JP6784638B2 - 硬化性有機ケイ素樹脂組成物 - Google Patents
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Description
(A)R1SiO3/2単位を全シロキサン単位の合計モル数に対して30モル%以上で有し、ケイ素原子に結合したアルコキシ基を0.001〜2mol/100gの範囲となる量で有し、且つ、ケイ素原子に結合した水酸基を1.0mol/100g以下となる量で有し、及び−O1/2Si(R1)2−R3−Si(R1)2O1/2−単位を全シロキサン単位の合計モル数に対して15〜70mol%で有するオルガノポリシロキサン、
(上記式中、R1は互いに独立に、水素原子、水酸基、または炭素数1〜10の置換又は非置換の1価炭化水素基であり、R3はケイ素原子を有してよい炭素数1〜12の2価炭化水素基である)
(B)下記式(1)で表される有機ホウ素化合物
BR 2 3 (1)
(上記式中、R 2 は炭素数1〜10の1価炭化水素基、炭素数1〜10のアルコキシ基又はアルコキシアルキル基、炭素数1〜10のフッ素原子含有1価炭化水素基、及び炭素数1〜10の1価炭化水素基を有するトリオルガノシリル基又はトリオルガノシロキシ基から選ばれる基である)、及び
(C)縮合触媒
を含み、
前記(B)成分の含有量が、ホウ素元素の量として該組成物全体の質量に対して0.001ppm〜50,000ppmとなる量である、硬化性有機ケイ素樹脂組成物を提供する。
更に本発明は、該硬化性有機ケイ素樹脂組成物の硬化物を備える半導体装置を提供する。
[(A)縮合反応硬化型オルガノポリシロキサン]
本発明は、縮合反応硬化型オルガノポリシロキサンが、R1SiO3/2単位を全シロキサン単位の合計モル数に対して30モル%以上で含み、ケイ素原子に結合した水酸基を1.0mol/100g以下となる量で有し、及び、ケイ素原子に結合したアルコキシ基を0.001〜2mol/100gの範囲内となる量で含むことを特徴とする。該オルガノポリシロキサンは、−O1/2Si(R1)2−R3−Si(R1)2O1/2−で表される構造を有していてもよい。また該オルガノポリシロキサンは、ケイ素原子結合アリール基を少なくとも1つ有するのが好ましい。本発明においてケイ素原子に結合した水酸基量及びアルコキシ基量は、1H−NMR及び29Si−NMRによって測定される値である。
[測定条件]
展開溶媒:テトラヒドロフラン(THF)
流量:0.6mL/min
検出器:示差屈折率検出器(RI)
カラム:TSK Guardcolumn SuperH−L
TSKgel SuperH4000(6.0mmI.D.×15cm×1)
TSKgel SuperH3000(6.0mmI.D.×15cm×1)
TSKgel SuperH2000(6.0mmI.D.×15cm×2)
(いずれも東ソー社製)
カラム温度:40℃
試料注入量:20μL(濃度0.5重量%のTHF溶液)
(B)成分は有機ホウ素化合物である。本発明の組成物は該有機ホウ素化合物を特定量で含有することを特徴とする。本発明において、有機ホウ素化合物とは、ホウ素原子と有機基を有する狭義の有機ホウ素化合物の他に、ホウ酸及びホウ酸の誘導体を包含する意味である。また、本発明において有機基とは、炭素及び水素を含み、また窒素、酸素、硫黄、ケイ素、フッ素等を含んでもよい基である。有機ホウ素化合物は触媒として上記した縮合反応を進行させるために機能する。該有機ホウ素化合物を後述する特定量で含有することにより、組成物は速やかに硬化して硬化物を与え、且つ、高い耐熱性及び接着性を有することができる。
R’ nB(OH)m(OR’’)(3−n−m)
式中、nは0〜3の整数であり、mは0〜2の整数である。R’’は炭素数1〜10の一価炭化水素基であり、2個のR’’が結合して環状有機基を形成してもよく、R’はフッ素原子又はケイ素原子を有してよい炭素数1〜10の一価炭化水素基であり、2個のR’が結合して環状有機基を形成してもよい。上記式で表される化合物の2以上がエーテル結合等で結合している化合物でもよい。環状有機基を有する有機ホウ素化合物とは、例えば以下のものを挙げることができる。R2は後述する通りである。
BR2 3 (1)
上記式中、R2は炭素数1〜10の1価炭化水素基、炭素数1〜10のアルコキシ基又はアルコキシアルキル基、炭素数1〜10のフッ素原子含有1価炭化水素基、及び炭素数1〜10の1価炭化水素基を有するトリオルガノシリル基又はトリオルガノシロキシ基から選ばれる基である。
(C)成分は縮合触媒であり、オルガノシロキサンのケイ素原子に結合した水酸基における縮合反応を促進するために機能する。縮合触媒は、シロキサンの縮合反応に用いられる従来公知の触媒であればよい。
本発明の硬化性有機ケイ素樹脂組成物は、さらに(D)成分として、シラノール基含有直鎖状オルガノポリシロキサンを含有してもよい。(D)成分の量は硬化性有機ケイ素樹脂組成物全体の質量に対して60質量%以下であるのがよく、より好ましくは10〜50質量%である。
本発明の硬化性有機ケイ素樹脂組成物には、さらに(E)環状オルガノポリシロキサンを含有しても良い。該オルガノポリシロキサンとして特に好ましくは、下記式(4)で示される有機ケイ素化合物である。
本発明の硬化性有機ケイ素樹脂組成物は、更に(F)蛍光体を含有してもよい。本発明の硬化性有機ケイ素樹脂組成物は耐熱耐光性に優れるため、蛍光体を含有する場合であっても、従来のように蛍光特性が著しく低下する恐れがない。
また、本発明は、上記硬化性有機ケイ素樹脂組成物の硬化物で半導体素子が封止された半導体装置を提供する。
(A)成分として、MeSiO3/2単位50mol%、及び下記式(2’)
実施例1における(A)成分を、MeSiO3/2単位40mol%、PhSiO3/2単位10mol%、Ph2SiO2/2単位20mol%、及び下記式(2’)
実施例1における(A)成分を、MeSiO3/2単位50mol%、PhSiO3/2単位20mol%、Ph2SiO2/2単位30mol%からなるレジン構造のフェニルメチルポリシロキサン(Mw=6,000、ケイ素原子に結合した水酸基量0.9mol/100g、メトキシ基量0.003mol/100g)に替えた他は、実施例1を繰り返して硬化性有機ケイ素樹脂組成物3を得た。
実施例1の組成にさらに(D)成分として、下記式(3’)
実施例1の組成にさらに(E)成分として、下記式(4’’)
(A)成分として、MeSiO3/2単位50mol%、
及び下記式(2’)
MeSiO3/2単位50mol%、
及び下記式(2’)
MeSiO3/2単位60mol%、
及び下記式(2’)
MePhSiO2/2単位50mol%、
及び下記式(2’)
MeSiO3/2単位20mol%、PhSiO3/2単位50mol%、及び下記式(2’)
MeSiO3/2単位40mol%、PhSiO3/2単位30mol%、
及び下記式(2’)
MeSiO3/2単位40mol%、PhSiO3/2単位30mol%、
及び下記式(2’)
(1)外観
各組成物を150℃で4時間硬化して得られた硬化物(厚さ1mm)の色と透明性を目視にて確認した。
(2)性状
硬化前の各組成物の流動性を確認した。100mlのガラス瓶に50gの組成物を加え、ガラスビンを横に倒して25℃で10分間静置した。その間に組成物が流れ出せば液状であると判断した。
(3)屈折率
各組成物を150℃で4時間硬化して得られた硬化物の589nm、25℃における屈折率を、JIS K 7142:2008に準拠して、アッベ型屈折率計により測定した。
(4)硬さ(タイプA)
各組成物を150℃で4時間硬化して得られた硬化物の硬さを、JIS K 6249:2003に準拠して、デュロメータA硬度計を用いて測定した。
(5)切断時伸び及び引張強さ
各組成物を150℃で4時間硬化して得られた硬化物の切断時伸び及び引張強さを、JIS K 6249:2003に準拠して測定した。
(6)耐熱性(光透過率保持率)及び耐クラック性
各組成物を150℃で4時間硬化して得られた硬化物(厚さ1mm)の波長450nmにおける光透過率を、日立製分光光度計U−4100を用いて23℃で測定した(初期透過率)。次いで、この硬化物を250℃で1,000時間熱処理した後、同様に光透過率を測定して、初期透過率(100%)に対する熱処理後の光透過率を求めた。また熱処理後の硬化物におけるクラックの有無を目視で確認した。さらに、熱処理後の硬化物の重量を測定し、熱処理前の重量(100%)に対する熱処理後の重量(%)を表1及び2に記載する。
(7)接着性
各組成物0.25gを、面積180mm2の銀メッキ板に底面積が45mm2となるように成形し、150℃で4時間硬化させた後、ミクロスパチュラを用いて硬化物を破壊し、銀板から剥ぎ取る際に、凝集破壊した部分の割合と剥離した部分との割合とを求めた。接着性を以下の基準に基づき判定した。
(判定基準)
凝集破壊の割合が60%以上である:接着性が良好である(○)
凝集破壊の割合が60%未満である:接着性が不良である(×)
(8)表面タック性による埃の付着
各組成物を150℃で4時間硬化して得られた硬化物の表面における埃の付着の有無を目視にて確認した。
(9)硬化性
各組成物1.0gを、TOWA社製成形機Y−1Eを用いて、150℃5分の条件で成形し、上記成形条件においてガラスエポキシ基板上に樹脂の成形物が形成できるか確認した。下記基準に基づいて成形性を評価した。
(判定基準)
○:剥離や樹脂破れなく、正常に成形ができた
×:剥離や樹脂破れが発生
Claims (8)
- (A)R1SiO3/2単位を全シロキサン単位の合計モル数に対して30モル%以上で有し、ケイ素原子に結合したアルコキシ基を0.001〜2mol/100gの範囲となる量で有し、且つ、ケイ素原子に結合した水酸基を1.0mol/100g以下となる量で有し、及び−O1/2Si(R1)2−R3−Si(R1)2O1/2−単位を全シロキサン単位の合計モル数に対して15〜70mol%で有するオルガノポリシロキサン、
(上記式中、R1は互いに独立に、水素原子、水酸基、または炭素数1〜10の置換又は非置換の1価炭化水素基であり、R3はケイ素原子を有してよい炭素数1〜12の2価炭化水素基である)
(B)下記式(1)で表される有機ホウ素化合物
BR 2 3 (1)
(上記式中、R 2 は炭素数1〜10の1価炭化水素基、炭素数1〜10のアルコキシ基又はアルコキシアルキル基、炭素数1〜10のフッ素原子含有1価炭化水素基、及び炭素数1〜10の1価炭化水素基を有するトリオルガノシリル基又はトリオルガノシロキシ基から選ばれる基である)、及び
(C)縮合触媒
を含み、
前記(B)成分の含有量が、ホウ素元素の量として該組成物全体の質量に対して0.001ppm〜50,000ppmとなる量である、硬化性有機ケイ素樹脂組成物。 - (A)オルガノポリシロキサンがケイ素原子結合アリール基を少なくとも1つ有する、請求項1記載の硬化性有機ケイ素樹脂組成物。
- (A)オルガノポリシロキサンが、全シロキサン単位の合計モル数に対して、SiO4/2単位を0〜20mol%で有し、R1SiO3/2単位を30〜80mol%で有し、(R1)2SiO2/2単位を0〜70mol%で有し、(R1)3SiO1/2単位を0〜20mol%で有し、及びO1/2Si(R1)2−R3−(R1)2SiO1/2単位を0〜70mol%で有し(前記各式中、R1は上記の通りである)、及び、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー測定による標準ポリスチレン換算の重量平均分子量2,000〜100,000を有する、請求項1または2記載の硬化性有機ケイ素樹脂組成物。
- (A)成分が、全シロキサン単位の合計モル数に対してR1SiO3/2単位30〜70mol%、(R1)2SiO2/2単位15〜50mol%、及びO1/2Si(R1)2−R3−(R1)2SiO1/2単位15〜50mol%からなる、請求項3記載の硬化性有機ケイ素樹脂組成物。
- (A)成分が、全シロキサン単位の合計モル数に対してR1SiO3/2単位30〜80mol%、及びO1/2Si(R1)2−R3−(R1)2SiO1/2単位20〜70mol%からなる、請求項3記載の硬化性有機ケイ素樹脂組成物。
- 請求項1〜7のいずれか1項記載の硬化性有機ケイ素樹脂組成物の硬化物を備える半導体装置。
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