JP6663374B2 - X線検査装置 - Google Patents
X線検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6663374B2 JP6663374B2 JP2017037142A JP2017037142A JP6663374B2 JP 6663374 B2 JP6663374 B2 JP 6663374B2 JP 2017037142 A JP2017037142 A JP 2017037142A JP 2017037142 A JP2017037142 A JP 2017037142A JP 6663374 B2 JP6663374 B2 JP 6663374B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- image data
- transmission image
- rays
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 115
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 120
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 64
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 19
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 12
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 7
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 claims description 5
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 11
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 10
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 235000013305 food Nutrition 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 235000021544 chips of chocolate Nutrition 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 235000014510 cooky Nutrition 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 description 1
Description
搬送中の被検査物にX線を照射するとともに、前記被検査物を透過したX線を検出して検出情報を出力するX線検査部10と、
前記検出情報を用いて、第1のエネルギー領域のX線と前記第1のエネルギー領域のX線よりもエネルギーの高い第2のエネルギー領域のX線とを含む、複数の異なるエネルギー領域のX線の透過画像データをそれぞれ生成する透過画像データ生成部21と、
複数の前記透過画像データのうちの、少なくとも2つの透過画像データの間で差分処理を行ない、この差分処理された透過画像データを用いて前記被検査物に混入した異物の有無を判定する判定部23と、
前記第2のエネルギー領域のX線の透過画像データである第2の透過画像データに基づいて、前記被検査物の質量を測定する質量測定部24と、を備え、
前記被検査物は複数の元素で構成されており、
前記質量測定部は、前記第2の透過画像データの透過画像における前記被検査物の撮像領域を特定し、前記第2の透過画像データの画素単位の濃度データを前記撮像領域内の全画素で総和し、この総和した値と、前記第2のエネルギー領域のX線に対応し、前記被検査物の質量減弱係数を表す定数とを用いて、前記被検査物の質量を算出することを特徴とする。
前記第2のエネルギー領域のX線は、X線のエネルギーが50keV以上であることを特徴とする。
前記X線検査部は、X線発生部11と、前記被検査物を透過したX線の光子が入力される毎に該光子のエネルギーに対応した波高値のパルス信号を出力する光子検出型のX線検出部12とを有し、
前記透過画像データ生成部は、前記パルス信号の波高値が、前記複数の異なるエネルギー領域のいずれに入るかを判定し、パルス信号入力数をエネルギー領域毎に累積した累積結果を用いて、前記複数の異なるエネルギー領域のX 線の透過画像データを生成することを特徴とする。
前記X線検査部は、X線発生部11と、前記被検査物を透過した前記第1のエネルギー領域のX線を検出する第1のX線検出部12aと、前記被検査物を透過した前記第2のエネルギー領域のX線を検出する第2のX線検出部12bと、を有することを特徴とする。
前記X線検査部は、前記第1のエネルギー領域のX線を照射する第1のX 線発生部11aと、前記第2のエネルギー領域のX線を照射する第2のX線発生部11bと、前記被検査物を透過した前記第1のX線発生部からのX線を検出する第1のX線検出部12aと、前記被検査物を透過した前記第2のX線発生部からのX線を検出する第2のX線検出部12bと、を有することを特徴とする。
視認容易な表示形式で表示する。
割有をwkとしたとき、質量減弱係数μmは数式[数4]で表される。
I(i,j))は、透過画像データにおける濃度データに対応する。これにより、被検査物Zの総質量Wは、画素単位の濃度データを撮像領域Tにおける全画素で総和したものと、定数C’との積ということができる。別な観点からは、画素単位の濃度データを撮像領域Tにおける全画素で総和したものは、被検査物Zの質量を相対的に示す相対質量であり、定数C’は、相対質量を実際の質量に換算する換算値ということもできる。
域に対応した透過画像データ(第2の透過画像データ)を透過画像データ記憶部22から受け、この透過画像における被検査物Zの撮像領域Tを特定する。そして、この透過画像データの画素単位の濃度データを撮像領域Tにおける全画素で総和する。そして、質量測定部24は、この総和した値と、第2のエネルギー領域のX線に対応した質量減弱係数μmの逆数である定数C’の値との積をとることにより、被検査物Zの総質量Wを算出する。
域識別信号を領域別累積部441〜44Nに出力する。
Claims (5)
- 搬送中の被検査物にX線を照射するとともに、前記被検査物を透過したX線を検出して検出情報を出力するX線検査部(10)と、
前記検出情報を用いて、第1のエネルギー領域のX線と前記第1のエネルギー領域のX線よりもエネルギーの高い第2のエネルギー領域のX線とを含む、複数の異なるエネルギー領域のX線の透過画像データをそれぞれ生成する透過画像データ生成部(21)と、
複数の前記透過画像データのうちの、少なくとも2つの透過画像データの間で差分処理を行ない、この差分処理された透過画像データを用いて前記被検査物に混入した異物の有無を判定する判定部(23)と、
前記第2のエネルギー領域のX線の透過画像データである第2の透過画像データに基づいて、前記被検査物の質量を測定する質量測定部(24)と、を備え、
前記被検査物は複数の元素で構成されており、
前記質量測定部は、前記第2の透過画像データの透過画像における前記被検査物の撮像領域を特定し、前記第2の透過画像データの画素単位の濃度データを前記撮像領域内の全画素で総和し、この総和した値と、前記第2のエネルギー領域のX線に対応し、前記被検査物の質量減弱係数を表す定数とを用いて、前記被検査物の質量を算出することを特徴とするX線検査装置(1)。 - 前記第2のエネルギー領域のX線は、X線のエネルギーが50keV以上であることを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
- 前記X線検査部は、X線発生部(11)と、前記被検査物を透過したX線の光子が入力される毎に該光子のエネルギーに対応した波高値のパルス信号を出力する光子検出型のX線検出部(12)とを有し、
前記透過画像データ生成部は、前記パルス信号の波高値が、前記複数の異なるエネルギー領域のいずれに入るかを判定し、パルス信号入力数をエネルギー領域毎に累積した累積結果を用いて、前記複数の異なるエネルギー領域のX線の透過画像データを生成することを特徴とする請求項1乃至2に記載のX線検査装置。 - 前記X線検査部は、X線発生部(11)と、前記被検査物を透過した前記第1のエネルギー領域のX線を検出する第1のX線検出部(12a)と、前記被検査物を透過した前記第2のエネルギー領域のX線を検出する第2のX線検出部(12b)と、を有することを特徴とする請求項1乃至2に記載のX線検査装置。
- 前記X線検査部は、前記第1のエネルギー領域のX線を照射する第1のX線発生部(11a)と、前記第2のエネルギー領域のX線を照射する第2のX線発生部(11b)と、
前記被検査物を透過した前記第1のX線発生部からのX線を検出する第1のX線検出部(12a)と、前記被検査物を透過した前記第2のX線発生部からのX線を検出する第2のX線検出部(12b)と、を有することを特徴とする請求項1乃至2に記載のX線検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017037142A JP6663374B2 (ja) | 2017-02-28 | 2017-02-28 | X線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017037142A JP6663374B2 (ja) | 2017-02-28 | 2017-02-28 | X線検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018141736A JP2018141736A (ja) | 2018-09-13 |
JP6663374B2 true JP6663374B2 (ja) | 2020-03-11 |
Family
ID=63526575
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017037142A Active JP6663374B2 (ja) | 2017-02-28 | 2017-02-28 | X線検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6663374B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109821766A (zh) * | 2019-03-05 | 2019-05-31 | 天津美腾科技有限公司 | Tds智能干选机双射源识别方法及系统 |
JP7406220B2 (ja) * | 2019-03-15 | 2023-12-27 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
JP7328667B2 (ja) * | 2019-03-19 | 2023-08-17 | 株式会社イシダ | 検査装置 |
JPWO2023277039A1 (ja) | 2021-06-30 | 2023-01-05 | ||
JP7254237B1 (ja) * | 2022-11-15 | 2023-04-07 | 株式会社日立パワーソリューションズ | X線装置及びx線を用いた材質分類方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5297142B2 (ja) * | 2008-10-09 | 2013-09-25 | アンリツ産機システム株式会社 | 異物検出方法および装置 |
JP5651007B2 (ja) * | 2010-12-28 | 2015-01-07 | アンリツ産機システム株式会社 | X線検査装置 |
JP5706724B2 (ja) * | 2011-03-17 | 2015-04-22 | アンリツ産機システム株式会社 | X線異物検出装置 |
CN106353828B (zh) * | 2015-07-22 | 2018-09-21 | 清华大学 | 在安检系统中估算被检查物体重量的方法和装置 |
-
2017
- 2017-02-28 JP JP2017037142A patent/JP6663374B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018141736A (ja) | 2018-09-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6663374B2 (ja) | X線検査装置 | |
US8981310B2 (en) | Radiation detecting device | |
CN107430079B (zh) | 从在不同能量级别拍摄的x射线图像确定对象的质量的方法 | |
US8447562B2 (en) | Inspection apparatus and method using penetrating radiation | |
US7738631B2 (en) | Energy discriminating scatter imaging system | |
JP5651007B2 (ja) | X線検査装置 | |
CN102084270A (zh) | 扫描系统 | |
JP2002365368A (ja) | X線検出器及び該検出器を用いたx線異物検出装置 | |
JP5912427B2 (ja) | 非破壊検査装置及び当該装置での位置ずれ検出方法 | |
JP2011242374A (ja) | X線検査装置 | |
WO2003046533A2 (en) | X-ray grading apparatus and process | |
JP7060446B2 (ja) | X線ラインセンサ及びそれを用いたx線異物検出装置 | |
JP5356184B2 (ja) | 物品検査装置 | |
JP6625470B2 (ja) | 異物検出装置および異物検出方法 | |
JP6450075B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP6462228B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP7199385B2 (ja) | サンプルの物理的特性を決定する方法 | |
JP2007064727A (ja) | X線検査装置とx線検査方法 | |
JP5553674B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP7123989B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP6491125B2 (ja) | 異物検出装置および異物検出方法 | |
JP2009053090A (ja) | 材質識別検査装置および方法 | |
JP6587645B2 (ja) | 物品検査装置およびその検査条件切替方法 | |
JP7342316B2 (ja) | 放射線検出器、放射線検査装置及び放射線検出信号の処理方法 | |
JP6606454B2 (ja) | 異物検出装置および異物検出方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180928 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190626 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190723 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190905 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200121 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200214 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6663374 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |