JP6583433B2 - クロマトグラムデータ処理方法及び装置 - Google Patents
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Description
a)処理対象である3次元クロマトグラムデータに基づいて作成されるクロマトグラム上で検出されるピークに対応する、第3のパラメータ値と信号強度値との関係を示すスペクトルを取得するピークスペクトル取得ステップと、
b)前記3次元クロマトグラムデータに基づく各測定時点におけるスペクトルをそれぞれベクトルで表現した多次元ベクトルを、前記ピークスペクトル取得ステップにおいて得られたスペクトルをベクトルで表現したベクトルに直交する方向に射影し、それにより得られた射影ベクトルの大きさを時系列信号として求め、該時系列信号に基づいてクロマトグラムにおけるベースラインを示すベースラインクロマトグラムの波形形状を推定するベースラインクロマトグラム波形推定ステップと、
を有することを特徴としている。
a)処理対象である3次元クロマトグラムデータに基づいて作成されるクロマトグラム上で検出される各ピークに対応する、第3のパラメータ値と信号強度値との関係を示すスペクトルをそれぞれ取得するピークスペクトル取得部と、
b)前記3次元クロマトグラムデータに基づく各測定時点におけるスペクトルをそれぞれベクトルで表現した多次元ベクトルを、前記ピークスペクトル取得部により得られたスペクトルをベクトルで表現したベクトルに直交する方向に射影し、それにより得られた射影ベクトルの大きさを時系列信号として求め、該時系列信号に基づいてクロマトグラムにおけるベースラインを示すベースラインクロマトグラムの波形形状を推定するベースラインクロマトグラム波形推定部と、
を備えることを特徴としている。
D=C1・S1 T+C2・S2 T
ここで、C1及びC2はそれぞれ1番目及び2番目の化合物に対するクロマトグラム信号のベクトル表現、S1、S2はそれぞれ第1及び第2の測定時点における波長スペクトル信号のベクトル表現である。
前記3次元クロマトグラムデータに基づいて作成される第3のパラメータ値毎のクロマトグラムの一部分に対し又はその一部分毎に、前記ベースラインクロマトグラム波形推定ステップにおいて得られたベースラインクロマトグラム波形のフィッティングを行うことにより、第3のパラメータ値毎のベースラインの信号強度値を求め、それに基づきベースラインにおける第3のパラメータ値と信号強度値との関係を示すベースラインスペクトルを推定するベースラインスペクトル推定ステップをさらに有することを特徴としている。
前記ピークスペクトル取得ステップでは、時間的な変化が緩慢である信号波形の入力に対してゼロを出力する一方、時間的な変化が急である信号波形の入力に対しては非ゼロを出力するフィルタを用いることにより、クロマトグラム上でピークが存在する時間範囲を推定し、該時間範囲内でピークに対応するスペクトルを取得するものとするとよい。
ここで、上記フィルタは例えばサビツキー-ゴーレイフィルタなどを用いることができる。
図1は、本発明に係るクロマトグラムデータ処理方法を実施するデータ処理装置を備えたLC装置の一実施例の概略構成図である。
ここでは、吸光スペクトルやクロマトグラムをベクトルで表現した多次元ベクトルとして扱う。例えば吸光スペクトルであれば、離散的な各波長の吸光度の集合が吸光スペクトルであるから、吸光スペクトルを(a(λ1),a(λ2),a(λ3),……,a(λn))として表し、a(λm)を成分とする多次元ベクトルを定義することができる。ここで、a(λm)は波長m(λ=1〜n)での吸光度である。
D=C1・S1 T+C2・S2 T+ … +Cm・Sn T …(1)
C1〜Cmは1番目からm番目までの化合物に対するクロマトグラム信号のベクトル表現、S1〜Snは1番目からn番目までの各測定時刻(測定時点)における波長スペクトル信号のベクトル表現を表す。
[条件A]処理対象であるクロマトグラムデータの少なくとも一方の端部(つまりは全測定時間範囲の始点又は終点)では、ベースラインが主たる信号成分であってそれ以外に有意な信号成分はない、つまり化合物由来の信号成分はない。
[条件B]ベースラインの変動は化合物由来のピークの信号変動に比べて十分に緩慢である、つまり時間的な変化が小さい。
[条件C]ベースラインの波長スペクトルはいずれの化合物の波長スペクトルとも相違する。
まず、ベースライン推定部22は、LC分析によって得られた3次元クロマトグラムデータ(以下「観測データ」という)をクロマトグラムデータ記憶部21から読み出し(ステップS1)、該観測データから求まる波長スペクトルに基づいて、クロマトグラムにおけるベースラインの時間的変化を示すベースラインクロマトグラムの波形形状を推定する(ステップS2)。なお、ここで判明するのはあくまでも波形の形状であり、波長毎の強度値自体は不明である。
D=C1・S1 T+C2・S2 T …(2)
いま仮に第1化合物の波長スペクトルS1が既知であるとすると、この波長スペクトルS1のベクトルに直交するベクトルR1を求めることができる。このベクトルR1を観測データDに乗じると、次の(3)式のように第2化合物のクロマトグラム信号C2のベクトルに定数(波長スペクトルS2のベクトルとベクトルR1との内積)を乗じたα・C2が得られる。
D・R1=C1・S1 T・R1+C2・S2 T・R1=0+C2・(S2 T・R1)=α・C2 …(3)
このα・C2は第2化合物のクロマトグラム信号C2の波形形状を示している。
ベースライン推定部22は、観測データに基づいて作成されるクロマトグラムに対しピーク検出を行い、全てのピークを抽出する。そして、クロマトグラム上の各ピークのピークトップの測定時点における波長スペクトルを観測データから抽出し、それを集めたスペクトル集合{Sn}を取得する(ステップS10)。
まず、上記条件Aに基づき、測定時間範囲の端部における波長スペクトルを仮のベースラインスペクトルとして定める(ステップS20)。「端部」には測定時間範囲の始点(測定開始時点)と終点(測定終了時点)の二つがあり、いずれか一方の端部における波長スペクトルを用いてもよいが、ベースライン推定の精度を上げるには、始点の波長スペクトルを選択したときと終点の波長スペクトルを選択したときとでそれぞれ以降の処理を実施し、それぞれ推定されたベースラインの平均を採るなどすることが好ましい。
以上のようにして最終的に得られた波長スペクトルを集めることでスペクトル集合{Sn}を作成する(ステップS24)。
上記条件Aによれば、測定時間範囲の端部における信号はベースライン信号のみであるので、その高さつまりは信号レベルに合うように上記推定したベースラインクロマトグラム波形をフィッティングすればよい。ただし、例えばノイズ等の影響によって、必ずしも測定時間範囲の端部における信号をフィッティングの基準として用いるのが適切でない場合がある。そこで、測定時間範囲全体を経験的に定めた適宜の区分数で以て分割して複数の部分時間範囲を求め、部分時間範囲毎に上述したようなフィッティングを試みる、そして、フィッティング状況が最も良好である部分時間範囲が、ベースライン成分のみが存在する時間範囲であるとみなすとよい。
まず、波長毎且つ部分時間範囲毎に、観測データに基づくクロマトグラムに対しベースラインのフィッティングを行い残渣信号を算出する。その残渣信号のL1ノルムを、フィッティングにおける誤差の度合いを示すスコア値とする。即ち、フィッティングが良好であるほど、スコア値は小さくなる。
なお、残渣信号の評価基準はL1ノルムに限るものでなく、L2ノルムや最大-最小値などを用いてもよい。また、部分時間範囲毎に区切ってフィッティングを試みる以外に、移動窓や重み付き移動窓を用い、窓毎にフィッティングを試みるようにしてもよい。
11…移動相容器
12…送液ポンプ
13…インジェクタ
14…カラム
15…PDA検出器
2…データ処理部
21…クロマトグラムデータ記憶部
22…ベースライン推定部
23…ピーククロマトグラム算出部
24…定性処理部
25…定量処理部
3…入力部
4…表示部
Claims (6)
- 測定対象である試料に対して収集された、時間軸、信号強度軸、及び第3のパラメータ軸を有する3次元クロマトグラムデータを処理するクロマトグラムデータ処理方法において、
a)処理対象である3次元クロマトグラムデータに基づいて作成されるクロマトグラム上で検出される各ピークに対応する、第3のパラメータ値と信号強度値との関係を示すスペクトルをそれぞれ取得するピークスペクトル取得ステップと、
b)前記3次元クロマトグラムデータに基づく各測定時点におけるスペクトルをそれぞれベクトルで表現した多次元ベクトルを、前記ピークスペクトル取得ステップにおいて得られたスペクトルをベクトルで表現したベクトルに直交する方向に射影し、それにより得られた射影ベクトルの大きさを時系列信号として求め、該時系列信号に基づいてクロマトグラムにおけるベースラインを示すベースラインクロマトグラムの波形形状を推定するベースラインクロマトグラム波形推定ステップと、
を有することを特徴とするクロマトグラムデータ処理方法。 - 請求項1に記載のクロマトグラムデータ処理方法であって、
前記3次元クロマトグラムデータに基づいて作成される第3のパラメータ値毎のクロマトグラムの一部分に対し又はその一部分毎に、前記ベースラインクロマトグラム波形推定ステップにおいて得られたベースラインクロマトグラム波形のフィッティングを行うことにより、第3のパラメータ値毎のベースラインの信号強度値を求め、それに基づきベースラインにおける第3のパラメータ値と信号強度値との関係を示すベースラインスペクトルを推定するベースラインスペクトル推定ステップ、
をさらに有することを特徴とするクロマトグラムデータ処理方法。 - 請求項1に記載のクロマトグラムデータ処理方法であって、
前記ピークスペクトル取得ステップでは、時間的な変化が緩慢である信号波形の入力に対してゼロを出力する一方、時間的な変化が急である信号波形の入力に対しては非ゼロを出力するフィルタを用いることにより、クロマトグラム上でピークが存在する時間範囲を推定し、該時間範囲内でピークに対応するスペクトルを取得することを特徴とするクロマトグラムデータ処理方法。 - 請求項3に記載のクロマトグラムデータ処理方法であって、
前記フィルタはサビツキー-ゴーレイフィルタであることを特徴とするクロマトグラムデータ処理方法。 - 請求項3に記載のクロマトグラムデータ処理方法であって、
前記フィルタは、与えられたクロマトグラムにおいてベースラインのみが存在する又はベースラインのみが存在すると推定される時間範囲の信号に対する出力と、ピークが存在する又はピークが存在すると推定される時間範囲の信号に対する出力との比が最大になるように決められたフィルタパラメータを有するものであることを特徴とするクロマトグラムデータ処理方法。 - 測定対象である試料に対して収集された、時間軸、信号強度軸、及び第3のパラメータ軸を有する3次元クロマトグラムデータを処理するクロマトグラムデータ処理装置において、
a)処理対象である3次元クロマトグラムデータに基づいて作成されるクロマトグラム上で検出される各ピークに対応する、第3のパラメータ値と信号強度値との関係を示すスペクトルをそれぞれ取得するピークスペクトル取得部と、
b)前記3次元クロマトグラムデータに基づく各測定時点におけるスペクトルをそれぞれベクトルで表現した多次元ベクトルを、前記ピークスペクトル取得部により得られたスペクトルをベクトルで表現したベクトルに直交する方向に射影し、それにより得られた射影ベクトルの大きさを時系列信号として求め、該時系列信号に基づいてクロマトグラムにおけるベースラインを示すベースラインクロマトグラムの波形形状を推定するベースラインクロマトグラム波形推定部と、
を備えることを特徴とするクロマトグラムデータ処理装置。
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