JP6652197B2 - X線管 - Google Patents

X線管 Download PDF

Info

Publication number
JP6652197B2
JP6652197B2 JP2018540614A JP2018540614A JP6652197B2 JP 6652197 B2 JP6652197 B2 JP 6652197B2 JP 2018540614 A JP2018540614 A JP 2018540614A JP 2018540614 A JP2018540614 A JP 2018540614A JP 6652197 B2 JP6652197 B2 JP 6652197B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electron beam
holder shaft
target
holder
ray tube
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2018540614A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2018055795A1 (ja
Inventor
俊道 政木
俊道 政木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Publication of JPWO2018055795A1 publication Critical patent/JPWO2018055795A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6652197B2 publication Critical patent/JP6652197B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/14Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
    • H01J35/147Spot size control
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/16Vessels; Containers; Shields associated therewith
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/14Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/16Vessels; Containers; Shields associated therewith
    • H01J35/18Windows

Landscapes

  • X-Ray Techniques (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

本発明は、X線発生装置で使用するX線管に関し、特に微小焦点から照射を行うX線管に関する。
検査対象物の微細な内部構造を透視X線やX線CTにより非破壊検査するときに、ぼけのない鮮明なX線画像を得るために微小焦点を有するX線管を用いたマイクロフォーカスX線検査装置が用いられている。マイクロフォーカスX線検査装置等に用いるX線管は、磁気レンズによりμmレベルまで絞り込んだ電子ビームをターゲットに照射することで小さなX線焦点を実現している(特許文献1参照)。
このようなマイクロフォーカスX線検査装置に用いられるX線管の構成の一例を図3に示す。真空ゲージGおよびターボ分子ポンプTMPが取り付けられ、高真空排気された真空チャンバ11内で負電圧が印加され陰極となるフィラメント(電子源)12から、接地されたアノード13に向けて電子ビームBが出射される。アノード13の中央には孔13aが設けてあり、電子ビームBは加速されてアノード13の孔13aを通過し、さらにこの孔13aに連通接続された円筒状のホルダシャフト14を通過してターゲットホルダ15内に配置されたターゲット16に照射される。ターゲットホルダ15の外側は水冷機構15a(空冷機構でもよい)で冷却してある。
ホルダシャフト14の外側には、電子ビームBを収束する磁気レンズ17、方向を調整する偏向器18が設けてあり、ホルダシャフト14を通過する電子ビームBは磁気レンズ17によってμmレベルまで絞り込まれて、ターゲット16上のX線焦点にフォーカスされる。
ターゲット16は磁気レンズ17の先端側に設けられるが、焦点を小さく絞り込むようにするには磁気レンズ17の先端部分を完全に軸対称形にする必要がある。磁気レンズ17に固定孔等の固定部を設けると対称性が崩れるため、ホルダシャフト14はアノード13側でフランジ19を介してOリングシール20により気密に固定してある。
電子ビームBが通過するホルダシャフト14は内径10mm程度であり、このホルダシャフト14には磁化されにくいこと、放熱性を有すること、さらに電子ビームBが内壁に当たると局所的に高温になるため高融点であることが求められている。そして、これらの要求を満たす材料としてタングステン合金が使用されている。
すなわち、タングステンは融点が3685Kで非磁性の重金属であり、電子ビームによる局所的な温度上昇に対しても十分に耐性を有する。ただし、単体金属では加工性が劣ることから加工しやすさを付与するためタングステン合金にして用いている。なお、ターゲットホルダ15についてもX線照射窓以外の方向からのX線の出射を防止する観点からタングステン合金を用いており、ターゲットホルダ15とホルダシャフト14とはロウ付けで固定してある。
特開2002−25484号公報
ところで、上述したX線管では、電子ビームBがホルダシャフト14の内壁に当たらないように通過させることが望ましいものの実際には困難であり、ホルダシャフト14内を通過する電子ビームBは、そのいくらかがホルダシャフト14の内壁に当たってX線が発生する。
既述のように、ホルダシャフト14にはタングステン合金が用いられている。そして、電子ビームが陽極に当たった場合の陽極でのX線発生効率は、陽極材料の原子番号に依存することが知られている。タングステンは重金属であるため、原子番号が比較的大きく、タングステン合金であっても相当量のX線が発生する。
電子ビームBが当たることによりホルダシャフト14の内壁からもX線が発生すると、たとえ磁気レンズ17で電子ビームBを収束させていても、ターゲット16上のX線焦点から放射されたX線だけでなく、ホルダシャフト14の内壁から発生したX線の一部もX線照射窓から出射するようになり、その結果、X線検査等で得られるX線画像は不鮮明でぼやけた画像になる。
そこで本発明は、ホルダシャフトから放射される不要なX線を低減させて鮮明なX線画像を得ることができるX線管を提供することを目的とする。
上記課題を解決するためになされた本発明に係るX線管は、電子ビームを発生する電子源と、該電子ビームを加速するとともに前記電子ビームを通過させる孔を有するアノードと、該アノードの孔を通過した電子ビームを通過させる通路を形成する筒状のホルダシャフトと、該ホルダシャフトの周囲に配置され前記電子ビームを収束する磁気レンズと、前記ホルダシャフトに連結されたターゲットホルダと、該ターゲットホルダ内に配置されて前記電子ビームが衝突するターゲットと、前記ターゲットホルダに配置されて前記ターゲットから発生したX線を外部に取り出すための照射窓を有するX線管であって、前記ホルダシャフトは内壁がカーボン材で形成され、前記カーボン材は熱異方性を有するグラファイトであり、良熱伝導方向を前記ホルダシャフトの軸方向に向けてある。
ここで、カーボン材には、具体的にはグラファイト、ダイヤモンド、カーボンナノ物質(カーボンナノチューブ)のような融点(昇華点)の高い材料が利用可能である。
本発明によれば、ホルダシャフトの内壁がカーボン材で形成されている。一般に、X線の発生効率Aは次式(1)で与えられる。
発生効率(A)=C×Z×V ・・・(1)
ここで、C:定数(1.1×10−9)、Z:陽極の原子番号、V:管電圧

そして、タングステンの原子番号は74、カーボンの原子番号は6である。管電圧が一定(例えば100kV)であれば、前者は0.814%、後者は0.066%であり、原子番号の大きさに比例して全ての管電圧で発生効率が1/10以下に変化する。
よって、タングステンに比べて原子番号が十分に小さいカーボンを用いることにより、電子ビームがホルダシャフトに当たったときに発生するX線量を大幅に低減することができる。しかも融点がタングステンに匹敵(タングステンは3685K)し、真空中での昇華点も3915K以上であり、局所的に高温になっても十分な耐性を有している。
前記カーボン材はカーボン含有率が99.9%以上(質量比)であるのが好ましい。
不純物を含むカーボン材で形成したホルダシャフトは、壁面に電子ビームが当たると局所的に高温になり、融点の低い不純物は真空中で昇華して真空度が悪化する。この現象はX線管においては放電の原因となりX線管の安定性が損なわれる要因となる。よって、カーボン含有率が99.9%以上として、融点および昇華点が低いカーボン以外の不純物を極力少なくすることで、安定してX線を照射させることができる。
そして本発明によれば、前記カーボン材は熱異方性を有するグラファイトであり、良熱伝導方向を前記ホルダシャフトの軸方向に向けてある。
これによれば、ホルダシャフトに発生した熱をターゲットホルダに伝達させて放熱することで、放熱が効率的に行われるようになる。
特に、グラファイトを用いる場合は、良熱伝導方向の熱伝導率が1000W/(m・K)以上になるものが得られる。具体的には、例えば株式会社サーモグラフィティクス製の人造グラファイトであるPYROID(登録商標)のグレードHT(カーボン含有率99.999質量%、密度2.22g/cm)を用いることで、良熱伝導方向の熱伝導率が1700W/(m・K)とすることができるので、効率的に放熱させることができる。
また、別の観点からなされた本発明のX線管は、電子ビームを発生する電子源と、該電子ビームを加速するとともに前記電子ビームを通過させる孔を有するアノードと、該アノードの孔を通過した電子ビームを通過させる通路を形成する筒状のホルダシャフトと、該ホルダシャフトの周囲に配置され前記電子ビームを収束する磁気レンズと、前記ホルダシャフトに連結されたターゲットホルダと、該ターゲットホルダ内に配置されて前記電子ビームが衝突するターゲットと、前記ターゲットホルダに配置されて前記ターゲットから発生したX線を外部に取り出すための照射窓を有するX線管であって、前記ホルダシャフトは内壁がカーボン材で形成され、前記ホルダシャフトの内壁のカーボン材は、少なくともアノード側の一部の外壁を非磁性かつ前記カーボン材より高強度のカバーで覆うとともに当該カバーを介して保持されるようにしてある。
本発明によれば、カーボン材は脆い性質を有する。そのため、少なくとも固定部分となるアノード側の外壁を非磁性でホルダシャフトのカーボン材よりも高強度のカバーで覆うようにすることで、この部分で安全にホルダシャフトを固定できるようになる。
当該カバーに用いる材料としては、具体的にはチタン、あるいはホルダシャフトのカーボン材よりも高強度のグラファイト(例えば東洋炭素製高強度グラファイト)を用いることができる。
本発明によれば、電子ビームを通過させるホルダシャフトの内壁をカーボン材としたので、電子ビームが当たったときに発生するX線量を大幅に低減でき、しかも少なくとも従来と同程度以上の熱的な耐性を維持させることができる。
本発明の一実施形態であるX線管の全体構成を示す図。 図1のX線管の特徴的部分を示す図。 マイクロフォーカスX線の照射を行うX線管の従来例を示す図。
以下、本発明に係るX線管の実施例について図面を用いて説明する。図1は本発明の一実施形態であるマイクロフォーカスX線検査装置に用いられるX線管の全体構成を示す図であり、図2はそのホルダシャフト部分を含む特徴的な構造部分の拡大図である。なお、図3で説明したものと同じ部分については同符号を付している。
本発明に係るX線管は、真空ゲージGおよびターボ分子ポンプTMPが取り付けられ、高真空排気された真空チャンバ11内に負電圧が印加され陰極となるフィラメント(電子源)12が配置されている。フィラメント12からは、接地されたアノード13に向けて電子ビームBが出射される。アノード13の中央には孔13aが設けてあり、電子ビームBは加速されてアノード13の孔13aを通過し、さらにこの孔13aに連通接続された円筒状のホルダシャフト14を通過してターゲットホルダ15内に配置されたターゲット16に照射される。ターゲットホルダ15の外側は水冷機構15a(空冷機構でもよい)で冷却してある。
ホルダシャフト14の外側には、電子ビームBを収束する磁気レンズ17、方向を調整する偏向器18が設けてあり、ホルダシャフト14を通過する電子ビームBは磁気レンズ17によってμmレベルまで絞り込まれて、ターゲット16上のX線焦点にフォーカスされる。
本実施形態のX線管では、ホルダシャフト14は磁気レンズ17に囲まれる先端側のホルダシャフト14a(内径φ10mm、長さ160mm程度)と、偏向器18に囲まれる根元側のホルダシャフト14bとに分割してある。根元側ホルダシャフト14bは、図3に示した従来構造のホルダシャフト14と同様のタングステン合金が使用され、フランジ19を介して真空チャンバ11にOリングシール20を介して固定支持してある。
先端側ホルダシャフト14aとの連結部分には、先端側ホルダシャフト14aの内壁に段付き部14cが形成してあり、この段付き部14cにOリングシール20を介在させて気密に接続してある。
先端側ホルダシャフト14aは、筒状のカーボン材、好ましくはピュアカーボンが使用されている。具体的には、株式会社サーモグラフィティクス製人造グラファイト、PYROIDのグレードHT(カーボン率99.999%、密度2.22g/cm、熱伝導率が1700W/(m・K))を用い、その良熱伝導方向が先端側ホルダシャフト14aの軸方向(長手方向)となるように加工してある。
すなわち真空中であっても良熱伝導方向に沿って熱が伝達され、ターゲットホルダ15の水冷機構15aを利用して効率的に放熱するようにしてある。
ターゲットホルダ15(タングステン合金)と先端側ホルダシャフト14a(カーボン材)との接続部分はロウ付けしてある。なお、カーボン材がグラファイトの場合は、後述するカバー21との接合部分も含め、種々の金属との接合が可能なコンポロイドの技術で接合することもできる。
先端側ホルダシャフト14aのアノード13に近い側の端部近傍には、先端側ホルダシャフト14aの外側にチタン等の非磁性材料でカーボン材より高強度のカバー21が取り付けてある。カバー21の外周面の一部にはカット面(Dカット面)21aが形成され、カバー21に支持されるシャフト固定部22およびシャフト固定用のネジ23をカット面21aに当接することで、ターゲットホルダ15の一部に設けたX線照射窓15bの方向に出射方向が向くように固定するとともに、その位置で回転ずれしないようにしてある。
なお、上記のカバー21のように先端側ホルダシャフト14aの一部を覆うのではなく、磁気レンズ17に囲まれる部分も含めた先端側ホルダシャフト14aの全体を覆うカバーとしてもよい。
このように、少なくとも電子ビームBが当たりやすい領域の先端側ホルダシャフト14aの内壁をカーボン材であるグラファイトとすることにより、たとえ電子ビームが当たったとしてもX線の発生効率を抑えて不要なX線の発生を低減させることができる。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変形実施が可能である。
例えば、上記実施例では磁気レンズ17に囲まれる先端側ホルダシャフト14aと、偏向器18に囲まれる根元側ホルダシャフト14bとに分割し、先端側ホルダシャフト14aだけをカーボン材からなるものとしたが、全体がカーボン材からなる1つのホルダシャフト14としてもよい。この場合はアノード13に近い側のホルダシャフト14端部近傍の外側に非磁性材料からなるカバー21を取り付け、図3に示した従来例と同様にフランジ19で真空チャンバ11に固定保持すればよい。
本発明は、マイクロフォーカスX線検査装置等に使用されるX線管に利用することができる。
11 真空チャンバ
12 フィラメント(電子源)
13 アノード
14 ホルダシャフト
14a 先端側ホルダシャフト
14b 根元側ホルダシャフト
14c 段付き部
15 ターゲットホルダ
15a 水冷機構
15b X線照射窓
16 ターゲット
17 磁気レンズ
18 偏向器
19 フランジ
20 Oリングシール
21 カバー
21a カット面
B 電子ビーム

Claims (2)

  1. 電子ビームを発生する電子源と、該電子ビームを加速するとともに前記電子ビームを通過させる孔を有するアノードと、該アノードの孔を通過した電子ビームを通過させる通路を形成する筒状のホルダシャフトと、該ホルダシャフトの周囲に配置され前記電子ビームを収束する磁気レンズと、前記ホルダシャフトに連結されたターゲットホルダと、該ターゲットホルダ内に配置されて前記電子ビームが衝突するターゲットと、前記ターゲットホルダに配置されて前記ターゲットから発生したX線を外部に取り出すための照射窓を有するX線管であって、
    前記ホルダシャフトは内壁がカーボン材で形成され、
    前記カーボン材は熱異方性を有するグラファイトであり、良熱伝導方向を前記ホルダシャフトの軸方向に向けてある、X線管。
  2. 電子ビームを発生する電子源と、該電子ビームを加速するとともに前記電子ビームを通過させる孔を有するアノードと、該アノードの孔を通過した電子ビームを通過させる通路を形成する筒状のホルダシャフトと、該ホルダシャフトの周囲に配置され前記電子ビームを収束する磁気レンズと、前記ホルダシャフトに連結されたターゲットホルダと、該ターゲットホルダ内に配置されて前記電子ビームが衝突するターゲットと、前記ターゲットホルダに配置されて前記ターゲットから発生したX線を外部に取り出すための照射窓を有するX線管であって、
    前記ホルダシャフトは内壁がカーボン材で形成され、
    前記ホルダシャフトの内壁のカーボン材は、少なくともアノード側の一部の外壁を非磁性かつ前記カーボン材より高強度のカバーで覆うとともに当該カバーを介して保持される、X線管。
JP2018540614A 2016-09-21 2017-03-06 X線管 Expired - Fee Related JP6652197B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016184235 2016-09-21
JP2016184235 2016-09-21
PCT/JP2017/008711 WO2018055795A1 (ja) 2016-09-21 2017-03-06 X線管

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2018055795A1 JPWO2018055795A1 (ja) 2019-03-07
JP6652197B2 true JP6652197B2 (ja) 2020-02-19

Family

ID=61690212

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018540614A Expired - Fee Related JP6652197B2 (ja) 2016-09-21 2017-03-06 X線管

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10651002B2 (ja)
EP (1) EP3518267A4 (ja)
JP (1) JP6652197B2 (ja)
KR (1) KR102195101B1 (ja)
CN (1) CN109791864A (ja)
WO (1) WO2018055795A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11315751B2 (en) * 2019-04-25 2022-04-26 The Boeing Company Electromagnetic X-ray control
US11164713B2 (en) * 2020-03-31 2021-11-02 Energetiq Technology, Inc. X-ray generation apparatus

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4736950B1 (ja) * 1970-05-30 1972-09-18
JPS52124890A (en) * 1976-04-13 1977-10-20 Toshiba Corp X-ray tube
NL7704474A (nl) * 1977-04-25 1978-10-27 Philips Nv Roentgenbuis.
JPS5619855A (en) * 1979-07-27 1981-02-24 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> X-ray generator
JP2002025484A (ja) 2000-07-07 2002-01-25 Shimadzu Corp マイクロフォーカスx線発生装置
CN100538984C (zh) * 2002-04-02 2009-09-09 皇家飞利浦电子股份有限公司 具有吸热件的用于产生x射线的装置
JP4389781B2 (ja) * 2004-12-28 2009-12-24 株式会社島津製作所 X線発生装置
DE102006062454A1 (de) * 2006-12-28 2008-07-03 Comet Gmbh Mikrofocus-Röntgenröhre
JP4967854B2 (ja) * 2007-06-27 2012-07-04 株式会社島津製作所 X線管装置
JP5149707B2 (ja) * 2008-06-13 2013-02-20 浜松ホトニクス株式会社 X線発生装置
US8280007B2 (en) * 2010-10-26 2012-10-02 General Electric Company Apparatus and method for improved transient response in an electromagnetically controlled X-ray tube
JP2012104272A (ja) * 2010-11-08 2012-05-31 Hamamatsu Photonics Kk X線発生装置
KR101738652B1 (ko) * 2010-12-03 2017-05-22 엑실룸 에이비 코팅된 x-선 윈도우
CN103794444B (zh) * 2012-11-02 2016-04-27 上海联影医疗科技有限公司 一种x射线管及其制备方法
US9984847B2 (en) * 2013-03-15 2018-05-29 Mars Tohken Solution Co., Ltd. Open-type X-ray tube comprising field emission type electron gun and X-ray inspection apparatus using the same
JP6218403B2 (ja) * 2013-03-15 2017-10-25 株式会社マーストーケンソリューション 電界放射型電子銃を備えたx線管及びそれを用いたx線検査装置
JP6326758B2 (ja) * 2013-10-16 2018-05-23 株式会社島津製作所 X線発生装置
JP2017022054A (ja) * 2015-07-14 2017-01-26 株式会社ニコン X線発生装置、x線装置、構造物の製造方法、及び構造物製造システム
US10283311B2 (en) * 2015-08-21 2019-05-07 Electronics And Telecommunications Research Institute X-ray source

Also Published As

Publication number Publication date
US10651002B2 (en) 2020-05-12
WO2018055795A1 (ja) 2018-03-29
US20190237287A1 (en) 2019-08-01
JPWO2018055795A1 (ja) 2019-03-07
EP3518267A1 (en) 2019-07-31
KR20190040265A (ko) 2019-04-17
EP3518267A4 (en) 2020-06-03
CN109791864A (zh) 2019-05-21
KR102195101B1 (ko) 2020-12-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7382862B2 (en) X-ray tube cathode with reduced unintended electrical field emission
TWI307110B (en) Method and apparatus for controlling electron beam current
US8401151B2 (en) X-ray tube for microsecond X-ray intensity switching
US9530528B2 (en) X-ray tube aperture having expansion joints
KR20140043146A (ko) 방사선 발생장치 및 방사선 촬영장치
JP6468821B2 (ja) X線発生管、x線発生装置およびx線撮影システム
JP2013055041A (ja) 放射線発生装置及び放射線撮影装置
TWI723094B (zh) X射線產生裝置、x射線產生裝置之陽極及具有x射線產生裝置之設備
JP2012529151A (ja) X線管の中で使用されるグラファイト後方散乱電子シールド
JP6619916B1 (ja) X線発生管、x線発生装置およびx線撮像装置
JP6652197B2 (ja) X線管
RU2481667C2 (ru) Коллектор рассеянных электронов
US20150078533A1 (en) Cooled Stationary Anode for an X-Ray Tube
JP5458472B2 (ja) X線管
JP2011233365A (ja) 回転陽極型x線管及び回転陽極型x線管装置
JP2004111336A (ja) X線管
JP2005243331A (ja) X線管
US8867706B2 (en) Asymmetric x-ray tube
US10734186B2 (en) System and method for improving x-ray production in an x-ray device
JP5370965B2 (ja) X線管及びx線管装置
JP6961452B2 (ja) 固定陽極型x線管
JP6372571B2 (ja) X線管
Tuohimaa et al. High-intensity electron beam for liquid-metal-jet anode hard x-ray generation
JP2002352757A (ja) 回転陽極型x線管装置
JP2006073385A (ja) X線管装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20181105

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190820

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20191010

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20191023

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20191219

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20191224

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200106

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6652197

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees