JP6711183B2 - 微粒子検出器及び排気浄化装置 - Google Patents
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Description
(排気浄化装置)
第1の実施の形態における排気浄化装置について図1に基づき説明する。
次に、本実施の形態における微粒子検出器について、図1に基づき説明する。本実施の形態における微粒子検出器は、電磁波発生部30、入射パワーセンサ41、反射パワーセンサ42、透過パワーセンサ43、微粒子検出制御部51等を有しており、微粒子捕集部10に堆積したPM等の微粒子の堆積量を検出することができる。
次に、本実施の形態における微粒子検出器を用いた微粒子検出方法について、図4に基づき説明する。尚、以下の工程における制御及び演算等は、マイクロ波による加熱を除き、微粒子検出制御部51において行われる。
次に、第2の実施の形態について説明する。本実施の形態は、筐体部20内に複数の異なる周波数の電磁波を入射させて、微粒子捕集部10を透過した電磁波の強度を測定することにより、微粒子捕集部10におけるPM等の微粒子の堆積量を検出するものである。第1の実施の形態と同様に、筐体部20内に複数の異なる周波数の電磁波を入射させた場合、電磁波は筐体部20内において多重反射を繰り返し、微粒子捕集部10におけるPM等の微粒子に吸収される。このため、筐体部20に入射した電磁波の透過パワーを測定することにより、PM等の微粒子の堆積量を検出することができる。本実施の形態における微粒子検出器には、第1の実施の形態と同様のものが用いられる。
次に、第3の実施の形態について説明する。本実施の形態は、所定の範囲の周波数の電磁波において、反射波の値がすべて、所定の値以下となった場合に、微粒子捕集部10におけるPM等の微粒子の堆積量がクリーニングが必要な所定量となったものと判断する微粒子検出器である。具体的には、微粒子捕集部10におけるPM等の微粒子の堆積量が増えると、吸収される電磁波も増えるため、反射波及び透過した電磁波のパワーは低下する。例えば、図3(a)に示されるように、微粒子捕集部10にPM等の微粒子が堆積していない状態よりも、図3(b)に示されるように、微粒子捕集部10にPM等の微粒子が堆積している状態の方が、全体的に反射波のパワーが低くなっている。具体的には、図3(a)に示されるように、微粒子捕集部10にPM等の微粒子が堆積していない状態では、1.5GHzから5.0GHzの範囲において、反射波のパワーが−5dB以上となる周波数の電磁波が複数存在している。これに対し、図3(b)に示されるように、微粒子捕集部10にPM等の微粒子が堆積している状態では、1.5GHzから5.0GHzの範囲において、反射波のパワーが−5dB以上となる周波数の電磁波は存在していない。このような傾向は、透過した電磁波についても同様である。
次に、第4の実施の形態について説明する。本実施の形態は、透過した電磁波のパワーを周波数積分した積分量に基づき微粒子検出を行う微粒子検出器である。具体的には、微粒子捕集部10におけるPM等の微粒子の堆積量が増えると、吸収される電磁波も増えるため、反射波及び透過した電磁波のパワーは低下する。例えば、図6(a)に示されるように、微粒子捕集部10にPM等の微粒子が堆積していない状態よりも、図6(b)に示されるように、微粒子捕集部10にPM等の微粒子が堆積している状態の方が、透過した電磁波のパワーを周波数積分した積分量が低くなる。
次に、第5の実施の形態について説明する。本実施の形態は、透過した電磁波のパワーの周波数微分値の絶対値を周波数積分した積分量に基づき微粒子検出を行う微粒子検出器である。具体的には、微粒子捕集部10におけるPM等の微粒子の堆積量が増えると、透過した電磁波のパワーのピークが下がりボトムが上昇し平均化する傾向にある。このことは、反射波も同様である。例えば、図6(a)に示されるように、微粒子捕集部10にPM等の微粒子が堆積していない状態よりも、図6(b)に示されるように、微粒子捕集部10にPM等の微粒子が堆積している状態の方が、パワーが平均化される。従って、透過した電磁波のパワーの周波数微分値の絶対値を周波数積分した積分量が低くなる。
次に、第6の実施の形態について説明する。本実施の形態は、筐体部20に取り付けられた温度計に基づき、補正を加える微粒子測定方法である。本実施の形態における微粒子検出方法について、図15に基づき説明する。尚、以下の工程における制御及び演算等は、マイクロ波による加熱を除き、微粒子検出制御部51において行われる。
(付記1)
被加熱物が入れられる筐体部と、
複数の異なる周波数の電磁波を発生させる電磁波発生部と、
前記電磁波発生部において発生させた電磁波を前記筐体部に入射させ、前記筐体部からのパワーを測定するパワーセンサと、
前記パワーセンサにより測定された前記複数の周波数の電磁波のパワーに基づき、前記被加熱物に堆積している微粒子の堆積量が所定の堆積量となったか否かを判断する微粒子検出制御部と、
を有することを特徴とする微粒子検出器。
(付記2)
前記パワーセンサは、前記電磁波発生部より前記筐体部に入射させた前記電磁波のうち、前記筐体部において反射された電磁波のパワーを測定する反射パワーセンサであることを特徴とする付記1に記載の微粒子検出器。
(付記3)
前記パワーセンサは、前記電磁波発生部より前記筐体部に入射させた前記電磁波のうち、前記被加熱物を透過した電磁波のパワーを測定する透過パワーセンサであることを特徴とする付記1に記載の微粒子検出器。
(付記4)
前記パワーセンサは、複数設けられており、
第1のパワーセンサは、前記電磁波発生部より前記筐体部に入射させた前記電磁波のうち、前記筐体部において反射された電磁波のパワーを測定する反射パワーセンサであり、
第2のパワーセンサは、前記電磁波発生部より前記筐体部に入射させた前記電磁波のうち、前記被加熱物を透過した電磁波のパワーを測定する透過パワーセンサであることを特徴とする付記1に記載の微粒子検出器。
(付記5)
前記電磁波発生部は、所定の範囲の複数の異なる周波数の電磁波を発生させるものであって、
前記微粒子検出制御部は、前記パワーセンサにより検出された所定のパワー以下となる電磁波の数が、所定の数以下となった場合に、前記被加熱物に堆積している微粒子の堆積量が所定の堆積量となったことを検出することを特徴とする付記1から4のいずれかに記載の微粒子検出器。
(付記6)
前記電磁波発生部は、所定の範囲の複数の異なる周波数の電磁波を発生させるものであって、
前記微粒子検出制御部は、前記パワーセンサにより検出されていた所定のパワー以上となる電磁波が、存在しなくなった場合に、前記被加熱物に堆積している微粒子の堆積量が所定の堆積量となったことを検出することを特徴とする付記1から4のいずれかに記載の微粒子検出器。
(付記7)
前記電磁波発生部は、所定の範囲の複数の異なる周波数の電磁波を発生させるものであって、
前記微粒子検出制御部は、前記パワーセンサにより検出されていたパワーを周波数積分した積分量が、所定の値以下となった場合に、前記被加熱物に堆積している微粒子の堆積量が所定の堆積量となったことを検出することを特徴とする付記1から4のいずれかに記載の微粒子検出器。
(付記8)
前記電磁波発生部は、所定の範囲の複数の異なる周波数の電磁波を発生させるものであって、
前記微粒子検出制御部は、前記パワーセンサにより検出されていたパワーの周波数微分値の絶対値を周波数積分した積分量が、所定の値以下となった場合に、前記被加熱物に堆積している微粒子の堆積量が所定の堆積量となったことを検出することを特徴とする付記1から4のいずれかに記載の微粒子検出器。
(付記9)
前記筐体部には、前記筐体部の温度を測定する温度測定部が設けられていることを特徴とする付記1から8のいずれかに記載の微粒子検出器。
(付記10)
前記電磁波発生部において発生させる電磁波の周波数は、前記筐体部における最低共振周波数以上であることを特徴とする付記1から8のいずれかに記載の微粒子検出器。
(付記11)
付記1から10のいずれかに記載の微粒子検出器と、
排気に含まれる微粒子を捕集する微粒子捕集部と、
を有し、
前記微粒子捕集部に堆積している微粒子の堆積量が所定の堆積量となった場合には、前記電磁波発生部において発生させたマイクロ波を前記微粒子捕集部に照射することを特徴とする排気浄化装置。
(付記12)
前記マイクロ波の周波数は、前記複数の異なる周波数の電磁波のうちの一つと同じ周波数であることを特徴とする付記11に記載の排気浄化装置。
(付記13)
前記マイクロ波の周波数は、2.4GHz以上、2.5GHz以下であることを特徴とする付記11または12に記載の排気浄化装置。
(付記14)
前記マイクロ波の周波数は、前記パワーセンサにおいて測定されたパワーが、所定のパワー以下となった周波数であることを特徴とする付記11から13のいずれかに記載の排気浄化装置。
(付記15)
前記電磁波発生部は、窒化物半導体により形成された半導体素子を含むものにより形成されていることを特徴とする付記11から14のいずれかに記載の排気浄化装置。
11 酸化触媒部
20 筐体部
20a 筐体本体部
20b 吸入口
20c 排出口
30 電磁波発生部
41 入射パワーセンサ
42 反射パワーセンサ
43 透過パワーセンサ
50 制御部
51 微粒子検出制御部
52 マイクロ波加熱制御部
60 温度測定部
Claims (8)
- 被加熱物が入れられる筐体部と、
複数の異なる周波数の電磁波を発生させる電磁波発生部と、
前記電磁波発生部において発生させた電磁波を前記筐体部に入射させ、前記筐体部からのパワーを測定するパワーセンサと、
前記パワーセンサにより測定された前記複数の周波数の電磁波のパワーに基づき、前記被加熱物に堆積している微粒子の堆積量が所定の堆積量となったか否かを判断する微粒子検出制御部と、
を有し、
前記電磁波発生部は、所定の範囲の複数の異なる周波数の電磁波を発生させるものであって、
前記微粒子検出制御部は、前記パワーセンサにより検出されていたパワーの周波数微分値の絶対値を周波数積分した積分量が、所定の値以下となった場合に、前記被加熱物に堆積している微粒子の堆積量が所定の堆積量となったことを検出することを特徴とする微粒子検出器。 - 被加熱物が入れられる筐体部と、
複数の異なる周波数の電磁波を発生させる電磁波発生部と、
前記電磁波発生部において発生させた電磁波を前記筐体部に入射させ、前記筐体部からのパワーを測定するパワーセンサと、
前記パワーセンサにより測定された前記複数の周波数の電磁波のパワーに基づき、前記被加熱物に堆積している微粒子の堆積量が所定の堆積量となったか否かを判断する微粒子検出制御部と、
を有し、
前記電磁波発生部は、所定の範囲の複数の異なる周波数の電磁波を発生させるものであって、
前記微粒子検出制御部は、前記パワーセンサにより検出された所定のパワー以下となる電磁波の周波数のピークの数が、所定の数以下となった場合に、前記被加熱物に堆積している微粒子の堆積量が所定の堆積量となったことを検出することを特徴とする微粒子検出器。 - 前記パワーセンサは、前記電磁波発生部より前記筐体部に入射させた前記電磁波のうち、前記筐体部において反射された電磁波のパワーを測定する反射パワーセンサであることを特徴とする請求項1または2に記載の微粒子検出器。
- 前記パワーセンサは、前記電磁波発生部より前記筐体部に入射させた前記電磁波のうち、前記被加熱物を透過した電磁波のパワーを測定する透過パワーセンサであることを特徴とする請求項1または2に記載の微粒子検出器。
- 前記筐体部には、前記筐体部の温度を測定する温度測定部が設けられていることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の微粒子検出器。
- 請求項1から5のいずれかに記載の微粒子検出器と、
排気に含まれる微粒子を捕集する微粒子捕集部と、
を有し、
前記微粒子捕集部に堆積している微粒子の堆積量が所定の堆積量となった場合には、前記電磁波発生部において発生させたマイクロ波を前記微粒子捕集部に照射することを特徴とする排気浄化装置。 - 前記マイクロ波の周波数は、前記複数の異なる周波数の電磁波のうちの一つと同じ周波数であることを特徴とする請求項6に記載の排気浄化装置。
- 前記マイクロ波の周波数は、前記パワーセンサにおいて測定されたパワーが、所定のパワー以下となった周波数であることを特徴とする請求項6または7に記載の排気浄化装置。
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