KR101733017B1 - Apparatus and method for detecting defect of optical film - Google Patents

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Abstract

본 발명은 광학 필름의 불량 검출 장치 및 방법에 관한 것으로, 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 불량 검출 장치는 적어도 하나의 검사 장치로부터 광학 필름 롤(roll)에 대한 불량 정보를 수신하는 수신부, 상기 불량 정보에 기초하여, 상기 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면 상에서 불량의 위치를 결정하는 불량 위치 결정부, 상기 불량의 위치에 기초하여, 상기 평면 상에서 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 탐색부 및 상기 탐색된 영역에 포함된 불량의 수 및 불량들 사이의 간격에 기초하여 주기성 불량을 검출하는 불량 검출부를 포함한다.The present invention relates to an apparatus and method for detecting a defect in an optical film, and an apparatus for detecting a defect in an optical film according to an embodiment of the present invention includes a receiver for receiving defect information for an optical film roll from at least one inspection apparatus A defect position determining section for determining a position of a defect on a two-dimensional plane corresponding to the optical film roll, based on the defect information, and a defect determination section for determining, based on the defect position, And a defect detector for detecting a periodicity defect based on the number of defects included in the searched area and the interval between the defects.

Description

광학 필름의 불량 검출 장치 및 방법{APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING DEFECT OF OPTICAL FILM}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to an apparatus and a method for detecting defects in an optical film,

본 발명의 실시예들은 광학 필름의 공정 과정에서 발생한 불량을 검출하기 위한 기술과 관련된다.Embodiments of the present invention relate to techniques for detecting defects that occur during processing of an optical film.

일반적으로, 광학 필름 롤(Roll)의 공정 과정에서 동일한 간격을 가지는 불량이 연속되어 일정치 이상 발생한 경우, 해당 영역을 특별 관리 영역으로 지정하여 검품원에 의해 추가적인 검사 과정이 수행되고 있다.Generally, when defects having the same interval are continuously formed in a process of an optical film roll and a defect occurs over a predetermined value, the area is designated as a special management area and an additional inspection process is performed by the inspector.

이때, 검품원들은 불량 검출 Map(2차원 그래프)을 보고 주기성 불량 여부를 판단하고 있으나, 검품원들 사이의 숙련도가 상이하며, 불량 검출 Map의 X/Y축 스케일(Scale)변화에 따른 불량 사이의 간격 기준의 차이를 감지하기 어려운 문제점이 있어 수많은 롤에 대해 정확하고 일관된 주기성 불량의 확인 및 관리가 어렵다는 문제가 있다. 또한, 검품원에 의해 검사가 이루어지는 경우, 검사 작업에 많은 비용과 시간을 소비하게 되는 문제점이 있다.At this time, the inspector judges whether or not the periodicity is bad by looking at the defect detection map (two-dimensional graph), but the proficiency among the inspection members is different, and the defect according to the change of the X / Y axis scale of the defect detection map There is a problem in that it is difficult to accurately and consistently confirm and manage the periodicity defects for a large number of rolls. In addition, when inspection is performed by an inspection source, there is a problem that a lot of cost and time are consumed in the inspection work.

대한민국 공개특허 2003-0046267호 (2003. 06. 12)Korean Patent Publication No. 2003-0046267 (June, 2003)

본 발명의 실시예들은 광학 필름의 공정 과정에서 발생한 주기성 불량을 검출하기 위한 불량 검출 장치 및 방법을 제공하기 위한 것이다.Embodiments of the present invention are intended to provide a defect detection apparatus and method for detecting a periodicity defect occurring in a process of an optical film.

1. 적어도 하나의 검사 장치로부터 광학 필름 롤(roll)에 대한 불량 정보를 수신하는 수신부;1. A receiver for receiving defect information on an optical film roll from at least one inspection apparatus;

상기 불량 정보에 기초하여, 상기 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면 상에서 불량의 위치를 결정하는 불량 위치 결정부;A defective position determining unit that determines a defective position on a two-dimensional plane corresponding to the optical film roll, based on the defective information;

상기 불량의 위치에 기초하여, 상기 2차원 평면 상에서 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 탐색부; 및A search unit for searching, based on the position of the defect, an area in which there is a defect more than a predetermined number on the two-dimensional plane; And

상기 탐색된 영역에 포함된 불량의 수 및 불량들 사이의 간격에 기초하여 주기성 불량을 검출하는 불량 검출부를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 장치.And a defect detection section for detecting a periodicity defect based on the number of defects included in the searched area and the interval between defects.

2. 위 1에 있어서, 상기 탐색부는, 2. The apparatus of claim 1,

각각의 불량의 위치에 대하여, 상기 각각의 불량의 위치를 포함하는 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 상기 각각의 불량의 위치를 중심으로 상기 탐색 영역의 위치를 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 장치.Setting a search area of a predetermined size including each of the defective positions for each defective position and sequentially changing the position of the search area about the position of each defective area, And searching for a region in which there is more than a predetermined number of defects.

3. 위 1에 있어서, 상기 탐색부는, 3. The apparatus of claim 1,

각각의 불량의 위치를 중심 좌표로 하는 일정 크기의 복수의 탐색 영역을 설정하고, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 장치.And sets a plurality of search regions of a predetermined size having center positions of the defective portions as the center coordinates and searches for a region in which there is more than a predetermined number of defects among the search regions.

4. 위 1에 있어서, 상기 탐색부는, 4. The apparatus of claim 1,

상기 2차원 평면을 일정 크기의 복수의 탐색 영역으로 분할하고, 분할된 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 장치.Dimensional plane is divided into a plurality of search regions of a predetermined size and an area in which there is a defect of at least a predetermined number among the divided search regions is searched.

5. 위 1에 있어서, 상기 탐색부는, 5. The apparatus of claim 1,

상기 2차원 평면에서 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 상기 탐색 영역의 위치를 일정 거리만큼 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 장치.Dimensional plane; setting a search area of a predetermined size in the two-dimensional plane, sequentially changing the position of the search area by a predetermined distance, and searching for a region in which there is more than a predetermined number of defects among the search areas, Device.

6. 위 1에 있어서, 상기 불량 검출부는, 6. The apparatus of claim 1, wherein the defect detector comprises:

상기 탐색된 영역의 위치를 저장하는 메모리부;A memory unit for storing a location of the searched area;

상기 탐색된 영역의 위치에 기초하여, 불량 후보 영역을 결정하는 후보 영역 결정부; 및A candidate region determining unit for determining a defective candidate region based on the position of the searched region; And

상기 불량 후보 영역에 포함된 불량의 수 및 불량들 사이의 간격에 기초하여, 상기 주기성 불량의 존재 여부를 판단하는 불량 판단부를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 장치.And a failure judging section for judging whether or not the periodicity defect exists based on the number of failures included in the defect candidate region and the interval between failures.

7. 위 6에 있어서, 상기 후보 영역 결정부는,  7. The apparatus of claim 6,

상기 탐색된 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 장치.And determines the searched area as the defective candidate area.

8. 위 7에 있어서, 상기 후보 영역 결정부는, 8. The apparatus of claim 7,

상기 탐색된 영역 중 중첩되거나 연속된 영역이 존재하는 경우, 상기 중첩된 영역 또는 연속된 영역을 통합하여 통합된 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 장치.And integrates the overlapped region or the consecutive region to determine the integrated region as the defective candidate region when the overlapped or contiguous region exists among the searched regions.

9. 위 8에 있어서, 상기 후보 영역 결정부는, 9. The apparatus of claim 8,

상기 탐색된 영역 또는 상기 통합된 영역에 각각에 대하여 각 영역에 포함된 불량들을 모두 포함하는 최소 크기의 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 장치.And determines the minimum size area including all of the defects included in each area in the searched area or the integrated area as the defective candidate area.

10. 위 6에 있어서, 상기 메모리부는, 10. The memory device of claim 6,

2차원 배열을 이용하여, 상기 탐색된 영역의 위치 정보를 저장하는 광학 필름의 불량 검출 장치.Wherein the position information of the searched area is stored using the two-dimensional array.

11. 위 6에 있어서, 상기 불량 판단부는, 11. The method of claim 6,

상기 불량 후보 영역에서 상기 롤의 길이 방향을 기준으로, 동일한 열에 포함된 불량의 수가 기 설정된 값 이상이며, 해당 열에 포함된 불량 사이의 간격 중 동일 간격의 수가 기 설정된 값 이상인 경우, 상기 주기성 불량으로 판단하는 광학 필름 불량 검출 장치.When the number of failures included in the same row is equal to or larger than a predetermined value and the number of the same intervals among the failures included in the row is equal to or larger than a predetermined value with reference to the longitudinal direction of the roll in the failure candidate area, And judging whether the optical film is defective.

12. 위 1에 있어서, 상기 불량 검출부는, 12. The apparatus of claim 1,

상기 주기성 불량이 검출된 경우, 광학 필름 공정 라인에서 상기 주기성 불량의 발생 위치에 대한 정보를 포함하는 불량 검출 정보를 생성하는 불량 검출 정보 생성부를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 장치.And a defect detection information generation unit that generates defect detection information including information on the occurrence position of the periodic defect in the optical film processing line when the periodic defect is detected.

13. 위 12에 있어서, 상기 불량 검출 정보 생성부는, 상기 불량 검출 정보를 공정 관리 시스템의 관리자 단말, 상기 광학 필름 공정 라인의 작업자 단말 및 공정 라인 상의 경고 장치 중 적어도 하나로 전송하는 광학 필름의 불량 검출 장치.13. The system of claim 12, wherein the defect detection information generation unit detects the defect detection information in at least one of an administrator terminal of the process management system, a worker terminal of the optical film processing line, Device.

14. 적어도 하나의 검사 장치로부터 광학 필름 롤(roll)에 대한 불량 정보를 수신하는 단계;14. A method comprising: receiving defect information for an optical film roll from at least one inspection apparatus;

상기 불량 정보에 기초하여, 상기 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면 상에서 불량의 위치를 결정하는 단계;Determining a position of a defect on a two-dimensional plane corresponding to the optical film roll, based on the defect information;

상기 불량의 위치에 기초하여, 상기 평면 상에서 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 단계; 및Searching for an area where there is more than a predetermined number of defects on the plane based on the position of the defect; And

상기 탐색된 영역에 포함된 불량의 수 및 불량들 사이의 간격에 기초하여 주기성 불량을 검출하는 단계를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 방법.And detecting a periodicity defect based on the number of defects included in the searched area and the interval between defects.

15. 위 14에 있어서, 상기 탐색하는 단계는, 15. The method of claim 14,

상기 2차원 평면에서 각각의 불량의 위치에 대하여, 상기 각각의 불량의 위치를 포함하는 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 상기 각각의 불량의 위치를 중심으로 상기 탐색 영역의 위치를 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 방법.Dimensional plane, setting a search area of a predetermined size including the position of each of the defective areas with respect to each defective position in the two-dimensional plane, sequentially changing the position of the search area around each defective position And searching for a region in which there is more than the preset number of defects among the respective search regions.

16. 위 14에 있어서, 상기 탐색하는 단계는, 16. The method of claim 14,

각 불량의 위치를 중심 좌표로 하는 일정 크기의 복수의 탐색 영역을 설정하고, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 방법.A plurality of search areas of a predetermined size having center positions of respective defects are set and an area in which there is more defects than the preset number of search areas is searched.

17. 위 14에 있어서, 상기 탐색하는 단계는, 17. The method of claim 14,

상기 2차원 평면을 일정 크기의 복수의 탐색 영역으로 분할하고, 분할된 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 방법.Dimensionally dividing the two-dimensional plane into a plurality of search areas of a predetermined size and searching for an area in which there is more than a predetermined number of defects among the divided search areas.

18. 위 14에 있어서, 상기 탐색하는 단계는, 18. The method of claim 14,

상기 평면에서 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 상기 탐색 영역의 위치를 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 방법.Setting a search area of a predetermined size in the plane and sequentially changing a position of the search area to search for an area in which there is more than a predetermined number of defects among the search areas.

19. 위 14에 있어서, 상기 검출하는 단계는, 19. The method of claim 14,

상기 탐색된 영역의 위치를 저장하는 단계;Storing the location of the searched area;

상기 탐색된 영역의 위치에 기초하여, 불량 후보 영역을 결정하는 단계; 및Determining a defective candidate region based on the position of the searched region; And

상기 불량 후보 영역에 포함된 불량의 수 및 불량들 사이의 간격에 기초하여, 상기 주기성 불량의 존재 여부를 판단하는 단계를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 방법.And judging whether or not the periodicity defect exists based on the number of defects included in the defective candidate area and the interval between defects.

20. 위 19에 있어서, 상기 불량 후보 영역을 결정하는 단계는, 20. The method of claim 19, wherein determining the bad candidate region comprises:

상기 탐색된 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 방법.And determining the searched area as the defective candidate area.

21. 위 20에 있어서, 상기 불량 후보 영역을 결정하는 단계는, 21. The method of claim 20, wherein determining the bad candidate region comprises:

상기 탐색된 영역 중 중첩되거나 연속된 영역이 존재하는 경우, 상기 중첩된 영역 또는 연속된 영역을 통합하여 통합된 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 방법.Wherein the superimposed region or the continuous region is integrated to determine the unified region as the bad candidate region when there is an overlapped or continuous region among the searched regions.

22. 위 21에 있어서, 상기 불량 후보 영역을 결정하는 단계는, 22. The method of claim 21, wherein determining the bad candidate region comprises:

상기 탐색된 영역 또는 상기 통합된 영역에 각각에 대하여 각 영역에 포함된 불량들을 모두 포함하는 최소 크기의 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 방법.And determining a minimum size region including all of the defects included in each region in the searched region or the integrated region as the defective candidate region.

23. 위 19에 있어서, 상기 저장하는 단계는, 23. The method of claim 19,

2차원 배열을 이용하여, 상기 탐색된 영역의 위치 정보를 저장하는 광학 필름의 불량 검출 방법.Wherein the position information of the searched area is stored using the two-dimensional array.

24. 위 19에 있어서, 상기 판단하는 단계는, 24. The method of claim 19,

상기 불량 후보 영역에서 상기 롤의 길이 방향을 기준으로, 동일한 열에 포함된 불량의 수가 기 설정된 값 이상이며, 해당 열에 포함된 불량 사이의 간격 중 동일 간격의 수가 기 설정된 값 이상인 경우, 상기 주기성 불량으로 판단하는 광학 필름 불량 검출 방법.When the number of failures included in the same row is equal to or larger than a predetermined value and the number of the same intervals among the failures included in the row is equal to or larger than a predetermined value with reference to the longitudinal direction of the roll in the failure candidate area, And judging the optical film defective.

25. 위 14에 있어서,25. In above 14,

상기 주기성 불량이 검출된 경우, 광학 필름 공정 라인에서 상기 주기성 불량의 발생 위치에 대한 정보를 포함하는 불량 검출 정보를 생성하는 단계를 더 포함하는 광학 필름의 불량 검출 방법.Further comprising generating defect detection information including information on the occurrence position of the periodic defect in the optical film processing line when the periodic defect is detected.

26. 위 25에 있어서,26. In the above 25,

상기 불량 검출 정보를 공정 관리 시스템의 관리자 단말, 상기 광학 필름 공정 라인의 작업자 단말 및 공정 라인 상의 경고 장치 중 적어도 하나로 전송하는 단계를 더 포함하는 광학 필름의 불량 검출 방법.Further comprising the step of transmitting the defect detection information to at least one of an administrator terminal of the process management system, an operator terminal of the optical film processing line, and a warning device on the process line.

27. 하드웨어와 결합되어,27. Combined with hardware,

적어도 하나의 검사 장치로부터 광학 필름 롤(roll)에 대한 불량 정보를 수신하는 단계;Receiving defect information on an optical film roll from at least one inspection apparatus;

상기 불량 정보에 기초하여, 상기 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면 상에서 불량의 위치를 결정하는 단계;Determining a position of a defect on a two-dimensional plane corresponding to the optical film roll, based on the defect information;

상기 불량의 위치에 기초하여, 상기 평면 상에서 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 단계; 및Searching for an area where there is more than a predetermined number of defects on the plane based on the position of the defect; And

상기 탐색된 영역에 포함된 불량의 수 및 불량들 사이의 간격에 기초하여 주기성 불량을 검출하는 단계를 실행시기 위하여 기록매체에 저장된 컴퓨터 프로그램.And detecting a periodicity defect based on the number of defects included in the searched area and the interval between defects.

본 발명의 실시예들에 따르면, 광학 필름에 포함된 주기성 불량의 발생 유무가 자동으로 판단되도록 함으로써, 광학 필름의 생산량에 무관하게 일관된 기준으로 광학 필름의 품질을 관리할 수 있으며, 주기성 불량을 검출 시간을 단축시킴으로써 생산성을 향상 시킬 수 있다.According to the embodiments of the present invention, the quality of the optical film can be managed on a consistent basis regardless of the production amount of the optical film by automatically determining whether the periodic defect included in the optical film is generated or not, By shortening the time, productivity can be improved.

나아가, 본 발명의 실시예들에 따르면, 광학 필름에서 주기성 불량의 발생 유무를 신속하게 파악하여 통지할 수 있도록 함으로써, 주기성 불량 발생에 따른 신속한 조치가 가능하며, 이로 인해 광학 필름의 생산 로스(Loss)를 감소시킬 수 있다.Furthermore, according to the embodiments of the present invention, it is possible to promptly identify and notify occurrence of a periodicity defect in the optical film, thereby making it possible to take prompt action in accordance with occurrence of a periodicity defect. As a result, ) Can be reduced.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 불량 검출 장치의 구성도
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 불량 검출부의 상세 구성도
도 3 내지 도 6은 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 과정을 설명하기 위한 예시도,
도 7 내지 도 11은 불량 후보 영역의 설정을 설명하기 위한 예시도
도 12 및 도 13은 주기성 불량의 판단 과정을 설명하기 위한 예시도
도 14는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 불량 검출 방법의 순서도
도 15는 본 발명의 일 실시예에 따른 주기성 불량 검출 과정을 나타낸 순서도1 is a block diagram of a defect detection apparatus for an optical film according to an embodiment of the present invention.
2 is a detailed block diagram of a defect detection unit according to an embodiment of the present invention.
FIGS. 3 to 6 are diagrams for explaining a process of searching for a region where a defect exists,
Figs. 7 to 11 are diagrams for explaining the setting of the defective candidate areas
12 and 13 are diagrams for explaining a process of determining a periodicity defect.
14 is a flowchart of a defect detection method of an optical film according to an embodiment of the present invention
15 is a flowchart showing a periodicity defect detection process according to an embodiment of the present invention.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 구체적인 실시형태를 설명하기로 한다. 이하의 상세한 설명은 본 명세서에서 기술된 방법, 장치 및/또는 시스템에 대한 포괄적인 이해를 돕기 위해 제공된다. 그러나 이는 예시에 불과하며 본 발명은 이에 제한되지 않는다.Hereinafter, specific embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. The following detailed description is provided to provide a comprehensive understanding of the methods, apparatus, and / or systems described herein. However, this is merely an example and the present invention is not limited thereto.

본 발명의 실시예들을 설명함에 있어서, 본 발명과 관련된 공지기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략하기로 한다. 그리고, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다. 상세한 설명에서 사용되는 용어는 단지 본 발명의 실시예들을 기술하기 위한 것이며, 결코 제한적이어서는 안 된다. 명확하게 달리 사용되지 않는 한, 단수 형태의 표현은 복수 형태의 의미를 포함한다. 본 설명에서, "포함" 또는 "구비"와 같은 표현은 어떤 특성들, 숫자들, 단계들, 동작들, 요소들, 이들의 일부 또는 조합을 가리키기 위한 것이며, 기술된 것 이외에 하나 또는 그 이상의 다른 특성, 숫자, 단계, 동작, 요소, 이들의 일부 또는 조합의 존재 또는 가능성을 배제하도록 해석되어서는 안 된다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description, well-known functions or constructions are not described in detail since they would obscure the invention in unnecessary detail. The following terms are defined in consideration of the functions of the present invention, and may be changed according to the intention or custom of the user, the operator, and the like. Therefore, the definition should be based on the contents throughout this specification. The terms used in the detailed description are intended only to describe embodiments of the invention and should in no way be limiting. Unless specifically stated otherwise, the singular form of a term includes plural forms of meaning. In this description, the expressions "comprising" or "comprising" are intended to indicate certain features, numbers, steps, operations, elements, parts or combinations thereof, Should not be construed to preclude the presence or possibility of other features, numbers, steps, operations, elements, portions or combinations thereof.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 불량 검출 장치의 구성도이다.1 is a block diagram of an apparatus for detecting a defect in an optical film according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 수신부(110), 불량 위치 결정부(120), 탐색부(130) 및 불량 검출부(140)를 포함한다. 1, a defect detection apparatus 100 for an optical film according to an exemplary embodiment of the present invention includes a receiving unit 110, a defective position determining unit 120, a searching unit 130, and a defect detecting unit 140 do.

수신부(110)는 적어도 하나의 검사 장치로부터 광학 필름 롤(roll)에 대한 불량 정보를 수신한다. 이때, 각 검사 장치는 광학 필름 공정 라인 상의 상이한 위치에 배치되어 광학 필름의 공정 과정에서 발생한 불량을 검출하고, 검출된 불량에 대한 불량 정보를 생성하기 위한 장치를 의미한다. The receiving unit 110 receives defect information on the optical film roll from at least one inspection apparatus. In this case, each inspection apparatus is disposed at a different position on the optical film processing line to detect defects generated during the process of the optical film, and to generate defective information on the detected defects.

예를 들어, 검사 장치는 광학 필름 공정 라인에서 광학 필름의 상면에 배치되는 카메라 모듈을 포함할 수 있으며, 카메라 모듈을 이용하여 광학 필름을 촬영하고 촬영된 이미지로부터 불량을 검출하도록 구성될 수 있다. 또한, 이를 위하여 광학 필름을 기준으로 카메라 모듈이 위치한 면의 반대면에 광원을 구비할 수 있으며, 카메라 모듈은 광원으로부터 방출되어 광학 필름을 투과한 빛을 촬영하도록 구성될 수 있다. 이 경우 광학 필름에 불량이 존재할 경우 해당 부분은 빛의 투과도가 낮아지게 되므로 용이하게 불량을 검출할 수 있다.For example, the inspection apparatus may include a camera module disposed on the top surface of the optical film in the optical film processing line, and may be configured to capture the optical film using the camera module and to detect defects from the photographed image. In addition, a light source may be provided on the opposite side of the surface on which the camera module is located based on the optical film, and the camera module may be configured to shoot light emitted from the light source and transmitted through the optical film. In this case, if there is a defect in the optical film, the light transmittance of the relevant portion becomes low, so that the defect can be easily detected.

한편, 검사 장치에 의해 생성되는 불량 정보는 검출된 불량의 위치, 크기, 밝기, 불량을 촬영한 이미지, 검사 시작 및 종료 시간 등을 포함할 수 있다. On the other hand, the defect information generated by the inspection apparatus may include the position, size, brightness, defective image of the detected defects, start and end time of the inspection, and the like.

불량 위치 결정부(120)는 검사 장치로부터 수신된 불량 정보에 기초하여, 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면 상에서 불량의 위치를 결정한다.The defective position determining unit 120 determines the position of the defect on the two-dimensional plane corresponding to the optical film roll, based on the defect information received from the inspection apparatus.

예를 들어, 불량 위치 결정부(120)는 광학 필름 롤의 길이 및 폭에 대응하는 2차원 평면을 구성하고, 각 검사 장치로부터 수신된 불량 정보를 통합하여 2차원 평면에서 불량의 위치를 결정할 수 있다. 이때, 2차원 평면에서 불량의 위치는 각 검사 장치로부터 수신된 불량 정보에 포함된 불량 위치에 기초하여 결정될 수 있다. 또한, 광학 필름 롤의 길이 및 폭은 미리 설정된 값을 이용할 수 있다. For example, the defective position determination unit 120 can construct a two-dimensional plane corresponding to the length and width of the optical film roll, and integrate the defective information received from each inspection apparatus to determine the position of defects in the two- have. At this time, the position of the defect in the two-dimensional plane can be determined based on the defect position included in the defect information received from each inspection apparatus. Further, the length and width of the optical film roll can be set to predetermined values.

탐색부(130)는 불량 위치 결정부(120)에 의해 결정된 불량의 위치에 기초하여, 2차원 평면 상에서 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색한다.The search unit 130 searches for an area where there is more than a predetermined number of defects on the two-dimensional plane based on the defective position determined by the defective position determination unit 120. [

예를 들어, 탐색부(130)는 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 설정된 탐색 영역을 2차원 평면 상에서 순회하면서, 탐색 영역 내에 포함된 불량의 수를 카운트함으로써, 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다. 이에 대해 도 3 내지 6을 참조하여 구체적으로 설명하면 아래와 같다.For example, the search unit 130 sets a search area of a predetermined size, while traversing the set search area on a two-dimensional plane, counts the number of defects contained in the search area, Area can be searched. This will be described in detail with reference to FIGS. 3 to 6. FIG.

도 3 내지 6에서 점선으로 표현된 영역은 탐색 영역을 나타내며, 원으로 표시된 부분은 불량의 위치를 나타낸다. 한편, 도 3 내지 6에서 탐색 영역이 사각형의 형태인 것으로 도시하고 있으나, 이는 예시적인 것이므로, 반드시 도시된 예에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 탐색 영역은 원의 형태를 가질 수 있으며, 사용자의 선택에 따라 적절한 형태로 변형될 수 있다. 또한, 탐색 영역의 크기는 계산 부하, 계산의 정확성 등을 고려하여 사용자에 의해 설정될 수 있다.The area represented by the dotted line in Figs. 3 to 6 represents the search area, and the area indicated by circles represents the location of the defect. 3 to 6 illustrate that the search area is in the form of a rectangle. However, the search area is not limited to the illustrated example, as it is an example. For example, the search area can have a circle shape and can be transformed into a proper shape according to the user's selection. In addition, the size of the search area can be set by the user in consideration of calculation load, accuracy of calculation, and the like.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 탐색부(130)는 2차원 평면에 포함된 각각의 불량의 위치에 대하여, 각각의 불량의 위치를 포함하는 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 각각의 불량의 위치를 중심으로 탐색 영역의 위치를 변경하여, 각 탐색 영역 중 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the search unit 130 sets a search area of a certain size including each defective position for each defective position included in the two-dimensional plane, It is possible to search for an area in which there is more than a predetermined number of defects in each search area by changing the position of the search area around the position.

구체적으로, 도 3을 참조하면, 탐색부(130)는 2차원 평면(300) 상에 포함된 복수의 불량 중 특정 불량(310)을 포함하는 탐색 영역(321)을 설정할 수 있다. 이후, 탐색부(130)는 설정된 탐색 영역(321) 내에서 불량의 수를 카운트하여 불량의 수가 기 설정된 수 이상인지 여부를 판단할 수 있다. 3, the search unit 130 may set a search area 321 including a specific defect 310 among a plurality of defects included on the two-dimensional plane 300. [ Thereafter, the search unit 130 may count the number of defects in the set search area 321 and determine whether the number of defects is equal to or greater than a predetermined number.

이후, 탐색부(130)는 불량(310)의 위치를 중심으로 탐색 영역(321)을 X 축 방향으로 일정 거리만큼 이동하고, 이동 후의 위치에서 탐색 영역(322) 내의 불량 수를 카운트하여 불량의 수가 기 설정된 수 이상인지 여부를 판단할 수 있다. Thereafter, the search unit 130 moves the search region 321 by a certain distance in the X-axis direction around the position of the defect 310, counts the number of defects in the search region 322 at the position after the shift, It is possible to determine whether or not the number is equal to or greater than a predetermined number.

이후, 탐색부(130)는 불량(310)의 위치를 중심으로 탐색 영역(322)을 X 축 방향으로 일정 거리만큼 추가로 이동하고, 이동 후의 위치에서 탐색 영역(323) 내의 불량 수를 카운트하여 불량의 수가 기 설정된 수 이상인지 여부를 판단할 수 있다.The search unit 130 further moves the search area 322 by a predetermined distance in the X axis direction around the position of the defect 310 and counts the number of defects in the search area 323 at the position after the movement It is possible to determine whether or not the number of defects is equal to or greater than a predetermined number.

이후, 탐색부(130)는 불량(310)의 위치를 중심으로 탐색 영역(323)을 Y 축 방향으로 일정 거리만큼 이동시키고, 이동 후의 위치에서 탐색 영역(324) 내의 불량 수를 카운트하여 불량의 수가 기 설정된 수 이상인지 여부를 판단할 수 있다.Then, the search unit 130 moves the search area 323 by a certain distance in the Y-axis direction around the position of the defect 310, counts the number of defects in the search area 324 at the position after the movement, It is possible to determine whether or not the number is equal to or greater than a predetermined number.

이와 같이 탐색부(130)는 특정 불량(310)을 중심으로, 탐색 영역을 X 축 및 Y 축으로 일정 거리만큼 순차적으로 이동시키고, 각각의 위치에서 탐색 영역 내에 불량 수를 카운트하여 기 설정된 수 이상의 불량이 포함된 영역을 탐색할 수 있다. In this manner, the search unit 130 sequentially moves the search area by a certain distance along the X-axis and the Y-axis around the specific defect 310, counts the number of defects within the search area at each position, It is possible to search for an area including defects.

한편, 도시된 예에서, 탐색 영역의 이동 거리는 사용자에 의해 미리 설정될 수 있다.On the other hand, in the illustrated example, the travel distance of the search area can be preset by the user.

또한, 탐색부(130)는 2차원 평면(300)에 포함된 각각의 불량에 대해 동일한 방식으로 탐색 영역을 설정하고, 설정된 탐색 영역을 이동하면서 각각의 위치에서 탐색 영역 내에 포함된 불량의 수가 기 설정된 수 이상인지 여부를 판단할 수 있다.In addition, the search unit 130 sets the search area in the same manner for each defect included in the two-dimensional plane 300, moves the set search area, and finds the number of defects included in the search area at each position It is possible to determine whether or not the number is equal to or greater than the set number.

한편, 본 발명의 다른 실시예에 따르면, 탐색부(130)는 2차원 평면에서 각각의 불량의 위치를 중심 좌표로 하는 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 각 탐색 영역 중 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다.Meanwhile, according to another embodiment of the present invention, the search unit 130 sets a search area having a predetermined size having the position of each defect in the two-dimensional plane as the center coordinates, The existing area can be searched.

구체적인 예로, 도 4을 참조하면, 탐색부(130)는 2차원 평면(400) 상에 포함된 각각의 불량에 대해 각 불량을 중심 좌표로 하는 일정 크기의 탐색 영역(410, 420, 430, 440, 450)을 설정할 수 있다. 이후, 탐색부(130)는 각각의 탐색 영역(410, 420, 430, 440, 450)에 대하여 불량의 수를 카운트하여 기 설정된 수 이상의 불량이 포함된 영역을 탐색할 수 있다. 4, the search unit 130 searches for a defective search region 410, 420, 430, 440 (see FIG. 4) having a predetermined size with respect to each defect included in the two- , 450) can be set. Then, the search unit 130 may search for an area including defects greater than a predetermined number by counting the number of defects with respect to each of the search areas 410, 420, 430, 440 and 450.

한편, 본 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 탐색부(130)는 2차원 평면을 일정 크기의 복수의 탐색 영역으로 분할하고, 분할된 각 탐색 영역 중 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다.Meanwhile, according to another embodiment of the present invention, the search unit 130 divides a two-dimensional plane into a plurality of search regions having a predetermined size, and searches an area in which there is a defect of a predetermined number or more among the divided search regions can do.

구체적인 예로, 도 5를 참조하면, 탐색부(130)는 2차원 평면(500)일정 크기의 탐색 영역(510, 520, 530, 540)으로 분할할 수 있다. 이후, 탐색부(130)는 각각의 탐색 영역(510, 520, 530, 540) 에 포함된 불량의 수를 카운트하여 기 설정된 수 이상의 불량이 포함되어 있는지 여부를 판단할 수 있다. 5, the search unit 130 may be divided into search regions 510, 520, 530, and 540 having a predetermined size of a two-dimensional plane 500. [ Then, the search unit 130 may count the number of defects included in each of the search regions 510, 520, 530, and 540 to determine whether or not a defect of at least a predetermined number is included.

한편, 본 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 탐색부(130)는 2차원 평면에서 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 2차원 평면 내에서 탐색 영역의 위치를 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다.Meanwhile, according to another embodiment of the present invention, the search unit 130 sets a search area of a predetermined size in a two-dimensional plane, sequentially changes the position of the search area in the two-dimensional plane, It is possible to search for an area in which there is more than a predetermined number of defects.

구체적인 예로, 도 6을 참조하면, 탐색부(130)는 2차원 평면(600) 상의 특정 위치에서 일정 크기의 탐색 영역(610)을 설정할 수 있다. 이후, 탐색부(130)는 설정된 탐색 영역(610) 내에서 불량의 수를 카운트하여 불량의 수가 기 설정된 수 이상인지 여부를 판단할 수 있다.6, the search unit 130 may set a search area 610 having a predetermined size at a specific position on the two-dimensional plane 600. [ Thereafter, the search unit 130 may count the number of defects in the set search area 610 and determine whether the number of defects is equal to or greater than a predetermined number.

이후, 탐색부(130)는 탐색 영역(610)을 Y 축 방향으로 일정 거리만큼 순차적으로 이동시키고, 각각의 위치에서 탐색 영역(620, 630, 640, 650) 내의 불량 수를 카운트하여 불량의 수가 기 설정된 수 이상인지 여부를 판단할 수 있다.Thereafter, the search unit 130 sequentially moves the search area 610 by a predetermined distance in the Y-axis direction, counts the number of defects in the search areas 620, 630, 640, 650 at each position, It is possible to determine whether or not the number is equal to or greater than a predetermined number.

한편, Y 축 방향으로 탐색 영역을 더 이상 이동시킬 수 없는 경우, 탐색부(130)는 탐색 영역을 X 축 방향으로 일정 거리만큼 이동시킨 후, 탐색 영역(660) 내의 불량 수를 카운트하여 불량의 수가 기 설정된 수 이상인지 여부를 판단할 수 있다.On the other hand, when the search area can not be moved further in the Y-axis direction, the search unit 130 moves the search area by a certain distance in the X-axis direction and then counts the number of defects in the search area 660, It is possible to determine whether or not the number is equal to or greater than a predetermined number.

이후, 탐색부(130)는 탐색 영역(660)을 다시 X 축 방향으로 일정 거리만큼 순차적으로 이동시키고, 각각의 위치에서 탐색 영역 내의 불량 수를 카운트하여 불량의 수가 기 설정된 수 이상인지 여부를 판단할 수 있다.Thereafter, the search unit 130 sequentially shifts the search area 660 by a certain distance in the X-axis direction, counts the number of defects in the search area at each position, and determines whether or not the number of defects is equal to or greater than a preset number can do.

이와 같은 방식으로, 탐색부(130)는 탐색 영역을 이용하여 2차원 평면(600)의 전체 영역을 순회하면서 각각의 위치에서 탐색 영역 내의 불량 수를 카운트하여 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다In this manner, the search unit 130 calculates the number of defects in the search area at each position while traversing the entire area of the two-dimensional plane 600 using the search area, Can navigate

한편, 도 6에 도시된 예에서, 탐색 영역의 이동 방향 및 이동 거리는 사용자에 의해 미리 설정될 수 있다. On the other hand, in the example shown in Fig. 6, the moving direction and the moving distance of the search area can be preset by the user.

불량 검출부(140)는 탐색부(130)에 의해 탐색된 영역에 포함된 불량의 수 및 불량들 사이의 간격에 기초하여, 주기성 불량을 검출할 수 있다. 이때, 주기성 불량은 일정한 간격을 가지고 주기적으로 발생하는 불량을 의미한다.The defect detection section 140 can detect the periodicity defect based on the number of defects included in the area searched by the search section 130 and the interval between the defects. In this case, the periodic defect means a defect occurring periodically with a constant interval.

구체적으로, 불량 검출부(140)는 탐색부(130)에 의해 탐색된 영역에 기초하여, 하나 이상의 불량 후보 영역을 설정할 수 있다. 또한, 불량 검출부(140)는 설정된 각 불량 후보 영역에서 광학 필름 롤의 길이 방향을 기준으로 불량의 수를 카운트할 수 있다. 이때, 불량의 수가 기 설정된 값 이상인 경우, 불량 사이의 간격을 계산하여 주기성 불량을 검출할 수 있다. Specifically, the defect detection unit 140 can set one or more defect candidate areas based on the area searched by the search unit 130. [ Also, the defect detector 140 can count the number of defects based on the longitudinal direction of the optical film roll in each of the set defective candidate areas. At this time, when the number of defects is equal to or larger than a predetermined value, the interval between failures can be calculated to detect the periodicity defects.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 불량 검출부(140)의 상세 구성도이다.2 is a detailed block diagram of a defect detector 140 according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 불량 검출부(140)는 메모리부(141), 후보 영역 결정부(142), 불량 판단부(143) 및 불량 검출 정보 생성부(144)를 포함한다.2, the defect detector 140 according to an exemplary embodiment of the present invention includes a memory unit 141, a candidate region determination unit 142, a defect determination unit 143, and a defect detection information generation unit 144 .

메모리부(141)는 탐색부(130)에 의해 탐색된 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역의 위치를 저장할 수 있다. 구체적으로, 메모리부(141)는 탐색부(130)에 의해 탐색된 영역의 2차원 평면 상의 위치를 저장할 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 메모리부(141) 는 2차원 평면에 대응하는 2차원 배열로 구성된 이미지 버퍼의 형태로 구현될 수 있으며, 2차원 배열을 이용하여 탐색부(120)에 의해 탐색된 영역의 위치를 저장할 수 있다. The memory unit 141 may store a position of a region where there is more than a predetermined number of defects detected by the search unit 130. [ Specifically, the memory unit 141 may store the position on the two-dimensional plane of the area searched by the search unit 130. [ According to an embodiment of the present invention, the memory unit 141 may be implemented in the form of an image buffer composed of a two-dimensional array corresponding to a two-dimensional plane, It is possible to store the position of the region to be processed.

후보 영역 결정부(142)는 메모리부(141)에 저장된 탐색된 영역의 위치에 기초하여, 하나 이상의 불량 후보 영역을 결정할 수 있다.The candidate region determining section 142 can determine one or more bad candidate regions based on the position of the searched region stored in the memory section 141. [

예를 들어, 후보 영역 결정부(142)는 메모리부(141)에 저장된 각각의 탐색된 영역을 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다. For example, the candidate area determination unit 142 can determine each of the searched areas stored in the memory unit 141 as a bad candidate area.

이때, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 후보 영역 결정부(142)는 메모리부(141)에 저장된 탐색된 영역 중 중첩되거나 연속된 영역이 존재하는 경우, 중첩되거나 연속된 영역을 통합하고, 통합된 영역을 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다. 이때, 중첩 또는 연속된 영역의 통합을 위해 Blob Labeling 알고리즘과 같은 레이블링(Labeling) 알고리즘이 이용될 수 있다.In this case, according to an embodiment of the present invention, when overlapping or consecutive regions exist among the searched regions stored in the memory unit 141, the candidate region determination unit 142 integrates overlapped or continuous regions, Can be determined as a bad candidate region. At this time, a labeling algorithm such as a Blob Labeling algorithm can be used for the integration of overlapping or continuous regions.

구체적인 예로, 도 7을 참조하면, 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면(710) 상에서 탐색부(120)에 의해 탐색된 영역(711, 712, 713)은 2차원 배열로 구성된 메모리부(141)의 저장 영역(720)의 대응되는 위치(721, 722, 723)에 각각 저장될 수 있다.7, the regions 711, 712, and 713 searched by the search unit 120 on the two-dimensional plane 710 corresponding to the optical film roll include a memory unit 141 configured by a two-dimensional array, 722, and 723, respectively, of the storage area 720 of the storage device 720 of FIG.

이때, 후보 영역 결정부(142)는 탐색부(130)에 의해 탐색된 영역인 721, 722 및 723 영역을 각각 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다. At this time, the candidate region determination unit 142 can determine the regions 721, 722, and 723, which are searched by the search unit 130, as bad candidate regions.

다른 예로, 도 7에서 721 영역과 722 영역은 연속된 영역이므로, 후보 영역 결정부(142)는 721 영역과 722 영역을 도 8에 도시된 예와 같이 하나의 영역(724)으로 통합하고, 통합된 영역 724과 723 영역을 각각 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다.7, the candidate region determining unit 142 integrates the regions 721 and 722 into one region 724 as shown in the example shown in FIG. 8, The regions 724 and 723 can be determined as bad candidate regions, respectively.

다른 예로, 도 9를 참조하면, 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면(910) 상에서 탐색부(120)에 의해 탐색된 영역(911, 912, 913)은 2차원 배열로 구성된 메모리부(141)의 저장 영역(920)의 대응되는 위치(921, 922, 923)에 각각 저장될 수 있다.9, the regions 911, 912, and 913 searched by the search unit 120 on the two-dimensional plane 910 corresponding to the optical film roll are divided into a memory unit 141 composed of a two-dimensional array, 922, and 923, respectively, of the storage area 920 of the storage area 920 of FIG.

이때, 후보 영역 결정부(142)는 탐색부(130)에 의해 탐색된 영역인 921, 922 및 923 영역을 각각 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다.At this time, the candidate region determination unit 142 may determine the regions 921, 922, and 923, which are searched by the search unit 130, as bad candidate regions.

다른 예로, 메모리부(141)에 저장된 탐색된 영역의 위치 중 921 영역과 922 영역은 중첩되는 영역이므로, 후보 영역 결정부(142)는 921 영역과 922 영역을 도 10에 도시된 예와 같이 하나의 영역(924)으로 통합하고, 통합된 영역 924과 923 영역을 각각 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다.As another example, among the positions of the searched regions stored in the memory unit 141, the candidate region determining unit 142 determines the candidate regions 921 and 922 as illustrated in FIG. 10, because the regions 921 and 922 overlap each other. And the integrated areas 924 and 923 can be determined as defect candidate areas, respectively.

한편, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 후보 영역 결정부(142)는 탐색부(130)에 의해 탐색된 영역 또는 통합된 영역 각각에 대하여, 각 영역에 포함된 불량들을 모두 포함하는 최소 크기의 영역을 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다. According to an exemplary embodiment of the present invention, the candidate region determination unit 142 may determine a candidate region having a minimum size including all the defects included in each region, The region can be determined as a defective candidate region.

구체적인 예로, 도 10 및 도 11을 참조하면, 후보 영역 결정부(142)는 통합된 영역(924)과 통합되지 않은 영역(923) 각각에 대하여, 각 영역에 포함된 불량들을 모두 포함하는 최소 영역(925, 926)을 설정하고, 설정된 최소 영역(925, 926)을 각각 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다. 10 and 11, the candidate region determining unit 142 determines, for each of the integrated region 924 and the non-integrated region 923, a minimum region including all the defects included in each region (925, 926), and determine the set minimum areas (925, 926) as bad candidate areas, respectively.

한편, 도 11에 도시된 예에서는 최소 영역이 사각형 형태인 것으로 도시되어 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 최소 영역의 형태는 예를 들어, 원형 등 다양한 형태를 가질 수 있다.In the example shown in FIG. 11, the minimum area is shown as having a rectangular shape. However, the shape of the minimum area is not limited thereto. For example, the shape of the minimum area may have various shapes such as a circle.

불량 판단부(143)는 각각의 불량 후보 영역에서 광학 필름 롤의 길이 방향을 기준으로, 동일한 열에 포함된 불량의 수 및 상기 동일한 열에 포함된 불량 사이의 간격에 기초하여 주기성 불량을 검출할 수 있다. The failure judging section 143 can detect the periodicity defect based on the number of defects included in the same row and the gap between defects contained in the same row with reference to the longitudinal direction of the optical film roll in each defective candidate region .

구체적인 예로, 도 12을 참조하면, 불량 판단부(143)는 각각의 불량 후보 영역(1210, 1220)에서 광학 필름 롤의 길이 방향을 기준으로 동일한 열에 포함되는 불량의 수를 카운트하여 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는지 여부를 판단할 수 있다. 예를 들어, 주기성 불량이 존재하는 것으로 판단하기 위한 불량의 수가 3이라고 가정하면, 불량 후보 영역 1210의 경우, 3개 이상의 불량이 포함된 열이 존재하지 않으나, 불량 후보 영역 1220의 경우, 4개의 불량이 포함된 열(1221)이 존재한다. 12, the failure determination unit 143 counts the number of defects included in the same row based on the longitudinal direction of the optical film roll in each of the defective candidate regions 1210 and 1220, It is possible to judge whether or not a defect exists. For example, assuming that the number of defects for judging the existence of the periodicity defect is 3, in the case of the defective candidate region 1210, there are no heat including three or more defects. In the case of the defective candidate region 1220, There is a row 1221 containing defects.

따라서, 불량 판단부(143)는 4개의 불량이 포함된 열(1221)에 대하여 도 13에 도시된 예와 같이 불량 사이의 간격(1310)을 계산하고, 동일한 간격의 수를 카운트한다. 이때, 동일한 간격의 수가 기 설정된 수 이상인 경우, 불량 판단부(143)는 주기성 불량으로 판단할 수 있다. 예를 들어, 주기성 불량을 판단하기 위해 기 설정된 동일한 간격의 수가 3이며, 열 1221에 포함된 불량 사이의 간격이 동일한 것으로 가정하면, 열 1221에서 동일 간격의 수는 4이므로, 불량 판단부(143)는 광학 필름 롤에서 열 1221에 해당하는 위치에 주기성 불량이 존재하는 것으로 최종 판정할 수 있다.Therefore, the failure judging section 143 calculates the interval 1310 between defects as shown in the example shown in Fig. 13 for the column 1221 including four defects, and counts the same number of intervals. At this time, when the number of the same intervals is equal to or greater than a preset number, the failure determination unit 143 can determine that the periodicity is defective. For example, assuming that the number of equal intervals set in advance to determine the periodicity defect is 3 and the interval between failures included in the column 1221 is the same, the number of the same intervals in the column 1221 is 4, ) Can finally determine that there is a periodicity defect at a position corresponding to the column 1221 in the optical film roll.

불량 검출 정보 생성부(144)는 주기성 불량이 검출된 경우, 검출된 주기성 불량에 관한 불량 검출 정보를 생성할 수 있다. 이때, 불량 검출 정보는 예를 들어, 광학 필름 공정 라인에서 주기성 불량의 발생 위치에 대한 정보를 포함할 수 있으며, 광학 필름 공정 라인에서 주기성 불량의 발생 위치는 광학 필름 상에서 검출된 주기성 불량의 발생 위치에 기초하여 산출될 수 있다. 예를 들어, 불량 검출 정보 생성부 (144)는 광학 필름 공정 라인에서 광학 필름의 이송 방향을 기준으로, 광학 필름의 시작 위치로부터 광학 필름에서 검출된 주기성 불량의 발생 위치 사이의 거리에 기초하여, 광학 필름 공정 라인에서 주기성 불량의 발생 위치를 판단할 수 있다.When the periodicity defect is detected, the defect detection information generation section 144 can generate defect detection information on the detected periodicity defect. In this case, the defect detection information may include, for example, information on the occurrence position of the periodic defect in the optical film processing line, and the occurrence position of the periodicity defect in the optical film processing line may be a position of occurrence of the periodicity defect detected on the optical film . ≪ / RTI > For example, the defective detection information generation unit 144 may detect, based on the transport direction of the optical film in the optical film processing line, the distance between the start position of the optical film and the occurrence position of the periodicity defect detected in the optical film, It is possible to determine the occurrence position of the periodicity defect in the optical film processing line.

한편, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 불량 검출 정보 생성부(144)는 생성된 불량 검출 정보를 예를 들어, 공정 관리 시스템의 관리자 단말, 공정 라인 작업자의 단말 내지는 공정 라인 상의 경고 장치로 전송함으로써, 주기성 불량 발생에 대한 즉각적인 조치가 이루어질 수 있도록 할 수 있다.Meanwhile, according to an embodiment of the present invention, the defect detection information generation unit 144 transmits the generated defect detection information to, for example, an administrator terminal of the process management system, a terminal of the process line operator or a warning device on the process line Thereby making it possible to immediately take measures against the occurrence of the periodic defect.

도 14는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 불량 검출 방법의 순서도이다.14 is a flowchart of a defect detection method of an optical film according to an embodiment of the present invention.

도 14를 참조하면, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 적어도 하나의 검사 장치로부터 광학 필름 롤(roll)에 대한 불량 정보를 수신한다(1410).Referring to Fig. 14, the optical film defect detection apparatus 100 receives defect information for an optical film roll from at least one inspection apparatus (1410).

이후, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 수신된 불량 정보에 기초하여, 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면 상에서 불량의 위치를 결정한다(1420).Thereafter, the defect detection apparatus 100 of the optical film determines 1420 the position of the defect on the two-dimensional plane corresponding to the optical film roll, based on the received defect information.

이후, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 결정된 불량의 위치에 기초하여, 2차원 평면 상에서 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색한다(1430).Thereafter, the defect detection apparatus 100 of the optical film searches 1430 for a region where there is more than a predetermined number of defects on the two-dimensional plane, based on the determined defective position.

예를 들어, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 2차원 평면에서 각각의 불량의 위치에 대하여, 각각의 불량의 위치를 포함하는 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 각각의 불량의 위치를 중심으로 탐색 영역의 위치를 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다.For example, the defect detection apparatus 100 of the optical film sets a search region of a certain size including a position of each defect for each defective position in a two-dimensional plane, It is possible to search for an area in which there is more than a predetermined number of defects in each search area.

다른 예로, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 2차원 평면에 포함된 각 불량의 위치를 중심 좌표로 하는 일정 크기의 복수의 탐색 영역을 설정하고, 각 탐색 영역 중 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다.As another example, the defect detection apparatus 100 of the optical film may be configured to set a plurality of search regions of a predetermined size having center positions of the defective positions included in the two-dimensional plane, Can be searched for.

또 다른 예로, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 2차원 평면을 일정 크기의 복수의 탐색 영역으로 분할하고, 분할된 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다.As another example, the defect detection apparatus 100 of an optical film can divide a two-dimensional plane into a plurality of search regions of a predetermined size and search for an area in which there is more than a predetermined number of defects among the divided search regions .

또 다른 예로, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 2차원 평면에서 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 상기 탐색 영역의 위치를 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다.As another example, the defect detection apparatus 100 of the optical film may set a search area of a predetermined size in a two-dimensional plane, sequentially change the position of the search area, and determine whether there is more than a predetermined number of defects Area can be searched.

이후, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 탐색된 영역에 포함된 불량의 수 및 불량들 사이의 간격에 기초하여 주기성 불량을 검출한다(1440).Thereafter, the defect detection apparatus 100 of the optical film detects the periodicity defect based on the number of defects included in the searched area and the interval between defects (1440).

이후, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 검출된 주기성 불량에 관한 불량 검출 정보를 생성한다(1450). 이때, 불량 검출 정보는 예를 들어, 광학 필름 공정 라인에서 주기성 불량의 발생 위치에 대한 정보를 포함할 수 있다.Thereafter, the defect detection apparatus 100 of the optical film generates defect detection information regarding the detected periodicity defect (1450). At this time, the defect detection information may include information on the occurrence position of the periodic defect in the optical film processing line, for example.

이후, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 생성된 불량 검출 정보를 예를 들어, 공정 관리 시스템의 관리자 단말, 공정 라인 작업자의 단말 내지는 공정 라인 상의 경고 장치로 전송한다(1460).Then, the optical film defect detection apparatus 100 transmits the generated defect detection information to, for example, an administrator terminal of the process management system, a terminal of the process line operator or a warning device on the process line (1460).

도 15는 본 발명의 일 실시예에 따른 주기성 불량 검출 과정을 나타낸 순서도이다.15 is a flowchart illustrating a periodicity failure detection process according to an embodiment of the present invention.

도 15를 참조하면, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 도 14의 탐색 단계(1430)에서 탐색된 영역의 위치를 저장한다(1510). 이때, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 2차원 배열을 이용하여, 탐색된 영역의 위치 정보를 저장할 수 있다.Referring to Fig. 15, the defect detection apparatus 100 of the optical film stores the position of the region searched in the search step 1430 of Fig. 14 (1510). At this time, the defect detection apparatus 100 of the optical film can store the position information of the searched area using the two-dimensional array.

이후, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 탐색된 영역의 위치에 기초하여, 불량 후보 영역을 결정한다(1520).Thereafter, the defect detection apparatus 100 of the optical film determines the defect candidate region based on the position of the searched region (1520).

예를 들어, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 탐색된 영역 각각을 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다.For example, the defect detection apparatus 100 of the optical film can determine each of the searched regions as a bad candidate region.

다른 예로, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 탐색된 영역 중 중첩되거나 연속된 영역이 존재하는 경우, 중첩된 영역 또는 연속된 영역을 통합하여 통합된 영역을 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다.As another example, the defect detection apparatus 100 of the optical film may determine an integrated area as a defective candidate area by superimposing a superimposed area or a continuous area when there is an overlapping or consecutive area among the searched areas.

또 다른 예로, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 탐색된 영역 또는 통합된 영역에 각각에 대하여 각 영역에 포함된 불량들을 모두 포함하는 최소 크기의 영역을 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다.As another example, the defect detection apparatus 100 of the optical film may determine the minimum size area including defects included in each area in the searched area or the integrated area as the defective candidate area.

이후, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 불량 후보 영역에 포함된 불량의 수 및 불량들 사이의 간격에 기초하여, 주기성 불량의 존재 여부를 판단한다(1530).Thereafter, the defect detection apparatus 100 of the optical film judges whether there is a periodicity defect based on the number of defects included in the defective candidate region and the interval between the defects (1530).

예를 들어, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 불량 후보 영역에서 롤의 길이 방향을 기준으로, 동일한 열에 포함된 불량의 수가 기 설정된 값 이상이며, 해당 열에 포함된 불량 사이의 간격 중 동일 간격의 수가 기 설정된 값 이상인 경우, 주기성 불량으로 판단할 수 있다.For example, in the optical film defect detecting apparatus 100, the number of defects included in the same row is greater than a predetermined value, and the defects included in the row are spaced at equal intervals Is greater than or equal to a predetermined value, it can be determined that the periodicity is defective.

도 15 및 도 16에 도시된 순서도에서는 상기 방법을 복수 개의 단계로 나누어 기재하였으나, 적어도 일부의 단계들은 순서를 바꾸어 수행되거나, 다른 단계와 결합되어 함께 수행되거나, 생략되거나, 세부 단계들로 나뉘어 수행되거나, 또는 도시되지 않은 하나 이상의 단계가 부가되어 수행될 수 있다.In the flowcharts shown in FIGS. 15 and 16, the method is described by dividing into a plurality of steps. However, at least some steps may be performed in reverse order, combined with other steps, performed together, omitted, Or one or more steps not shown may be added.

한편, 본 발명의 실시예는 본 명세서에서 기술한 방법들을 컴퓨터상에서 수행하기 위한 프로그램을 포함하는 컴퓨터 판독 가능 기록매체를 포함할 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 기록매체는 프로그램 명령, 로컬 데이터 파일, 로컬 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체는 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나, 또는 컴퓨터 소프트웨어 분야에서 통상적으로 사용 가능한 것일 수 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체, CD-ROM, DVD와 같은 광 기록 매체, 플로피 디스크와 같은 자기-광 매체, 및 롬, 램, 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함할 수 있다.On the other hand, an embodiment of the present invention may include a computer-readable recording medium including a program for performing the methods described herein on a computer. The computer-readable recording medium may include a program command, a local data file, a local data structure, or the like, alone or in combination. The media may be those specially designed and constructed for the present invention, or may be those that are commonly used in the field of computer software. Examples of computer readable media include magnetic media such as hard disks, floppy disks and magnetic tape, optical recording media such as CD-ROMs and DVDs, magneto-optical media such as floppy disks, and magnetic media such as ROMs, And hardware devices specifically configured to store and execute program instructions. Examples of program instructions may include machine language code such as those generated by a compiler, as well as high-level language code that may be executed by a computer using an interpreter or the like.

이상에서 본 발명의 대표적인 실시예들을 상세하게 설명하였으나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 상술한 실시예에 대하여 본 발명의 범주에서 벗어나지 않는 한도 내에서 다양한 변형이 가능함을 이해할 것이다. 그러므로 본 발명의 권리범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안 되며, 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but, on the contrary, . Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the above-described embodiments, but should be determined by equivalents to the appended claims, as well as the appended claims.

100: 광학 필름의 불량 검출 장치
110: 수신부
120: 불량 위치 결정부
130: 탐색부
140: 불량 검출부
141: 메모리부
142: 후보 영역 결정부
143: 불량 판단부
144: 불량 검출 정보 생성부100: defect detection device of optical film
110:
120: Bad Positioning Unit
130:
140:
141:
142: candidate region determining unit
143:
144: defect detection information generation unit

Claims (27)

적어도 하나의 검사 장치로부터 광학 필름 롤(roll)에 대한 불량 정보를 수신하는 수신부;
상기 불량 정보에 기초하여, 상기 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면 상에서 불량의 위치를 결정하는 불량 위치 결정부;
상기 불량의 위치에 기초하여, 상기 2차원 평면 상에서 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 탐색부; 및
상기 탐색된 영역에 포함된 불량의 수 및 불량들 사이의 간격에 기초하여 주기성 불량을 검출하는 불량 검출부를 포함하고,
상기 불량 검출부는, 상기 주기성 불량이 검출된 경우, 광학 필름 공정 라인에서 상기 주기성 불량의 발생 위치에 대한 정보를 포함하는 불량 검출 정보를 생성하는 불량 검출 정보 생성부를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 장치.A receiving unit for receiving defect information on an optical film roll from at least one inspection apparatus;
A defective position determining unit that determines a defective position on a two-dimensional plane corresponding to the optical film roll, based on the defective information;
A search unit for searching, based on the position of the defect, an area in which there is a defect more than a predetermined number on the two-dimensional plane; And
And a defect detector for detecting a periodicity defect based on the number of defects included in the searched area and the interval between defects,
Wherein the defect detection section includes a defect detection information generation section that generates defect detection information including information on the occurrence position of the periodic defect in the optical film processing line when the periodicity defect is detected. 청구항 1에 있어서,
상기 탐색부는, 각각의 불량의 위치에 대하여, 상기 각각의 불량의 위치를 포함하는 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 상기 각각의 불량의 위치를 중심으로 상기 탐색 영역의 위치를 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 장치.The method according to claim 1,
Wherein the search section sets a search area of a predetermined size including the position of each defective area for each defective position and sequentially changes the position of the search area about the position of each defective area, And searching for an area in which there is more than the preset number of defects among the respective search areas. 청구항 1에 있어서,
상기 탐색부는, 각각의 불량의 위치를 중심 좌표로 하는 일정 크기의 복수의 탐색 영역을 설정하고, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 장치.The method according to claim 1,
Wherein the search unit sets a plurality of search areas of a predetermined size having center positions of respective defective positions and searches for an area in which there is a defect of at least a predetermined number of the search areas. 청구항 1에 있어서,
상기 탐색부는, 상기 2차원 평면을 일정 크기의 복수의 탐색 영역으로 분할하고, 분할된 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 장치.The method according to claim 1,
Wherein the search unit divides the two-dimensional plane into a plurality of search regions of a predetermined size and searches for a region in which there is a defect of at least a predetermined number of the divided search regions. 청구항 1에 있어서,
상기 탐색부는, 상기 2차원 평면에서 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 상기 탐색 영역의 위치를 일정 거리만큼 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 장치.The method according to claim 1,
Wherein the search unit is configured to set a search area of a predetermined size in the two-dimensional plane, sequentially change the position of the search area by a predetermined distance, and search for an area in which there is more than a predetermined number of defects among the search areas Defective film detecting device. 청구항 1에 있어서,
상기 불량 검출부는, 상기 탐색된 영역의 위치를 저장하는 메모리부;
상기 탐색된 영역의 위치에 기초하여, 불량 후보 영역을 결정하는 후보 영역 결정부; 및
상기 불량 후보 영역에 포함된 불량의 수 및 불량들 사이의 간격에 기초하여, 상기 주기성 불량의 존재 여부를 판단하는 불량 판단부를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 장치.The method according to claim 1,
Wherein the defect detection unit comprises: a memory unit for storing a position of the searched area;
A candidate region determining unit for determining a defective candidate region based on the position of the searched region; And
And a failure judging section for judging whether or not the periodicity defect exists based on the number of failures included in the defect candidate region and the interval between failures. 청구항 6에 있어서,
상기 후보 영역 결정부는, 상기 탐색된 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 장치.The method of claim 6,
Wherein the candidate region determination section determines the searched region as the defective candidate region. 청구항 7에 있어서,
상기 후보 영역 결정부는, 상기 탐색된 영역 중 중첩되거나 연속된 영역이 존재하는 경우, 상기 중첩된 영역 또는 연속된 영역을 통합하여 통합된 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 장치.The method of claim 7,
Wherein the candidate region determining unit determines the integrated region as the defective candidate region by integrating the overlapped region or the continuous region when overlapping or consecutive regions are present among the searched regions. 청구항 8에 있어서,
상기 후보 영역 결정부는, 상기 탐색된 영역 또는 상기 통합된 영역에 각각에 대하여 각 영역에 포함된 불량들을 모두 포함하는 최소 크기의 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 장치.The method of claim 8,
Wherein the candidate region determination unit determines the minimum size region including all defects included in each region in the searched region or the integrated region as the defective candidate region. 청구항 6에 있어서,
상기 메모리부는, 2차원 배열을 이용하여, 상기 탐색된 영역의 위치 정보를 저장하는 광학 필름의 불량 검출 장치.The method of claim 6,
Wherein the memory unit stores position information of the searched area using a two-dimensional array. 청구항 6에 있어서,
상기 불량 판단부는, 상기 불량 후보 영역에서 상기 롤의 길이 방향을 기준으로, 동일한 열에 포함된 불량의 수가 기 설정된 값 이상이며, 해당 열에 포함된 불량 사이의 간격 중 동일 간격의 수가 기 설정된 값 이상인 경우, 상기 주기성 불량으로 판단하는 광학 필름의 불량 검출 장치.The method of claim 6,
When the number of defects included in the same column is equal to or larger than a predetermined value and the number of the same intervals among the defects included in the row is equal to or larger than a predetermined value , And judges that the periodicity is defective. 삭제delete 청구항 1에 있어서,
상기 불량 검출 정보 생성부는, 상기 불량 검출 정보를 공정 관리 시스템의 관리자 단말, 상기 광학 필름 공정 라인의 작업자 단말 및 공정 라인 상의 경고 장치 중 적어도 하나로 전송하는 광학 필름의 불량 검출 장치.The method according to claim 1,
Wherein the defect detection information generation unit transmits the defect detection information to at least one of an administrator terminal of the process management system, a worker terminal of the optical film processing line, and a warning device on the process line. 청구항 1 내지 청구항 11 및 청구항 13 중 어느 한 항에 기재된 광학 필름의 불량 검출 장치에 의해 수행되는 광학 필름의 불량 검출 방법에 있어서,
적어도 하나의 검사 장치로부터 광학 필름 롤(roll)에 대한 불량 정보를 수신하는 단계;
상기 불량 정보에 기초하여, 상기 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면 상에서 불량의 위치를 결정하는 단계;
상기 불량의 위치에 기초하여, 상기 평면 상에서 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 단계;
상기 탐색된 영역에 포함된 불량의 수 및 불량들 사이의 간격에 기초하여 주기성 불량을 검출하는 단계; 및
상기 주기성 불량이 검출된 경우, 광학 필름 공정 라인에서 상기 주기성 불량의 발생 위치에 대한 정보를 포함하는 불량 검출 정보를 생성하는 단계를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 방법.A defect detection method for an optical film which is carried out by the defect detection apparatus of an optical film according to any one of claims 1 to 11,
Receiving defect information on an optical film roll from at least one inspection apparatus;
Determining a position of a defect on a two-dimensional plane corresponding to the optical film roll, based on the defect information;
Searching for an area where there is more than a predetermined number of defects on the plane based on the position of the defect;
Detecting a periodicity defect based on the number of defects included in the searched area and an interval between defects; And
And generating defect detection information including information on the occurrence position of the periodic defect in the optical film processing line when the periodic defect is detected. 청구항 14에 있어서,
상기 탐색하는 단계는, 상기 2차원 평면에서 각각의 불량의 위치에 대하여, 상기 각각의 불량의 위치를 포함하는 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 상기 각각의 불량의 위치를 중심으로 상기 탐색 영역의 위치를 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 방법.15. The method of claim 14,
Wherein the searching step comprises setting a search area of a predetermined size including the position of each defective area with respect to each defective position in the two dimensional plane, And sequentially searching for a region where there is more than the preset number of defects among the search regions. 청구항 14에 있어서,
상기 탐색하는 단계는, 각 불량의 위치를 중심 좌표로 하는 일정 크기의 복수의 탐색 영역을 설정하고, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 방법.15. The method of claim 14,
Wherein said searching step sets a plurality of search areas of a predetermined size having center positions of each defective area and searches for an area in which there is more than a predetermined number of defects in each search area. 청구항 14에 있어서,
상기 탐색하는 단계는, 상기 2차원 평면을 일정 크기의 복수의 탐색 영역으로 분할하고, 분할된 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 방법.15. The method of claim 14,
Wherein said searching step includes the step of dividing the two-dimensional plane into a plurality of search areas of a predetermined size and searching for an area in which there is more than a predetermined number of defects among the divided search areas. 청구항 14에 있어서,
상기 탐색하는 단계는, 상기 평면에서 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 상기 탐색 영역의 위치를 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 방법.15. The method of claim 14,
Wherein the searching step includes setting a search area of a predetermined size in the plane and successively changing a position of the search area to search for an area where there is more than a predetermined number of defects among the search areas, Detection method. 청구항 14에 있어서,
상기 검출하는 단계는, 상기 탐색된 영역의 위치를 저장하는 단계;
상기 탐색된 영역의 위치에 기초하여, 불량 후보 영역을 결정하는 단계; 및
상기 불량 후보 영역에 포함된 불량의 수 및 불량들 사이의 간격에 기초하여, 상기 주기성 불량의 존재 여부를 판단하는 단계를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 방법.15. The method of claim 14,
Wherein the detecting comprises: storing a location of the searched area;
Determining a defective candidate region based on the position of the searched region; And
And judging whether or not the periodicity defect exists based on the number of defects included in the defective candidate area and the interval between defects. 청구항 19에 있어서,
상기 불량 후보 영역을 결정하는 단계는, 상기 탐색된 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 방법.The method of claim 19,
Wherein the step of determining the defective candidate area is to determine the searched area as the defective candidate area. 청구항 20에 있어서,
상기 불량 후보 영역을 결정하는 단계는, 상기 탐색된 영역 중 중첩되거나 연속된 영역이 존재하는 경우, 상기 중첩된 영역 또는 연속된 영역을 통합하여 통합된 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 방법.The method of claim 20,
Wherein the step of determining the defective candidate region comprises the step of determining whether the overlapped region or the consecutive region is merged to determine the merged region as the defective candidate region, Defective detection method. 청구항 21에 있어서,
상기 불량 후보 영역을 결정하는 단계는, 상기 탐색된 영역 또는 상기 통합된 영역에 각각에 대하여 각 영역에 포함된 불량들을 모두 포함하는 최소 크기의 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 방법.23. The method of claim 21,
Wherein the step of determining the defective candidate region comprises the steps of: detecting a defect size of the optical film, which is determined as the defective candidate region, of the minimum size region including all the defects included in each region in the searched region or the combined region, Way. 청구항 19에 있어서,
상기 저장하는 단계는, 2차원 배열을 이용하여, 상기 탐색된 영역의 위치 정보를 저장하는 광학 필름의 불량 검출 방법.The method of claim 19,
Wherein the storing step stores position information of the searched area using a two-dimensional array. 청구항 19에 있어서,
상기 판단하는 단계는, 상기 불량 후보 영역에서 상기 롤의 길이 방향을 기준으로, 동일한 열에 포함된 불량의 수가 기 설정된 값 이상이며, 해당 열에 포함된 불량 사이의 간격 중 동일 간격의 수가 기 설정된 값 이상인 경우, 상기 주기성 불량으로 판단하는 광학 필름의 불량 검출 방법.The method of claim 19,
Wherein the judging step comprises judging whether or not the number of defects contained in the same column is equal to or larger than a predetermined value and the number of the same intervals among the defects included in the row is equal to or larger than a predetermined value , The periodicity defect is judged to be the periodicity defect. 삭제delete 청구항 14에 있어서,
상기 불량 검출 정보를 공정 관리 시스템의 관리자 단말, 상기 광학 필름 공정 라인의 작업자 단말 및 공정 라인 상의 경고 장치 중 적어도 하나로 전송하는 단계를 더 포함하는 광학 필름의 불량 검출 방법.15. The method of claim 14,
Further comprising the step of transmitting the defect detection information to at least one of an administrator terminal of the process management system, an operator terminal of the optical film processing line, and a warning device on the process line. 삭제delete
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