JP6725098B2 - 有機トランジスタおよびガスセンサ - Google Patents

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Description

本出願は、2016年6月8日付で韓国特許庁に出願された韓国特許出願第10−2016−0071224号の出願日の利益を主張し、その内容のすべては本明細書に組み込まれる。
本明細書は、有機トランジスタおよびガスセンサに関する。
薄膜形態の電界効果トランジスタ(field−effect transistor、FET)は、ソース電極、ドレイン電極、ゲート電極、絶縁層、および半導体層から構成されているが、最近、単分子、高分子、およびオリゴマーのような有機物質を半導体層に適用した有機トランジスタに対する関心が高まっている。
有機物質の中でも、溶液工程用の単分子は、フレキシブル基板に適用可能で、低温工程が可能であり、大面積の適用が可能で工程性が向上し、経済的である。また、高分子対比、バッチ・ツー・バッチ(batch−to−batch)の差がないことから、半導体層への適用時、商用化に有利である。
一方、有機トランジスタの構造は、ゲート電極の位置によって、上部ゲート(top gate)または下部ゲート(bottom gate)構造を有することができ、下部ゲート構造では、ソース/ドレイン電極が半導体層の上または下に位置するかによって、上部接触(top contact)または下部接触(bottom contact)構造に分けられる。
上部ゲート構造は、半導体層がソース電極およびドレイン電極と接触する面積が相対的に広いため、性能の面で有利であり得、半導体層上に上部電極を塗布するため、空気安定性の面で有利であり得る。反面、下部ゲート構造は、上部ゲート構造対比、安定性の面で不利であり得る。
有機トランジスタの性能は、電荷の移動度、on−off電流比率(on/off ratio)などで評価することができ、有機トランジスタの性能向上のために高性能の有機半導体の開発が必要である。
一方、ガスセンサは、様々な場所に設けられ、我々が生活する大気、環境中の有害物質および汚染物質をモニタリングする重要な役割を担っており、どれだけ速く反応できるかを示す迅速性、どれだけ微細な量が検出されても反応できるかを示す敏感性、どれだけ長く動作できるかを示す耐久性、そして、消費者がどれだけ負担なくセンサを使用できるかを示す経済性などの特性を要求している。また、既存の半導体工程技術と結合するためには、集積化、並びやすさの特性を有していなければならない。
このようなガスセンサの動作原理では、ガス量の変化に応じて抵抗値が変化することを利用した半導体型と、一定の周波数を持って振動している振動子にガスが吸着されると振動数が変化することを利用した振動子型とがある。大部分のガスセンサは、回路が簡単で、常温で安定した熱的特性を示す半導体型を用いている。
半導体型ガスセンサは、無機素材のシリコン半導体が原子間共有結合により半導体結晶をなす無機半導体型ガスセンサ、および導電性高分子の分子結合すなわち、ファンデルワールス相互作用で結合された有機半導体型ガスセンサがある。このうち、酸化スズベースのガスセンサは、センサ作動のために高い温度を必要としてマイクロヒータを内蔵した製品が市販されているが、この問題点によって薄膜化に困難がある。また、感度が50ppm以下のガス濃度は測定が不可能で、広範囲の適用に制限がある。
有機半導体ベースのガスセンサは、半導体素材を有機溶媒に溶解させて、多様な印刷工程により溶液状に製造可能なため、既存のガスセンサの製造費用を画期的に低減することができる。したがって、最近、インクジェット印刷などの印刷工程により有機半導体をセンシング物質として報告する印刷型ガスセンサについて活発に研究されているが、センシングのための多様な有機半導体素材に対する研究は相対的に不十分であるのが現状である。
本明細書は、有機トランジスタおよびガスセンサを提供する。
本明細書の一実施態様は、下記化学式1で表される化合物を含む有機半導体層を含む有機トランジスタを提供する。
[化学式1]
前記化学式1において、
n1〜n6はそれぞれ、1〜3の整数であり、
n1〜n6がそれぞれ2以上の場合、2以上の括弧内の構造は、互いに同一または異なり、
X1〜X6は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、CRR'、NR、O、SiRR'、PR、S、GeRR'、Se、またはTeであり、
Y1〜Y4は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、CR"、N、SiR"、P、またはGeR"であり、
[Push]は、下記構造のうちのいずれか1つであり、
前記構造において、
a、a'、bおよびb'はそれぞれ、1〜5の整数であり、
aが2以上の場合、2以上のR113は、互いに同一または異なり、
a'が2以上の場合、2以上のR114は、互いに同一または異なり、
bが2以上の場合、2以上のR115は、互いに同一または異なり、
b'が2以上の場合、2以上のR116は、互いに同一または異なり、
X11、X14、X15、X17、X20、X22、X23、X24、X25およびX28は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、CRR'、NR、O、SiRR'、PR、S、GeRR'、Se、またはTeであり、
X12、X13、X16、X18、X19、X21、X26およびX27は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、C、Si、またはGeであり、
[Pull1]および[Pull2]は、互いに同一または異なり、それぞれ下記構造のうちのいずれか1つであり、
前記構造において、
cは、1〜4の整数であり、
cが2以上の場合、2以上の括弧内の構造は、互いに同一または異なり、
R、R'、R''、R1〜R16、R101〜R116およびR201〜R204は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、水素;重水素;ハロゲン基;ニトリル基;ニトロ基;イミド基;アミド基;ヒドロキシ基;置換もしくは非置換のアルキル基;置換もしくは非置換のシクロアルキル基;置換もしくは非置換のアルコキシ基;置換もしくは非置換のアリールオキシ基;置換もしくは非置換のアルキルチオキシ基;置換もしくは非置換のアリールチオキシ基;置換もしくは非置換のアルキルスルホキシ基;置換もしくは非置換のアリールスルホキシ基;置換もしくは非置換のアルケニル基;置換もしくは非置換のシリル基;置換もしくは非置換のシロキサン基;置換もしくは非置換のホウ素基;置換もしくは非置換のアミン基;置換もしくは非置換のアリール基;または置換もしくは非置換のヘテロ環基であり、
R1〜R16およびR101〜R116のうちの少なくとも1つは、置換もしくは非置換のシリル基、または置換もしくは非置換のシロキサン基を含み、
は、前記化学式1に結合される部位である。
また、本明細書の一実施態様は、前記有機トランジスタを適用したガスセンサを提供する。
本明細書の一実施態様に係る有機トランジスタは、置換もしくは非置換のシリル基、または置換もしくは非置換のシロキサン基を側鎖(side−chain)に含む化合物を有機半導体層に適用することにより、性能に優れている。
本明細書の一実施態様に係る有機トランジスタは、結晶性および電荷移動度に優れた化合物を有機半導体層に適用することにより、性能に優れている。
本発明の一実施態様に係る有機トランジスタを示す図である。 化合物1−bのMSスペクトルを示す図である。 化合物1−cのMSスペクトルを示す図である。 化合物1−cのNMRデータを示す図である。 化合物1−dのMSスペクトルを示す図である。 化合物1−dのNMRデータを示す図である。 化合物1−fのMSスペクトルを示す図である。 化合物1−fのNMRデータを示す図である。 化合物1のMSスペクトルを示す図である。 化合物1のNMRデータを示す図である。 化合物2−bのNMRデータを示す図である。 化合物2−cのMSスペクトルを示す図である。 化合物2−cのNMRデータを示す図である。 化合物2−dのMSスペクトルを示す図である。 化合物2−dのNMRデータを示す図である。 化合物2−fのMSスペクトルを示す図である。 化合物2−fのNMRデータを示す図である。 化合物2のMSスペクトルを示す図である。 化合物2のNMRデータを示す図である。 化合物5−aのMSスペクトルを示す図である。 化合物5−aのNMRデータを示す図である。 化合物5のMSスペクトルを示す図である。 化合物5のNMRデータを示す図である。 (a)化合物1の吸光度を示す図である。 (b)化合物2の吸光度を示す図である。 (c)化合物5の吸光度を示す図である。 (a)化合物1のCV測定結果を示す図である。 (b)化合物2のCV測定結果を示す図である。 (c)化合物5のCV測定結果を示す図である。 (a)化合物1のDSC測定結果を示す図である。 (b)化合物2のDSC測定結果を示す図である。 (c)化合物5のDSC測定結果を示す図である。 (a)100℃で熱処理した化合物1の光学イメージを示す図である。 (b)100℃で熱処理した化合物2の光学イメージを示す図である。 (c)100℃で熱処理した化合物5の光学イメージを示す図である。 (d)化合物1、化合物2および化合物5の結晶サイズ分布を示す図である。 (a)化合物1、化合物2および化合物5のXRD測定結果を示す図である。 (b)化合物1の熱処理条件によるXRD測定結果を示す図である。 (c)化合物2の熱処理条件によるXRD測定結果を示す図である。 (d)化合物5の熱処理条件によるXRD測定結果を示す図である。 化合物2および化合物5のGIWAXS測定結果を示す図である。 化合物1、2および5をフィルムに形成した後のAFM(Atomic Force Microscope)測定結果である。 化合物6のNMRスペクトルを示す図である。 化合物6のMSスペクトルを示す図である。 化合物7−bのNMRスペクトルを示す図である。 化合物7−bのMSスペクトルを示す図である。 化合物7のNMRスペクトルを示す図である。 化合物7のMSスペクトルを示す図である。 本明細書の一実施態様に係る有機トランジスタの特性を評価して示す図である。 本明細書の一実施態様に係るガスセンサの特性を評価して示す図である。 10:基板 20:ゲート電極 30:絶縁層 40:ソース電極 50:ドレイン電極 60:有機半導体層
以下、本明細書について詳細に説明する。
本明細書は、前記化学式1で表される化合物を含む有機半導体層を含む有機トランジスタを提供する。
本明細書において、ある部分がある構成要素を「含む」とする時、これは、特に反対の記載がない限り、他の構成要素を除くのではなく、他の構成要素をさらに包含できることを意味する。
本明細書において、ある部材が他の部材の「上に」位置しているとする時、これは、ある部材が他の部材に接している場合のみならず、2つの部材の間にさらに他の部材が存在する場合も含む。
本明細書において、「隣接した」基は、当該置換基が置換された原子と直接連結された原子に置換された置換基、当該置換基と立体構造的に最も近く位置した置換基、または当該置換基が置換された原子に置換された他の置換基を意味することができる。例えば、ベンゼン環におけるオルト(ortho)位に置換された2個の置換基、および脂肪族環における同一炭素に置換された2個の置換基は、互いに「隣接した」基と解釈されてもよい。
本明細書において、置換基の例示は以下に説明するが、これに限定されるものではない。
前記「置換」という用語は、化合物の炭素原子に結合された水素原子が他の置換基に変わることを意味し、置換される位置は、水素原子の置換される位置すなわち、置換基が置換可能な位置であれば限定せず、2以上置換される場合、2以上の置換基は、互いに同一でも異なっていてもよい。
本明細書において、「置換もしくは非置換の」という用語は、重水素;ハロゲン基;ニトリル基;ニトロ基;イミド基;アミド基;カルボニル基;エステル基;ヒドロキシ基;アルキル基;シクロアルキル基;アルコキシ基;アリールオキシ基;アルキルチオキシ基;アリールチオキシ基;アルキルスルホキシ基;アリールスルホキシ基;アルケニル基;シリル基;シロキサン基;ホウ素基;アミン基;アリールホスフィン基;ホスフィンオキシド基;アリール基;およびヘテロ環基からなる群より選択された1または2以上の置換基で置換されているか、前記例示された置換基のうちの2以上の置換基が連結された置換基で置換されるか、またはいずれの置換基も有しないことを意味する。例えば、「2以上の置換基が連結された置換基」は、ビフェニル基であってもよい。すなわち、ビフェニル基は、アリール基であってもよく、2個のフェニル基が連結された置換基と解釈されてもよい。
本明細書において、
は、他の置換基または結合部に結合される部位を意味する。
本明細書において、ハロゲン基は、フッ素、塩素、臭素、またはヨウ素になってもよい。
本明細書において、イミド基の炭素数は特に限定されないが、炭素数1〜30のものが好ましい。具体的には、下記のような構造の化合物になってもよいが、これに限定されるものではない。
本明細書において、アミド基は、アミド基の窒素が水素、炭素数1〜30の直鎖、分枝鎖もしくは環鎖アルキル基、または炭素数6〜30のアリール基で置換されていてもよい。具体的には、下記構造式の化合物になってもよいが、これに限定されるものではない。
本明細書において、カルボニル基の炭素数は特に限定されないが、炭素数1〜30のものが好ましい。具体的には、下記のような構造の化合物になってもよいが、これに限定されるものではない。
本明細書において、エステル基は、エステル基の酸素が炭素数1〜25の直鎖、分枝鎖もしくは環鎖アルキル基、または炭素数6〜30のアリール基で置換されていてもよい。具体的には、下記構造式の化合物になってもよいが、これに限定されるものではない。
本明細書において、前記アルキル基は、直鎖もしくは分枝鎖であってもよく、炭素数は特に限定されないが、1〜30のものが好ましい。具体例としては、メチル、エチル、プロピル、n−プロピル、イソプロピル、ブチル、n−ブチル、イソブチル、tert−ブチル、sec−ブチル、1−メチル−ブチル、1−エチル−ブチル、ペンチル、n−ペンチル、イソペンチル、ネオペンチル、tert−ペンチル、ヘキシル、n−ヘキシル、1−メチルペンチル、2−メチルペンチル、4−メチル−2−ペンチル、3,3−ジメチルブチル、2−エチルブチル、ヘプチル、n−ヘプチル、1−メチルヘキシル、シクロペンチルメチル、シクロヘキシルメチル、オクチル、n−オクチル、tert−オクチル、1−メチルヘプチル、2−エチルヘキシル、2−プロピルペンチル、n−ノニル、2,2−ジメチルヘプチル、1−エチル−プロピル、1,1−ジメチル−プロピル、イソヘキシル、4−メチルヘキシル、5−メチルヘキシルなどがあるが、これらに限定されるものではない。
本明細書において、シクロアルキル基は特に限定されないが、炭素数3〜30のものが好ましく、具体的には、シクロプロピル、シクロブチル、シクロペンチル、3−メチルシクロペンチル、2,3−ジメチルシクロペンチル、シクロヘキシル、3−メチルシクロヘキシル、4−メチルシクロヘキシル、2,3−ジメチルシクロヘキシル、3,4,5−トリメチルシクロヘキシル、4−tert−ブチルシクロヘキシル、シクロヘプチル、シクロオクチルなどがあるが、これらに限定されるものではない。
本明細書において、前記アルコキシ基は、直鎖、分枝鎖もしくは環鎖であってもよい。アルコキシ基の炭素数は特に限定されないが、炭素数1〜30のものが好ましい。具体的には、メトキシ、エトキシ、n−プロポキシ、イソプロポキシ、i−プロピルオキシ、n−ブトキシ、イソブトキシ、tert−ブトキシ、sec−ブトキシ、n−ペンチルオキシ、ネオペンチルオキシ、イソペンチルオキシ、n−ヘキシルオキシ、3,3−ジメチルブチルオキシ、2−エチルブチルオキシ、n−オクチルオキシ、n−ノニルオキシ、n−デシルオキシ、ベンジルオキシ、p−メチルベンジルオキシなどになってもよいが、これらに限定されるものではない。
本明細書において、アミン基は、−NH;アルキルアミン基;N−アリールアルキルアミン基;アリールアミン基;N−アリールヘテロアリールアミン基;N−アルキルヘテロアリールアミン基およびヘテロアリールアミン基からなる群より選択されてもよいし、炭素数は特に限定されないが、1〜30のものが好ましい。アミン基の具体例としては、メチルアミン基、ジメチルアミン基、エチルアミン基、ジエチルアミン基、フェニルアミン基、ナフチルアミン基、ビフェニルアミン基、アントラセニルアミン基、9−メチル−アントラセニルアミン基、ジフェニルアミン基、N−フェニルナフチルアミン基、ジトリルアミン基、N−フェニルトリルアミン基、トリフェニルアミン基などがあるが、これらに限定されるものではない。
本明細書において、N−アルキルアリールアミン基は、アミン基のNにアルキル基およびアリール基が置換されたアミン基を意味する。
本明細書において、N−アリールヘテロアリールアミン基は、アミン基のNにアリール基およびヘテロアリール基が置換されたアミン基を意味する。
本明細書において、N−アルキルヘテロアリールアミン基は、アミン基のNにアルキル基およびヘテロアリールアミン基が置換されたアミン基を意味する。
本明細書において、アルキルアミン基、N−アリールアルキルアミン基、アルキルチオキシ基、アルキルスルホキシ基、N−アルキルヘテロアリールアミン基中のアルキル基は、前述したアルキル基の例示の通りである。具体的には、アルキルチオキシ基としては、メチルチオキシ基、エチルチオキシ基、tert−ブチルチオキシ基、ヘキシルチオキシ基、オクチルチオキシ基などがあり、アルキルスルホキシ基としては、メシル、エチルスルホキシ基、プロピルスルホキシ基、ブチルスルホキシ基などがあるが、これらに限定されるものではない。
本明細書において、前記アルケニル基は、直鎖もしくは分枝鎖であってもよく、炭素数は特に限定されないが、2〜30のものが好ましい。具体例としては、ビニル、1−プロペニル、イソプロペニル、1−ブテニル、2−ブテニル、3−ブテニル、1−ペンテニル、2−ペンテニル、3−ペンテニル、3−メチル−1−ブテニル、1,3−ブタジエニル、アリル、1−フェニルビニル−1−イル、2−フェニルビニル−1−イル、2,2−ジフェニルビニル−1−イル、2−フェニル−2−(ナフチル−1−イル)ビニル−1−イル、2,2−ビス(ジフェニル−1−イル)ビニル−1−イル、スチルベニル基、スチレニル基などがあるが、これらに限定されるものではない。
本明細書において、シリル基は、具体的には、トリメチルシリル基、トリエチルシリル基、t−ブチルジメチルシリル基、ビニルジメチルシリル基、プロピルジメチルシリル基、トリフェニルシリル基、ジフェニルシリル基、フェニルシリル基などがあるが、これらに限定されるものではない。
本明細書において、ホウ素基は、−BR100200であってもよいし、前記R100およびR200は、同一または異なり、それぞれ独立に、水素;重水素;ハロゲン;ニトリル基;置換もしくは非置換の炭素数3〜30の単環もしくは多環のシクロアルキル基;置換もしくは非置換の炭素数1〜30の直鎖もしくは分枝鎖のアルキル基;置換もしくは非置換の炭素数6〜30の単環もしくは多環のアリール基;および置換もしくは非置換の炭素数2〜30の単環もしくは多環のヘテロアリール基からなる群より選択されてもよい。
本明細書において、ホスフィンオキシド基は、具体的には、ジフェニルホスフィンオキシド基、ジナフチルホスフィンオキシドなどがあるが、これらに限定されるものではない。
本明細書において、アリール基は、単環式もしくは多環式であってもよい。
前記アリール基が単環式アリール基の場合、炭素数は特に限定されないが、炭素数6〜30のものが好ましい。具体的には、単環式アリール基としては、フェニル基、ビフェニル基、ターフェニル基などになってもよいが、これらに限定されるものではない。
前記アリール基が多環式アリール基の場合、炭素数は特に限定されないが、炭素数10〜30のものが好ましい。具体的には、多環式アリール基としては、ナフチル基、アントラセニル基、フェナントリル基、ピレニル基、ペリレニル基、クリセニル基、フルオレニル基などになってもよいが、これらに限定されるものではない。
本明細書において、前記フルオレニル基は置換されていてもよいし、隣接した置換基が互いに結合して環を形成してもよい。
前記フルオレニル基が置換される場合、
などになってもよい。ただし、これらに限定されるものではない。
本明細書において、アリールオキシ基、アリールチオキシ基、アリールスルホキシ基、N−アリールアルキルアミン基、N−アリールヘテロアリールアミン基、およびアリールホスフィン基中のアリール基は、前述したアリール基の例示の通りである。具体的には、アリールオキシ基としては、フェノキシ基、p−トリルオキシ基、m−トリルオキシ基、3,5−ジメチル−フェノキシ基、2,4,6−トリメチルフェノキシ基、p−tert−ブチルフェノキシ基、3−ビフェニルオキシ基、4−ビフェニルオキシ基、1−ナフチルオキシ基、2−ナフチルオキシ基、4−メチル−1−ナフチルオキシ基、5−メチル−2−ナフチルオキシ基、1−アントリルオキシ基、2−アントリルオキシ基、9−アントリルオキシ基、1−フェナントリルオキシ基、3−フェナントリルオキシ基、9−フェナントリルオキシ基などがあり、アリールチオキシ基としては、フェニルチオキシ基、2−メチルフェニルチオキシ基、4−tert−ブチルフェニルチオキシ基などがあり、アリールスルホキシ基としては、ベンゼンスルホキシ基、p−トルエンスルホキシ基などがあるが、これらに限定されるものではない。
本明細書において、アリールアミン基の例としては、置換もしくは非置換のモノアリールアミン基、置換もしくは非置換のジアリールアミン基、または置換もしくは非置換のトリアリールアミン基がある。前記アリールアミン基中のアリール基は、単環式アリール基であってもよく、多環式アリール基であってもよい。前記アリール基が2以上を含むアリールアミン基は、単環式アリール基、多環式アリール基、または単環式アリール基と多環式アリール基を同時に含んでもよい。例えば、前記アリールアミン基中のアリール基は、前述したアリール基の例示の中から選択されてもよい。
本明細書において、ヘテロ環基およびヘテロアリール基は、炭素でない原子、異種原子を1以上含むものであって、具体的には、前記異種原子は、O、N、Se、およびSなどからなる群より選択される原子を1以上含むことができる。炭素数は特に限定されないが、炭素数2〜30のものが好ましく、前記ヘテロ環基およびヘテロアリール基は、単環式もしくは多環式であってもよい。ヘテロ環基およびヘテロアリール基の例としては、チオフェン基、フラニル基、ピロール基、イミダゾリル基、チアゾリル基、オキサゾリル基、オキサジアゾリル基、ピリジル基、ビピリジル基、ピリミジル基、トリアジニル基、トリアゾリル基、アクリジル基、ピリダジニル基、ピラジニル基、キノリニル基、キナゾリニル基、キノキサリニル基、フタラジニル基、ピリドピリミジル基、ピリドピラジニル基、ピラジノピラジニル基、イソキノリニル基、インドリル基、カルバゾリル基、ベンズオキサゾリル基、ベンズイミダゾリル基、ベンゾチアゾリル基、ベンゾカルバゾリル基、ベンゾチオフェン基、ジベンゾチオフェン基、ベンゾフラニル基、フェナントロリニル基(phenanthroline)、チアゾリル基、イソオキサゾリル基、オキサジアゾリル基、チアジアゾリル基、フェノチアジニル基、およびジベンゾフラニル基などがあるが、これらに限定されるものではない。
本明細書において、ヘテロアリールアミン基の例としては、置換もしくは非置換のモノヘテロアリールアミン基、置換もしくは非置換のジヘテロアリールアミン基、または置換もしくは非置換のトリヘテロアリールアミン基がある。前記ヘテロアリール基が2以上を含むヘテロアリールアミン基は、単環式ヘテロアリール基、多環式ヘテロアリール基、または単環式ヘテロアリール基と多環式ヘテロアリール基を同時に含んでもよい。例えば、前記ヘテロアリールアミン基中のヘテロアリール基は、前述したヘテロアリール基の例示の中から選択されてもよい。
本明細書において、N−アリールヘテロアリールアミン基およびN−アルキルヘテロアリールアミン基中のヘテロアリール基の例示は、前述したヘテロアリール基の例示の通りである。
本明細書において、前記[Push]は、化合物内において電子供与体として作用する。
本明細書において、前記[Pull1]および[Pull2]は、化合物内において電子受容体として作用する。
本明細書において、前記化学式1において、[Push]は、前記化合物内において酸化(oxidation)特性を有する。
本明細書において、前記化学式1において、[Pull1]および[Pull2]は、前記化合物内において還元(reduction)特性を有する。
本明細書において、前記[Push]、[Pull1]および[Pull2]は、循環電圧電流法(CV、cyclic voltammetry)を利用して測定した時、前記[Push]は、[Pull1]および[Pull2]と比較して相対的に酸化特性を有し、前記[Pull1]および[Pull2]は、[Push]と比較して相対的に還元特性を有する。
ただし、本明細書において、酸化特性および還元特性は相対的なもので、前記[Push]は、酸化特性を有するものの、還元特性も併せて有することができ、前記[Pull1]および[Pull2]は、還元特性を有するものの、酸化特性も併せて有することができる。
本明細書の一実施態様に係る化合物において、[Push]は、相対的に電子供与体として作用し、[Pull1]および[Pull2]は、電子受容体として作用する。この場合に、LUMO(lowest unoccupied molecular orbital)状態の電子は、相対的に[Pull1]および[Pull2]に集中(localization)する。これによって、[Push]と[Pull1]との間、および[Push]と[Pull2]との間に分極が存在する。
本明細書は、前記[Push]と[Pull1]および[Push]と[Pull2]との間に、相対的に平面性に優れ、共役構造(conjugation)を有するリンカーを導入し、電子が化合物内で速やかに[Pull]方向に移動させて、電子の集中を極大化させることができる。この場合、形成されたエキシトンが分子内で速やかに移動することができ、エキシトンの分極を極大化できて、低いバンドギャップの特性を有することができる。
本明細書において、エネルギー準位は、エネルギーの大きさを意味するものである。したがって、真空準位からマイナス(−)方向にエネルギー準位が表示される場合にも、エネルギー準位は、当該エネルギー値の絶対値を意味すると解釈される。例えば、HOMOエネルギー準位とは、真空準位から最高占有分子オービタル(highest occupied molecular orbital)までの距離を意味する。また、LUMOエネルギー準位とは、真空準位から最低非占有分子オービタル(lowest unoccupied molecular orbital)までの距離を意味する。
本明細書の一実施態様によれば、前記化学式1のR1〜R16、R101〜R116およびR201〜R204が、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、水素;ハロゲン基;置換もしくは非置換のアルキル基;置換もしくは非置換のシクロアルキル基;置換もしくは非置換のアルコキシ基;置換もしくは非置換のシリル基;置換もしくは非置換のシロキサン基;置換もしくは非置換のアミン基;置換もしくは非置換のアリール基;または置換もしくは非置換のヘテロ環基であり、R1〜R16およびR101〜R116のうちの少なくとも1つは、置換もしくは非置換のシリル基、または置換もしくは非置換のシロキサン基である。
本明細書の一実施態様によれば、前記化学式1のR1〜R16、R101〜R116およびR201〜R204が、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、水素;置換もしくは非置換のアルキル基;置換もしくは非置換のシリル基;または置換もしくは非置換のシロキサン基であり、R1〜R16およびR101〜R116のうちの少なくとも1つは、置換もしくは非置換のシリル基、または置換もしくは非置換のシロキサン基である。
本明細書の一実施態様によれば、前記化学式1において、X1〜X6は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、O、SiRR'、またはSであり、RおよびR'は、前述した通りである。
本明細書の一実施態様によれば、前記化学式1において、Y1〜Y4は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、CR"、N、またはSiR"であり、R''は、前述した通りである。
本明細書の一実施態様によれば、前記化学式1において、X11〜X28は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、O、SiRR'、またはSであり、RおよびR'は、前述した通りである。
本明細書において、置換もしくは非置換のシリル基、または置換もしくは非置換のシロキサン基を含むというのは、置換もしくは非置換のシリル基、または置換もしくは非置換のシロキサン基だけでなく、シリル基またはシロキサン基で置換されたものも意味する。例えば、シリル基で置換されたアルキル基、シリル基で置換されたアルコキシ基であってもよい。
本明細書において、前記化学式1の化合物は、置換もしくは非置換のシリル基、または置換もしくは非置換のシロキサン基を側鎖(side−chain)に含むことにより、結晶性が向上する効果がある。
本明細書において、前記化学式1の化合物は、置換もしくは非置換のシリル基、または置換もしくは非置換のシロキサン基を側鎖(side−chain)に含むことにより、有機トランジスタの有機半導体層に適用した時、電荷の移動度、on−off電流比率といった有機トランジスタの性能が向上する効果がある。
本明細書の一実施態様によれば、前記化学式1は、下記化学式1−1または化学式1−2で表されてもよい。
[化学式1−1]
[化学式1−2]
前記化学式1−1および1−2において、
n1〜n6、[Push]、[Pull1]、[Pull2]、X1〜X6、Y1〜Y4およびR1〜R12の定義は、前記化学式1と同じであり、
n25、n35、n45およびn55はそれぞれ、0〜5の整数であり、
n25、n35、n45およびn55がそれぞれ2以上の場合、2以上の括弧内の構造は、互いに同一または異なり、
R301〜R309、R401〜R409、R501〜R509、R601〜R609およびR701〜R708は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、水素;重水素;ハロゲン基;ニトリル基;ニトロ基;イミド基;アミド基;ヒドロキシ基;置換もしくは非置換のアルキル基;置換もしくは非置換のシクロアルキル基;置換もしくは非置換のアルコキシ基;置換もしくは非置換のアリールオキシ基;置換もしくは非置換のアルキルチオキシ基;置換もしくは非置換のアリールチオキシ基;置換もしくは非置換のアルキルスルホキシ基;置換もしくは非置換のアリールスルホキシ基;置換もしくは非置換のアルケニル基;置換もしくは非置換のシリル基;置換もしくは非置換のシロキサン基;置換もしくは非置換のホウ素基;置換もしくは非置換のアミン基;置換もしくは非置換のアリール基;または置換もしくは非置換のヘテロ環基である。
本明細書の一実施態様によれば、前記化学式1は、下記化学式1−3〜化学式1−8のうちのいずれか1つで表されてもよい。
[化学式1−3]
[化学式1−4]
[化学式1−5]
[化学式1−6]
[化学式1−7]
[化学式1−8]
前記化学式1−3〜1−8において、
n1〜n6、[Push]、[Pull1]、[Pull2]、X1〜X6、X11〜X18、X23、X24、Y1〜Y4、R1〜R12、R101、R102、R111およびR112の定義は、前記化学式1と同じであり、
n25、n35、n45およびn55はそれぞれ、0〜5の整数であり、
n25、n35、n45およびn55がそれぞれ2以上の場合、2以上の括弧内の構造は、互いに同一または異なり、
R301〜R309、R401〜R409、R501〜R509、R601〜R609およびR701〜R708は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、水素;重水素;ハロゲン基;ニトリル基;ニトロ基;イミド基;アミド基;ヒドロキシ基;置換もしくは非置換のアルキル基;置換もしくは非置換のシクロアルキル基;置換もしくは非置換のアルコキシ基;置換もしくは非置換のアリールオキシ基;置換もしくは非置換のアルキルチオキシ基;置換もしくは非置換のアリールチオキシ基;置換もしくは非置換のアルキルスルホキシ基;置換もしくは非置換のアリールスルホキシ基;置換もしくは非置換のアルケニル基;置換もしくは非置換のシリル基;置換もしくは非置換のシロキサン基;置換もしくは非置換のホウ素基;置換もしくは非置換のアミン基;置換もしくは非置換のアリール基;または置換もしくは非置換のヘテロ環基である。
本明細書の一実施態様において、前記R301〜R309、R401〜R409、R501〜R509、R601〜R609およびR701〜R708は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、水素;ハロゲン基;置換もしくは非置換のアルキル基;置換もしくは非置換のシクロアルキル基;置換もしくは非置換のアルコキシ基;置換もしくは非置換のシリル基;置換もしくは非置換のシロキサン基;置換もしくは非置換のアミン基;置換もしくは非置換のアリール基;または置換もしくは非置換のヘテロ環基である。
本明細書の一実施態様において、前記R301〜R309、R401〜R409、R501〜R509、R601〜R609およびR701〜R708は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、水素;置換もしくは非置換のアルキル基;置換もしくは非置換のシリル基;または置換もしくは非置換のシロキサン基である。
本明細書の一実施態様において、前記R301〜R309、R401〜R409、R501〜R509、R601〜R609およびR701〜R708は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、水素;または置換もしくは非置換のアルキル基である。
本明細書の一実施態様において、前記R301〜R309、R401〜R409、R501〜R509、R601〜R609およびR701〜R708は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、水素;または置換もしくは非置換の炭素数1〜30の直鎖もしくは分枝鎖のアルキル基である。
本明細書の一実施態様において、前記R301〜R309、R401〜R409、R501〜R509、R601〜R609およびR701〜R708は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、水素;または置換もしくは非置換の炭素数1〜20の直鎖もしくは分枝鎖のアルキル基である。
本明細書の一実施態様において、前記R301〜R309、R401〜R409、R501〜R509、R601〜R609およびR701〜R708は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、水素;または置換もしくは非置換の炭素数1〜10の直鎖もしくは分枝鎖のアルキル基である。
本明細書の一実施態様において、前記R301〜R309、R401〜R409、R501〜R509、R601〜R609およびR701〜R708は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、水素;または置換もしくは非置換の炭素数1〜5の直鎖のアルキル基である。
本明細書の一実施態様において、前記R301〜R309、R401〜R409、R501〜R509およびR601〜R609は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、水素;または置換もしくは非置換のメチル基である。
本明細書の一実施態様において、前記X1は、Sである。
本明細書の一実施態様において、前記X2は、Sである。
本明細書の一実施態様において、前記X3は、Sである。
本明細書の一実施態様において、前記X4は、Sである。
本明細書の一実施態様において、前記X5は、Sである。
本明細書の一実施態様において、前記X6は、Sである。
本明細書の一実施態様において、前記Y1は、Nである。
本明細書の一実施態様において、前記Y2は、Nである。
本明細書の一実施態様において、前記Y3は、Nである。
本明細書の一実施態様において、前記Y4は、Nである。
本明細書の一実施態様において、前記X11は、Sである。
本明細書の一実施態様において、前記X12は、Oである。
本明細書の一実施態様において、前記X13は、Oである。
本明細書の一実施態様において、前記X14は、Sである。
本明細書の一実施態様において、前記X15は、Sである。
本明細書の一実施態様において、前記X16は、Siである。
本明細書の一実施態様において、前記X17は、Siである。
本明細書の一実施態様において、前記X18は、Sである。
本明細書の一実施態様において、前記X23は、Sである。
本明細書の一実施態様において、前記X24は、Sである。
本明細書の一実施態様によれば、前記[Pull1]および[Pull2]はそれぞれ、
であり、R201の定義は、前記化学式1で定義した通りである。
本明細書の一実施態様において、前記[Pull1]および[Pull2]はそれぞれ、
であり、R201は、置換もしくは非置換のアルキル基である。
本明細書の一実施態様において、前記R201は、炭素数1〜30の直鎖もしくは分枝鎖のアルキル基である。
本明細書の一実施態様において、前記R201は、炭素数1〜20の直鎖もしくは分枝鎖のアルキル基である。
本明細書の一実施態様において、前記R201は、炭素数1〜10の直鎖のアルキル基である。
本明細書の一実施態様において、前記R201は、オクチル基である。
本明細書の一実施態様において、前記R201は、エチル基である。
本明細書の一実施態様によれば、前記化学式1は、下記化合物のうちのいずれか1つである。
本明細書の一実施態様に係る化合物は、置換もしくは非置換のシリル基、または置換もしくは非置換のシロキサン基を側鎖(side−chain)に含むことにより、結晶性が向上する効果がある。
本明細書の一実施態様に係る化合物は、バルキー(Bulky)な側鎖(side chain)の構造を含むため、溶解度が向上できる。
また、本明細書の一実施態様に係る化合物は、弾性を付与することができる。この場合、フレキシブル素子の材料として使用できる。
本明細書の一実施態様に係る化合物は、置換もしくは非置換のシリル基、または置換もしくは非置換のシロキサン基を側鎖(side−chain)に含むことにより、有機トランジスタの有機半導体層に適用した時、置換もしくは非置換のシリル基、または置換もしくは非置換のシロキサン基が含まれていない化合物を有機トランジスタに適用した場合より、電荷の移動度、on/off電流比率といった有機トランジスタの性能が向上する効果がある。
本明細書の一実施態様は、ゲート電極、ソース電極、ドレイン電極、および前記有機半導体層と接する絶縁層を含む有機トランジスタを提供する。
本明細書において、前記有機半導体層の製造方法は、当技術分野で利用される方法であれば特に限定されず、真空蒸着法、スパッタリング、E−ビーム、熱蒸着、スピンコーティング、スクリーンプリンティング、インクジェットプリンティング、ドクターブレード、またはグラビアプリンティング法を用いて製造できる。
本明細書において、有機トランジスタは、上部ゲート(top gate)構造であってもよい。具体的には、基板上にソース電極およびドレイン電極が先に形成され、その後に、有機半導体層および絶縁層、ゲート電極が順次に形成される。図1には、これによる有機トランジスタ構造を示した。
本明細書において、有機トランジスタは、下部ゲート(bottom gate)構造のうち、下部接触(bottom contact)構造であってもよい。具体的には、基板上にゲート電極および絶縁層が順次に形成され、その後に、絶縁層上にソース電極およびドレイン電極が形成され、最後に、ソース電極およびドレイン電極上に有機半導体層が形成される。図2および図3には、これによる有機トランジスタ構造を示した。
本明細書において、有機トランジスタは、下部ゲート(bottom gate)構造のうち、上部接触(top contact)構造であってもよい。具体的には、基板上にゲート電極および絶縁層が順次に形成され、その後に、絶縁層上に有機半導体層が形成され、最後に、有機半導体層上にソース電極およびドレイン電極が形成される。図4には、これによる有機トランジスタ構造を示した。
本明細書において、前記基板は、当技術分野で用いられる物質が使用できる。例えば、ガラス、ポリエチレンナフタレート(Polyethylenenaphthalate:PEN)、ポリエチレンテレフタレート(Polyethyleneterephthalate:PET)、ポリカーボネート(Polycarbonate:PC)、ポリビニルアルコール(Polyvinylalcohol:PVP)、ポリアクリレート(Polyacrylate)、ポリイミド(Polyimide)、ポリノルボルネン(Polynorbornene)、およびポリエーテルスルホン(Polyethersulfone:PES)のようなプラスチック基板またはガラス基板が使用できる。
また、ソース電極およびドレイン電極と有機半導体層との間に、表面処理として、HMDS(1,1,1,3,3,3−hexamethyldisilazane)やOTS(octyltrichlorosilane)、OTDS(octadecyltrichlorosilane)をコーティングしても、しなくてもよい。
本明細書において、ゲート電極、ソース電極、ドレイン電極は、当技術分野で使用される物質であれば特に限定されない。例えば、導電性物質であれば可能である。具体的には、金(Au)、銀(Ag)、アルミニウム(Al)、ニッケル(Ni)、クロム(Cr)、およびインジウムチン酸化物(ITO)からなる群より選択された物質であってもよい。
本明細書において、前記ソース電極およびドレイン電極は、E−ビーム、フォトリソグラフィ方法を用いて製造できるが、これにのみ限定されるものではない。
本明細書において、絶縁層は、当技術分野で使用される物質であれば特に限定されない。例えば、絶縁率が高くてゲート電極上に形成しやすいシリコンジオキシド(SiO)を使用することができる。
本明細書において、前記絶縁層の製造方法は、当技術分野で利用される方法であれば特に限定されず、例えば、E−ビーム、フォトリソグラフィ方法を用いて製造できるが、これにのみ限定されるものではない。
本明細書において、前記有機トランジスタは、単層または多層に形成される。
本明細書は、前述の有機トランジスタを適用したガスセンサを提供する。具体的には、前記ガスセンサは、有機トランジスタを特定のガスに露出させることにより、有機トランジスタの有機半導体層がガス物質との接触により電気的特性が変化する特性を利用したものであってもよい。
本明細書の一実施態様において、前記ガスセンサは、ゲート電極、ソース電極、ドレイン電極、絶縁層、および前記化学式1の単位を含む化合物を含む有機半導体層が備えられる。
本明細書の一実施態様において、前記ガスセンサは、有機半導体層に炭素ベースの物質をさらに含んでもよい。
本明細書において、炭素ベースの物質は、カーボンブラック、カーボンナノチューブ(CNT)、グラファイト(Graphite)、グラフェン(Graphene)、活性炭、多孔性炭素(Mesoporous Carbon)、カーボンファイバー(Carbon fiber)、およびカーボンナノワイヤ(Carbon nano wire)からなる群より選択される1種以上を意味する。
本明細書の一実施態様において、前記ガスセンサは、アンモニア(NH)、エチレン(C)、ホルムアルデヒド(HCHO)、フッ酸(HF)、窒素酸化物、硫黄酸化物、および/またはエタノールを感知する。
本明細書の一実施態様において、前記ガスセンサは、ガスセンサをそれぞれのガスの飽和蒸気圧に露出させ、センサをプローブステーションに連結して感度を測定してもよいが、これに限定されず、当業界で使用されるトランジスタの電極に連結されて電流値を測定できる装置でガスセンサの特性評価が可能である。
本明細書において、「感知」は、前記ガスセンサの有機半導体層表面と気体との相互作用によって、有機半導体層表面の伝導電子の密度が変化することを意味する。
本明細書の一実施態様において、前記ガスセンサは、硫黄酸化物に対する感度(sensitivity)が空気(air)対比0.1ppm以上であってもよい。具体的には、前記ガスセンサは、硫黄酸化物に対する感度(sensitivity)が空気(air)対比0.1ppm以上90%以下であってもよい。
本明細書において、「感度が空気対比0.1ppm以上」は、空気中に0.1ppm以上が存在すれば感知可能であることを意味することができる。例えば、「硫黄酸化物に対する感度が空気対比0.1ppm以上」は、空気中に硫黄酸化物が0.1ppmだけ存在しても感知可能であることを意味することができる。
本明細書において、1%は、10,000ppmである。
本明細書の一実施態様において、前記ガスセンサは、アンモニア(NH)に対する感度(sensitivity)が空気(air)対比0.1ppm以上であってもよい。具体的には、前記ガスセンサは、アンモニア(NH)に対する感度(sensitivity)が空気(air)対比0.1ppm以上90%以下であってもよい。
本明細書の一実施態様において、前記ガスセンサは、エチレン(C)に対する感度(sensitivity)が空気(air)対比0.1ppm以上であってもよい。具体的には、前記ガスセンサは、エチレン(C)に対する感度(sensitivity)が空気(air)対比0.1ppm以上90%以下であってもよい。
本明細書の一実施態様において、前記ガスセンサは、エタノールに対する感度(sensitivity)が空気(air)対比0超過20%以下であってもよい。
本明細書の一実施態様において、前記ガスセンサは、ホルムアルデヒド(HCHO)に対する感度(sensitivity)が空気(air)対比0.1ppm以上であってもよい。具体的には、前記ガスセンサは、ホルムアルデヒド(HCHO)に対する感度(sensitivity)が空気(air)対比0.1ppm以上90%以下であってもよい。
本明細書の一実施態様において、前記ガスセンサは、フッ酸(HF)に対する感度(sensitivity)が空気(air)対比0.1ppm以上であってもよい。具体的には、前記ガスセンサは、フッ酸(HF)に対する感度(sensitivity)が空気(air)対比0.1ppm以上90%以下であってもよい。
本明細書の一実施態様において、前記ガスセンサは、窒素酸化物に対する感度(sensitivity)が空気(air)対比0.1ppm以上であってもよい。具体的には、前記ガスセンサは、窒素酸化物に対する感度(sensitivity)が空気(air)対比0.1ppm以上90%以下であってもよい。
以下、本明細書を具体的に説明するために実施例を挙げて詳細に説明する。しかし、本明細書に係る実施例は種々の異なる形態に変形可能であり、本明細書の範囲が以下に詳述する実施例に限定されると解釈されない。本明細書の実施例は、当業界における平均的な知識を有する者に本明細書をより完全に説明するために提供されるものである。
製造例1.化合物1の製造
(1)化合物1−bの製造
150mLのクロロホルム(CHCl)に1−a(5.29g、6mmol)を溶かした後、常温でN−ブロモスクシンイミド(N−bromosuccinimide、NBS)(1.28g、7.2mmol)を注入後、48時間撹拌した。反応後、反応物を250mLの水に入れて、ジクロロメタンで抽出した。その後、マグネシウムスルフェート(magnesium sulfate、MgSO)で残留水を除去した後、減圧下で溶媒を除去した。残留生成物をシリカカラム(ヘキサン:ジクロロメタン=2:1(溶離液))で精製して、化合物1−bを得た。(収率:71%)
図5は、化合物1−bのMSスペクトルを示す図である。
(2)化合物1−cの製造
200mLのテトラヒドロフラン(THF)と2M炭酸カリウム(KCO)50mLに、化合物1−b(4.092g、4.26mmol)と2−アルデヒド−チオフェンボロニックエステル(2−aldehyde−thiophene boronic ester)(0.935g、6mmol)を溶かし、テトラキス(トリフェニルホスフィン)パラジウム(0)(Pd(PPh)触媒(0.2427g、0.21mmol)を入れて、70℃で72時間撹拌した、反応後、ジクロロメタンで抽出し、マグネシウムスルフェート(magnesium sulfate、MgSO)で残留水を除去した後、減圧下で溶媒を除去した。残留生成物をシリカカラム(ヘキサン:ジクロロメタン=10:1〜1:1(溶離液))で精製して、化合物1−cを得た。(収率:79%)
図6は、化合物1−cのMSスペクトルを示す図である。
図7は、化合物1−cのNMRスペクトルを示す図である。
(3)化合物1−dの製造
80mLのクロロホルム(CHCl)に化合物1−c(3g、3.03mmol)を溶かし、N−ブロモスクシンイミド(N−bromosuccinimide、NBS)(0.59g、3.33mmol)を入れて、常温で48時間撹拌した。反応後、ジクロロメタンで抽出し、マグネシウムスルフェートで(magnesium sulfate、MgSO)で残留水を除去した後、減圧下で溶媒を除去した。残留生成物をシリカカラム(ヘキサン:ジクロロメタン=10:1〜1:1(溶離液))で精製して、化合物1−dを得た。(収率:81%)
図8は、化合物1−dのMSスペクトルを示す図である。
図9は、化合物1−dのNMRスペクトルを示す図である。
(4)化合物1−fの製造
60mLのトルエンと6mLのジメチルホルムアミド(DMF)に、化合物1−e(1.18g、1.10mmol)と化合物1−d(2.623g、2.45mmol)を溶かし、トリス(ジベンジリデンアセトン)ジパラジウム(0)(Tris(dibenzylideneacetone)dipalladium(0)、Pddba)触媒(0.0504g、0.055mmol)とトリフェニルホスフィン(PPh)リガンド(0.0577g、0.22mmol)を入れて、110℃で48時間撹拌した。反応後、ジクロロメタンで抽出し、マグネシウムスルフェート(magnesium sulfate、MgSO)で残留水を除去した後、減圧下で溶媒を除去した。残留生成物をシリカカラム(溶離液:ヘキサン)を通して、化合物1−fを得る。(収率:57%)
図10は、化合物1−fのMSスペクトルを示す図である。
図11は、化合物1−fのNMRスペクトルを示す図である。
(5)化合物1の製造
クロロホルム(CHCl)30mLに、化合物1−f(0.409g、0.15mmol)と3−オクチルロダニン(3−octylrhodanine)(0.3681g、1.5mmol)を溶かし、常温でピペリジン(piperidine)3滴を入れて、24時間還流した。反応後、ジクロロメタンで抽出し、マグネシウムスルフェート(magnesium sulfate、MgSO)で残留水を除去した後、減圧下で溶媒を除去した。残留生成物をシリカカラム(溶離液:ジクロロメタン(CHCl)、クロロホルム(CHCl))を通して、暗褐色の固体を得た。得られた固体をCHClとヘキサンで2回または3回の再結晶を通して、化合物1を得た。(収率:67%)
図12は、化合物1のMSスペクトルを示す図である。
図13は、化合物1のNMRスペクトルを示す図である。
製造例2.化合物2の製造
(1)化合物2−bの製造
30mLのジクロロメタンに、2−aと4−ジメチルアミノピリジン(4−dimethylaminopyridine、4−DMAP)(0.36g、2.92mmol)を溶かした後、0℃でトリエチルアミン(triehtylamine、EtN)(3mL、21.51mmol)とトリヘキシルクロロシラン(trihyxylchlorosilane、ClSi(hex))(7.46mL、20.37mmol)を入れて、常温で12時間撹拌した。反応後、反応物を100mLの水に入れてジクロロメタンで抽出し、マグネシウムスルフェート(magnesium sulfate、MgSO)で残留水を除去した後、減圧下で溶媒を除去した。残留生成物をシリカカラム(溶離液:ヘキサン)で精製して、化合物2−bを得た。(収率:94%)
図14は、化合物2−bのNMRスペクトルを示す図である。
(2)化合物2−cの製造
70mLのトルエンに、化合物2−b(5g、6mmol)とトリブチルチン−チオフェン(tributyltin−thiophene)(9.33g、25mmol)を溶かし、トリス(ジベンジリデンアセトン)ジパラジウム(0)(Tris(dibenzylideneacetone)dipalladium(0)、Pddba)触媒(0.458g、0.05mmol)とトリフェニルホスフィン(PPh)リガンド(0.52g、2mmol)を入れて、110℃で48時間撹拌した。反応後、ジクロロメタンで抽出し、マグネシウムスルフェート(magnesium sulfate、MgSO)で残留水を除去した後、減圧下で溶媒を除去した。残留生成物をシリカカラム(溶離液:ヘキサン)を通して、化合物2−cを得た。(収率:59%)
図15は、化合物2−cのMSスペクトルを示す図である。
図16は、化合物2−cのNMRスペクトルを示す図である。
(3)化合物2−dの製造
100mLのテトラヒドロフラン(THF)と化合物2−c(3g、3.55mmol)を溶かした後、−78℃で2Mリチウムジイソプロピルアミド(lithium diisopropylamide、LDA)(5.325mL、10.65mmol)を徐々に注入した後、−78℃で2時間撹拌した。同一温度でトリメチルチンクロライド(trimethyltinchloride、MeSnCl)(11mL、11mmol)を入れて、常温に徐々に上げた後、常温で3時間反応した。反応後、ジクロロメタンで抽出し、マグネシウムスルフェート(magnesium sulfate、MgSO)で残留水を除去した後、減圧下で溶媒を除去して、化合物2−dを得た。(収率83.4%)
図17は、化合物2−dのMSスペクトルを示す図である。
図18は、化合物2−dのNMRスペクトルを示す図である。
(4)化合物2−fの製造
30mLのトルエンと10mLのジメチルホルムアミド(DMF)に、化合物2−d(0.93g、0.80mmol)と化合物2−e(1.48g、2.08mmol)を溶かし、トリス(ジベンジリデンアセトン)ジパラジウム(0)(Tris(dibenzylideneacetone)dipalladium(0)、Pddba)触媒(0.029g、0.025mmol)を入れて、110℃で48時間撹拌した。反応後、ジクロロメタンで抽出し、マグネシウムスルフェート(magnesium sulfate、MgSO)で残留水を除去した後、減圧下で溶媒を除去した。残留生成物をシリカカラム(溶離液:ジクロロメタン(CHCl)、クロロホルム(CHCl))を通して、化合物2−fを得た。(収率:59%)
図19は、化合物2−fのMSスペクトルを示す図である。
図20は、化合物2−fのNMRスペクトルを示す図である。
(5)化合物2の製造
クロロホルム(CHCl)30mLに、化合物2−f(0.42g、0.2mmol)と3−オクチルロダニン(3−octylrhodanine)(0.368g、1.5mmol)を溶かし、常温でピペリジン(piperidine)3滴を入れて、24時間還流した。反応後、ジクロロメタンで抽出し、マグネシウムスルフェート(magnesium sulfate、MgSO)で残留水を除去した後、減圧下で溶媒を除去した。残留生成物をシリカカラム(溶離液:ジクロロメタン(CHCl)、クロロホルム(CHCl))を通して、化合物2を得た。(収率:61%)
図21は、化合物2のMSスペクトルを示す図である。
図22は、化合物2のNMRスペクトルを示す図である。
製造例3.化合物5の製造
(1)化合物5−aの製造
60mLのトルエンと6mLのジメチルホルムアミド(DMF)に、化合物1−e(0.86g、0.8mmol)と化合物2−e(1.34g、1.88mmol)を溶かし、トリス(ジベンジリデンアセトン)ジパラジウム(0)(Tris(dibenzylideneacetone)dipalladium(0)、Pddba)触媒(0.0504g、0.055mmol)とトリフェニルホスフィン(PPh)リガンド(0.0577g、0.22mmol)を入れて、110℃で48時間撹拌した。反応後、ジクロロメタンで抽出し、マグネシウムスルフェート(magnesium sulfate、MgSO)で残留水を除去した後、減圧下で溶媒を除去した。残留生成物をシリカカラム(溶離液:ジクロロメタン(CHCl)、クロロホルム(CHCl))を通して、化合物5−aを得る。(収率:58%)
図23は、化合物5−aのMSスペクトルを示す図である。
図24は、化合物5−aのNMRスペクトルを示す図である。
(2)化合物5の製造
クロロホルム(CHCl)20mLに、化合物5−a(0.402g、0.20mmol)と3−オクチルロダニン(3−octylrhodanine)(0.491g、2.0mmol)を溶かし、常温でピペリジン(piperidine)3滴を入れて、24時間還流した。反応後、ジクロロメタンで抽出し、マグネシウムスルフェート(magnesium sulfate、MgSO)で残留水を除去した後、減圧下で溶媒を除去した。残留生成物をシリカカラム(溶離液:ジクロロメタン(CHCl)、クロロホルム(CHCl))を通して、暗褐色の固体を得た。得られた固体をクロロホルム(CHCl)とヘキサンで2回または3回の再結晶を通して、化合物5を得た。(収率:66%)
図25は、化合物5のMSスペクトルを示す図である。
図26は、化合物5のNMRスペクトルを示す図である。
図27(a)は、化合物1の吸光度を示す図である。
図27(a)において、化合物1(a)は溶液状態の化合物1を、化合物1(b)は薄膜に形成された化合物1を、化合物1(c)は薄膜に形成されてから110℃で熱処理された化合物1を意味する。
図27(b)は、化合物2の吸光度を示す図である。
図27(b)において、化合物2(a)は溶液状態の化合物2を、化合物2(b)は薄膜に形成された化合物2を、化合物2(c)は薄膜に形成されてから110℃で熱処理された化合物2を意味する。
図27(c)は、化合物5の吸光度を示す図である。
図27(c)において、化合物5(a)は溶液状態の化合物5を、化合物5(b)は薄膜に形成された化合物5を、化合物5(c)は薄膜に形成されてから110℃で熱処理された化合物5を意味する。
図27(a)と図27(c)において、溶液状態の化合物1(a)および化合物5(a)のλmaxは710nmと同一であるのに対し、薄膜状態の化合物1(b)のλmaxは775nm、化合物5(b)のλmaxは765nmで化合物1(b)が化合物5(b)より赤色偏移(red−shift)したことを確認することができる。これによって、化合物1がバルキー(bulky)なサイドチェーン(side−chain)を有しているにもかかわらず、フィルムパッキング(film packing)の面で向上した特性を示すことが分かる。
図27(b)と図27(c)においても、化合物2が化合物5よりバルキー(bulky)なサイドチェーン(side−chain)を有しているにもかかわらず、フィルムパッキング(film packing)の面で向上した特性を示すことが分かる。また、フィルムを110℃で熱処理した後の化合物2(c)の振動ピーク(vibronic peak)が大きく増加したことからみて、化合物2が優れた結晶性を有することが分かる。
図28(a)、28(b)および28(c)はそれぞれ、化合物1、化合物2および化合物5のCV測定結果を示す図である。これによって、それぞれの化合物のHOMO、LUMOエネルギーレベルを知ることができる。
図29(a)、29(b)および29(c)はそれぞれ、化合物1、化合物2および化合物5のDSC測定結果を示す図である。これによって、化合物1、化合物2および化合物5がそれぞれ異なるTとTを有することが分かる。
図30(a)は、100℃で熱処理した後の化合物1の光学イメージを示す図である。
図30(b)は、100℃で熱処理した後の化合物2の光学イメージを示す図である。
図30(c)は、100℃で熱処理した後の化合物5の光学イメージを示す図である。
図30(d)は、化合物1、化合物2および化合物5の結晶サイズ分布を示す図である。
これによって、化合物5は結晶が小さいのに対し、化合物1および2は結晶が大きく形成されたことを確認することができる。
図31(a)は、化合物1、化合物2および化合物5の製造直後のXRD測定結果を示す図である。
図31(b)は、化合物1の熱処理条件によるXRD測定結果を示す図である。
図31(b)において、化合物1(a)は化合物1の製造直後、化合物1(b)は化合物1を373Kで熱処理した後、化合物1(c)は化合物1を393Kで熱処理した後を示す。
図31(c)は、化合物2の熱処理条件によるXRD測定結果を示す図である。
図31(c)において、化合物2(a)は化合物2の製造直後、化合物2(b)は化合物2を373Kで熱処理した後、化合物2(c)は化合物2を393Kで熱処理した後を示す。
図31(d)は、化合物5の熱処理条件によるXRD測定結果を示す図である。
図31(d)において、化合物5(a)は化合物5の製造直後、化合物5(b)は化合物5を373Kで熱処理した後、化合物5(c)は化合物5を393Kで熱処理した後を示す。
図31(a)により、化合物1および化合物2は、熱処理前にも結晶性を示すが、化合物5は、熱処理前には結晶性を示さないことを確認することができる。
図31(b)により、化合物1の場合、熱処理前後とも結晶性を示すことを確認することができ、図31(c)により、化合物2は、熱処理前にも結晶性を示すが、熱処理後に結晶性が大きく向上することを確認することができる。
図31(d)により、化合物5の場合、熱処理後に結晶性を示すが、化合物1および2に比べて結晶性がわずかであることを確認することができる。
図32には、化合物2および化合物5の熱処理前後のGIWAXS測定結果を示した。
図32において、Asは熱処理前を、TAは熱処理後を意味する。化合物2および化合物5とも熱処理後に結晶方向が変化するとはいえ、化合物2の場合、化合物5の場合より結晶方向がフェースオン(face−on)方向からエッジオン(edge−on)方向に大きく変化することを確認することができる。
図33は、化合物1、2および5をフィルムに形成した後のAFM(Atomic Force Microscope)測定結果である。
図33において、(a)はフィルムに形成された化合物5を、(d)はフィルムに形成されてから140℃で熱処理された化合物5を示す。
図33において、(b)はフィルムに形成された化合物1を、(e)はフィルムに形成されてから140℃で熱処理された化合物1を示す。
図33において、(c)はフィルムに形成された化合物2を、(f)はフィルムに形成されてから140℃で熱処理された化合物2を示す。
製造例4.化合物6の製造
化合物5−a(0.52g、0.26mmol)と3−エチルロダニン(0.48g、3mmol)をクロロホルムに溶かした後、3滴のピペリジンを入れて、24時間還流した。以後、反応物をジクロロメタンに入れて水で洗浄した後、溶媒を除去した。得られた反応物をシリカ精製し、さらにクロロホルムとメタノールで再結晶しフィルタして、0.5gの化合物6を得た。(収率:84%)
図34は、化合物6のNMRスペクトルを示す図である。
図35は、化合物6のMSスペクトルを示す図である。
製造例5.化合物7の製造
(1)化合物7−bの製造
化合物7−a(0.46g、0.7mmol)、化合物2−e(1.07g、1.5mmol)、テトラキス(トリフェニルホスフィン)パラジウム(0)(Pd(PPh)(58mg、0.05mmol)を、30mLのテトラヒドロフラン(THF)と2M炭酸カリウム(KCO)(7.5mL、15mmol)に溶かし、70℃で48時間撹拌した。以後、反応物をメタノールに沈殿させ、沈殿された反応物をフィルタした後、これをシリカ精製した。得られた化合物をクロロホルムとメタノールでさらに再結晶しフィルタして、0.68gの化合物7−bを得た。(収率:59%)
図36は、化合物7−bのNMRスペクトルを示す図である。
図37は、化合物7−bのMSスペクトルを示す図である。
(2)化合物7の製造
化合物7−b(0.40g、0.24mmol)と3−エチルロダニン(0.74g、4.6mmol)をクロロホルムに溶かした後、3滴のピペリジンを入れて、24時間還流した。以後、反応物をジクロロメタンに入れて水で洗浄した後、溶媒を除去した。得られた反応物をシリカ精製し、さらにクロロホルムとメタノールで再結晶しフィルタして、0.41gの化合物7を得た。(収率:87%)
図38は、化合物7のNMRスペクトルを示す図である。
図39は、化合物7のMSスペクトルを示す図である。
実施例1.
洗浄したガラス基板に、フォトリソグラフィを用いて、金/ニッケル(Au/Ni)(13/3nm)のソース、ドレイン電極を形成した。ソース、ドレイン電極が形成された基板をアセトン、蒸留水、イソプロピルアルコールで洗浄した後、110℃で1時間乾燥した。乾燥した基板を30分間UV/オゾン処理した後、グローブボックスに入れた。化合物1を3mg/mLの濃度にクロロベンゼンに溶かした溶液をグローブボックスに入れた基板上に1500rpmでスピンコーティングし、100℃で熱処理した。その後、CYTOPを2000rpmでスピンコーティングし、90℃で1時間熱処理して、絶縁層を形成した。前記絶縁層上にアルミニウム(Al)を50nm熱蒸着(thermal evaporation)して、ゲート電極を形成した。
実施例2.
前記実施例1の製造方法において、化合物1が含まれた溶液を基板上にスピンコーティングした後、120℃で熱処理したことを除けば、実施例1と同様の方法で有機トランジスタを製造した。
実施例3.
前記実施例1の製造方法において、化合物1が含まれた溶液を基板上にスピンコーティングした後、140℃で熱処理したことを除けば、実施例1と同様の方法で有機トランジスタを製造した。
実施例4.
前記実施例1の製造方法において、化合物1の代わりに化合物2を用いたことを除けば、実施例1と同様の方法で有機トランジスタを製造した。
実施例5.
前記実施例2の製造方法において、化合物1の代わりに化合物2を用いたことを除けば、実施例2と同様の方法で有機トランジスタを製造した。
実施例6.
前記実施例3の製造方法において、化合物1の代わりに化合物2を用いたことを除けば、実施例3と同様の方法で有機トランジスタを製造した。
比較例1.
前記実施例1の製造方法において、化合物1の代わりに化合物5を用いた以外は、実施例1と同様の方法で有機トランジスタを製造した。
比較例2.
前記比較例1の製造方法において、化合物5が含まれた溶液を120℃で熱処理したことを除けば、比較例1と同様の方法で有機トランジスタを製造した。
比較例3.
前記比較例1の製造方法において、化合物5が含まれた溶液を140℃で熱処理したことを除けば、比較例1と同様の方法で有機トランジスタを製造した。
表1および図40には、本明細書の実施態様に係る有機トランジスタの特性を評価して示した。
図40(a)と図40(d)は、本明細書の実施例1による有機トランジスタの特性を示す図である。
図40(b)と図40(e)は、本明細書の実施例4による有機トランジスタの特性を示す図である。
図40(c)と図40(f)は、本明細書の比較例1による有機トランジスタの特性を示す図である。
前記表1および図40の結果から、置換もしくは非置換のシリル基、または置換もしくは非置換のシロキサン基を側鎖(side−chain)に含む化合物(化合物1および2)を有機トランジスタの有機半導体層に適用した実施例1〜6が、置換もしくは非置換のシリル基、または置換もしくは非置換のシロキサン基を側鎖(side−chain)に含まない化合物(化合物5)を有機トランジスタの有機半導体層に適用した比較例1〜3より、平均電荷移動度(average mobility)、最大電荷移動度(highest mobility)、on/off電流比率といった有機トランジスタの性能が向上することを確認することができる。
実施例7.
洗浄したガラス基板に、フォトリソグラフィを用いて、金/ニッケル(Au/Ni)(13/3nm)のソース、ドレイン電極を形成した。ソース、ドレイン電極が形成された基板をアセトン、蒸留水、イソプロピルアルコールで洗浄した後、110℃で1時間乾燥した。乾燥した基板を30分間UV/オゾン処理した後、グローブボックスに入れた。化合物1を3mg/mLの濃度に2−メチルテトラヒドロフラン(2−methyltetrahydrofuran)に溶かした溶液をグローブボックスに入れた基板上に1500rpmでスピンコーティングし、100℃で熱処理した。その後、CYTOPを2000rpmでスピンコーティングし、90℃で1時間熱処理して、絶縁層を形成した。前記絶縁層上にアルミニウム(Al)を50nm熱蒸着(thermal evaporation)して、ゲート電極を形成した。
実施例8.
洗浄したガラス基板に、フォトリソグラフィを用いて、金/ニッケル(Au/Ni)(13/3nm)のソース、ドレイン電極を形成した。ソース、ドレイン電極が形成された基板をアセトン、蒸留水、イソプロピルアルコールで洗浄した後、110℃で1時間乾燥した。乾燥した基板を30分間UV/オゾン処理した後、グローブボックスに入れた。化合物2を3mg/mLの濃度に2−メチルテトラヒドロフラン(2−methyltetrahydrofuran)に溶かした溶液をグローブボックスに入れた基板上に1500rpmでスピンコーティングし、140℃で熱処理した。その後、CYTOPを2000rpmでスピンコーティングし、90℃で1時間熱処理して、絶縁層を形成した。前記絶縁層上にアルミニウム(Al)を50nm熱蒸着(thermal evaporation)して、ゲート電極を形成した。
比較例4.
前記化合物6を用いて素子の作製を試みたが、化合物6が溶媒(2−メチルテトラヒドロフラン(2−methyltetrahydrofuran))に溶けず、素子の作製が不可能であった。
比較例5.
前記化合物7を用いて素子の作製を試みたが、化合物7が溶媒(2−メチルテトラヒドロフラン(2−methyltetrahydrofuran))に溶けず、素子の作製が不可能であった。
表2および図41には、本明細書の実施態様に係る有機トランジスタの特性を評価して示した。
図41(a)は、本明細書の実施例7による有機トランジスタの特性を示す図である。
図41(b)は、本明細書の実施例8による有機トランジスタの特性を示す図である。
前記表2および図41の結果から、置換もしくは非置換のシリル基、または置換もしくは非置換のシロキサン基を側鎖(side−chain)に含む化合物(化合物1および2)は、環境に優しい溶媒(2−methyltetrahydrofuran)にも溶解しやすく、有機トランジスタの有機半導体層への適用時(実施例7、8)、一般的な溶媒に溶解した場合(実施例1〜6)と類似の性能を示すことを確認することができる。
反面、比較例4および5から、置換もしくは非置換のシリル基、または置換もしくは非置換のシロキサン基を側鎖(side−chain)に含まない化合物(化合物6、7)の場合、環境に優しい溶媒に溶解しないことを確認することができる。
実施例9.
蒸留水(DI water)、アセトン(acetone)、イソプロピルアルコール(IPA)の順にそれぞれ10分ずつ洗浄されたフレキシブルなPEN(polyethylene naphthalate)基板上に、熱蒸着により50nmのアルミニウムゲート電極を蒸着した。以後、絶縁層として、シクロヘキサノン80mg/mlで溶かしたポリイミドをスピンコーティングし、90℃で2分乾燥後、10分間365nmのUV下で架橋した後、さらに90℃で10分間熱処理した。以後、絶縁層上に化合物1をクロロベンゼンに溶かしてスピンコーティングした。最後に、ソース電極とドレイン電極として、Auを熱蒸着を利用して13nmの厚さに形成して、有機トランジスタベースのガスセンサを製造した。
図42は、実施例9で製造されたガスセンサの性能測定結果を示す図である。図42において、(a)ドレイン電圧−5V、ゲート電圧−20Vの時、(b)はドレイン電圧−40V、ゲート電圧−20Vの時、(c)はドレイン電圧−5V、ゲート電圧−40Vの時、(d)はドレイン電圧−40V、ゲート電圧−40Vの時である。
実施例10.
実施例9において、化合物1の代わりに化合物2を用いたことを除けば、実施例9と同様の方法でガスセンサを製造した。
図43は、実施例10で製造されたガスセンサの性能測定結果を示す図である。図43において、(a)ドレイン電圧−5V、ゲート電圧−20Vの時、(b)はドレイン電圧−40V、ゲート電圧−20Vの時、(c)はドレイン電圧−5V、ゲート電圧−40Vの時、(d)はドレイン電圧−40V、ゲート電圧−40Vの時である。

Claims (15)

  1. 下記化学式1で表される化合物を含む有機半導体層を含む有機トランジスタ:
    [化学式1]
    前記化学式1において、
    n1〜n6はそれぞれ、1〜3の整数であり、
    n1〜n6がそれぞれ2以上の場合、2以上の括弧内の構造は、互いに同一または異なり、
    X1〜X6は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、CRR'、NR、O、SiRR'、PR、S、GeRR'、Se、またはTeであり、
    Y1〜Y4は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、CR"、N、SiR"、P、またはGeR"であり、
    [Push]は、下記構造のうちのいずれか1つであり、
    前記構造において、
    a、a'、bおよびb'はそれぞれ、1〜5の整数であり、
    aが2以上の場合、2以上のR113は、互いに同一または異なり、
    a'が2以上の場合、2以上のR114は、互いに同一または異なり、
    bが2以上の場合、2以上のR115は、互いに同一または異なり、
    b'が2以上の場合、2以上のR116は、互いに同一または異なり、
    X11、X14、X23、X24、X25およびX28は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、CRR'、NR、O、SiRR'、PR、S、GeRR'、Se、またはTeであり、
    X12、X13、X26およびX27は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、C、Si、またはGeであり、
    [Pull1]および[Pull2]は、互いに同一または異なり、それぞれ下記構造のうちのいずれか1つであり、
    前記構造において、
    cは、1〜4の整数であり、
    cが2以上の場合、2以上の括弧内の構造は、互いに同一または異なり、
    R、R'、R''、R1〜R16、R101〜R116およびR201〜R204は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、水素;重水素;ハロゲン基;ニトリル基;ニトロ基;イミド基;アミド基;ヒドロキシ基;置換もしくは非置換のアルキル基;置換もしくは非置換のシクロアルキル基;置換もしくは非置換のアルコキシ基;置換もしくは非置換のアリールオキシ基;置換もしくは非置換のアルキルチオキシ基;置換もしくは非置換のアリールチオキシ基;置換もしくは非置換のアルキルスルホキシ基;置換もしくは非置換のアリールスルホキシ基;置換もしくは非置換のアルケニル基;置換もしくは非置換のシリル基;置換もしくは非置換のシロキサン基;置換もしくは非置換のホウ素基;置換もしくは非置換のアミン基;置換もしくは非置換のアリール基;または置換もしくは非置換のヘテロ環基であり、
    R1〜R16およびR101〜R116のうちの少なくとも1つは、置換もしくは非置換のシリル基、または置換もしくは非置換のシロキサン基を含み、
    は、前記化学式1に結合される部位である。
  2. 前記R1〜R16、R101〜R116およびR201〜R204は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、水素;ハロゲン基;置換もしくは非置換のアルキル基;置換もしくは非置換のシクロアルキル基;置換もしくは非置換のアルコキシ基;置換もしくは非置換のシリル基;置換もしくは非置換のシロキサン基;置換もしくは非置換のアミン基;置換もしくは非置換のアリール基;または置換もしくは非置換のヘテロ環基であり、
    R1〜R16およびR101〜R116のうちの少なくとも1つは、置換もしくは非置換のシリル基、または置換もしくは非置換のシロキサン基を含む、請求項1に記載の有機トランジスタ。
  3. 前記R1〜R16、R101〜R116およびR201〜R204は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、水素;置換もしくは非置換のアルキル基;置換もしくは非置換のシリル基;または置換もしくは非置換のシロキサン基であり、
    R1〜R16およびR101〜R116のうちの少なくとも1つは、置換もしくは非置換のシリル基、または置換もしくは非置換のシロキサン基である、請求項1に記載の有機トランジスタ。
  4. 前記X1〜X6は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、O、SiRR'、またはSである、請求項1に記載の有機トランジスタ。
  5. 前記Y1〜Y4は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、CR"、N、またはSiR"である、請求項1に記載の有機トランジスタ。
  6. 前記X11〜X28は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、O、SiRR'、またはSである、請求項1に記載の有機トランジスタ。
  7. 前記化学式1は、下記化学式1−1または化学式1−2で表されるものである、請求項1から6のいずれか一項に記載の有機トランジスタ:
    [化学式1−1]
    [化学式1−2]
    前記化学式1−1および1−2において、
    n1〜n6、[Push]、[Pull1]、[Pull2]、X1〜X6、Y1〜Y4およびR1〜R12の定義は、前記化学式1と同じであり、
    n25、n35、n45およびn55はそれぞれ、0〜5の整数であり、
    n25、n35、n45およびn55がそれぞれ2以上の場合、2以上の括弧内の構造は、互いに同一または異なり、
    R301〜R309、R401〜R409、R501〜R509、R601〜R609およびR701〜R708は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、水素;重水素;ハロゲン基;ニトリル基;ニトロ基;イミド基;アミド基;ヒドロキシ基;置換もしくは非置換のアルキル基;置換もしくは非置換のシクロアルキル基;置換もしくは非置換のアルコキシ基;置換もしくは非置換のアリールオキシ基;置換もしくは非置換のアルキルチオキシ基;置換もしくは非置換のアリールチオキシ基;置換もしくは非置換のアルキルスルホキシ基;置換もしくは非置換のアリールスルホキシ基;置換もしくは非置換のアルケニル基;置換もしくは非置換のシリル基;置換もしくは非置換のシロキサン基;置換もしくは非置換のホウ素基;置換もしくは非置換のアミン基;置換もしくは非置換のアリール基;または置換もしくは非置換のヘテロ環基である。
  8. 前記化学式1は、下記化学式1−4〜化学式1−8のうちのいずれか1つで表されるものである、請求項1から7のいずれか一項に記載の有機トランジスタ:
    [化学式1−4]
    [化学式1−5]
    [化学式1−7]
    [化学式1−8]
    前記化学式1−〜1−8において、
    n1〜n6、[Push]、[Pull1]、[Pull2]、X1〜X6、X11〜X14、X23、X24、Y1〜Y4、R1〜R12、R101〜R102、R111およびR112の定義は、前記化学式1と同じであり、
    n25、n35、n45およびn55はそれぞれ、0〜5の整数であり、
    n25、n35、n45およびn55がそれぞれ2以上の場合、2以上の括弧内の構造は、互いに同一または異なり、
    R301〜R309、R401〜R409、R501〜R509、R601〜R609およびR701〜R708は、互いに同一または異なり、それぞれ独立に、水素;重水素;ハロゲン基;ニトリル基;ニトロ基;イミド基;アミド基;ヒドロキシ基;置換もしくは非置換のアルキル基;置換もしくは非置換のシクロアルキル基;置換もしくは非置換のアルコキシ基;置換もしくは非置換のアリールオキシ基;置換もしくは非置換のアルキルチオキシ基;置換もしくは非置換のアリールチオキシ基;置換もしくは非置換のアルキルスルホキシ基;置換もしくは非置換のアリールスルホキシ基;置換もしくは非置換のアルケニル基;置換もしくは非置換のシリル基;置換もしくは非置換のシロキサン基;置換もしくは非置換のホウ素基;置換もしくは非置換のアミン基;置換もしくは非置換のアリール基;または置換もしくは非置換のヘテロ環基である。
  9. 前記[Pull1]および[Pull2]はそれぞれ、
    であり、
    R201の定義は、請求項1と同じである、請求項1から8のいずれか一項に記載の有機トランジスタ。
  10. 前記化学式1は、下記化合物のうちのいずれか1つで表されるものである、請求項1から9のいずれか一項に記載の有機トランジスタ。
  11. 前記有機トランジスタは、ゲート電極、ソース電極、ドレイン電極、および前記有機半導体層と接する絶縁層を含む、請求項1に記載の有機トランジスタ。
  12. 請求項1〜11のいずれか1項に記載の有機トランジスタを適用したガスセンサ。
  13. 前記有機半導体層が炭素ベースの物質をさらに含むものである、請求項12に記載のガスセンサ。
  14. 前記ガスセンサは、アンモニア(NH)、エチレン(C)、ホルムアルデヒド(HCHO)、フッ酸(HF)、窒素酸化物、硫黄酸化物、またはエタノールを感知するものである、請求項12または13に記載のガスセンサ。
  15. 前記ガスセンサは、硫黄酸化物に対する感度(sensitivity)が空気(air)対比0.1ppm以上90%以下である、請求項12から14のいずれか一項に記載のガスセンサ。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102371106B1 (ko) * 2018-01-17 2022-03-04 주식회사 엘지화학 화합물 및 이를 포함하는 유기 전자 소자
CN111380926B (zh) * 2018-12-28 2023-05-26 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 气体感测器及其制备方法
CN110003245B (zh) * 2019-04-09 2021-06-22 常州大学 一类烷基/硫烷基氮杂芳环末端的D(A-Ar)2型共轭化合物及其制备方法与应用

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2330451B (en) * 1997-10-14 2002-11-20 Thin Film Technology Method of forming an electronic device
US6953947B2 (en) 1999-12-31 2005-10-11 Lg Chem, Ltd. Organic thin film transistor
US6617609B2 (en) * 2001-11-05 2003-09-09 3M Innovative Properties Company Organic thin film transistor with siloxane polymer interface
US20060042013A1 (en) 2004-08-31 2006-03-02 Children's Hospital Boston Head positioning device
CA2587781A1 (en) * 2004-12-09 2006-06-15 Ciba Specialty Chemicals Holding Inc. Fluorescent diketopyrrolopyrroles
KR100943146B1 (ko) 2007-02-13 2010-02-18 주식회사 엘지화학 티아졸로티아졸 유도체를 이용한 유기 트랜지스터 및 이의제조방법
US8946376B2 (en) * 2010-09-29 2015-02-03 Basf Se Semiconductors based on diketopyrrolopyrroles
EP2689428A1 (en) * 2011-03-25 2014-01-29 Merck Patent GmbH Pyrrolo[3,2-b]pyrrole-2,5-diones and their use as organic semiconductors
WO2013089323A1 (ko) * 2011-12-15 2013-06-20 경상대학교산학협력단 신규한 다이케토피를로피롤 중합체 및 이를 이용한 유기 전자 소자
US9293718B2 (en) * 2012-04-04 2016-03-22 Basf Se Diketopyrrolopyrrole polymers and small molecules
KR101694961B1 (ko) * 2013-05-21 2017-01-10 한국화학연구원 단분자 비대칭 유기 반도체 화합물, 이의 제조방법 및 이를 채용한 유기 반도체 장치
CN104423893A (zh) 2013-08-29 2015-03-18 中兴通讯股份有限公司 存储处理方法、装置及终端
EP3054488B1 (en) * 2013-10-04 2019-05-08 Asahi Kasei Kabushiki Kaisha Transistor, and transistor manufacturing method
KR101728738B1 (ko) * 2014-03-07 2017-05-02 한국화학연구원 유기 반도체 화합물, 이의 제조방법 및 이를 채용한 유기 반도체 소자
KR101677841B1 (ko) * 2014-04-21 2016-11-18 주식회사 엘지화학 헤테로환 화합물 및 이를 포함하는 유기 태양 전지
CN106232716A (zh) * 2014-04-21 2016-12-14 住友化学株式会社 组合物及高分子化合物、以及含有该组合物或该高分子化合物的有机半导体元件
WO2016171465A2 (ko) * 2015-04-20 2016-10-27 주식회사 엘지화학 헤테로환 화합물 및 이를 포함하는 유기 태양 전지

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