JP6792113B2 - 分光放射計 - Google Patents

分光放射計 Download PDF

Info

Publication number
JP6792113B2
JP6792113B2 JP2016139733A JP2016139733A JP6792113B2 JP 6792113 B2 JP6792113 B2 JP 6792113B2 JP 2016139733 A JP2016139733 A JP 2016139733A JP 2016139733 A JP2016139733 A JP 2016139733A JP 6792113 B2 JP6792113 B2 JP 6792113B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
diffusion member
incident
spectroradiometer
light
sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016139733A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2017058364A (ja
Inventor
長谷川 壽一
壽一 長谷川
明仁 秋山
明仁 秋山
直人 嶋田
直人 嶋田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
EKO Instruments Co Ltd
Original Assignee
EKO Instruments Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by EKO Instruments Co Ltd filed Critical EKO Instruments Co Ltd
Publication of JP2017058364A publication Critical patent/JP2017058364A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6792113B2 publication Critical patent/JP6792113B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • G01J1/0407Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
    • G01J1/0474Diffusers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/0271Housings; Attachments or accessories for photometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • G01J1/0403Mechanical elements; Supports for optical elements; Scanning arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01WMETEOROLOGY
    • G01W1/00Meteorology
    • G01W1/12Sunshine duration recorders
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J2001/4266Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for measuring solar light
    • G01J2001/4285Pyranometer, i.e. integrating over space

Description

本発明は、分光放射計及び分光放射照度のCOSエラーの改善方法に関する。
太陽からの放射エネルギーは、0.3〜3.0μmの波長帯域に分布している。すべての波長域のエネルギー積算値を計測する装置として日射計が知られている。しかし、太陽放射には水蒸気などによる吸収帯があり、吸収帯による吸収量は季節や地域によって常に変動する。これらの影響を正確に把握するには、各波長に分けて放射エネルギーを測定する必要がある。分光放射計は、例えば1nm毎に太陽光を分光し、各波長の放射照度を計測することができる。近年、分光放射計は太陽電池の屋外計測システムで使用されることも多くなっている。これは、太陽電池は種類によって分光感度特性が大きく異なり、同じ太陽光パネルでも、太陽光の分光放射形状によって出力は大きく変わるためである。従来の分光放射計は、例えば特許文献1,2等に記載されている。
特許第3967723号公報 特許第3602187号公報
受光面が光ファイバの端面のように、「面(球面や凹凸面も含む)」で光を捉える分光放射計では、センサの出力値と斜入射角特性に従う理論値との間の誤差(以降、「COSエラー」と記載)が発生する問題があった。
本発明は前述の問題に鑑みてなされたものであり、COSエラーを低減することのできる分光放射計を提供することを目的とする。
上記課題に鑑み本願発明者が鋭意研究したところ、COSエラーは受光面に対向し取り付けるガラスドーム、受光面でのフレネル反射などの影響により発生するものと推定されるとの知見を得るに至り、前記課題を解決するための解決手段に想到した。すなわち、前記課題を解決するための手段としては、以下の通りである。
(1)入射面および反対面を有する拡散部材と、
前記拡散部材の前記入射面が露出するように、かつ、前記反対面が光センサユニットの受光部と対向するように前記拡散部材を保持する保持部材と、を有し、
前記保持部材は、
前記拡散部材の側面の一部が露出するように前記拡散部材の周囲に形成された溝を有し、
前記保持部材の上面および前記溝の底面が、共に前記拡散部材の前記入射面を含む平面と前記反対面を含む平面との間に配置されるように前記拡散部材を保持している、
分光放射計。
(2)前記光センサユニットの受光部は、導光部材の端面である、(1)に記載の分光放射計。
(3)前記拡散板は気泡を含んで形成されている、(1)または(2)に記載の分光放射計。
(4)前記光センサユニットに含まれる光センサは、フォトダイオードアレイである、(1)から(3)のいずれか1項に記載の分光放射計。
(5)前記保持部材は、前記溝を囲むように形成される挿入溝を有し、
光透過性を有し、周縁部が前記挿入溝に挿入されるドームをさらに備え、
前記挿入溝は、底面に、接合材料が充填される凹部を含む、(1)から(4)のいずれか1項に記載の分光放射計。
(6)前記凹部は、曲面を含む、(5)に記載の分光放射計。
(7)前記凹部は、段差形状を含む、(5)に記載の分光放射計。
(8)前記凹部は、V字形状を含む、(5)に記載の分光放射計。
(9)前記凹部は、突起形状を含む、(5)に記載の分光放射計。
(10)前記拡散部材は太陽光に含まれる各波長のスペクトルに対して変動幅が±30%以内の透過率を有する、(1)から(9)のいずれか1項に記載の分光放射計。
(11)前記拡散部材は側面から光が入射するように配置された、(1)から(10)のいずれか1項に記載の分光放射計。
本発明の分光放射計によれば、受光面と拡散部材を備えつつ、COSエラーを低減することができる。
本実施形態に従う日射計の概略構成の一例を示す側方断面図である。 本実施形態に従う日射計における「高さH」ごとのCOSエラーεの入射角依存性の一例を示すグラフである。 、本実施形態に従う日射計における「距離D」ごとのCOSエラーεの入射角依存性の一例を示すグラフである。 本実施形態に従う日射計における「溝の深さDE」ごとのCOSエラーεの入射角依存性の一例を示すグラフである。 本実施形態に従う日射計における拡散部材の透過率ごとのCOSエラーεの入射角依存性の一例を示すグラフである。 本実施形態に従う日射計における挿入溝の一例を示す拡大断面図である。 本実施形態に従うセンサおよび温度補償回路の電気的接続を説明する回路図である。 本実施形態に従う拡散部材(実施例1)の露出する面を説明する側面図である。 本実施形態に従う拡散部材(実施例2)の露出する面を説明する側面図である。 本実施形態に従う拡散部材(実施例3)の露出する面を説明する断面図である。 本実施形態に従う拡散部材(実施例4)の露出する面を説明する断面図である。 本実施形態に従う日射計(実施例1)における挿入溝の凹部を説明する拡大断面図である。 本実施形態に従う日射計(実施例2)における挿入溝の凹部を説明する拡大断面図である。 本実施形態に従う日射計(実施例3)における挿入溝の凹部を説明する拡大断面図である。 本実施形態に従う日射計の応答速度を比較したグラフである。 本実施形態に従う日射計における拡散部材有無でのCOSエラーεの入射角依存性の一例を示すグラフである。 本発明の実施の形態2による分光放射計の筺体内部の構造を示す図。 本発明の実施の形態2による分光放射計の構成を示す模式図。 本発明の実施の形態2による分光放射計における距離Dごとの角度θおよびCOSエラーεの関係の一例を示すグラフ。 本発明の実施の形態2による分光放射計における溝の深さDEごとの角度θおよびCOSエラーεの関係の一例を示すグラフ。 本発明の実施の形態2による分光放射計における拡散部材の透過率Τごとの角度θおよびCOSエラーεの関係の一例を示すグラフ。 本発明の実施の形態2による分光放射計における拡散部材の露出高EXを固定し、溝の深さDEごとの角度θおよびCOSエラーεの関係の一例を示すグラフ。 本発明の実施の形態2による分光放射計の溝の構造の一例を示す断面図。 本発明の実施の形態2による分光放射計の溝の構造の一例を示す断面図。
以下に本発明の実施形態を説明する。以下の図面の記載において、同一または類似の部分には同一または類似の符号で表している。但し、図面は模式的なものである。したがって、具体的な寸法等は以下の説明を照らし合わせて判断するべきものである。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることは勿論である。さらに、本発明の技術的範囲は、当該実施形態に限定して解するべきではない。なお、以下の説明において、図面の上側を「上」、下側を「下」、左側を「左」、右側を「右」という。
実施の形態1.
図1乃至図11は、本発明に係る日射計の一実施形態を示すためのものである。図1は、一実施形態に従う日射計100の概略構成の一例を示す側方断面図である。日射計100は、例えば全天日射計であり、天空の全方向、つまり2πステアラジアンの立体角の範囲からの光(放射)に対し、その強度や日射量を測定するためのものである。図1に示すように、日射計100は、例えば、センサ10と、温度補償回路20と、拡散部材30と、保持部材40と、ドーム50と、を備える。
拡散部材30は、入射面とその反対面、そして側面を有する光学部材であり、入射した光を拡散して透過するように構成されている。拡散部材30は、例えば表面に凹凸を形成して表面において光を拡散させるだけでなく、その内部においても光を拡散できるものが好ましい。そのような拡散部材30は、例えばバブルクォーツ等、内部に気泡(ポーラス)が形成された材料で構成することが可能である。拡散部材の透過率は太陽光スペクトル(300〜3000nm)に対し、略均一な透過率をもっている。この拡散部材30の透過率の変動幅は±30%以内、好ましくは±10%以内、より好ましくは±3%以内であり、この略均一な透過率特性により、ブロードな分光特性に優れた日射計を得ることができる。
また、拡散部材30は、センサ10の受光面11に対向する位置に配置され、光は拡散部材30を拡散透過し、センサ10の受光面11に入射するように構成されている。
図11は、一実施形態に従う日射計100における角度θおよびCOSエラーεの関係の一例を示すグラフである。図11では、横軸が角度θであり、単位は例えば[°]である。また、縦軸がCOSエラーεであり、単位は例えば[W/m2]である。なお、図11のグラフは、拡散部材30を使用した場合をk1、拡散部材を使用しない場合をk2として、角度θに対するCOSエラーεの変化を表したものである。図11に示すように、拡散部材30を使用しない場合のCOSエラーεに比べ、拡散部材30を使用したCOSエラーεは小さくなることが分かる。これにより、拡散部材30を用いることで、COSエラーεを低減することができる。
センサ10は、熱式(熱型)センサであり、例えばサーモパイル、サーミスタ、ペルチェ、熱電対、白金抵抗体が使用できる。センサ10がサーモパイルの場合、受光面11に入射した光(光エネルギー)を熱(熱エネルギー)に変換し、当該熱に応じた電気信号を出力するように構成されている。
センサ10は、薄膜サーモパイルを用いることで、日射計の光に対する応答時間を短くすることが出来る。図10は従来のサーモパイルと今回提案した薄膜サーモパイルの応答性能を表したものである。横軸は応答時間を示し、縦軸はセンサの出力(規格化)を示す。図10より、薄膜サーモパイルを用いたセンサはサーモパイルより応答性により優れていることが分かる。
薄膜サーモパイルは、シリコンをベースとすることで、MEMS(icro lectro echanical ystems)等の微細加工技術を利用することが出来るようになり、より容易に、安定的にセンサを製造することが出来る。また、シリコンベースのサーモパイルのセンサ10は太陽光スペクトル(300〜3000nm)に対し、略均一な分光感度をもっている。またセンサ10は、金属製の容器12、例えばCANパッケージに収納することで、機械的強度を高め、さらに容器12内にセンサ10を密閉する事で、過酷な外部環境からの影響を低減させ長期的安定性を高めることが出来る。また容器12内には指定のガス(窒素、希ガス(He、Ar、Xe、Ne等)を含む不活性ガス)で満たすことでさらなるセンサの長期安定性が得られる。またさらに、後述するドーム50の周縁部51と挿入溝43が接合材料Bにより接着されることで、さらに装置内の気密性が良くなり、センサの長期安定性も更に向上する。また、光がセンサ10に入射可能になるように、容器12には、センサ10の周縁(外径)に基づいて、例えば開口が形成され、窓材(図示せず)にて密閉できる構成になっている。また封止するための窓材は太陽光スペクトル(300〜3000nm)で透過率50%以上の略均一な高い透過率をもっており、この透過率特性により密閉性を維持しつつ、ブロードな分光特性に優れた日射計を得ることができる。また、センサ10をCANパッケージに収納する事で、保持部材40を含む装置全体とCANパッケージの2重構造でセンサ10と外部との直接の接触を断つことが出来、熱的な入出を抑制する事でセンサ10のオフセット量を抑える事が出来る。
温度補償回路20は、センサ10の近傍に配置された回路基板上に設けられている。温度補償回路20は、センサ10に電気的に接続しており、センサ10の温度に基づいて、センサ10の出力信号を補正するように構成されている。
保持部材40は、日射計100の土台(基礎)となる部材であり、センサ10、温度補償回路20、拡散部材30、およびドーム50が設けられている。保持部材40は、1つ以上の部品(パーツ)で構成されており、所定以上の強度とともに所定以上の熱伝導度を有する材料で構成することが好ましく、例えばアルミニウム等の金属材料で構成することが可能である。保持部材40は、拡散部材30の入射面31(図1において上面)と側面32が露出するように拡散部材30を保持している。具体的には、保持部材40は、例えば拡散部材30の入射面31が保持部材40の上面45より高くなるように、拡散部材30を保持する。
ドーム50は、例えば雨や風から日射計100の内部を保護するためのものである。ドーム50は、例えばガラス等の光透過性を有する材料で構成することが可能である。ドーム50は、露出した拡散部材30の入射面31と側面32に、天空から光が入射するように、略半球形状を有している。
なお、日射計100は、ドーム50を備える場合に限定されず、例えばドーム50を備えていなくてもよい。
ここで、拡散部材30の入射面31には、センサ10の受光面に対し、垂直方向の光だけではなく、垂直軸Nに対して角度θ(0<θ≦90°)の光も入射する。拡散部材30の上面において、角度θで入射する光の照度Eは、斜入射角特性(斜入射光特性または方位特性ともいう)を有しており、垂直方向から入射する光の照度E0を用いて、以下の式(1)のように表される。
E=E0cosθ …(1)
式(1)から明らかなように、角度θで入射する光の照度Eは、垂直方向から入射したときの光の照度E0のcosθ倍になる、という性質(特性)がある。しかし、光は角度θが大きくなるに従い表面反射が増加し、さらに、センサ10の入射面31に対向し取り付ける、ドーム50の影響でCOSエラーが発生する。
そこで、光が拡散部材を介してセンサに入射することで、従来の光がセンサに直接入射する場合と比較して、COSエラーを小さくすることが出来る。センサ10の受光面への光が入射する角度θが比較的に小さいうちは問題を生じない。
さらに、本実施形態の日射計100は、拡散部材30の側面32の一部が露出するように、保持部材40が拡散部材30の周囲に形成される溝41を有している。容器12に収納されたセンサ10を用いた場合、センサ10の受光面へ入射する光の角度θが大きくなるに従い、容器12により制限されるため、更に前記COSエラーが大きくなる場合があるが、溝を設けることにより、拡散部材30の側面32の一部を露出することになり、拡散部材30の入射面31に入射する光に加え、拡散部材30の側面32に斜め方向や横方向からの光が入射するので、前記COSエラーを抑制する事が可能となりさらに好ましい。
溝41は、拡散部材30の側面32(外径)に沿って全周にわたって形成されることが好ましい。この場合、例えば、平面視において、拡散部材30の側面32(外径)の形状が円形である場合、溝41の形状は、円形(円環)になる。
また、拡散部材30の入射面31が溝41の底面42より高くなるように保持されている。拡散部材30の入射面31と溝41の底面42との間を高さHとよぶ。
図2は、一実施形態に従う日射計100における高さHごとの角度θおよびCOSエラーεの関係の一例を示すグラフである。図2では、横軸が角度θであり、単位は例えば[°]である。また、縦軸がCOSエラーεであり、単位は例えば[W/m2]である。なお、図2のグラフは、高さHがh1、h2、およびh3のときに、角度θに対するCOSエラーεの変化を表したものである。また、参考のために、高さHがゼロ(なし)の場合について、h0として表している。図2に示すように、高さHがゼロの場合、角度θが大きくなるにつれて、COSエラーεも大きくなる傾向にある。一方、日射計100が高さHを有する場合、高さHがゼロの場合のCOSエラーεに比べ、COSエラーεが変化し、小さくなることが分かる。これにより、拡散部材30の上面と溝41の底面42との間の高さHを調整することで、COSエラーεを補正することが可能になる。したがって、拡散部材30の上面と溝41の底面42との間の高さHを適切な値に設定してCOSエラーεを低減することができる。
また、図1に示すように、拡散部材30は、反対面33がセンサ10の受光面11から離れて配置される。拡散部材30の反対面33とセンサ10の受光面11との間を距離Dとよぶ。
図3は、一実施形態に従う日射計100における距離Dごとの角度θおよびCOSエラーεの関係の一例を示すグラフである。図3では、横軸が角度θであり、単位は例えば[°]である。また、縦軸がCOSエラーεであり、単位は例えば[W/m2]である。なお、図3のグラフは、距離Dがd1、d2、d3、およびd4のときに、角度θに対するCOSエラーεの変化を表したものである。図3に示すように、日射計100が距離Dを有する場合、距離Dを変化させるとCOSエラーεも変化することが分かる。これにより、拡散部材30の下面とセンサ10の受光面11の間の距離Dを調整することで、COSエラーεを補正することが可能になる。したがって、拡散部材30の下面とセンサ10の受光面11の間の距離Dを適切な値に設定してCOSエラーεを低減することができる。
また、図1に示すように、保持部材40の上面と底面42との距離を深さDEとよぶ。
図4は、一実施形態に従う日射計100における溝41の深さDEごとの角度θおよびCOSエラーεの関係の一例を示すグラフである。図4では、横軸が角度θであり、単位は例えば[°]である。また、縦軸がCOSエラーεであり、単位は例えば[W/m2]である。なお、図4のグラフは、深さDEがde1、de2、de3、およびde4のときに、角度θに対するCOSエラーεの変化を表したものである。図4に示すように、溝41の深さDEを変化させるとCOSエラーεも変化することが分かる。これにより、溝41の深さDEを調整することで、COSエラーεを補正することが可能になる。したがって、溝41の深さDEを適切な値に設定してCOSエラーεを低減することができる。
斜入射角特性のCOSエラーεの補正は、前述の方法以外にも、容器12に形成された開口の大きさ、保持部材40に形成されたセンサ10の入射面と拡散部材30をつなぐ導光路46の大きさを調整しても一定の効果が得られる。
さらに、拡散部材30は、入射した光を拡散して透過するから、透過率Τを有する。
図5は、一実施形態に従う日射計100における拡散部材30の透過率Τごとの角度θおよびCOSエラーεの関係の一例を示すグラフである。図5では、横軸が角度θであり、単位は例えば[°]である。また、縦軸がCOSエラーε(出力値と理論値との差)であり、単位は例えば[W/m2]である。なお、図5のグラフは、透過率Τがτ1、τ2、およびτ3のときに、角度θに対するCOSエラーεの変化を表したものである。図5に示すように、拡散部材30の透過率Τを変化させるとCOSエラーεも変化することが分かる。これにより、拡散部材30の透過率Τを調整することで、COSエラーεを補正することが可能になる。したがって、拡散部材30の透過率Τを適切な値に設定してCOSエラーεを低減することができる。
なお、グラフによる説明を省略するが、拡散部材30の厚さ(図1においてZ軸方向の長さ)を変えると、角度θに対するCOSエラーεが変化することも分かっている。
図1に示すように、保持部材40は、溝41を囲むように形成される挿入溝43を有する。挿入溝43には、ドーム50の周縁部51が挿入され、ドーム50が保持部材40に固定されている。ドーム50が略半球形状を有する場合、平面視において、挿入溝43の形状は円形(円環)になる。
図6は、一実施形態に従う日射計100における挿入溝43の一例を示す拡大断面図である。図6に示すように、挿入溝43は、その底面に凹部44を含んでいる。凹部44には、あらかじめ接合材料Bが充填されており、凹部44および挿入溝43の底面に、接合材料Bが溜まった状態になっている。この状態で、挿入溝43にドーム50の周縁部51が挿入されると、接合材料Bが周縁部51の底面および側面の一部に付着する。このように、ドーム50の周縁部51が挿入される挿入溝43に凹部44を含むことにより、凹部44および挿入溝43の底面に接合材料Bが溜まった状態、つまり、接合材料B溜まりを形成でき、周縁部51の接着面積を増加させることができる。したがって、ドーム50内の気密性を向上させることができる。ここで接合材料とは、接着剤、粘着剤など、物質同士を接合できるものであればよい。
図6に示すように、凹部44は、例えば曲面を含んでいることが好ましい。これにより、凹部44および挿入溝43の底面に接合材料B溜まりを容易に形成(実現)することができる。
図7は、一実施形態に従うセンサ10および温度補償回路20の電気的接続を説明する回路図である。図7に示すように、温度補償回路20は、例えば、抵抗体21と、フィルタ22と、を含んで構成される。
抵抗体21は、温度に応じて抵抗値が変化するように構成されている。抵抗体21は、センサ10の近傍に配置されている。これにより、抵抗体21の温度は、センサ10の温度と同一視することが可能になる。
また、抵抗体21は、センサ10と並列に接続されている。温度に応じて抵抗値が変化する抵抗体21は、例えばサーミスタで構成することが可能である。
ここで、日射計100に使用されるセンサ10は、その出力信号に温度特性を有する場合がある。この場合、受光面11に入射する日射光の光エネルギーが同じ場合であっても、センサ10の温度によって、出力信号の値が変化する。
一方、抵抗体21は温度に応じて抵抗値が変化するので、センサ10の温度に応じて抵抗体21の抵抗値が変化することで、温度特性によるセンサ10の出力信号の変化を相殺し、センサ10の出力信号を補正することが可能になる。これにより、受光面11に入射する日射光の光エネルギーが同じ場合、センサ10の温度に依存することなく、センサ10の出力信号の値を一定にすることができる。
例えば、センサ10の出力信号が、温度に対して係数k(kは正の実数)で変化する場合、抵抗体21は、温度に対して係数−kで抵抗値が変化するもの、例えばNTC(egative emperature oefficient)サーミスタを用いることが好ましい。
フィルタ22は、センサ10の出力信号をフィルタリングするためのものであり、温度補償回路20の出力側に設けられている。フィルタ22は、センサ10と並列に接続されている。フィルタ22は、例えばキャパシタ(コンデンサ)で構成することが可能である。
日射計100に使用されるセンサ10は、その内部インピーダンスが高い場合がある。よって、温度補償回路20の出力側にフィルタ22を設けることにより、内部インピーダンスに起因するセンサ10の出力信号のノイズを、取り除くことが可能になる。
本実施形態では、図1において保持部材40の上面45と溝41の底面との段差が1つ(一段)である例を示したが、これに限定されない。拡散部材30の側面の一部が露出する限り、保持部材40の上面と溝41の底面42との段差は複数(複数段)であってもよい。また、溝41の底面42は平面に限定されず、凹面、凸面、斜面、またはこれらの組み合わせであっても良い。
また、本実施形態では、図1において拡散部材30の露出する面、つまり、入射面31が平面である例を示したがこれに限定されない。拡散部材30の露出する面は、様々な形状を採用することが可能である。
図8Aおよび図8Bは、本実施形態に従う拡散部材30の露出する面の例を説明する側面図である。図8Cおよび図8Dは、本実施形態に従う拡散部材30の露出する面の例を説明する図面であり、拡散部材30の軸中心を通る断面から見た図面である。拡散部材30の入射面は、例えば、図8Aに示すような円錐面であっても、図8Bに示すような凸曲面であってもよい。また図8Cに示すような凹曲面であっても、または図8Dに示すような凹円錐面であってもよい。
さらに、本実施形態では、図6において挿入溝43の凹部44が曲面を含む例を示したがこれに限定されない。挿入溝43の凹部44は、様々な形状を含むことが可能である。
図9A〜図9Cは、一実施形態に従う日射計100における挿入溝43の凹部44の例を説明する拡大断面図である。挿入溝43の凹部44は、例えば、図9Aに示すように段差形状であっても、図9Bに示すようなV字形状であっても、または、図9Cに示すような突起形状を含んでいてもよい。
このように、本実施形態の日射計100によれば、熱式センサであるセンサ10と拡散部材30を備えつつ、センサ10の出力値と斜入射角特性に従う理論値との間の誤差であるCOSエラーεを低減することができる。
また他の実施形態である、CANパッケージに気密封入されたシリコンベースの薄膜サーモパイルのセンサ10と、温度補償回路20を備えた日射計100では、応答速度を速め、温度特性を改善、オフセットを抑制し、過酷な外部環境からの影響を低減させ長期的安定性を高めることが可能となる。
このように、本実施形態の日射計100によれば、CANパッケージに気密封入されたシリコンベースの薄膜サーモパイルのセンサ10を備えたことで、従来の熱式センサが持っていた、応答速度を速め、温度特性を改善、オフセットを抑制し、過酷な外部環境からの影響を低減させ長期的安定性を高めることが出来た。また、センサ10と、センサ10の受光面に対向して配置される拡散部材30と、拡散部材30の入射面31が露出するように拡散部材30を保持する保持部材40と、を備え、保持部材40は、拡散部材30の側面の一部が露出するように拡散部材30の周囲に形成される溝41を有する。これにより、拡散部材30の入射面に入射する光に加え、拡散部材30の側面32に斜め方向や横方向からの光が入射するので、角度θで入射する光に対するセンサ10の出力を補正することが可能になる。これらの構成により、センサ10の出力値と斜入射角特性に従う理論値との間のCOSエラーεを低減することができる。
実施の形態2.
図12は、本発明の実施の形態2による分光放射計200の筺体内部の構造を示す図である。また、図13は、分光放射計200の構成を示す模式図である。図12〜13に示すように、分光放射計200は、分光ユニット211、サーモモジュール212、断熱材213、電気基板214、フード215、ガラスドーム(入光部)220、拡散部材230、保持部材240、シャッタ250、光ファイバ260、を備えている。分光放射計200は、主に屋外で太陽光を計測するために用いられる全天候型の分光放射計である。なお、ここで、光センサユニットとは、導光部材、例えば、光ファイバ(260)やアクリル樹脂等で形成されたライトガイドと、分光ユニット(211)の組み合わせを指す。また、光センサユニットは、導光部材を用いず、分光ユニット(211)のみの構成であってもよい。この場合、受光部は分光ユニットの光入力部(図示せず)である。光入力部は、例えば、入射スリット部材である。
図12に示すように、分光放射計200の筺体の上部はフード215で覆われており、フード215の中央には筐体内部に入射光(太陽光)を導くためのガラスドーム220と拡散部材230、拡散部材230を保持する保持部材240が配置され、拡散部材230とシャッタ250を通過した光は、光ファイバ260の受光面261(端面)に入射し、光ファイバ260を経由して分光ユニット211に導かれる。
図12、13に示すように、保持部材240は、拡散部材230を保持している。保持部材240は、1つ以上の部品(パーツ)で構成されており、所定以上の強度とともに所定以上の熱伝導率を有する材料で構成することが好ましく、例えばアルミニウム等の金属材料で構成することができる。保持部材240は、拡散部材230の入射面231(図1における入射面31に対応)と側面232が露出するように拡散部材230を保持している。具体的には、保持部材240は、例えば拡散部材230の入射面231が保持部材240の上面245より高くなるように、拡散部材230を保持する。
ガラスドーム220は、例えば雨や風から分光放射計200の内部を保護するためのものである。ガラスドーム220は、例えばガラス等の光透過性を有する材料で構成することができる。ガラスドーム220は、露出した拡散部材230の入射面231と側面232に、天空から光が入射するように、略半球形状を有している。なお、分光放射計200は、ガラスドーム220を備えていなくてもよい。
分光ユニット211は、分光部2111、光電変換部2112、温度センサ(図示せず)を含んでいる。分光ユニット211に導かれた光は、分光部2111によって複数の波長に分解され、光電変換部2112によって波長毎の光強度を示す電気信号に変換される。分光ユニット2111には例えば回折格子が用いられ、回折格子には反射型と透過型のものがあるが、どちらを用いてもよい。また、光電変換部2112には例えばフォトダイオードアレイが用いられ、フォトダイオードアレイには500〜5000素子程度のものを用いることができる。なお、フォトダイオードアレイの代わりに、CCD(Charge Coupled Device)アレイを用いてもよい。また、分光ユニット211には、分光部2111と光電変換部2112の温度を計測するための温度センサが含まれている。温度センサとしては、熱電対、白金抵抗体、半導体センサなどを用いることができる。
光電変換部2112によって変換された波長毎の光強度を示す電気信号は、電気基板214に供給され、その電気信号を保持すると共に、それらのデータ処理を行う。
また、図12に示すように、分光ユニット211の下部にはサーモモジュール212が設けられており、分光ユニット211を冷却または加熱して温度を一定に保つようにしている。サーモモジュール212は、例えばペルチェ素子である。また、分光ユニット211とサーモモジュール212は、断熱材213で覆われている。なお、サーモモジュール212は、複数のペルチェ素子を直列接続したもので構成するようにしてもよい。
ここで、拡散部材230の入射面231には、光ファイバ260の受光面261に対して垂直方向から入射する光だけではなく、図1に示す例と同様に、垂直軸Nに対して角度θ(0<θ≦90°)の光も入射する。拡散部材230の上面において、角度θで入射する光の照度Eは、斜入射角特性(斜入射光特性または方位特性ともいう)を有しており、垂直方向から入射する光の照度E0を用いて、以下の式(1)のように表される。
E=E0cosθ …(1)
式(1)から明らかなように、角度θで入射する光の照度Eは、垂直方向から入射したときの光の照度E0のcosθ倍になる、という性質(特性)がある。しかし、光は角度θが大きくなるに従い表面反射が増加し、さらに、受光面261に対向して取り付けられているドーム220の影響でCOSエラーが発生する。
そこで、光が拡散部材230を介して光ファイバ260の受光面261に入射することで、光が受光面261に直接入射する場合と比較して、COSエラーを小さくすることが出来る。なお、受光面261への光が入射する角度θが比較的に小さいうちは問題を生じない。
さらに、本実施形態の分光放射計200は、図13に示すように、拡散部材230の側面232の一部が露出するように、保持部材240が拡散部材230の周囲に形成される溝241を有している。光ファイバ260を用いた場合、受光面261へ入射する光の角度θが大きくなるに従い、光ファイバの開口角による制限を受けるため、さらにCOSエラーが大きくなる場合がある。しかし、保持部材240に溝241を設けることにより、拡散部材230の側面232の一部が露出することになり、拡散部材230の入射面231に入射する光に加え、拡散部材230の側面232に斜め方向や横方向からも光が入射するので、COSエラーを抑制することができる。
溝241は、拡散部材230の側面232(外径)に沿って全周にわたって形成されていることが好ましい。例えば、平面視において、拡散部材230の側面232(外径)の形状が円形である場合、溝241の形状は円形(円環)になる。
また、拡散部材230の入射面231が溝241の底面242より高くなるように保持されている。ここで、拡散部材230の入射面231と溝241の底面242との間を高さHとする。
また、図13に示すように、拡散部材230は、反対面233が受光面261から離れて配置される。拡散部材230の反対面233と受光面261との間を距離Dとする。
図14は、一実施形態に従う分光放射計200における距離Dごとの角度θおよびCOSエラーεの関係の一例を示すグラフである。図14では、横軸が角度θであり、単位は例えば[°]である。また、縦軸がCOSエラーεであり、単位は例えば[W/m2]である。なお、図14のグラフは、距離Dがd1、d2、d3、およびd4のときに、角度θに対するCOSエラーεの変化を表したものである。図14に示すように、分光放射計200が距離Dを有する場合、距離Dを変化させるとCOSエラーεも変化することが分かる。これにより、拡散部材230の反対面233と受光面261の間の距離Dを調整することで、COSエラーεを補正することが可能になる。したがって、拡散部材230の反対面233と受光面261の間の距離Dを適切な値に設定してCOSエラーεを低減することができる。
また、図13に示すように、保持部材240の上面245と溝241の底面242との距離を溝241の深さDEとする。図15は、一実施形態に従う分光放射計200における溝241の深さDEごとの角度θおよびCOSエラーεの関係の一例を示すグラフである。図15では、横軸が角度θであり、単位は例えば[°]である。また、縦軸がCOSエラーεであり、単位は例えば[W/m2]である。なお、図15のグラフは、深さDEがde1、de2、de3、およびde4のときに、角度θに対するCOSエラーεの変化を表したものである。図15に示すように、溝241の深さDEを変化させるとCOSエラーεも変化することが分かる。これにより、溝241の深さDEを調整することで、COSエラーεを補正することが可能になる。したがって、溝241の深さDEを適切な値に設定してCOSエラーεを低減することができる。
なお、斜入射角特性のCOSエラーεの補正は、前述の方法以外にも、受光面(ファイバ開口)の大きさを調整しても一定の効果が得られる。
さらに、拡散部材230は、入射した光を拡散して透過するから、透過率Τを有する。図16は、一実施形態に従う分光放射計200における拡散部材230の透過率Τごとの角度θおよびCOSエラーεの関係の一例を示すグラフである。図16では、横軸が角度θであり、単位は例えば[°]である。また、縦軸がCOSエラーε(出力値と理論値との差)であり、単位は例えば[W/m2]である。なお、図16のグラフは、透過率Τがτ1、τ2、τ3およびτ4のときに、角度θに対するCOSエラーεの変化を表したものである。図16に示すように、拡散部材230の透過率Τを変化させるとCOSエラーεも変化することが分かる。これにより、拡散部材230の透過率Τを調整することで、COSエラーεを補正することが可能になる。したがって、拡散部材230の透過率Τを適切な値に設定してCOSエラーεを低減することができる。
図17は、一実施形態に従う分光放射計200における拡散部材の露出高EXを固定し、溝241の深さDEごとの角度θおよびCOSエラーεの関係の一例を示すグラフである。図17では、横軸が角度θであり、単位は例えば[°]である。また、縦軸がCOSエラーεであり、単位は例えば[W/m2]である。なお、図17のグラフは、深さDEがde5、de6およびde7(溝無し)のときに、角度θに対するCOSエラーεの変化を表したものである。図17に示すように、同じ露出高EXでも、溝241の深さDEを変化させるとCOSエラーεも変化することが分かる。これにより、溝241の深さDEを調整することで、COSエラーεを補正することが可能になる。したがって、溝241の深さDEを適切な値に設定してCOSエラーεを低減することができる。
なお、さらに、拡散部材230の厚さ(図1に示すZ軸方向の長さ)を変えると、角度θに対するCOSエラーεが変化することも分かっている。
また、図13においては、保持部材240の上面245と溝241の底面との段差が1つ(一段)である例を示したが、溝241の構造はこれに限定されない。拡散部材230の側面の一部が露出する限り、保持部材240の上面245と溝241の底面242との段差は複数(複数段)であってもよい。また、溝241の底面242は平面に限定されず、凹面、凸面、斜面、またはこれらの組み合わせであってもよい。また、図18Aに示すように、上面245と底面242の段差がなく、溝241の側面と底面242が斜面のような同一面上に形成された構造であってもよい。また、図18Bに示すように、上面245と底面242にはっきりした段差がなく、溝241の側面と底面242が曲面で形成されるような構造であってもよい。
また、本実施形態では、図13において拡散部材230の露出する面、つまり、入射面231が平面である例を示したがこれに限定されない。拡散部材230の露出する面は、様々な形状を採用することが可能である。また、図8A〜図8Dに示す拡散部材30の露出する面の例は、本実施形態による分光放射計200の拡散部材230にも適用することができる。
以上のように、本実施形態の分光放射計200によれば、拡散部材230の入射面231を露出させ、かつ反対面233が受光面261と対向するように拡散部材230を保持する保持部材240が、拡散部材230の側面232の一部が露出するように拡散部材230の周囲に形成された溝241を有するようにした。これにより、拡散部材230の入射面231に入射する光に加え、拡散部材230の側面232に斜め方向や横方向からも光が入射するので、角度θで入射する光に対する分光放射計200の出力を補正することが可能になる。これにより、分光放射計200の出力値と斜入射角特性に従う理論値との間の誤差であるCOSエラーεを低減することができる。
さらに、保持部材240の上面245と溝241の底面242が拡散部材230の入射面231と反対面233の間に配置されるようにすることで、受光面261への入射角によるCOSエラーεを著しく改善することができる。特に、保持部材240の上面245を拡散部材230の入射面231よりも低い位置に設定したことで、拡散部材230の入射面231に対して斜めから入射した時(0<θ≦90°)のCOSエラーの補正に著しい効果を得ることができる。
なお、本発明は、上記実施形態に限定されることなく種々に変形して適用することが可能である。
また、上記発明の実施形態を通じて説明された実施例や応用例は、用途に応じて適宜に組み合わせて、または変更もしくは改良を加えて用いることができ、本発明は上述した実施形態の記載に限定されるものではない。そのような組み合わせまたは変更もしくは改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
10…センサ
11…受光面
20…温度補償回路
21…抵抗体
22…フィルタ
30…拡散部材
31…入射面
32…側面
33…反対面
40…保持部材
41…溝
42…底面
43…挿入溝
44…凹部
45…上面
46…導光路
50…ドーム
51…周縁部
100…日射計
200…分光放射計
211…分光ユニット
212…サーモモジュール
213…断熱材
214…電気基板
215…フード
220…ガラスドーム
230…拡散部材
231…入射面
232…側面
233…反対面
240…保持部材
241…溝
242…底面
245…上面
250…シャッタ
251…シャッタ羽根
260…光ファイバ
261…受光面
2111…分光部
2112…光電変換部
B…接合材料
D…距離
DE…深さ
H…高さ
EX…露出高
Τ…透過率
θ…角度
ε…COSエラー

Claims (11)

  1. 入射面および反対面を有する拡散部材と、
    前記拡散部材の前記入射面が露出するように、かつ、前記反対面が光センサユニットの受光部と対向するように前記拡散部材を保持する保持部材と、を有し、
    前記保持部材は、
    前記拡散部材の側面の一部が露出するように前記拡散部材の周囲に形成された溝を有し、
    前記保持部材の上面および前記溝の底面が、共に前記拡散部材の前記入射面を含む平面と前記反対面を含む平面との間に配置されるように前記拡散部材を保持している、
    分光放射計。
  2. 前記光センサユニットの受光部は、導光部材の端面である、
    請求項1に記載の分光放射計。
  3. 前記拡散板は気泡を含んで形成されている、
    請求項1または2に記載の分光放射計。
  4. 前記光センサユニットに含まれる光センサは、
    フォトダイオードアレイである、
    請求項1から3のいずれか1項に記載の分光放射計。
  5. 前記保持部材は、前記溝を囲むように形成される挿入溝を有し、
    光透過性を有し、周縁部が前記挿入溝に挿入されるドームをさらに備え、
    前記挿入溝は、底面に、接合材料が充填される凹部を含む、請求項1から4のいずれか1項に記載の分光放射計。
  6. 前記凹部は、曲面を含む、請求項5に記載の分光放射計。
  7. 前記凹部は、段差形状を含む、請求項5に記載の分光放射計。
  8. 前記凹部は、V字形状を含む、請求項5に記載の分光放射計。
  9. 前記凹部は、突起形状を含む、請求項5に記載の分光放射計。
  10. 前記拡散部材は太陽光に含まれる各波長のスペクトルに対して変動幅が±30%以内の透過率を有する、請求項1から9のいずれか1項に記載の分光放射計。
  11. 前記拡散部材は側面から光が入射するように配置された、請求項1から10のいずれか1項に記載の分光放射計。
JP2016139733A 2015-07-15 2016-07-14 分光放射計 Active JP6792113B2 (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015141623 2015-07-15
JP2015141623 2015-07-15
JP2015185829 2015-09-18
JP2015185829 2015-09-18

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017058364A JP2017058364A (ja) 2017-03-23
JP6792113B2 true JP6792113B2 (ja) 2020-11-25

Family

ID=57247505

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015203253A Active JP6023942B1 (ja) 2015-07-15 2015-10-14 日射計
JP2016139733A Active JP6792113B2 (ja) 2015-07-15 2016-07-14 分光放射計

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015203253A Active JP6023942B1 (ja) 2015-07-15 2015-10-14 日射計

Country Status (5)

Country Link
US (2) US9909919B2 (ja)
EP (1) EP3324159A4 (ja)
JP (2) JP6023942B1 (ja)
CN (1) CN108027277B (ja)
WO (1) WO2017010022A1 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6398810B2 (ja) * 2015-03-12 2018-10-03 オムロン株式会社 内部温度測定装置及び温度差測定モジュール
JP2021042956A (ja) * 2017-12-28 2021-03-18 アルプスアルパイン株式会社 湿度検知装置
DE102018132103A1 (de) * 2018-12-13 2020-06-18 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Sensorvorrichtung für ein Kraftfahrzeug sowie ein Verfahren zum Betrieb einer solchen Sensorvorrichtung
JP7069503B2 (ja) * 2020-10-05 2022-05-18 エスゼット ディージェイアイ テクノロジー カンパニー リミテッド 飛行体、及びセンサユニット
US11821786B1 (en) 2022-05-10 2023-11-21 Eko Instruments Co., Ltd. Pyranometer
CN115824406B (zh) * 2022-10-20 2023-12-15 广州耀海科技有限公司 一种野外光谱测量设备及系数标定方法

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54130174A (en) * 1978-03-31 1979-10-09 Nittan Co Ltd Light source for dazzling smoke sensor
JPS5618731A (en) * 1979-07-23 1981-02-21 Eikou Seiki Sangyo Kk Pyrheliometer employing solar battery
JPS60100079A (ja) * 1983-11-07 1985-06-03 Kyocera Corp 日射積算計
JPS60100628U (ja) * 1984-10-24 1985-07-09 英弘精機産業株式会社 太陽電池を利用した日射計
JPH0498883A (ja) 1990-08-16 1992-03-31 Nippon Steel Corp シリコンを用いたサーモパイル装置
JPH0662332U (ja) * 1993-02-05 1994-09-02 株式会社テージーケー 自動車用オートエアコンのサンセンサ
US5347869A (en) 1993-03-25 1994-09-20 Opto Tech Corporation Structure of micro-pirani sensor
US5781351A (en) 1995-06-02 1998-07-14 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Mounting structure of objective lens for optical pick-up used for optical disk device
US6528782B1 (en) 1996-08-20 2003-03-04 Schott Donnelly Llc Chromogenic light filter and controls
US5805277A (en) 1997-08-06 1998-09-08 Coherent, Inc. Portable laser power measuring apparatus
GB9719614D0 (en) 1997-09-10 1997-11-19 Wood John Solar radiation sensor
CN1203295C (zh) * 1999-03-24 2005-05-25 石塚电子株式会社 热堆式红外线传感器及其制造方法
JP4641363B2 (ja) * 2001-07-06 2011-03-02 本田技研工業株式会社 日射センサ
JP3989263B2 (ja) * 2002-02-28 2007-10-10 英弘精機株式会社 複数の量子型センサーを利用した日射計
JP2004144715A (ja) 2002-10-28 2004-05-20 Ishizuka Electronics Corp 赤外線検出装置
US20050081905A1 (en) 2003-10-17 2005-04-21 Lan Alex H. Thermopile IR detector package structure
EP1887331A4 (en) 2005-05-11 2011-12-07 Murata Manufacturing Co INFRARED SENSOR AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME
JP4661364B2 (ja) * 2005-05-26 2011-03-30 株式会社デンソー 光センサ
JP2007132730A (ja) * 2005-11-09 2007-05-31 Eko Instruments Trading Co Ltd 光触媒層を設けた日射計
JP2008026285A (ja) * 2006-07-25 2008-02-07 Konica Minolta Business Technologies Inc 温度検出装置および定着装置
JP5260859B2 (ja) * 2006-11-22 2013-08-14 パナソニック株式会社 赤外線検出装置
JP2009162508A (ja) * 2007-12-28 2009-07-23 Eko Instruments Trading Co Ltd 日射計
WO2010044438A1 (ja) * 2008-10-15 2010-04-22 株式会社村田製作所 熱センサ、非接触温度計装置、及び非接触温度測定方法
JP5658059B2 (ja) * 2011-03-03 2015-01-21 株式会社堀場製作所 熱型赤外線センサ
JP6291760B2 (ja) * 2012-09-18 2018-03-14 株式会社リコー 熱電対、サーモパイル、赤外線センサー及び赤外線センサーの製造方法
US9091596B2 (en) * 2013-08-09 2015-07-28 Davis Instruments Corporation UV irradiance sensor with improved cosine response

Also Published As

Publication number Publication date
US20170219428A1 (en) 2017-08-03
US20170227396A1 (en) 2017-08-10
EP3324159A4 (en) 2019-03-13
EP3324159A1 (en) 2018-05-23
CN108027277B (zh) 2020-06-30
JP2017058354A (ja) 2017-03-23
US9909919B2 (en) 2018-03-06
US10048122B2 (en) 2018-08-14
CN108027277A (zh) 2018-05-11
WO2017010022A1 (ja) 2017-01-19
JP6023942B1 (ja) 2016-11-09
JP2017058364A (ja) 2017-03-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6792113B2 (ja) 分光放射計
TWI714577B (zh) 光檢測裝置
US9528879B2 (en) Infrared detection element, infrared detector, and infrared type gas sensor
EP3480570A1 (en) Pyranometer and photometric device
WO2011083593A1 (ja) 非接触温度センサ
US20190186988A1 (en) Pyranometer and photometric device
JP5825632B2 (ja) 分光放射計の校正法
JP2009276126A (ja) サーモパイル型赤外線検出装置
JP2009162508A (ja) 日射計
US20220196466A1 (en) Pyranometer
KR102273126B1 (ko) 태양광 모듈의 광 투과율 측정 시스템
KR101469238B1 (ko) 적외선 광원 장치 및 이를 포함하는 가스 측정 광학계
KR101349707B1 (ko) 야외에서 사용 가능한 ftir 분광기 보정용 흑체
NL2030982B1 (en) Casing for irradiance sensors
Eppeldauer Optical Detector and Radiometer Standards
Wang et al. Vanadium oxide infrared detector with TiNx/SiO2/VOx absorption structure
CN102393253A (zh) 一种光谱微测辐射热计
JP2023179039A (ja) 赤外線センサ
CN116718275A (zh) 一种红外热电光谱成像系统及红外成像方法
KR20190134635A (ko) 광 검출 장치
Bliss et al. Measurement of flash solar simulator output spectra over bulb lifetime and the effects on spectral mismatch
JPS5832130A (ja) 照度計用光電変換装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160809

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190626

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200528

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200902

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20201001

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6792113

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250