JP6811700B2 - 磁界調整カレントトランス - Google Patents

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Description

本願明細書に開示される技術は、たとえば、パワーデバイスの特性を評価する際の電流測定に関するものである。
パワーデバイスの電気特性評価のために電流を測定する際には、主にカレントトランス(すなわち、変流器)が用いられている(たとえば、特許文献1を参照)。
カレントトランスでは、一次側配線に流れた電流に対応する電流が二次側配線に流れるため、二次側配線の両端に接続されたシャント抵抗の電圧降下を測定することによって、一次側配線に流れた電流値を間接的に算出することができる。
ただし、カレントトランスを用いた電流値の測定では、電流の直流成分が一定時間以上流れ続けると、コア部が磁気飽和を起こしてしまい、電流値の測定ができなくなるという欠点がある。特に、被測定電流が大電流である場合には、その欠点が顕著となる。
そこで、コア部にバイアス磁界を生じさせることによって、上記の磁気飽和を抑制する方法が知られている。
特開平05−029167号公報
しかしながら、上記の方法によってバイアス磁界を生じさせる場合には、バイアス用の電源、制限抵抗、および、ケーブルなどをあらかじめ準備しておく必要があった。
本願明細書に開示される技術は、以上に記載されたような問題を解決するためになされたものであり、外部電源などを用いない簡易な構成で、バイアス磁界を生じさせることができる磁界調整カレントトランスを提供することを目的とするものである。
本願明細書に開示される技術の第1の態様は、一次側配線の周方向の少なくとも一部に沿って前記一次側配線を囲んで配置される、軟磁性体の材料からなるコア部と、前記コア部の少なくとも一部に巻き付けられる二次側配線と、前記二次側配線の両端に跨って接続されるシャント抵抗と、前記コア部に取り付け可能であり、かつ、前記コア部の内部に磁界を生じさせる少なくとも1つの磁石と、前記コア部に取り付け可能であり、かつ、前記コア部と同一の材料からなる切片とを備え、前記コア部は、前記軟磁性体の材料が設けられていない部分である欠損部と、前記欠損部でない部分である残部とを備え、前記切片および前記磁石は、前記欠損部の形状に対応する形状を有し、前記欠損部には、前記切片および前記磁石が交換可能に嵌め込まれる。
本願明細書に開示される技術の第1の態様によれば、外部電源などを用いずに、欠損部に交換可能に嵌め込まれた磁石によって、必要に応じてバイアス磁界を生じさせることができる。
本願明細書に開示される技術に関する目的と、特徴と、局面と、利点とは、以下に示される詳細な説明と添付図面とによって、さらに明白となる。
第1の実施の形態に関する、カレントトランスを実現するための構成を例示する概略図である。 一次側配線が配線孔に通された状態の、カレントトランスの構成を例示する概略図である。 磁石が間隙部に嵌め込まれた場合の、コア部の内部に形成されるバイアス磁界の様子を例示する概念図である。 一次側配線が配線孔に通された状態の、カレントトランスの構成を例示する概略図である。 第2の実施の形態に関する、カレントトランスを実現するための構成を例示する概略図である。 一次側配線が配線孔に通された状態の、カレントトランスの構成を例示する概略図である。 磁石がザグリ部に嵌め込まれた場合の、コア部の内部に形成されるバイアス磁界の様子を例示する概念図である。 図7に例示されたバイアス磁界を例示する拡大図である。 第3の実施の形態に関する、カレントトランスを実現するための構成を例示する概略図である。 第4の実施の形態に関する、カレントトランスを実現するための構成を例示する概略図である。 第5の実施の形態に関する、カレントトランスを実現するための構成を例示する概略図である。 ザグリ部に磁石が嵌め込まれた場合の、コア部の内部に形成されるバイアス磁界の様子を例示する概念図である。 カレントトランスの構成を例示する概略図である。 軟磁性体からなるカレントトランスのコア部の特性を例示する概念図である。 バイアス磁界を生じさせるカレントトランスの構造を例示する概略図である。 バイアス磁界を生じさせる他のカレントトランスの構造を例示する概略図である。
以下、添付される図面を参照しながら実施の形態について説明する。
なお、図面は概略的に示されるものであり、説明の便宜のため、適宜、構成の省略、または、構成の簡略化がなされるものである。また、異なる図面にそれぞれ示される構成などの大きさおよび位置の相互関係は、必ずしも正確に記載されるものではなく、適宜変更され得るものである。
また、以下に示される説明では、同様の構成要素には同じ符号を付して図示し、それらの名称と機能とについても同様のものとする。したがって、それらについての詳細な説明を、重複を避けるために省略する場合がある。
また、以下に記載される説明において、「上」、「下」、「左」、「右」、「側」、「底」、「表」または「裏」などの特定の位置と方向とを意味する用語が用いられる場合があっても、これらの用語は、実施の形態の内容を理解することを容易にするために便宜上用いられるものであり、実際に実施される際の方向とは関係しないものである。
<第1の実施の形態>
以下、本実施の形態に関するカレントトランスについて説明する。説明の便宜上、まず、カレントトランスの構成および磁気飽和について説明する。
図13は、カレントトランスの構成を例示する概略図である。図13に例示されるように、カレントトランスは、コア部12Fと、コア部12Fに少なくとも部分的に巻き付けられる二次側配線18と、二次側配線18の両端における出力端子20と、2つの出力端子20間に跨って接続されるシャント抵抗22とを備える。コア部12Fは、一次側配線24の周方向に沿ってドーナツ状に配置される。
一次側配線24に電流(すなわち、被測定電流)が流れ始めると、コア部12Fの内部に磁束変動が発生しようとするが、その磁束変動を打ち消すように、二次側配線18に電流が流れる。具体的には、一次側配線24に流れる電流に対して、二次側配線18に巻き数分の1の電流が流れる。ここで、巻き数とは、二次側配線18の、コア部12Fに対する巻き付け回数のことである。
そして、二次側配線18に流れた電流に応じてシャント抵抗22に電圧が発生する。発生した当該電圧を、たとえば、オシロスコープなどを用いて検知することによって、一次側配線24に流れた電流値を間接的に測定することができる。
上記のカレントトランスは、駆動電源が不要であり、さらに、非接触で簡単に一次側配線24に流れる電流を測定することができるものである。
ただし、カレントトランスを用いた電流値の測定では、電流の直流成分が一定時間以上流れ続けると、コア部が磁気飽和を起こしてしまい、電流値の測定ができなくなるという欠点がある。特に、被測定電流が大電流である場合には、その欠点が顕著となる。
一次側配線24に電流が流れ始めた直後では、二次側配線18には一次側配線24の1/N分の電流が流れ、一次側配線24における電流の起磁力と二次側配線18における電流の起磁力とが打ち消し合う。そのため、コア部12Fの内部には磁束は発生しない。ここで、Nは、二次側配線18のコア部12Fに対する巻き付け回数を表す。なお、一次側配線24における電流は、被測定電流とも称する。
しかしながら、時間が経過するにつれて、二次側配線18に流れる電流は、被測定電流に対して減衰していく。この単位時間あたりの減衰率がドループと称される。
そのため、被測定電流による起磁力と、二次側配線18における電流による起磁力とがアンバランスになる。その結果、コア部12Fの内部に磁束が発生する。
時間の経過に伴って二次側配線18における電流が減衰することによって、被測定電流による起磁力と、二次側配線18における電流による起磁力との差がさらに大きくなるため、コア部12Fの内部の磁束も、時間の経過とともに大きくなってゆく。
たとえば、一次側配線24に下記の式(1)で示される単位ステップ状の電流を印加する。
Figure 0006811700
ここで、U(t)は単位ステップ関数を表す。また、Iは、単位ステップ状の被測定電流の波高値である。
すると、二次側配線18には、上記の電流に対応して、以下の式(2)で示される電流が流れる。
Figure 0006811700
ここで、Lは、一次側配線24をオープンにした際の二次側配線18のインダクタンスを表す。また、Nは一次側配線24の巻き数を表し、Nは二次側配線18の巻き数を表す。また、Rはシャント抵抗22の抵抗値である。
ここで、カレントトランスの一次側配線24と二次側配線18とは密結合となっている。そのため、コア部12Fの内部に発生する磁束は、以下の式(3)で示すことができる。
Figure 0006811700
ここで、Rはコア部12Fの内部の磁気抵抗を表す。
そして、N=1とすると、上記の式(2)および上記の式(3)から、以下の式(4)を導くことができる。
Figure 0006811700
上記の式(4)に示されるように、被測定電流が流れ始めた直後(すなわち、t=0)には、コア部12Fの内部には磁束は発生していない。しかしながら、時間が経過するに伴って、コア部12Fの内部に磁束が発生する。
このとき、コア部12Fの内部に発生する磁束は、被測定電流が大きくなる程、また、被測定電流の直流成分の印加時間が長くなる程大きくなる。
ここで、コア部12Fの内部に発生する磁束があるしきい値を超えると、コア部12Fが磁気飽和を起こす。磁気飽和が起こると、コア部12Fの磁気抵抗が急激に大きくなる。そのため、磁束がコア部12Fの外側にも漏れ出す。なお、この磁気飽和が起こるポイントは、被測定電流の値と被測定電流が印加される時間とによって定量的に表されるものであり、IT積と称される。
カレントトランスを用いて一次側配線24に流れた電流値を測定する場合には、磁束がコア部12Fの内部から外に漏れないこと(すなわち、密結合であること)が前提となる。磁気飽和が起こると密結合ではなくなり、シャント抵抗22の出力電圧は0Vとなってしまう。そうすると、被測定電流を検知することができなくなる。
図14は、軟磁性体からなるカレントトランスのコア部の特性を例示する概念図である。図14においては、縦軸が磁束φ[Wb]または磁束密度B[Wb/m]を示し、横軸が磁界の強さH[A/m]を示す。
図14におけるB点とC点との間の範囲内では、磁界の強さの増加にしたがって、磁束または磁束密度も増大する。しかしながら、磁束φがあるしきい値を超えると、微分透磁率(すなわち、ΔB/ΔH)が急激に小さくなる。
図14においては、B点とC点との間の範囲を外れると、微分透磁率が急激に小さくなる。図14におけるB点とC点との間の範囲を外れると磁気飽和が起き、磁束がコア部の外側に漏れ出す。
すなわち、カレントトランスは、コア部の磁束φが図14におけるB点とC点との間の範囲(以下、リニア領域とも称する)内に収まるように使用する必要がある。
そこで、バイアス磁界を生じさせることによって磁気飽和を抑制する方法が知られている。
図15は、バイアス磁界を生じさせるカレントトランスの構造を例示する概略図である。図15に例示されるように、カレントトランスは、図13に例示された構成に加えて、コア部12Fには、二次側配線18とは別にバイアス磁界を生じさせるためのケーブル30が巻きつけられる。ケーブル30の両端には入力端子32が接続され、2つの入力端子32間に跨って、電源34と電源34の制限抵抗36とが直列に接続されている。
上記の構成では、ケーブル30に電流を流すことによって、あらかじめコア部12Fの内部に磁界を発生させておく。この際に発生させる磁界の向きは、被測定電流が流れたときに発生する磁界とは反対方向とする。
具体的には、被測定電流が流れたときにコア部12Fの内部に発生する磁界が図14においてA点よりも右側(すなわち、磁界の強さHが大きい側)だとすると、バイアス磁界が生じることによって、コア部12Fの内部の磁界の強さHがデフォルトの状態(すなわち、被測定電流が流れていない状態)でC点近傍に位置するようにしておく。
この状態で被測定電流を流せば、C点からB点までのリニア領域が効率的に使用することができるため、IT積を大きくすることができる。
図16は、バイアス磁界を生じさせる他のカレントトランスの構造を例示する概略図である。図16に例示される場合では、2つの出力端子20間に跨って、電源34と制限抵抗36とが直列に接続されている。そして、シャント抵抗22と、電源34および制限抵抗36とが並列に接続されている。すなわち、二次側配線18がバイアス磁界を生じさせるためのケーブルとしても利用されている。
<カレントトランスの構成について>
図1は、本実施の形態に関するカレントトランスを実現するための構成を例示する概略図である。図1に例示されるように、カレントトランスは、軟磁性体からなるコア部12と、コア部12に少なくとも部分的に巻き付けられる二次側配線18と、二次側配線18の両端における出力端子20と、2つの出力端子20間に跨って接続されるシャント抵抗22と、磁石14と、コア部12と同じ材質からなる切片16とを備える。
コア部12は、一次側配線の周方向に沿って一次側配線を少なくとも一部囲んで配置される。なお、当該配置関係は、コア部12の配線孔122に一次側配線が通されることによって実現する。
コア部12は、コア部12を一次側配線の周方向において分断する間隙部120と、間隙部120でない部分である残部126とを備える。すなわち、間隙部120となっている部分には、軟磁性体の残部126が配置されない。
磁石14および切片16は、ともに間隙部120と同じ寸法であり、間隙部120に対して着脱可能に嵌め込まれるものである。カレントトランスによって一次側配線に流れる電流を測定する際には、間隙部120に磁石14または切片16が嵌め込まれる。
図2は、一次側配線が配線孔に通された状態の、カレントトランスの構成を例示する概略図である。図2に例示されるように、コア部12は、一次側配線24の周方向に沿って一次側配線24を囲んで配置される。
また、図2においては、磁石14が間隙部120に嵌め込まれている。磁石14が間隙部120に嵌め込まれることによって、コア部12の内部にバイアス磁界が生じる。
図3は、磁石が間隙部に嵌め込まれた場合の、コア部の内部に形成されるバイアス磁界の様子を例示する概念図である。図3においては、バイアス磁界を示す磁束26が例示されている。図3における磁束26は、コア部12の内部において反時計回りの方向に形成され、コア部12を一周して反対側の極に入る。
図3に例示されたバイアス磁界が生じている状態で、図2の電流方向28に沿って一次側配線24に電流(すなわち、被測定電流)が流れると、被測定電流によってバイアス磁界を打ち消す方向の磁界が生じる。
上記の構成によれば、磁石14を用いてバイアス磁界を生じさせることによって、コア部12の内部の磁界の強さHがデフォルトの状態(すなわち、被測定電流が流れていない状態)で、たとえば、図14におけるC点近傍に位置させることができる。そして、この状態で被測定電流を流せば、たとえば、図14におけるC点からB点までのリニア領域が効率的に使用することができるため、IT積を大きくすることができる。
図4は、一次側配線が配線孔に通された状態の、カレントトランスの構成を例示する概略図である。また、図4においては、切片16が間隙部120に嵌め込まれている。切片16が間隙部120に嵌め込まれることによって、バイアス磁界が生じないコア部12を有するカレントトランスとなる。
たとえば、被測定電流が一方向にしか流れない場合には、図2に例示されるように間隙部120に磁石14を嵌め込んで被測定電流を測定し、一方で、被測定電流が双方向に流れる場合には、図4に例示されるように間隙部120から磁束が漏れないように間隙部120に切片16を嵌め込んで被測定電流を測定する。すなわち、図4においては電流方向28が示されているが、電流方向28の逆方向に被測定電流が流れる場合であっても、図4に例示された構成を適用することができる。
また、磁力の異なる複数の磁石14を用意し、かつ、それらのいずれかの磁石14を間隙部120に嵌め込むことによって、コア部12の内部に形成されるバイアス磁界の強さを調整することができる。
<第2の実施の形態>
本実施の形態に関するカレントトランスについて説明する。以下の説明においては、以上に記載された実施の形態で説明された構成要素と同様の構成要素については同じ符号を付して図示し、その詳細な説明については適宜省略するものとする。
<カレントトランスの構成について>
図5は、本実施の形態に関するカレントトランスを実現するための構成を例示する概略図である。図5に例示されるように、カレントトランスは、コア部12Aと、コア部12Aに少なくとも部分的に巻き付けられる二次側配線18と、二次側配線18の両端における出力端子20と、2つの出力端子20間に跨って接続されるシャント抵抗22と、磁石14Aと、コア部12Aと同じ材質からなる切片16Aとを備える。
コア部12Aは、ザグリ部124と、ザグリ部124でない部分である残部126Aとを備える。
磁石14Aおよび切片16Aは、ともにザグリ部124と同じ寸法であり、ザグリ部124に嵌め込まれるものである。カレントトランスによって一次側配線24に流れる電流を測定する際には、ザグリ部124に磁石14Aまたは切片16Aのどちらかが嵌め込まれる。
図6は、一次側配線が配線孔に通された状態の、カレントトランスの構成を例示する概略図である。図6においては、磁石14Aがザグリ部124に嵌め込まれている。磁石14Aがザグリ部124に嵌め込まれることによって、コア部12Aの内部にバイアス磁界が生じる。
上記の構成によれば、磁石14Aを用いてバイアス磁界を生じさせることによって、コア部12Aの内部の磁界の強さHがデフォルトの状態で、たとえば、図14におけるC点近傍に位置させることができる。そして、この状態で被測定電流を流せば、たとえば、図14におけるC点からB点までのリニア領域が効率的に使用することができるため、IT積を大きくすることができる。
また、磁力の異なる複数の磁石14Aを用意することによって、コア部12Aの内部に形成されるバイアス磁界の強さを調整することができる。
図7は、磁石がザグリ部に嵌め込まれた場合の、コア部の内部に形成されるバイアス磁界の様子を例示する概念図である。図7においては、バイアス磁界を示す磁束26Aおよび磁束26Bが例示されている。また、図8は、図7に例示されたバイアス磁界を例示する拡大図である。
図7および図8における磁束26Aは、磁石14Aによって形成される磁束の一部であって、コア部12Aの内部において反時計回りの方向に形成され、コア部12Aを一周して反対側の極に入る。一方で、図7および図8における磁束26Bは、磁石14Aによって形成される磁束の他の一部であって、コア部12Aを一周せずに反対側の極に入る。
図7および図8に例示されたようなバイアス磁界が生じるため、本実施の形態に関するカレントトランスのバイアス磁界は、第1の実施の形態におけるカレントトランスのバイアス磁界よりも弱い。したがって、この弱いバイアス磁界を用いて、磁界の強さを微調整することができる。
<第3の実施の形態>
本実施の形態に関するカレントトランスについて説明する。以下の説明においては、以上に記載された実施の形態で説明された構成要素と同様の構成要素については同じ符号を付して図示し、その詳細な説明については適宜省略するものとする。
<カレントトランスの構成について>
図9は、本実施の形態に関するカレントトランスを実現するための構成を例示する概略図である。図9に例示されるように、カレントトランスは、コア部12Cと、コア部12Cに少なくとも部分的に巻き付けられる二次側配線18と、二次側配線18の両端における出力端子20と、2つの出力端子20間に跨って接続されるシャント抵抗22と、磁石14Cと、コア部12Cと同じ材質からなる切片16Cとを備える。
コア部12Cは、コア部12Cを一次側配線の周方向において分断する間隙部120Cと、間隙部120Cでない部分である残部126Cとを備える。
磁石14Cおよび切片16Cは、ともに間隙部120Cと同じ寸法であり、間隙部120Cに嵌め込まれるものである。カレントトランスによって一次側配線に流れる電流を測定する際には、間隙部120Cに磁石14Cまたは切片16Cが嵌め込まれる。
ここで、残部126Cの、間隙部120Cに対向する(すなわち、隣接する)端部には、凹部121Cが形成される。また、間隙部120Cに嵌め込まれる磁石14Cは、残部126Cの端部の凹部121Cに嵌め込まれる凸部140Cを有する。同様に、間隙部120Cに嵌め込まれる切片16Cは、残部126Cの端部の凹部121Cに嵌め込まれる凸部160Cを有する。図9に例示される凸部140Cおよび凸部160Cは、先端の太さが太く形成されている。
磁石14Cには凸部140Cが、切片16Cには凸部160Cがそれぞれ形成されているため、凸部が形成されない場合に比べて、間隙部120Cに嵌め込まれた磁石14Cおよび切片16Cは、間隙部120Cから外れにくくなる。特に、凸部の先端の太さが太く形成されているため、間隙部120Cに嵌め込まれた磁石14Cおよび切片16Cは、間隙部120Cから外れにくくなる。
磁石14Cが間隙部120Cに嵌め込まれた状態で被測定電流を流す場合、磁石14Cが形成する磁束の向きと被測定電流によってコア部12Cが形成する磁束の向きとが互いに反対方向となるため、コア部12Cと磁石14Cとが反発して磁石14Cが間隙部120Cから外れてしまう可能性がある。本実施の形態に例示された構成を有することによって、磁石14Cをコア部12Cに確実に取り付けることができるため、磁石14Cを外れにくくすることが可能となる。
<第4の実施の形態>
本実施の形態に関するカレントトランスについて説明する。以下の説明においては、以上に記載された実施の形態で説明された構成要素と同様の構成要素については同じ符号を付して図示し、その詳細な説明については適宜省略するものとする。
<カレントトランスの構成について>
図10は、本実施の形態に関するカレントトランスを実現するための構成を例示する概略図である。図10に例示されるように、カレントトランスは、コア部12Dと、コア部12Dに少なくとも部分的に巻き付けられる二次側配線18と、二次側配線18の両端における出力端子20と、2つの出力端子20間に跨って接続されるシャント抵抗22と、磁石14Dと、コア部12Dと同じ材質からなる切片16Dとを備える。
コア部12Dは、ザグリ部124Dと、ザグリ部124Dでない部分である残部126Dとを備える。
磁石14Dおよび切片16Dは、ともにザグリ部124Dと同じ寸法であり、ザグリ部124Dに嵌め込まれるものである。カレントトランスによって一次側配線24に流れる電流を測定する際には、ザグリ部124Dに磁石14Dまたは切片16Dが嵌め込まれる。
ここで、ザグリ部124Dは、内周面にネジ溝が形成されている。一方で、磁石14Dおよび切片16Dの外周面にも、ネジ溝に対応するネジ山がそれぞれ形成されている。
磁石14Dをザグリ部124Dに嵌め込んだ状態で被測定電流を流す場合、磁石14Dが形成する磁束の向きと被測定電流によってコア部12Dが形成する磁束の向きとが互いに反対方向となるため、コア部12Dと磁石14Dとが反発して磁石14Dがザグリ部124Dから外れてしまう可能性がある。本実施の形態に例示された構成を有することによって、磁石14Dをザグリ部124Dに確実に嵌め込むことができるため、磁石14Dを外れにくくすることが可能となる。
<第5の実施の形態>
本実施の形態に関するカレントトランスについて説明する。以下の説明においては、以上に記載された実施の形態で説明された構成要素と同様の構成要素については同じ符号を付して図示し、その詳細な説明については適宜省略するものとする。
<カレントトランスの構成について>
図11は、本実施の形態に関するカレントトランスを実現するための構成を例示する概略図である。図11に例示されるように、カレントトランスは、複数のザグリ部124Eを有するコア部12Eと、コア部12Eに少なくとも部分的に巻き付けられる二次側配線18と、二次側配線18の両端における出力端子20と、2つの出力端子20間に跨って接続されるシャント抵抗22と、磁石14と、複数の磁石14Aと、コア部12Eと同じ材質からなる切片16と、コア部12Eと同じ材質からなる複数の切片16Aとを備える。
コア部12Eは、コア部12Eを一次側配線の周方向において分断する間隙部120Eと、間隙部120Eでない部分である残部126Eとを備える。
磁石14および切片16は、ともに間隙部120Eと同じ寸法であり、間隙部120Eに嵌め込まれるものである。カレントトランスによって一次側配線24に流れる電流を測定する際には、間隙部120Eに磁石14または切片16が嵌め込まれる。
一方で、複数の磁石14Aおよび複数の切片16Aは、ともに対応するザグリ部124Eと同じ寸法であり、それぞれのザグリ部124Eに嵌め込まれるものである。カレントトランスによって一次側配線24に流れる電流を測定する際には、それぞれのザグリ部124Eに対応する磁石14Aまたは対応する切片16Aが嵌め込まれる。なお、すべてのザグリ部124Eに磁石14Aまたは切片16Aのいずれか一方が嵌め込まれる必要はなく、たとえば、2つのザグリ部124Eに磁石14Aが嵌め込まれ、かつ、1つのザグリ部124Eに切片16Aが嵌め込まれてもよい。
間隙部120Eに嵌め込まれた磁石14によって生じるバイアス磁界では、図3に例示された場合と同様に、磁束がコア部12Eの内部において反時計回りの方向に形成され、コア部12Eを一周して反対側の極に入る。
一方で、ザグリ部124Eに嵌め込まれた磁石14Aによって生じるバイアス磁界では、図7および図8に例示された場合と同様に、磁束の一部はコア部12Eを一周して反対側の極に入るが、他の一部はコア部12Eを一周せずに反対側の極に入る。そのため、ザグリ部124Eに嵌め込まれた磁石14Aによって生じるバイアス磁界は、間隙部120Eに嵌め込まれた磁石14によって生じるバイアス磁界よりも弱い磁界となる。
上記のような生じるバイアス磁界の強さの違いを利用することによって、たとえば、間隙部120Eに嵌め込まれた磁石14を主磁石とし、ザグリ部124Eに嵌め込まれた磁石14Aを調整用磁石とすることで、高精度にバイアス磁界を調整することが可能となる。
なお、本実施の形態における磁石14を、図9における磁石14Cのような形状に変更することも可能である。また、本実施の形態における磁石14Aを、図10における磁石14Dのような形状に変更することも可能である。
また、本実施の形態における切片16を、図9における切片16Cのような形状に変更することも可能である。また、本実施の形態における切片16Aを、図10における切片16Dのような形状に変更することも可能である。
<第6の実施の形態>
本実施の形態に関するカレントトランスについて説明する。以下の説明においては、以上に記載された実施の形態で説明された構成要素と同様の構成要素については同じ符号を付して図示し、その詳細な説明については適宜省略するものとする。
<カレントトランスの構成について>
第2の実施の形態において、ザグリ部124に嵌めこまれた磁石14Aが、ザグリ部124内で自由に回転することができるようにする。同様に、第4の実施の形態において、ザグリ部124Dに嵌めこまれた磁石14Dが、ザグリ部124D内で自由に回転することができるようにする。同様に、第5の実施の形態において、ザグリ部124Eに嵌めこまれた磁石14Aが、ザグリ部124E内で自由に回転することができるようにする。この場合、磁石14Aの回転軸は特に限定されないが、たとえば、図6および図11において、紙面に垂直な回転軸のように、コア部の延びる方向に交差する方向の回転軸を想定することができる。
図12は、ザグリ部124に磁石14Aが嵌め込まれた場合の、コア部の内部に形成されるバイアス磁界の様子を例示する概念図である。図12において、磁石14AのN極とS極とを結ぶ線は、コア部12Aの直径方向に沿っている。
図12における磁束26Cは、コア部12Aを一周せずに反対側の極に入る。そのため、このような場合には、コア部12Aにバイアス磁界が生じない。
一方で、磁石14AのN極とS極とを結ぶ線が、コア部12Aの直径方向と直交する場合には、図7および図8に例示されたように、磁束26Aがコア部12Aを一周するため、生じるバイアス磁界が最大となる。
このように、磁石14Aの磁極の向きを調整することで、バイアス磁界の強さを調整することが可能となる。
<以上に記載された実施の形態によって生じる効果について>
次に、以上に記載された実施の形態によって生じる効果を例示する。なお、以下の説明においては、以上に記載された実施の形態に例示された具体的な構成に基づいて当該効果が記載されるが、同様の効果が生じる範囲で、本願明細書に例示される他の具体的な構成と置き換えられてもよい。
また、当該置き換えは、複数の実施の形態に跨ってなされてもよい。すなわち、異なる実施の形態において例示されたそれぞれの構成が組み合わされて、同様の効果が生じる場合であってもよい。
以上に記載された実施の形態によれば、カレントトランスは、コア部12と、二次側配線18と、シャント抵抗22と、少なくとも1つの磁石14と、切片16とを備える。コア部12は、一次側配線24の周方向の少なくとも一部に沿って一次側配線24を囲んで配置される。また、コア部12は、軟磁性体の材料からなる。二次側配線18は、コア部12の少なくとも一部に巻き付けられる。シャント抵抗22は、二次側配線18の両端に跨って接続される。磁石14は、コア部12に取り付け可能であり、かつ、コア部12の内部に磁界を生じさせる。切片16は、コア部12に取り付け可能であり、かつ、コア部12と同一の材料からなる。コア部12は、軟磁性体の材料が設けられていない部分である欠損部と、欠損部でない部分である残部126とを備える。ここで、欠損部は、たとえば、間隙部120に対応するものである。間隙部120には、切片16および磁石14が交換可能に嵌め込まれる。
このような構成によれば、外部電源などを用いずに、欠損部に交換可能に嵌め込まれた磁石14によって、必要に応じてバイアス磁界を生じさせることができる。また、欠損部に切片16が嵌め込まれることによって、バイアス磁界を生じさせない通常のカレントトランスとしても利用可能である。したがって、たとえば、被測定電流が一方向にしか流れない場合には、欠損部に磁石14が嵌め込まれた状態で測定を行い、一方で、被測定電流が双方向に流れる場合には、欠損部から磁束が漏れないように切片16を欠損部に嵌め込んだ状態で測定を行うことができる。また磁気特性の異なる複数の切片16を用意することによって、コア部12の磁気特性に応じて、欠損部に嵌め込む切片16を変更することができる。また、磁石14が欠損部から取り外し可能であるため、被測定電流の流れる向きに応じて、磁石14を嵌め込む向きを変更することも可能である。
なお、これらの構成以外の本願明細書に例示される他の構成については適宜省略することができる。すなわち、少なくともこれらの構成を備えていれば、以上に記載された効果を生じさせることができる。
しかしながら、本願明細書に例示される他の構成のうちの少なくとも1つを以上に記載された構成に適宜追加した場合、すなわち、以上に記載された構成としては言及されなかった本願明細書に例示される他の構成が適宜追加された場合であっても、同様の効果を生じさせることができる。
また、以上に記載された実施の形態によれば、カレントトランスは、磁力の異なる複数の磁石14を備える。そして、切片16および複数の磁石14のうちの少なくとも1つが、間隙部120に交換可能に嵌め込まれる。このような構成によれば、間隙部120に嵌め込まれる磁石14の磁力を異なるものにすることによって、コア部12の内部に生じるバイアス磁界の強さを調整することができる。
また、以上に記載された実施の形態によれば、欠損部は、コア部12を一次側配線24の周方向において分断する間隙部120である。そして、間隙部120には、切片16および磁石14が交換可能に嵌め込まれる。このような構成によれば、外部電源などを用いずに、間隙部120に交換可能に嵌め込まれた磁石14によって、必要に応じてバイアス磁界を生じさせることができる。
また、以上に記載された実施の形態によれば、残部126Cの、間隙部120Cに対向する端部には、凹部121Cが形成される。そして、切片16Cは、凹部121Cに対応する凸部160Cを有する。また、磁石14Cは、凹部121Cに対応する凸部140Cを有する。このような構成によれば、切片16Cまたは磁石14Cが間隙部120Cに嵌め込まれた状態で確実に固定される。そのため、磁石14Cが間隙部120Cに嵌め込まれた状態で被測定電流が流れた場合に生じる、磁石14Cが形成する磁束と被測定電流に起因してコア部12Cが形成する磁束との間の反発力によって、磁石14Cが間隙部120Cから外れてしまうことを抑制することができる。
また、以上に記載された実施の形態によれば、欠損部は、コア部12Aに形成された凹形状のザグリ部124である。そして、ザグリ部124には、切片16Aおよび磁石14Aが交換可能に嵌め込まれる。このような構成によれば、間隙部120に磁石14が嵌め込まれる場合に比べて、生じるバイアス磁界が弱くなる。そのため、たとえば、コア部12Eのように、間隙部120Eとザグリ部124Eとを双方有するコア部である場合に、間隙部120Eに嵌め込まれる磁石14によって主たるバイアス磁界を生じさせつつ、ザグリ部124Eに嵌め込まれる磁石14Aによって弱いバイアス磁界を生じさせることによって、生じるバイアス磁界の強さを高い精度で調整することができる。
また、以上に記載された実施の形態によれば、ザグリ部124Dの内周面には、ネジ溝が形成される。また、切片16Dおよび磁石14Dは、ネジ溝に対応するネジ山をそれぞれ有する。このような構成によれば、切片16Dまたは磁石14Dがザグリ部124Dに嵌め込まれた状態で確実に固定される。そのため、磁石14Dがザグリ部124Dに嵌め込まれた状態で被測定電流が流れた場合に生じる、磁石14Dが形成する磁束と被測定電流に起因してコア部12Dが形成する磁束との間の反発力によって、磁石14Dがザグリ部124Dから外れてしまうことを抑制することができる。
また、以上に記載された実施の形態によれば、磁石14Aは、ザグリ部124内またはザグリ部124E内において回転可能である。また、磁石14Dは、ザグリ部124D内において回転可能である。このような構成によれば、磁石の極の向き(すなわち、磁石のN極とS極とを結ぶ線)をコア部の直径方向に沿う方向または交差する方向に向けることによって、当該磁石によって生じるバイアス磁界の強さを調整することができる。
また、以上に記載された実施の形態によれば、磁石14Aは、ザグリ部124内またはザグリ部124E内において、コア部12Aの延びる方向と交差する方向を回転軸として回転可能である。また、磁石14Dは、ザグリ部124D内においてコア部12Dの延びる方向と交差する方向を回転軸として回転可能である。このような構成によれば、磁石の極の向きをコア部の直径方向に沿う方向または交差する方向に向けることによって、当該磁石によって生じるバイアス磁界の強さを調整することができる。
<以上に記載された実施の形態における変形例について>
以上に記載された実施の形態では、それぞれの構成要素の材質、材料、寸法、形状、相対的配置関係または実施の条件などについても記載する場合があるが、これらはすべての局面において例示であって、本願明細書に記載されたものに限られることはないものとする。
したがって、例示されていない無数の変形例、および、均等物が、本願明細書に開示される技術の範囲内において想定される。たとえば、少なくとも1つの構成要素を変形する場合、追加する場合または省略する場合、さらには、少なくとも1つの実施の形態における少なくとも1つの構成要素を抽出し、他の実施の形態の構成要素と組み合わせる場合が含まれるものとする。
また、矛盾が生じない限り、以上に記載された実施の形態において「1つ」備えられるものとして記載された構成要素は、「1つ以上」備えられていてもよいものとする。
さらに、以上に記載された実施の形態におけるそれぞれの構成要素は概念的な単位であって、本願明細書に開示される技術の範囲内には、1つの構成要素が複数の構造物から成る場合と、1つの構成要素がある構造物の一部に対応する場合と、さらには、複数の構成要素が1つの構造物に備えられる場合とを含むものとする。
また、以上に記載された実施の形態におけるそれぞれの構成要素には、同一の機能を発揮する限り、他の構造または形状を有する構造物が含まれるものとする。
また、本願明細書における説明は、本技術に関するすべての目的のために参照され、いずれも、従来技術であると認めるものではない。
また、以上に記載された実施の形態において、特に指定されずに材料名などが記載された場合は、矛盾が生じない限り、当該材料に他の添加物が含まれた、たとえば、合金などが含まれるものとする。
12,12A,12C,12D,12E,12F コア部、14,14A,14C,14D 磁石、16,16A,16C,16D 切片、18 二次側配線、20 出力端子、22 シャント抵抗、24 一次側配線、26,26A,26B,26C 磁束、28 電流方向、30 ケーブル、32 入力端子、34 電源、36 制限抵抗、120,120C,120E 間隙部、121C 凹部、122 配線孔、124,124D,124E ザグリ部、126,126A,126C,126D,126E 残部、140C,160C 凸部。

Claims (8)

  1. 一次側配線の周方向の少なくとも一部に沿って前記一次側配線を囲んで配置される、軟磁性体の材料からなるコア部と、
    前記コア部の少なくとも一部に巻き付けられる二次側配線と、
    前記二次側配線の両端に跨って接続されるシャント抵抗と、
    前記コア部に取り付け可能であり、かつ、前記コア部の内部に磁界を生じさせる少なくとも1つの磁石と、
    前記コア部に取り付け可能であり、かつ、前記コア部と同一の材料からなる切片とを備え、
    前記コア部は、
    前記軟磁性体の材料が設けられていない部分である欠損部と、
    前記欠損部でない部分である残部とを備え、
    前記切片および前記磁石は、前記欠損部の形状に対応する形状を有し、
    前記欠損部には、前記切片および前記磁石が交換可能に嵌め込まれる、
    磁界調整カレントトランス。
  2. 前記カレントトランスは、磁力の異なる複数の前記磁石を備え、
    前記切片および複数の前記磁石のうちの少なくとも1つが、前記欠損部に交換可能に嵌め込まれる、
    請求項1に記載の磁界調整カレントトランス。
  3. 前記欠損部は、前記コア部を前記一次側配線の周方向において分断する間隙部であり、
    前記間隙部には、前記切片および前記磁石が交換可能に嵌め込まれる、
    請求項1または請求項2に記載の磁界調整カレントトランス。
  4. 前記残部の、前記間隙部に対向する端部には、凹部が形成され、
    前記切片および前記磁石は、前記凹部に対応する凸部をそれぞれ有する、
    請求項3に記載の磁界調整カレントトランス。
  5. 前記欠損部は、前記コア部に形成された凹形状のザグリ部であり、
    前記ザグリ部には、前記切片および前記磁石が交換可能に嵌め込まれる、
    請求項1から請求項4のうちのいずれか1項に記載の磁界調整カレントトランス。
  6. 前記ザグリ部の内周面には、ネジ溝が形成され、
    前記切片および前記磁石は、前記ネジ溝に対応するネジ山をそれぞれ有する、
    請求項5に記載の磁界調整カレントトランス。
  7. 前記磁石は、前記ザグリ部内において回転可能である、
    請求項5または請求項6に記載の磁界調整カレントトランス。
  8. 前記磁石は、前記ザグリ部内において、前記コア部の延びる方向と交差する方向を回転軸として回転可能である、
    請求項5または請求項6に記載の磁界調整カレントトランス。
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