JP6571116B2 - Inspection support device - Google Patents

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Description

本発明は、電子部品を回路基板に実装する部品実装機に適用される検査支援装置に関するものである。   The present invention relates to an inspection support apparatus applied to a component mounter that mounts electronic components on a circuit board.

部品実装機は、特許文献1に示すように、供給位置にある電子部品を吸着ノズルにより吸着し、この電子部品を回路基板上の所定の座標位置(装着位置)に装着する。部品実装機により複数の電子部品を実装された回路基板は、生産ラインにおいて部品実装機の下流側に位置する外観検査装置により電子部品の装着状態を自動検査される(特許文献2を参照)。電子部品の装着状態には、装着位置に対する電子部品のずれ量や電子部品の姿勢、破損の有無などが含まれる。   As shown in Patent Document 1, the component mounting machine sucks an electronic component at a supply position by a suction nozzle and mounts the electronic component at a predetermined coordinate position (mounting position) on a circuit board. A circuit board on which a plurality of electronic components are mounted by a component mounting machine is automatically inspected for the mounting state of the electronic components by an appearance inspection device located on the downstream side of the component mounting machine in the production line (see Patent Document 2). The mounting state of the electronic component includes the shift amount of the electronic component with respect to the mounting position, the posture of the electronic component, the presence or absence of breakage, and the like.

また、回路基板の検査には、上記のように実装済みの回路基板を外観検査装置による自動検査の他に、実装中の回路基板を対象とする作業者による目視検査が含まれる。目視検査は、例えば特に装着精度を要求される電子部品や、破損が発生しやすい電子部品を装着した場合に必要とされる。作業者は、目視検査において、回路基板に装着された検査対象の電子部品を目視して装着状態の良否を判定する。   In addition, the inspection of the circuit board includes visual inspection by an operator who targets the circuit board being mounted, in addition to the automatic inspection of the mounted circuit board by the visual inspection apparatus. The visual inspection is required, for example, when an electronic component that particularly requires mounting accuracy or an electronic component that is easily damaged is mounted. In the visual inspection, the operator visually checks the electronic component to be inspected mounted on the circuit board and determines whether the mounting state is good or bad.

特開2013−026278号公報JP2013-026278A 特開2002−299900号公報JP 2002-299900 A

しかしながら、部品実装機における目視検査では、電子部品が微細であるなどの要因によっては装着状態の良否の判定が容易でない場合がある。そうすると、目視検査に要する時間が長くなり、部品実装機の生産効率に検査時間が影響するおそれがある。   However, in the visual inspection in the component mounting machine, it may not be easy to determine whether or not the mounting state is good depending on factors such as the fineness of the electronic component. If it does so, the time which visual inspection requires will become long, and there exists a possibility that inspection time may affect the production efficiency of a component mounting machine.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、部品実装機における電子部品の装着状態の目視検査の効率向上を図る検査支援装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and an object thereof is to provide an inspection support apparatus that improves the efficiency of visual inspection of the mounting state of electronic components in a component mounter.

請求項1に係る検査支援装置は、供給位置に供給された電子部品を保持して回路基板上の装着位置まで当該電子部品を移載する移載装置を備える部品実装機に適用される。検査支援装置は、前記回路基板に装着された前記電子部品を対象として行われる装着状態の目視検査を支援する。
検査支援装置は、前記回路基板を撮像可能に前記移載装置に設けられたカメラと、前記電子部品のうち前記目視検査の対象とされる検査部品における外観上の特徴部および前記装着位置の周辺に位置する前記回路基板上の基準部位を複数種類の前記検査部品ごとに関連付けられた検査基準情報を記憶する記憶装置と、前記部品実装機による実装処理において前記検査部品が前記回路基板に装着された場合に、前記記憶装置から読み出した前記検査基準情報において前記検査部品に設定された前記特徴部および前記基準部位に基づいて前記カメラの撮像処理を制御して、当該検査部品に対応する前記特徴部および前記基準部位が収められた画像データを取得する撮像制御部と、前記カメラの撮像による前記画像データを、種々の表示態様のうち前記検査基準情報において前記検査部品に設定された前記特徴部および前記基準部位に応じた少なくとも一つの表示態様により表示装置に表示させる表示制御部と、を備える。
前記検査基準情報における前記基準部位には、前記装着位置に理想の姿勢で装着された前記検査部品を理想部品として、当該理想部品の周縁部から規定距離までの背景領域が含まれる。前記検査基準情報における前記特徴部は、前記検査部品における直線状端部である。前記表示制御部は、前記背景領域のうち前記理想部品における前記直線状端部から規定距離に位置する直線状の周縁部を前記画像データの表示枠に一致させて前記表示装置に表示させる。
The inspection support apparatus according to claim 1 is applied to a component mounting machine including a transfer device that holds an electronic component supplied to a supply position and transfers the electronic component to a mounting position on a circuit board. The inspection support device supports a visual inspection of the mounted state performed on the electronic component mounted on the circuit board.
The inspection support apparatus includes a camera provided in the transfer apparatus so as to be able to image the circuit board, an appearance feature in the inspection part to be subject to visual inspection among the electronic parts, and the periphery of the mounting position. A storage device for storing inspection reference information associated with a plurality of types of inspection parts, and a reference part on the circuit board located in the circuit board, and the inspection part is mounted on the circuit board in a mounting process by the component mounter The image processing unit controls the imaging process of the camera based on the feature and the reference portion set in the inspection part in the inspection reference information read from the storage device, and corresponds to the inspection part An image capturing control unit that acquires image data in which the image capturing unit and the reference portion are stored, and the image data obtained by the image capturing of the camera are displayed in various display modes. Serial and a display control unit for displaying on the display device by at least one display mode corresponding to the features and the reference region set in the inspection component in the test reference information.
The reference part in the inspection reference information includes a background region from the peripheral part of the ideal part to a specified distance with the inspection part mounted in an ideal posture at the mounting position as an ideal part. The characteristic portion in the inspection reference information is a linear end portion in the inspection component. The display control unit causes the display device to display a linear peripheral edge located at a specified distance from the linear edge of the ideal part in the background region, in accordance with a display frame of the image data.

請求項1に係る発明の構成によると、検査支援装置は、部品実装機の機内に設けられたカメラの撮像による画像データを表示することにより、作業者による目視検査を可能とする。そのため、作業者は、検査部品の寸法によらず、検査対象の電子部品(検査部品)を確実に目視することができる。また、検査支援装置は、表示する画像データに検査部品の特徴部および予め設定された基準部位が収まるように撮像処理を制御する。これにより、作業者は、表示された特徴部と基準部位とに基づいて、検査部品の装着状態の良否を判定することができる。よって、上記のような構成により、装着状態の目視検査の効率向上を図ることができる。   According to the configuration of the invention of claim 1, the inspection support apparatus enables visual inspection by an operator by displaying image data obtained by imaging of a camera provided in the component mounting machine. Therefore, the operator can surely visually check the electronic component (inspection component) to be inspected regardless of the dimensions of the inspection component. Further, the inspection support apparatus controls the imaging process so that the characteristic part of the inspection part and the preset reference portion are included in the image data to be displayed. Thereby, the operator can determine the quality of the mounting state of the inspection part based on the displayed characteristic portion and the reference part. Therefore, with the configuration as described above, it is possible to improve the efficiency of the visual inspection of the mounted state.

実施形態における部品実装機を示す全体図である。1 is an overall view showing a component mounter in an embodiment. 検査支援装置が適用された部品実装機の制御装置を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the control apparatus of the component mounting machine to which the test | inspection assistance apparatus was applied. 検査基準情報を示す図である。It is a figure which shows inspection standard information. 回路基板における基準部位の第一態様を示す図である。It is a figure which shows the 1st aspect of the reference | standard site | part in a circuit board. 第一態様に対応する画像データの表示状態を示す図である。It is a figure which shows the display state of the image data corresponding to a 1st aspect. 回路基板における基準部位の第二態様を示す図である。It is a figure which shows the 2nd aspect of the reference | standard site | part in a circuit board. 第二態様に対応する画像データの表示状態を示す図である。It is a figure which shows the display state of the image data corresponding to a 2nd aspect. 回路基板における基準部位の第三態様を示す図である。It is a figure which shows the 3rd aspect of the reference | standard site | part in a circuit board. 第三態様における電子部品の下面画像データを示す図である。It is a figure which shows the lower surface image data of the electronic component in a 3rd aspect. 第三態様に対応する画像データの表示状態を示す図である。It is a figure which shows the display state of the image data corresponding to a 3rd aspect.

以下、本発明の部品実装機を具体化した実施形態について図面を参照して説明する。部品実装機は、供給位置にある電子部品を吸着ノズルにより吸着し、この電子部品を回路基板上の所定の座標位置(装着位置)に装着する装置である。検査支援装置は、上記の部品実装機に適用され、部品実装機における目視検査を支援する。   Hereinafter, an embodiment in which a component mounter of the present invention is embodied will be described with reference to the drawings. The component mounter is a device that sucks an electronic component at a supply position with a suction nozzle and mounts the electronic component at a predetermined coordinate position (mounting position) on a circuit board. The inspection support device is applied to the above-described component mounter and supports visual inspection in the component mounter.

<実施形態>
(1.部品実装機1の全体構成)
部品実装機1の構成について、図1を参照して説明する。部品実装機1は、図1に示すように、基板搬送装置11と、部品供給装置12と、部品移載装置13と、部品カメラ15と、基板カメラ16と、制御装置30とを備える。以下の説明において、部品実装機1の水平幅方向(図1の左上から右下に向かう方向)をX軸方向とし、部品実装機1の水平長手方向(図1の右上から左下に向かう方向)をY軸方向とし、X軸およびY軸に垂直な鉛直方向(図1の上下方向)をZ軸方向とする。
<Embodiment>
(1. Overall configuration of component mounting machine 1)
The configuration of the component mounter 1 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 1, the component mounter 1 includes a substrate transfer device 11, a component supply device 12, a component transfer device 13, a component camera 15, a substrate camera 16, and a control device 30. In the following description, the horizontal width direction of the component mounter 1 (the direction from the upper left to the lower right in FIG. 1) is the X-axis direction, and the horizontal longitudinal direction of the component mounter 1 (the direction from the upper right to the lower left in FIG. 1). Is the Y-axis direction, and the vertical direction (vertical direction in FIG. 1) perpendicular to the X-axis and Y-axis is the Z-axis direction.

基板搬送装置11は、ベルトコンベアなどにより構成され、回路基板40を搬送方向へと順次搬送する。基板搬送装置11は、部品実装機1の機内における所定の位置に回路基板40を位置決めする。そして、基板搬送装置11は、部品実装機1による実装処理が実行された後に、回路基板40を部品実装機1の機外に搬出する。   The substrate transport device 11 is configured by a belt conveyor or the like, and sequentially transports the circuit boards 40 in the transport direction. The board transfer device 11 positions the circuit board 40 at a predetermined position in the component mounting machine 1. And the board | substrate conveyance apparatus 11 carries out the circuit board 40 out of the machine of the component mounting machine 1, after the mounting process by the component mounting machine 1 is performed.

部品供給装置12は、回路基板40に装着される電子部品を供給位置Spに供給する。本実施形態において、上記の電子部品には、キャリアテープに所定ピッチで収容された電子部品と、ウエハWfを部品単位でカットしたチップとが含まれる。キャリアテープは、部品供給装置12の複数のスロットに着脱可能にセットされたフィーダにより送り移動される。これにより、部品供給装置12は、フィーダの先端側の取出し部において電子部品を供給する。   The component supply device 12 supplies the electronic component mounted on the circuit board 40 to the supply position Sp. In the present embodiment, the above-described electronic components include electronic components accommodated in a carrier tape at a predetermined pitch and chips obtained by cutting the wafer Wf in units of components. The carrier tape is fed and moved by a feeder that is detachably set in a plurality of slots of the component supply device 12. Thereby, the component supply apparatus 12 supplies an electronic component in the taking-out part of the front end side of a feeder.

また、部品供給装置12は、ウエハWfのチップを供給するウエハ供給装置12aを備える。チップは、例えばウエハ本体において格子状に多数形成され、粘着シートに貼着された状態でレーザーカッタなどにより部品単位にカットされて形成される。キャリアテープに収容された電子部品、およびウエハWfのチップは、本発明の「電子部品」に相当する。   Further, the component supply device 12 includes a wafer supply device 12a for supplying chips of the wafer Wf. For example, a large number of chips are formed in a lattice pattern on the wafer body, and are cut into parts by a laser cutter or the like while being attached to an adhesive sheet. The electronic component housed in the carrier tape and the chip of the wafer Wf correspond to the “electronic component” of the present invention.

部品移載装置13は、X軸方向およびY軸方向に移動可能に構成される。部品移載装置13は、部品実装機1の長手方向の後部側(図1の右上側)から前部側の部品供給装置12の上方にかけて配置されている。部品移載装置13は、ヘッド駆動装置21と、移動台22と、装着ヘッド23とを有する。ヘッド駆動装置21は、直動機構により移動台22をXY軸方向に移動可能に構成されている。   The component transfer device 13 is configured to be movable in the X-axis direction and the Y-axis direction. The component transfer device 13 is disposed from the rear side in the longitudinal direction of the component mounter 1 (upper right side in FIG. 1) to the upper side of the component supply device 12 on the front side. The component transfer device 13 includes a head driving device 21, a moving table 22, and a mounting head 23. The head driving device 21 is configured to be able to move the moving table 22 in the XY axis directions by a linear motion mechanism.

装着ヘッド23は、ヘッド駆動装置21の移動台22に着脱可能に設けられている。また、装着ヘッド23は、複数のノズルホルダに着脱可能に設けられた複数の吸着ノズル24を支持する。装着ヘッド23は、Z軸と平行なR軸回りに回転可能に、且つ昇降可能に吸着ノズル24をそれぞれ支持する。   The mounting head 23 is detachably provided on the moving table 22 of the head driving device 21. The mounting head 23 supports a plurality of suction nozzles 24 that are detachably provided on the plurality of nozzle holders. The mounting head 23 supports the suction nozzle 24 so as to be rotatable about an R axis parallel to the Z axis and to be movable up and down.

吸着ノズル24の各々は、装着ヘッド23に対する昇降位置(Z軸方向位置)や角度、負圧の供給状態を制御される。吸着ノズル24は、負圧を供給されることにより、フィーダの取出し部において供給される電子部品、およびウエハ供給装置12aにより供給されたウエハWfのチップを吸着して保持する。   Each of the suction nozzles 24 is controlled in the raising / lowering position (Z-axis direction position), angle, and negative pressure supply state with respect to the mounting head 23. The suction nozzle 24 sucks and holds the electronic component supplied in the feeder take-out portion and the chip of the wafer Wf supplied by the wafer supply device 12a by being supplied with a negative pressure.

部品カメラ15および基板カメラ16は、CCD(Charge Coupled Device)やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)等の撮像素子を有するデジタル式の撮像装置である。部品カメラ15および基板カメラ16は、通信可能に接続された制御装置30による制御信号に基づいてカメラ視野に収まる範囲の撮像を行い、当該撮像により取得した画像データを制御装置30に送出する。   The component camera 15 and the substrate camera 16 are digital imaging devices having imaging elements such as a charge coupled device (CCD) and a complementary metal oxide semiconductor (CMOS). The component camera 15 and the board camera 16 take an image of a range that falls within the camera visual field based on a control signal from the control device 30 that is communicably connected, and send image data acquired by the image pickup to the control device 30.

部品カメラ15は、光軸が鉛直方向(Z軸方向)となるように部品実装機1の基台2に固定され、部品移載装置13の下方から撮像可能に構成される。より具体的には、部品カメラ15は、吸着ノズル24に保持された状態の電子部品の下面を撮像可能に構成される。詳細には、部品カメラ15のレンズユニットは、撮像素子から一定の距離にある対象物に焦点が合うように設定される。また、部品カメラ15のレンズユニットのカメラ視野は、装着ヘッド23が支持する全ての吸着ノズル24が収まる大きさに設定されている。   The component camera 15 is fixed to the base 2 of the component mounter 1 so that the optical axis is in the vertical direction (Z-axis direction), and is configured to be able to image from below the component transfer device 13. More specifically, the component camera 15 is configured to be able to image the lower surface of the electronic component held by the suction nozzle 24. Specifically, the lens unit of the component camera 15 is set so as to focus on an object at a certain distance from the image sensor. The camera field of view of the lens unit of the component camera 15 is set to a size that can accommodate all the suction nozzles 24 supported by the mounting head 23.

基板カメラ16(本発明の「カメラ」に相当する)は、光軸Axが鉛直方向(Z軸方向)となるように部品移載装置13の移動台22に設けられる。基板カメラ16は、回路基板40を撮像可能に構成されている。この基板カメラ16から画像データを取得した制御装置30は、画像処理により例えば基板に付された位置決めマークを認識することで、基板搬送装置11による回路基板40の位置決め状態を認識する。そして、制御装置30は、回路基板40の位置決め状態に応じて移動台22の位置を補正して、電子部品の装着を行うように実装処理を制御する。   The board camera 16 (corresponding to the “camera” of the present invention) is provided on the moving table 22 of the component transfer device 13 so that the optical axis Ax is in the vertical direction (Z-axis direction). The board camera 16 is configured to be able to image the circuit board 40. The control device 30 that has acquired the image data from the substrate camera 16 recognizes the positioning state of the circuit board 40 by the substrate transport device 11 by recognizing, for example, a positioning mark attached to the substrate by image processing. Then, the control device 30 corrects the position of the movable table 22 according to the positioning state of the circuit board 40 and controls the mounting process so as to mount the electronic component.

また、本実施形態において、基板カメラ16は、部品実装機1における目視検査に用いられる画像データを取得するための撮像処理を実行する。この目視検査では、回路基板40に装着された電子部品のうち目視検査の対象とされる検査部品50を対象として、当該電子部品の装着状態の良否が判定される。つまり、基板カメラ16は、実装処理に用いられる画像データを取得する他に、目視検査に用いられる画像データの取得に兼用される。この基板カメラ16は、目視検査を支援する検査支援装置90を構成する。   In the present embodiment, the board camera 16 performs an imaging process for acquiring image data used for visual inspection in the component mounter 1. In this visual inspection, the quality of the mounting state of the electronic component is determined for the inspection component 50 that is the target of the visual inspection among the electronic components mounted on the circuit board 40. That is, the board camera 16 is used for acquiring image data used for visual inspection in addition to acquiring image data used for mounting processing. The substrate camera 16 constitutes an inspection support apparatus 90 that supports visual inspection.

制御装置30は、主として、CPUや各種メモリ、制御回路により構成され、部品カメラ15および基板カメラ16の撮像により取得した画像データに基づいて回路基板40への電子部品の実装処理を制御する。この制御装置30は、図2に示すように、実装制御部31、画像処理部32、撮像制御部33、表示制御部34、および記憶装置35に、バスを介して入出力インターフェース36が接続されている。入出力インターフェース36には、モータ制御回路37および撮像制御回路38が接続されている。   The control device 30 is mainly configured by a CPU, various memories, and a control circuit, and controls the mounting process of the electronic component on the circuit board 40 based on image data acquired by imaging by the component camera 15 and the board camera 16. As shown in FIG. 2, the control device 30 has an input / output interface 36 connected to a mounting control unit 31, an image processing unit 32, an imaging control unit 33, a display control unit 34, and a storage device 35 via a bus. ing. A motor control circuit 37 and an imaging control circuit 38 are connected to the input / output interface 36.

実装制御部31は、モータ制御回路37を介して装着ヘッド23の位置や吸着機構の動作を制御する。より詳細には、実装制御部31は、部品実装機1に複数設けられた各種センサから出力される情報や、各種の認識処理の結果を入力する。そして、実装制御部31は、記憶装置35に記憶されている制御プログラム、各種センサによる情報、画像処理や認識処理の結果に基づいて、モータ制御回路37に制御信号を送出する。これにより、装着ヘッド23に支持された吸着ノズル24の位置および回転角度が制御される。   The mounting control unit 31 controls the position of the mounting head 23 and the operation of the suction mechanism via the motor control circuit 37. More specifically, the mounting control unit 31 inputs information output from various sensors provided in the component mounting machine 1 and results of various recognition processes. The mounting control unit 31 sends a control signal to the motor control circuit 37 based on the control program stored in the storage device 35, information from various sensors, and the results of image processing and recognition processing. Thereby, the position and rotation angle of the suction nozzle 24 supported by the mounting head 23 are controlled.

画像処理部32は、撮像制御回路38を介して部品カメラ15および基板カメラ16の撮像による画像データを取得して、用途に応じた画像処理を実行する。この画像処理には、例えば、画像データの二値化、フィルタリング、色相抽出、超解像処理などが含まれ得る。また、画像処理部32は、本実施形態において、画像データの一部を切り出す抽出処理、反転処理、および複数の画像データを位置合わせした状態で重ね合わせる処理を実行する。   The image processing unit 32 acquires image data obtained by imaging the component camera 15 and the board camera 16 via the imaging control circuit 38, and executes image processing according to the application. This image processing can include, for example, binarization of image data, filtering, hue extraction, super-resolution processing, and the like. Further, in the present embodiment, the image processing unit 32 executes an extraction process for cutting out a part of image data, an inversion process, and a process for superposing a plurality of pieces of image data in an aligned state.

撮像制御部33は、部品カメラ15および基板カメラ16により所定の対象物が撮像されるように、各装置に対して制御信号を送出する。詳細には、撮像制御部33は、回路基板40上に付された位置決めマークが収められた画像データを取得する場合には、部品供給装置12に対して移動台22に設けられた基板カメラ16を位置決めマークの上方に移動させるように制御信号を送出する。そして、撮像制御部33は、位置決めマークの上方に移動した基板カメラ16に対して撮像処理を実行するように、制御信号を送出する。   The imaging control unit 33 sends a control signal to each device so that a predetermined object is imaged by the component camera 15 and the board camera 16. Specifically, the imaging controller 33 obtains the image data in which the positioning marks attached on the circuit board 40 are stored, and the board camera 16 provided on the moving table 22 with respect to the component supply device 12. A control signal is sent to move the mark above the positioning mark. And the imaging control part 33 sends out a control signal so that an imaging process may be performed with respect to the board | substrate camera 16 which moved above the positioning mark.

表示制御部34は、基板カメラ16の撮像による画像データを表示装置17に表示させる。表示装置17は、例えば制御装置30の操作盤に配置された液晶モニタやタッチスクリーンである(図4Bを参照)。表示制御部34は、画像処理部32により各種の画像処理を施された画像データを、表示枠80の範囲内に収めるように表示する。本実施形態において、画像データの表示枠80は、矩形状に予め設定されている。   The display control unit 34 causes the display device 17 to display image data captured by the substrate camera 16. The display device 17 is, for example, a liquid crystal monitor or a touch screen arranged on the operation panel of the control device 30 (see FIG. 4B). The display control unit 34 displays the image data that has been subjected to various types of image processing by the image processing unit 32 so as to be within the range of the display frame 80. In the present embodiment, the image data display frame 80 is preset in a rectangular shape.

本実施形態において、撮像制御部33は、部品実装機1における目視検査に用いられる画像データを取得するための撮像処理を制御する。また、表示制御部34は、作業者が目視検査を行えるように、種々の表示態様により画像データを表示する。目視検査を支援するための撮像制御部33による撮像処理の制御、および表示制御部34による表示処理の制御の詳細については後述する。   In the present embodiment, the imaging control unit 33 controls imaging processing for acquiring image data used for visual inspection in the component mounter 1. Further, the display control unit 34 displays the image data in various display modes so that the operator can perform a visual inspection. Details of the control of the imaging process by the imaging control unit 33 for supporting the visual inspection and the control of the display process by the display control unit 34 will be described later.

記憶装置35は、ハードディスク装置などの光学ドライブ装置、またはフラッシュメモリなどにより構成される。この記憶装置35には、部品実装機1を動作させるための制御プログラム、目視検査に用いられる検査基準情報SI、バスや通信ケーブルを介して部品カメラ15および基板カメラ16から制御装置30に転送された画像データ、画像処理部32による処理の一時データなどが記憶される。入出力インターフェース36は、CPUや記憶装置35と各制御回路76,77との間に介在し、データ形式の変換や信号強度を調整する。   The storage device 35 is configured by an optical drive device such as a hard disk device or a flash memory. The storage device 35 is transferred from the component camera 15 and the board camera 16 to the control device 30 via a control program for operating the component mounting machine 1, inspection standard information SI used for visual inspection, and a bus and a communication cable. Image data, temporary data for processing by the image processing unit 32, and the like are stored. The input / output interface 36 is interposed between the CPU and the storage device 35 and the control circuits 76 and 77, and adjusts data format conversion and signal strength.

モータ制御回路37は、実装制御部31による制御信号に基づいて、部品移載装置13に設けられた各軸モータの制御に用いられる。これにより、装着ヘッド23が各軸方向に位置決めされる。また、この各軸のモータの制御により、所定の吸着ノズル24の昇降位置(Z軸方向位置)および回転角度が割り出される。   The motor control circuit 37 is used to control each axis motor provided in the component transfer device 13 based on a control signal from the mounting control unit 31. Thereby, the mounting head 23 is positioned in each axial direction. Further, by controlling the motors of the respective axes, a predetermined lifting position (Z-axis direction position) and rotation angle of the suction nozzle 24 are determined.

撮像制御回路38は、撮像制御部33が送出する撮像の制御信号に基づいて、部品カメラ15および基板カメラ16による撮像を制御する。また、撮像制御回路38は、部品カメラ15および基板カメラ16の撮像による画像データを取得して、入出力インターフェース36を介して記憶装置35に記憶させる。   The imaging control circuit 38 controls imaging by the component camera 15 and the board camera 16 based on the imaging control signal sent from the imaging control unit 33. Further, the imaging control circuit 38 acquires image data obtained by imaging of the component camera 15 and the board camera 16 and stores the acquired image data in the storage device 35 via the input / output interface 36.

(2.検査支援装置90の構成)
本実施形態において、目視検査を支援する検査支援装置90は、部品実装機1における基板カメラ16と、検査基準情報SIと、画像処理部32と、撮像制御部33と、表示制御部34とを備えて構成される。検査支援装置90は、部品実装機1が回路基板40への装着を行った電子部品のうち対象とされる検査部品50の装着状態の目視検査を支援する。
(2. Configuration of the inspection support apparatus 90)
In this embodiment, the inspection support apparatus 90 that supports visual inspection includes the board camera 16, the inspection reference information SI, the image processing unit 32, the imaging control unit 33, and the display control unit 34 in the component mounter 1. It is prepared for. The inspection support device 90 supports visual inspection of the mounting state of the target inspection component 50 among the electronic components that the component mounter 1 has mounted on the circuit board 40.

(2−1.検査基準情報SIの詳細)
目視検査に用いられる検査基準情報SIは、制御装置30の記憶装置35に記憶される。検査基準情報SIは、部品実装機1が実装を行う複数の電子部品のうち目視検査の対象とされる検査部品50における外観上の特徴部、および装着位置Mp(図4Aなどを参照)の周辺に位置する回路基板40上の基準部位を検査部品50に関連付けられた情報である。より具体的には、図3に示すように、検査基準情報SIには、検査部品を特定するID、検査部品の部品種別、特徴部、基準部位、寸法情報が含まれる。
(2-1. Details of inspection standard information SI)
Inspection reference information SI used for visual inspection is stored in the storage device 35 of the control device 30. The inspection standard information SI is the appearance feature of the inspection component 50 to be visually inspected among the plurality of electronic components mounted by the component mounter 1, and the periphery of the mounting position Mp (see FIG. 4A and the like). The reference part on the circuit board 40 located at is information related to the inspection component 50. More specifically, as shown in FIG. 3, the inspection standard information SI includes an ID for identifying the inspection part, a part type of the inspection part, a characteristic part, a reference part, and dimension information.

検査部品50の「特徴部」とは、作業者による目視検査において、作業者が検査部品の装着状態を認識するために捉えられる検査部品50における形状、模様、色彩またはこれらの結合によって表される部位である。より具体的には、検査部品50の特徴部は、検査部品50の外形が矩形状の場合には、角部や一辺である直線状端部としてもよい。その他に、部品種別によっては、リード部や、部品上面に付されたマークなどが特徴部として設定され得る。なお、検査部品50の装着状態には、装着位置Mpに対する検査部品50のずれ量や検査部品50の姿勢、破損の有無などが含まれる。   The “characteristic part” of the inspection component 50 is represented by a shape, a pattern, a color, or a combination thereof in the inspection component 50 that is captured for the operator to recognize the mounting state of the inspection component in the visual inspection by the operator. It is a part. More specifically, the characteristic part of the inspection component 50 may be a straight end that is a corner or one side when the outer shape of the inspection component 50 is rectangular. In addition, depending on the component type, a lead portion, a mark attached to the upper surface of the component, or the like can be set as the characteristic portion. The mounting state of the inspection component 50 includes the amount of deviation of the inspection component 50 with respect to the mounting position Mp, the posture of the inspection component 50, the presence or absence of breakage, and the like.

また、回路基板40上の「基準部位」とは、作業者による目視検査において、作業者が検査部品の装着状態を認識するために基準として捉えられる回路基板40における形状、模様、色彩またはこれらの結合によって表される部位(領域を含む)である。具体的には、回路基板40上の基準部位は、回路基板40または電子部品を位置決めするために回路基板40上に付された位置決めマーク、または回路基板40上に配置された部品としてもよい。回路基板40上に配置された部品には、部品実装機1による実装処理とは別の工程で配置された部品や、実装処理によって検査部品に先行して装着された他の電子部品などが含まれる。   In addition, the “reference part” on the circuit board 40 means a shape, pattern, color, or these on the circuit board 40 that is regarded as a reference for the operator to recognize the mounting state of the inspection component in the visual inspection by the operator. A site (including a region) represented by the bond. Specifically, the reference portion on the circuit board 40 may be a positioning mark provided on the circuit board 40 for positioning the circuit board 40 or the electronic component, or a component arranged on the circuit board 40. The components arranged on the circuit board 40 include components arranged in a process different from the mounting process by the component mounting machine 1, and other electronic parts mounted in advance of the inspection part by the mounting process. It is.

なお、回路基板40上の基準部位は、それぞれの検査部品50ごとに設定される。つまり、2つの検査部品50が同一の部品種別であっても、装着位置Mpが相違することから、別々の基準部位がそれぞれの検査部品50に設定され得る。これにより、例えば図3に示すように、同じ部品種別Aである2つの検査部品50のうち一方の検査部品50(ID=T101)は、基準部位を位置決めマークに設定される。また、他方の検査部品50(ID=T102)は、基準部位を周辺部品に設定される。   The reference part on the circuit board 40 is set for each inspection component 50. That is, even if the two inspection components 50 are of the same component type, the mounting positions Mp are different, so that different reference parts can be set for each inspection component 50. Thereby, as shown in FIG. 3, for example, one inspection component 50 (ID = T101) of the two inspection components 50 having the same component type A is set with the reference portion as a positioning mark. In the other inspection component 50 (ID = T102), the reference part is set as a peripheral component.

その他に、回路基板40上の基準部位としては、理想部品の周縁部から規定距離までの背景領域であるものとしてもよい。上記の「理想部品」とは、検査部品50の装着位置Mpに理想の姿勢で装着された仮想的な検査部品に相当する。回路基板40上において、検査部品50の周辺に基準となるマークや部品、電極、配線等が存在しない場合には、理想部品から規定距離までの背景領域が基準部位として検査部品と共に表示されるよって、背景領域は、作業者による目視検査における基準部位になり得る。   In addition, the reference region on the circuit board 40 may be a background region from the peripheral edge of the ideal component to a specified distance. The above-mentioned “ideal part” corresponds to a virtual inspection part mounted in an ideal posture at the mounting position Mp of the inspection part 50. On the circuit board 40, when there is no reference mark, component, electrode, wiring, or the like around the inspection component 50, the background area from the ideal component to the specified distance is displayed together with the inspection component as a reference portion. The background region can be a reference site in visual inspection by an operator.

また、検査基準情報SIの「寸法情報」とは、部品種別ごとに定められた当該検査部品の寸法に係る情報である。具体的には、例えば検査部品50の特徴部の長さ、最長となる対角線長さ、検査部品50の上面の面積などに基づいて、寸法情報が設定される。この寸法情報は、本実施形態において、表示制御部34よる表示処理における拡大率の算出に用いられる。   Further, the “dimension information” of the inspection standard information SI is information relating to the dimensions of the inspection part determined for each part type. Specifically, for example, the dimension information is set based on the length of the characteristic portion of the inspection component 50, the longest diagonal length, the area of the upper surface of the inspection component 50, and the like. In the present embodiment, this dimension information is used for calculating the enlargement ratio in the display process by the display control unit 34.

(2−2.撮像処理および表示処理の制御)
撮像制御部33は、目視検査に用いられる画像データを取得するために、基板カメラ16による撮像処理を制御する。詳細には、撮像制御部33は、部品実装機1による実装処理において検査部品50が回路基板40に装着された場合に、検査基準情報SIに基づいて基板カメラ16の撮像処理を制御する。
(2-2. Control of imaging processing and display processing)
The imaging control unit 33 controls imaging processing by the substrate camera 16 in order to acquire image data used for visual inspection. Specifically, the imaging control unit 33 controls the imaging process of the board camera 16 based on the inspection reference information SI when the inspection component 50 is mounted on the circuit board 40 in the mounting process by the component mounter 1.

このとき、撮像制御部33は、先ず検査基準情報SIに設定されている当該検査部品50に対応する特徴部および基準部位を読み出す。次に、撮像制御部33は、読み出された特徴部および基準部位が収められた画像データを取得するように撮像処理を制御する。表示制御部34は、作業者が目視検査を行えるように、取得された画像データを表示装置17に表示させる。   At this time, the imaging control unit 33 first reads out the characteristic portion and the reference portion corresponding to the inspection component 50 set in the inspection reference information SI. Next, the imaging control unit 33 controls the imaging process so as to acquire image data in which the read characteristic part and reference part are stored. The display control unit 34 causes the display device 17 to display the acquired image data so that the operator can perform a visual inspection.

ここで、検査基準情報SIに対応した撮像処理および表示処理の制御の態様について、図3、図4A〜図6Cを参照して説明する。図4A、図5A、および図6Aは、各態様の撮像処理の実行により取得された画像データを示す。図4B、図5B、および図6Cは、各態様の表示処理の実行により表示装置17に表示された画像データの表示状態を示す。   Here, the control mode of the imaging process and the display process corresponding to the inspection standard information SI will be described with reference to FIGS. 3 and 4A to 6C. 4A, FIG. 5A, and FIG. 6A show image data acquired by executing the imaging process of each aspect. 4B, 5B, and 6C show the display state of the image data displayed on the display device 17 by executing the display processing of each aspect.

第一態様において、図3における検査基準情報SIの第一列に示すように、検査部品50(ID=T101)に関連づけて、特徴部として「角部」が設定され、基準部位として「位置決めマーク」が設定されているものとする。この場合に、撮像制御部33は、当該検査部品50が装着された後に所定のタイミングで、検査部品50の角部51および位置決めマーク41がカメラ視野に収まるように、移動台22に設けられた基板カメラ16を移動させる。   In the first aspect, as shown in the first column of the inspection reference information SI in FIG. 3, “corner” is set as the characteristic portion in association with the inspection component 50 (ID = T101), and “positioning mark” is set as the reference portion. "Is set. In this case, the imaging control unit 33 is provided on the movable table 22 so that the corner 51 and the positioning mark 41 of the inspection component 50 are within the camera field of view at a predetermined timing after the inspection component 50 is mounted. The substrate camera 16 is moved.

撮像制御部33は、次に基板カメラ16に対して撮像処理を実行するように、制御信号を送出する。これにより、制御装置30の撮像制御回路38が基板カメラ16の撮像による画像データ71(図4Aを参照)を取得して、当該画像データ71が記憶装置35に記憶される。続いて、検査支援装置90は、検査基準情報SIの寸法情報に基づいて、表示する画像データの拡大率を算出するとともに、超解像処理の要否を判定する。   Next, the imaging control unit 33 sends a control signal to the board camera 16 so as to execute an imaging process. Thereby, the imaging control circuit 38 of the control device 30 acquires the image data 71 (see FIG. 4A) obtained by the imaging of the substrate camera 16, and the image data 71 is stored in the storage device 35. Subsequently, the inspection support apparatus 90 calculates the enlargement ratio of the image data to be displayed based on the dimension information of the inspection reference information SI, and determines whether or not super-resolution processing is necessary.

本実施形態において、検査支援装置90は、検査部品50の種々の寸法に対して、拡大表示された当該検査部品50の見かけの大きさが同程度となるように、検査部品50の寸法と拡大後の寸法との割合から拡大率を算出する。また、検査支援装置90は、算出された拡大率が規定値を超える場合には、超解像処理が必要であると判定する。拡大率および超解像処理の要否の判定結果は、表示情報DIに設定された後に、記憶装置35に記憶される。   In the present embodiment, the inspection support apparatus 90 increases the size and size of the inspection component 50 so that the apparent size of the inspection component 50 displayed in an enlarged manner is similar to the various dimensions of the inspection component 50. The enlargement ratio is calculated from the ratio with the later dimensions. In addition, when the calculated enlargement ratio exceeds the specified value, the inspection support apparatus 90 determines that super-resolution processing is necessary. The determination result of the enlargement ratio and the necessity of super-resolution processing is stored in the storage device 35 after being set in the display information DI.

表示制御部34は、画像データ71を表示情報DIに基づいて表示装置17に表示させる。詳細には、表示制御部34は、表示情報DIに設定された拡大率S11と、画像データの表示枠80との比に基づいて、画像データにおける抽出範囲71aの大きさを設定する。さらに、表示制御部34は、検査部品50(ID=T101)の特徴部が角部51であり、基準部位が位置決めマーク41であることから、これらが含まれるように抽出範囲71aの位置を設定する。   The display control unit 34 causes the display device 17 to display the image data 71 based on the display information DI. Specifically, the display control unit 34 sets the size of the extraction range 71a in the image data based on the ratio between the enlargement ratio S11 set in the display information DI and the display frame 80 of the image data. Furthermore, the display control unit 34 sets the position of the extraction range 71a so that the characteristic part of the inspection component 50 (ID = T101) is the corner part 51 and the reference part is the positioning mark 41. To do.

画像処理部32は、設定された抽出範囲71aの大きさおよび位置に基づいて、画像データ71のうち抽出範囲71aを切り出す抽出処理を実行する。なお、画像処理部32は、当該検査部品50(ID=T101)については超解像処理が不要との判定結果に基づいて、超解像処理を行わずに画像データ71に対する画像処理を行う。表示制御部34は、図4Bに示すように、寸法情報に基づく拡大率S11で画像データ71の抽出範囲71aを拡大して表示装置17に表示させる。   The image processing unit 32 executes an extraction process for cutting out the extraction range 71a from the image data 71 based on the set size and position of the extraction range 71a. Note that the image processing unit 32 performs image processing on the image data 71 without performing super-resolution processing based on the determination result that the inspection component 50 (ID = T101) does not require super-resolution processing. As shown in FIG. 4B, the display control unit 34 enlarges the extraction range 71a of the image data 71 at the enlargement rate S11 based on the dimension information and causes the display device 17 to display it.

これにより、表示された画像データ71における検査部品50の特徴部(検査部品50の角部51)および基準部位(回路基板40の位置決めマーク41)の位置関係等に基づいて、作業者による目視検査が行われる。なお、図3における検査基準情報SIの第二列に示すように、検査部品50(ID=T102)に関連付けて、基準部位として「周辺部品」が設定されている場合には、第一態様と同様に、検査部品50と周辺部品42との位置関係等に基づいて、作業者による目視検査が行われる(図4Bを参照)。   Thereby, based on the positional relationship between the characteristic part of the inspection component 50 (corner portion 51 of the inspection component 50) and the reference portion (positioning mark 41 of the circuit board 40) in the displayed image data 71, visual inspection by the operator is performed. Is done. As shown in the second column of the inspection standard information SI in FIG. 3, when “peripheral part” is set as the reference part in association with the inspection part 50 (ID = T102), Similarly, a visual inspection by an operator is performed based on the positional relationship between the inspection component 50 and the peripheral component 42 (see FIG. 4B).

第二態様において、図3における検査基準情報SIの第三列に示すように、検査部品50(ID=T201)に関連付けて、特徴部として「直線状端部」が設定され、基準部位として「背景領域」が設定されているものとする。この場合に、撮像制御部33は、第一態様と同様に、基板カメラ16を移動させるとともに、撮像処理を実行するように制御信号を送出する。また、検査支援装置90は、第一態様と同様に、画像データ72の拡大率を算出するとともに、超解像処理の要否を判定する。   In the second aspect, as shown in the third column of the inspection reference information SI in FIG. 3, “linear end” is set as the characteristic portion in association with the inspection component 50 (ID = T201), and “ It is assumed that “background region” is set. In this case, similarly to the first aspect, the imaging control unit 33 moves the substrate camera 16 and sends a control signal so as to execute the imaging process. In addition, as in the first aspect, the inspection support apparatus 90 calculates the enlargement ratio of the image data 72 and determines whether or not super-resolution processing is necessary.

基準部位である背景領域43は、図5Aにおいて一点鎖線で示されるように、理想部品60(図5Aの破線で示す)の周縁部から規定距離Lrまでの領域である。第二態様においては検査部品50の特徴部が「直線状端部」に設定されている。そこで、表示制御部34は、図5Bに示すように、背景領域43のうち理想部品60の直線状端部62から規定距離Lrに位置する直線状の周縁部43aを画像データ72の表示枠80に一致させて表示装置17に表示させる。   The background region 43 that is the reference portion is a region from the peripheral edge of the ideal component 60 (indicated by a broken line in FIG. 5A) to the specified distance Lr, as indicated by a one-dot chain line in FIG. 5A. In the second aspect, the characteristic part of the inspection component 50 is set to “linear end”. Therefore, as shown in FIG. 5B, the display control unit 34 displays a linear peripheral edge 43 a located at a specified distance Lr from the linear end 62 of the ideal component 60 in the background region 43 as a display frame 80 of the image data 72. To be displayed on the display device 17.

これにより、表示された画像データ72における検査部品50の特徴部(検査部品50の直線状端部52)および基準部位(回路基板40の背景領域43)の位置関係等に基づいて、作業者による目視検査が行われる。なお、検査部品50の特徴部として、直交または平行な2箇所の直線状端部52が設定されている場合には、表示制御部34は、これらの直線状端部52をともに画像データ72の表示枠80に一致させて表示させてもよい。   Thereby, based on the positional relationship between the characteristic portion of the inspection component 50 (the linear end portion 52 of the inspection component 50) and the reference portion (background region 43 of the circuit board 40) in the displayed image data 72, the operator can Visual inspection is performed. If two orthogonal end portions 52 that are orthogonal or parallel are set as the characteristic portions of the inspection component 50, the display control unit 34 uses both of the linear end portions 52 of the image data 72. The display frame 80 may be displayed so as to match.

さらに、表示制御部34は、理想部品60の中心部63を画像データ72の表示枠80の中心部81に一致させて、画像データ72の抽出領域72aを表示装置17に表示させる。これにより、目視検査を行う作業者は、表示枠80に基づいて検査部品50が装着されるべき回路基板40上の装着位置Mpを推定することが可能となる。   Further, the display control unit 34 causes the display device 17 to display the extraction region 72 a of the image data 72 by matching the center 63 of the ideal component 60 with the center 81 of the display frame 80 of the image data 72. Thereby, the operator who performs the visual inspection can estimate the mounting position Mp on the circuit board 40 on which the inspection component 50 should be mounted based on the display frame 80.

第三態様において、図3における検査基準情報SIの第五列に示すように、検査部品50(ID=T301)に関連付けて、特徴部として「直線状端部」および「バンプ部」が設定され、基準部位として「仮想バンプ部」が設定されているものとする。この場合に、撮像制御部33は、第一態様と同様に、基板カメラ16を移動させるとともに、撮像処理を実行するように制御信号を送出する。また、検査支援装置90は、第一態様と同様に、画像データ73(図6Aを参照)の拡大率を算出するとともに、超解像処理の要否を判定する。   In the third aspect, as shown in the fifth column of the inspection reference information SI in FIG. 3, “linear end” and “bump” are set as the characteristic portions in association with the inspection component 50 (ID = T301). It is assumed that “virtual bump part” is set as the reference part. In this case, similarly to the first aspect, the imaging control unit 33 moves the substrate camera 16 and sends a control signal so as to execute the imaging process. Further, as in the first aspect, the examination support apparatus 90 calculates the enlargement ratio of the image data 73 (see FIG. 6A) and determines whether or not super-resolution processing is necessary.

上記の検査部品50の特徴部である「バンプ部」とは、チップ部品などの電子部品の下面に設けられる突起である。本実施形態において、ウエハ供給装置12aにより供給されるウエハWfのチップを目視検査の対象である検査部品50とし、当該チップの下面に複数設けられた突起状の端子をバンプ部53としている。ここで、ウエハWfのチップは、上記のように、カットされて形成されるため、加工精度等の影響によりチップの外形に対するバンプ部53の位置が個々に相違することがある。   The “bump portion” which is a characteristic portion of the inspection component 50 is a protrusion provided on the lower surface of an electronic component such as a chip component. In this embodiment, the chip of the wafer Wf supplied by the wafer supply device 12a is used as the inspection component 50 to be visually inspected, and a plurality of protruding terminals provided on the lower surface of the chip are used as the bump portion 53. Here, since the chip of the wafer Wf is cut and formed as described above, the position of the bump portion 53 with respect to the outer shape of the chip may be different due to the influence of processing accuracy and the like.

そのため、このような電子部品を回路基板40に装着するに、部品実装機1は、以下のように、実装処理を制御する。先ず、制御装置30は、部品カメラ15の撮像により電子部品の下面画像データ75(図6Bを参照し)を取得する。次に、画像処理部32は、取得した下面画像データ75に含まれるバンプ部53の位置に基づいて、部品移載装置13による電子部品の保持状態を認識する。この認識処理によって、電子部品を保持する吸着ノズル24の軸中心に対する電子部品のバンプ部53の位置が認識される。   Therefore, in order to mount such an electronic component on the circuit board 40, the component mounter 1 controls the mounting process as follows. First, the control apparatus 30 acquires the lower surface image data 75 (refer FIG. 6B) of an electronic component by the imaging of the component camera 15. Next, the image processing unit 32 recognizes the holding state of the electronic component by the component transfer device 13 based on the position of the bump unit 53 included in the acquired lower surface image data 75. By this recognition processing, the position of the bump part 53 of the electronic component with respect to the axial center of the suction nozzle 24 that holds the electronic component is recognized.

そして、制御装置30は、予め設定されている制御プログラムと認識された電子部品の保持状態とに基づいて、部品移載装置13の動作を制御する。これにより、電子部品のバンプ部53が回路基板40上の電極部に電気的に接続されるように、電子部品が回路基板40に装着される。このように、電子部品の下面に設けられたバンプ部53は、電子部品の外観上の特徴部であり、本発明の「下面特徴部」に相当する。   Then, the control device 30 controls the operation of the component transfer device 13 based on the preset control program and the recognized holding state of the electronic component. Thereby, the electronic component is mounted on the circuit board 40 so that the bump part 53 of the electronic component is electrically connected to the electrode part on the circuit board 40. As described above, the bump portion 53 provided on the lower surface of the electronic component is a feature portion on the appearance of the electronic component, and corresponds to the “lower surface feature portion” of the present invention.

第三態様においては検査部品50の特徴部が「直線状端部」および「バンプ部」に設定され、且つ基準部位が「仮想バンプ部」に設定されている。そこで、表示制御部34は、図6Cに示すように、画像データ73の抽出領域73aを表示装置17に表示させる。より詳細には、表示制御部34は、画像処理部32による検査部品50の保持状態の認識処理に用いられた下面画像データ75に含まれるバンプ部53を反転させて、反転後の下面特徴部である仮想バンプ部76を画像データ73の抽出領域73aに重ねて表示させる。   In the third aspect, the characteristic part of the inspection component 50 is set to “linear end part” and “bump part”, and the reference part is set to “virtual bump part”. Therefore, the display control unit 34 causes the display device 17 to display the extraction area 73a of the image data 73 as shown in FIG. 6C. More specifically, the display control unit 34 inverts the bump portion 53 included in the lower surface image data 75 used for the recognition processing of the holding state of the inspection component 50 by the image processing unit 32, and the lower surface feature portion after the inversion. The virtual bump portion 76 is superimposed on the extraction area 73a of the image data 73 and displayed.

なお、本実施形態においては、検査部品50が装着される前の回路基板40の画像データからバンプ部53がそれぞれ電気的に接続される電極部を抽出し、仮想電極部77として、画像データ73および仮想バンプ部76とともに表示させる。これにより、表示された画像データ73における検査部品50の特徴部(検査部品50の直線状端部52)、下面特徴部(バンプ部53)および基準部位(仮想バンプ部76)の位置関係等に基づいて、作業者による目視検査が行われる。また、本実施形態においては、仮想電極部77が併せて表示されるため、バンプ部53が対応する電極部に接続される位置となるように、電子部品が装着されたかが検査可能となる。   In the present embodiment, the electrode part to which the bump part 53 is electrically connected is extracted from the image data of the circuit board 40 before the inspection component 50 is mounted, and the image data 73 is used as the virtual electrode part 77. And the virtual bump part 76 are displayed. Thereby, in the displayed image data 73, the positional relationship between the characteristic portion of the inspection component 50 (the linear end portion 52 of the inspection component 50), the lower surface characteristic portion (bump portion 53), the reference portion (virtual bump portion 76), and the like. Based on this, a visual inspection is performed by an operator. In the present embodiment, since the virtual electrode portion 77 is also displayed, it is possible to inspect whether or not the electronic component is mounted so that the bump portion 53 is connected to the corresponding electrode portion.

(3.実施形態の構成による効果)
実施形態において、検査支援装置90は、供給位置Spに供給された電子部品を保持して回路基板40上の装着位置Mpまで当該電子部品を移載する移載装置(部品移載装置13)を備える部品実装機1に適用される。検査支援装置90は、回路基板40に装着された電子部品を対象として行われる装着状態の目視検査を支援する。
検査支援装置90は、回路基板40を撮像可能に移載装置に設けられたカメラ(基板カメラ16)と、電子部品のうち目視検査の対象とされる検査部品50における外観上の特徴部および装着位置Mpの周辺に位置する回路基板40上の基準部位を検査部品50に関連付けられた検査基準情報SIと、部品実装機1による実装処理において検査部品50が回路基板40に装着された場合に、検査基準情報SIに基づいてカメラの撮像処理を制御して、当該検査部品50に対応する特徴部および基準部位が収められた画像データ71〜73を取得する撮像制御部33と、カメラの撮像による画像データ71〜73を表示装置17に表示させる表示制御部34と、を備える。
(3. Effects of the configuration of the embodiment)
In the embodiment, the inspection support device 90 includes a transfer device (component transfer device 13) that holds the electronic component supplied to the supply position Sp and transfers the electronic component to the mounting position Mp on the circuit board 40. It is applied to the component mounter 1 provided. The inspection support device 90 supports a visual inspection of the mounted state performed on the electronic component mounted on the circuit board 40.
The inspection support device 90 includes a camera (substrate camera 16) provided in the transfer device so as to be able to take an image of the circuit board 40, and external features and mountings on the inspection component 50 to be visually inspected among electronic components. When the reference part on the circuit board 40 positioned around the position Mp is inspected reference information SI associated with the inspection part 50 and the inspection part 50 is mounted on the circuit board 40 in the mounting process by the component mounter 1, By controlling the imaging process of the camera based on the inspection reference information SI and acquiring the image data 71 to 73 containing the characteristic part and the reference part corresponding to the inspection component 50, and by the imaging of the camera And a display control unit 34 for displaying the image data 71 to 73 on the display device 17.

このような構成によると、検査支援装置90は、部品実装機1の機内に設けられた基板カメラ16の撮像による画像データ71〜73を表示することにより、作業者による目視検査を可能とする。そのため、作業者は、検査部品50の寸法によらず、検査対象の検査部品50を確実に目視することができる。また、検査支援装置90は、表示する画像データ71〜73に検査部品50の特徴部および予め設定された基準部位が収まるように撮像処理を制御する。これにより、作業者は、表示された特徴部と基準部位とに基づいて、検査部品50の装着状態の良否を判定することができる。よって、上記のような構成により、装着状態の目視検査の効率向上を図ることができる。   According to such a configuration, the inspection support apparatus 90 enables visual inspection by the operator by displaying the image data 71 to 73 captured by the board camera 16 provided in the component mounting machine 1. Therefore, the operator can reliably visually inspect the inspection component 50 to be inspected regardless of the size of the inspection component 50. In addition, the inspection support apparatus 90 controls the imaging process so that the characteristic part of the inspection component 50 and a preset reference portion are included in the image data 71 to 73 to be displayed. Thereby, the operator can determine the quality of the mounting state of the inspection component 50 based on the displayed characteristic part and the reference part. Therefore, with the configuration as described above, it is possible to improve the efficiency of the visual inspection of the mounted state.

また、検査基準情報SIには、検査部品50に関連付けられた当該検査部品50の寸法情報が含まれる。表示制御部34は、寸法情報に基づく拡大率で画像データ71〜73を拡大して表示装置17に表示させる。
このような構成によると、部品種別ごとに検査部品50の寸法が相違する場合に、これらの寸法に基づいて拡大率が自動で調整されて、画像データ71〜73が表示される。これにより、作業者は、検査部品50の特徴部および基準部位を好適に目視して、効率的に目視検査を行うことができる。
Further, the inspection reference information SI includes dimension information of the inspection component 50 associated with the inspection component 50. The display control unit 34 enlarges the image data 71 to 73 on the display device 17 at an enlargement rate based on the dimension information.
According to such a configuration, when the dimensions of the inspection component 50 are different for each component type, the enlargement ratio is automatically adjusted based on these dimensions, and the image data 71 to 73 are displayed. Thereby, the operator can visually inspect efficiently the characteristic part and the reference | standard site | part of the test | inspection component 50, and can perform a visual inspection efficiently.

また、検査基準情報SIにおける基準部位は、回路基板40上に付された位置決めマーク41、または回路基板40上に配置された部品(周辺部品42)である。
装着状態の目視検査においては、検査部品50が回路基板40上に載置されていても装着状態の適否を判定することが難しい場合がある。これは、単に検査部品50を目視したのでは、制御上理想の装着位置Mpが不明であり、検査部品50がどの程度、装着位置Mpからずれているかなどの判別が容易でないことに起因する。そこで、基準部位として、回路基板40上の位置決めマーク41または周辺部品42を設定することにより、作業者は、基準部位に対する検査部品50の相対位置に基づいて、装着状態の良否を判定することができる。
The reference part in the inspection reference information SI is a positioning mark 41 provided on the circuit board 40 or a component (peripheral component 42) arranged on the circuit board 40.
In the visual inspection of the mounting state, it may be difficult to determine the suitability of the mounting state even if the inspection component 50 is placed on the circuit board 40. This is because, simply by visually inspecting the inspection component 50, the ideal mounting position Mp for control is unknown, and it is not easy to determine how much the inspection component 50 is displaced from the mounting position Mp. Therefore, by setting the positioning mark 41 or the peripheral component 42 on the circuit board 40 as the reference part, the operator can determine whether the mounting state is good or not based on the relative position of the inspection component 50 with respect to the reference part. it can.

また、検査基準情報SIにおける基準部位は、装着位置Mpに理想の姿勢で装着された検査部品50を理想部品60として、当該理想部品60の周縁部から規定距離Lrまでの背景領域43である。
装着状態の目視検査においては、検査部品50が回路基板40上に載置されていても装着状態の適否を判定することが難しい場合がある。これは、単に検査部品50を目視したのでは、制御上理想の装着位置Mpが不明であり、検査部品50がどの程度、装着位置Mpからずれているかなどの判別が容易でないことに起因する。そこで、基準部位として、理想部品60の周縁部から規定距離Lrまでの背景領域43を設定することにより、作業者は、基準部位に対する検査部品50の相対位置に基づいて、装着状態の良否を判定することができる。
The reference part in the inspection reference information SI is the background region 43 from the peripheral part of the ideal component 60 to the specified distance Lr, with the inspection component 50 mounted in an ideal posture at the mounting position Mp as an ideal component 60.
In the visual inspection of the mounting state, it may be difficult to determine the suitability of the mounting state even if the inspection component 50 is placed on the circuit board 40. This is because, simply by visually inspecting the inspection component 50, the ideal mounting position Mp for control is unknown, and it is not easy to determine how much the inspection component 50 is displaced from the mounting position Mp. Therefore, by setting the background region 43 from the peripheral edge of the ideal component 60 to the specified distance Lr as the reference portion, the operator determines whether the mounting state is good or not based on the relative position of the inspection component 50 with respect to the reference portion. can do.

また、検査基準情報SIにおける特徴部は、検査部品50における直線状端部52である。表示制御部34は、背景領域43のうち理想部品60における直線状端部52から規定距離Lrに位置する直線状の周縁部43aを画像データ72の表示枠80に一致させて表示装置17に表示させる。
このような構成によると、理想部品60の直線状端部52と平行な表示枠80をもって画像データ72が表示される。これにより、作業者は、検査部品50の直線状端部52と、表示枠80とを見比べることによって、検査部品50の姿勢などの装着状態を目視で把握することが可能となる。よって、上記のような構成によって、目視検査の効率が向上する。
Further, the characteristic part in the inspection reference information SI is a linear end 52 in the inspection part 50. The display control unit 34 displays on the display device 17 a linear peripheral edge 43 a located at a specified distance Lr from the linear edge 52 of the ideal component 60 in the background region 43 in alignment with the display frame 80 of the image data 72. Let
According to such a configuration, the image data 72 is displayed with the display frame 80 parallel to the linear end portion 52 of the ideal component 60. Thus, the operator can visually grasp the mounting state such as the posture of the inspection component 50 by comparing the linear end 52 of the inspection component 50 with the display frame 80. Therefore, the efficiency of visual inspection is improved by the above configuration.

また、表示制御部34は、理想部品60の中心部63を画像データ72の表示枠80の中心部81に一致させて、画像データ72を表示装置17に表示させる。
このような構成によると、作業者は、表示枠80をもって制御上理想の装着位置Mpを把握することができる。よって、作業者は、表示枠80の内部に収められた検査部品50と表示枠80の位置関係に基づいて、目視による装着状態の良否を判定することができる。
Further, the display control unit 34 causes the display device 17 to display the image data 72 by matching the center portion 63 of the ideal component 60 with the center portion 81 of the display frame 80 of the image data 72.
According to such a configuration, the operator can grasp the ideal mounting position Mp for control with the display frame 80. Therefore, the operator can determine the quality of the mounting state by visual observation based on the positional relationship between the inspection component 50 and the display frame 80 housed in the display frame 80.

また、部品実装機1は、移載装置(部品移載装置13)に保持された電子部品の下面を撮像可能な部品カメラ15と、部品カメラ15の撮像による電子部品の下面画像データ75に含まれる電子部品の下面特徴部(バンプ部53)に基づいて、移載装置による電子部品の保持状態を認識する画像処理部32と、予め設定されている制御プログラムと認識された電子部品の保持状態とに基づいて移載装置の動作を制御する制御装置30と、を備える。表示制御部34は、画像処理部32による検査部品50の保持状態の認識処理に用いられた下面画像データ75に含まれる下面特徴部を反転させて、反転後の下面特徴部(仮想バンプ部76)を画像データ73に重ねて表示装置17に表示させる。   In addition, the component mounter 1 is included in the component camera 15 that can image the lower surface of the electronic component held by the transfer device (component transfer device 13), and the lower surface image data 75 of the electronic component captured by the component camera 15. Image processing unit 32 for recognizing the holding state of the electronic component by the transfer device based on the lower surface feature (bump portion 53) of the electronic component to be held, and the holding state of the electronic component recognized as a preset control program And a control device 30 for controlling the operation of the transfer device based on the above. The display control unit 34 inverts the lower surface feature portion included in the lower surface image data 75 used for the recognition processing of the holding state of the inspection component 50 by the image processing unit 32, and the inverted lower surface feature portion (virtual bump unit 76). ) Is superimposed on the image data 73 and displayed on the display device 17.

このような構成によると、表示装置17には、基準部位および検査部品50の特徴部に加えて、当該検査部品50ごとに相違し得る下面特徴部(バンプ部53)が画像データ73に重ねて表示される。これにより、作業者は、現実に装着された検査部品50の下面特徴部(バンプ部53)を透視したかのように目視できる。よって、当該検査部品50が下面特徴部(バンプ部53)の位置に基づいて適正に装着されたか否かを判定できるので、検査部品50の装着状態の良否判定が容易となる。従って、目視検査の効率向上を図ることができる。   According to such a configuration, in addition to the reference portion and the characteristic portion of the inspection component 50, the display device 17 has a lower surface characteristic portion (bump portion 53) that can be different for each inspection component 50 superimposed on the image data 73. Is displayed. Thereby, the operator can see as if he had seen through the lower surface characteristic part (bump part 53) of the inspection component 50 actually mounted. Therefore, since it can be determined whether or not the inspection component 50 is properly mounted based on the position of the lower surface feature (bump portion 53), it is easy to determine whether or not the inspection component 50 is mounted. Therefore, the efficiency of visual inspection can be improved.

<実施形態の変形態様>
実施形態において、表示装置17に表示される画像データ71〜73の表示制御部34は、矩形状であるものとした。これに対して、表示枠80は、任意の形状に設定することが可能である。また、抽出領域71a〜73aにより表示される検査部品50は、表示枠80の大きさなどを勘案して、検査基準情報SIに設定された特徴部が収まっていれば、電子部品の一部のみが表示される態様としてもよい。
<Modification of Embodiment>
In the embodiment, the display control unit 34 of the image data 71 to 73 displayed on the display device 17 is rectangular. On the other hand, the display frame 80 can be set to an arbitrary shape. In addition, the inspection component 50 displayed by the extraction areas 71a to 73a is only a part of the electronic component if the feature set in the inspection reference information SI is accommodated in consideration of the size of the display frame 80 and the like. May be displayed.

また、実施形態において、表示枠80の中心部81に、理想部品60の中心部63を一致させて、画像データ72の抽出領域72aを表示装置17に表示させるものとした。これに対して、表示枠80の中心部81には、上記のように装着位置Mpと一致させる他に、基準部位、または特徴部と基準部位の中間地点などを一致させて、画像データを表示させるようにしてもよい。   Further, in the embodiment, the extraction area 72 a of the image data 72 is displayed on the display device 17 by matching the center part 63 of the ideal component 60 with the center part 81 of the display frame 80. On the other hand, in addition to matching with the mounting position Mp as described above, image data is displayed in the center portion 81 of the display frame 80 by matching the reference part or the middle point between the feature part and the reference part. You may make it make it.

撮像制御部33は、検査基準情報SIの寸法情報に基づいて、微細な電子部品の目視検査に対応した撮像処理を制御してもよい。具体的には、例えば基板カメラ16の可変焦点レンズを採用する場合には、当該可変焦点レンズの動作を制御して画像データにおける検査部品の面積が占める割合を増加させるように制御する。また、基板カメラ16が固定焦点レンズを採用する場合には、超解像処理に用いられる複数の画像データを取得するために、複数回に亘って検査部品50を撮像するように制御する。   The imaging control unit 33 may control imaging processing corresponding to visual inspection of fine electronic components based on the dimensional information of the inspection reference information SI. Specifically, for example, when the variable focus lens of the substrate camera 16 is employed, the operation of the variable focus lens is controlled so as to increase the ratio of the area of the inspection component in the image data. Further, when the substrate camera 16 employs a fixed focus lens, control is performed so that the inspection component 50 is imaged a plurality of times in order to obtain a plurality of image data used for the super-resolution processing.

また、表示制御部34は、画像データ71〜73を表示させる際に、種々の補助表示を行ってもよい。具体的には、理想部品60の表示や、理想部品60に対する実際の検査部品50の位置、角度のずれ量の表示、予め設定された許容誤差の表示を、画像データに重ねて行ってもよい。このような構成により、作業者による目視検査が支援され、目視検査の効率向上を図ることができる。   Further, the display control unit 34 may perform various auxiliary displays when displaying the image data 71 to 73. Specifically, the display of the ideal component 60, the actual position of the inspection component 50 with respect to the ideal component 60, the display of the angle deviation amount, and the display of the preset allowable error may be superimposed on the image data. . With such a configuration, the visual inspection by the operator is supported, and the efficiency of the visual inspection can be improved.

1:部品実装機、 2:基台
13:部品移載装置(移載装置)
22:移動台、 23:装着ヘッド、 24:吸着ノズル、
15:部品カメラ、 16:基板カメラ(カメラ)、 17:表示装置
30:制御装置
32:画像処理部、 33:撮像制御部、 34:表示制御部
SI:検査基準情報、 DI:表示情報
40:回路基板
41:位置決めマーク(基準部位)
42:周辺部品(基準部位)
43:背景領域(基準部位)、 43a:周縁部
Lr:規定距離
50:検査部品(電子部品)
51:直線状端部(特徴部)、 52:中心部
53:バンプ部(下面特徴部)
60:理想部品
61:直線状端部(特徴部)、 62:中心部
71〜73:画像データ、 71a〜73a:抽出範囲
75:下面画像データ、 76:仮想バンプ部(反転後の下面特徴部)
80:表示枠、 81:中心部、 82:横枠部
90:検査支援装置
Sp:供給位置、 Mp:装着位置
1: Component mounter, 2: Base 13: Component transfer device (transfer device)
22: moving table, 23: mounting head, 24: suction nozzle,
15: Component camera 16: Board camera (camera) 17: Display device 30: Control device 32: Image processing unit 33: Imaging control unit 34: Display control unit SI: Inspection standard information DI: Display information 40: Circuit board 41: Positioning mark (reference part)
42: Peripheral parts (reference part)
43: Background region (reference part), 43a: Peripheral portion Lr: Specified distance 50: Inspection component (electronic component)
51: Linear end portion (characteristic portion) 52: Center portion 53: Bump portion (lower surface characteristic portion)
60: Ideal part 61: Linear end part (characteristic part) 62: Center part 71-73: Image data, 71a-73a: Extraction range 75: Lower surface image data, 76: Virtual bump part (lower surface characteristic part after inversion) )
80: Display frame 81: Center portion 82: Horizontal frame portion 90: Inspection support device Sp: Supply position Mp: Mounting position

Claims (8)

供給位置に供給された電子部品を保持して回路基板上の装着位置まで当該電子部品を移載する移載装置を備える部品実装機に適用され、
前記回路基板に装着された前記電子部品を対象として行われる装着状態の目視検査を支援する検査支援装置であって、
前記回路基板を撮像可能に前記移載装置に設けられたカメラと、
前記電子部品のうち前記目視検査の対象とされる検査部品における外観上の特徴部および前記装着位置の周辺に位置する前記回路基板上の基準部位を複数種類の前記検査部品ごとに関連付けられた検査基準情報を記憶する記憶装置と、
前記部品実装機による実装処理において前記検査部品が前記回路基板に装着された場合に、前記記憶装置から読み出した前記検査基準情報において前記検査部品に設定された前記特徴部および前記基準部位に基づいて前記カメラの撮像処理を制御して、当該検査部品に対応する前記特徴部および前記基準部位が収められた画像データを取得する撮像制御部と、
前記カメラの撮像による前記画像データを、種々の表示態様のうち前記検査基準情報において前記検査部品に設定された前記特徴部および前記基準部位に応じた少なくとも一つの表示態様により表示装置に表示させる表示制御部と、
を備え
前記検査基準情報における前記基準部位には、前記装着位置に理想の姿勢で装着された前記検査部品を理想部品として、当該理想部品の周縁部から規定距離までの背景領域が含まれ、
前記検査基準情報における前記特徴部は、前記検査部品における直線状端部であり、
前記表示制御部は、前記背景領域のうち前記理想部品における前記直線状端部から規定距離に位置する直線状の周縁部を前記画像データの表示枠に一致させて前記表示装置に表示させる検査支援装置。
Applied to a component mounting machine including a transfer device that holds an electronic component supplied to a supply position and transfers the electronic component to a mounting position on a circuit board,
An inspection support apparatus for supporting visual inspection of a mounted state performed on the electronic component mounted on the circuit board,
A camera provided in the transfer device so as to be able to image the circuit board;
An inspection in which an external feature of an inspection component to be visually inspected among the electronic components and a reference site on the circuit board located around the mounting position are associated with each of a plurality of types of the inspection components. A storage device for storing reference information;
When the inspection component is mounted on the circuit board in the mounting process by the component mounter, based on the feature portion and the reference portion set in the inspection component in the inspection reference information read from the storage device An imaging control unit that controls the imaging process of the camera to acquire image data in which the characteristic part corresponding to the inspection component and the reference part are stored;
Display that causes the display device to display the image data captured by the camera in at least one display mode corresponding to the feature portion and the reference portion set in the inspection part in the inspection reference information among various display modes A control unit;
Equipped with a,
The reference part in the inspection reference information includes, as an ideal part, the inspection part mounted in an ideal posture at the mounting position, and includes a background region from a peripheral part of the ideal part to a specified distance,
The characteristic part in the inspection standard information is a linear end part in the inspection part,
The display control unit causes the display device to display on the display device a linear peripheral edge located at a specified distance from the linear edge of the ideal part in the background region, in accordance with a display frame of the image data. apparatus.
前記検査基準情報には、同一の部品種別である複数の前記検査部品にそれぞれの前記装着位置に応じた前記基準部位が設定され、
前記表示制御部は、前記検査部品に設定された前記基準部位に応じた表示態様により前記画像データを前記表示装置に表示させる、請求項1に記載の検査支援装置。
In the inspection reference information, the reference parts corresponding to the mounting positions of the plurality of inspection parts of the same part type are set,
The inspection support apparatus according to claim 1, wherein the display control unit displays the image data on the display device in a display mode corresponding to the reference part set in the inspection part.
供給位置に供給された電子部品を保持して回路基板上の装着位置まで当該電子部品を移載する移載装置を備える部品実装機に適用され、
前記回路基板に装着された前記電子部品を対象として行われる装着状態の目視検査を支援する検査支援装置であって、
前記回路基板を撮像可能に前記移載装置に設けられたカメラと、
前記電子部品のうち前記目視検査の対象とされる検査部品における外観上の特徴部および前記装着位置の周辺に位置する前記回路基板上の基準部位を前記検査部品に関連付けられた検査基準情報と、
前記部品実装機による実装処理において前記検査部品が前記回路基板に装着された場合に、前記検査基準情報に基づいて前記カメラの撮像処理を制御して、当該検査部品に対応する前記特徴部および前記基準部位が収められた画像データを取得する撮像制御部と、
前記カメラの撮像による前記画像データを表示装置に表示させる表示制御部と、
を備え、
前記検査基準情報における前記基準部位には、前記装着位置に理想の姿勢で装着された前記検査部品を理想部品として、当該理想部品の周縁部から規定距離までの背景領域が含まれ、
前記検査基準情報における前記特徴部は、前記検査部品における直線状端部であり、
前記表示制御部は、前記背景領域のうち前記理想部品における前記直線状端部から規定距離に位置する直線状の周縁部を前記画像データの表示枠に一致させて前記表示装置に表示させる検査支援装置。
Applied to a component mounting machine including a transfer device that holds an electronic component supplied to a supply position and transfers the electronic component to a mounting position on a circuit board,
An inspection support apparatus for supporting visual inspection of a mounted state performed on the electronic component mounted on the circuit board,
A camera provided in the transfer device so as to be able to image the circuit board;
Inspection standard information associated with the inspection component, a reference part on the circuit board located in the periphery of the mounting portion and the feature on the appearance of the inspection component to be subjected to the visual inspection among the electronic components,
When the inspection component is mounted on the circuit board in the mounting process by the component mounting machine, the imaging unit of the camera is controlled based on the inspection reference information, and the feature unit corresponding to the inspection component An imaging control unit for acquiring image data containing a reference part;
A display control unit that causes the display device to display the image data captured by the camera;
With
The reference part in the inspection reference information includes, as an ideal part, the inspection part mounted in an ideal posture at the mounting position, and includes a background region from a peripheral part of the ideal part to a specified distance,
The characteristic part in the inspection standard information is a linear end part in the inspection part,
The display control unit causes the display device to display on the display device a linear peripheral edge located at a specified distance from the linear edge of the ideal part in the background region, in accordance with a display frame of the image data. apparatus.
前記表示制御部は、前記理想部品の中心部を前記画像データの前記表示枠の中心部に一致させて、前記画像データを前記表示装置に表示させる、請求項1〜3の何れか一項に記載の検査支援装置。 The display controller, said central portion of the ideal components to match the center of the display frame of the image data, and displays the image data on the display device, to any one of claims 1 to 3 The inspection support apparatus described. 前記部品実装機は、
前記移載装置に保持された前記電子部品の下面を撮像可能な部品カメラと、
前記部品カメラの撮像による前記電子部品の下面画像データに含まれる前記電子部品の下面特徴部に基づいて、前記移載装置による前記電子部品の保持状態を認識する画像処理部と、
予め設定されている制御プログラムと認識された前記電子部品の保持状態とに基づいて前記移載装置の動作を制御する制御装置と、を備え、
前記表示制御部は、前記画像処理部による前記検査部品の保持状態の認識処理に用いられた前記下面画像データに含まれる前記下面特徴部を反転させて、反転後の前記下面特徴部を前記画像データに重ねて前記表示装置に表示させる、請求項1〜の何れか一項に記載の検査支援装置。
The component mounter is
A component camera capable of imaging the lower surface of the electronic component held by the transfer device;
An image processing unit for recognizing a holding state of the electronic component by the transfer device based on a lower surface feature of the electronic component included in the lower surface image data of the electronic component captured by the component camera;
A control device that controls the operation of the transfer device based on a preset control program and the recognized holding state of the electronic component,
The display control unit reverses the lower surface feature included in the lower surface image data used for the recognition processing of the holding state of the inspection component by the image processing unit, and the inverted lower surface feature is the image. over data to be displayed on the display device, inspection support apparatus according to any one of claims 1-4.
供給位置に供給された電子部品を保持して回路基板上の装着位置まで当該電子部品を移載する移載装置を備える部品実装機に適用され、
前記回路基板に装着された前記電子部品を対象として行われる装着状態の目視検査を支援する検査支援装置であって、
前記回路基板を撮像可能に前記移載装置に設けられたカメラと、
前記電子部品のうち前記目視検査の対象とされる検査部品における外観上の特徴部および前記装着位置の周辺に位置する前記回路基板上の基準部位を前記検査部品に関連付けられた検査基準情報と、
前記部品実装機による実装処理において前記検査部品が前記回路基板に装着された場合に、前記検査基準情報に基づいて前記カメラの撮像処理を制御して、当該検査部品に対応する前記特徴部および前記基準部位が収められた画像データを取得する撮像制御部と、
前記カメラの撮像による前記画像データを表示装置に表示させる表示制御部と、
を備え、
前記部品実装機は、
前記移載装置に保持された前記電子部品の下面を撮像可能な部品カメラと、
前記部品カメラの撮像による前記電子部品の下面画像データに含まれる前記電子部品の下面特徴部に基づいて、前記移載装置による前記電子部品の保持状態を認識する画像処理部と、
予め設定されている制御プログラムと認識された前記電子部品の保持状態とに基づいて前記移載装置の動作を制御する制御装置と、を備え、
前記表示制御部は、前記画像処理部による前記検査部品の保持状態の認識処理に用いられた前記下面画像データに含まれる前記下面特徴部を反転させて、反転後の前記下面特徴部を前記画像データに重ねて前記表示装置に表示させる検査支援装置。
Applied to a component mounting machine including a transfer device that holds an electronic component supplied to a supply position and transfers the electronic component to a mounting position on a circuit board,
An inspection support apparatus for supporting visual inspection of a mounted state performed on the electronic component mounted on the circuit board,
A camera provided in the transfer device so as to be able to image the circuit board;
Inspection standard information associated with the inspection component, a reference part on the circuit board located in the periphery of the mounting portion and the feature on the appearance of the inspection component to be subjected to the visual inspection among the electronic components,
When the inspection component is mounted on the circuit board in the mounting process by the component mounting machine, the imaging unit of the camera is controlled based on the inspection reference information, and the feature unit corresponding to the inspection component An imaging control unit for acquiring image data containing a reference part;
A display control unit that causes the display device to display the image data captured by the camera;
With
The component mounter is
A component camera capable of imaging the lower surface of the electronic component held by the transfer device;
An image processing unit for recognizing a holding state of the electronic component by the transfer device based on a lower surface feature of the electronic component included in the lower surface image data of the electronic component captured by the component camera;
A control device that controls the operation of the transfer device based on a preset control program and the recognized holding state of the electronic component,
The display control unit reverses the lower surface feature included in the lower surface image data used for the recognition processing of the holding state of the inspection component by the image processing unit, and the inverted lower surface feature is the image. An inspection support apparatus that displays data on the display device in a superimposed manner.
前記検査基準情報には、前記検査部品に関連付けられた当該検査部品の寸法情報が含まれ、
前記表示制御部は、前記寸法情報に基づく拡大率で前記画像データを拡大して前記表示装置に表示させる、請求項1〜の何れか一項に記載の検査支援装置。
The inspection standard information includes dimension information of the inspection part associated with the inspection part,
Wherein the display control unit enlarges the image data at a magnification based on the size information to be displayed on the display device, inspection support apparatus according to any one of claims 1-6.
前記検査基準情報における前記基準部位には、前記回路基板上に付された位置決めマーク、または前記回路基板上に配置された部品が含まれる、請求項1〜の何れか一項に記載の検査支援装置。 The inspection according to any one of claims 1 to 7 , wherein the reference portion in the inspection reference information includes a positioning mark attached to the circuit board or a component arranged on the circuit board. Support device.
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