KR101876908B1 - Enhancement method for location accuracy of display panel defect - Google Patents

Enhancement method for location accuracy of display panel defect Download PDF

Info

Publication number
KR101876908B1
KR101876908B1 KR1020180005762A KR20180005762A KR101876908B1 KR 101876908 B1 KR101876908 B1 KR 101876908B1 KR 1020180005762 A KR1020180005762 A KR 1020180005762A KR 20180005762 A KR20180005762 A KR 20180005762A KR 101876908 B1 KR101876908 B1 KR 101876908B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
image
display panel
pixel
pixel unit
defect
Prior art date
Application number
KR1020180005762A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
김흥환
김명진
Original Assignee
(주) 리드에이텍
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주) 리드에이텍 filed Critical (주) 리드에이텍
Priority to KR1020180005762A priority Critical patent/KR101876908B1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101876908B1 publication Critical patent/KR101876908B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2203/00Function characteristic
    • G02F2203/69Arrangements or methods for testing or calibrating a device

Abstract

The present invention relates to a method for improving positional accuracy of a defect of a display panel. More specifically, the present invention relates to the method capable of obtaining an image by radiating a background light source to a display panel, dividing the obtained image into several images in vertical and horizontal directions, identifying a display panel region in the divided images, determining whether defects exist in all pixel units included in the identified display region, and accurately calculating and displaying a position based on the edge of the display panel with respect to determined defects.

Description

디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법{ENHANCEMENT METHOD FOR LOCATION ACCURACY OF DISPLAY PANEL DEFECT}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a display panel,

본 발명은 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도를 개선하는 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 디스플레이 패널로 배경 광원을 조사하여 영상를 취득하고, 취득된 영상을 가로와 세로 방향으로 여러 개로 분할하며, 분활된 영상에서 디스플레이 패널 영역을 식별하며, 식별된 디스플레이 영역에 포함된 모든 화소 유닛들에 대해 결함 여부를 판정하고, 판정된 결함들에 대해 디스플레이 패널의 모서리를 기준으로 위치를 정확하게 산출하여 표시할 수 있는 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method of improving the accuracy of a defect position of a display panel, and more particularly, to a method of improving the accuracy of a defect position of a display panel by acquiring an image by irradiating a background light source with a display panel, A method of determining whether or not a defect exists in all the pixel units included in the identified display area and accurately calculating and displaying the position based on the edge of the display panel with respect to the determined defects .

일반적인 디스플레이 패널의 제조공정을 간략하게 설명하면, 글래스에 전극을 형성하여 TFT 글래스를 제조하는 TFT 공정, 글래스에 R,G,B 감광액을 증착시켜 CF 글래스를 제조하는 CF공정, TFT 공정에서 제조된 TFT 글래스와 CF 공정에서 제조된 CF 글래스를 접합시키고 그 사이에 액정을 주입 봉합하는 셀(cell) 공정 및 상기 셀 공정에서 제조된 패널에 편광필름과 PCB 등을 결합하여 일체화시키는 모듈(module) 공정으로 이루어진다.A general manufacturing process of a display panel will be briefly described. A TFT process for manufacturing a TFT glass by forming an electrode in a glass, a CF process for forming a CF glass by depositing R, G and B sensitizing liquid on a glass, A cell process in which a TFT glass and a CF glass manufactured by a CF process are bonded to each other and a liquid crystal is injected and sealed therebetween, and a module process in which a polarizing film and a PCB are combined with a panel manufactured in the cell process, Lt; / RTI >

디스플레이 패널을 제조하는 각 공정에서는 불량 패널이 최종 단계로 진행되는 것을 방지하면서 불량 패널의 발생 원인 및 실시간 공정 개선을 위해 많은 검사들이 중간중간 공정에서 이루어진다. 이에 따라, 결함을 갖는 패널을 중간 제조 과정에서 파악하여 폐기하거나 결함을 수리하여 다음 단계로 진행하여 제품의 불량률을 감소시킴으로써, 수율을 높이고 제품의 신뢰도를 향상시킬 수 있게 된다.In the process of manufacturing the display panel, many tests are performed in the intermediate process to prevent the defective panel from proceeding to the final stage and to improve the cause of the defective panel and the real time process. Accordingly, it is possible to increase the yield and improve the reliability of the product by reducing the defective rate of the product by proceeding to the next step by recognizing and discarding the defective panel in the intermediate manufacturing process or repairing the defect.

이에, 디스플레이 패널의 결함을 검출하는 다양한 방식이 개발되었으며, 디스플레이 패널의 불량을 검사하는 기술 중의 하나로서 등록특허공보 제10-1068356호에 화상처리를 이용한 디스플레이 패널의 픽셀 불량 검사 방법이 개시되었다.Accordingly, various methods for detecting defects in the display panel have been developed, and as a technique for inspecting the defects of the display panel, a method of inspecting a pixel defect in a display panel using image processing is disclosed in Patent Publication No. 10-1068356.

상기 기술은 디스플레이 패널 내의 각 1개 픽셀 유닛을 A×B개의 스캔픽셀로 촬영 가능한 라인스캔 카메라를 이용하여 디스플레이 패널의 영상을 취득하는 단계와, 영상 중의 각 스캔픽셀들의 밝기값을 분석하여, 문턱치 이상의 스캔픽셀들로 형성된 디스플레이 패널 픽셀 영역과 문턱치 미만의 스캔픽셀들로 형성된 배경영역으로 경계를 구분하는 단계와, 디스플레이 패널 픽셀영역 내에 위치한 스캔픽셀들의 각 행방향마다 최대 밝기값을 갖는 중심점들을 탐색하여, 중심점들이 가장 많이 배치된 특정 열방향을 픽셀의 X방향 중심위치로 결정하고 특정 열방향에 대한 중앙위치를 Y방향 중심위치로 결정하여, 각 픽셀의 중심좌표 x, y를 결정하는 단계와, 중심좌표를 중앙으로 하여 A×B개 스캔픽셀을 갖는 직사각형 영역을 픽셀 부분으로 최종 결정하는 단계 및 디스플레이 패널 내에서 결정된 각 픽셀들의 개별밝기 특성값을 연산하고, 개별 밝기 특성값을 전체 픽셀에 대해 연산된 평균 밝기 특성값과 비교하여 각 픽셀의 불량 여부를 판단하는 단계를 포함하여 이루어진다.The method includes the steps of acquiring an image of a display panel using a line scan camera capable of capturing each pixel unit in a display panel with A × B scan pixels, analyzing brightness values of the respective scan pixels in the image, Dividing a boundary between a display panel pixel region formed with the scan pixels and a background region formed with scan pixels less than the threshold value, and a step of searching for center points having a maximum brightness value in each row direction of the scan pixels located within the display panel pixel region Determining a center position in the X direction of the pixel and a center position in the specific column direction as a center position in the Y direction, and determining the center coordinates x, y of each pixel; , A rectangle region having A × B scan pixels centered on the center coordinate is finally determined as a pixel portion And calculating the individual brightness characteristic values of the respective pixels determined within the display panel and comparing the individual brightness characteristic values with the average brightness characteristic values calculated for all the pixels to determine whether or not each pixel is defective.

부연하면, 상기 기술은 디스플레이 패널의 개별 픽셀에 대한 결함 여부를 확인할 수 있는 장점이 있으나, 중심점들이 가장 많이 배치된 특정 열방향을 픽셀의 X방향 중심위치로 결정하고 특정 열방향에 대한 중앙위치를 Y방향 중심위치로 결정하여, 결함이 존재하는 경우 밝기 분포의 중심 위치가 검출되지 않거나, 밝기 분포의 값이 변화하는 것을 이용하여 결함을 검출하는 방법에 관한 것이다.In addition, the above technique has an advantage in that it is possible to check whether individual pixels of the display panel are defective. However, it is possible to determine a specific column direction in which the center points are most arranged as a center position in the X direction of the pixel, The center position of the brightness distribution is not detected in the presence of a defect, or the value of the brightness distribution changes.

그러나 상기 종래 기술은 결함의 위치를 계산하는 방법이 아니고 디스플레이 패널이 갖는 결함의 존재 유무를 확인하는 것으로서, 결함 자체를 확인할 수 있으나 결함 위치를 확인할 수 없는 문제점이 있다.However, the above-mentioned prior art is not a method of calculating the position of a defect, but it is a check of the presence or absence of a defect of the display panel, which can identify the defect itself but can not identify the defect position.

한편, 디스플레이 패널에서 결함의 위치를 계산하는 기존 방식 중에서 바둑판 모양의 체크박스 패턴을 디스플레이 패널에 조사하고, 이를 촬영하여 체크박스 패턴의 모서리에 대한 영상 위치 점들을 산출하고, 산출된 점들에 대한 3차 함수를 고정하여 위치를 확인하는 방식이 있으나, 디스플레이 패널을 제조하는 중간 공정 과정에서는 복수 개의 화소를 공통으로 연결하는 공통전극이 결속된 상태이기 때문에 상기 공통전극을 통한 신호의 인가가 국부적으로 제한되므로, 복잡한 형태의 체크박스 패턴을 인가할 수 없어, 체크박스 패턴 방식으로는 패널의 결함 위치를 확인할 수 없는 문제점이 있다.On the other hand, among the existing methods for calculating the positions of defects in the display panel, a grid check box pattern is irradiated on the display panel, and the image position points for the edges of the check box pattern are photographed, In the intermediate process for fabricating the display panel, since the common electrodes for connecting the plurality of pixels are bound together, the application of the signal through the common electrode is locally limited Therefore, it is impossible to apply a check box pattern of a complicated shape, and there is a problem that the position of the defect of the panel can not be confirmed by the check box pattern method.

KR 10-1068356 B1 (2011. 09. 21.)KR 10-1068356 B1 (September 21, 2011)

본 발명은 상기 종래기술이 갖는 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로서, 본 발명에서 해소하고자 하는 과제는 촬영된 영상에 존재하는 디스플레이 패널의 위치에 따른 밝기차 분포를 최소화하기 위해 가로 및 세로 방향으로 영상을 복수 개로 분할하고, 분할된 각각의 영상에서 디스플레이 패널 영역을 식별하고, 디스플레이 패널 영상을 이진화 처리하여 화소유닛의 중심점을 산출한 상태에서, 산출된 상기 중심점에 대해 순차적으로 좌표를 부여하며, 결함으로 판단된 화소유닛에 대해 정확한 좌표값을 산출하여 표시할 수 있는 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법을 제공하는 데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems of the prior art, and it is an object of the present invention to provide an image display apparatus and a display method thereof, The display panel region is identified in each of the divided images, the display panel image is binarized to calculate the center point of the pixel unit, the coordinates are sequentially given to the calculated center point, And correcting the defective pixel position of the pixel unit.

상기의 과제를 해결하기 위하여 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법은 촬영부의 카메라를 이용하여 상기 디스플레이 패널의 영상을 취득하는 촬영단계; 상기 촬영단계에서 촬영된 영상에서 영상 밝기 분포 차이에 근거하여 영상을 가로 및 세로의 복수 개로 분할하는 영상 분할단계; 상기 영상 분할단계에서 분할된 영역별로 화상처리하는 이진화 처리단계; 상기 이진화 처리단계를 통해 화소유닛의 중심점을 계산하는 중심점 산출단계; 상기 중심점 산출단계에서 계산된 중심점들에 화소유닛 좌표를 순차적으로 부여하는 좌표 할당단계; 및 상기 좌표 할당단계에서 결함으로 판단된 화소유닛의 좌표를 표시하는 결함 화소유닛 표시단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of improving accuracy of a defect position of a display panel, including: capturing an image of the display panel using a camera of a photographing unit; An image segmenting step of segmenting an image into a plurality of images in a horizontal direction and a vertical direction based on a difference in image brightness distribution in the image captured at the imaging step; A binarization step of performing image processing for each of the divided areas in the image segmenting step; A center point calculation step of calculating a center point of the pixel unit through the binarization processing step; A coordinate allocating step of sequentially assigning pixel unit coordinates to the center points calculated in the center point calculating step; And a defective pixel unit display step of displaying the coordinates of the pixel unit determined to be defective in the coordinate allocation step.

여기서, 상기 좌표 할당단계에서 부여되는 좌표는 상기 화상정보의 영역에서 디스플레이 패널의 모서리를 기준점으로 설정하고, 디스플레이 패널의 화소유닛들에 대해 X축 및 Y축의 평면 좌표로 순차적으로 계수하여 그 좌표를 부여하는 것을 특징으로 한다.Here, the coordinates assigned in the coordinate allocation step are set as the reference point at the corner of the display panel in the area of the image information, and are sequentially counted in the plane coordinates of the X axis and the Y axis with respect to the pixel units of the display panel, .

또한, 상기 결함 검출단계에서 검출되는 결함은 상기 화소유닛의 중심점을 산출할 수 없는 경우를 결함으로 판단하는 것을 특징으로 한다.In addition, the defect detected in the defect detecting step may be determined as a defect when the center point of the pixel unit can not be calculated.

본 발명에 의하면, 불량 화소유닛에 대한 위치를 기준점으로부터 계수하여 디스플레이 패널에서 불량 화소유닛의 위치를 정확하게 확인할 수 있는 장점이 있다.According to the present invention, the position of the defective pixel unit can be accurately counted from the reference point in the display panel.

또한, 체크박스(check box) 패턴을 패널에 조명하지 못하는 디스플레이의 제조 공정에서도 사용할 수 있으므로, 최종적으로 제조된 제품의 불량률을 최소화할 수 있을 뿐만 아니라, 검사에 따른 장치가 간단하여 종래 검사 장치에 쉽게 적용 가능한 장점이 있다.In addition, since a check box pattern can be used in a manufacturing process of a display that can not illuminate a panel, it is possible to minimize the defective rate of a finally manufactured product, There are advantages that can be easily applied.

도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법이 적용된 결함 위치 검출시스템에 대한 개략적인 구성도.
도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에 대한 흐름도.
도 3은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 촬영부에 의해 촬영된 디스플레이 패널의 화상정보를 나타낸 도면.
도 4는 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 중심점을 검출하는 과정을 나타낸 흐름도.
도 5은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 이진화된 영상을 나타낸 도면.
도 6은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 중심점의 좌표 위치를 표현한 도면.
도 7은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 중심점을 기준으로 분할영역의 좌표를 표현한 도면.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a schematic block diagram of a defect position detection system to which a defect position accuracy improvement method for a display panel according to the present invention is applied. FIG.
2 is a flow chart of a method for improving the accuracy of a defect position of a display panel according to the present invention.
3 is a diagram showing image information of a display panel photographed by a photographing unit in a method of improving accuracy of a defect position of a display panel according to the present invention.
FIG. 4 is a flowchart illustrating a method of detecting a center point in a method for improving accuracy of a defect position of a display panel according to the present invention.
5 is a view showing a binary image in a method of improving the accuracy of a defect position of a display panel according to the present invention.
6 is a view showing coordinate positions of a center point in a method of improving accuracy of a defect position of a display panel according to the present invention.
FIG. 7 is a diagram illustrating coordinates of a divided area based on a center point in a method of improving accuracy of a defect position of a display panel according to the present invention. FIG.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 더욱 상세하게 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명은 디스플레이 패널로 배경 광원을 조사하여 영상를 취득하고, 취득된 영상을 가로와 세로로 방향으로 여러 개로 분할하며, 분활된 영상에서 디스플레이 패널 영역을 식별하며, 식별된 디스플레이 영역에 포함된 모든 화소 유닛들에 대해 결함 여부를 판정하고, 판정된 결함들에 대해 디스플레이 패널의 모서리를 기준으로 위치를 정확하게 산출하여 표시할 수 있는 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an image display apparatus, an image display method, a display method, a program, and a program, which are capable of acquiring an image by irradiating a background light source with a display panel, dividing the acquired image into a plurality of images in the horizontal and vertical directions, To determine whether or not a unit is defective, and to accurately calculate and display the position of the determined defects with reference to the edge of the display panel.

도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법이 적용된 결함 위치 검출시스템에 대한 개략적인 구성도이다.1 is a schematic block diagram of a defect position detection system to which a defect position accuracy improvement method for a display panel according to the present invention is applied.

첨부된 도 1을 참조하면, 결함 위치 검출시스템은 백라이트부(10), 촬영부(20) 및 결함확인 표시부(30)를 포함하여 구성된다.Referring to FIG. 1, the defect position detection system includes a backlight unit 10, a photographing unit 20, and a defect confirmation display unit 30.

백라이트부(10)는 디스플레이 패널(100, 피검물)의 하부에 위치하여 상기 디스플레이 패널에 광원을 조사하는 것으로서, 그 상면에는 편광필름(10A)이 부착된다.The backlight unit 10 is positioned below the display panel 100 and irradiates the display panel with a light source, and a polarizing film 10A is attached to the upper surface thereof.

이때, 상기 편광필름(10A)은 여러 방향으로 진동하면서 입사되는 광원을 일측 방향으로만 진동하는 빛으로 출력하는 기능을 수행한다.At this time, the polarizing film 10A performs a function of outputting a light source that is incident while being vibrated in various directions as light that vibrates only in one direction.

또한, 상기 백라이트부(10)에 구비되는 광원모듈은 균일한 광원을 조사하기 위해 지그재그 방식으로 배치될 수 있다.The light source module included in the backlight unit 10 may be disposed in a zigzag manner to irradiate a uniform light source.

상기 광원모듈로는 음극형광램프(cold cathode fluorescent lamp) 또는 외부전극형광램프(external electrode fluorescent lamp) 등이 사용될 수 있고, 설계조건에 따라서는 LED(light emitting diode)로도 구성될 수 있다.As the light source module, a cold cathode fluorescent lamp or an external electrode fluorescent lamp may be used. Depending on the design conditions, the light source module may also be a light emitting diode (LED).

한편, 상기 백라이트부(10)의 상부에는 검사 대상물인 디스플레이 패널(100)이 배치된다.On the other hand, a display panel 100, which is an object to be inspected, is disposed above the backlight unit 10.

상기 디스플레이 패널(100)은 크게, 상부의 CF 글래스(110)와 하부의 TF 글래스(120) 및 그 사이에 충전되는 액정(130)을 포함하여 구성된다.The display panel 100 includes a CF glass 110, a lower TF glass 120, and a liquid crystal 130 interposed therebetween.

상기 CF 글래스(110)에는 상부기판(111) 상에 컬러필터(112), 블랙매트릭스(113), 공통 전극(114) 및 배향막(115)이 구성된다.A color filter 112, a black matrix 113, a common electrode 114, and an alignment film 115 are formed on the upper substrate 111 of the CF glass 110.

상기 TFT 글래스(120)에는 하부기판(121) 상에 TFT 어레이(122), 화소전극(123) 및 배향막(124)이 구성된다A TFT array 122, a pixel electrode 123 and an alignment film 124 are formed on the lower substrate 121 of the TFT glass 120

촬영부(20)는 상기 디스플레이 패널의 상부에서 카메라를 이용하여 화상정보에 대한 영상을 취득하는 기능을 수행하는 것으로서, 상기 카메라는 디스플레이 패널 전체를 촬영하거나 확대 영상을 취득하기 위해 디스플레이 패널을 4분할하여 분할된 영상을 취득하도록 구성될 수 있다.The photographing unit 20 acquires an image of image information using a camera at an upper portion of the display panel. The camera captures the entire display panel or acquires an enlarged image by dividing the display panel into four So as to acquire a divided image.

이때, 상기 촬영부(20)에는 편광필름(20A1)이 구비되어 특정된 편광성분은 투과시키면서 특정되지 않은 편광성분은 흡수한다.At this time, the photographing unit 20 is provided with a polarizing film 20A1, and transmits the specified polarized light component and absorbs the unspecified polarized light component.

여기서, 상기 촬영부(20)의 카메라에 의해서 촬영된 영상에 이용되는 화소 유닛은 카메라의 해상도, 렌즈 배율에 의해서 확대/축소되어 진다.Here, the pixel unit used for the image photographed by the camera of the photographing unit 20 is enlarged / reduced by the resolution of the camera and the lens magnification.

또한, 상기 카메라는 2차원의 면을 촬상하는 에어리어(area) 이미지 센서로 구성될 수 있다.In addition, the camera may be configured as an area image sensor that images a two-dimensional plane.

결함확인 표시부(30)는 상기 촬영부(10)에서 취득된 영상을 수신하고, 수신된 영상에 근거하여 불량 화소유닛의 위치를 계산하여 표시하는 기능을 수행하는 것으로서, 설정된 로직을 수행하는 프로세서, 메모리, 입/출력장치, 그래픽 인터페이스 및 통신장치 등을 구비한 단말기와 상기 단말기에 설치되어 결함 위치를 계산하는 결함확인용 프로그램을 포함하여 구성될 수 있다.The defect check display unit 30 receives the image captured by the photographing unit 10 and calculates and displays the position of the defective pixel unit based on the received image. The defect check display unit 30 includes a processor for executing the set logic, A memory, an input / output device, a graphic interface, and a communication device, and a defect checking program installed in the terminal to calculate a defect location.

이하, 결함확인 표시부(30)에서 이루어지는 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에 대해서 설명한다.Hereinafter, a method for improving the accuracy of the defect position of the display panel in the defect confirmation display unit 30 will be described.

도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에 대한 흐름도이다.2 is a flowchart illustrating a method for improving the accuracy of a defect position of a display panel according to the present invention.

첨부된 도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법은 촬영단계(S10), 영상 분할단계(S20), 이진화 처리단계(S30), 중심점 산출단계(S40), 좌표 할당단계(S50) 및 결함 화소유닛 표시단계(S60)를 포함하여 이루어진다.Referring to FIG. 2, a defect position accuracy improvement method for a display panel according to the present invention includes an imaging step S10, an image segmentation step S20, a binarization processing step S30, a center point calculation step S40, A step S50 and a defective pixel unit display step S60.

1. 촬영단계(S10)1. Step of photographing (S10)

촬영단계(S10)는 촬영부(20, 도 1 참조)의 카메라를 이용하여 디스플레이 패널의 영상을 촬영하는 단계이다.The photographing step S10 is a step of photographing an image of the display panel using the camera of the photographing unit 20 (see Fig. 1).

이때, 촬영된 영상에는 기준점을 설정할 수 있도록 디스플레이 패널 전체 영역이 촬영되거나 적어도 하나의 모서리(가장자리)가 촬영되도록 한다.At this time, the entire area of the display panel is photographed or at least one edge (edge) is photographed so that a reference point can be set in the photographed image.

2. 영상 분할단계(S20)2. Image segmentation step (S20)

영상 분할단계(S20)는 상기 촬영단계(S10)에서 촬영된 영상에서 디스플레이 패널의 영역을 식별하고, 상기 식별된 디스플레이 영역의 밝기 분포 차이를 최소화하여 처리하기 위해 영상의 영역을 가로 및 세로로 분할하는 단계이다. The image segmenting step S20 identifies the area of the display panel in the image photographed in the photographing step S10 and divides the area of the image horizontally and vertically in order to minimize the brightness distribution difference of the identified display area .

이때, 분할된 영역의 개수는 설정된 분할개수에 근거하여 분할영역을 제한하도록 구성될 수 있다. 예를 들면, 영상의 분할영역 개수가 100×100으로 설정된 경우, 영상의 영역 중에서 가로 100개의 선과 세로 100개의 선으로 이루어지는 분할영역이 설정되고 나머지 영역은 분할되지 않는 영역으로 구성될 수 있다. 이에, 지정된 영역을 집중적으로 조사할 수 있는 장점이 있다.At this time, the number of divided areas may be configured to limit the divided area based on the set number of divisions. For example, when the number of divided areas of an image is set to 100 x 100, a divided area consisting of 100 lines and 100 lines in the image area may be set and the remaining area may not be divided. Therefore, there is an advantage that the designated area can be intensively examined.

여기서, 상기 화소유닛은 디스플레이 패널에서 반복되는 최소 단위로서, R(red), G(green) 및 B(blue)로 이루어지는 각 픽셀의 집합을 의미한다.Here, the pixel unit means a set of pixels consisting of R (red), G (green) and B (blue) as a minimum unit repeated in the display panel.

일반적으로 화소(픽셀, pixel)는 R, G, B 값을 가지는 막대 형상으로 이루어지는 데, 화소를 구성하는 단위인 작은 점(dot)을 의미한다.In general, a pixel (pixel) is formed into a rod shape having R, G, and B values, which means a small dot which is a unit constituting a pixel.

CF 글래스는 복잡한 공정을 통해 제조되나, 개략적으로 글래스에 블랙 매트릭스 패턴을 형성한 후, Red 감광액, Green 감광액 및 Blue 감광액을 순차적으로 증착시키고, 투명전극(ITO, Indium-Tin Oxide)을 도포하여 제조되는 것으로서, 본 발명에서의 화소유닛은 픽셀 3개가 결합된 R(red), G(green) 및 B(blue)로 이루어진 하나의 집합체를 의미한다.The CF glass is manufactured through a complicated process, but roughly, a black matrix pattern is formed on the glass, and then a red sensitizing solution, a green sensitizing solution and a blue sensitizing solution are sequentially deposited, and a transparent electrode (ITO, Indium-Tin Oxide) , And the pixel unit in the present invention means one aggregate of R (red), G (green) and B (blue) combined with three pixels.

도 3은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 촬영부에 의해 촬영된 디스플레이 패널의 영상을 나타낸 도면이다.3 is a view showing an image of a display panel taken by a photographing unit in a method of improving accuracy of a defect position of a display panel according to the present invention.

디스플레이 패널의 일부(국부) 또는 전체에 광원이 조사되는 상태에서 상기 디스플레이 패널을 상부에서 카메라로 촬영하면, G 화소(dot)의 영상 밝기가 가장 밝고 R 화소(dot)의 영상 밝기가 가장 어둡게 나타난다.When the display panel is photographed with a camera from above with the light source being irradiated on a part of (or a part of) the display panel, the image brightness of the G pixel is the brightest and the brightness of the R pixel is the darkest .

즉, 촬영된 영상에서 R, G, B(22)의 집합체인 화소유닛(21) 사이의 밝기 차이에 따라 인접하는 화소유닛들 간의 사이를 구분할 수 있게 된다. 그리고 CF 디스플레이 패널의 block matrix로 인해 상하로 인접한 화소유닛들 간을 구별할 수 있다. 즉 밝기에 의해 좌우 및 상하 사이의 인접 화소유닛들의 밝기분포로 구분할 수 있다.That is, it is possible to distinguish between the adjacent pixel units according to the brightness difference between the pixel units 21, which is an aggregate of R, G, and B (22) in the photographed image. Also, because of the block matrix of the CF display panel, it is possible to distinguish between upper and lower pixel units. That is, the brightness distribution of the adjacent pixel units between the right and left and the top and bottom by the brightness.

3. 화상처리단계(S30)3. Image Processing Step (S30)

화상처리단계(S30)는 상기 영상 분할단계에서 분할된 영상별로 화상처리 하는 단계이다.The image processing step S30 is an image processing step for each of the images divided in the image dividing step.

도 4는 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 화상처리과정을 나타낸 흐름도이다.4 is a flowchart illustrating an image processing process in a defect position accuracy improvement method of a display panel according to the present invention.

첨부된 도 4를 참조하면, 중심점 검출단계(S30)는 이진화 임계값 산출단계(S31), 이진화 단계(S32) 및 중심부 검출단계(S33)를 포함하여 이루어진다.Referring to FIG. 4, the center point detection step S30 includes a binarization threshold calculation step S31, a binarization step S32, and a center detection step S33.

3-1. 이진화 임계값 산출단계(S31)3-1. In the binarization threshold calculation step S31,

이진화 임계값 산출단계(S31)는 상기 분할된 영상에서 디스플레이 패널의 영역을 구별하고 디스플레이 패널 영역에 있는 화소유닛의 영역을 식별하기 위해 이진화를 수행하는 데 따른 이진화 임계값을 산출하는 단계이다.The binarization threshold calculation step S31 is a step of calculating a binarization threshold value for binarizing the area of the display panel in the divided image and identifying the area of the pixel unit in the display panel area.

영상의 이진화는 영상에서 디스플레이 패널과 영상 배경으로 구분하는 효과적인 영상분할 방식으로서, 촬영부의 카메라에서 촬영된 영상이 가지는 복잡한 정보를 본 발명에서 필요로 하는 축약된 소량의 정보로 변환하는 과정이다.Binarization of an image is an effective image segmentation method for dividing an image into a display panel and an image background, and is a process of converting complex information possessed by a camera taken by a photographing unit into a shortened amount of information required in the present invention.

즉, 영상의 이진화는 영상 내의 모든 픽셀을 흑과 백(0과 1)으로 표현하는 것을 의미하는 것으로서, 픽셀당 8비트 기준으로 0 ~ 255 값을 갖는 이미지에 대해 산출된 임계값을 기준으로 임계값 이하는 0을 부여하고, 임계값 초과는 1을 부여하여 각 픽셀을 흑백으로 처리하는 것이다. 여기서 픽셀은 카메라의 의해서 촬영되어 취득된 영상의 최소단위이다.That is, the binarization of an image means that all the pixels in the image are represented by black and white (0 and 1). The binarization is based on a threshold value calculated for an image having a value of 0 to 255 on an 8- 0 < / RTI > is assigned to the pixel value, and 1 is added to the threshold value to process each pixel in black and white. Here, the pixel is the minimum unit of the image captured and acquired by the camera.

이때, 화상정보를 이진화하는 방식은 전역적 이진화(global binarization) 또는 지역적 이진화(local binarization) 중에서 선택될 수 있으나, 본 발명에서는 촬영한 영상을 복수 개로 분할하여 각각의 영상에서 한 개의 임계값을 적용하는 지역적 이진화(local binarization) 방식을 적용한다. 여기서, 임계값은 분할된 각 영상에서 최대 밝기값, 최소 밝기값, 밝기 분산값 및 사용자의 설정 입력값에 의해 조절가능하도록 구성될 수 있다.In this case, the method of binarizing image information may be selected from global binarization or local binarization, but in the present invention, the captured image is divided into a plurality of images, and one threshold value is applied to each image The local binarization method is applied. Here, the threshold value can be configured to be adjustable by the maximum brightness value, the minimum brightness value, the brightness variance value, and the user's setting input value in each divided image.

즉, 본 발명에서 이진화를 수행하기 위한 임계값은 분할된 영역의 픽셀이 n×m이라는 가정하에 분할된 영역내의 각각 픽셀에서 최대 밝기값과 최소 밝기값의 평균 밝기값을 산출하고, 평균 밝기값과 각 픽셀의 밝기값을 이용하여 밝기 분산값을 산출한 다음, 산출된 밝기 분산값에서 일정한 상수(사용자 입력값)를 감산하여 산출되게 된다.That is, in the present invention, the threshold value for performing binarization is calculated by calculating the average brightness value of the maximum brightness value and the minimum brightness value in each pixel in the divided region on the assumption that the pixels of the divided region are n x m, And a brightness value of each pixel to calculate a brightness variance value, and then subtracting a constant value (user input value) from the calculated brightness variance value.

이러한, 임계값 산출 방식에 의해 영상 촬영시의 주변 밝기값과 사용자의 입력값에 따라 이진화처리에 따른 임계값이 산출되기 때문에 이진화를 수행하는 데 따른 최적의 임계값을 산출할 수 있는 장점이 있다.Since the threshold value according to the binarization process is calculated according to the surrounding brightness value at the time of image capturing and the input value of the user, the threshold value calculation method has an advantage of calculating an optimal threshold value for performing the binarization .

3-2. 영역별 이진화단계(S32)3-2. Binarization step by region (S32)

영역별 이진화단계(S32)는 상기 이진화 임계값 산출단계에서 산출된 이진화 임계값에 따라 해당 영역의 영상을 이진화하는 단계이다.The per-binarization step S32 is a step of binarizing the image of the corresponding region according to the binarization threshold value calculated in the binarization threshold calculation step.

본 발명에 적용된 이진화 방식은 화상정보를 복수 개의 영역으로 분할하여 각 영역마다 다른 임계값을 적용하여 이진화하는 것으로서, 도 5는 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 이진화된 영상을 나타낸 도면이다.The binarization method applied to the present invention divides the image information into a plurality of regions and applies different threshold values to each region to binarize the image information. FIG. 5 illustrates a method of improving the accuracy of a defect position of a display panel according to the present invention. FIG.

이와 같은 영역별 이진화에 의해 영상을 처리하는 방식은 계산 복잡도를 간편하게 하는 장점이 있다. 예를 들어, 24비트의 RGB 화상정보의 경우 1개 픽셀당 24비트 값을 갖게 되어 0 ~ 16,777,216(대략 1,600만)의 정보가 포함되나, 화상정보를 이진화를 처리하면 픽셀당 800만배의 신속한 분석이 가능하다.This method of processing an image by binarization has the advantage of simplifying computational complexity. For example, in the case of 24-bit RGB image information, it has a value of 24 bits per pixel, which includes 0 to 16,777,216 (approximately 16 million) information. However, when the image information is binarized, This is possible.

3-3. 영역별 중심부 도출단계(S33)3-3. Step S33 of deriving the center by region

영역별 중심부 검출단계(S33)는 상기 영역별 이진화단계에서 각 영역별로 이진화된 각 화소유닛의 중심부를 도출하는 단계이다.The center-by-area detection step S33 is a step of deriving the center of each pixel unit binarized for each area in the binarization step for each area.

첨부된 도 5에서 붉은 색 영역은 디스플레이 패널에 존재하는 화소유닛의 G 화소(dot)에 대한 검출 영역을 나타낸 것이다.In Fig. 5, the red region indicates a detection region for a G pixel (dot) of a pixel unit existing in the display panel.

4. 중심점 산출단계(S40)4. Calculating the center point (S40)

중심점 검출단계(S40)는 상기 이진화단계(S30)에서 분할된 영상에서 도출된 G 화소(dot)의 중심부에 근거하여 최종적으로 중심부에 대한 중심점을 산출하는 단계이다.The center point detection step S40 is a step of finally calculating the center point of the center point based on the center of the G pixel derived from the image segmented in the binarization step S30.

도 6은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 중심점의 좌표 위치를 표현한 도면이다.FIG. 6 is a view showing a coordinate position of a center point in a method of improving the accuracy of a defect position of a display panel according to the present invention.

이때, 디스플레이 패널에 결함이 존재할 경우, 결함 부분에 있는 화소유닛들은 중심점을 산출할 수 없게 된다.At this time, if there is a defect in the display panel, the pixel units in the defective part can not calculate the center point.

즉, 중심부로 검출된 G화소에 근거하여 중심점을 산출하는 과정에서 결함이 발생되면, 중심점을 산출할 수 없게 되고, 중심점이 산출되지 않는 것으로 판단되면 이를 화소유닛 빠짐의 결함으로 판단되도록 구성된다.That is, if a defect is generated in the process of calculating the center point based on the G pixel detected at the center, the center point can not be calculated. If it is determined that the center point is not calculated, it is determined that the defect is a defect of the pixel unit.

또한, G화소의 중심점이 이웃하는 중심점들과 위치를 비교하여 해당 G화소의 중심점이 이웃하는 중심점들의 위치와 직선상에 위치하지 않는 경우에는 화소유닛의 위치 결함으로 판단되도록 구성된다. 부연하면, 화소유닛의 위치 결함은 인접 중심점들의 위치정보에 근거하여 산출되도록 구성된다.Also, when the center point of the G pixel is compared with the neighboring center points and the center point of the G pixel is not located on the straight line with the neighboring center points, it is determined that the pixel unit is a position defect. In other words, the position defect of the pixel unit is calculated based on the positional information of the adjacent center points.

이에, 상기 화소유닛 빠짐의 결함 또는 화소유닛 위치 결함으로 판단되는 경우, 이에 대한 정보가 표시되도록 구성된다.Thus, when it is determined that the pixel unit is missing or the pixel unit position is defective, the information is displayed.

설계조건에 따라서, 상기 화소유닛 빠짐의 결함 또는 화소유닛 위치 결함으로 판단되는 경우에는 정확성을 위해 재계산하도록 구성될 수 있다.According to the design conditions, it may be configured to recalculate for accuracy if it is determined that the pixel unit is missing or a pixel unit position defect is determined.

5. 좌표 할당단계(S50)5. Coordinate allocation step (S50)

좌표 할당단계(S50)는 상기 중심점 산출단계(S40)에서 산출된 중심점에 좌표를 부여하는 단계이다.The coordinate allocation step S50 is a step of assigning coordinates to the center point calculated in the center point calculating step S40.

상기 좌표 할당단계에서 할당되는 좌표의 순서는 디스플레이 영역으로 판단되는 기준점(예를 들면, 모서리)으로부터 순차적으로 할당되도록 구성될 수 있다. 이때, 기준점은 촬영된 영상에서 디스플레이 영역으로 판단되는 좌상, 우상, 좌하 또는 우하 모서리 중에서 영상에 존재하는 모서리로 선택될 수 있고, 선택된 모서리를 기준으로 (0, 0), (1, 1) 및 (n, m) 순으로 순차적으로 할당될 수 있다.The order of the coordinates allocated in the coordinate allocation step may be sequentially allocated from a reference point (for example, a corner) determined as a display area. At this time, the reference point can be selected as an edge existing in the image from among the upper left, upper right, lower left, or lower right corner determined as the display area in the photographed image, and (0, 0), (1, 1) (n, m) in that order.

도 7은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 중심점을 기준으로 분할영역의 좌표를 표현한 도면이다.FIG. 7 is a diagram illustrating coordinates of a divided area based on a center point in a method of improving accuracy of a defect position of a display panel according to the present invention.

여기서, 도 6을 참조하면, 각 화소유닛의 중심점에 대해 1개의 점으로 표시되고, 표시되는 점들은 좌우, 상하로 정렬된 구조를 갖는다.Here, referring to FIG. 6, one point is displayed with respect to the center point of each pixel unit, and the displayed points have a structure arranged horizontally and vertically.

즉, 첨부된 도 6에서 각각의 점들은 하나의 화소유닛의 좌표를 갖는 것으로서, 첨부된 도 6에서와 같이 좌상을 기준으로 촬영된 영상에서는 좌측 최상의 좌표를 (0, 0)으로 설정되고, 가로축으로 (1, 0), (2, 0)의 순서로 좌표가 부여되고, 세로축으로는 (0, 0)을 기준으로 (0, 1), (0, 2)의 순서로 좌표가 부여된다.6, each of the points has coordinates of one pixel unit. In the image photographed on the upper left side as shown in FIG. 6, the uppermost left coordinate is set to (0, 0) Coordinates are assigned in the order of (1, 0) and (2, 0) on the ordinate and coordinates are assigned in the order of (0, 1) and (0, 2) on the basis of (0, 0).

이런 방식을 통해 촬영된 영상에 대해 전체 화소유닛들에 대해 좌표가 할당될 수 있다.Coordinates can be assigned to all pixel units with respect to an image photographed in this manner.

6. 결함 화소유닛 표시단계(S60)6. Defective pixel unit display step (S60)

결함 화소유닛 표시단계(S60)는 상기 좌표 할당단계(S50)에서 할당된 불량 화소유닛에 대해 정확한 위치 좌표를 표시하는 단계이다. 이와 더불어 상기 좌표 할당단계(S50)에서 중심점을 찾을 수 없는 화소유닛이 존재하는 경우로 판단하고 결함으로 인식한다.The defective pixel unit display step S60 is a step of displaying accurate position coordinates with respect to the defective pixel units allocated in the coordinate allocating step S50. In addition, it is determined that there is a pixel unit in which a center point can not be found in the coordinate allocating step (S50), and it is recognized as a defect.

본 발명에 의하면, 화소유닛에 대한 결함 검출과 결함 위치 계산을 분할 영상에서 개별적으로 분석함에 따라, 결함이 존재하는 화소유닛의 위치를 확인하고 위치 오차를 제거할 수 있는 장점이 있다.According to the present invention, there is an advantage that the position of a pixel unit in which a defect exists can be confirmed and a position error can be eliminated by separately analyzing the defect detection and the defect position calculation for the pixel unit in the divided image.

또한, 체크박스(check box) 패턴을 패널에 조명하지 못하는 중간 공정에서도 이 방법을 사용할 수 있으므로, 최종적으로 제조된 제품의 불량률을 최소화할 수 있고, 검사에 따른 장치가 간단하여 종래 검사 장치에 쉽게 적용 가능한 장점이 있다.In addition, since this method can be used in an intermediate process in which a check box pattern can not be illuminated on a panel, it is possible to minimize the defective rate of the finally manufactured product, and the apparatus according to the inspection is simple, There are applicable advantages.

이상에서 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명하였으나, 본 발명의 권리범위는 이에 한정되지 아니하며 본 발명의 실시 예와 실질적으로 균등한 범위에 있는 것까지 본 발명의 권리범위가 미치는 것으로 이해되어야 하며, 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 범위 내에서 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형 실시가 가능하다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but, on the contrary, It will be understood by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims.

100: 디스플레이 패널
10: 백라이트부
20: 촬영부
30: 결함검출부
100: Display panel
10: backlight unit
20:
30:

Claims (3)

디스플레이 패널의 하부에서 광원을 조사하는 백라이트부와 상기 디스플레이 패널의 상부에서 카메라를 이용하여 영상을 취득하는 촬영부 및 상기 촬영부에서 취득된 영상에 근거하여 불량 화소유닛을 검출하고, 검출된 불량에 대한 결함 위치 정확도를 개선하는 방법에 있어서,
상기 촬영부의 카메라를 이용하여 상기 디스플레이 패널의 전체 영역 또는 적어도 하나의 모서리가 촬영되도록 영상을 취득하는 촬영단계;
상기 촬영단계에서 촬영된 영상에서 영상 밝기 분포 차이에 근거하여 영상을 가로 및 세로의 복수 개로 분할하는 영상 분할단계;
상기 영상 분할단계에서 분할된 영역별로 화상처리하는 이진화 처리단계;
상기 이진화 처리단계를 통해 화소유닛의 중심점을 계산하는 중심점 산출단계;
상기 중심점 산출단계에서 계산된 중심점들에 화소유닛 좌표를 순차적으로 부여하는 좌표 할당단계; 및
상기 좌표 할당단계에서 결함으로 판단된 화소유닛 좌표를 표시하는 결함 화소유닛 표시단계;
를 포함하여 구성되고,
상기 이진화 처리단계에서 이진화를 수행하기 위한 임계값은,
분할된 영역내의 각각 픽셀에서 최대 밝기값과 최소 밝기값의 평균 밝기값을 산출하고, 평균 밝기값과 각 픽셀의 밝기값을 이용하여 밝기 분산값을 산출한 다음, 산출된 밝기 분산값에서 상수를 감산하여 산출되며,
상기 임계값은 분할된 각 영상에서 최대 밝기값, 최소 밝기값, 밝기 분산값 및 사용자의 설정 입력값에 의해 조절가능하도록 구성되고,
상기 좌표 할당단계에서 부여되는 좌표는,
분할된 상기 영역에서 디스플레이 패널의 좌상, 우상, 좌하 또는 우하 모서리 중에서 영상에 존재하는 모서리를 기준점으로 설정하고, 디스플레이 패널의 화소유닛들에 대해 X축 및 Y축의 평면 좌표로 순차적으로 계수하여 그 좌표를 부여하고,
상기 결함 화소유닛 표시단계에서 검출되는 결함은,
상기 화소유닛의 중심점을 산출할 수 없는 경우를 결함으로 판단하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법.
A defective pixel unit is detected based on a backlight unit for irradiating a light source at a lower portion of the display panel, a photographing unit for acquiring an image using a camera at an upper portion of the display panel, and an image acquired by the photographing unit, A method for improving fault location accuracy,
An imaging step of acquiring an image such that the entire area or at least one corner of the display panel is photographed using the camera of the photographing part;
An image segmenting step of segmenting an image into a plurality of images in a horizontal direction and a vertical direction based on a difference in image brightness distribution in the image captured at the imaging step;
A binarization step of performing image processing for each of the divided areas in the image segmenting step;
A center point calculation step of calculating a center point of the pixel unit through the binarization processing step;
A coordinate allocating step of sequentially assigning pixel unit coordinates to the center points calculated in the center point calculating step; And
A defective pixel unit display step of displaying pixel unit coordinates determined as a defect in the coordinate allocation step;
And,
The threshold value for performing the binarization in the binarization processing step may be, for example,
The average brightness value of the maximum brightness value and the minimum brightness value is calculated for each pixel in the divided region, and the brightness variance value is calculated using the average brightness value and the brightness value of each pixel. Then, a constant is calculated from the calculated brightness variance value Lt; / RTI >
Wherein the threshold value is configured to be adjustable according to a maximum brightness value, a minimum brightness value, a brightness variance value, and a set input value of a user in each divided image,
The coordinate assigned in the coordinate allocation step may be,
A corner located in the image among the upper left, upper right, lower left, or lower right corner of the display panel in the divided region is set as a reference point, the pixel units of the display panel are sequentially counted in the plane coordinates of the X axis and the Y axis, Lt; / RTI >
The defects detected in the defective pixel unit display step include:
And determining that the center point of the pixel unit can not be calculated as a defect.
삭제delete 삭제delete
KR1020180005762A 2018-01-16 2018-01-16 Enhancement method for location accuracy of display panel defect KR101876908B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180005762A KR101876908B1 (en) 2018-01-16 2018-01-16 Enhancement method for location accuracy of display panel defect

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180005762A KR101876908B1 (en) 2018-01-16 2018-01-16 Enhancement method for location accuracy of display panel defect

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101876908B1 true KR101876908B1 (en) 2018-07-10

Family

ID=62916001

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020180005762A KR101876908B1 (en) 2018-01-16 2018-01-16 Enhancement method for location accuracy of display panel defect

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101876908B1 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113077478A (en) * 2021-03-23 2021-07-06 苏州华兴源创科技股份有限公司 Alignment method, compensation method and system of display panel and readable storage medium
CN113257167A (en) * 2021-05-13 2021-08-13 Tcl华星光电技术有限公司 Display picture compensation method
CN114354622A (en) * 2021-12-30 2022-04-15 苏州凌云视界智能设备有限责任公司 Defect detection method, device, equipment and medium for display screen

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100397080B1 (en) * 1995-02-22 2004-11-08 포톤 다이나믹스, 인코포레이티드 Flat Display Inspection System
KR20080018574A (en) * 2006-08-25 2008-02-28 (주)플렛디스 System for estimating picture quality of the tft-lcd module and method therefor
KR101068356B1 (en) * 2009-05-22 2011-09-29 최상관 Method for inspecting defect of the Pixels in display panel device by image
KR20140075042A (en) * 2012-12-07 2014-06-19 엘지디스플레이 주식회사 Apparatus for inspecting of display panel and method thereof
KR20160103800A (en) * 2015-02-25 2016-09-02 동우 화인켐 주식회사 Apparatus and method for detecting defect of optical film
KR20160103795A (en) * 2015-02-25 2016-09-02 동우 화인켐 주식회사 Apparatus and method for detecting defect of optical film
KR101802431B1 (en) * 2017-07-03 2017-11-29 케이맥(주) Oled defect detection method and apparatus

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100397080B1 (en) * 1995-02-22 2004-11-08 포톤 다이나믹스, 인코포레이티드 Flat Display Inspection System
KR20080018574A (en) * 2006-08-25 2008-02-28 (주)플렛디스 System for estimating picture quality of the tft-lcd module and method therefor
KR101068356B1 (en) * 2009-05-22 2011-09-29 최상관 Method for inspecting defect of the Pixels in display panel device by image
KR20140075042A (en) * 2012-12-07 2014-06-19 엘지디스플레이 주식회사 Apparatus for inspecting of display panel and method thereof
KR20160103800A (en) * 2015-02-25 2016-09-02 동우 화인켐 주식회사 Apparatus and method for detecting defect of optical film
KR20160103795A (en) * 2015-02-25 2016-09-02 동우 화인켐 주식회사 Apparatus and method for detecting defect of optical film
KR101802431B1 (en) * 2017-07-03 2017-11-29 케이맥(주) Oled defect detection method and apparatus

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113077478A (en) * 2021-03-23 2021-07-06 苏州华兴源创科技股份有限公司 Alignment method, compensation method and system of display panel and readable storage medium
CN113257167A (en) * 2021-05-13 2021-08-13 Tcl华星光电技术有限公司 Display picture compensation method
CN114354622A (en) * 2021-12-30 2022-04-15 苏州凌云视界智能设备有限责任公司 Defect detection method, device, equipment and medium for display screen
CN114354622B (en) * 2021-12-30 2024-01-19 苏州凌云视界智能设备有限责任公司 Display screen defect detection method, device, equipment and medium

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101958634B1 (en) Apparatus and Method for Mura Defect Detection of Display Device
US8428334B2 (en) Inspection System
CN100367293C (en) Method and apparatus for optical inspection of a display
US7978903B2 (en) Defect detecting method and defect detecting device
CN105335963A (en) Edge defect detection method and apparatus
KR101876908B1 (en) Enhancement method for location accuracy of display panel defect
JP2004294202A (en) Defect detection method and device of screen
JP2001527645A (en) Uneven defect detection method and detection device
US7561751B2 (en) Image processing method
CN109495729B (en) Projection picture correction method and system
KR102009740B1 (en) Apparatus for inspecting of display panel and method thereof
CN108090890B (en) Inspection device and inspection method
KR101980755B1 (en) Apparatus for automatic inspection of the color difference mura for the display panel and method for the same
KR20120105149A (en) Method and apparatus for automatic optical inspection of flat panel substrate
CN110148141B (en) Silk-screen optical filter small piece detection counting method and device
KR20140082333A (en) Method and apparatus of inspecting mura of flat display
KR101218637B1 (en) Diagonal scan method for fast edge detection
US7330580B2 (en) System and method for inspecting an LCD panel
JP2004219176A (en) Method and apparatus for detecting pixel irregulality failing
KR100902301B1 (en) Defect inspection system
JP2010008125A (en) Bubble sorting method in glass substrate
JP2010044010A (en) Method for detecting defect of mesh- or wire-embedded glass
JP2005181040A (en) Defect detection method for display panel, its detection device, and manufacturing method for the display panel
US20230194915A1 (en) Method of detecting defective pixels in electronic displays
JP2004012256A (en) Pixel inspection device and pixel inspection method

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant