JP6808700B2 - 元素マップの生成方法および表面分析装置 - Google Patents
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Description
一次線を試料上で走査して、前記試料から放出された信号を分光器で分光し、分光された前記信号を、互いに異なるエネルギーの前記信号を検出可能な複数のチャンネルを有する検出器で検出して、元素マップを取得する表面分析装置における元素マップの生成方法であって、
元素濃度が一様な標準試料上で前記一次線を走査して前記チャンネルごとに補正用チャンネル像を生成し、複数の前記補正用チャンネル像を取得する工程と、
複数の前記補正用チャンネル像の各々において、前記補正用チャンネル像の画素ごとに、当該画素の輝度値に基づいて補正情報を生成する工程と、
分析対象の試料上で前記一次線を走査して、前記チャンネルごとに分析用チャンネル像を生成して、複数の前記分析用チャンネル像を取得する工程と、
複数の前記分析用チャンネル像の各々において、前記分析用チャンネル像を構成する画素の輝度値を、前記補正情報に基づいて補正する工程と、
補正された複数の前記分析用チャンネル像に基づいて、前記分析対象の試料の前記元素マップを生成する工程と、
を含む。
を構成する画素の輝度値を補正して元素マップを生成するため、検出器の感度の位置依存性に起因する輝度のムラが低減された元素マップを生成することができる。
一次線を試料上で走査する走査部と、
前記試料から放出された信号を分光する分光器と、
前記分光器で分光された前記信号を、互いに異なるエネルギーの前記信号を検出可能な複数のチャンネルで検出する検出器と、
元素マップを生成する画像処理部と、
を含み、
前記画像処理部は、
分析対象の試料上で前記一次線を走査して得られた複数の分析用チャンネル像を取得する処理と、
複数の前記分析用チャンネル像の各々において、前記分析用チャンネル像を構成する画素の輝度値を、前記検出器の感度の位置依存性を補正する補正情報に基づいて補正する処理と、
補正された複数の前記分析用チャンネル像に基づいて、前記分析対象の試料の前記元素マップを生成する処理と、
を行う。
1.1. 表面分析装置の構成
まず、本実施形態に係る表面分析装置について図面を参照しながら説明する。図1は、本実施形態に係る表面分析装置100の構成を示す図である。
電子のエネルギーを測定することによって、元素分析を行う手法である。
の電子を独立して検出可能な複数のチャンネルを構成している。
ための光学系20および分光器40の制御を行う。
次に、表面分析装置100の動作について説明する。以下では、表面分析装置100において元素マッピングを行う場合について説明する。
元素マップの生成方法」で説明する。
マップを減算することで、ピークマップからバックグラウンドを除去することができる。このようにして、元素マップ(オージェマップ)が得られる。
次に、本実施形態に係る元素マップの生成方法について、図面を参照しながら説明する。図3は、本実施形態に係る元素マップの生成方法の一例を示すフローチャートである。
まず、元素マップの輝度を補正するための補正情報2を生成する。ここで、検出器50の感度は、試料S上の測定点の位置に依存する。補正情報2は、この検出器50の感度の位置依存性を補正するための情報である。
標準試料としては、検出器50の感度に位置依存性が無い場合に、輝度が一様な元素マップが得られる試料を用いる。具体的には、標準試料は、元素濃度が一様な試料である。また、標準試料は、平坦であることが好ましい。このような標準試料としては、例えば、シリコンウエハなどの半導体ウエハが挙げられる。標準試料を元素マッピングすることで、検出器50の感度に位置依存性が無い場合に、輝度が一様な元素マップが得られる。標準試料の測定は、例えば、PB同時測定により行われる。
標準試料の測定を行うことによって、処理部70では、チャンネルトロン52ごとに補正用チャンネル像が生成される。これにより、処理部70(画像処理部74)は、7つの補正用チャンネル像を取得することができる。
補正情報2は、図5に示す元素マップの輝度のムラが無くなるような補正係数を求めることで得られる。補正係数は、複数の補正用チャンネル像の各々において、補正用チャンネル像の画素ごとに、当該画素の輝度値に基づいて生成される。補正係数は、例えば、補正用チャンネル像を構成する画素の輝度値に係数を乗算した値が一定となるような係数とする。補正係数C(x,y,ch)は、例えば、次式(1)で求めることができる。
106)。
分析対象の試料の測定を行う。分析対象の試料の測定は、PB同時測定により行われる。
分析対象の試料の測定を行うことによって、処理部70では、チャンネルトロン52ごとにチャンネル像が生成される。これにより、処理部70(画像処理部74)は、7つの分析用チャンネル像を取得することができる。
分析用チャンネル像を構成する画素の輝度値を、補正情報2(図6に示す補正係数)に基づいて補正する。
図8に示す補正後の分析用チャンネル像に基づいて、分析対象の試料の元素マップ(Auger map)を生成する。
とがわかる。
次に、画像処理部74の処理について説明する。
本発明は上述した実施形態に限定されず、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。
検出器50の感度は、例えば、作動距離(Working distance)、測定倍率、元素マップの解像度、試料ステージ30の傾斜角、分光器40の測定エネルギー、分光器40のパスエネルギー、チャンネルトロン52に印加される電圧、分光器40の機械軸などの影響を受ける。そのため、これらの測定条件を変化させて、順次、補正情報2を取得する。
検出器50の位置依存性に由来する感度勾配は、元素マップの解像度、すなわち画素の大きさに対して、非常に緩やかである場合が多い。そのため、第2変形例では、補正用チャンネル像に対して平滑化処理を行い、平滑化された補正用チャンネル像の画素ごとに、当該画素の輝度値に基づいて補正情報を生成する。
図10は、図9に示す補正係数を用いて補正された分析用チャンネル像、および補正された元素マップ(Auger map)である。図11は、図8に示す元素マップI2と図10に示す元素マップI4を比較するための図である。
上述した実施形態では、標準試料の測定および分析対象の試料の測定をPB同時測定で行う場合について説明したが、標準試料の測定および分析対象の試料の測定をPB別測定で行ってもよい。PB別測定で行った場合であっても、検出器50の感度の位置依存性を補正することができる。標準試料の測定および分析対象の試料の測定をPB別測定で行う場合も、上述した図3に示す元素マップの生成方法と同様の手法で元素マップを生成できる。
上述した実施形態では、表面分析装置100が、試料に照射する一次線として電子線を用い、試料から放出される二次的な信号がオージェ電子であるオージェ電子分光装置である場合について説明したが、本発明に係る表面分析装置は、これに限定されない。例えば、本発明に係る表面分析装置は、一次線としてX線を用いて、試料から放出される二次的な信号が光電子であるX線光電子分光装置であってもよい。この場合にも、上述した実施形態と同様の作用効果を奏することができる。
Claims (9)
- 一次線を試料上で走査して、前記試料から放出された信号を分光器で分光し、分光された前記信号を、互いに異なるエネルギーの前記信号を検出可能な複数のチャンネルを有する検出器で検出して、元素マップを取得する表面分析装置における元素マップの生成方法であって、
元素濃度が一様な標準試料上で前記一次線を走査して前記チャンネルごとに補正用チャンネル像を生成し、複数の前記補正用チャンネル像を取得する工程と、
複数の前記補正用チャンネル像の各々において、前記補正用チャンネル像の画素ごとに、当該画素の輝度値に基づいて補正情報を生成する工程と、
分析対象の試料上で前記一次線を走査して、前記チャンネルごとに分析用チャンネル像を生成して、複数の前記分析用チャンネル像を取得する工程と、
複数の前記分析用チャンネル像の各々において、前記分析用チャンネル像を構成する画素の輝度値を、前記補正情報に基づいて補正する工程と、
補正された複数の前記分析用チャンネル像に基づいて、前記分析対象の試料の前記元素マップを生成する工程と、
を含む、元素マップの生成方法。 - 請求項1において、
前記補正情報を生成する工程では、前記補正用チャンネル像を構成する画素の輝度値に係数を乗算した値が、一定となるような前記係数を前記補正情報とする、元素マップの生成方法。 - 請求項2において、
前記係数を、前記補正用チャンネル像を構成する全部の画素の輝度値の平均を、前記補正用チャンネル像を構成する全部の画素の各々の輝度値で除算することで算出する、元素マップの生成方法。 - 請求項1ないし3のいずれか1項において、
複数の前記補正用チャンネル像を取得する工程では、測定条件を変えて、複数の前記補正用チャンネル像を取得し、
前記補正情報を生成する工程では、前記測定条件ごとに、前記補正情報を生成し、
前記分析用チャンネル像を構成する画素の輝度値を補正する工程では、前記測定条件に応じた前記補正情報を用いて補正を行う、元素マップの生成方法。 - 請求項1ないし4のいずれか1項において、
複数の前記補正用チャンネル像を取得する工程の後に、複数の前記補正用チャンネル像の各々に平滑化処理を行う工程を含み、
前記補正情報を生成する工程では、平滑化された前記補正用チャンネル像の画素ごとに、当該画素の輝度値に基づいて前記補正情報を生成する、元素マップの生成方法。 - 請求項1ないし5のいずれか1項において、
前記一次線は、電子であり、
前記信号は、オージェ電子である、元素マップの生成方法。 - 請求項1ないし5のいずれか1項において、
前記一次線は、X線であり、
前記信号は、光電子である、元素マップの生成方法。 - 一次線を試料上で走査する走査部と、
前記試料から放出された信号を分光する分光器と、
前記分光器で分光された前記信号を、互いに異なるエネルギーの前記信号を検出可能な複数のチャンネルで検出する検出器と、
元素マップを生成する画像処理部と、
を含み、
前記画像処理部は、
分析対象の試料上で前記一次線を走査して得られた複数の分析用チャンネル像を取得する処理と、
複数の前記分析用チャンネル像の各々において、前記分析用チャンネル像を構成する画素の輝度値を、前記検出器の感度の位置依存性を補正する補正情報に基づいて補正する処理と、
補正された複数の前記分析用チャンネル像に基づいて、前記分析対象の試料の前記元素マップを生成する処理と、
を行う、表面分析装置。 - 請求項8において、
前記補正情報は、元素濃度が一様な標準試料上で前記一次線を走査して取得された複数の補正用チャンネル像の各々において、前記補正用チャンネル像の画素ごとに、当該画素の輝度値に基づいて生成されたものである、表面分析装置。
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