JP6398810B2 - 内部温度測定装置及び温度差測定モジュール - Google Patents

内部温度測定装置及び温度差測定モジュール Download PDF

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Description

本発明は、内部温度測定装置と温度差測定モジュールとに関する。
皮下組織の熱抵抗Rxの個人差の影響を受けることなく、深部体温Tbを測定できるセンサモジュールとして、図10に示した構成のもの(例えば、特許文献1参照)が知られている。
このセンサモジュールは、以下の2式が成立するものである。
Tb=(Tt−Ta)Rx/R1+Tt …(1)
Tb=(Tt′−Ta′)Rx/R2+Tt′ …(2)
ここで、Ta、Ta′とは、それぞれ、図10において左側、右側に示してある熱流束センサの上面側の温度センサにより測定される温度のことである。Tt、Tt′とは、それぞれ、図10において左側、右側に示してある熱流束センサの下面側の温度センサにより測定される温度のことである。R1、R2とは、各熱流束センサの断熱材の熱抵抗のことである。
(1)、(2)式を組み合わせてRxを消去すれば、以下の(3)式を得ることが出来る。
従って、図10のセンサモジュールによれば、皮下組織の熱抵抗Rxの個人差の影響を受けることなく、深部体温Tbを算出することが出来る。
特開2007−212407号公報
上記センサモジュールは、Tbの算出に必要な情報を、複数の温度センサにて得るものとなっている。そして、温度センサの精度は、さほど高いものではない。そのため、センサモジュールには、熱抵抗及び熱容量が大きな断熱材が使用されており、その結果として、センサモジュールは、応答性が悪い(安定した、深部体温の測定結果が得られるまでに要する時間が長い)ものとなっている。
サーモパイルを備えたMEMSチップを温度差の測定に使用すれば、深部体温を測定するためのモジュールの熱抵抗及び熱容量が大きく減少するため、応答性がより良い形で深部体温を測定することが可能となる。ただし、MEMSチップが極めて小さな(2〜3mm角程度かそれ以下)デバイスであるため、MEMSチップを用いると、測定対象物以外の熱源からの熱流の影響により内部温度に推定誤差が生じ易い傾向がある。
そこで、本発明の課題は、測定対象物以外の熱源からの熱流の影響を受け難い内部温度測定装置及び温度差測定モジュールを提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明の、測定対象物の内部温度を測定する内部温度測定装置は、前記測定対象物の内部温度の算出時に、その一方の面が前記測定対象物の表面に接触させられる基材と、前記測定対象物の内部温度の算出に使用される第1温度差と第2温度差とを測定する、前記基材の他方の面上に配置されたMEMSデバイスであって、前記第1温度差を測定するための第1サーモパイル及び前記第2温度差を測定するための第2サーモパイルを含む天面部と、前記天面部を支持する、前記天面部に至る1つ以上の空洞が設けられている支持部とを備え、前記第1サーモパイルを構成している各熱電対の温接点から冷接点を見た向きと、前記第2サーモパイルを構成している各熱電対の温接点から冷接点を見た向きとが一致しているMEMSデバイスとを備える。
すなわち、サーモパイルは、サーモパイルによる温度差測定方向(サーモパイルの各熱電対の長さ方向)と平行な方向の温度勾配の影響を受けやすいものである。温度差測定方向が同じ複数のサーモパイルを備えたMEMSデバイスに、温度差測定方向と平行な方向の温度勾配が生じた場合、各熱電対の温接点から冷接点を見た向きが温度勾配の温度が上昇する方向と一致しているサーモパイルの出力は減少し、各熱電対の温接点から冷接点を見た向きが温度勾配の温度が上昇する方向の逆方向となっているサーモパイルの出力は増加する。そのため、各熱電対の温接点から冷接点を見た向きが異なる2サーモパイルの出力から内部温度を算出した場合、誤差が増幅されてしまうが、上記構成(各熱電対の温接点から冷接点を見た向きが同じ2サーモパイルの出力から内部温度を算出する構成)を採用しておけば、誤差が増幅されないようにすることが出来る。従って、本発明の内部温度測定装置は、測定対象物以外の熱源からの熱流の影響を受け難い装置として機能する。
本発明の内部温度測定装置の“基材”は、単一の部材(プリント配線板等)であっても、複数の部材を組み合わせた部材であっても良い。また、本発明の内部温度測定装置に、複数の第1サーモパイルと複数の第2サーモパイルとを備えたMEMSデバイスを用いておいても良い。
また、本発明の内部温度測定装置を、『前記MEMSデバイスにより測定された前記第1温度差及び前記第2温度差を用いて、前記内部温度を算出する演算回路を備えたプリント回路板と、複数のリードを備えた有底筒状のパッケージと、を備え、前記パッケージが、前記プリント回路板に設けられている貫通孔に挿入されており、前記基材が、前記パッケージの底部である』装置として実現しておいても良い。尚、有底筒状のパッケージとは、有底円筒状、有底楕円筒状、有底角筒状等の、底部と当該底部の周囲を囲繞する側壁部とを備えたパッケージのことである。
また、本発明の内部温度測定装置をそのような装置として実現する場合には、内部温度の測定精度を向上させるために、『前記パッケージの底部は、熱伝導性が良い第1材料で形成された2つの高熱伝導性部であって、前記第1材料よりも熱伝導性が悪い材料で隔離された2つの高熱伝導性部を含み、前記2つの高熱伝導性部の一方の高熱伝導性部の上方に、前記第1サーモパイルの各熱電対の温接点が位置し、他方の高熱伝導性部の上方に、前記第2サーモパイルの各熱電対の温接点が位置している』構成を採用しておいても良い。
本発明の、測定対象物の内部温度を算出するために使用される第1温度差及び第2温度差を測定する温度差測定モジュールは、複数のリードを備えた有底筒状のパッケージと、
前記パッケージの内底面上に配設されたMEMSデバイスであって、前記第1温度差を測定するための第1サーモパイル及び前記第2温度差を測定するための第2サーモパイルを含む天面部と、前記天面部を支持する、前記天面部に至る複数の空洞が設けられている支持部とを備え、前記第1サーモパイルを構成している各熱電対の温接点から冷接点を見た向きと、前記第2サーモパイルを構成している各熱電対の温接点から冷接点を見た向きとが一致しているMEMSデバイスとを備える。
この温度差測定モジュールから出力される第1温度、第2温度は、内部温度の算出時に、誤差が増幅されないものとなる。従って、本発明の温度差測定モジュールを用いて内部温度測定装置を製造すれば、測定対象物以外の熱源からの熱流の影響を受け難い内部温度測定装置を得ることが出来る。
本発明によれば、測定対象物以外の熱源からの熱流の影響を受け難い内部温度測定装置及び温度差測定モジュールを実現することが出来る。
図1は、本発明の一実施形態に係る内部温度測定装置の概略構成図である。 図2は、実施形態に係る内部温度測定装置の温度差測定モジュールに使用されているパッケージの斜視図である。 図3は、温度差測定モジュールに使用されるMEMSチップの具体例の説明図である。 図4は、温度差測定モジュールに使用されるMEMSチップの他の具体例の説明図である。 図5は、内部温度測定装置に関して行った実験の内容の説明図である。 図6は、実験結果の説明図である。 図7は、複数の伝熱パッドを設ける場合におけるパッケージの筐体底部の構成例の説明図である。 図8は、複数の伝熱パッドを設ける場合におけるパッケージの筐体底部の他の構成例の説明図である。 図9は、温度差モジュールの変形例の説明図である。 図10は、皮下組織の熱抵抗の個人差の影響を受けることなく、深部体温を測定できるセンサモジュールの説明図である。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
まず、図1及び図2を用いて、本発明の一実施形態に係る内部温度測定装置1の構成を説明する。図1は、本実施形態に係る内部温度測定装置1の概略構成図であり、図2は、内部温度測定装置1が備える温度差測定モジュール10のパッケージ11の構造を説明するための斜視図である。
本実施形態に係る内部温度測定装置1は、その表面近傍に非発熱体が存在する測定対象物(人体等)の内部温度を測定(推定)するための装置である。尚、内部温度測定装置10は、温度差測定モジュール10の下面(図1における下側の面)が測定対象物の表面に接触している状態で、測定対象物の内部温度を測定するものである。
図1に示してあるように、内部温度測定装置1は、プリント回路板30に設けられている貫通孔に、温度差測定モジュール10を挿入した構成を有している。
プリント回路板30は、温度差測定モジュール10を挿入するための貫通孔が設けられているプリント配線板31上に、演算回路32a等の各種デバイス32(抵抗、コンデンサ等)を実装したユニットである。演算回路32aは、温度差測定モジュール10が出力する温度差ΔT、温度差ΔT′、温度Trを表す3種の信号に基づき、測定対象物の内部温度Tbを算出(推定)する回路である。この演算回路32aとしては、例えば、以下の内部温度算出式により内部温度Tbを算出する回路が使用される。
尚、上記内部温度算出式におけるkは、測定対象物の表面近傍に存在する非発熱体の熱抵抗とは無関係に、MEMSチップ20の形状に基づき予め定められる比例係数である。
温度差測定モジュール10は、MEMSチップ20及びASIC26を、パッケージ11内に配置したモジュールである。
温度差測定モジュール10のパッケージ11は、図2に示した構成を有している。すなわち、パッケージ11は、略有底四角筒状の筐体12を備えている。パッケージ11の筐体12の対向する側壁12a、12bのそれぞれには、筐体12の下面と所定の間隔をもって側壁12a/12bを貫通する複数のリード13が設けられている。また、パッケージ11の各リード13の、筐体12下面との間の間隔は、プリント配線板31の貫通孔に温度差測定モジュール10の底部側を挿入したときに、温度差測定モジュール10の下面がプリント回路板30(プリント配線板31)の下面から突出するように定められている。
筐体12の底部(以下、筐体底部とも表記する)の、MEMSチップ20及びASIC26が配置される部分には、高熱伝導性の材料(本実施形態では、金属)からなる伝熱パッド14が配置されている。この伝熱パッド14は、筐体底部の、伝熱パッド14以外の部分と略同じ厚さの部材である。
筐体12の各側壁の構成材料は、通常、熱伝導性が悪い絶縁性材料(樹脂等)である。また、筐体底部の、伝熱パッド14以外の部分の構成材料も、通常、熱伝導性が悪い絶縁性材料であるが、筐体底部の、伝熱パッド14以外の部分の構成材料は、熱伝導性が良い導電性材料、熱伝導性が良い絶縁性材料であっても良い。
尚、筐体12の伝熱パッド14以外の部分(筐体12の各側壁及び筐体底部の伝熱パッド14以外の部分)の構成材料を、同じ樹脂としておけば、リード13用の金属板(いわゆるリードフレーム)と、伝熱パッド14用の金属板とを用いたモールド成形によりパッケージ11を容易に製造することが出来る。従って、筐体12の伝熱パッド14以外の部分の構成材料を、樹脂としておくことが好ましい。
ASIC26(図1)は、入出力用の複数の電極が、その上面に設けられている集積回路である。ASIC26は、MEMSチップ20の所定部分の温度として使用される温度Trを測定するための温度センサを内蔵している。また、ASIC26は、当該温度センサの出力(Trを表す信号)及びMEMSチップ20の出力(ΔT、ΔT′を表す信号)を増幅する機能と、増幅後の各出力をデジタルデータ化する機能とを有している。このASIC26としては、例えば、絶対温度に比例した電圧を出力するPTAT(Proportiona
l To Absolute Temperature)電圧源(つまり、温度計として機能する電圧源)を備え、PTAT電圧源の構成要素が温度センサとして機能する集積回路を使用することが出来る。
内部温度測定モジュール10に使用されるMEMSチップ20は、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)技術を用いて製造される、以下の3条件を満たす小サイズのデバイスである。
条件1:ほぼ同一形状の複数の熱電対を、互いに平行となるように、各熱電対の長さ方向に直交する方向に並べて直列接続した、温度差ΔTを測定するための1つ以上の第1サーモパイルを備える。
条件2:ほぼ同一形状の複数の熱電対を、互いに平行となるように、各熱電対の長さ方向に直交する方向に並べて直列接続した、温度差ΔT′を測定するための1つ以上の第2サーモパイルを備える。
条件3:温度差ΔT、ΔT′を測定するための各サーモパイル(第1,第2サーモパイル)の、各熱電対の温接点から冷接点を見た向きが、同じ向きである。
ここで、図3及び図4を用いて、上記条件1〜3を満たすMEMSチップ20の具体例(MEMSチップ20a及び20b)について、説明しておくことにする。尚、図3(A)は、MEMSチップ20aの上面図であり、図3(B)は、MEMSチップ20aの、図3(A)におけるX−X線断面図である。図4(A)は、MEMSチップ20bの上面図であり、図4(B)は、MEMSチップ20bの、図4(A)におけるX−X線断面図である。また、以下のMEMSチップ20a、20bの説明において、左、右とは、図3(A)及び(B)、図4(A)及び(B)における左、右のことである。
図3(B)及び図4(B)に示してあるように、MEMSチップ20a及び20bは、いずれも、天面部21と支持部22とを備える。
天面部21は、シリコン基板上に各種半導体プロセス(膜形成、レジストパターン形成、エッチング等)を用いて形成される部分である。支持部22は、天面部21を形成したシリコン基板を裏面側からエッチングすることにより形成される部分である。図3(B)及び図4(B)に示してあるように、支持部22は、天面部21に至る複数の空洞を有している。以下、支持部22の各空洞上に位置している、天面部21の部分のことを、メンブレン部と表記する。また、支持部22の各一点鎖線枠25内の部分(天面部21の、サーモパイル24による測温対象となっている部分下に位置している支持部22の部分等)のことを、脚部23と表記する。
図3(A)、(B)に示してあるように、MEMSチップ20aの天面部21内には、サーモパイル24b及び24dが設けられている。各サーモパイル24b、24dは、ほぼ同一形状の複数の熱電対を、互いに平行となるように、各熱電対の長さ方向に直交する方向にほぼ等間隔で並べて直列接続した構成を有している。また、サーモパイル24bとサーモパイル24dとは、温度差の測定方向(各熱電対の長さ方向)が同一方向となるように、天面部21内に形成されている。
サーモパイル24bを構成している各熱電対の温接点、冷接点は、それぞれ、MEMSチップ20aの左右方向の中央の脚部23上、MEMSチップ20aの左側の空洞上(MEMSチップ20aの左側のメンブレン部内)に配置されている。また、サーモパイル24dを構成している各熱電対の温接点、冷接点は、それぞれ、MEMSチップ20aの右側の脚部23上、MEMSチップ20aの右側の空洞上に配置されている。
要するに、このMEMSチップ20aのサーモパイル24bとサーモパイル24dとは
、各熱電対の温接点から冷接点を見た向きが同一のサーモパイルとなっている。従って、MEMSチップ20aは、条件3を満たしている。
また、図3(B)に示してあるように、MEMSチップ20aの右側の脚部23の左右方向の幅は、中央の脚部23のそれよりも広い。そして、サーモパイル24bの温接点は、天面部21の、中央の脚部23上の部分内に配置されており、サーモパイル24dの温接点は、天面部21の、右側の脚部23上の部分内に配置されている。そのため、サーモパイル24bにより測定される温度差、及び、サーモパイル24dにより測定される温度差は、一方をΔTとして、他方をΔT′として使用できるものとなる。すなわち、MEMSチップ20aは、条件1及び2も満たしている。
従って、MEMSチップ20aは、MEMSチップ20として使用できるものであることになる。
また、図4と図3とを比較すれば明らかなように、MEMSチップ20bは、MEMSチップ20aに、サーモパイル24a及び24cを追加したものとなっている。そして、MEMSチップ20bのサーモパイル24aが設けられている部分は、サーモパイル24dが設けられている部分を、MEMSチップ20bの左右方向の中心面で反転した構成を有している。また、MEMSチップ20bのサーモパイル24cが設けられている部分は、サーモパイル24bが設けられている部分を、MEMSチップ20bの左右方向の中心面で反転した構成を有している。
従って、このMEMSチップ20bは、サーモパイル24a、24cの一方が第1サーモパイルであり、他方が第2サーモパイルであるMEMSチップ20としても、サーモパイル24b、24dの一方が第1サーモパイルであり、他方が第2サーモパイルであるMEMSチップ20としても使用できるものとなっていることになる。
MEMSチップ20a、20bは、第1サーモパイル(ΔT測定用のサーモパイル)、第2サーモパイル(ΔT′測定用のサーモパイル)を1つずつ備えたものであるが、条件1〜3に定義されているように、MEMSチップ20は、温度差ΔT、ΔT′を測定するための複数の第1、第2サーモパイルを備えたものであっても良い。尚、温度差ΔT(ΔT′)を測定するための複数の第1(第2)サーモパイルは、サーモパイル間がMEMSチップ20内で直列又は並列に接続されたものであっても、サーモパイル間がMEMSチップ20内では接続されていないものであっても良い。
内部温度測定装置1の内部温度測定モジュール10には、MEMSチップ20a、20bのような、条件1〜3を満たすMEMSチップ20が使用される。そして、内部温度測定装置1は、MEMSチップ20の、各熱電対の温接点から冷接点を見た向きが同一となっている1つ以上の第1サーモパイル及び1つ以上の第2サーモパイルにより測定されたΔT、ΔT′が内部温度Tbの算出に使用されるように、温度差測定モジュール10を構成した(温度差測定モジュール10のMEMSチップ20、ASIC26、リード13間を結線した)ものとなっている。
以上、説明したように、本実施形態に係る内部温度測定装置1には、上記条件1〜3を満たすMEMSチップ20の、各熱電対の温接点から冷接点を見た向きが同一となっている複数のサーモパイルにより測定されたΔT、ΔT′を、内部温度Tbの算出に使用する構成が採用されている。従って、内部温度測定装置1は、測定対象物以外の熱源からの熱流がMEMSチップ20に流入しても内部温度Tbを正確に算出(推定)できる装置として機能する。
以下、上記構成が採用されている内部温度測定装置1が、測定対象物以外の熱源からの熱流がMEMSチップ20に流入しても内部温度Tbを正確に算出(推定)できる装置として機能する理由を説明する。尚、以下の説明において、上、下、左、右とは、図4(A)、(B)における上、下、左、右のことである。
MEMSチップ20b(図4)のサーモパイル24a、サーモパイル24cによって測定される温度差を、それぞれ、ΔT′、ΔTとした内部温度測定装置1と、MEMSチップ20bのサーモパイル24c、サーモパイル24dによって測定される温度差を、それぞれ、ΔT、ΔT′とした内部温度測定装置とを考える。また、後者の内部温度測定装置(以下、比較用装置と表記する)は、内部温度測定装置1と、MEMSチップ20b、ASIC26間の結線のみが異なる装置であるものとする。
MEMSチップ20bの各サーモパイル24は、左右方向の温度差を測定できるように、複数の熱電対を上下方向に並べて配置したものである。従って、MEMSチップ20bの各サーモパイル24の出力は、MEMSチップ20bの左右方向の温度勾配の影響を受けやすい。
また、MEMSチップ20bのサーモパイル24b及び24dの、各熱電対の温接点から冷接点を見た向きは、左向きであるが、サーモパイル24a及び24cの、各熱電対の温接点から冷接点を見た向きは、右向きである。そのため、測定対象物以外の熱源からの熱流により、比較対象装置内及び内部温度測定装置1内のMEMSチップ20bに左端側が高温側となる温度勾配が生じた場合、サーモパイル24a、サーモパイル24cによって測定される各温度差は増加し、サーモパイル24b、サーモパイル24dによって測定される温度差は減少する。
従って、上記温度勾配が生じた場合、サーモパイル24c、サーモパイル24dによって測定される温度差を、それぞれ、ΔT、ΔT′として使用する比較用装置では、本来の温度差よりも大きなΔTと本来の温度差よりも小さなΔT′と温度Trとから、内部温度Tbが算出される。また、サーモパイル24a、サーモパイル24cによって測定される温度差を、それぞれ、ΔT′、ΔTとして使用する内部温度測定装置1では、本来の温度差よりも小さなΔTと本来の温度差よりも小さなΔT′と温度Trとから、内部温度Tbが算出される。尚、上記説明及び以下の説明において、“本来の温度差”とは、“MEMSチップ20bに、測定対象物以外の熱源からの熱流に起因する温度勾配が生じていなかった場合にサーモパイル24により測定されていたはずの温度差”のことである。
そして、上記した内部温度算出式による内部温度Tbの算出時には、(ΔT′−ΔT)が演算されるが、この(ΔT′−ΔT)の演算結果は、本来の温度差よりも大きなΔT及び本来の温度差よりも小さなΔT′を用いた場合と、本来の温度差よりも小さなΔT及び本来の温度差よりも小さなΔT′を用いた場合とで、大きく異なる。
具体的には、例えば、サーモパイル24cによる温度差の測定結果ΔTの、測定対象物以外の熱源からの熱流の影響による増加量と、サーモパイル24dによる温度差の測定結果ΔT′の、測定対象物以外の熱源からの熱流の影響による減少量と、サーモパイル24aによる温度差の測定結果ΔT′の、測定対象物以外の熱源からの熱流の影響による増加量とが、共に、α(>0)である場合を考える。この場合、サーモパイル24cによる温度差の測定結果ΔTと、サーモパイル24dによる温度差の測定結果ΔT′とから演算される(ΔT′−ΔT)値は、本来の値よりも2αだけ小さな値となる。一方、サーモパイル24cによる温度差の測定結果ΔTと、サーモパイル24aによる温度差の測定結果ΔT′とから演算される(ΔT′−ΔT)値は、αが減算により打ち消されるため、本来の値と同じ値となる。
上記内部温度算出式から明らかなように、内部温度Tbは、(ΔT′−ΔT)値のみで決まる値ではないが、(ΔT′−ΔT)値の影響を大きく受ける。そして、条件1〜3を満たすMEMSチップ20の、各熱電対の温接点から冷接点を見た向きが同一となっているサーモパイルにより測定されたΔT、ΔT′を、内部温度Tbの算出に使用するという構成が採用されていれば、上記したように、測定対象物以外の熱源からの熱流により(ΔT′−ΔT)値が本来の値から大きくずれることを抑止することが出来る。そのため、本実施形態に係る内部温度測定装置1は、測定対象物以外の熱源からの熱流がMEMSチップ20に流入しても内部温度Tbを正確に算出(推定)できる装置として機能するのである。
以上、本実施形態に係る内部温度測定装置1の作用効果を定性的に説明したが、上記作用効果は、実験によっても確認されている。
具体的には、作用効果の説明に用いたものと同構成の、MEMSチップ20bを図5(A)に示したある姿勢でパッケージ11内に配置した内部温度測定装置1及び比較用装置1′のそれぞれについて、以下の実験を行った。
シリコーンゴムを載置した温度制御可能なステージ上に、内部温度測定装置1/比較用装置1′を配置し、図5(B)に示してある位置に1kΩのセメント抵抗40を配置した。そして、電圧(0V、2V、4V)の印加によりセメント抵抗40を加熱し、内部温度Tbの推定誤差(ステージの温度と内部温度Tbの算出結果の差)を測定した。尚、図5(B)に示してある部材15は、上方から温度差測定モジュール10内に光が入射することや、上方の空気温度が気流等により変化することを防止するために、温度差測定モジュール10の上面(上側の開口部)を塞いでいる蓋部15である。
図6に、上記実験の結果を示す。この図6に示してあるように、サーモパイル24cとサーモパイル24dの出力からTbを算出する比較用装置1′では、プリント回路板30の右端側の温度が上昇するにつれ、推定誤差が大きくなる。一方、サーモパイル24aとサーモパイル24cの出力からTbを算出する内部温度測定装置1では、プリント回路板30の右端側の温度に因らず、推定誤差は小さな値となっている。
このように、上記構成によれば、測定対象物以外の熱源からの熱流のMEMSチップ20(20b等)への流入時に内部温度Tbの推定誤差が大きくなるのを抑止することが出来る。
《変形形態》
上記した内部温度測定装置1は、各種の変形を行うことが出来るものである。例えば、内部温度測定装置1に採用されている『条件1〜3を満たすMEMSチップ20の、各熱電対の温接点から冷接点を見た向きが同一となっている1組のサーモパイルにより測定されたΔT、ΔT′を、内部温度Tbの算出に使用する』という構成は、MEMSチップ20が配置されている部材が何であっても効果があるものである。従って、内部温度測定装置1を、MEMSチップ20がプリント配線板30上に配置されている装置に変形することが出来る。
また、筐体底部の、MEMSチップ20及びASIC26が配置される部分を、高熱伝導性の伝熱パッド14としているのは、原則として、筐体底部の厚さ方向の熱伝導性が良い方が内部温度Tbの推定誤差が少なくなるためである。ただし、採用するMEMSチップ20の形状によっては、伝熱パッド14の横方向(厚さ方向に垂直な方向)の熱伝導性が良いが故に、推定誤差が大きくなってしまうこともある。従って、筐体底部に伝熱パッ
ド14を設けることなく、筐体底部を、熱伝導性が比較的に悪い材料で形成しておいても良い。
また、筐体底部の横方向の熱伝導により推定誤差が増大するのを抑止するために、筐体底部を、熱伝導性が悪い部材で隔離された複数の伝熱パッド14を有するものとしておいても良い。以下、図7、図8を用いて、熱伝導性が悪い部材で隔離された複数の伝熱パッド14を有する筐体底部について、具体的に説明する。尚、図7(A)は、熱伝導性が悪い部材19で隔離された複数の伝熱パッド14を有する筐体底部の説明図(温度差測定モジュール10の、パッケージ11の側壁部分の図示を省略した上面図)である。図7(B)は、筐体底部の、図7(A)におけるX−X線断面図である。尚、図8(A)は、熱伝導性が悪い部材19で隔離された複数の伝熱パッド14を有する他の筐体底部の説明図であり、図8(B)は、当該筐体底部の、図8(A)におけるX−X線断面図である。
温度差測定モジュール10は、基本的には、MEMSチップ20の各脚部23の下面温度が他の脚部23の下面温度の影響を受けないこと(各脚部23の下面温度が測定対象物から流入する熱量及びMEMSチップ20の上方の空気温度のみに依存すること)が望まれるものである。従って、図7に示したように、MEMSチップ20の各脚部23下に、他の伝熱パッド14とは、熱伝導性が悪い部材19により熱的に隔離された伝熱パッド14が存在するようにしておいても良い。尚、MEMSチップ20の図7における下側の脚部23下の伝熱パッド14が、ASIC26下まで延びているのは、ASIC26の温度センサにより測定される温度Trを、MEMSチップ20の特定部分の温度として使用できるものとするためである。
ただし、MEMSチップ20の構成(使用するサーモパイル24のMEMSチップ20内での位置)によっては、幾つかの脚部23の下面温度が同一であっても良い(又は同一であった方が良い)場合もある。従って、図8に示したように、筐体底部に設ける複数の伝熱パッド14の中の幾つか(図8では、1つ)を、複数の脚部23下に位置するものとしておいても良い。
図5には、MEMSチップ20を、その温度差測定方向(サーモパイル24の各熱電対の長さ方向)がパッケージ11のリード13が設けられている各側壁の壁面と直交する姿勢でパッケージ11内に配置した温度差測定モジュール10を示したが、MEMSチップ20のパッケージ11内の位置/姿勢は、特に限定されない。例えば、図9に示したように、MEMSチップ20を、その温度差測定方向(サーモパイル24の各熱電対の長さ方向)がパッケージ11のリード13が設けられている各側壁の壁面と平行となるようにパッケージ11内に配置しても良い。また、MEMSチップ20をパッケージ11内に斜めに配置しても良い。
温度差測定モジュール10は、上方の空気温度が低い方が感度が高くなるモジュールである。従って、温度差測定モジュール10の開口部(上面)を蓋部15で覆う場合には、蓋部15の下面に、赤外線を吸収する部材を設けておいても良い。また、温度差測定モジュール10の蓋部15として、放熱性が良い形状を有する部材、例えば、放熱フィンを備えた部材や、面積が、温度差測定モジュール10の開口部の面積の数倍ある部材を採用しておいても良い。
また、蓋部15を設けることなく、温度差測定モジュール10の下面以外の部分を、筐体で囲っておいても良い。尚、この場合も、筐体の、温度差測定モジュール10の開口部上の部分に、赤外線を吸収する部材を設けておくことにより、内部温度測定装置の感度を向上させることが出来る。
上方から入射した光が、温度差測定モジュール10の内面で反射してMEMSチップ20に入射されることを防ぐためや、温度差測定モジュール10内の空気温度を安定化させるために、温度差測定モジュール10(パッケージ11、筐体12)の内面を、黒色の部材、例えば、黒色の塗料、黒色の樹脂で被覆しておいても良い。
また、内部温度測定装置1を人体の深部体温の測定に使用する場合には、温度差測定モジュール10の下面に、生体適合性を有する絶縁性のフィルムや樹脂部材等を固定しておいても良い。また、測定対象物との間の熱的接触性を良好なものとするために、下面が、中央部分が下方に突出した曲面状になるように、又は、下面に曲面からなる凸構造が複数存在するように、温度差測定モジュール10を製造しておいても良い。
内部温度測定装置1のパッケージ11(筐体12)の形状を、上記形状とは異なる形状(有底四角筒状以外の有底角筒状、有底円筒状、有底楕円筒状等)としておいても良い。また、上記技術は、MEMSチップ20が配置されている部材によらず適用できるものである。従って、内部温度測定装置1を、パッケージ11が用いられていない装置(MEMSチップ20がプリント配線板30上に配置されている装置等)に変形しても良い。
1 内部温度測定装置
10 温度差測定モジュール
11 パッケージ
12,18 筐体
12a、12b 側壁
13 リード
14 伝熱パッド
15 蓋部
20 MEMSチップ
21 天面部
22 支持部
23 脚部
24,24a,24b、24c サーモパイル
26 ASIC
30 プリント回路板
31 プリント配線板
32 デバイス
32a 演算回路

Claims (4)

  1. 測定対象物の内部温度を測定する内部温度測定装置において、
    前記測定対象物の内部温度の算出時に、その一方の面が前記測定対象物の表面に接触させられる基材と、
    前記測定対象物の内部温度の算出に使用される第1温度差と第2温度差とを測定する、前記基材の他方の面上に配置されたMEMSデバイスであって、前記第1温度差を測定するための第1サーモパイル及び前記第2温度差を測定するための第2サーモパイルを含む天面部と、前記天面部を支持する、前記天面部に至る1つ以上の空洞が設けられている支持部とを備え、前記第1サーモパイルを構成している各熱電対の温接点から冷接点を見た向きと、前記第2サーモパイルを構成している各熱電対の温接点から冷接点を見た向きとが一致しているMEMSデバイスと、
    を備えることを特徴とする内部温度測定装置。
  2. 前記MEMSデバイスにより測定された前記第1温度差及び前記第2温度差を用いて、前記内部温度を算出する演算回路を備えたプリント回路板と、
    複数のリードを備えた有底筒状のパッケージと、
    を備え、
    前記パッケージが、前記プリント回路板に設けられている貫通孔に挿入されており、
    前記基材が、前記パッケージの底部である
    ことを特徴とする請求項1に記載の内部温度測定装置。
  3. 前記パッケージの底部は、熱伝導性が良い第1材料で形成された2つの高熱伝導性部であって、前記第1材料よりも熱伝導性が悪い材料で隔離された2つの高熱伝導性部を含み、
    前記2つの高熱伝導性部の一方の高熱伝導性部の上方に、前記第1サーモパイルの各熱電対の温接点が位置し、他方の高熱伝導性部の上方に、前記第2サーモパイルの各熱電対の温接点が位置している
    ことを特徴とする請求項2に記載の内部温度測定装置。
  4. 測定対象物の内部温度を算出するために使用される第1温度差及び第2温度差を測定する温度差測定モジュールであって、
    複数のリードを備えた有底筒状のパッケージと、
    前記パッケージの内底面上に配設されたMEMSデバイスであって、前記第1温度差を測定するための第1サーモパイル及び前記第2温度差を測定するための第2サーモパイルを含む天面部と、前記天面部を支持する、前記天面部に至る複数の空洞が設けられている支持部とを備え、前記第1サーモパイルを構成している各熱電対の温接点から冷接点を見た向きと、前記第2サーモパイルを構成している各熱電対の温接点から冷接点を見た向きとが一致しているMEMSデバイスと、
    を備えることを特徴とする温度差測定モジュール。
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