JP6759455B2 - 潤滑式コンタクト素子およびその製造方法 - Google Patents
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Description
この問題を克服するために、当技術分野の解決策は、顧客仕様の範囲内の差し込み力で最終差し込み状態を得るために、追加の潤滑または機械手段、たとえばてこを適用する。
1 コンタクト素子
1a 前処理されたコンタクト素子
1b 構造化されたコンタクト素子
3 上面図
5 切断側面図
7 第1の実施形態
9 第2の実施形態
10 第3の実施形態
11 線
13 基板
15 マスキング層
17 導電層
19 導電層の部分
21 行列
23 マスキング層の部分
25 交互領域
27 コンタクトパターン
29 電気アセンブリ
31 コンタクト側
32 コンタクト面
33 中間層
35 ニッケル層またはニッケル合金層
37 非マスキング領域
39 第1の層厚さ
41 第2の層厚さ
43 基板厚さ
45 ポリマー
47 潤滑性充填媒体
48 導電性充填媒体
49 銅
51 銅合金
53 コンタクト材料
55 ニッケル
57 ニッケル合金
59 貴金属
61 すず
63 有効硬度
65 噴霧
66 印刷
67 液体のマスキング材料
69 ノズル
70 印刷ノズル
71 浸漬
73 動きの矢印
75 液体用容器
77 感光性充填媒体
79 光化学処理
81 光
83 マスクキャリア
85 不透明領域
87 透明領域
89 非照射部分
91 照射された部分
93 変位処理
95 変位部材
97 堆積前の状態
99 最終状態
101 可撓性の管
103 印刷アセンブリ
105 並進手段
107 レーザアブレーション
109 レーザ
109a パルスレーザ
111 レーザ光
113 走査鏡デバイス
115 部分的にアブレーションされた部分
117 残り部分
x x方向
y y方向
Claims (15)
- 電気アセンブリ(29)のためのコンタクト素子(1)であって、
前記コンタクト素子(1)は、銅(49)または銅合金(51)を含有する基板(13)と、貴金属(59)またはすず(61)を含有する少なくとも1つの導電層(17)と、少なくとも1つのマスキング層(15)と、を備え、
前記少なくとも1つのマスキング層(15)は、ポリマーから形成されており、かつ、潤滑性フィラー(47)または/および導電性フィラー(48)をさらに含み、
前記コンタクト素子(1)の一面側(31)が、前記少なくとも1つのマスキング層(15)および前記少なくとも1つの導電層(17)によって少なくとも一部覆われ、
前記少なくとも1つのマスキング層(15)および前記少なくとも1つの導電層(17)は、相手側コンタクト素子との接触面(32)を形成し、
前記少なくとも1つのマスキング層(15)および前記少なくとも1つの導電層(17)は、同一面上に交互に配置されている、
コンタクト素子(1)。 - 前記少なくとも1つの導電層(17)は、前記基板(13)上に直接設けられている、
請求項1に記載のコンタクト素子(1)。 - 前記マスキング層(15)は、前記潤滑性フィラー(47)および前記導電性フィラー(48)を含む、
請求項1または2に記載のコンタクト素子(1)。 - 前記ポリマーは、ポリメチルメタクリレート、ポリエチレン、ポリ塩化ビニル、ポリエチレンテレフタラート、ポリカーボネート、ポリウレタンのうち、少なくとも1つである、
請求項1から3のいずれか一項に記載のコンタクト素子(1)。 - 前記基板(13)と、前記少なくとも1つのマスキング層(15)および前記少なくとも1つの導電層(17)のうちの少なくとも1つとの間に、中間層(33)が配置されており、
前記中間層(33)は、ニッケル(55)またはニッケル合金(57)のうちの1つを含有する、
請求項1、3、4のいずれか一項に記載のコンタクト素子(1)。 - 電気アセンブリ(29)のためのコンタクト素子(1)であって、
前記コンタクト素子(1)は、銅(49)または銅合金(51)を含有する基板(13)と、貴金属(59)またはすず(61)を含有する少なくとも1つの導電層(17)と、少なくとも1つのマスキング層(15)と、を備え、
前記少なくとも1つのマスキング層(15)は、ポリマーから形成されており、
前記コンタクト素子(1)の一面側(31)が、前記少なくとも1つのマスキング層(15)および前記少なくとも1つの導電層(17)によって少なくとも一部覆われ、
前記少なくとも1つのマスキング層(15)および前記少なくとも1つの導電層(17)は、相手側コンタクト素子との接触面(32)を形成し、
前記少なくとも1つのマスキング層(15)および前記少なくとも1つの導電層(17)は、同一面上に交互に配置されているとともに、
前記基板(13)と、前記少なくとも1つのマスキング層(15)および前記少なくとも1つの導電層(17)のうちの少なくとも1つとの間に、中間層(33)が配置されており、
前記中間層(33)は、ニッケル(55)またはニッケル合金(57)のうちの1つを含有する、
コンタクト素子(1)。 - 前記中間層(33)は、1μm〜3μmの厚さ(39)を有する、
請求項5または6に記載のコンタクト素子(1)。 - 電気アセンブリ(29)のためのコンタクト素子(1)を形成する方法であって、
銅(49)または銅合金(51)を含有する基板(13)を、ポリマーを用いてマスキングして前記基板(13)上に前記ポリマーを含有するマスキング層(15)を形成するステップと、
前記マスキング層(15)を部分的に除去することによって、少なくとも1つの非マスキング領域(37)を形成するステップと、
前記少なくとも1つの非マスキング領域(37)の少なくとも一部に貴金属(59)またはすず(61)を含有する導電層(17)を堆積させるステップと、
を含む方法。 - 前記マスキングは、液状のポリマーを用いて行われる、
請求項8に記載の方法。 - 前記ポリマーは、ポリメチルメタクリレート、ポリエチレン、ポリ塩化ビニル、ポリエチレンテレフタラート、ポリカーボネート、ポリウレタンのうち、少なくとも1つである、
請求項8または9に記載の方法。 - 前記マスキング層(15)を形成するステップの前に、
前記基板(13)上に、ニッケル(55)またはニッケル合金(57)を含有する中間層(33)を形成するステップをさらに含む、
請求項8から10のいずれか一項に記載の方法。 - 前記マスキング層(15)は導電性フィラー(48)および潤滑性フィラー(47)のうちの少なくとも1つをさらに含む、
請求項8から11のいずれか一項に記載の方法。 - 前記マスキング層(15)は感光性フィラー(77)をさらに含む、
請求項8から11のいずれか一項に記載の方法。 - 前記少なくとも1つの非マスキング領域(37)を形成するステップでは、前記基板(13)の表面の一部が露出するように、前記マスキング層(15)は部分的に除去される、
請求項8に記載の方法。 - 前記少なくとも1つの非マスキング領域(37)を形成するステップでは、レーザアブレーションまたは電子ビームアブレーションが行われる、
請求項8に記載の方法。
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