JP2008139260A - Image display unit and method, appearance inspection device, cream solder printer - Google Patents
Image display unit and method, appearance inspection device, cream solder printer Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008139260A JP2008139260A JP2006328346A JP2006328346A JP2008139260A JP 2008139260 A JP2008139260 A JP 2008139260A JP 2006328346 A JP2006328346 A JP 2006328346A JP 2006328346 A JP2006328346 A JP 2006328346A JP 2008139260 A JP2008139260 A JP 2008139260A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- substrate
- difference
- image data
- area
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
Description
本発明は、基板上に印刷されたクリーム半田の印刷状態、基板に実装された部品の実装状態等の目視判定をするための画像を表示する画像表示装置、外観検査装置、クリーム半田印刷機、及び画像表示方法に関するものである。 The present invention relates to an image display device that displays an image for visual determination of a printed state of cream solder printed on a substrate, a mounted state of components mounted on the substrate, an appearance inspection device, a cream solder printer, And an image display method.
従来から、基板の外観検査を行う方法の一つとして、撮像手段により撮像された基板の撮像画像の画像データと、基板の状態の良否を判定するための基準となる基準画像データ(マスターデータ)とを比較してその一致度合を調べることが行われている(いわゆるパターンマッチング法)。しかしながら、このパターンマッチング法では、検査前にあらゆる不良の態様を予測し、これらの不良に対応した全ての基準画像を事前に用意しておくことが困難であるため、良品であるにもかかわらず不良品と誤って判定される場合がある。このような誤判定の対策として下記特許文献1に記載された外観検査装置では、まず自動判定手段が基板上に配された被検査対象物の状態の良否を判定し、オペレータが自動判定手段により不良と判定された被検査対象物を目視判定することにより、当該被検査対象物についての最終的な判断がなされる。表示手段は、当該被検査対象物の撮像画像と共に、記憶手段にあらかじめ記憶させておいた基準画像データに基づいて画像処理手段が作成した基準画像を同時に表示する機能を有している。
しかしながらこの外観検査装置では、オペレータが自己の観察力及び注意力により当該被検査対象物の撮像画像と基準画像とを対比して、両画像の差異を頭の中で想像しながら良否判定する必要があるため、例えばオペレータの相違によって良否判定の基準が異なるおそれがあり、また目視判定をするのに多大な時間を要するため、検査の効率を大きく低下させていた。 However, in this appearance inspection apparatus, it is necessary for the operator to compare the captured image of the object to be inspected with the reference image by his own observation and attention, and to judge pass / fail while imagining the difference between both images in his / her head. Therefore, for example, there is a possibility that the criteria for pass / fail judgment may differ depending on the operator, and it takes a lot of time to make the visual judgment, so that the efficiency of the inspection is greatly reduced.
本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、良否判定の基準を安定させると共に、検査の効率を高めることを目的とする。 The present invention has been completed on the basis of the above-described circumstances, and it is an object of the present invention to stabilize the quality determination criteria and increase the inspection efficiency.
本発明の画像表示装置は、基板を撮像する撮像手段と、基板の状態の良否を判定するための基準となる基準画像データを記憶する記憶手段と、撮像手段により撮像された基板の撮像画像の画像データと記憶手段に記憶された基準画像データとを比較して差分をとり、この差分に基づく差分画像を作成する画像処理手段と、差分画像と判定において参照可能な参照画像を同時に表示する表示手段とを備える構成としたところに特徴を有する。 An image display apparatus according to the present invention includes an imaging unit that images a substrate, a storage unit that stores reference image data serving as a reference for determining whether the state of the substrate is good, and a captured image of the substrate captured by the imaging unit. An image processing unit that compares the image data with the reference image data stored in the storage unit to obtain a difference, and creates a difference image based on the difference, and a display that simultaneously displays the difference image and a reference image that can be referred to in the determination. And a means.
このような構成によると、画像処理手段が撮像工程で得られた基板の撮像画像の画像データと記憶手段に記憶された基準画像データとの差分に基づいて差分画像を作成し、表示手段が差分画像と参照画像を同時に表示することで、基板の撮像画像と基準画像との差異を浮き彫りにすることができると共に参照画像を参照して判定することができる。したがって、オペレータによる良否判定の基準を安定させることができると共に、検査の効率を高めることができる。 According to such a configuration, the image processing unit creates a difference image based on the difference between the image data of the captured image of the substrate obtained in the imaging step and the reference image data stored in the storage unit, and the display unit performs the difference. By displaying the image and the reference image at the same time, the difference between the captured image of the substrate and the reference image can be highlighted and determined with reference to the reference image. Therefore, it is possible to stabilize the criteria for the quality determination by the operator and increase the efficiency of the inspection.
本発明の実施態様として、次の構成が好ましい。
画像処理手段は基準画像データに基づいて基準画像を作成し、表示手段は参照画像として基準画像を表示する機能を有する構成としてもよい。このような構成によると、差分画像と基準画像との対比が可能となり、差分画像のみで判定するよりも良否判定がしやすくなる。
The following configuration is preferable as an embodiment of the present invention.
The image processing unit may create a standard image based on the standard image data, and the display unit may have a function of displaying the standard image as a reference image. According to such a configuration, it is possible to compare the difference image with the reference image, and it is easier to make a quality determination than to make a determination using only the difference image.
表示手段は参照画像として基板の撮像画像を表示する機能を有する構成としてもよい。このような構成によると、差分画像だけでなく基板の撮像画像も参考にできるので、差分画像のみで判定するよりも適切な良否判定がしやすくなる。 The display means may have a function of displaying a captured image of the substrate as a reference image. According to such a configuration, not only the difference image but also the captured image of the substrate can be referred to, so that it is easier to make an appropriate quality determination than the determination based on the difference image alone.
記憶手段は基板の正規の状態を示す標準画像データを記憶可能であって、画像処理手段は標準画像データに基づいて標準画像を作成し、表示手段は参照画像として標準画像を表示する機能を有する構成としてもよい。このような構成によると、差分画像と標準画像との対比が可能となり、差分画像のみで判定するよりも良否判定がしやすくなる。 The storage means can store standard image data indicating the normal state of the substrate, the image processing means creates a standard image based on the standard image data, and the display means has a function of displaying the standard image as a reference image. It is good also as a structure. According to such a configuration, it is possible to compare the difference image and the standard image, and it is easier to make a quality determination than to make a determination using only the difference image.
記憶手段は複数種の基準画像データを記憶可能であって、画像処理手段は複数種の基準画像データから選択された一の基準画像データに基づいて差分画像を作成する機能を有する構成としてもよい。このような構成によると、良否判定をするのに適した基準画像データを選択することができる。また、このようにして作成した差分画像と共に複数の基準画像を表示手段に同時に表示させることもできる。 The storage unit may store a plurality of types of reference image data, and the image processing unit may have a function of creating a difference image based on one reference image data selected from the plurality of types of reference image data. . According to such a configuration, it is possible to select reference image data suitable for quality determination. In addition, a plurality of reference images can be simultaneously displayed on the display unit together with the difference image thus created.
記憶手段は基板の正規の状態を示す標準画像データを記憶可能であって、画像処理手段は標準画像データを基準画像データとして差分画像を作成し、表示手段はその差分画像を表示する機能を有する構成としてもよい。このような構成によると、基板の撮像画像と標準画像との差異を浮き彫りにすることができる。 The storage means can store standard image data indicating the normal state of the substrate, the image processing means creates a difference image using the standard image data as reference image data, and the display means has a function of displaying the difference image. It is good also as a structure. According to such a configuration, the difference between the captured image of the substrate and the standard image can be highlighted.
基板の撮像画像の画像データと基準画像データとを比較してその一致度合いを調べることにより基板上に配された被検査対象物の状態の良否を判定する自動判定手段と、上記画像表示装置とを備え、画像処理手段は自動判定手段により不良と判定された被検査対象物についての差分画像を作成する機能を有する外観検査装置を構成してもよい。このような外観検査装置によると、全ての被検査対象物を目視判定する必要がなくなり、自動判定手段により不良と判定された被検査対象物のみを目視判定することができる。したがって、全数目視判定するよりも検査の効率を大幅に高めることができる。 Automatic determination means for comparing the image data of the captured image of the substrate with the reference image data and examining the degree of coincidence to determine the quality of the state of the object to be inspected, and the image display device; And the image processing means may constitute an appearance inspection apparatus having a function of creating a difference image for an object to be inspected determined to be defective by the automatic determination means. According to such an appearance inspection apparatus, it is not necessary to visually determine all the objects to be inspected, and only the objects to be inspected determined to be defective by the automatic determination means can be visually determined. Therefore, the efficiency of the inspection can be greatly increased as compared with the case where the total number is visually determined.
基板上の所定の位置にクリーム半田を印刷する印刷手段と、印刷手段によって基板上に印刷されたクリーム半田の印刷状態を目視判定するための補助となる画像を表示する上記画像表示装置とを備えたクリーム半田印刷機を構成してもよく、或いは、基板上の所定の位置にクリーム半田を印刷する印刷手段と、印刷手段によって基板上に印刷されたクリーム半田の印刷状態を検査する上記外観検査装置とを備えたクリーム半田印刷機を構成してもよい。このようなクリーム半田印刷機によると、クリーム半田を基板上に印刷した後にクリーム半田の印刷状態を検査して良否判定を行うことができる。 Printing means for printing cream solder at a predetermined position on the substrate, and the image display device for displaying an image to assist in visually determining the printing state of the cream solder printed on the substrate by the printing means. A cream solder printing machine may be configured, or a printing means for printing cream solder at a predetermined position on the substrate, and the appearance inspection for inspecting the printing state of the cream solder printed on the substrate by the printing means. You may comprise the cream solder printing machine provided with the apparatus. According to such a cream solder printing machine, after the cream solder is printed on the substrate, it is possible to make a pass / fail judgment by inspecting the printing state of the cream solder.
本発明によれば、判定基準を安定させると共に効率よく目視判定を行うことができる。 According to the present invention, determination criteria can be stabilized and visual determination can be performed efficiently.
<実施形態1>
図1および図2は、本発明の一実施形態にかかる基板の外観検査装置1を概略的に示している。これらの図に示すように、外観検査装置1は、全体が箱形を成し、その後方側を構成する後側部分2Aと、この後側部分2Aの前端下部から前方に延びる前側部分2Bとを具備した側面視A字型の外観形状を有している。このような外観検査装置1の外形は、後述する検査ユニット50等の内部部品を覆うケーシングCaにより形成されている。
<
1 and 2 schematically show a substrate
この外観検査装置1のうち上記前側部分2Bには、プリント基板Pを装置内に出し入れするための出し入れ口6が設けられている。この出し入れ口6は、ケーシングCaに形成される開口部からなり、外観検査装置1の幅方向中央(図2では左右方向における中央)に設けられている。
In the
上記出し入れ口6の上方であって後側部分2Aの前面部分には、液晶モニタ4(本発明の「表示手段」に相当する。)が配置されている。この液晶モニタ4は、いわゆるタッチパネル型液晶表示器からなり、検査結果等の各種情報がこの液晶モニタ4上に表示されると共に、モニタ表示にオペレータが指先で触れることにより外観検査装置1に対して各種操作入力を行えるようになっている。
A liquid crystal monitor 4 (corresponding to “display means” of the present invention) is disposed above the loading /
上記前側部分2Bのうち液晶モニタ4に並ぶ部分にはメンテナンス用の扉9が設けられている。この扉9は、上記ケーシングCaの一部が開閉可能に構成されたもので、必要に応じてこの扉9を開くことによりオペレータが外観検査装置1の内部にアクセスして後述するチェックペン56の交換等を行えるようになっている。また、上記ケーシングCaのうち上面カバーCa1は取り外し可能とされており、この上面カバーCa1を取り外した状態で後述する撮像ユニット51のメンテナンス等を行えるようになっている。
A
図1に示すように、上記ケーシングCaには、その後側部分2Aの左右両側部に、凹部からなる取手部3が設けられており、この取手部3を手に掛けた状態で外観検査装置1を持ち運べるようになっている。なお、図1および図2において符号8は非常停止用ボタンである。
As shown in FIG. 1, the casing Ca is provided with
図3および図4は、外観検査装置1の具体的な内部構成を示すための図である。本図に示すように、外観検査装置1の内部にはベースフレーム10が設けられており、このベースフレーム10には、プリント基板Pを保持してこれを移動させる基板保持機構24と、この基板保持機構24に保持された基板Pを撮像するための検査ユニット50等が組み付けられている。
3 and 4 are diagrams for illustrating a specific internal configuration of the
上記ベースフレーム10は、前方側(液晶モニタ4が設置されている側)に至るほど高さが低くなる前下がりの傾斜面12aを有した基台部12と、この基台部12の左右両端からそれぞれ立ち上がる側壁部14とを一体に備えた構造を有しており、例えばアルミダイカスト等の鋳造品により構成されている。
The
上記基板保持機構24は、上記基台部12の傾斜面12a上に固定され、当該斜面12aに沿ってスライダ22を前後方向(以下、この方向をY軸方向という)に移動させるリニアモータ式の単軸ロボット20と、上記スライダ22に固定されるテーブル30とから構成されている。
The
上記テーブル30は、プリント基板Pを保持するもので、上記単軸ロボット20の作動に応じて、上記出し入れ口6に対向するホームポジション(図3の実線で示す位置)と、後述する撮像ユニット51に対向する検査ポジション(図3の二点鎖線で示す位置)とに亘ってY軸方向に移動可能に構成されている。そして、上記ホームポジションにおいてテーブル30に対するプリント基板Pの着脱が行われると共に、そこから検査ポジションまでテーブル30が移動した状態で、撮像ユニット51によるプリント基板Pの撮像が行われるようになっている。
The table 30 holds the printed circuit board P, and in response to the operation of the single-
このテーブル30は、上記スライダ22の上面部に固定されたプレート32と、このプレート32に組み付けられて左右方向に延びる前後一対の基板保持フレーム36,38(以下、前側フレーム36,後側フレーム38ということがある)とを有しており、これらフレーム36,38の間にプリント基板Pが挟持されるようになっている。具体的には、両フレーム36,38のうちの後側フレーム38に、Y軸方向に変位可能でかつ圧縮コイルバネ等の弾性部材により前方側に付勢される可動部39が設けられ、この可動部39と前側フレーム36との対向する部分に、それぞれ階段状の基板受部が形成されている。そして、これら基板受部にプリント基板Pの前後縁部を載せ、当該基板Pを前側フレーム36と可動部39との間に嵌め込むと(図3参照)、圧縮コイルバネ等の弾性力により基板Pが両フレーム36,38の間に弾性的に挟み込まれ、これに応じてプリント基板Pが前側フレーム36を基準としてY軸方向に位置決めされた状態でテーブル30に保持されるようになっている。また、前側フレーム36の左右方向の一端側には、位置決めプレート36aが設けられており、このプレート36aにプリント基板Pの一端(左右方向の一端)が当接することにより、当該基板Pが左右方向(以下、X軸方向という)に位置決めされるようになっている。
The table 30 includes a
なお、上記前側および後側フレーム36,38の間隔は基板サイズに応じて可変となっている。
The distance between the front and
上記検査ユニット50は、スライダ42をX軸方向に移動させる単軸ロボット40と、この単軸ロボット40に上記スライダ42を介して組み付けられる撮像ユニット51とを備えている。
The
上記単軸ロボット40は、テーブル30駆動用の上記単軸ロボット20と同様に、リニアモータ式の単軸ロボットからなり、上記両側壁部14に亘って横架された状態でベースフレーム10に固定されている。
The single-
上記撮像ユニット51は、CCDあるいはCMOSイメージセンサ等のエリアセンサからなるカメラ52(本発明の「撮像手段」に相当する。)と、被写体であるプリント基板Pに照明光を照射する照明装置54とを備えており、上記テーブル30に保持されたプリント基板Pを、その表面に対して直交する方向からカメラ52が撮像するように構成されている。この撮像ユニット51は、上記スライダ42のX軸方向の移動に伴い、基板保持機構24の単軸ロボット20上方にあたる撮像位置や、図4において二点鎖線および実線で示す位置に移動可能とされている。そして、撮像ユニット51は、通常時において上記撮像位置に保持されていると共に、後述するようなマーキングユニット55の交換時等に図4の二点鎖線で示す位置に移動したり、上面カバーCa1を取り外しての撮像ユニット51のメンテナンス時等に図4の実線で示す位置に移動したりする。
The
上記検査ユニット50には、検査結果等に応じてプリント基板Pに所定のマークを記入するマーキングユニット55が取り付けられている。このマーキングユニット55は、マークを記入するためのチェックペン56と、このチェックペン56を進退駆動する駆動機構とから構成されており、この駆動機構の作動に応じて、上記チェックペン56が、テーブル30に保持されたプリント基板Pに当接する作業位置(図3において二点鎖線で示す位置)と、この位置から上方に退避する退避位置(図3において実線で示す位置)とに亘って進退移動するようになっている。
The
また、図3に示すように、上記基板保持機構24の設置部の上方であってかつ上記検査ユニット50の後方側のスペースには、検査ユニット50における上記単軸ロボット40の駆動制御を行うドライバ66が配置されている。一方、上記ベースフレーム10における基台部12の内部には、外観検査装置1を統括的に制御するコントロールユニット(本発明の「画像処理手段」及び「自動判定手段」に相当する。)60や、上記基板保持機構24の単軸ロボット20用のドライバ62等が配設されている。
Further, as shown in FIG. 3, a driver that controls the driving of the single-
上記コントロールユニット60は、論理演算を実行するCPU、そのCPUを制御する種々のプログラムなどを記憶するROM、装置動作中に種々のデータを一時的に記憶するRAM、各種データやソフトを記憶するHDD等から構成されている。そして、図5のブロック図に示すように、このコントロールユニット60には、基板保持機構24及び検査ユニット50用の各単軸ロボット20,40、撮像ユニット51(カメラ52および照明装置54)、マーキングユニット55、及び液晶モニタ4、その他図外の各種センサ類等が電気的に接続されている。なお、このうち単軸ロボット20,40は、上記ドライバ62,66を介してそれぞれコントロールユニット60に接続されている。そして、コントロールユニット60は、予め記憶された動作プログラムに従ってプリント基板Pに対する一連の検査作業を進めるべく、上記単軸ロボット20,40や撮像ユニット51等の
動作を統括的に制御すると共に、上記カメラ52により撮像された画像に基づいてプリント基板Pの良否を判定したり、その判定結果に応じて上記液晶モニタ4の表示内容を制御したりする等の動作を行うように構成されている。
The
このようにして構成された外観検査装置1では、コントロールユニット60によりプリント基板Pの外観検査が行われた後に、コントロールユニット60により不良と判定された部分の撮像画像が液晶モニタ4に表示されてオペレータによる目視判定が行われる。液晶モニタ4に表示された不良部分には、当該不良画像と基準画像との差分画像が表示される。本実施形態における基準画像の画像データである基準画像データは、6種類の限度画像データから構成されており、コントロールユニット60により基準画像データに基づいた基準画像が作成される。具体的には、上記6種類の限度画像データに基づく6種類の限度画像は、右側ずれ限度画像と、左側ずれ限度画像と、上側ずれ限度画像と、下側ずれ限度画像と、面積大限度画像と、面積小限度画像とからなる。
In the
ずれ限度画像とは、被検査対象物がプリント基板P上の正規の位置に対してずれて配置されていることにより不良と判定される直前の良品状態を表す画像であって、例えば右側ずれ限度画像とは、被検査対象物がプリント基板P上の正規の位置に対して右側に位置ずれして配置された場合におけるずれ限度画像をいう。また、面積大限度画像とは、被検査対象物の面積がプリント基板P上の所定の面積より大きいために不良と判定される直前の良品状態を表す画像であり、面積小限度画像とは、被検査対象物の面積がプリント基板P上の所定の面積より小さいために不良と判定される直前の良品状態を表す画像である。 The deviation limit image is an image representing a non-defective state immediately before it is determined to be defective because the object to be inspected is displaced from the regular position on the printed circuit board P. The image refers to a deviation limit image in a case where the object to be inspected is arranged on the right side with respect to a normal position on the printed circuit board P. Further, the area large limit image is an image representing a non-defective product state immediately before being determined to be defective because the area of the object to be inspected is larger than a predetermined area on the printed circuit board P, and the area small limit image is It is an image showing a non-defective product state immediately before being determined to be defective because the area of the inspection object is smaller than a predetermined area on the printed circuit board P.
ここで、目視判定における差分画像の作成方法について説明する。カメラ52によりプリント基板Pの被検査面が撮像されると、コントロールユニット60は、まず、プリント基板Pの撮像画像の画像データを、プリント基板Pの状態の良否を判定するための基準となる基準画像データと比較する処理を行う。具体的には、コントロールユニット60は、その内部に設けられた記憶部(本発明の「記憶手段」に相当する。)61(図5)に上記基準画像データを記憶しており、この基準画像データを、カメラ52によって撮像されたプリント基板Pの撮像画像の画像データと比較して差分をとり、この差分に基づく差分画像を作成する。なお、差分画像の作成は、例えばプリント基板Pの被実装面の複数個所に離間して設けられた位置合わせ用のフィデューシャルマークを、プリント基板Pの撮像画像の画像データと基準画像データとの間で一致させ、それによって両画像を位置合わせした状態で実行される。
Here, a method of creating a difference image in visual determination will be described. When the inspection surface of the printed circuit board P is imaged by the
<液晶モニタ4での表示態様>
次に、液晶モニタ4に表示される上記差分画像と目視判定において参照可能な参照画像を同時に表示する具体的な表示方法について説明する。図6ないし図9は、液晶モニタ4の表示画面を表したものであって、それぞれ代表的な4つの表示パターンを示している。差分画像の差分領域D1,D2は、その他の領域とは異なる色に着色表示されており、差分領域D1,D2と差分領域D1,D2以外の領域とが明確に区別可能である。なお、液晶モニタ4の表示画面は、上下左右にそれぞれ2分割することにより、4つの領域に分割されており、以下においてはプリント基板P上に形成された方形の端子部(ランド)Tに対してクリーム半田(以下、単に半田という。)Sがずれた状態で印刷された位置ずれ不良を例として説明する。
<Display mode on the liquid crystal monitor 4>
Next, a specific display method for simultaneously displaying the difference image displayed on the
表示パターン1(図6)は、左上の領域に上記参照画像の一つとして標準画像(プリント基板Pの正規の状態、すなわち半田Sがプリント基板P上の理想的な印刷位置に印刷された状態の画像)を表示し、右上の領域に差分画像及びプリント基板Pの撮像画像を重ねて表示したものである。プリント基板Pの撮像画像と標準画像との差分に基づく差分画像の差分領域D1は、プリント基板Pの撮像画像における半田Sの表示領域のうち左辺部から上辺部に亘る領域に表示されている。 The display pattern 1 (FIG. 6) is a standard image (a normal state of the printed circuit board P, that is, a state where the solder S is printed at an ideal printing position on the printed circuit board P as one of the reference images in the upper left area. The difference image and the captured image of the printed circuit board P are superimposed and displayed in the upper right area. The difference area D1 of the difference image based on the difference between the captured image of the printed circuit board P and the standard image is displayed in an area extending from the left side to the upper side in the display area of the solder S in the captured image of the printed circuit board P.
表示パターン2(図7)は、左上の領域に上記参照画像の一つとして左側ずれ限度画像(半田Sがプリント基板P上の所定の印刷位置に対して左側にずれて印刷された場合における良品限度を示す画像)を表示し、右上の領域に差分画像及びプリント基板Pの撮像画像を重ねて表示したものである。プリント基板Pの撮像画像と左側ずれ限度画像との差分に基づく差分画像の差分領域D2は、プリント基板Pの撮像画像における半田Sの表示領域のうち左辺部から上辺部に亘る領域に表示されている。差分領域D2の左辺部の面積は、図6に示した差分領域D1の左辺部の面積よりも小さくなる。 The display pattern 2 (FIG. 7) is a left-side deviation limit image (a non-defective product when the solder S is shifted to the left side with respect to a predetermined printing position on the printed circuit board P as one of the reference images in the upper left area. The image showing the limit) is displayed, and the difference image and the captured image of the printed circuit board P are superimposed and displayed in the upper right area. The difference area D2 of the difference image based on the difference between the captured image of the printed board P and the left-side deviation limit image is displayed in an area extending from the left side to the upper side in the display area of the solder S in the captured image of the printed board P. Yes. The area of the left side part of the difference area D2 is smaller than the area of the left side part of the difference area D1 shown in FIG.
表示パターン3(図8)は、左上の領域に上記参照画像の一つとして左側ずれ限度画像を表示し、右上の領域に差分画像(差分領域D2)及びプリント基板Pの撮像画像を重ねて表示し、左下の領域に標準画像を表示し、右下の領域に差分画像(差分領域D1)及びプリント基板Pの撮像画像を重ねて表示したものである。 Display pattern 3 (FIG. 8) displays a left-side deviation limit image as one of the reference images in the upper left area, and displays a difference image (difference area D2) and a captured image of printed circuit board P in the upper right area. The standard image is displayed in the lower left area, and the difference image (difference area D1) and the captured image of the printed circuit board P are displayed in the lower right area.
表示パターン4(図9)は、左上の領域に上記参照画像の一つとして左側ずれ限度画像を表示し、右上の領域に差分画像(差分領域D2)及びプリント基板Pの撮像画像を重ねて表示し、左下の領域に上記参照画像の一つとして標準画像を表示したものである。上記した4つの表示パターンの中から、オペレータの判断により、上記表示パターン1〜4のうち目視判定に適したものを適宜選択することができる。なお、上記表示パターン1ないし4において、差分画像(差分領域D2)及び左側ずれ限度画像を重ねて表示したもの、あるいは、差分画像(差分領域D1)及び標準画像を重ねて表示したものを、上記参照画像の一つとして表示することもできる。
Display pattern 4 (FIG. 9) displays a left-side deviation limit image as one of the reference images in the upper left area, and displays a difference image (difference area D2) and a captured image of printed circuit board P in the upper right area. A standard image is displayed as one of the reference images in the lower left area. Of the four display patterns described above, an operator can appropriately select one of the
<限度画像の作成手順>
次に、画像処理手段による位置ずれ不良(上下左右の4種類)と面積大/小不良(大小の2種類)に対応する6種類の限度画像を作成する手順について図10をもとに説明する。なお、位置ずれ不良とは、プリント基板P上の所定の印刷位置からずれた位置に半田Sが印刷された不良をいう。また、面積大/小不良は面積大不良及び面積小不良の略称であって、面積大不良とは、プリント基板P上に印刷された半田Sの面積が所定の面積より大きく印刷された不良をいい、面積小不良とは、プリント基板P上に印刷された半田Sの面積が所定の面積より小さく印刷された不良をいう。
<Creation procedure of limit image>
Next, a procedure for creating six types of limit images corresponding to misalignment defects (four types, top and bottom, left and right) and large / small area defects (two types, large and small) by the image processing means will be described with reference to FIG. . The misalignment defect is a defect in which the solder S is printed at a position deviated from a predetermined printing position on the printed circuit board P. Further, the large area / small defect is an abbreviation for large area defect and small area defect. The large area defect is a defect in which the area of the solder S printed on the printed circuit board P is larger than a predetermined area. The small area defect means a defect in which the area of the solder S printed on the printed circuit board P is printed smaller than a predetermined area.
まず、撮像手段(以下、カメラ52という。)により被検査対象物(以下、半田S1という。)が正規の位置に配された基板(以下、半田印刷済み基板P2という。)を撮像し、図11上図に示すように、半田印刷済み基板P2の撮像画像を取得する(S101)。半田印刷済み基板P2の撮像画像の画像データから半田S1領域画像の画像データを抽出し(S102)、図11下図に示すように、半田S1領域画像の画像データに基づいて半田S1領域画像を作成する。次に、半田S1を印刷していない基板(以下、生基板という。)P1をカメラ52により撮像し、生基板P1の撮像画像を取得する(S103)。
First, a substrate (hereinafter referred to as a solder-printed substrate P2) on which an object to be inspected (hereinafter referred to as a solder S1) is arranged at a normal position is imaged by an imaging means (hereinafter referred to as a camera 52). 11 As shown in the upper diagram, a captured image of the solder printed substrate P2 is acquired (S101). Image data of the solder S1 area image is extracted from the image data of the captured image of the solder printed board P2 (S102), and a solder S1 area image is created based on the image data of the solder S1 area image as shown in the lower diagram of FIG. To do. Next, a substrate 52 (hereinafter referred to as a raw substrate) P1 on which the solder S1 is not printed is picked up by the
そして、オペレータが正規の印刷位置に対する所定のずれ許容量(以下、位置限度上下左右規定値という。)をテンキー等の入力手段により入力し(S104)、入力された位置限度上下左右規定値を記憶手段(以下、記憶部61という。)に記憶させる。すると、記憶部61に記憶された位置限度上下左右規定値に基づいて半田S1領域画像の画像データが所定方向(上下左右方向)に移動され、半田S1領域画像の限度画像データが作成される(S105)。そして、半田領域S1画像の限度画像データと生基板P1の撮像画像の画像データとを合成することにより、限度画像データ(以下、位置ずれ限度画像データという。)L1が作成され(S106)、この位置ずれ限度画像データL1に基づいて位置ずれ限度画像が作成される。このようにして、図12上図に示す右側ずれ限度画像、図12下図に示す左側ずれ限度画像、図13上図に示す上側ずれ限度画像、及び図13下図に示す下側ずれ限度画像が作成される。
Then, the operator inputs a predetermined deviation allowable amount (hereinafter referred to as a position limit up / down / left / right specified value) with respect to the normal printing position by an input means such as a numeric keypad (S104), and stores the input position limit up / down / left / right specified value. The information is stored in the means (hereinafter referred to as the storage unit 61). Then, the image data of the solder S1 area image is moved in a predetermined direction (up, down, left and right directions) based on the position limit vertical and horizontal specified values stored in the
また、正規の印刷面積に対する所定の変動比率(以下、面積限度上下規定値という。)をオペレータがテンキー等の入力手段により入力し(S107)、入力された面積限度上下規定値を記憶部61に記憶させる。すると、記憶部61に記憶された面積限度上下規定値に基づいて半田S1領域画像の画像データが拡大あるいは縮小されることにより、半田S1領域画像の限度画像データが作成される(S108)。そして、半田S1領域画像の限度画像データと生基板P1の撮像画像の画像データとを合成することにより、面積大/小限度画像データL2が作成され(S109)、この面積大/小限度画像データL2に基づいて面積大/小限度画像が作成される。このようにして、図16に示す面積大限度画像及び図16下図に示す面積小限度画像が作成される。
In addition, the operator inputs a predetermined variation ratio (hereinafter referred to as an area limit upper / lower specified value) with respect to the normal printing area by an input means such as a numeric keypad (S107), and the input area limit upper / lower specified value is stored in the
上述の各種限度画像を作成するための画像作成ソフトウエアとしては、被検査対象物が配された基板及び被検査対象物が配されていない基板を撮像手段により撮像する撮像工程と、入力手段により入力された所定値を記憶する記憶工程と、前記撮像工程で得られた被検査対象物が配された基板の撮像画像の画像データと前記撮像工程で得られた被検査対象物が配されていない基板の撮像画像の画像データとを比較して差分をとることにより前記被検査対象物の画像データを抽出する抽出工程と、この抽出工程で得られた前記被検査対象物の画像データを前記記憶工程で記憶された所定値に基づいて変動させることにより前記被検査対象物の変動画像データを作成する変動工程と、この変動工程で得られた被検査対象物の変動画像データと前記被検査対象物が配されていない基板の撮像画像の画像データとを合成して限度画像データを作成する合成工程と、この合成工程で得られた限度画像データに基づいて画像処理手段により限度画像を作成する画像作成工程とを備えた構成が可能である。 As the image creation software for creating the various limit images described above, an imaging process for imaging a substrate on which an object to be inspected is arranged and a substrate on which an object to be inspected is not arranged by an imaging means, and an input means A storage step for storing the input predetermined value, image data of a captured image of a substrate on which the inspection target obtained in the imaging step is arranged, and an inspection target obtained in the imaging step are arranged An extraction step of extracting the image data of the inspection target object by comparing the image data of the captured image of the non-substrate and taking the difference, and the image data of the inspection target object obtained in this extraction step A variation step of creating variation image data of the inspection object by varying based on the predetermined value stored in the storage step, the variation image data of the inspection object obtained in the variation step, and the A synthesis process for creating limit image data by synthesizing image data of a captured image of a substrate on which an inspection object is not arranged, and a limit image is generated by an image processing unit based on the limit image data obtained in the synthesis process. A configuration including an image creation process to be created is possible.
<検査時の画像表示操作>
次に、以上のように構成された外観検査装置1におけるコントロールユニット60の制御動作を、図17に示すフローチャートに基づいて説明する。ホームポジションにあるテーブル30(図3の実線参照)にプリント基板Pが出し入れ口6を通じてセットされ、かつ液晶モニタ4がタッチ操作されてそのメニュー画面から「検査開始」が選択されると(S201)、単軸ロボット20を作動させてテーブル30をY軸方向に移動させ、これに応じてプリント基板Pを図3の二点鎖線で示す検査ポジションに移動させる(S202)。この後、単軸ロボット40を作動させて上記検査ポジションにあるプリント基板Pの上方に撮像ユニット51を位置決めすると共に、照明装置54に照明光を照射させてプリント基板Pを照らし、その状態でカメラ52に制御信号を出力してプリント基板Pの撮像を行わせ、プリント基板Pの撮像画像を取得する(S203)。
<Image display operation during inspection>
Next, the control operation of the
そして、コントロールユニット60は、その記憶部61から限度画像データを読み出すと共に、この基準画像データとプリント基板Pの撮像画像とを比較して差分をとることにより、差分要素の面積sを算出する。そして、この面積sが、記憶部61に記憶された上限差分面積A以下であるか否かを判定する。面積sが上限面積A以下の場合には、不良発生がないものと判定し(S204)、テーブル30を検査ポジションからホームポジションへ移動させる。この後、液晶モニタ4に「検査終了」と「検査開始」とを表示させる。「検査終了」が選択されると(S205)、検査を終了する(S206)。また、「検査開始」が選択されると(S205)、S202に移行して次の検査を行う。
Then, the
一方、面積sが上限面積Aより大きい場合には、不良発生があったものと判定し(S204)、発生した不良が面積大/小不良か否かを判定する。面積大/小不良である場合には(S207)、面積大/小不良限度画像データを記憶部61から読み出し(S208)、面積大/小限度画像データとプリント基板Pの撮像画像の画像データとを比較して差分をとり、その差分に基づく差分画像を作成する(S209)。この差分画像を液晶モニタ4に表示させ、オペレータによる目視判定が行われる。これと共に、液晶モニタ4に「判定NG」と「判定OK」とを表示させる。目視判定の結果、不良であることが確認され、「判定NG」が選択されると(S210)、当該不良が発生した部分の位置データを記憶部61に記憶させ(S211)、テーブル30を検査ポジションからホームポジションへ移動させ、S205へ移行して検査が終了したか否かの判断を行う。
On the other hand, when the area s is larger than the upper limit area A, it is determined that a defect has occurred (S204), and it is determined whether the generated defect is a large / small area defect. If the area is large / small defective (S207), the large / small defect limit image data is read from the storage unit 61 (S208), and the large / small limit image data and the image data of the captured image of the printed circuit board P are read out. Are compared and a difference image based on the difference is created (S209). This difference image is displayed on the
また、オペレータによる目視判定の結果、不良でないことが確認され、「判定OK」が選択されると(S210)、テーブル30を検査ポジションからホームポジションへ移動させ、S205へ移行して検査が終了したか否かの判断を行う。 Further, as a result of the visual determination by the operator, it is confirmed that it is not defective, and when “determination OK” is selected (S210), the table 30 is moved from the inspection position to the home position, the process proceeds to S205, and the inspection is completed. Judge whether or not.
一方、発生した不良が面積大/小不良でないと判定すると(S207)、その不良が位置ずれ不良か否かを判定する。位置ずれ不良であると判定すると(S212)、位置ずれ不良限度画像データを記憶部61から読み出し(S213)、位置ずれ不良限度画像データとプリント基板Pの撮像画像の画像データとを比較して差分をとり、その差分に基づく差分画像を作成する(S214)。この差分画像を液晶モニタ4に表示させ、オペレータによる目視判定が行われる。これと共に、液晶モニタ4に「判定NG」と「判定OK」とを表示させる。目視判定の結果、不良であることが確認され、「判定NG」が選択されると(S215)、当該不良が発生した部分の位置データを記憶部61に記憶させ(S216)、テーブル30を検査ポジションからホームポジションへ移動させ、S205へ移行して検査が終了したか否かの判断を行う。
On the other hand, if it is determined that the generated defect is not a large / small area defect (S207), it is determined whether the defect is a misalignment defect. If it is determined that there is a misalignment (S212), the misalignment limit image data is read from the storage unit 61 (S213), and the misalignment limit image data is compared with the image data of the captured image of the printed circuit board P. And a difference image based on the difference is created (S214). This difference image is displayed on the
また、オペレータによる目視判定の結果、不良でないことが確認され、「判定OK」が選択されると(S215)、テーブル30を検査ポジションからホームポジションへ移動させ、S205へ移行して検査が終了したか否かの判断を行う。 Further, as a result of the visual determination by the operator, it is confirmed that there is no defect, and when “determination OK” is selected (S215), the table 30 is moved from the inspection position to the home position, the process proceeds to S205, and the inspection is completed. Judge whether or not.
以上のように本実施形態では以下に示す効果を奏することができる。
1.カメラ52によって撮像されたプリント基板Pの撮像画像と限度画像との差分画像を液晶モニタ4に表示し、しかもこのときに参照画像の一つとして限度画像を同時に表示することで、プリント基板Pの撮像画像と限度画像との差異を浮き彫りにすることができる。したがって、良否判定の基準を安定させることができると共に、オペレータの目視判定による検査の効率を向上させることができる。
As described above, this embodiment can provide the following effects.
1. The difference image between the captured image of the printed circuit board P captured by the
2.差分画像データとプリント基板Pの撮像画像データとを位置決めした状態で合成し、これらを重ねて表示することにより、プリント基板Pに特有の事情を考慮した上で良否判定をすることができる。例えば、プリント基板P上に複数の端子部Tが近接して配置され、端子部Tの並び方向に位置ずれが発生したときには隣接する端子部Tまでの距離が短いために不良と判定される場合であっても、端子部Tの並び方向と交差する方向に位置ずれが発生したときには、たとえ差分画像の面積が同じであっても不良と判定されない場合がある。 2. The difference image data and the imaged image data of the printed circuit board P are combined in a positioned state, and these are displayed in an overlapping manner, whereby it is possible to make a pass / fail judgment in consideration of circumstances peculiar to the printed circuit board P. For example, when a plurality of terminal portions T are arranged close to each other on the printed circuit board P, and a positional shift occurs in the arrangement direction of the terminal portions T, the distance to the adjacent terminal portions T is short, so that it is determined as defective. Even when the positional deviation occurs in the direction intersecting with the arrangement direction of the terminal portions T, it may not be determined to be defective even if the area of the difference image is the same.
3.参照画像の一つとしての標準画像と、標準画像に基づく差分画像及びプリント基板Pの撮像画像を合成した画像との対比が可能である(表示パターン1)。
4.参照画像の一つとしての限度画像と、限度画像に基づく差分画像及びプリント基板Pの撮像画像を合成した画像との対比が可能である(表示パターン2)。
5.参照画像の一つとしての限度画像と、限度画像に基づく差分画像及びプリント基板Pの撮像画像を合成した画像と、参照画像の一つとしての標準画像と、標準画像に基づく差分画像及びプリント基板Pの撮像画像を合成した画像との対比が可能である(表示パターン3)。
6.参照画像の一つとしての限度画像と、限度画像に基づく差分画像及びプリント基板Pの撮像画像を合成した画像と、参照画像としての標準画像との対比が可能である(表示パターン4)。
3. A standard image as one of the reference images can be compared with an image obtained by combining a difference image based on the standard image and a captured image of the printed circuit board P (display pattern 1).
4). It is possible to compare the limit image as one of the reference images with an image obtained by combining the difference image based on the limit image and the captured image of the printed circuit board P (display pattern 2).
5. A limit image as one of the reference images, an image obtained by combining the difference image based on the limit image and the captured image of the printed circuit board P, a standard image as one of the reference images, and a difference image and the printed circuit board based on the standard image Comparison with an image obtained by combining P captured images is possible (display pattern 3).
6). A limit image as one of the reference images, an image obtained by combining a difference image based on the limit image and a captured image of the printed circuit board P, and a standard image as a reference image can be compared (display pattern 4).
7.不良内容に応じた6種類の限度画像の中から差分画像を作成するのに適した限度画像を適宜選択することができる。
8.自動判定工程で不良と判定された部分についてのみ目視判定することで、全数目視判定するよりも検査に要する時間を短縮することができる。
9.差分画像の表示領域が差分画像以外の表示領域とは異なる色に着色表示してあるから、差分画像が見やすくなる。
7). A limit image suitable for creating a difference image can be appropriately selected from six types of limit images corresponding to the contents of the defect.
8). By visually determining only the portion determined to be defective in the automatic determination step, the time required for the inspection can be reduced as compared with the total number visual determination.
9. Since the display area of the difference image is displayed in a color different from the display area other than the difference image, the difference image is easy to see.
<実施形態2>
<全体構成>
図16は、本発明の一実施形態にかかるクリーム半田印刷機100の平面図である。この図に示すように、クリーム半田印刷機100は、プリント基板P上の所定の位置にクリーム半田等の印刷材料を印刷する印刷ユニット130と、この印刷ユニット130によって印刷されたクリーム半田の印刷状態を検査する検査ユニット120と、印刷ユニット130のある印刷領域と検査ユニット120のある検査領域との間で、クリーム半田が印刷されたプリント基板Pを載置した状態で往復移動させる基板印刷用テーブル110とを備えている。また、印刷ユニット130に連なる上流側及び下流側には、プリント基板Pを上記印刷領域に搬入すると共に、上記印刷領域から搬出するための一対の基板搬送コンベア105が設けられている。
<
<Overall configuration>
FIG. 16 is a plan view of the
印刷ユニット130は、基台101上における正面側(図示下側)に設置され、検査ユニット120は、印刷ユニット130の奥側に設置されている。印刷ユニット130の正面側には、作業テーブル102が基台101に固定されている。作業テーブル102上には、入力手段としてのキーボード103と、本発明にかかる画像表示装置104とが設けられている。オペレータは、キーボード103を用いて各種規定値(例えば差分要素の面積sに対する上限面積A等)を入力し、画像表示装置104に同時に表示された差分画像及び参照画像を見ながら目視による外観検査を行うことができる。
The
<印刷ユニット130の構成>
上記印刷領域にある基板移動用テーブル110及び基板搬送コンベア105の上方には、所定のマスクパターンの開口が穿設されたマスク137がマスク支持枠138により保持されている。マスク支持枠138は、基台101と一体化した不図示のフレームの上部に固定されている。マスク137上にクリーム半田を不図示のノズルから供給し、供給されたクリーム半田をスキージ136で掻いてマスク137の上記開口に埋め込むことにより、プリント基板P上の所定の位置にクリーム半田を印刷することができる。
<Configuration of
A
このようにスキージ136をマスク137に摺接させながらY方向に移動させる印刷ユニット130の構成としては、スキージ136を昇降保持するスキージユニット135と、X方向に延びる形態をなし、スキージユニット135を支持するスキージユニット支持部材131と、そのスキージユニット支持部材131をY方向に移動可能に支持する一対のY方向ガイドレール132とを備えている。
In this way, the configuration of the
両Y方向ガイドレール132は、基台101と一体化した不図示のフレームの上部に固定されている。図示左側のY方向ガイドレール132の側方には、スキージユニット支持部材131に固定されたボールナットに嵌合するY方向ボールねじ軸133が軸回転可能に固定されている。Y方向ボールねじ軸133の端部には、同Y方向ボールねじ軸133を回転駆動するサーボモータ134が設けられており、このサーボモータ134は基台101と一体化した不図示のフレームの上部に固定されている。これにより、スキージユニット支持部材131は、サーボモータ134の回転駆動によってY方向に移動される。
Both Y-
<基板移動用テーブル110の構成>
基板移動用テーブル110は上部部材と下部部材とから構成され、上部部材は下部部材に対して、X、Y、Z、及びR方向に各所定の範囲で移動可能である。これにより、基板移動用テーブル110の上部部材に載置されたプリント基板Pは、上部部材のZ方向の駆動によって、マスク137の下面と当接する当接位置とマスク137の下面と離間する離間位置との間でZ方向に移動される。
また、基板移動用テーブル110の上部部材には、プリント基板Pの搬入時及び搬出時に可動される基板搬送コンベア110Aが設けられている。この基板搬送コンベア110Aは、基板移動用テーブル110の上部部材が基板搬送コンベア105とY方向及びZ方向に整合して繋がることにより印刷前のプリント基板Pを受け渡し可能な状態になると、上流側の基板搬送コンベア105より搬入された同プリント基板Pを基板移動用テーブル110の上部部材上の所定の位置に搬入し保持する。そして、基板搬送用コンベア110Aは、印刷後あるいは検査後に同受け渡し可能な状態になると、基板移動用テーブル110の上部部材上の所定の位置に保持された印刷済あるいは検査済のプリント基板Pを下流側の基板搬送コンベア105に搬出する。
<Configuration of the substrate moving table 110>
The substrate moving table 110 is composed of an upper member and a lower member, and the upper member is movable with respect to the lower member in respective predetermined ranges in the X, Y, Z, and R directions. As a result, the printed circuit board P placed on the upper member of the substrate moving table 110 is driven to move in the Z direction of the upper member so that the abutting position contacts the lower surface of the
The upper member of the substrate moving table 110 is provided with a
基台101上には、基板移動用テーブル110の下部部材をY方向に移動可能に支持する一対のY方向レール111が固定されている。基台101上における両Y方向レール111の間には、基板移動用テーブル110の下部部材に固定された不図示のボールナットに嵌合するY方向ボールねじ軸112が軸回転可能に固定されている。Y方向ボールねじ軸112の端部には、同Y方向ボールねじ軸112を回転駆動するサーボモータ113が設けられている。これにより、基板移動用テーブル110をサーボモータ113の回転駆動によってY方向の所望の位置に移動させることができる。
A pair of Y-
<検査ユニット120の構成>
検査ユニット120は、X方向に延びる形態をなし、その両端が基台101に固定された支持部材121と、支持部材121にX方向に移動可能に支持された撮像装置122とを備えている。支持部材121には、撮像装置122に固定された不図示のボールナットに嵌合するX方向ボールねじ軸123が軸回転可能に固定されている。X方向ボールねじ軸123の端部には、同X方向ボールねじ軸123を回転駆動するサーボモータ124が設けられており、このサーボモータ124は基台101と一体化した不図示のフレームに固定されている。これにより、撮像装置122をサーボモータ124の回転駆動によってX方向の所望の位置に移動させることができる。
<Configuration of
The
<クリーム半田印刷機100の動作>
まず、プリント基板Pが基板搬送コンベア105,110Aにより上流側から基板テーブル110の上部部材上の所定の位置に搬送される。プリント基板Pが基板搬送コンベア110A上で保持されると、不図示の第1のカメラでプリント基板P上のフィデューシャルマークが撮像される一方、不図示の第2のカメラでマスク137の位置合わせマークが撮像される。基板テーブル110の上部部材が下部部材に対してX方向、Y方向、あるいはさらにR軸方向に移動することにより、上記フィデューシャルマークと上記位置合わせマークとが一致するように位置補正される。さらに、位置補正された状態で基板テーブル110の上部部材が上記離間位置から上記当接位置へZ方向に上昇し、プリント基板Pがマスク137の下面に当接する。すると、スキージユニット135によりスキージ136がZ方向に下降してマスク137に当接し、サーボモータ134の回転駆動によりスキージユニット支持部材131及びスキージ136が一体となってY方向に移動し、クリーム半田がマスク137の開口を通過してプリント基板P上に印刷される。印刷が終わると、スキージ136が上昇し、基板テーブル110の上部部材が上記当接位置から上記離間位置へ下降すると共に、X方向、Y方向、あるいはさらにR軸方向に移動して位置補正される前の状態に戻される。
<Operation of Cream
First, the printed circuit board P is transported from the upstream side to a predetermined position on the upper member of the substrate table 110 by the
次に、サーボモータ113の回転駆動により基板テーブル110が上記検査領域に移動される。撮像装置122は、プリント基板P上のフィデューシャルマークをまず撮像し、プリント基板P上の座標系が制御装置により認識される。プリント基板Pの所定のX、Y座標に撮像装置122を位置させるべく、サーボモータ113及びサーボモータ124が回転駆動される。撮像装置122による撮像が進行すると共に、プリント基板P上に印刷されたクリーム半田の印刷状態の良否についての自動判定が実施される。自動判定の中で不良判定がされることなく終了した後に、サーボモータ113の回転駆動によって、基板テーブル110の基板搬送コンベア110Aが上記印刷領域の基板搬送コンベア105と一致する位置までY方向に移動し、その後下流側に搬出される。自動判定の中で不良判定がされると、全ての箇所の判定が終了した後に、基板テーブル110がY方向に移動を開始すると共に、オペレータの目視による外観検査がされるべく、画像表示装置104に差分画像と参照画像が同時に表示される。目視検査でも不良と判定された場合には、プリント基板Pの基板テーブル110からの撤去が可能となる。
Next, the substrate table 110 is moved to the inspection area by the rotational drive of the
以上のように本実施形態ではクリーム半田印刷機100に画像表示装置104を備えたから、印刷ユニット130による印刷直後にその印刷状態を自動判定し、自動判定で不良判定されると画像表示装置104に差分画像と参照画像を同時に表示させることができる。したがって、オペレータの目視による外観検査に要する時間を短縮させることができ、ひいてはクリーム半田印刷工程におけるタクトタイムを短縮することができる。
As described above, since the
<他の実施形態>
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
<Other embodiments>
The present invention is not limited to the embodiments described with reference to the above description and drawings. For example, the following embodiments are also included in the technical scope of the present invention.
(1)本実施形態ではプリント基板Pの撮像画像と差分画像とを液晶モニタ4の同一表示領域内で重ねて表示させたものを例示しているが、本発明によると、プリント基板Pの撮像画像と差分画像とは互いに異なる表示領域に表示させてもよい。
(1) In the present embodiment, the captured image of the printed circuit board P and the difference image are illustrated as being overlapped and displayed in the same display area of the
(2)本実施形態では図6ないし図9において左側ずれ限度画像を基準画像として液晶モニタ4に表示させたものを例示しているものの、本発明によれば、液晶モニタ4に表示させる限度画像の種類は1種類に限られず、複数の限度画像を液晶モニタ4に並べて表示させてもよい。例えば第3の表示パターン(図8)において、左下の表示領域に標準画像を表示し、右下の表示領域に差分画像(差分領域D1)及びプリント基板Pの撮像画像を重ねて表示しているものの、本発明によれば、左下の表示領域に上側ずれ限度画像を表示し、右下の表示領域に上側ずれ限度画像に基づく差分画像及びプリント基板Pの撮像画像を重ねて表示してもよい。
(2) In the present embodiment, the left shift limit image displayed on the liquid crystal monitor 4 as a reference image in FIGS. 6 to 9 is illustrated, but according to the present invention, the limit image displayed on the
(3)本実施形態ではプリント基板P上の端子部Tに半田Sを印刷した場合の適用例を説明しているが、本発明によると、半田Sが印刷された端子部T上に電子部品を載置した場合についても適用可能である。 (3) In this embodiment, an application example in which the solder S is printed on the terminal portion T on the printed circuit board P is described. However, according to the present invention, an electronic component is formed on the terminal portion T on which the solder S is printed. This can also be applied to the case where is mounted.
(4)本実施形態では差分領域を差分領域以外の領域の色とは異なる色に着色表示したものを例示しているが、本発明によると、差分領域を着色表示しないものであってもよく、例えば差分領域を破線で囲んだり、あるいは差分領域を斜め平行線等でハッチングすることにより、差分領域を特定するようにしてもよい。 (4) In the present embodiment, the difference area is colored and displayed in a color different from the color of the area other than the difference area. However, according to the present invention, the difference area may not be colored and displayed. For example, the difference area may be specified by surrounding the difference area with a broken line or by hatching the difference area with an oblique parallel line or the like.
(5)本実施形態では液晶モニタ4の表示領域を4分割して表示させたものを例示しているものの、本発明によれば、表示させる画像数に対応して分割するようにしてもよく、例えば第1の表示パターン(図6)において液晶モニタ4の表示領域を2分割して表示させるようにしてもよい。 (5) In the present embodiment, the display area of the liquid crystal monitor 4 is illustrated as being divided into four parts. However, according to the present invention, the display area may be divided according to the number of images to be displayed. For example, in the first display pattern (FIG. 6), the display area of the liquid crystal monitor 4 may be divided into two to be displayed.
(6)本実施形態では不良の態様として上下左右方向の位置ずれ不良と面積大/小不良を例示しているが、本発明によると、他の不良であってもよく、例えば、半田間違い不良(正規の種類の半田とは異なる種類の半田が印刷された不良)であってもよい。この半田間違い不良が発生した場合には、半田の色の違いによって異なる種類の半田が印刷されたことを検出するようにしてもよい。 (6) In the present embodiment, the misalignment defect in the vertical and horizontal directions and the large / small defect in the area are illustrated as the defect modes. However, according to the present invention, other defects may be used. (A defect in which a different type of solder is printed from a normal type of solder). When this solder error defect occurs, it may be detected that a different type of solder is printed depending on the color of the solder.
1…外観検査装置(画像表示装置)
4…液晶モニタ(表示手段)
52…カメラ(撮像手段)
60…コントロールユニット(画像処理手段、自動判定手段)
61…記憶部(記憶手段)
D1,D2…差分領域
S…クリーム半田
T…端子部
P…プリント基板
1. Visual inspection device (image display device)
4. Liquid crystal monitor (display means)
52. Camera (imaging means)
60. Control unit (image processing means, automatic determination means)
61: Storage unit (storage means)
D1, D2 ... Difference area S ... Cream solder T ... Terminal part P ... Printed circuit board
Claims (10)
前記基板の状態の良否を判定するための基準となる基準画像データを記憶する記憶手段と、
前記撮像手段により撮像された基板の撮像画像の画像データと前記記憶手段に記憶された前記基準画像データとを比較して差分をとり、この差分に基づく差分画像を作成する画像処理手段と、
前記差分画像と判定において参照可能な参照画像を同時に表示する表示手段とを備える画像表示装置。 Imaging means for imaging the substrate;
Storage means for storing reference image data serving as a reference for determining the quality of the state of the substrate;
An image processing unit that compares the image data of the captured image of the substrate imaged by the imaging unit with the reference image data stored in the storage unit, creates a difference, and creates a difference image based on the difference;
An image display device comprising: display means for simultaneously displaying the difference image and a reference image that can be referred to in determination.
前記基板を撮像手段によって撮像する撮像工程と、前記基板の状態の良否を判定するための基準としてあらかじめ記憶手段に記憶された基準画像データと前記撮像工程で得られた前記基板の撮像画像の画像データとを比較して差分をとり、この差分に基づく差分画像を画像処理手段によって作成する差分画像作成工程と、表示手段に前記差分画像と判定において参照可能な参照画像を同時に表示させる画像表示工程とを備えた画像表示方法。 An image display method for displaying an image to assist an operator to visually determine the quality of a substrate,
An imaging step of imaging the substrate by an imaging unit, reference image data stored in a storage unit in advance as a reference for determining the quality of the substrate, and an image of the captured image of the substrate obtained in the imaging step A difference image creating step for comparing the data and taking a difference, and creating a difference image based on the difference by the image processing means, and an image display step for causing the display means to simultaneously display the reference image that can be referred to in the determination as the difference image An image display method comprising:
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006328346A JP2008139260A (en) | 2006-12-05 | 2006-12-05 | Image display unit and method, appearance inspection device, cream solder printer |
US12/439,594 US20100027873A1 (en) | 2006-08-28 | 2007-08-28 | Board appearance inspection method and device |
EP07793047A EP2060907A1 (en) | 2006-08-28 | 2007-08-28 | Board appearance inspection method and device |
PCT/JP2007/066603 WO2008026562A1 (en) | 2006-08-28 | 2007-08-28 | Board appearance inspection method and device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006328346A JP2008139260A (en) | 2006-12-05 | 2006-12-05 | Image display unit and method, appearance inspection device, cream solder printer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008139260A true JP2008139260A (en) | 2008-06-19 |
Family
ID=39600871
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006328346A Pending JP2008139260A (en) | 2006-08-28 | 2006-12-05 | Image display unit and method, appearance inspection device, cream solder printer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2008139260A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013201323A (en) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | Panasonic Corp | Inspection reference image data creation device and inspection reference image data creation method |
CN113079654A (en) * | 2021-05-06 | 2021-07-06 | 弘益泰克自动化设备(惠州)有限公司 | Image calibration equipment and method for marks on printed board |
WO2023233973A1 (en) * | 2022-05-31 | 2023-12-07 | 株式会社サキコーポレーション | Inspection device |
-
2006
- 2006-12-05 JP JP2006328346A patent/JP2008139260A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013201323A (en) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | Panasonic Corp | Inspection reference image data creation device and inspection reference image data creation method |
CN113079654A (en) * | 2021-05-06 | 2021-07-06 | 弘益泰克自动化设备(惠州)有限公司 | Image calibration equipment and method for marks on printed board |
WO2023233973A1 (en) * | 2022-05-31 | 2023-12-07 | 株式会社サキコーポレーション | Inspection device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2008026562A1 (en) | Board appearance inspection method and device | |
JP5318334B2 (en) | Method and apparatus for detecting position of object | |
CN101512325A (en) | Board appearance inspection method and device | |
JP6571116B2 (en) | Inspection support device | |
JP4494922B2 (en) | Method and apparatus for detecting mounting error of electronic component mounting apparatus | |
JP4792331B2 (en) | Electronic component mounting device | |
WO2017081773A1 (en) | Image processing device and image processing method for base plate | |
JP2008139260A (en) | Image display unit and method, appearance inspection device, cream solder printer | |
JP2000321025A (en) | Device and method for detecting movement error of processor | |
JP2004172221A (en) | Device, method, and program for mounting component | |
JP2000349499A (en) | Mounting part inspecting device | |
JP6904978B2 (en) | Parts mounting machine | |
JP6706625B2 (en) | Board position search device and component mounter | |
JP2005353750A (en) | Maintenance and management apparatus for electronic component mounting apparatus | |
JP4421281B2 (en) | Component recognition method, component recognition device, surface mounter, component test device, and board inspection device | |
JP2008051784A (en) | Substrate inspection system | |
JP2011044591A (en) | Electronic component mounting device and suction position correction method therefor | |
JP4476758B2 (en) | Mounting board inspection method and inspection apparatus | |
JP2008083034A (en) | Board inspecting apparatus | |
JP2008153511A (en) | Component mounting equipment | |
JP4451192B2 (en) | Method for creating inspection data, inspection device for screen printing, and screen printer with inspection function | |
EP2058646A1 (en) | Substrate inspecting apparatus | |
JP2008051783A (en) | Substrate inspection device | |
CN104541596A (en) | Component mounting device and position correction method | |
JP2003298293A (en) | Electronic component mounter |