JP6703856B2 - Optical film defect detection apparatus and method - Google Patents
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Description
本発明は、光学フィルムの工程過程で発生した不良を検出するための技術に関する。 The present invention relates to a technique for detecting a defect generated in a process of manufacturing an optical film.
一般に、光学フィルムロール(roll)の工程過程で、同一間隔を有する不良が連続して一定値以上発生した場合、当該領域を特別管理領域として指定し、検品員によりさらに検査を行っている。 Generally, in the process of optical film roll process, when defects having the same interval continuously occur over a certain value, the region is designated as a special management region and further inspected by an inspector.
このとき、検品員は不良検出マップ(2次元グラフ)を見て、不良が周期性不良であるか否かを判断している。しかし、検品員間の熟練度が相違し、また不良検出マップのX/Y軸のスケール(scale)の変化による不良間の間隔基準の差異を感知しにくいため、数多くのロールに対して、正確で且つ一貫性のある周期性不良の確認及び管理が困難である。さらに、検品員により検査が行われる場合、検査作業に多くの費用及び時間を要する問題点がある。 At this time, the inspector looks at the defect detection map (two-dimensional graph) to determine whether the defect is a periodic defect. However, it is difficult to detect the difference in the interval reference between defects due to the change in the skill level among the inspectors and the change in the X/Y axis scale of the defect detection map. It is difficult to confirm and manage the periodicity defects that are consistent and consistent. Further, when the inspection is performed by an inspector, there is a problem that the inspection work requires a lot of cost and time.
本発明の目的は、光学フィルムの工程過程で発生した周期性不良を検出するための不良検出装置及び方法を提供することである。 An object of the present invention is to provide a defect detection apparatus and method for detecting a periodic defect generated in the process of manufacturing an optical film.
1.少なくとも一つの検査装置から、搬送される光学フィルムの不良情報を受信する受信部と、
前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する不良位置決定部と、
一定の大きさの探索領域を設定し、前記不良の位置に基づいて、前記探索領域の位置を変更することにより、前記2次元平面上における既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する探索部と、
前記探索された領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて周期性不良を検出する不良検出部とを含む光学フィルムの不良検出装置。
1. From at least one inspection device , a receiving unit for receiving defect information of the conveyed optical film,
A defect position determination unit that determines a defect position on a two-dimensional plane corresponding to the optical film based on the defect information;
By setting a search area of a certain size and changing the position of the search area based on the position of the defect, an area in which the number of defects is equal to or more than the preset number on the two-dimensional plane exists. A search unit to search,
A defect detection device for an optical film, comprising: a defect detection unit that detects a periodic defect based on the number of defects included in the searched area and an interval between the defects.
2.前記項目1において、前記探索領域は、
各々の不良の位置に対して、前記各々の不良の位置を含むように設定され、
前記探索部は、前記各々の不良の位置を中心に前記探索領域の位置をX軸またはY軸に順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出装置。
2. In the
The position of each defect is set to include the position of each defect,
The search unit sequentially changes the position of the search area to the X-axis or the Y-axis with the position of each defect as a center, and the region in which each of the search regions has the preset number of defects or more. Optical film defect detection device.
3.前記項目1において、前記探索領域は、
各々の不良の位置を中心座標とする一定の大きさの複数の探索領域を含み、
前記探索部は、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出装置。
3. In the
Including a plurality of search areas of a certain size with the position of each defect as the center coordinate,
The defect detecting device for an optical film, wherein the search unit searches the search region for the region in which the number of defects is equal to or more than the preset number.
4.前記項目1において、前記探索領域は、
前記2次元平面を一定の大きさに分割した複数の探索領域を含み、
前記探索部は、分割された各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出装置。
4. In the
A plurality of search regions obtained by dividing the two-dimensional plane into a certain size,
The defect detecting device for an optical film, wherein the search unit searches for the region in which the defects of the preset number or more are present in each of the divided search regions.
5.前記項目1において、前記探索部は、
前記探索領域の位置を一定距離だけ順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出装置。
5. In the
A defect detecting device for an optical film, wherein the position of the search area is sequentially changed by a predetermined distance, and the area where each of the search areas has the preset number of defects or more is searched.
6.前記項目1において、前記不良検出部は、
前記探索された領域の位置を格納するメモリ部と、
前記探索された領域の前記位置に基づいて、不良候補領域を決定する候補領域決定部と、
前記不良候補領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて、前記周期性不良の存在有無を判断する不良判断部とを含む光学フィルムの不良検出装置。
6. In the
A memory unit for storing the position of the searched area;
A candidate area determination unit that determines a defective candidate area based on the position of the searched area;
A defect detection device for an optical film, comprising: a defect determination unit that determines the presence or absence of the periodic defect based on the number of defects included in the defect candidate area and the interval between the defects.
7.前記項目6において、前記候補領域決定部は、
前記探索された領域を前記不良候補領域として決定する光学フィルムの不良検出装置。
7. In the item 6, the candidate area determination unit is
An optical film defect detection device that determines the searched region as the defect candidate region.
8.前記項目7において、前記候補領域決定部は、
前記探索された領域のうち、重畳又は連続する領域が存在する場合、前記重畳する領域又は連続する領域を統合し、統合された領域を前記不良候補領域として決定する光学フィルムの不良検出装置。
8. In the item 7, the candidate area determination unit,
A defect detection device for an optical film, wherein, when there are overlapping or continuous regions among the searched regions, the overlapping regions or continuous regions are integrated and the integrated region is determined as the defect candidate region.
9.前記項目8において、前記候補領域決定部は、
前記探索された領域又は前記統合された領域の各々に対して、各領域に含まれている前記不良を全て含む最小サイズの領域を前記不良候補領域として決定する光学フィルムの不良検出装置。
9. In the item 8, the candidate area determination unit is
A defect detection device for an optical film, which determines, for each of the searched region or the integrated region, a minimum size region including all the defects included in each region as the defect candidate region.
10.前記項目6において、前記メモリ部は、
2次元配列を用いて、前記探索された領域の位置情報を格納する光学フィルムの不良検出装置。
10. In the item 6, the memory unit is
An optical film defect detecting device for storing positional information of the searched area by using a two-dimensional array.
11.前記項目6において、前記不良判断部は、
前記不良候補領域において、前記光学フィルムの搬送方向を基準とし、同一列に含まれている前記不良の数が既に設定された値以上であり、かつ当該列に含まれている前記不良間の間隔のうちの同一間隔の数が既に設定された値以上である場合、前記周期性不良と判断する光学フィルムの不良検出装置。
11. In the item 6, the defect determination unit is
In the defect candidate area, with reference to the transport direction of the optical film , the number of the defects included in the same column is equal to or more than a preset value, and the interval between the defects included in the column If the number of the same intervals among them is equal to or more than a preset value, the defect detecting device for the optical film which judges the periodic defect.
12.前記項目1において、前記不良検出部は、
前記周期性不良が検出された場合、前記光学フィルムの工程ラインにおける前記周期性不良の発生位置に関する情報を含む不良検出情報を生成する不良検出情報生成部を含む光学フィルムの不良検出装置。
12. In the
An optical film defect detection device including a defect detection information generation unit that generates defect detection information including information regarding a position where the periodic defect occurs in a process line of the optical film when the periodic defect is detected.
13.前記項目12において、前記不良検出情報生成部は、
前記不良検出情報を工程管理システムの管理者の端末、前記光学フィルムの前記工程ラインの作業者の端末、及び前記工程ライン上の警報装置のうちの少なくとも一つに伝送する光学フィルムの不良検出装置。
13. In the item 12, the defect detection information generation unit is
An optical film defect detection device that transmits the defect detection information to at least one of a terminal of a manager of a process control system, an operator terminal of the process line of the optical film, and an alarm device on the process line. .
14.少なくとも一つの検査装置から、搬送される光学フィルムの不良情報を受信する段階と、
前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する段階と、
一定の大きさの探索領域を設定し、前記不良の位置に基づいて、前記探索領域の位置を変更することにより、前記2次元平面上で既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する段階と、
前記探索された領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて周期性不良を検出する段階とを含む光学フィルムの不良検出方法。
14. Receiving defect information of the conveyed optical film from at least one inspection device,
Determining the position of the defect on the two-dimensional plane corresponding to the optical film based on the defect information;
By setting a search area of a certain size and changing the position of the search area based on the position of the defect, an area in which the number of defects is equal to or larger than the number already set on the two-dimensional plane is set. The stage of exploration,
A method of detecting a defect in an optical film, which comprises detecting a periodic defect based on the number of defects included in the searched area and an interval between the defects.
15.前記項目14において、前記探索領域は、
前記2次元平面における各々の不良の位置に対して、前記各々の不良の位置を含むように設定され、
前記探索する段階は、前記各々の不良の位置を中心に前記探索領域の位置をX軸またはY軸に順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出方法。
15. In the item 14, the search area is
The position of each defect in the two-dimensional plane is set to include the position of each defect,
In the step of searching, the position of the search area is sequentially changed to the X-axis or the Y-axis centering on the position of each defect, and the number of defects equal to or more than the preset number exists in each search region. A method for detecting defects in an optical film that searches for a region.
16.前記項目14において、前記探索領域は、
各々の不良の位置を中心座標とする一定の大きさの複数の探索領域を含み、
前記探索する段階は、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出方法。
16. In the item 14, the search area is
Including a plurality of search areas of a certain size with the position of each defect as the center coordinate,
The step of searching is a method of detecting a defect of an optical film, which searches for the region in which the number of defects is equal to or more than the preset number in each search region.
17.前記項目14において、前記探索領域は、
前記2次元平面を一定の大きさに分割された複数の探索領域を含み、
前記探索する段階は、分割された各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出方法。
17. In the item 14, the search area is
Includes a plurality of search regions divided the two-dimensional plane to a certain size,
The step of searching is a method of detecting a defect of an optical film, which searches for the region in which the number of defects is equal to or more than the preset number among the divided search regions.
18.前記項目14において、前記探索する段階は、
前記探索領域の位置を順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出方法。
18. In item 14, the searching step includes
A method of detecting a defect in an optical film, which sequentially changes the position of the search area, and searches for the area where the preset number or more of the defects exist in each search area.
19.前記項目14において、前記検出する段階は、
前記探索された領域の位置を格納する段階と、
前記探索された領域の前記位置に基づいて、不良候補領域を決定する段階と、
前記不良候補領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて、前記周期性不良の存在有無を判断する段階とを含む光学フィルムの不良検出方法。
19. In the item 14, the detecting step includes
Storing the location of the searched area,
Determining a defect candidate area based on the position of the searched area;
Determining the presence or absence of the periodic defect based on the number of defects included in the defect candidate area and the interval between the defects.
20.前記項目19において、前記不良候補領域を決定する段階は、
前記探索された領域を前記不良候補領域として決定する光学フィルムの不良検出方法。
20. In the item 19, the step of determining the defect candidate area includes
A method of detecting a defect of an optical film, wherein the searched region is determined as the defect candidate region.
21.前記項目20において、前記不良候補領域を決定する段階は、
前記探索された領域のうち、重畳又は連続する領域が存在する場合、前記重畳する領域又は連続する領域を統合し、統合された領域を前記不良候補領域として決定する光学フィルムの不良検出方法。
21. In the item 20, the step of determining the defect candidate area includes
A method of detecting a defect of an optical film, wherein, when there is a superposed or continuous region among the searched regions, the superposed region or the continuous region is integrated, and the integrated region is determined as the defective candidate region.
22.前記項目21において、前記不良候補領域を決定する段階は、
前記探索された領域又は前記統合された領域の各々に対して、各領域に含まれている前記不良を全て含む最小サイズの領域を前記不良候補領域として決定する光学フィルムの不良検出方法。
22. In the item 21, the step of determining the defect candidate area includes
A defect detection method for an optical film, which determines, for each of the searched region or the integrated region, a minimum size region including all the defects included in each region as the defect candidate region.
23.前記項目19において、前記格納する段階は、
2次元配列を用いて、前記探索された領域の位置情報を格納する光学フィルムの不良検出方法。
23. In the item 19, the storing step includes
A method for detecting a defect in an optical film, which stores positional information of the searched area using a two-dimensional array.
24.前記項目19において、前記判断する段階は、
前記不良候補領域において、前記光学フィルムの搬送方向を基準とし、同一列に含まれている前記不良の数が既に設定された値以上であり、かつ当該列に含まれている前記不良間の間隔のうちの同一間隔の数が既に設定された値以上である場合、前記周期性不良と判断する光学フィルムの不良検出方法。
24. In the item 19, the determining step includes
In the defect candidate area, with reference to the transport direction of the optical film , the number of the defects included in the same column is equal to or more than a preset value, and the interval between the defects included in the column If the number of the same intervals among them is equal to or more than a preset value, the defect detection method of the optical film, which is judged as the periodic defect.
25.前記項目14において、
前記周期性不良が検出された場合、前記光学フィルムの工程ラインにおける前記周期性不良の発生位置に関する情報を含む不良検出情報を生成する段階をさらに含む光学フィルムの不良検出方法。
25. In the above item 14,
The method of detecting a defect in an optical film, further comprising: generating defect detection information including information about a position where the periodic defect occurs in a process line of the optical film when the periodic defect is detected.
26.前記項目25において、
前記不良検出情報を工程管理システムの管理者の端末、前記光学フィルムの前記工程ラインの作業者の端末、及び前記工程ライン上の警報装置のうちの少なくとも一つに伝送する段階をさらに含む光学フィルムの不良検出方法。
26. In the item 25,
The optical film further comprises transmitting the defect detection information to at least one of a terminal of a manager of a process control system, a terminal of an operator of the process line of the optical film, and an alarm device on the process line. Defect detection method.
27.ハードウェアと結合され、
少なくとも一つの検査装置から、搬送される光学フィルムの不良情報を受信する段階と、
前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する段階と、
一定の大きさの探索領域を設定し、前記不良の位置に基づいて、前記探索領域の位置を変更することにより、前記2次元平面上で既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する段階と、
前記探索された領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて周期性不良を検出する段階と、をコンピュータに実行させるために記録媒体に格納されたコンピュータプログラム。
27. Combined with hardware,
Receiving defect information of the conveyed optical film from at least one inspection device,
Determining the position of the defect on the two-dimensional plane corresponding to the optical film based on the defect information;
By setting a search area of a certain size and changing the position of the search area based on the position of the defect, an area in which the number of defects is equal to or larger than the number already set on the two-dimensional plane is set. The stage of exploration,
A computer program stored in a recording medium to cause a computer to detect a periodic defect based on the number of defects included in the searched area and an interval between the defects.
本発明によると、光学フィルムに含まれている周期性不良の発生有無が自動的に判断されるようになることにより、光学フィルムの生産量に関らず一貫した基準により光学フィルムの品質を管理できるとともに、周期性不良の検出時間を短縮することで生産性を向上させることができる。 According to the present invention, the presence or absence of the periodicity defect contained in the optical film is automatically determined, so that the quality of the optical film is controlled by a consistent standard regardless of the production amount of the optical film. In addition, the productivity can be improved by shortening the detection time of the periodicity defect.
また、本発明によると、光学フィルムにおける周期性不良の発生有無を速やかに把握して通知できるようにすることにより、周期性不良の発生に対する迅速な措置が可能となり、光学フィルムの生産ロス(Loss)を低減できる。 Further, according to the present invention, by promptly grasping and notifying the occurrence or non-occurrence of the periodic defect in the optical film, it becomes possible to take prompt measures against the occurrence of the periodic defect, and the production loss of the optical film (Loss ) Can be reduced.
以下、図面を参照して、本発明の具体的な実施形態を説明することとする。以下の詳細な説明は、本明細書で記述する方法、装置、及び/又はシステムに関する包括的な理解を助けるために提供される。但し、これらは例示に過ぎず、本発明はこれらに制限されるものではない。 Hereinafter, specific embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. The following detailed description is provided to aid in a comprehensive understanding of the methods, devices, and/or systems described herein. However, these are merely examples, and the present invention is not limited thereto.
本発明の実施形態を説明するにあたり、関連する公知技術に対する具体的な説明が本発明の要旨を不明確にする虞があると判断される場合には、その詳細な説明を省略する。また、後述する用語は、本発明における機能を考慮して定義された用語であり、使用者、運用者の意図または慣例などによって異なり得る。従って、その定義は、本明細書全般に亘る内容に基づいて行われるべきである。詳細な説明で使用される用語は、単に本発明の実施形態を記述するためのものであり、決して制限的であってはならない。明確に異なる意味で使用されない限り、単数形の表現は複数形の意味を含む。本説明において、「含む」または「備える」のような表現は、如何なる特性、数字、段階、動作、要素、これらの一部または組合せを指すためのものであり、記述するもの以外に、一つ又はそれ以上の他の特性、数字、段階、動作、要素、これらの一部または組合せの存在又は可能性を排除して解釈してはならない。 In describing the embodiments of the present invention, a detailed description thereof will be omitted when it is determined that a detailed description of related known techniques may obscure the gist of the present invention. The terms described below are terms defined in consideration of the functions of the present invention, and may differ depending on the intention or custom of the user or operator. Therefore, the definition should be made based on the contents throughout the present specification. The terms used in the detailed description are merely for describing the embodiments of the present invention and should not be limiting in any way. The singular expression includes the plural meaning unless the meaning is clearly different. In this description, expressions such as “comprise” or “comprise” are intended to refer to any characteristic, number, step, action, element, part or combination thereof, and not one or more than one described. It should not be interpreted to exclude the presence or possibility of any other characteristic, number, step, action, element, part or combination thereof.
図1は、本発明の一実施形態に係る光学フィルムの不良検出装置の構成図である。 FIG. 1 is a configuration diagram of an optical film defect detection device according to an embodiment of the present invention.
図1を参照すると、本発明の一実施形態による光学フィルムの不良検出装置100は、受信部110、不良位置決定部120、探索部130及び不良検出部140を含む。
Referring to FIG. 1, an optical film
受信部110は、少なくとも1つの検査装置から光学フィルムの不良情報を受信する。このとき、各検査装置は、光学フィルムの工程ライン上の異なる位置に配置され、光学フィルムの製造工程で発生した不良を検出し、検出された不良に関する不良情報を生成するための装置を意味する。
The
例えば、検査装置は、光学フィルムの工程ラインにおいて光学フィルムの上面に配置されるカメラモジュールを含むことができ、該カメラモジュールを用いて光学フィルムを撮影し、撮影した画像から不良を検出するように構成されてもよい。また、このために、光学フィルムを基準として、カメラモジュールが位置する面の反対面に光源を備えることができる。カメラモジュールは、光源から放出されて光学フィルムを透過した光を撮影するように構成されてもよい。この場合、光学フィルムに不良が存在する場合、該当部分は、光の透過度が低くなるので、容易に不良を検出することができる。 For example, the inspection apparatus may include a camera module disposed on an upper surface of the optical film in a process line of the optical film, and the optical film is photographed by using the camera module so that a defect is detected from the photographed image. It may be configured. For this purpose, a light source may be provided on the surface opposite to the surface on which the camera module is located, with the optical film as a reference. The camera module may be configured to capture the light emitted from the light source and transmitted through the optical film. In this case, when there is a defect in the optical film, the light transmittance of the corresponding portion becomes low, so that the defect can be easily detected.
なお、検査装置により生成される不良情報は、検出された不良の位置、大きさ、明るさ、検出された不良を撮影した画像、検査開始時刻及び終了時刻などを含むことができる。 The defect information generated by the inspection device may include the position, size, and brightness of the detected defect, an image of the detected defect, an inspection start time, an inspection end time, and the like.
不良位置決定部120は、検査装置から受信された不良情報に基づいて、光学フィルムに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する。
The defect
例えば、不良位置決定部120は、光学フィルムの長さ及び幅に対応する2次元平面を構成し、各検査装置から受信された不良情報を統合して、当該2次元平面における不良の位置を決定できる。このとき、2次元平面における不良の位置は、各検査装置から受信された不良情報に含まれている不良の位置に基づいて決定することができる。また、光学フィルムの長さ及び幅は、予め設定された値を用いることができる。
For example, the defect
探索部130は、不良位置決定部120により決定された不良の位置に基づいて、2次元平面上において既に設定された数以上の不良が存在する領域を探索する。
The
例えば、探索部130は、一定の大きさの探索領域を設定し、設定された探索領域を2次元平面上で巡回しながら、探索領域内に含まれている不良の数をカウントすることにより、既に設定された数以上の不良が存在する領域を探索することができる。これについて、図3〜6を参照して具体的に説明する。
For example, the
図3〜6において、点線で表される領域は探索領域を示し、丸で表される部分は不良の位置を示す。なお、図3〜6では、探索領域が四角形の形状であることを示しているが、これに限定されるものではない。例えば、探索領域は、円形状であってもよく、ユーザの選択により適切な形状に変形され得る。また、探索領域のサイズは、例えば、計算負荷、計算の正確性などを考慮してユーザにより設定され得る。 3 to 6, a region indicated by a dotted line indicates a search region, and a portion indicated by a circle indicates a defective position. 3 to 6 show that the search region has a quadrangular shape, the present invention is not limited to this. For example, the search region may have a circular shape, and may be transformed into an appropriate shape according to the user's selection. Further, the size of the search area can be set by the user in consideration of, for example, the calculation load and the calculation accuracy.
本発明の一実施形態によると、探索部130は、2次元平面に含まれている各々の不良の位置に対して、各々の不良の位置を含む一定の大きさの探索領域を設定することができる。そして、探索部130は、各々の不良の位置を中心に探索領域の位置を変更し、各探索領域のうち既に設定された数以上の不良が存在する領域を探索することができる。
According to an embodiment of the present invention, the
具体的には、図3を参照すると、探索部130は、2次元平面300上に含まれている複数の不良のうち、特定の不良310を含む探索領域321を設定することができる。そして、探索部130は、設定された探索領域321内における不良の数をカウントし、不良の数が既に設定された数以上であるか否かを判断することができる。
Specifically, referring to FIG. 3, the
次いで、探索部130は、不良310の位置を中心に探索領域321をX軸方向に一定距離だけ移動し、移動後の位置で探索領域322内の不良の数をカウントし、不良の数が既に設定された数以上であるか否かを判断することができる。
Next, the
次いで、探索部130は、不良310の位置を中心に探索領域322をX軸方向に一定距離だけさらに移動し、移動後の位置で探索領域323内の不良数をカウントし、不良の数が既に設定された数以上であるか否かを判断することができる。
Next, the
次いで、探索部130は、不良310の位置を中心に探索領域323をY軸方向に一定距離だけ移動させ、移動後の位置で探索領域324内の不良の数をカウントし、不良の数が既に設定された数以上であるか否かを判断することができる。
Next, the
このように、探索部130は、特定の不良310を中心にして、探索領域をX軸及びY軸方向に一定距離だけ順次移動させ、それぞれの位置で探索領域内の不良の数をカウントし、既に設定された数以上の不良が含まれている領域を探索することができる。
In this way, the
なお、図示の例において、探索領域の移動距離はユーザにより予め設定され得る。 In the illustrated example, the moving distance of the search area can be preset by the user.
また、探索部130は、2次元平面300に含まれている各々の不良に対して同様な方式で探索領域を設定し、設定された探索領域を移動しながら、それぞれの位置で探索領域内に含まれている不良の数が既に設定された数以上であるか否かを判断することができる。
In addition, the
一方、本発明の他の実施形態によると、探索部130は、2次元平面において各々の不良の位置を中心座標とする一定の大きさの探索領域を設定し、各探索領域のうち既に設定された数以上の不良が存在する領域を探索することができる。
On the other hand, according to another embodiment of the present invention, the
具体的な例として、図4を参照すると、探索部130は、2次元平面400上に含まれている各々の不良に対して、各不良を中心座標とする一定の大きさの探索領域410,420,430,440,450を設定することができる。そして、探索部130は、それぞれの探索領域410,420,430,440,450に対して不良の数をカウントし、既に設定された数以上の不良が含まれている領域を探索することができる。
As a specific example, referring to FIG. 4, for each defect included in the two-
一方、本発明のさらに他の実施形態によると、探索部130は、2次元平面を一定の大きさの複数の探索領域に分割し、分割された各探索領域のうち既に設定された数以上の不良が存在する領域を探索することができる。
Meanwhile, according to another embodiment of the present invention, the
具体的な例として、図5を参照すると、探索部130は、2次元平面500を一定の大きさの探索領域510,520,530,540に分割することができる。そして、探索部130は、それぞれの探索領域510,520,530,540に含まれている不良の数をカウントし、既に設定された数以上の不良が含まれているかどうかを判断することができる。
As a specific example, referring to FIG. 5, the
一方、本発明のさらに他の実施形態によると、探索部130は、2次元平面において一定の大きさの探索領域を設定し、2次元平面内において探索領域の位置を順次変更し、各探索領域のうち既に設定された数以上の不良が存在する領域を探索することができる。
Meanwhile, according to another exemplary embodiment of the present invention, the
具体的な例として、図6を参照すると、探索部130は、2次元平面600上の特定の位置で一定の大きさの探索領域610を設定することができる。そして、探索部130は、設定された探索領域610内において不良の数をカウントし、不良の数が既に設定された数以上であるか否かを判断することができる。
As a specific example, referring to FIG. 6, the
次いで、探索部130は、探索領域610をY軸方向に一定距離だけ順次移動させ、それぞれの位置で探索領域620,630,640,650内の不良の数をカウントし、不良の数が既に設定された数以上であるか否かを判断することができる。
Next, the
なお、Y軸方向に探索領域をこれ以上移動させることができない場合は、探索部130は、探索領域をX軸方向に一定距離だけ移動させた後、探索領域660内の不良数をカウントし、不良の数が既に設定された数以上であるか否かを判断することができる。
If the search area cannot be further moved in the Y-axis direction, the
次いで、探索部130は、探索領域660を再度X軸方向に一定距離だけ順次移動させ、それぞれの位置で探索領域内の不良数をカウントし、不良の数が既に設定された数以上であるか否かを判断することができる。
Next, the
このような方式により、探索部130は、探索領域を用いて2次元平面600の全領域を巡回しながら、それぞれの位置で探索領域内の不良数をカウントし、既に設定された数以上の不良が存在する領域を探索することができる。
With such a method, the
なお、図6に図示の例において、探索領域の移動方向及び移動距離はユーザにより予め設定され得る。 In the example illustrated in FIG. 6, the moving direction and moving distance of the search area can be preset by the user.
不良検出部140は、探索部130により探索された領域に含まれている不良の数及び不良間の間隔に基づいて、周期性不良を検出することができる。ここで、周期性不良とは、一定間隔をおいて周期的に発生する不良を意味する。
The
具体的には、不良検出部140は、探索部130により探索された領域に基づいて、一つ以上の不良候補領域を設定することができる。また、不良検出部140は、設定された各不良候補領域において、光学フィルムの長さ(搬送)方向を基準として不良の数をカウントすることができる。このとき、不良の数が既に設定された値以上の場合、不良間の間隔を算出して周期性不良を検出することができる。
Specifically, the
図2は、本発明の一実施形態に係る不良検出部140の詳細構成図である。
FIG. 2 is a detailed configuration diagram of the
図2を参照すると、本発明の一実施形態による不良検出部140は、メモリ部141、候補領域決定部142、不良判断部143、及び不良検出情報生成部144を含む。
Referring to FIG. 2, the
メモリ部141は、探索部130により探索された、既に設定された数以上の不良が存在する領域の位置を格納することができる。具体的には、メモリ部141は、探索部130により探索された領域の2次元平面上の位置を格納することができる。本発明の一実施形態によると、メモリ部141は、2次元平面に対応する2次元配列で構成されたイメージバッファの形態で実現でき、2次元配列を用いて、探索部120により探索された領域の位置を格納することができる。
The
候補領域決定部142は、メモリ部141に格納された、探索された領域の位置に基づいて、一つ以上の不良候補領域を決定することができる。
The candidate
例えば、候補領域決定部142は、メモリ部141に格納された各々の探索された領域を不良候補領域として決定することができる。
For example, the candidate
このとき、本発明の一実施形態によると、候補領域決定部142は、メモリ部141に格納された探索された領域のうち、重畳又は連続する領域が存在する場合、重畳又は連続する領域を統合し、統合された領域を不良候補領域として決定することができる。このとき、重畳又は連続する領域の統合のために、Blob Labelingアルゴリズムのようなラベリング(Labeling)アルゴリズムが用いてもよい。
At this time, according to an exemplary embodiment of the present invention, the candidate
具体的な例として、図7を参照すると、光学フィルムに対応する2次元平面710上で探索部130により探索された領域711,712,713は、2次元配列で構成されたメモリ部141の格納領域720の対応する位置721,722,723にそれぞれ格納することができる。
As a specific example, referring to FIG. 7,
このとき、候補領域決定部142は、探索部130により探索された領域である721,722及び723の領域を、それぞれ不良候補領域として決定することができる。
At this time, the candidate
他の例として、図7において、721の領域と722の領域とは連続する領域であるため、候補領域決定部142は、721の領域と722の領域とを、図8に示す例のように1つの領域724に統合し、統合された領域の724と、723の領域とを、それぞれ不良候補領域として決定することができる。
As another example, in FIG. 7, since the
他の例として、図9を参照すると、光学フィルムに対応する2次元平面910上で探索部130により探索された領域911,912,913は、2次元配列で構成されたメモリ部141の格納領域920の対応する位置921,922,923にそれぞれ格納することができる。
As another example, referring to FIG. 9,
このとき、候補領域決定部142は、探索部130により探索された領域である921,922及び923の領域を、それぞれ不良候補領域として決定することができる。
At this time, the candidate
他の例として、メモリ部141に格納された、探索された領域のうちの921の領域と922の領域とは重畳している領域であるため、候補領域決定部142は、921の領域と922の領域とを、図10に示す例のように一つの領域924に統合し、統合された領域の924と、923の領域とを、それぞれ不良候補領域として決定することができる。
As another example, since the
一方、本発明の一実施形態によると、候補領域決定部142は、探索部130により探索された領域又は統合された領域のそれぞれに対して、各領域に含まれている不良を全て含む最小サイズの領域を不良候補領域として決定することができる。
On the other hand, according to the exemplary embodiment of the present invention, the candidate
具体的な例として、図10及び図11を参照すると、候補領域決定部142は、統合された領域924と統合されていない領域923のそれぞれに対し、各領域に含まれている不良を全て含む最小領域925,926を設定し、設定された最小領域925,926をそれぞれ不良候補領域として決定することができる。
As a specific example, referring to FIGS. 10 and 11, the candidate
なお、図11に示す例では、最小領域が四角形の形状であることを示しているが、これに限定されるものではなく、最小領域の形状は、例えば円形状などの様々な形状であってもよい。 Although the example shown in FIG. 11 shows that the minimum area has a quadrangular shape, the shape is not limited to this, and the shape of the minimum area may be various shapes such as a circular shape. Good.
不良判断部143は、それぞれの不良候補領域において、光学フィルムの長さ方向を基準とし、同一列に含まれている不良の数及び前記同一列に含まれている不良間の間隔に基づいて周期性不良を検出することができる。
In each of the defect candidate regions, the
具体的な例として、図12を参照すると、不良判断部143は、それぞれの不良候補領域1210,1220において、光学フィルムの長さ方向を基準とし、同一列に含まれている不良の数をカウントすることにより、既に設定された数以上の不良が存在するか否かを判断することができる。例えば、周期性不良が存在するものと判断するための不良の数が3であれば、不良候補領域1210の場合は3個以上の不良が含まれている列が存在していないが、不良候補領域1220の場合は4個の不良が含まれている列1221が存在している。
As a specific example, referring to FIG. 12, the
したがって、不良判断部143は、4個の不良が含まれている列1221に対し、図13に示す例のように不良間の間隔1310を算出し、同一間隔の数をカウントする。このとき、同一間隔の数が既に設定された数以上の場合に、不良判断部143は、周期性不良と判断することができる。例えば、周期性不良を判断するために、既に設定された同一間隔の数が3であり、かつ列1221に含まれている不良間の間隔が同一であると仮定すると、列1221において同一間隔の数は4であるため、不良判断部143は、光学フィルムにおける列1221に該当する位置に周期性不良が存在すると最終判定することができる。
Therefore, the
不良検出情報生成部144は、周期性不良が検出された場合、検出された周期性不良に関する不良検出情報を生成することができる。このとき、不良検出情報は、例えば、光学フィルムの工程ラインにおける周期性不良の発生位置に関する情報を含むことができ、光学フィルムの工程ラインにおける周期性不良の発生位置は、光学フィルム上で検出された周期性不良の発生位置に基づいて算出することができる。たとえば、不良検出情報生成部144は、光学フィルムの工程ラインにおける光学フィルムの搬送方向を基準とし、光学フィルムの開始位置から光学フィルムで検出された周期性不良の発生位置までの距離に基づいて、光学フィルムの工程ラインにおける周期性不良の発生位置を判断することができる。
When a periodicity defect is detected, the defect detection
一方、本発明の一実施形態によると、不良検出情報生成部144は、生成された不良検出情報を、例えば工程管理システムの管理者の端末、工程ラインの作業者の端末、ないしは工程ライン上の警報装置に伝送することにより、周期性不良の発生に対する迅速な措置が行われるようにすることができる。
On the other hand, according to an embodiment of the present invention, the defect detection
図14は、本発明の一実施形態に係る光学フィルムの不良検出方法のフローチャートである。 FIG. 14 is a flowchart of an optical film defect detection method according to an embodiment of the present invention.
図14を参照すると、光学フィルムの不良検出装置100は、少なくとも一つの検査装置から光学フィルムの不良情報を受信する(1410)。
Referring to FIG. 14, the optical film
その後、光学フィルムの不良検出装置100は、受信された不良情報に基づいて、光学フィルムに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する(1420)。
Then, the optical film
その後、光学フィルムの不良検出装置100は、決定された不良の位置に基づいて、2次元平面上で既に設定された数以上の不良が存在する領域を探索する(1430)。
Thereafter, the
例えば、光学フィルムの不良検出装置100は、2次元平面における各々の不良の位置に対して、各々の不良の位置を含む一定の大きさの探索領域を設定し、各々の不良の位置を中心に探索領域の位置を順次変更し、各探索領域のうち既に設定された数以上の不良が存在する領域を探索することができる。
For example, the optical film
他の例として、光学フィルムの不良検出装置100は、2次元平面に含まれている各不良の位置を中心座標とする一定の大きさの複数の探索領域を設定し、各探索領域のうち既に設定された数以上の不良が存在する領域を探索することができる。
As another example, the
さらに他の例として、光学フィルムの不良検出装置100は、2次元平面を一定の大きさの複数の探索領域に分割し、分割された各探索領域のうち前記既に設定された数以上の不良が存在する領域を探索することができる。
As still another example, the
さらに他の例として、光学フィルムの不良検出装置100は、2次元平面で一定の大きさの探索領域を設定し、前記探索領域の位置を順次変更し、各探索領域のうち既に設定された数以上の不良が存在する領域を探索することができる。
As still another example, the optical film
その後、光学フィルムの不良検出装置100は、探索された領域に含まれている不良の数及び不良間の間隔に基づいて周期性不良を検出する(1440)。
Thereafter, the optical film
その後、光学フィルムの不良検出装置100は、検出された周期性不良に関する不良検出情報を生成する(1450)。このとき、不良検出情報は、例えば、光学フィルムの工程ラインにおける周期性不良の発生位置に関する情報を含むことができる。
Then, the optical film
その後、光学フィルムの不良検出装置100は、生成された不良検出情報を、例えば、工程管理システムの管理者の端末、工程ラインの作業者の端末、ないしは工程ライン上の警報装置に伝送する(1460)。
After that, the optical film
図15は、本発明の一実施形態に係る周期性不良の検出過程を示すフローチャートである。 FIG. 15 is a flowchart illustrating a process of detecting a periodicity defect according to an exemplary embodiment of the present invention.
図15を参照すると、光学フィルムの不良検出装置100は、図14の探索段階1430で探索された領域の位置を格納する(1510)。このとき、光学フィルムの不良検出装置100は、2次元配列を用いて、探索された領域の位置情報を格納することができる。
Referring to FIG. 15, the optical film
その後、光学フィルムの不良検出装置100は、探索された領域の位置に基づいて不良候補領域を決定する(1520)。
After that, the optical film
例えば、光学フィルムの不良検出装置100は、探索された領域の各々を不良候補領域として決定することができる。
For example, the optical film
他の例として、光学フィルムの不良検出装置100は、探索された領域のうちに重畳又は連続する領域が存在する場合、重畳する領域又は連続する領域を統合し、統合された領域を不良候補領域として決定することができる。
As another example, the
さらに他の例として、光学フィルムの不良検出装置100は、探索された領域又は統合された領域の各々に対して、各領域に含まれている不良を全て含む最小サイズの領域を不良候補領域として決定することができる。
As still another example, the optical film
その後、光学フィルムの不良検出装置100は、不良候補領域に含まれている不良の数及び不良間の間隔に基づいて周期性不良の存在有無を判断する(1530)。
Thereafter, the optical film
例えば、光学フィルムの不良検出装置100は、不良候補領域の光学フィルムの搬送方向を基準とし、同一列に含まれている不良の数が既に設定された値以上であり、かつ当該列に含まれている不良間の間隔のうち同一間隔の数が既に設定された値以上である場合、周期性不良と判断することができる。
For example, the
図15及び図16のフローチャートでは、前記方法を複数の段階に分けて示しているが、少なくとも一部の段階は、順序を変えて実行するか、他の段階と組み合わせて実行するか、省略するか、細かな段階に分けて実行するか、又は図示していない一つ以上の段階を付加して実行してもよい。 In the flowcharts of FIGS. 15 and 16, the method is divided into a plurality of steps, but at least a part of the steps is performed in a different order, combined with other steps, or omitted. Alternatively, the operation may be performed in fine steps, or one or more steps not shown may be added and executed.
一方、本発明の実施形態は、本明細書で記述した方法をコンピュータで実行するためのプログラムを含むコンピュータ読み取り可能な記録媒体を含むことができる。前記コンピュータ読み取り可能な記録媒体は、プログラム命令、ローカルデータファイル、ローカルデータ構造などを、単独に又は組み合わせて含むことができる。前記媒体は、本発明のために特別に設計して構成されたもの、又はコンピュータソフトウェアの分野で通常使用可能なものであってもよい。コンピュータ読み取り可能な記録媒体の例には、ハードディスク、フロッピー(登録商標)ディスク及び磁気テープなどの磁気媒体と、CD−ROM、DVDなどの光記録媒体と、フロッピー(登録商標)ディスクなどの磁気−光媒体と、ROM、RAM、フラッシュメモリなどのプログラム命令を格納して実行するように特別に構成されたハードウェア装置とが含まれる。プログラム命令の例としては、コンパイラにより作成されるような機械語コードのみならず、インタプリタなどを用いて、コンピュータにより実行できる高級言語コードを含むことができる。 On the other hand, the embodiments of the present invention may include a computer-readable recording medium including a program for executing the method described herein by a computer. The computer-readable recording medium may include program instructions, local data files, local data structures, etc., alone or in combination. The medium may be one specially designed and constructed for the present invention, or one commonly used in the field of computer software. Examples of computer-readable recording media include magnetic media such as hard disks, floppy (registered trademark) disks and magnetic tapes, optical recording media such as CD-ROMs and DVDs, and magnetic recording media such as floppy (registered trademark) disks. Included are optical media and hardware devices, such as ROM, RAM, flash memory, etc., specially configured to store and execute program instructions. Examples of program instructions include not only machine language code created by a compiler but also high-level language code that can be executed by a computer using an interpreter or the like.
以上、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。 Although some embodiments of the present invention have been described above, these embodiments are presented as examples and are not intended to limit the scope of the invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the spirit of the invention. These embodiments and their modifications are included in the scope and gist of the invention, and are also included in the invention described in the claims and the scope equivalent thereto.
100:光学フィルムの不良検出装置
110:受信部
120:不良位置決定部
130:探索部
140:不良検出部
141:メモリ部
142:候補領域決定部
143:不良判断部
144:不良検出情報生成部
100: Defect detection device for optical film 110: Reception unit 120: Defect position determination unit 130: Search unit 140: Defect detection unit 141: Memory unit 142: Candidate area determination unit 143: Defect determination unit 144: Defect detection information generation unit
Claims (27)
前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する不良位置決定部と、
一定の大きさの探索領域を設定し、前記不良の位置に基づいて、前記探索領域の位置を変更することにより、前記2次元平面上における既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する探索部と、
前記探索された領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて周期性不良を検出する不良検出部とを含む光学フィルムの不良検出装置。 From at least one inspection device , a receiving unit for receiving defect information of the conveyed optical film,
A defect position determination unit that determines a defect position on a two-dimensional plane corresponding to the optical film based on the defect information;
By setting a search area of a certain size and changing the position of the search area based on the position of the defect, an area in which the number of defects is equal to or more than the preset number on the two-dimensional plane exists. A search unit to search,
A defect detection device for an optical film, comprising: a defect detection unit that detects a periodic defect based on the number of defects included in the searched area and an interval between the defects.
前記探索部は、前記各々の不良の位置を中心に前記探索領域の位置をX軸またはY軸に順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する請求項1に記載の光学フィルムの不良検出装置。 The search area is set to include the position of each defect with respect to each defect position,
The search unit sequentially changes the position of the search area to the X-axis or the Y-axis with the position of each defect as a center, and the region in which each of the search regions has the preset number of defects or more. The defect detecting device for an optical film according to claim 1, wherein
前記探索部は、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する請求項1に記載の光学フィルムの不良検出装置。 The search region includes a plurality of search regions of a predetermined size centered coordinates the position of each defect,
The optical film defect detection device according to claim 1, wherein the search unit searches for each of the search regions for the region in which the preset number or more of the defects exist.
前記探索部は、分割された各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する請求項1に記載の光学フィルムの不良検出装置。 The search area includes a plurality of search areas obtained by dividing the two-dimensional plane into a certain size,
The optical film defect detection device according to claim 1, wherein the search unit searches the divided search regions for the regions where the preset number or more of the defects are present.
前記探索された領域の位置を格納するメモリ部と、
前記探索された領域の前記位置に基づいて、不良候補領域を決定する候補領域決定部と、
前記不良候補領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて、前記周期性不良の存在有無を判断する不良判断部とを含む請求項1ないし5のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出装置。 The defect detection unit,
A memory unit for storing the position of the searched area;
A candidate area determination unit that determines a defective candidate area based on the position of the searched area;
The defect determination unit for determining the presence/absence of the periodic defect based on the number of defects included in the defect candidate area and the interval between the defects. Optical film defect detection device.
前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する段階と、
一定の大きさの探索領域を設定し、前記不良の位置に基づいて、前記探索領域の位置を変更することにより、前記2次元平面上で既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する段階と、
前記探索された領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて周期性不良を検出する段階とを含む光学フィルムの不良検出方法。 Receiving defect information of the conveyed optical film from at least one inspection device,
Determining the position of the defect on the two-dimensional plane corresponding to the optical film based on the defect information;
By setting a search area of a certain size and changing the position of the search area based on the position of the defect, an area in which the number of defects is equal to or larger than the number already set on the two-dimensional plane is set. The stage of exploration,
A method of detecting a defect in an optical film, which comprises detecting a periodic defect based on the number of defects included in the searched area and an interval between the defects.
前記探索する段階は、前記各々の不良の位置を中心に前記探索領域の位置をX軸またはY軸に順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する請求項14に記載の光学フィルムの不良検出方法。 The search area is set so as to include the position of each defect with respect to each defect position in the two-dimensional plane,
In the step of searching, the position of the search area is sequentially changed to the X-axis or the Y-axis centering on the position of each defect, and the number of defects equal to or more than the preset number exists in each search region. The method for detecting defects in an optical film according to claim 14, wherein a region is searched.
前記探索する段階は、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する請求項14に記載の光学フィルムの不良検出方法。 The search region includes a plurality of search regions of a predetermined size centered coordinates the position of each defect,
The optical film defect detection method according to claim 14, wherein in the searching step, the area in which each of the search areas has the preset number of defects or more is searched.
前記探索する段階は、分割された各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する請求項14に記載の光学フィルムの不良検出方法。 The search area includes a plurality of search areas obtained by dividing the two-dimensional plane into a certain size,
The optical film defect detection method according to claim 14, wherein in the searching step, the region in which each of the divided search regions has the preset number of defects or more is searched.
前記探索された領域の位置を格納する段階と、
前記探索された領域の前記位置に基づいて、不良候補領域を決定する段階と、
前記不良候補領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて、前記周期性不良の存在有無を判断する段階とを含む請求項14ないし18のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出方法。 The detecting step includes
Storing the location of the searched area,
Determining a defect candidate area based on the position of the searched area;
19. The optical film according to claim 14, further comprising the step of determining the presence or absence of the periodic defect based on the number of the defects included in the defect candidate region and the interval between the defects. Defect detection method.
少なくとも一つの検査装置から、搬送される光学フィルムの不良情報を受信する段階と、
前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する段階と、
一定の大きさの探索領域を設定し、前記不良の位置に基づいて、前記探索領域の位置を変更することにより、前記2次元平面上で既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する段階と、
前記探索された領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて周期性不良を検出する段階と、をコンピュータに実行させるために記録媒体に格納されたコンピュータプログラム。 Combined with hardware,
Receiving defect information of the conveyed optical film from at least one inspection device,
Determining the position of the defect on the two-dimensional plane corresponding to the optical film based on the defect information;
By setting a search area of a certain size and changing the position of the search area based on the position of the defect, an area in which the number of defects is equal to or larger than the number already set on the two-dimensional plane is set. The stage of exploration,
A computer program stored in a recording medium for causing a computer to detect a periodic defect based on the number of defects included in the searched area and an interval between the defects.
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