、実施形態に係る検査方法に用いられる発光装置100の一例を示す上側斜方からの概略斜視図であり、図1Bは下側斜方からの概略斜視図である。図1Cは、図1Aの1C−1C線における概略断面図を示す。発光装置100は、外観形状は略直方体である。上面110及び側面120に発光面を備え、下面130に一対の電極142を備える。
検査機200を準備する。検査機200の大まかな構造としては、例えば、特許文献1(特開2016−128782号公報)等に開示されている光学測定装置などと同様の構造等が挙げられる。実施形態においては、発光検査を行う部分の関連する構造以外については説明を省略する。
110…発光装置の上面
120…発光装置の側面
121…発光装置の第1側面
122…発光装置の第2側面
123…発光装置の第3側面
124…発光装置の第4側面
130…発光装置の下面
140…基板
141…基材
142…電極
150…発光素子
160…封止部材
170…接合部材
200…検査機
210…支持台
211…支持台の上面
212…支持台の貫通孔
213…プローブ
220…搬送テーブル
221…収容部
2211…収容部の第1内側面
2212…収容部の第2内側面
HT1…第1内側面の高さ
HT2…第2内側面の高さ
2221…搬送テーブルの第1上面
2222…搬送テーブルの第2上面
2223…搬送テーブルの下面
230…押さえ部材
231…押さえ部材の上面
232…押さえ部材の下面
233…透光部材
234…支持部材
P1…収容位置
P2…測定位置
WL…発光装置の幅(第1側面と第2側面の距離)
WS…収容部の幅(第1内側面と第2内側面の距離)
WG…発光装置の第2側面と収容部の第2内側面の距離
HL…発光装置の高さ(上面と下面の距離)
HF…発光面の高さ
HG…搬送テーブルの上面と押さえ部材の下面の距離
Claims (4)
- 上面及び側面に発光面を備え、下面に電極を備えた発光装置を準備する工程と、
検査機を用いて前記発光装置の発光検査をする工程と、
を備える発光装置の発光検査方法であって、
前記検査機は、
上面に開口を備える貫通孔内に、プローブが挿通されてなる支持台と、
前記支持台上に配置され、第1内側面と、前記第1内側面と対向する第2内側面とを備え、前記第1内側面と前記第2内側面との距離が、前記発光装置の幅より大きい収容部を備えた搬送テーブルと、
前記搬送テーブルから離間し、前記発光装置収容部の上方に配置される透光部を備える押さえ部材と、
を備え、
前記搬送テーブルの前記収容部の前記第1内側面に前記発光装置の側面を当接させると共に、前記第2内側面から前記発光装置を離間させ、かつ、前記透光部の下面に前記発光装置の上面を当接させる工程と、
前記発光装置の電極に、前記プローブを当接させて前記発光装置の発光検査をする工程と、
を備える発光装置の発光検査方法。 - 前記第1内側面の高さは、前記第2内側面の高さより低い、請求項1記載の発光装置の発光検査方法。
- 前記第1内側面の高さは、前記発光装置の高さよりも低い、請求項1又は請求項2記載の発光装置の発光検査方法。
- 前記第1内側面の高さは、前記発光装置の高さの30%〜50%である、請求項3に記載の発光装置検査方法。
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