JP6792361B2 - 撮像装置及びその制御方法 - Google Patents

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Description

本発明は、撮像装置及びその制御方法に関するものである。
近年、CMOS撮像素子などを用いた撮像装置においては、様々なニーズに対応するべく高機能化、多機能化が進んでいる。CMOS撮像素子については、多画素化、高速撮像化が進み、より高速に画素信号を読み出せる方式へのニーズが高い。高速読み出しのための方策としては、近年、列毎にアナログ−デジタル変換回路(以下、列ADC)を配置し、デジタル出力を行う方式が普及している(特許文献1)。列ADCを導入することで、撮像素子の外への画素信号の伝送をデジタルで行うことが可能となり、デジタル信号伝送の技術向上に伴い、高速読み出しが可能となっている。
特許文献1では、列AD変換方式として、シングルスロープ方式が採用されている。シングルスロープ方式は、比較器とカウンタを有し、比較器の一方の入力にアナログの画素信号を入力した状態で、他方の入力に参照信号として、時刻とともに傾きをもって変動する電圧であるスロープ電圧を入力している。画素信号と参照信号の大小関係が反転する時刻をもって比較器の出力が反転する。カウンタは時刻とともにデジタルのカウントを進め、比較器の出力が反転すると、カウントの進行が止まる。カウントが止まったときのカウンタの出力がアナログの画素信号のデジタル値を示すこととなる。これにより、AD変換が行われる。シングルスロープ方式の場合、信号出力の高ビット分解能を実現するためにはカウンタのカウント時間が長くなる。例えば、12ビットから14ビットに向上させるには、カウンタの動作クロックが一定である場合、AD変換期間として4倍の時間を要する。
また、特許文献2では、信号の出力に応じて低ビット分解能ADCと高ビット分解能ADCを切り替えることにより、より高速読み出しが可能な技術が提案されている。画素信号の光ショットノイズの特性を考慮して、大振幅信号はSN比を確保できるだけの分解能があればよいため、ADCに含まれる選択回路が大振幅信号のAD変換時には傾きの大きなスロープ電圧を選択して低ビット分解能AD変換を行う。一方、小振幅信号のAD変換時には、傾きの小さなスロープ電圧を選択して高ビット分解能AD変換を行う。そうすることで、従来AD変換に時間がかかった大振幅信号のAD変換時間を低ビット分解能ながら短縮することができる。
特開2005−278135号公報 特開2013−9087号公報
ところで、長時間露光を行う場合や、高温度下で撮影を行う場合などには、撮像素子で暗電流が生じることが知られている。暗電流は露光時間に比例するため、長時間露光する撮影条件では、暗電流に起因する出力が大きくなり、その影響は無視できない。暗電流は画質に悪影響を与えるため、光信号成分から暗電流成分を減算する処理を行うが、その処理はデジタル出力になってから行うのが一般的である。
特許文献2のような大振幅信号時に低ビット分解能AD変換を行う方式の場合、暗電流が大きい撮影条件においては、画質が劣化してしまう。これは、実際の光信号が小振幅であっても暗電流によって振幅が大きくなるため、小振幅の光信号が低ビット分解能でAD変換されてしまうからである。
本発明は上述した課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、高画質化と読み出し速度の高速化を両立させたAD変換が可能な撮像装置を提供することである。
本発明に係わる撮像装置は、複数の画素と、前記複数の画素から出力された画素信号と、電位が時間的に変化するスロープ電圧とを比較することにより前記画素信号をAD変換するAD変換手段とを備え、複数のスロープ電圧から1つのスロープ電圧を選択し、選択されたスロープ電圧と前記画素信号とを比較することにより前記画素信号をAD変換する第1のモードと、所定のスロープ電圧と前記画素信号とを比較することにより前記画素信号をAD変換する第2のモードとを前記画素に生じる暗電流量に応じて切り替えることを特徴とする。
本発明によれば、高画質化と読み出し速度の高速化を両立させたAD変換が可能な撮像装置を提供することが可能となる。
本発明の第1の実施形態に係わる撮像装置の構成を示すブロック図。 第1の実施形態における撮像素子の構成を説明する図。 撮像素子の画素回路を説明する図。 撮像素子の列回路を説明する図。 第1のAD変換モードの動作例を示すタイミングチャート。 第2のAD変換モードの動作例を示すタイミングチャート。 第1のAD変換モードと第2のAD変換モードの切り替え条件の一例を示す図。 第2の実施形態における撮像素子の画素領域の構成例を示す図。 第3の実施形態におけるAD変換の動作例を示すタイミングチャート。
以下、本発明の実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態に係わる撮像装置100の構成を示すブロック図である。図1において、撮像装置100の撮像光学系は、撮像レンズ101及び絞り102を備える。撮像レンズ101及び絞り102を通過した光は、撮像レンズ101の焦点位置近傍に結像する。なお、撮像レンズ101は、1枚のレンズとして図示されているが、実際には複数のレンズ群から構成される。撮像素子103はCMOS撮像素子であり、撮像レンズ101により結像された被写体像を光量に応じて電気信号に変換し、更に、データ処理可能な画像信号に変換する機能を有する。信号処理回路104は、撮像素子103から出力される画像信号に対して、信号増幅、基準レベル調整等の各種の補正、データの並べ替えなどを行う。タイミング発生回路105は撮像素子103や信号処理回路104に駆動タイミング信号を出力する。
全体制御・演算回路106は、撮像素子103、信号処理回路104などを含む撮像装置100全体の統括的な駆動及び制御を行う。また、信号処理回路104から出力された画像信号に対して、所定の画像処理や欠陥補正処理等を施す。メモリ回路107および記録回路108は、全体制御・演算回路106から出力された画像信号等を記録保持する不揮発性メモリあるいはメモリカード等の記録媒体である。操作回路109は撮像装置100に備え付けられた操作部材からの入力を受け付け、全体制御・演算回路106にユーザーの命令を伝える。表示回路110は撮影後の画像、ライブビュー画像、各種設定画面等を表示する。
次に、撮像素子103の構成について、図2乃至図4を用いて説明する。図2は、本実施形態における撮像素子103の構成例を示すブロック図である。
図2において、撮像素子103には、複数の単位画素200が行列状に配置されている。図2においては、単位画素200を4行4列の計16個として図示しているが、実際は数千万の単位画素200が配列されて構成される。単位画素200にはR(赤)、G(緑)、B(青)のベイヤー配列のカラーフィルタが設けられる。なお、図2において単位画素200それぞれに記載されている文字及び数字は画素の色とアドレスを示している。例えばG01は、0行1列目のG(緑)画素を示す。各単位画素200は、列出力線201に画素信号を出力し、各列出力線201には電流源202が接続されている。
読み出し回路203は、複数の列回路400から構成され、各列回路400に列出力線201上の画素信号が入力され、アナログデジタル変換(AD変換)が行われる。スロープ電圧発生回路204は、列回路400で行うAD変換に使用する、電位が時間的に変化するスロープ電圧を生成する。なお、スロープ電圧発生回路204は、時間に対して一定の変化率で電位が変化するスロープ電圧を生成し、その傾きが異なるスロープ電圧を同時に複数パターン生成することができる。また、スロープ発生回路204では基準電圧VREFも生成する。
列回路400でAD変換された信号は水平走査回路205の駆動により、水平出力線209、及びデジタル出力処理回路210を介して撮像素子の外部に順次出力される。垂直走査回路206は、行毎に接続される信号線207を介して行の選択、駆動を行う。なお、図2において、信号線207は0行目に対してのみ記載しているが、実際には各行に配線されている。
図3は、本実施形態における撮像素子103の単位画素200の回路構成の一例を示す図である。単位画素200において、フォトダイオード(以下、PD)301(光電変換部)は、撮像レンズ101によって結像された被写体像を受けて電荷を発生し、発生した電荷を蓄積する。PD301で蓄積された電荷は、転送MOSトランジスタ(転送スイッチ)302を介してフローティングディフュージョン部(以下、FD)304に転送される。FD304に転送された電荷は、選択スイッチ306がオンされると、ソースフォロワアンプを形成する増幅MOSトランジスタ(以下、SF)305を介して電荷に対応した電圧として列出力線201に出力される。なお、選択スイッチ306は行単位で制御され、選択された行の画素信号が一括して各列の列出力線201に出力される。リセットMOSトランジスタ(リセットスイッチ)303は、FD304の電位、及び転送スイッチ302を介してPD301の電位をVDDにリセットする。転送スイッチ302、リセットスイッチ303、選択スイッチ306は、それぞれ垂直走査回路206に接続されている信号線207を介して制御信号PTX,PRES,PSELにより制御される。
次に、読み出し回路203を構成する列回路400について説明する。図4は本実施形態における撮像素子103の列回路400の一例を示す図である。読み出し回路203は複数の列回路400を備えて構成され、列出力線201から出力された信号が列回路400に入力される。アンプ401は、列出力線201に現れた信号を増幅し、容量403は信号電圧を保持するために用いられる。容量403への書き込みは、制御信号PSHによりオン/オフされるスイッチ402により制御される。比較器405の一方の入力には、図2のスロープ電圧発生回路204から供給された基準電圧VREFや参照電圧であるスロープ電圧が選択回路404の選択結果に応じて入力される。選択回路404の動作に関する詳細は後述する。そして、比較器405の他方の入力には、容量403に書き込まれたアンプ401の出力が入力される。比較器405はアンプ401の出力と基準電圧VREFや参照電圧であるスロープ電圧を比較し、その大小関係によってローレベル、ハイレベルの2値のいずれかを出力する。具体的には、選択回路404から入力された電圧がアンプ401の出力に対して小さい時にはローレベル、大きい時にはハイレベルを出力する。参照電圧であるスロープ電圧の遷移開始と同時にクロック(以下、CLK)が動き出し、カウンタ406は比較器405の出力がハイレベルの時にCLKに対応してカウントアップし、比較器405の出力がローレベルに反転する(大小関係が逆転する)と同時にカウントを停止する。
判定値メモリ407には、基準電圧VREFとアンプ401からの出力とが比較器405で判定された結果が保持される。そして、Nメモリ408には、例えばFD304のリセットレベルの信号(以下、「N信号」)をAD変換したデジタル信号が保持される。また、Sメモリ409には、PD301の信号をFD304のN信号に重畳した信号(以下「S信号」)をAD変換したデジタル信号が保持される。判定値メモリ407、Nメモリ408、Sメモリ409に保持される信号に関する詳細は後述する。
判定値メモリ407、Nメモリ408、Sメモリ409に保持された信号は水平走査回路205からの制御信号によって、水平出力線410,411,412を介してデジタル出力処理回路210へ出力される。そして、デジタル出力処理回路210においてS信号からN信号が差し引かれ、ノイズの要因となるFD304のリセットノイズ成分が除去された信号が出力される。なお、デジタル出力処理回路210の処理については後述する。
続いて、撮像素子103の1行分の単位画素200からの電荷の読み出し動作について説明する。本実施形態における撮像素子103は、2つのAD変換モードを有する。1つは、信号の出力レベルに応じてスロープ電圧を複数種類から選択してAD変換を行う、複数スロープAD変換モード(第1のAD変換モード)である。もう1つは、信号の出力レベルによらず単一のスロープ電圧を使用してAD変換を行う、単一スロープAD変換モード(第2のAD変換モード)である。図5及び図6は、各AD変換モードにおける電荷読み出し動作の例を示すタイミングチャートである。各駆動パルスのタイミング、スロープ電圧Vslope(基準電圧VREFを含む)、CLK、水平走査信号を模式的に示している。また、各タイミングにおける、アンプ401から出力された電位Vlも併せて示している。COMPは比較器405の出力レベルを示す。
図5は、複数スロープAD変換モード(第1のAD変換モード)における電荷読み出し動作の例を示すタイミングチャートである。PD301からの信号の読み出しに先立って、リセットスイッチ303の制御信号PRESがHiとなる(t500)。これによって、SF305のゲートがリセット電源電圧にリセットされる。時刻t501で制御信号PSELをHiとし、SF305を動作状態とする。そして、時刻t502で制御信号PRESをLoとすることでFD304のリセットを解除する。このときのFDの電位を列出力線201にリセット信号レベル(N信号)として読み出し、読み出し回路203を構成する列回路400に入力する。時刻t503,t504で制御信号PSHをHi、Loとしてスイッチ402をオン、オフすることにより、列出力線201に読み出されたN信号はアンプ401で所望のゲインで増幅された後容量403に保持される。容量403に保持されたN信号は比較器405の一方に入力される。
時刻t504でスイッチ402がオフされた後、時刻t505から時刻t507まで、スロープ電圧発生回路204により、スロープ電圧VslopeLを時刻と共に初期値から減少させていく。なお、スロープ電圧発生回路204は傾きが異なる複数のスロープ電圧、すなわち傾きが大きいスロープ電圧VslopeHと傾きが小さいスロープ電圧VslopeLを同時に生成して列回路400に入力することができる。しかし、ここではスロープ電圧VslopeLのみを生成して、列回路400の選択回路404を介して比較器405に入力する。スロープ電圧VslopeLを参照電圧として使用することで、スロープ電圧VslopeHを使用した場合よりも信号振幅に対して分解能の高いAD変換を行うことができる。これらの駆動はTG208からスロープ電圧発生回路204、及び列回路400の選択回路404に制御信号を送ることにより実現される。
時刻t505のスロープ電圧VslopeLの遷移開始と共に、CLKをカウンタ406に供給する。CLKの数に応じてカウンタ406の値は増加していく。そして、比較器405に入力されたスロープ電圧VslopeLがN信号と同じレベルになると(時刻t506)、比較器405の出力COMPはローレベルとなり、同時にカウンタ406の動作も停止する。この、カウンタ406の動作が停止した時のカウント値が、N信号がAD変換された値となり、Nメモリ408に保持される。
次に、デジタル化されたN信号をNメモリ408に保持した後の時刻t507,t508で制御信号PTXを順次Hi,LoとしてPD301に蓄積された光電荷をFD304に転送する。すると、電荷量に応じたFD304の電位変動が列出力線201にS信号レベル(光成分+リセットノイズ成分(N信号))として読み出され、列回路400に入力される。S信号はアンプ401で所望のゲインで増幅された後、時刻t509,t510で制御信号PSHを順次Hi,Loとしてスイッチ402をオン、オフすることにより容量403に保持される。容量403に保持された電位は比較器405の一方に入力される。時刻t510でスイッチ402がオフされた後、時刻t511から時刻t512の期間に、比較器405のもう一方に基準電圧VREFが入力される。基準電圧VREFはスロープ電圧発生回路204で生成され、列回路400の選択回路414を介して比較器405に入力される。
続いて、時刻t513から時刻t515まで、スロープ電圧発生回路204は、スロープ電圧VslopeL及びスロープ電圧VslopeHを時刻と共に初期値から減少させていく。各列回路400がスロープ電圧VslopeH,VslopeLのどちらを比較器405に入力するかは、時刻t511から時刻t512の間の比較器405の出力COMPの値に応じて決定する。
図5の場合、出力Vlと基準電圧VREF(基準値)のレベルを比較すると、基準電圧VREF>出力Vlであるので、出力COMPはハイレベル(=1)となる。出力COMPのレベルは選択回路404にも入力されており、出力COMP=1の場合は、相対的に傾きの大きいスロープ電圧VslopeHを選択して比較器405に入力する。一方、出力Vlが基準電圧VREF以下(基準値以下)、つまり出力COMP=0の場合には、相対的に傾きの小さいスロープ電圧VslopeLを選択する。ここで、時刻t511から時刻t512までの出力COMPの値を判定値Jとし、選択回路404に入力するとともに、判定値メモリ407にも保持する。図4では図示していないが、スイッチを設けて、時刻t511から時刻t512の間のみ、比較器405の出力を選択回路404及び判定値メモリ407に入力するよう制御してもよい。
スロープ電圧VslopeHの遷移開始と共に、CLKをカウンタ406に供給する。CLKの数に応じてカウンタ406の値は増加していく。そして、比較器405に入力した参照電圧VslopeHがS信号と同じレベルになると、比較器405の出力COMPはローレベルとなり(時刻t514)、同時にカウンタ406の動作も停止する。この、カウンタ406の動作が停止した時のカウント値が、S信号がAD変換された値となり、S信号用のメモリであるSメモリ409に保持される。
続いて、判定値メモリ407、Nメモリ408、Sメモリ409に保持された信号を水平走査回路205により読み出す。時刻t515から、列回路400を順次動作させることにより、判定値メモリ407、Nメモリ408、Sメモリ409に保持された信号は、水平出力線410,411,412を介してデジタル出力処理回路210に送られる。そして、演算処理が行われた後、撮像素子103の外部に出力される。
デジタル出力処理回路210では、S信号からN信号を差し引いた差動信号レベル(光成分)が算出される。なお、S信号−N信号の演算の前に、S信号のAD変換時に選択したスロープ電圧によって、AD変換結果の補正処理を行う。
ここで、AD変換結果の補正処理について説明する。例えば、スロープ電圧VslopeHの傾きがスロープ電圧VslopeLの傾きの4倍である場合、1CLKすなわち出力1カウントに対応する信号振幅はVslopeHの場合の方が4倍大きくなる。そこで、信号の電位レベルに対するデジタル出力を合わせるために、VslopeHでAD変換されたカウント値に対してデジタルゲインで4倍する処理を行う。デジタル出力処理回路210に入力されたS信号に対して、補正処理が必要かは、判定値メモリ407に保持された判定値Jを見て判断することができる。すなわち、判定値J=1であれば、スロープ電圧VslopeHが選択されたため、S信号を4倍する処理を行い、J=0であれば、スロープ電圧VslopeLが選択されたため、4倍する処理は行わない。
なお、判定値Jを求めるための基準電圧VREFのレベルは任意に設定可能であるが、例えば、スロープ電圧VslopeHの傾きがスロープ電圧VslopeLの傾きの4倍である場合、AD変換したい出力信号振幅の1/4に設定するとよい。例えば、AD変換したい出力信号の振幅が1[V]であった場合、基準電圧VREFを振幅0.25[V]相当に設定する。AD変換時のカウンタを12ビット、4095までカウントする構成として、スロープ電圧VslopeLは4095カウントで振幅0.25[V]となるよう制御する。そして、スロープ電圧VslopeHは4095カウントで振幅1[V]となるよう制御する。このような構成でAD変換を行った場合、補正処理後の結果は、0.25[V]以下の小振幅、すなわち低輝度の出力は0から4095まで1カウント刻みで出力結果が得られる。また、0.25[V]より大きく1[V]以下の大振幅、すなわち高輝度の出力は4096から16380まで4カウント刻みで出力結果が得られる。このように、高輝度出力の分解能は低輝度より粗くなるものの、14ビット相当のカウントまで時間をかけることなく、高速にAD変換を行うことができる。
図6は、単一スロープAD変換モード(第2のAD変換モード)における電荷読み出し動作の一例を示すタイミングチャートである。図6を参照しながら、単一スロープAD変換モードにおける電荷読み出し動作について説明する。なお、時刻t600から時刻t610までの動作は、図5の時刻t500から時刻t510までの駆動と同様であるので、説明を省略する。
時刻t610でスイッチ402がオフされた後、時刻t611から時刻t613まで、スロープ電圧発生回路204により、スロープ電圧VslopeL(またはVslopeH)を時刻と共に初期値から減少させていく。この単一スロープAD変換モードは、単一スロープの参照電圧でAD変換を行うので、複数スロープAD変換モードのように、基準電圧VREFを入力して判定駆動を行う必要がない。また、スロープ電圧発生回路204は、1種類のスロープ電圧のみを生成して列回路400に入力する。ここでは、スロープ電圧VslopeLを選択回路404を介して比較器405の一方に入力する。
スロープ電圧VslopeLの遷移開始と共に、CLKをカウンタ406に供給する。CLKの数に応じてカウンタ406の値は増加していく。そして、比較器405に入力した参照電圧VslopeLがS信号と同じレベルになると、比較器405の出力COMPはローレベルとなり(時刻t612)、同時にカウンタ406の動作も停止する。この、カウンタ406の動作が停止した時のカウント値が、S信号がAD変換された値となり、S信号用のメモリであるSメモリ409に保持される。
続いて、Nメモリ408、Sメモリ409に保持された信号を水平走査回路205により読み出す。時刻t613から、列回路400を順次動作させることにより、Nメモリ408、Sメモリ409に保持された信号は水平出力線411,412を介してデジタル出力処理回路210に送られる。そして、S信号からN信号を差し引いて差動信号レベル(光成分)を算出する処理などが行われた後、撮像素子103の外部に出力される。
以上説明したように、本実施形態の撮像装置は、複数スロープAD変換モード(第1のAD変換モード)と単一スロープAD変換モード(第2のAD変換モード)の2つのモードを有する。
ところで、長時間露光を行う場合や、高温度下で撮影を行う場合などには、撮影温度によって撮像素子で暗電流が生じることが知られている。暗電流は露光時間に比例するため、長時間露光する撮影条件では、その影響は無視できない。また、暗電流は温度依存性が高く、温度が8〜10°C上昇すると、その出力は約2倍になる。暗電流が多い条件において、第1のAD変換モードでAD変換を行ってしまうと、実際の光信号が小振幅であっても暗電流のために振幅が大きくなり、低ビット分解能AD変換が行われてしまう。その結果、画質が劣化してしまう。
そこで、本実施形態では、設定される撮影条件に応じて、撮像素子を駆動するための読み出しモード(AD変換モード)を変更する。例えば、操作回路109から設定された撮影条件が露光時間1分以上の長秒露光であり、かつ撮影時温度が高温であった場合には、第2のAD変換モードで単一スロープを用いて高分解能なAD変換を行う。第2のAD変換モードでAD変換を行うと、読み出し時間がかかることになるが、長秒露光においては高フレームレートで読み出すニーズは低いため、好適である。
第1のAD変換モードと第2のAD変換モードとを切り替える条件は、例えば次のように決定する。すなわち、高フレームレートが必要ない長秒露光では第2のAD変換モードを選択し、短秒露光では第1のAD変換モードに切り替える。また、暗電流量に応じて切り替えてもよい。撮像素子で発生する暗電流量は予め想定できるため、暗電流量とAD変換モードの切替条件のテーブルを撮像装置に記憶させておき、撮影条件に応じてAD変換モードを切り替えてもよい。
図7は、第1のAD変換モード(モード1)と第2のAD変換モード(モード2)との切り替え条件のテーブルの一例を示した図である。図7は、ISO3200における切り替え条件を示しており、例えば、露光時間が30秒で撮影時温度が50°Cであったなら、モード2で信号読み出しを行うよう決定する。この図7に示した様なテーブルを各撮影感度について用意しておけば、暗電流量に応じて適切な信号読み出し(AD変換)を行うことができる。そして、デジタル出力処理回路210で、読み出された画素信号に対して暗電流成分を減算する処理を行えば、撮像信号を得ることができる。このようにして得られた撮像信号は低輝度出力が高分解能でデジタル変換されており、高画質な画像を得ることができる。
ところで、図6の説明では、参照電圧にスロープ電圧VslopeLを選択したが、暗電流量が非常に多い場合には、スロープ電圧VslopeHなどのように傾きが大きな参照電圧を選択してもよい。暗電流量が多い場合は、更に出力電位の振幅の大きい値までデジタル変換しても良く、その場合は読み出し時間の制約に応じてスロープ電圧の傾きを大きくすることでAD変換に係る時間を短縮してもよい。暗電流量が多い場合は、それに伴ってノイズも大きくなるため、AD分解能を低くしても画質への影響は少なくなる。そのため、このようなスロープ電圧の選択が可能となる。
このように、撮影時の暗電流量に応じて適切にAD変換方法を切り替えることによって、短秒露光など暗電流量が少ない場合に高速読み出しが可能でありながら、暗電流量が多い撮影条件においても高画質な画像を得ることが可能となる。
(第2の実施形態)
以下、本発明の第2の実施形態について説明する。本実施形態では、複数スロープAD変換モード(第1のAD変換モード)と単一スロープAD変換モード(第2のAD変換モード)の選択を撮影時の画質を評価して行う。撮像装置の構成及び撮像素子の駆動方法は第1の実施形態と同様であるため、説明を省略する。
図8は、撮像素子の画素領域の構成例を示す図である。撮像素子の画素領域は、開口画素を有する開口画素領域803と、遮光画素領域である第1のオプティカルブラック領域801及び第2のオプティカルブラック領域802を有する。第1のオプティカルブラック領域(以下、NULL)801は、PDを有さない画素からなり、第2のオプティカルブラック領域(以下、OB)802はPDを有する画素からなる。OB802の画素出力は暗電流成分を含んでおり、撮影時の暗電流量を算出するために用いることができる。PDを持たないNULL801の出力は暗電流成分を有さず、黒基準レベルとなる。そして、OB802の出力からNULL801の出力を差し引くことにより、撮影時の暗電流量を取得することができる。なお、図8に示す画素領域の構成は一例であり、NULL801とOB802が領域を分けて同じ行に構成されていてもよい。
図8のような画素領域を持つ撮像素子103を用いた場合の、暗電流量の算出方法(検出方法)について説明する。撮影終了後の画素出力の読み出しの際に、OB802の数行を使用して暗電流量を測定する。例えば、OB802の上部数行を第2のAD変換モードでAD変換する。そして、その出力の平均値などをデジタル出力処理回路210で算出し、その結果をTG208に返すことで開口画素領域803を含むそれ以下の行の読み出しに使用するAD変換方法を決定する。算出された暗電流量が所定の閾値より多ければ第2のAD変換モード、所定の閾値以下ならば第1のAD変換モードでAD変換するよう制御する。撮像素子で発生する暗電流量には個体差があるため、撮影条件による切り替え制御では暗電流量を正確に反映できない場合もあるが、撮影時の暗電流量を算出することにより、適切にAD変換を切り替えることができる。
なお、暗電流量の算出駆動の際には、暗電流量が閾値以上か否かがわかればよいので、基準電圧VREFとして閾値電圧を入力し、第1のAD変換モードの時刻t512までの駆動により判定値Jを求めて、その結果に応じて第1のAD変換モードと第2のAD変換モードの切り替えを行ってもよい。
(第3の実施形態)
以下、本発明の第3の実施形態について説明する。本実施形態では、単一スロープAD変換モード(第2のAD変換モード)においても、高速に読み出しを行う方法について説明する。
第2の実施形態において、OB802を使用して暗電流量を算出する方法について説明した。本実施形態では、第2のAD変換モードである単一スロープAD変換モードでAD変換を行う場合に、暗電流量分だけ開始電圧をずらしてスロープ電圧を入力する。なお、開始電圧は算出された暗電流量に対応する電圧に設定してもよいが、撮像信号にはノイズが含まれるため、その分を考慮して開始電圧を暗電流量より少し高く設定してもよい。このように開始電圧をずらすことによって、AD変換に係る時間を短縮することができる。また、その結果カウント値のビット幅も暗電流を考慮した分だけ増やすことなく、構成することができる。
図9は、単一スロープAD変換モードにおいて、スロープ電圧の開始電圧をずらした場合の電荷読み出し動作の一例を示すタイミングチャートである。図9を参照しながら、本実施形態の電荷読み出し動作について説明する。なお、時刻t900から時刻t910までの動作は、図6の時刻t600から時刻t610までの駆動と同様であるので、説明を省略する。
時刻t910でスイッチ402がオフされた後、時刻t911から時刻t913まで、スロープ電圧発生回路204により、スロープ電圧VslopeL(またはVslopeH)を時間と共に開始電圧Vαから減少させていく。なお、開始電圧Vαは暗電流量算出駆動により算出された暗電流量を考慮して決定された電圧値である。このモードでは、単一スロープでAD変換を行うので、スロープ電圧発生回路204は、1種類のスロープ電圧のみを生成して列回路400に入力する。ここでは、スロープ電圧VslopeLを入力するものとする。
スロープ電圧VslopeLの遷移開始と共に、CLKをカウンタ406に供給する。CLKの数に応じてカウンタ406の値は増加していく。そして、比較器405に入力したスロープ電圧VslopeLがS信号と同じレベルになると、比較器405の出力COMPはローレベルとなり(時刻t912)、同時にカウンタ406の動作も停止する。この、カウンタ406の動作が停止した時のカウント値が、S信号がAD変換された値となり、S信号用のメモリであるSメモリ409に保持される。比較として、スロープ電圧が減少を開始する電圧を開始電圧Vαだけずらさなかった場合のスロープ電圧を点線で示している。電圧減少の開始点を開始電圧Vαだけずらした場合の方が、S信号出力Vlとスロープ電圧とが同レベルになる時刻が早いことがわかる。
続いて、Nメモリ408、Sメモリ409に保持された信号を水平走査回路205により読み出す。時刻t913から、列回路400を順次動作させることでNメモリ408、Sメモリ409に保持された信号は水平出力線411,412を介してデジタル出力処理回路210に送られる。そして、S信号からN信号を差し引いて差動信号レベル(光成分)を算出する処理が行われた後、撮像素子103の外部に出力される。なお、電圧減少の開始点を開始電圧Vαだけずらした分のカウント値はデジタル出力処理回路210などで加算して出力してもよい。
ここで、開始電圧Vαの算出方法の一例について説明する。図8のような画素領域をもつ撮像素子103において、OB802の数行の出力平均値OBaveをデジタル出力処理回路210で算出する。この算出結果をTG208に入力し、所定の閾値より大きかった場合に第2のAD変換モードでAD変換を行う。そして、参照電圧の開始電圧Vαを決定して、スロープ電圧発生回路204に信号を送る。開始電圧VαはOB802の出力から算出された値に対応した電圧値でもよいが、撮像信号のノイズ量を考慮して少しずらして開始した方が望ましい。そのずらし量は、例えば、OB802の出力のバラつき量OBσも算出して、例えばOBave−3×OBσとして決定してもよい。また、デジタル出力であるOBaveの値に応じて開始電圧Vαのテーブルを用意しておき、そこから決定してもよい。
また、開始電圧Vαに相当するカウント値については、予め電圧値とカウント値に対応するテーブルを用意しておき、開始電圧の値に応じてカウント値をAD変換された画素の信号に対して加算してもよい。また、信号読み出しに先立って、列出力線201に電圧Vαと同じ電圧を入力して、第2のAD変換モードでAD変換を行って、開始電圧Vαに相当するカウント値を求めるようにしてもよい。
このように、撮影時の暗電流量に応じてスロープ電圧の開始電圧を変更することによって、暗電流量が多い撮影条件においても、読み出し時間の増加を抑制しつつ、高画質な画像を得ることが可能となる。
(その他の実施形態)
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
100:撮像装置、101:撮像レンズ、102:絞り、103:撮像素子、104:信号処理回路、105:タイミング発生回路、106:全体制御・演算回路、107:メモリ回路、108:記録回路、109:操作回路、110:表示回路

Claims (13)

  1. 複数の画素と、
    前記複数の画素から出力された画素信号と、電位が時間的に変化するスロープ電圧とを比較することにより前記画素信号をAD変換するAD変換手段とを備え、
    複数のスロープ電圧から1つのスロープ電圧を選択し、選択されたスロープ電圧と前記画素信号とを比較することにより前記画素信号をAD変換する第1のモードと、所定のスロープ電圧と前記画素信号とを比較することにより前記画素信号をAD変換する第2のモードとを前記画素に生じる暗電流量に応じて切り替えることを特徴とする撮像装置。
  2. 前記暗電流量は、撮影条件に応じて変化し、前記撮影条件は、撮影感度、撮影温度、蓄積時間のいずれかを含むことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  3. 前記複数の画素は、複数の遮光された画素を含み、該遮光された画素の出力を用いて暗電流量を検出することを特徴とする請求項に記載の撮像装置。
  4. 前記複数の遮光された画素は、光電変換部を有する画素と光電変換部を有さない画素とを含み、前記光電変換部を有する画素の出力から前記光電変換部を有さない画素の出力を差し引くことにより暗電流量を検出することを特徴とする請求項に記載の撮像装置。
  5. 前記AD変換手段は、前記暗電流量と所定の閾値とを比較し、比較の結果に基づいて前記第1のモードと前記第2のモードとを切り替えることを特徴とする請求項乃至のいずれか1項に記載の撮像装置。
  6. 前記AD変換手段は、前記暗電流量が前記所定の閾値よりも大きい場合に、前記第2のモードに切り替え、前記暗電流量が前記所定の閾値以下の場合に、前記第1のモードに切り替えることを特徴とする請求項に記載の撮像装置。
  7. 前記AD変換手段は、前記第2のモードにおいて、前記暗電流量に応じて前記スロープ電圧の時間的な変化の傾きを変えることを特徴とする請求項乃至のいずれか1項に記載の撮像装置。
  8. 前記AD変換手段は、前記第2のモードにおいて、前記暗電流量に応じて前記スロープ電圧が変化を開始する開始電圧を変更することを特徴とする請求項乃至のいずれか1項に記載の撮像装置。
  9. 前記撮影条件と、該撮影条件において前記第1のモードと前記第2のモードのいずれを選択するかの関係を記憶する記憶手段をさらに備え、前記AD変換手段は、前記関係に基づいて前記第1のモードと前記第2のモードとを切り替えることを特徴とする請求項に記載の撮像装置。
  10. 前記AD変換手段は、前記第1のモードにおいて、前記画素信号のレベルが所定の基準値より大きい場合に、前記複数のスロープ電圧のうちの電位の時間的な変化の傾きが相対的に大きいスロープ電圧を用いて、前記画素信号のAD変換を行い、前記画素信号のレベルが所定の基準値以下の場合に、前記複数のスロープ電圧のうちの電位の時間的な変化の傾きが相対的に小さいスロープ電圧を用いて、前記画素信号のAD変換を行うことを特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載の撮像装置。
  11. 前記AD変換手段は、前記画素をリセットして得られた信号を、前記複数のスロープ電圧のうちの電位の時間的な変化の傾きが小さいスロープ電圧を用いてAD変換することを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の撮像装置。
  12. 前記複数の画素の各々は、入射光に応じた電荷を発生する光電変換部と、フローティングディフュージョン部と、前記光電変換部で発生した電荷を前記フローティングディフュージョン部に転送する転送スイッチと、前記フローティングディフュージョン部に転送された電荷に対応した電圧を増幅して出力するソースフォロワアンプとを備えることを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載の撮像装置。
  13. 複数の画素を備える撮像装置を制御する方法であって、
    前記複数の画素から出力された画素信号と、電位が時間的に変化するスロープ電圧とを比較することにより前記画素信号のAD変換を行うAD変換工程を備え、
    前記AD変換工程では、複数のスロープ電圧から1つのスロープ電圧を選択し、選択されたスロープ電圧と前記画素信号とを比較することにより前記画素信号をAD変換する第1のモードと、所定のスロープ電圧と前記画素信号とを比較することにより前記画素信号をAD変換する第2のモードとを前記画素に生じる暗電流量に応じて切り替えることを特徴とする撮像装置の制御方法。
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