JP6604239B2 - 静電チャック装置 - Google Patents
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Description
また、上述の静電チャック装置において、前記シール部材と前記接着層とが、前記シール部材の厚さ方向において、互いにずれて配置される構成としてもよい。
また、上述の静電チャック装置において、前記静電チャック部は、前記溝部の内側面を構成する内壁部材と、前記溝部の底面および外側面を構成する静電チャック部本体と、を有し、前記内壁部材は、円筒形状であり前記内壁部を構成する構成としてもよい。
図1は、第1実施形態の静電チャック装置1の断面図である。また、図2は、図1の領域IIの拡大図である。静電チャック装置1は、板状試料Wを載置する載置面2aを有するとともに静電吸着用内部電極13を内蔵する静電チャック部2と、静電チャック部2を下側から冷却するベース部3と、静電チャック部2とベース部3とを接着して一体化する接着層4と、を備える。
なお、本明細書において、載置面2a側を静電チャック装置1の上側とし、ベース部3側を静電チャック装置1の下側として各構成の相対位置を説明するが、使用時の静電チャック装置1の姿勢は、この向きに限定されない。
静電チャック部2は、上側から順に、載置板11と、静電吸着用内部電極13および静電吸着用内部電極13の周縁部を囲む絶縁材層14と、支持板12と、が積層された構造を有する。また、静電チャック部2は、接着層4およびベース部3を貫通して、静電吸着用内部電極13に電圧を印加する給電用端子15を有する。
特に、載置板11は、上側に載置面2aを構成することから、特に誘電率が高い材質であって、静電吸着する板状試料Wに対して不純物とならない材料から構成されることが好ましい。このような観点から、載置板11の構成材料として、炭化ケイ素を4重量%以上かつ20重量%以下含み、残部を酸化アルミニウムとする炭化ケイ素−酸化アルミニウム複合焼結体を採用することが好ましい。
載置板11は、上側に載置面2aを構成することから、特に誘電率が高い材質であって、静電吸着する板状試料Wに対して不純物とならない。
この絶縁材層14を構成する材料としては、載置板11および支持板12と主成分が同一の絶縁性材料が好ましく、例えば、載置板11および支持板12が炭化ケイ素−酸化アルミニウム複合焼結体により構成されている場合には、酸化アルミニウム(Al2O3)とするのが好ましい。
ベース部3は、静電チャック部2の下側に設けられて、この静電チャック部2の温度を所望の温度に制御する。また、ベース部3は、高周波発生用電極の機能を兼ね備えている。ベース部3の内部には、水や有機溶媒等の冷却用媒体を循環させる流路21が形成されている。これにより、静電チャック部2を冷却し、載置面2aに載置される板状試料Wの温度を所望の温度に維持する。ベース部3は、アルミニウム(Al)又はアルミニウム合金からなる。ベース部3の少なくともプラズマに曝される面は、アルマイト処理が施されているか、あるいはアルミナ等の絶縁膜が成膜されていることが好ましい。これにより、耐プラズマ性が向上する他、異常放電が防止され、したがって、耐プラズマ安定性が向上したものとなる。また、表面に傷が付き難くなるので、傷の発生を防止することができる。なお、ベース部3は、熱伝導性のよい金属材料であればその材質が限定されることはなく、例えば、銅(Cu)、銅合金、ステンレス鋼(SUS) 等を採用しもよい。
接着層4は、静電チャック部2の下面2bと、ベース部3の上面3aとの間に介在する。接着層4は、静電チャック部2とベース部3とを接着一体化する。接着層4は、−20℃〜150℃の温度範囲で耐熱性を有する接着剤が好ましく、例えば、アクリル系樹脂、シリコン系樹脂、エポキシ系樹脂等が好適である。特に、酸素系プラズマを用いる場合には、酸素系プラズマに対して耐プラズマ性に優れているシリコン系樹脂が好ましい。
この接着層4の形状は、液状の熱硬化性接着剤を塗布して得られた塗膜を加熱することにより硬化させたシート状又はフィルム状の接着剤を熱圧着等により硬化した硬化膜であってもよい。
静電チャック部2、ベース部3および接着層4には、これらを上下に貫通する冷却ガス導入孔30Aとピン挿通孔30Bとがそれぞれ複数設けられている。冷却ガス導入孔30Aは、静電チャック部2に載置された板状試料Wに向かってヘリウム(He)等の冷却ガスGを供給するために設けられている。また、ピン挿通孔30Bは、載置面2aに吸着された板状試料Wの離脱を補助するリフトピン22が挿通される。リフトピン22の下端には、図示略の駆動部が接続され、ピン挿通孔30Bの貫通方向に沿ってリフトピン22を上下に駆動する。
貫通孔30は、静電チャック部2を貫通する部分である第1の貫通孔31と、ベース部3を貫通する部分である第2の貫通孔32と、を有する。すなわち、静電チャック部2には第1の貫通孔31が設けられ、ベース部3には第2の貫通孔32が設けられ、第1および第2の貫通孔31、32は、互いに連通して貫通孔30を構成する。
ここで、静電チャック部2の第1の貫通孔31の内周面31aと溝部25の内側面25bとの間の部分を、内壁部26と呼ぶ。すなわち、オーリング50の径方向内側には、内壁部26が設けられている。
絶縁碍子40は、例えばセラミックからなる。絶縁碍子40は、プラズマに対する耐久性を有する。絶縁碍子40を構成するセラミックスとしては、窒化アルミニウム(AlN)、酸化アルミニウム(Al2O3)、窒化ケイ素(Si3N4)、酸化ジルコニウム(ZrO2)、サイアロン、窒化ホウ素(BN)、炭化ケイ素(SiC)から選択された1種からなるセラミックス、あるいは2種以上を含む複合セラミックスを採用できる。
オーリング(シール部材)50は、静電チャック部2の下面2bに設けられた溝部25に収容されている。また、オーリング50は、溝部25の底面25aと絶縁碍子40の先端面41aとの間に挟み込まれている。オーリング50は、絶縁碍子40の外周側にプラズマが絶縁碍子40の外周側に回り込むことを遮り、プラズマによる接着層4および接着剤49の侵食を抑制する。オーリング50は、絶縁碍子40の先端面41aおよび溝部25の底面25aと接触している。また、オーリング50は、溝部25の内部において、内側面25bおよび外側面25cと接触している。
オーリング50が径方向に圧縮される場合、オーリング50は、溝部25の内側面25bと外側面25cとの間に挟み込まれる。これにより、プラズマの侵入経路を狭めてプラズマの侵入を効果的に抑制できる。
一方で、オーリング50が径方向に圧縮されない場合、オーリング50は、上下方向のみから圧縮されるため、捻れなどの無理な負荷が加わりにくい。したがってオーリング50によるシールの信頼性を高めることができる。溝部25の溝幅W1は、圧縮前のオーリング50の径方向の幅に対して、0.8倍以上1.2倍以下とすることが好ましい。これにより、捻れなどの無理な応力を生じさせることなく、オーリング50を絶縁碍子40の先端面41aと溝部25の底面25aとの間に介在させることができる。
また本実施形態によれば、接着層4および接着剤49のプラズマ暴露が抑制されるため、接着層4および接着剤49の材料として求められる耐プラズマ性を低くすることができる。すなわち、本実施形態によれば、プラズマに対する耐性を考慮して接着層4および接着剤49の材料を選択する必要がなく材料選定の自由度を高めることができる。一例として、接着層4および接着剤49としてプラズマに対する耐性の有無を問わず、熱弾性に優れた材料を採用し、静電チャック部2とベース部3の熱膨張の差を緩和する構成とすることができる。
図3は、第1実施形態の変形例1の静電チャック装置1Aの拡大断面図である。なお、上述の実施形態と同一態様の構成要素については、同一符号を付し、その説明を省略する。本変形例の静電チャック装置1Aは、第1実施形態の静電チャック装置1と比較して、静電チャック部2Aが、第1の貫通孔31Aに入れ子状に配されて接着固定された内壁部材(内壁部)26Aを有する点が主に異なる。
静電チャック部本体20Aは、第1実施形態の静電チャック部2と略同様の積層構造を有する。静電チャック部本体20Aには、第1の貫通孔31Aが設けられている。第1の貫通孔31Aは、ベース部3の第2の貫通孔32と連通して貫通孔30を構成する。静電チャック部本体20Aの第1の貫通孔31Aの内周面と下面2bとの間の縁には、段差部28Aが設けられている。
図4は、第2実施形態の静電チャック装置101の断面拡大図である。第2実施形態の静電チャック装置101は、第1実施形態と比較して、絶縁碍子40の第1の端部41を径方向外側から囲む絶縁リング145を有する点が主に異なる。
なお、上述の実施形態と同一態様の構成要素については、同一符号を付し、その説明を省略する。
なお、静電チャック装置101において、材質および寸法に依存する絶縁リング145の熱伝導性は、ヒータエレメント9の有無およびその発熱性能に応じて設定することが好ましい。静電チャック装置101がヒータエレメント9を有する場合、絶縁リング145の熱伝導性を小さくすることが好ましい。これにより、絶縁リングの断熱性能を高めることができ、静電チャック部2の均熱化を促進できる。一方で、静電チャック装置101がヒータエレメント9を有しない場合、絶縁リング145の熱伝導性を大きくすることが好ましい。これにより、他の領域と比較して冷却が不十分となりやすい貫通孔130の近傍から効率的に熱を逃がすことが可能となり、静電チャック部2の均熱化を促進できる。
図5は、第3実施形態の静電チャック装置201の断面拡大図である。第3実施形態の静電チャック装置201は、第2実施形態と比較して、絶縁碍子240の固定方法が主に異なる。なお、上述の実施形態と同一態様の構成要素については、同一符号を付し、その説明を省略する。
なお、本実施形態において絶縁碍子240は、フランジ部242aにおいてベース部203にネジ246によって固定されている。しかしながら、絶縁碍子240の固定方法は、これに限られない。例えばフランジ部242aの外周面にオネジを形成し、ベース部203の下側ザグリ穴234の内周面にメネジを形成し、これらを螺合することで絶縁碍子240を固定してもよい。この場合、フランジ部242aと絶縁碍子240とは、別体としてもよい。
例えば、上述した実施形態で、静電チャック装置は、静電チャック部とベース部の間の接着層4に埋め込まれたヒータエレメント9を備えた例を説明した。しかしながら、ヒータエレメントは、静電チャック部の内部又はベース部の内部に位置していてもよい。
Claims (7)
- 板状試料を載置する載置面を有するとともに静電吸着用内部電極を内蔵する静電チャック部と、
前記静電チャック部を冷却するベース部と、
前記静電チャック部と前記ベース部とを接着して一体化する接着層と、を備え、
前記静電チャック部には、第1の貫通孔が設けられ、
前記ベース部には、前記第1の貫通孔と連通する第2の貫通孔が設けれ、
前記第2の貫通孔には、筒状の絶縁碍子が固定され、
前記静電チャック部の前記ベース部と対向する面には、前記第1の貫通孔を囲む環状の溝部が設けられ、
前記溝部には環状のシール部材が配置され、
前記シール部材が前記絶縁碍子の先端面と前記溝部の底面との間に挟み込まれており、
前記静電チャック部は、前記第1の貫通孔の内周面と前記溝部の内側面との間の部分であり前記シール部材の径方向内側に位置する内壁部を有し、
前記内壁部の先端と前記絶縁碍子の先端とは、互いに接触する、
静電チャック装置。 - 前記シール部材と前記接着層とが、前記シール部材の厚さ方向において、互いにずれて配置される、
請求項1に記載の静電チャック装置。 - 前記静電チャック部は、
前記溝部の内側面を構成する内壁部材と、
前記溝部の底面および外側面を構成する静電チャック部本体と、を有し、
前記内壁部材は、円筒形状であり前記内壁部を構成する、
請求項1又は2に記載の静電チャック装置。 - 前記溝部の深さは、前記シール部材の厚さより小さい、請求項1〜3の何れか一項に記載の静電チャック装置。
- 前記第2の貫通孔の前記静電チャック部側の開口には、ザグリ穴が設けられ、
前記ザグリ穴の内周面には、前記絶縁碍子の前記静電チャック部側の端部を径方向外側から囲む絶縁リングが配置されている、請求項1〜4の何れか一項に記載の静電チャック装置。 - 前記絶縁碍子を前記ベース部に着脱可能に固定する固定部を有する、請求項1〜5の何れか一項に記載の静電チャック装置。
- 前記静電チャック部の内部、前記ベース部の内部、および前記静電チャック部と前記ベース部の間のうち何れかに位置するヒータを備えた、請求項1〜6の何れか一項に記載の静電チャック装置。
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