JP6715714B2 - Inspection support apparatus and inspection support method - Google Patents

Inspection support apparatus and inspection support method Download PDF

Info

Publication number
JP6715714B2
JP6715714B2 JP2016141116A JP2016141116A JP6715714B2 JP 6715714 B2 JP6715714 B2 JP 6715714B2 JP 2016141116 A JP2016141116 A JP 2016141116A JP 2016141116 A JP2016141116 A JP 2016141116A JP 6715714 B2 JP6715714 B2 JP 6715714B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mounting
inspection
imaging
component
camera
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016141116A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2018014344A (en
Inventor
裕高 平山
裕高 平山
茂人 大山
茂人 大山
諭 吉岡
諭 吉岡
智史 牛居
智史 牛居
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to JP2016141116A priority Critical patent/JP6715714B2/en
Publication of JP2018014344A publication Critical patent/JP2018014344A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6715714B2 publication Critical patent/JP6715714B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Description

本発明は、電子部品を回路基板に実装する部品実装機に適用される検査支援装置に関するものである。 The present invention relates to an inspection support device applied to a component mounter that mounts electronic components on a circuit board.

部品実装機は、特許文献1に示すように、供給位置にある電子部品を吸着ノズルにより吸着し、この電子部品を回路基板上の所定の座標位置(装着位置)に装着する。部品実装機により複数の電子部品を実装された回路基板は、生産ラインにおいて部品実装機の下流側に位置する外観検査装置により電子部品の装着状態を自動検査される(特許文献2を参照)。電子部品の装着状態には、装着位置に対する電子部品のずれ量や電子部品の姿勢、破損の有無などが含まれる。 As shown in Patent Document 1, a component mounter sucks an electronic component at a supply position with a suction nozzle and mounts this electronic component at a predetermined coordinate position (mounting position) on a circuit board. The circuit board on which a plurality of electronic components are mounted by the component mounter is automatically inspected for the mounting state of the electronic component by an appearance inspection device located on the downstream side of the component mounter in the production line (see Patent Document 2). The mounting state of the electronic component includes the displacement amount of the electronic component with respect to the mounting position, the posture of the electronic component, the presence or absence of damage, and the like.

また、回路基板の検査には、上記のように実装済みの回路基板を対象とする外観検査装置による自動検査の他に、実装中の回路基板を対象とする作業者による目視検査が含まれる。目視検査は、例えば特に装着精度を要求される電子部品や、破損が発生しやすい電子部品を装着した場合に必要とされる。作業者は、目視検査において、回路基板に装着された検査対象の電子部品を目視して装着状態の良否を判定する。 Further, the inspection of the circuit board includes visual inspection by an operator who targets the circuit board being mounted, in addition to automatic inspection by the visual inspection apparatus which targets the already mounted circuit board as described above. The visual inspection is required, for example, when an electronic component that requires particularly high mounting accuracy or an electronic component that is easily damaged is mounted. In the visual inspection, the operator visually checks the electronic component to be inspected mounted on the circuit board and determines the quality of the mounted state.

特許文献1:特開2013−026278号公報
特許文献2:特開2002−299900号公報
Patent Document 1: Japanese Patent Laid-Open No. 2013-026278 Patent Document 2: Japanese Patent Laid-Open No. 2002-299900

しかしながら、部品実装機における目視検査では、電子部品が微細であるなどの要因によっては装着状態の良否の判定が容易でない場合がある。そうすると、目視検査に要する時間が長くなり、部品実装機の生産効率に検査時間が影響するおそれがある。 However, in the visual inspection by the component mounter, it may not be easy to judge whether the mounting state is good or not, depending on factors such as the fineness of the electronic component. Then, the time required for the visual inspection becomes long, and the inspection time may affect the production efficiency of the component mounter.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、部品実装機における電子部品の装着状態の検査の効率向上を図る検査支援装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide an inspection support device that improves the efficiency of inspection of the mounting state of electronic components in a component mounter.

請求項1に係る検査支援装置は、供給位置に供給された電子部品を保持して回路基板上の装着位置まで当該電子部品を移載する移載装置を備える部品実装機に適用される。検査支援装置は、前記回路基板に装着された前記電子部品を対象として行われる装着状態の検査を支援する。前記移載装置は、基台に対して相対移動可能に支持された移動台と、前記電子部品を保持する吸着ノズルを複数支持し、前記移動台に設けられる装着ヘッドと、を有する。前記検査支援装置は、前記ヘッドが設けられた前記移動台に、前記回路基板を撮像可能に設けられたカメラと、前記部品実装機による実装処理において前記電子部品のうち前記検査の対象とされる検査部品が前記回路基板に装着された場合に、前記カメラの撮像処理を制御して、当該検査部品が収められた画像データを取得する撮像制御部と、を備える。前記吸着ノズルを、直前動作に依存する位置であり、この直前動作が終了した時点における吸着ノズルの位置に相当する現在位置から前記装着位置の上方へと移動させるとともに前記吸着ノズルを昇降させて、当該吸着ノズルに保持された前記検査部品を前記装着位置に装着する前記移載装置の動作であって、制御プログラムに従った順序で実行される前記動作を装着動作と定義する。前記カメラを、直前動作に依存する位置であり、この直前動作が終了した時点における基板カメラの位置に相当する現在位置から、前記装着位置に装着された前記検査部品を前記カメラが撮像可能な前記装着位置の上方へと移動させる前記移載装置の動作を撮像動作と定義する。前記撮像制御部は、複数回の前記装着動作と当該装着動作に対応する複数回の前記撮像動作とを含む前記移載装置の動作の実行順序を、当該実行順序における前記移動台の合計の移動距離が短くなるように、または当該実行順序における前記装着動作および前記撮像動作に要する合計の動作時間が短くなるように最適化する。 The inspection support apparatus according to claim 1 is applied to a component mounter including a transfer device that holds an electronic component supplied to a supply position and transfers the electronic component to a mounting position on a circuit board. The inspection support device supports the inspection of the mounting state performed on the electronic component mounted on the circuit board. The transfer device includes a movable base supported so as to be movable relative to a base, and a mounting head that supports a plurality of suction nozzles holding the electronic components and is provided on the movable base. The inspection support device is a target of the inspection among the electronic components in a mounting process performed by a camera, which is provided on the movable table provided with the head, so that the circuit board can be imaged, and the component mounter. An imaging control unit that controls the imaging process of the camera when the inspection component is mounted on the circuit board to acquire image data in which the inspection component is stored. The suction nozzle is a position that depends on the immediately preceding operation, and the suction nozzle is moved up and down while moving from the current position corresponding to the position of the suction nozzle at the time when the immediately previous operation is finished to above the mounting position, The operation of the transfer device that mounts the inspection component held by the suction nozzle at the mounting position and that is executed in the order according to the control program is defined as a mounting operation. The camera is a position that depends on the immediately preceding operation, and the camera is capable of imaging the inspection component mounted at the mounting position from the current position corresponding to the position of the board camera at the time when the immediately preceding operation is completed. The operation of the transfer device that moves the mounting position above is defined as an imaging operation. The imaging control unit sets an execution order of operations of the transfer device including a plurality of times of the mounting operation and a plurality of times of the imaging operation corresponding to the mounting operation, and a total movement of the movable table in the execution order. distance so that short, or operating time of the total required for the mounting operation and the imaging operation in the execution sequence is optimized to shorten.

請求項9に係る検査支援方法は、供給位置に供給された電子部品を保持して回路基板上の装着位置まで当該電子部品を移載する移載装置を備える部品実装機に適用される。検査支援方法は、前記回路基板に装着された前記電子部品を対象として行われる装着状態の検査を支援する。前記移載装置は、基台に対して相対移動可能に支持された移動台と、前記電子部品を保持する吸着ノズルを複数支持し、前記移動台に設けられる装着ヘッドと、を有する。前記吸着ノズルを、直前動作に依存する位置であり、この直前動作が終了した時点における吸着ノズルの位置に相当する現在位置から前記装着位置の上方へと移動させるとともに前記吸着ノズルを昇降させて、当該吸着ノズルに保持された前記検査部品を前記装着位置に装着する前記移載装置の動作であって、制御プログラムに従った順序で実行される前記動作を装着動作と定義する。前記ヘッドが設けられた前記移動台に前記回路基板を撮像可能に設けられたカメラを、直前動作に依存する位置であり、この直前動作が終了した時点における基板カメラの位置に相当する現在位置から、前記装着位置に装着された前記検査部品を前記カメラが撮像可能な前記装着位置の上方へと移動させる前記移載装置の動作を撮像動作と定義する。前記検査支援方法は、複数回の前記装着動作と当該装着動作に対応する複数回の前記撮像動作とを含む前記移載装置の動作の実行順序を、当該実行順序における前記移動台の合計の移動距離が短くなるように、または当該実行順序における前記装着動作および前記撮像動作に要する合計の動作時間が短くなるように最適化し、前記部品実装機による実装処理において前記電子部品のうち前記検査の対象とされる検査部品が前記回路基板に装着された場合に、前記カメラの撮像処理を制御して、当該検査部品が収められた画像データを取得する。
The inspection support method according to a ninth aspect is applied to a component mounter including a transfer device that holds an electronic component supplied to a supply position and transfers the electronic component to a mounting position on a circuit board. The inspection support method supports the inspection of the mounting state performed on the electronic component mounted on the circuit board. The transfer device includes a movable base supported so as to be movable relative to a base, and a mounting head that supports a plurality of suction nozzles holding the electronic components and is provided on the movable base. The suction nozzle is a position that depends on the immediately preceding operation, and the suction nozzle is moved up and down while moving from the current position corresponding to the position of the suction nozzle at the time of ending the immediately previous operation to above the mounting position, The operation of the transfer device that mounts the inspection component held by the suction nozzle at the mounting position and that is executed in the order according to the control program is defined as a mounting operation. From the current position corresponding to the position of the board camera at the time when the immediately preceding operation is completed, the camera provided on the movable table provided with the head so as to be able to image the circuit board is a position depending on the immediately preceding operation. An operation of the transfer device that moves the inspection component mounted at the mounting position above the mounting position where the camera can capture an image is defined as an image capturing operation. In the inspection support method, the execution order of the operations of the transfer device including the plurality of mounting operations and the plurality of imaging operations corresponding to the mounting operations is performed by a total movement of the movable table in the execution order. Optimized so that the distance is shortened or the total operation time required for the mounting operation and the imaging operation in the execution sequence is shortened , and the target of the inspection among the electronic components in the mounting process by the component mounter When the inspection component is attached to the circuit board, the image pickup process of the camera is controlled to acquire the image data in which the inspection component is stored.

請求項1,9に係る発明の構成によると、検査支援装置は、部品実装機の機内に設けられたカメラの撮像による画像データに基づく装着状態の検査を可能とする。また、制御プログラムによって予め設定された順序で実行される装着動作に対して、移動台の移動距離または所要時間(装着動作および撮像動作に要する動作時間)に基づいて、撮像動作を実行するタイミングが最適化される。これにより、効率的に必要な画像データが取得されるので、装着状態の検査の効率向上を図ることができる。 According to the configurations of the inventions according to claims 1 and 9, the inspection support apparatus enables the inspection of the mounting state based on the image data by the image pickup of the camera provided inside the component mounter. Further, with respect to the mounting operations executed in the order set in advance by the control program, the timing for executing the imaging operation is determined based on the moving distance of the movable table or the required time (operation time required for the mounting operation and the imaging operation). Optimized. As a result, the necessary image data can be acquired efficiently, so that the efficiency of inspection of the mounted state can be improved.

実施形態における部品実装機を示す全体図である。It is an overall view showing a component mounting machine in an embodiment. 検査支援装置が適用された部品実装機の制御装置を示すブロック図である。It is a block diagram showing a control device of a component mounter to which an inspection support device is applied. 装着動作における部品移載装置の動作を示す図である。It is a figure which shows operation|movement of the component transfer apparatus in mounting operation. 撮像動作における部品移載装置の動作を示す図である。It is a figure which shows operation|movement of the component transfer apparatus in imaging operation. 部品実装機による実装処理を示すフローチャートである。It is a flow chart which shows mounting processing by a component mounting machine. 装着動作および撮像動作の実行順序の最適化処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the optimization process of the execution order of a mounting operation and an imaging operation. 装着動作および撮像動作の実行順序と、移動台の移動距離との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the execution order of mounting operation|movement and imaging operation, and the moving distance of a mobile stand.

以下、本発明の検査支援装置および検査支援方法を具体化した実施形態について図面を参照して説明する。検査支援装置および検査支援方法は、部品実装機に適用され、当該部品実装機における検査を支援する。部品実装機は、供給位置にある電子部品を吸着ノズルにより吸着し、この電子部品を回路基板上の所定の座標位置(装着位置)に装着する装置である。 Embodiments embodying the inspection support apparatus and the inspection support method of the present invention will be described below with reference to the drawings. The inspection support device and the inspection support method are applied to a component mounter and support the inspection in the component mounter. The component mounter is a device that sucks an electronic component at a supply position with a suction nozzle and mounts the electronic component at a predetermined coordinate position (mounting position) on a circuit board.

<実施形態>(1.部品実装機1の全体構成)部品実装機1の構成について、図1を参照して説明する。部品実装機1は、図1に示すように、基板搬送装置11と、部品供給装置12と、部品移載装置13と、部品カメラ15と、基板カメラ16と、制御装置30とを備える。以下の説明において、部品実装機1の水平幅方向(図1の左上から右下に向かう方向)をX軸方向とし、部品実装機1の水平長手方向(図1の右上から左下に向かう方向)をY軸方向とし、X軸およびY軸に垂直な鉛直方向(図1の上下方向)をZ軸方向とする。 <Embodiment> (1. Overall Configuration of Component Mounter 1) The configuration of the component mounter 1 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 1, the component mounter 1 includes a substrate transfer device 11, a component supply device 12, a component transfer device 13, a component camera 15, a substrate camera 16, and a control device 30. In the following description, the horizontal width direction of the component mounter 1 (the direction from the upper left to the lower right in FIG. 1) is defined as the X-axis direction, and the horizontal longitudinal direction of the component mounter 1 (the direction from the upper right to the lower left in FIG. 1). Is the Y-axis direction, and the vertical direction (vertical direction in FIG. 1) perpendicular to the X-axis and the Y-axis is the Z-axis direction.

基板搬送装置11は、ベルトコンベアなどにより構成され、回路基板40を搬送方向へと順次搬送する。基板搬送装置11は、部品実装機1の機内における所定の位置に回路基板40を位置決めする。そして、基板搬送装置11は、部品実装機1による実装処理が実行された後に、回路基板40を部品実装機1の機外に搬出する。 The board transfer device 11 is composed of a belt conveyor or the like, and sequentially transfers the circuit boards 40 in the transfer direction. The board transfer device 11 positions the circuit board 40 at a predetermined position in the mounter 1. Then, the board transfer device 11 carries out the circuit board 40 to the outside of the component mounter 1 after the mounting process by the component mounter 1 is executed.

部品供給装置12は、回路基板40に装着される電子部品を供給位置Spに供給する。本実施形態において、上記の電子部品には、キャリアテープに所定ピッチで収容された電子部品と、ウエハWfを部品単位でカットしたチップとが含まれる。キャリアテープは、部品供給装置12の複数のスロットに着脱可能にセットされたフィーダにより送り移動される。これにより、部品供給装置12は、フィーダの先端側の取出し部において電子部品を供給する。 The component supply device 12 supplies the electronic component mounted on the circuit board 40 to the supply position Sp. In the present embodiment, the electronic components include electronic components housed in a carrier tape at a predetermined pitch and chips obtained by cutting the wafer Wf in component units. The carrier tape is fed and moved by a feeder detachably set in a plurality of slots of the component supply device 12. As a result, the component supply device 12 supplies the electronic component at the take-out portion on the front end side of the feeder.

また、部品供給装置12は、ウエハWfのチップを供給するウエハ供給装置12aを備える。チップは、例えばウエハ本体において格子状に多数形成され、粘着シートに貼着された状態でレーザーカッタなどにより部品単位にカットされて形成される。キャリアテープに収容された電子部品、およびウエハWfのチップは、本発明の「電子部品」に相当する。 The component supply device 12 also includes a wafer supply device 12a for supplying the chips of the wafer Wf. A large number of chips are formed, for example, in a lattice on the wafer body, and are cut into individual parts by a laser cutter or the like in the state of being attached to an adhesive sheet. The electronic component housed in the carrier tape and the chip of the wafer Wf correspond to the "electronic component" of the present invention.

部品移載装置13は、X軸方向およびY軸方向に移動可能に構成される。部品移載装置13は、部品実装機1の長手方向の後部側(図1の右上側)から前部側の部品供給装置12の上方にかけて配置されている。部品移載装置13は、ヘッド駆動装置21と、移動台22と、装着ヘッド23とを有する。ヘッド駆動装置21は、直動機構により移動台22をXY軸方向に移動可能に構成されている。 The component transfer device 13 is configured to be movable in the X-axis direction and the Y-axis direction. The component transfer device 13 is arranged from the rear side (the upper right side in FIG. 1) in the longitudinal direction of the component mounter 1 to a position above the component supply device 12 on the front side. The component transfer device 13 includes a head drive device 21, a moving base 22, and a mounting head 23. The head drive device 21 is configured to be able to move the moving table 22 in the XY axis directions by a linear movement mechanism.

装着ヘッド23は、ヘッド駆動装置21の移動台22に着脱可能に設けられている。また、装着ヘッド23は、複数のノズルホルダに着脱可能に設けられた複数の吸着ノズル24を支持する。装着ヘッド23は、Z軸と平行なR軸回りに回転可能に、且つ昇降可能に吸着ノズル24をそれぞれ支持する。 The mounting head 23 is detachably provided on the moving base 22 of the head drive device 21. The mounting head 23 also supports a plurality of suction nozzles 24 that are detachably provided on the plurality of nozzle holders. The mounting head 23 supports the suction nozzles 24 so as to be rotatable about an R axis parallel to the Z axis and capable of moving up and down.

吸着ノズル24の各々は、装着ヘッド23に対する昇降位置(Z軸方向位置)や角度、負圧の供給状態を制御される。吸着ノズル24は、負圧を供給されることにより、フィーダの取出し部において供給される電子部品、およびウエハ供給装置12aにより供給されたウエハWfのチップを吸着して保持する。 Each of the suction nozzles 24 is controlled to move up and down with respect to the mounting head 23 (position in the Z-axis direction), angle, and supply state of negative pressure. When the suction nozzle 24 is supplied with a negative pressure, the suction nozzle 24 sucks and holds the electronic components supplied in the take-out portion of the feeder and the chips of the wafer Wf supplied by the wafer supply device 12a.

部品カメラ15および基板カメラ16は、CCD(Charge Coupled Device)やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)等の撮像素子を有するデジタル式の撮像装置である。部品カメラ15および基板カメラ16は、通信可能に接続された制御装置30による制御信号に基づいてカメラ視野に収まる範囲の撮像を行い、当該撮像により取得した画像データを制御装置30に送出する。 The component camera 15 and the substrate camera 16 are digital image pickup devices having image pickup elements such as CCD (Charge Coupled Device) and CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor). The component camera 15 and the board camera 16 perform imaging of a range within the field of view of the camera based on a control signal from the control device 30 communicatively connected, and send the image data acquired by the imaging to the control device 30.

部品カメラ15は、光軸が鉛直方向(Z軸方向)となるように部品実装機1の基台2に固定され、部品移載装置13の下方から撮像可能に構成される。より具体的には、部品カメラ15は、吸着ノズル24に保持された状態の電子部品の下面を撮像可能に構成される。詳細には、部品カメラ15のレンズユニットは、撮像素子から一定の距離にある対象物に焦点が合うように設定される。また、部品カメラ15のレンズユニットのカメラ視野は、装着ヘッド23が支持する全ての吸着ノズル24が収まる大きさに設定されている。 The component camera 15 is fixed to the base 2 of the component mounter 1 so that the optical axis is in the vertical direction (Z-axis direction), and is capable of capturing an image from below the component transfer device 13. More specifically, the component camera 15 is configured to be able to image the lower surface of the electronic component held by the suction nozzle 24. Specifically, the lens unit of the component camera 15 is set so that an object located at a certain distance from the image sensor is focused. The camera field of view of the lens unit of the component camera 15 is set to a size in which all the suction nozzles 24 supported by the mounting head 23 can be accommodated.

基板カメラ16(本発明の「カメラ」に相当する)は、光軸が鉛直方向(Z軸方向)となるように部品移載装置13の移動台22に設けられる。基板カメラ16は、回路基板40を撮像可能に構成されている。この基板カメラ16から画像データを取得した制御装置30は、画像処理により例えば基板に付された位置決めマークを認識することで、基板搬送装置11による回路基板40の位置決め状態を認識する。そして、制御装置30は、回路基板40の位置決め状態に応じて移動台22の位置を補正して、電子部品の装着を行うように実装処理を制御する。 The board camera 16 (corresponding to the “camera” of the present invention) is provided on the moving base 22 of the component transfer device 13 so that the optical axis is in the vertical direction (Z-axis direction). The board camera 16 is configured to be able to image the circuit board 40. The control device 30 that has acquired the image data from the board camera 16 recognizes the positioning state of the circuit board 40 by the board transporting device 11 by recognizing, for example, a positioning mark attached to the board by image processing. Then, the control device 30 corrects the position of the movable table 22 according to the positioning state of the circuit board 40 and controls the mounting process so as to mount the electronic component.

また、本実施形態において、基板カメラ16は、部品実装機1における検査に用いられる画像データを取得するための撮像処理を実行する。この検査では、回路基板40に装着された電子部品のうち検査の対象とされる検査部品50を対象として、当該電子部品の装着状態の良否が判定される。つまり、基板カメラ16は、実装処理に用いられる画像データを取得する他に、検査に用いられる画像データの取得に兼用される。この基板カメラ16は、装着状態の検査を支援する検査支援装置90を構成する。なお、上記の検査には、自動検査、および作業者による目視検査が含まれる。 Further, in the present embodiment, the board camera 16 executes an imaging process for acquiring image data used for inspection in the component mounter 1. In this inspection, of the electronic components mounted on the circuit board 40, the inspection component 50 to be inspected is targeted, and the quality of the mounting state of the electronic component is determined. That is, the board camera 16 is used not only for acquiring the image data used for the mounting process but also for acquiring the image data used for the inspection. The board camera 16 constitutes an inspection support device 90 that supports the inspection of the mounting state. The above inspection includes automatic inspection and visual inspection by an operator.

制御装置30は、主として、CPUや各種メモリ、制御回路により構成され、部品カメラ15および基板カメラ16の撮像により取得した画像データに基づいて回路基板40への電子部品の実装処理を制御する。この制御装置30は、図2に示すように、実装制御部31、画像処理部32、撮像制御部33、表示制御部34、および記憶装置35に、バスを介して入出力インターフェース36が接続されている。入出力インターフェース36には、モータ制御回路37および撮像制御回路38が接続されている。 The control device 30 is mainly configured by a CPU, various memories, and a control circuit, and controls the mounting process of the electronic components on the circuit board 40 based on the image data acquired by the image pickup by the component camera 15 and the board camera 16. As shown in FIG. 2, the control device 30 has an input/output interface 36 connected to a mounting control unit 31, an image processing unit 32, an imaging control unit 33, a display control unit 34, and a storage device 35 via a bus. ing. A motor control circuit 37 and an image pickup control circuit 38 are connected to the input/output interface 36.

実装制御部31は、モータ制御回路37を介して装着ヘッド23の位置や吸着機構の動作を制御する。より詳細には、実装制御部31は、部品実装機1に複数設けられた各種センサから出力される情報や、各種の認識処理の結果を入力する。そして、実装制御部31は、記憶装置35に記憶されている制御プログラム、各種センサによる情報、画像処理や認識処理の結果に基づいて、モータ制御回路37に制御信号を送出する。これにより、装着ヘッド23に支持された吸着ノズル24の位置および回転角度が制御される。 The mounting control unit 31 controls the position of the mounting head 23 and the operation of the suction mechanism via the motor control circuit 37. More specifically, the mounting control unit 31 inputs information output from various sensors provided in the component mounter 1 and results of various recognition processes. Then, the mounting control unit 31 sends a control signal to the motor control circuit 37 based on the control program stored in the storage device 35, information from various sensors, and the result of image processing and recognition processing. As a result, the position and rotation angle of the suction nozzle 24 supported by the mounting head 23 are controlled.

画像処理部32は、撮像制御回路38を介して部品カメラ15および基板カメラ16の撮像による画像データを取得して、用途に応じた画像処理を実行する。この画像処理には、例えば、画像データの二値化、フィルタリング、色相抽出、超解像処理などが含まれ得る。 The image processing unit 32 acquires image data captured by the component camera 15 and the board camera 16 via the image capturing control circuit 38, and executes image processing according to the application. This image processing can include, for example, binarization of image data, filtering, hue extraction, super-resolution processing, and the like.

撮像制御部33は、部品カメラ15および基板カメラ16により所定の対象物が撮像されるように、各装置に対して制御信号を送出する。詳細には、撮像制御部33は、回路基板40上に付された位置決めマークが収められた画像データを取得する場合には、部品供給装置12に対して移動台22に設けられた基板カメラ16を位置決めマークの上方に移動させるように制御信号を送出する。そして、撮像制御部33は、位置決めマークの上方に移動した基板カメラ16に対して撮像処理を実行するように、制御信号を送出する。 The imaging control unit 33 sends a control signal to each device so that a predetermined object is imaged by the component camera 15 and the board camera 16. Specifically, when the image pickup control unit 33 acquires the image data in which the positioning marks provided on the circuit board 40 are stored, the board control camera 16 provided on the moving table 22 with respect to the component supply device 12 is used. A control signal is sent to move the above the positioning mark. Then, the imaging control unit 33 sends a control signal to the board camera 16 that has moved above the positioning mark so as to execute the imaging process.

本実施形態において、撮像制御部33は、部品実装機1における検査に用いられる画像データを取得するための撮像処理を制御する。さらに、撮像制御部33は、検査に用いられる画像データの取得に兼用される基板カメラ16の撮像処理を実行するタイミングを最適化する。撮像制御部33による上記の最適化処理の詳細については、後述する。 In the present embodiment, the imaging control unit 33 controls the imaging process for acquiring the image data used for the inspection in the component mounter 1. Further, the imaging control unit 33 optimizes the timing of executing the imaging process of the board camera 16 which is also used to acquire the image data used for the inspection. Details of the above-mentioned optimization processing by the imaging control unit 33 will be described later.

表示制御部34は、基板カメラ16の撮像による画像データを表示装置17に表示させる。表示装置17は、例えば制御装置30の操作盤に配置された液晶モニタやタッチスクリーンである(図4Bを参照)。表示制御部34は、画像処理部32により各種の画像処理を施された画像データを表示する。 The display control unit 34 causes the display device 17 to display the image data captured by the board camera 16. The display device 17 is, for example, a liquid crystal monitor or a touch screen arranged on the operation panel of the control device 30 (see FIG. 4B). The display control unit 34 displays the image data that has been subjected to various kinds of image processing by the image processing unit 32.

記憶装置35は、ハードディスク装置などの光学ドライブ装置、またはフラッシュメモリなどにより構成される。この記憶装置35には、部品実装機1を動作させるための制御プログラム、バスや通信ケーブルを介して部品カメラ15および基板カメラ16から制御装置30に転送された画像データ、画像処理部32による処理の一時データなどが記憶される。入出力インターフェース36は、CPUや記憶装置35と各制御回路76,77との間に介在し、データ形式の変換や信号強度を調整する。 The storage device 35 is configured by an optical drive device such as a hard disk device or a flash memory. The storage device 35 includes a control program for operating the component mounter 1, image data transferred from the component camera 15 and the board camera 16 to the control device 30 via a bus or a communication cable, and processing by the image processing unit 32. Temporary data of is stored. The input/output interface 36 is interposed between the CPU or the storage device 35 and the control circuits 76 and 77, and adjusts the data format conversion and the signal strength.

モータ制御回路37は、実装制御部31による制御信号に基づいて、部品移載装置13に設けられた各軸モータの制御に用いられる。これにより、装着ヘッド23が各軸方向に位置決めされる。また、この各軸のモータの制御により、所定の吸着ノズル24の昇降位置(Z軸方向位置)および回転角度が割り出される。 The motor control circuit 37 is used to control each axis motor provided in the component transfer device 13 based on the control signal from the mounting control unit 31. As a result, the mounting head 23 is positioned in each axial direction. Further, by controlling the motors of the respective axes, a predetermined elevation position (Z-axis direction position) and rotation angle of the suction nozzle 24 are determined.

撮像制御回路38は、撮像制御部33が送出する撮像の制御信号に基づいて、部品カメラ15および基板カメラ16による撮像を制御する。また、撮像制御回路38は、部品カメラ15および基板カメラ16の撮像による画像データを取得して、入出力インターフェース36を介して記憶装置35に記憶させる。 The imaging control circuit 38 controls the imaging by the component camera 15 and the board camera 16 based on the imaging control signal sent by the imaging control unit 33. Further, the image pickup control circuit 38 acquires image data obtained by the image pickup by the component camera 15 and the board camera 16, and stores the image data in the storage device 35 via the input/output interface 36.

(2.検査支援装置90の構成)本実施形態において、検査を支援する検査支援装置90は、部品実装機1における基板カメラ16と、撮像制御部33とを備えて構成される。検査支援装置90は、部品実装機1が回路基板40への装着を行った電子部品のうち対象とされる検査部品50の装着状態の自動検査または目視検査を支援する。具体的には、検査支援装置90は、複数回の装着動作および複数回の撮像動作の動作順序を最適化することにより、上記の検査を支援する。 (2. Configuration of Inspection Assistance Device 90) In the present embodiment, the inspection assistance device 90 that assists the inspection is configured to include the board camera 16 in the component mounter 1 and the imaging control unit 33. The inspection support device 90 supports automatic inspection or visual inspection of the mounting state of the target inspection component 50 among the electronic components mounted on the circuit board 40 by the component mounter 1. Specifically, the inspection support device 90 supports the above-described inspection by optimizing the operation sequence of a plurality of mounting operations and a plurality of imaging operations.

(2−1.装着動作および撮像動作の定義)ここで、吸着ノズル24を現在位置NCpから装着位置Mpの上方へと移動させるとともに吸着ノズル24を昇降させて、当該吸着ノズル24に保持された検査部品50を装着位置Mpに装着する部品移載装置13の動作を「装着動作」と定義する。当該装着動作は、制御プログラムに従った順序で実行される。 (2-1. Definition of Mounting Operation and Imaging Operation) Here, the suction nozzle 24 is moved from the current position NCp to above the mounting position Mp, and the suction nozzle 24 is moved up and down and held by the suction nozzle 24. The operation of the component transfer device 13 that mounts the inspection component 50 at the mounting position Mp is defined as "mounting motion". The mounting operation is executed in the order according to the control program.

具体的には、図3に示すように、吸着ノズル24が第一現在位置NCp1にある場合に、装着動作は、吸着ノズル24が第一現在位置NCp1から装着位置Mpの上方までXY移動する動作、吸着ノズル24が保持する検査部品50を回路基板40上に装着する為の下降動作、および吸着ノズル24が元の高さまで戻される上昇動作に相当する。 Specifically, as shown in FIG. 3, when the suction nozzle 24 is at the first current position NCp1, the mounting operation is such that the suction nozzle 24 moves XY from the first current position NCp1 to above the mounting position Mp. The operation corresponds to a descending operation for mounting the inspection component 50 held by the suction nozzle 24 on the circuit board 40 and an ascending operation for returning the suction nozzle 24 to the original height.

吸着ノズル24の現在位置NCpは、部品移載装置13の直前動作に依存する位置であり、この直前動作が終了した時点における吸着ノズル24の位置に相当する。そのため、所定の装着位置Mpに検査部品50を装着する装着動作であっても、直前動作が相違する場合には、吸着ノズル24の現在位置NCpが異なる位置となる場合がある。また、部品移載装置13の直前動作は、例えば、装着動作の直前に撮像動作を挿入された場合などに変更される。 The current position NCp of the suction nozzle 24 is a position that depends on the immediately preceding operation of the component transfer device 13, and corresponds to the position of the suction nozzle 24 at the time when this immediately preceding operation ends. Therefore, even in the mounting operation of mounting the inspection component 50 at the predetermined mounting position Mp, the current position NCp of the suction nozzle 24 may be different if the immediately preceding operation is different. Further, the immediately preceding operation of the component transfer device 13 is changed, for example, when the imaging operation is inserted immediately before the mounting operation.

これにより、吸着ノズル24は、同一の装着動作においても、例えば異なる第一現在位置NCp1、第二現在位置NCp2などに位置する場合がある。ここで、装着位置Mpの上方位置から第一現在位置NCp1までの距離LN1と、装着位置Mpの上方位置から第二現在位置NCp2までの距離LN2が相違する場合には、当該装着動作における移動台22の移動距離、および装着動作に要する動作時間(所要時間)が異なる。 As a result, the suction nozzle 24 may be located at different first current position NCp1, second current position NCp2, or the like, even in the same mounting operation. Here, when the distance LN1 from the upper position of the mounting position Mp to the first current position NCp1 and the distance LN2 from the upper position of the mounting position Mp to the second current position NCp2 are different, the movable table in the mounting operation is performed. The movement distance of 22 and the operation time (required time) required for the mounting operation are different.

また、基板カメラ16が装着位置Mpに装着された検査部品50を撮像可能に、基板カメラ16を現在位置CCpから装着位置Mpの上方へと移動させる部品移載装置13の動作を「撮像動作」と定義する。具体的には、図4に示すように、基板カメラ16が第一現在位置CCp1にある場合に、撮像動作は、基板カメラ16が第一現在位置CCp1から装着位置Mpの上方までXY移動する動作に相当する。なお、撮像動作においては、必ずしも基板カメラ16が装着位置Mpの真上に移動されることを要さない。つまり、基板カメラ16は、撮像動作により、カメラ視野に検査部品50が収まる領域へ移動される。 Further, the operation of the component transfer device 13 that moves the board camera 16 from the current position CCp to above the mounting position Mp so that the board camera 16 can image the inspection component 50 mounted at the mounting position Mp is an “imaging operation”. It is defined as. Specifically, as shown in FIG. 4, when the board camera 16 is at the first current position CCp1, the imaging operation is an operation in which the board camera 16 moves XY from the first current position CCp1 to above the mounting position Mp. Equivalent to. In the image pickup operation, the board camera 16 does not necessarily need to be moved right above the mounting position Mp. That is, the board camera 16 is moved to an area in which the inspection component 50 fits in the camera visual field by the imaging operation.

基板カメラ16の現在位置CCpは、部品移載装置13の直前動作に依存する位置であり、この直前動作が終了した時点における基板カメラ16の位置に相当する。そのため、所定の装着位置Mpに装着された検査部品50を撮像する撮像動作であっても、直前動作が相違する場合には、基板カメラ16の現在位置CCpが異なる位置となる場合がある。また、部品移載装置13の直前動作は、例えば、撮像動作の直前に別の撮像動作を挿入された場合などに変更される。 The current position CCp of the board camera 16 is a position that depends on the immediately preceding operation of the component transfer device 13, and corresponds to the position of the board camera 16 at the time when the immediately preceding operation ends. Therefore, even in the imaging operation of imaging the inspection component 50 mounted at the predetermined mounting position Mp, the current position CCp of the board camera 16 may be different if the immediately preceding operation is different. The immediately preceding operation of the component transfer device 13 is changed, for example, when another imaging operation is inserted immediately before the imaging operation.

これにより、基板カメラ16は、同一の撮像動作においても、例えば異なる第一現在位置CCp1、第二現在位置CCp2などに位置する場合がある。ここで、装着位置Mpの上方位置から第一現在位置CCp1までの距離LC1と、装着位置Mpの上方位置から第二現在位置CCp2までの距離LC2が相違する場合には、当該撮像動作における移動台22の移動距離、および撮像動作に要する動作時間(所要時間)が異なる。 As a result, the board camera 16 may be located at different first current position CCp1, second current position CCp2, or the like even in the same imaging operation. Here, when the distance LC1 from the upper position of the mounting position Mp to the first current position CCp1 and the distance LC2 from the upper position of the mounting position Mp to the second current position CCp2 are different, the movable table in the imaging operation is performed. The movement distance of 22 and the operation time (required time) required for the imaging operation are different.

(2−2.部品実装機1による実装処理)部品実装機1による電子部品の実装処理について、図5を参照して説明する。実装処理において、実装制御部31は、先ず複数の吸着ノズル24に電子部品を順次吸着させて、電子部品を保持する吸着処理(ステップ11(以下、「ステップ」を「S」と表記する))を実行する。次に、撮像制御部33は、部品移載装置13の動作により装着ヘッド23を部品カメラ15の上方に移動させて、吸着された複数の電子部品を撮像する撮像処理(S12)を実行する。 (2-2. Mounting Process by Component Mounter 1) The mounting process of electronic components by the component mounter 1 will be described with reference to FIG. In the mounting process, the mounting control unit 31 first causes the plurality of suction nozzles 24 to sequentially suck the electronic components, and holds the electronic components (step 11 (hereinafter, “step” is referred to as “S”)). To execute. Next, the image pickup control unit 33 moves the mounting head 23 above the component camera 15 by the operation of the component transfer device 13, and executes an image pickup process (S12) for picking up images of a plurality of sucked electronic components.

その後に、実装制御部31は、電子部品を回路基板40に順次装着する装着処理(S13)を実行する。そして、実装制御部31は、制御プログラムに基づいて、全ての電子部品の装着処理が終了したか否かを判定する(S14)。制御装置30は、装着処理が終了するまで上記処理(S11〜S13)を繰り返し実行する。 After that, the mounting control unit 31 executes a mounting process (S13) for sequentially mounting the electronic components on the circuit board 40. Then, the mounting control unit 31 determines, based on the control program, whether or not the mounting process of all the electronic components has been completed (S14). The control device 30 repeatedly executes the above processes (S11 to S13) until the mounting process is completed.

また、部品実装機1による実装処理では、実装精度の向上を図るために、実装制御部31は、吸着ノズル24による電子部品の吸着状態に対応して吸着ノズル24の移動を制御する。そのため、実装制御部31は、撮像処理(S12)により取得された画像データを画像処理部32において画像処理して、吸着ノズル24による電子部品の吸着状態を認識するようにしている。 Further, in the mounting process by the component mounter 1, the mounting control unit 31 controls the movement of the suction nozzle 24 in accordance with the suction state of the electronic component by the suction nozzle 24 in order to improve the mounting accuracy. Therefore, the mounting control unit 31 performs image processing on the image data acquired by the imaging process (S12) in the image processing unit 32 so that the suction state of the electronic component by the suction nozzle 24 is recognized.

ここで、部品移載装置13が供給された電子部品を複数保持してから当該保持した数量に等しい回数分の装着動作が繰り返し終えるまでの動作、即ち上記処理(S11〜S13)を実行するための部品移載装置13の動作を「装着サイクル」と定義する。装着ヘッド23が12本の吸着ノズル24を支持する場合には、最大で12個の電子部品を吸着してから、これらの電子部品を全て装着し終えるまでの動作を、一の装着サイクルとする。 Here, in order to execute the operation from the holding of a plurality of supplied electronic components by the component transfer device 13 to the end of the mounting operation for the number of times equal to the held number, that is, the processing (S11 to S13) The operation of the component transfer device 13 is defined as a "mounting cycle". When the mounting head 23 supports twelve suction nozzles 24, one mounting cycle is an operation from suctioning a maximum of twelve electronic components to completion of mounting all these electronic components. ..

(2−3.検査支援装置90による最適化処理)検査支援装置90を構成する撮像制御部33による装着動作および撮像動作の実行順序の最適化処理について、図6および図7を参照して説明する。本実施形態において、撮像制御部33は、一の装着サイクルに含まれる装着動作および当該装着動作に対応する撮像動作を対象として実行順序を最適化する。また、装着サイクルでは、装着ヘッド23に支持される12本の吸着ノズル24の全てが電子部品を吸着して保持し、各電子部品がそれぞれ異なる装着位置Mpに装着される態様を例示する。 (2-3. Optimization process by inspection support device 90) The optimization process of the execution sequence of the mounting operation and the imaging operation by the imaging control unit 33 included in the inspection support device 90 will be described with reference to FIGS. 6 and 7. To do. In the present embodiment, the imaging control unit 33 optimizes the execution order for the mounting operation included in one mounting cycle and the imaging operation corresponding to the mounting operation. Further, in the mounting cycle, an example is shown in which all of the 12 suction nozzles 24 supported by the mounting head 23 suck and hold electronic components, and the electronic components are mounted at different mounting positions Mp.

撮像制御部33は、先ず制御プログラムに基づいて、12回の装着動作に対応する装着位置Mpおよび装着動作の実行順序を取得する(S21)。装着サイクルにおける第一装着動作MV1から第十二装着動作MV12は、検査に用いられる画像データを取得するための撮像動作を考慮しない場合には、図7の最上段に示すように、連続的に順次実行される。 The imaging control unit 33 first acquires the mounting position Mp and the execution order of the mounting operation corresponding to the 12 mounting operations based on the control program (S21). The first mounting operation MV1 to the twelfth mounting operation MV12 in the mounting cycle are continuously performed as shown in the uppermost stage of FIG. It is executed sequentially.

ここで、図7における各装着動作MV1〜MV12の横幅は、この実行順序で連続的に装着処理を実行した場合における各装着動作における移動台22の移動距離を示している。つまり、横幅が比較的小さい第五装着動作MV5〜第八装着動作MV8は、それぞれに対応する装着位置Mpが互いに近い距離にある。一方で、横幅が比較的大きい第九装着動作MV9〜第十二装着動作MV12は、それぞれに対応する装着位置Mpが互いに遠い距離にある。 Here, the horizontal width of each mounting operation MV1 to MV12 in FIG. 7 indicates the movement distance of the movable table 22 in each mounting operation when the mounting process is continuously executed in this execution order. That is, in the fifth mounting operation MV5 to the eighth mounting operation MV8 having a relatively small width, the mounting positions Mp corresponding to each are close to each other. On the other hand, in the ninth mounting operation MV9 to the twelfth mounting operation MV12 having a relatively large lateral width, the mounting positions Mp corresponding to each are located far from each other.

検査支援装置90は、次に、制御装置30の記憶装置35に記憶された検査情報に基づいて、各吸着ノズル24に保持された電子部品のうち検査の対象とされる検査部品を特定する(S22)。ここでは、12個の電子部品が全て検査の対象であるものとする。そこで、撮像制御部33は、装着サイクルにおいて第一装着動作MV1から第十二装着動作MV12に対応する第一撮像動作IV1から第十二撮像動作IV12を、どのような順序で実行するかを以下の処理によって決定する。 Next, the inspection support device 90 specifies the inspection component to be inspected among the electronic components held in each suction nozzle 24 based on the inspection information stored in the storage device 35 of the control device 30 ( S22). Here, it is assumed that all 12 electronic components are the targets of inspection. Therefore, the imaging control unit 33 determines in what order the first imaging operation IV1 to the twelfth imaging operation IV12 corresponding to the first mounting operation MV1 to the twelfth mounting operation MV12 are executed in the mounting cycle. It is determined by the process of.

撮像制御部33は、12回の装着動作MV1〜MV12および12回の撮像動作IV1〜IV12の実行順序のパターン(以下、「実行パターン」と称する)を算出する(S23)。ここで、上記の実行パターンが成立するためには、n番目に実行される装着動作MVnに対応する撮像動作IVnが、当該装着動作MVnの後に実行されることが条件となる。制御プログラムに従った順序で装着動作が連続したり、また上記の条件の下で撮像動作が連続したりすることは許容される。 The imaging control unit 33 calculates a pattern (hereinafter, referred to as an “execution pattern”) of the execution order of the 12 mounting operations MV1 to MV12 and the 12 imaging operations IV1 to IV12 (S23). Here, in order for the above execution pattern to be established, it is a condition that the imaging operation IVn corresponding to the mounting operation MVn to be executed n-th is executed after the mounting operation MVn. It is permissible that the mounting operation continues in the order according to the control program, or the imaging operation continues under the above conditions.

撮像制御部33は、最適な実行順序の候補として算出された実行パターンについて、実行順序(装着動作および撮像動作を含む)における移動台22の移動距離、または当該実行順序における装着動作MV1〜MV12および撮像動作IV1〜IV12に要する動作時間を算出する。本実施形態においては、撮像制御部33は、移動台22の移動距離を実行パターンごとに算出する(S24)。 The imaging control unit 33, for the execution pattern calculated as a candidate for the optimum execution order, the movement distance of the movable table 22 in the execution order (including the mounting operation and the imaging operation), or the mounting operations MV1 to MV12 in the execution order. The operation time required for the imaging operations IV1 to IV12 is calculated. In the present embodiment, the imaging control unit 33 calculates the movement distance of the moving table 22 for each execution pattern (S24).

具体的には、装着動作MV1〜MV12および撮像動作IV1〜IV12を特定の順番で実行したと仮定した場合に、各動作における吸着ノズル24の現在位置NCpおよび基板カメラ16の現在位置CCpと、装着位置Mpとの距離を足し合わせることにより、当該実行パターンにおける移動距離が算出される。撮像制御部33は、全ての実行パターンについて移動台22の移動距離が算出されたか否かを判定し(S25)、移動台22の移動距離の算出が終了するまで上記処理(S24)を繰り返す。 Specifically, assuming that the mounting operations MV1 to MV12 and the imaging operations IV1 to IV12 are performed in a specific order, the current position NCp of the suction nozzle 24 and the current position CCp of the board camera 16 in each operation, and the mounting operation The moving distance in the execution pattern is calculated by adding the distance to the position Mp. The imaging control unit 33 determines whether or not the moving distance of the moving table 22 has been calculated for all the execution patterns (S25), and repeats the above processing (S24) until the calculation of the moving distance of the moving table 22 is completed.

続いて、撮像制御部33は、実行パターンごとに算出された移動台22の移動距離に基づいて、複数の実行パターンから最も効率的な実行パターンを選択する(S26)。これにより、12回の装着動作MV1〜MV12および12回および12回の撮像動作IV1〜IV12の実行順序が最適化される。 Subsequently, the imaging control unit 33 selects the most efficient execution pattern from the plurality of execution patterns based on the movement distance of the moving table 22 calculated for each execution pattern (S26). As a result, the execution sequence of the twelve mounting operations MV1 to MV12 and the twelve and twelve imaging operations IV1 to IV12 is optimized.

以下に、上記処理により最適化された実行順序の実行パターンについて説明する。ここで、装着サイクルに含まれる複数の装着動作のうち連続する一部の装着動作を「装着グループ」とする。また、制御プログラムに従った順序で実行される装着動作が既に最適化されている場合には、装着グループにおける撮像動作の実行順序は、(1)装着動作の実行後に同順で撮像動作を実行、(2)装着動作の実行後に逆順で撮像動作を実行、(3)装着動作と撮像動作を交互に実行、の3パターンに大別される。 The execution pattern of the execution order optimized by the above processing will be described below. Here, a continuous part of the mounting operations included in the mounting cycle is referred to as a “mounting group”. Further, when the mounting operations executed in the order according to the control program are already optimized, the execution order of the imaging operations in the mounting group is (1) the imaging operations are executed in the same order after the mounting operations are executed. , (2) the imaging operation is performed in the reverse order after the mounting operation is performed, and (3) the mounting operation and the imaging operation are alternately performed.

上記のパターン(1)における「同順」とは複数の装着動作の実行順序と同順であることの意味であり、パターン(2)における「逆順」とは複数の装着動作の実行順序と逆順であることの意味である。図7では、装着グループごとに上記のパターン(1)〜(3)が示されている。 The “same order” in the above pattern (1) means that the order is the same as the execution order of the plurality of mounting operations, and the “reverse order” in the pattern (2) is the execution order and the reverse order of the plurality of mounting operations. It means that. In FIG. 7, the above patterns (1) to (3) are shown for each mounting group.

第一装着動作MV1から第四装着動作MV4までが含まれる第一装着グループMg1は、図7の上段部に示すように、パターン(2)、即ち第一装着動作MV1から第四装着動作VM4を実行した後に、これらに対応する第一撮像動作IV1から第四撮像動作IV4を、一連で且つ装着動作の逆順で実行した場合に、最も移動台22の移動距離が短くなる。 The first mounting group Mg1 including the first mounting operation MV1 to the fourth mounting operation MV4 includes pattern (2), that is, the first mounting operation MV1 to the fourth mounting operation VM4, as shown in the upper part of FIG. After the execution, when the first imaging operation IV1 to the fourth imaging operation IV4 corresponding to these are executed in series and in the reverse order of the mounting operation, the moving distance of the movable table 22 becomes the shortest.

また、第五装着動作MV5から第八装着動作MV8までが含まれる第二装着グループMg2は、図7の中段に示すように、パターン(1)、即ち第五装着動作MV5から第八装着動作VM8を実行した後に、これらに対応する第五撮像動作IV5から第八撮像動作IV8を、一連で且つ装着動作と同順で実行した場合に、最も移動台22の移動距離が短くなる。 The second mounting group Mg2 including the fifth mounting motion MV5 to the eighth mounting motion MV8 has a pattern (1), that is, the fifth mounting motion MV5 to the eighth mounting motion VM8, as shown in the middle part of FIG. When the fifth imaging operation IV5 to the eighth imaging operation IV8 corresponding to these are executed in series and in the same order as the mounting operation after executing, the moving distance of the movable table 22 becomes the shortest.

また、第九装着動作MV9から第十二装着動作MV12までが含まれる第三装着グループMg3は、図7の下段に示すように、パターン(3)、即ち装着動作と撮像動作をセットで交互に実行した場合に、最も移動台22の移動距離が短くなる。そのため、上記処理により最適化された実行順序は、「第一装着グループMg1のパターン(2)」と、「第二装着グループMg2のパターン(1)」と、「第三装着グループMg3のパターン(3)」とを連結した実行順序に相当する。 The third mounting group Mg3 including the ninth mounting motion MV9 to the twelfth mounting motion MV12 includes pattern (3), that is, the mounting motion and the imaging motion are alternately set as shown in the lower part of FIG. When it is executed, the moving distance of the moving table 22 becomes the shortest. Therefore, the execution order optimized by the above processing is as follows: "Pattern (2) of the first mounting group Mg1", "Pattern (1) of the second mounting group Mg2", and "Pattern of the third mounting group Mg3 ( 3)” is connected to the execution order.

このように、各装着グループにおいて装着動作と撮像動作の実行順序を適宜入れ換えることにより移動台22の移動距離が変動する。これは、それぞれに対応する装着位置Mpと、吸着ノズル24から基板カメラ16の光軸までの距離との関係によるものである。そのため、撮像制御部33は、S21にて取得した各装着動作MV1〜MV12に対応する装着位置Mpおよび装着動作の実行順序に基づいて、複数の装着グループを設定して実行パターンの算出(S23)を行うようにしてもよい。これにより、全ての実行パターンを算出するよりも効率的な移動距離の算出(S24)が可能となる。 In this way, the movement distance of the movable table 22 changes by appropriately changing the execution order of the mounting operation and the imaging operation in each mounting group. This is due to the relationship between the corresponding mounting positions Mp and the distance from the suction nozzle 24 to the optical axis of the substrate camera 16. Therefore, the imaging control unit 33 sets a plurality of mounting groups and calculates an execution pattern based on the mounting position Mp corresponding to each mounting operation MV1 to MV12 and the execution order of the mounting operation acquired in S21 (S23). May be performed. As a result, it becomes possible to more efficiently calculate the movement distance (S24) than to calculate all the execution patterns.

(2−4.実装処理における検査用の撮像処理の割り込み)検査支援装置90は、実装制御部31による実装処理の実行中において、予め設定された条件に基づいて、複数回の装着動作および複数回の撮像動作の実行順序を最適化する処理を実行する。ここで、上記の予め設定された条件は、本実施形態において、装着予定の部品種別、現在時刻、実行された装着動作の回数、または前回の検査から現在までの時間である。 (2-4. Interruption of imaging process for inspection in mounting process) The inspection support apparatus 90 performs a plurality of mounting operations and a plurality of mounting operations based on a preset condition while the mounting control unit 31 is executing the mounting process. A process for optimizing the execution order of the single imaging operation is executed. Here, in the present embodiment, the preset condition is the type of component to be mounted, the current time, the number of mounting operations performed, or the time from the previous inspection to the present.

つまり、これらの条件のうち少なくとも一つが満たされた場合に、検査支援装置90の撮像制御部33は、最適化処理を実行する。なお、「装着予定の部品種別」とは、特定の部品種別を検査対象として、当該部品種別の電子部品が現在から規定時間までの期間に装着される予定であることを条件とする。また、撮像制御部33は、部品実装機1による実装処理が検査部品の装着を含む装着サイクルの実行に達した場合に、最適化された撮像動作の実行順序に従って、基板カメラ16の撮像処理を実装処理に割り込ませる。 That is, when at least one of these conditions is satisfied, the imaging control unit 33 of the examination support device 90 executes the optimization process. The "component type scheduled to be mounted" is subject to a condition that a specific component type is to be inspected and an electronic component of the component type is scheduled to be mounted in the period from the present to the specified time. Further, when the mounting process by the component mounter 1 reaches the execution of the mounting cycle including the mounting of the inspection component, the imaging control unit 33 causes the substrate camera 16 to perform the imaging process according to the optimized execution sequence of the imaging operation. Interrupt the implementation process.

ここで、部品実装機1における自動検査または目視検査においては、装着状態が不良と判定された場合には、電子部品の浪費を防止するなどの観点から、以降の装着動作が取り消されることがある。つまり、撮像制御部33により検査部品50の画像データが取得された後は、良否の検査結果が入力されるまでの期間は、装着動作が一時的に停止された状態とされる。検査支援装置90は、この期間を利用して、次の装着動作のための予備動作を実行させる。 Here, in the automatic inspection or the visual inspection in the component mounter 1, if the mounting state is determined to be defective, the subsequent mounting operation may be canceled from the viewpoint of preventing waste of electronic components. .. That is, after the image data of the inspection component 50 is acquired by the imaging control unit 33, the mounting operation is temporarily stopped until the inspection result of quality is input. The inspection support device 90 uses this period to execute a preliminary operation for the next mounting operation.

より具体的には、部品実装機1における検査が作業者による目視検査の場合に、先ず制御装置30の表示制御部34は、撮像制御部33による撮像処理の制御によって取得された画像データを表示装置17に表示させる。作業者は、表示された画像データを参照して、検査部品50の装着状態の良否を判定して、当該判定の結果を入力する。このとき、撮像制御部33は、上記の画像データを取得してから検査の結果が入力されるまでの期間に、吸着ノズル24を現在位置NCpから次の装着動作における装着位置Mpの上方へと移動させる。 More specifically, when the inspection in the component mounter 1 is a visual inspection by an operator, first, the display control unit 34 of the control device 30 displays the image data acquired by the control of the imaging process by the imaging control unit 33. Display on the device 17. The operator refers to the displayed image data to determine whether the mounting state of the inspection component 50 is good or bad, and inputs the result of the determination. At this time, the imaging control unit 33 moves the suction nozzle 24 from the current position NCp to above the mounting position Mp in the next mounting operation during the period from the acquisition of the image data to the input of the inspection result. To move.

このように次の装着動作のための予備動作を検査中に実行することにより、例えば装着状態が良好との結果が入力された場合には、吸着ノズルを下降させて速やかに次の電子部品に係る装着動作を実行できる。一方で、装着状態が不良との結果が入力された場合には、以降の装着動作が取り消されることによって、電子部品の浪費が防止される。 In this way, by performing the preliminary operation for the next mounting operation during the inspection, for example, when the result that the mounting state is good is input, the suction nozzle is lowered to promptly move to the next electronic component. The mounting operation can be executed. On the other hand, when a result indicating that the mounting state is poor is input, the subsequent mounting operation is canceled, so that waste of electronic components is prevented.

(3.実施形態の構成による効果)実施形態において、検査支援装置90は、供給位置Sに供給された電子部品を保持して回路基板40上の装着位置Mpまで当該電子部品を移載する移載装置(部品移載装置13)を備える部品実装機1に適用される。検査支援装置90は、回路基板40に装着された電子部品を対象として行われる装着状態の検査を支援する。移載装置は、基台2に対して相対移動可能に支持された移動台22と、電子部品を保持する吸着ノズル24を複数支持し、移動台22に設けられる装着ヘッド23と、を有する。検査支援装置90は、回路基板40を撮像可能に移動台22に設けられたカメラ(基板カメラ16)と、部品実装機1による実装処理において電子部品のうち検査の対象とされる検査部品50が回路基板40に装着された場合に、カメラの撮像処理を制御して、当該検査部品50が収められた画像データを取得する撮像制御部33と、を備える。吸着ノズル24を現在位置NCpから装着位置Mpの上方へと移動させるとともに吸着ノズル24を昇降させて、当該吸着ノズル24に保持された検査部品50を装着位置Mpに装着する移載装置の動作であって、制御プログラムに従った順序で実行される動作を装着動作と定義する。カメラが装着位置Mpに装着された検査部品50を撮像可能に、カメラを現在位置CCpから装着位置Mpの上方へと移動させる移載装置の動作を撮像動作と定義する。撮像制御部33は、複数回の装着動作および複数回の撮像動作の実行順序を、当該実行順序における移動台22の移動距離、または当該実行順序における装着動作および撮像動作に要する動作時間に基づいて最適化する。 (3. Effect of Configuration of Embodiment) In the embodiment, the inspection support device 90 holds the electronic component supplied to the supply position S and transfers the electronic component to the mounting position Mp on the circuit board 40. The present invention is applied to the component mounter 1 including the mounting device (component transfer device 13). The inspection support device 90 supports the inspection of the mounting state performed on the electronic components mounted on the circuit board 40. The transfer device includes a moving base 22 supported so as to be movable relative to the base 2, and a mounting head 23 provided on the moving base 22 that supports a plurality of suction nozzles 24 holding electronic components. The inspection support device 90 includes a camera (substrate camera 16) provided on the moving table 22 so that the circuit board 40 can be imaged, and an inspection component 50 to be inspected among electronic components in the mounting process by the component mounter 1. An image pickup control unit 33 that controls the image pickup process of the camera when mounted on the circuit board 40 and acquires the image data in which the inspection component 50 is stored. By the operation of the transfer device that moves the suction nozzle 24 from the current position NCp to above the mounting position Mp and moves the suction nozzle 24 up and down to mount the inspection component 50 held by the suction nozzle 24 at the mounting position Mp. Therefore, the operation executed in the order according to the control program is defined as the mounting operation. The operation of the transfer device that moves the camera from the current position CCp to above the mounting position Mp so that the camera can image the inspection component 50 mounted at the mounting position Mp is defined as an imaging operation. The imaging control unit 33 determines the execution order of the plurality of mounting operations and the plurality of imaging operations based on the moving distance of the movable table 22 in the execution order or the operation time required for the mounting operation and the imaging operation in the execution order. Optimize.

また、実施形態における検査支援方法は、複数回の装着動作および複数回の撮像動作の実行順序を、当該実行順序における移動台22の移動距離、または当該実行順序における装着動作および撮像動作に要する動作時間に基づいて最適化し、部品実装機1による実装処理において電子部品のうち検査の対象とされる検査部品50が回路基板40に装着された場合に、カメラ(基板カメラ16)の撮像処理を制御して、当該検査部品50が収められた画像データを取得する。 In the inspection support method according to the embodiment, the execution order of the plurality of mounting operations and the plurality of imaging operations is the movement distance of the movable table 22 in the execution order, or the operation required for the mounting operation and the imaging operation in the execution order. Controlling the imaging process of the camera (the substrate camera 16) when the inspection component 50, which is an electronic component to be inspected in the mounting process by the component mounter 1, is optimized on the basis of time and is mounted on the circuit board 40. Then, the image data containing the inspection component 50 is acquired.

このような構成によると、検査支援装置90および検査支援方法(S21〜S26)は、部品実装機1の機内に設けられた基板カメラ16の撮像による画像データに基づく装着状態の検査を可能とする。ここで、検査部品50を収めた画像データを取得するためには、当該検査部品50が回路基板40に装着された後に、基板カメラ16の撮像処理が実行される。この撮像処理では、基板カメラ16のカメラ視野に当該検査部品50が収まるように移動台22を移動させる必要がある。 With such a configuration, the inspection support device 90 and the inspection support method (S21 to S26) enable the inspection of the mounting state based on the image data captured by the board camera 16 provided inside the component mounter 1. .. Here, in order to acquire the image data containing the inspection component 50, the imaging process of the substrate camera 16 is executed after the inspection component 50 is mounted on the circuit board 40. In this imaging process, it is necessary to move the moving table 22 so that the inspection component 50 fits within the camera field of view of the board camera 16.

しかしながら、装着動作および撮像動作をそれぞれ一連で実行したり、装着動作と撮像動作を交互に実行したりするのでは、複数回の装着動作にそれぞれ対応する装着位置Mpと、吸着ノズル24と基板カメラ16の光軸までの距離との関係によっては、移動台22の移動距離が長くなり、撮像処理の効率が低下することが見出された。 However, if the mounting operation and the image capturing operation are executed in series, or if the mounting operation and the image capturing operation are alternately executed, the mounting position Mp corresponding to each of the plurality of mounting operations, the suction nozzle 24, and the substrate camera. It has been found that the moving distance of the movable table 22 becomes long depending on the relationship with the distance of 16 to the optical axis, and the efficiency of the image pickup processing decreases.

そこで、検査支援装置90および検査支援方法は、本実施形態において例示したように、制御プログラムによって予め設定された順序で実行される装着動作に対して、実行パターンおける移動台22の移動距離に基づいて、撮像動作を実行するタイミングを最適化する。これにより、効率的に必要な画像データが取得されるので、装着状態の検査の効率向上を図ることができる。 Therefore, the inspection support device 90 and the inspection support method are based on the moving distance of the movable table 22 in the execution pattern for the mounting operation executed in the order preset by the control program, as illustrated in the present embodiment. Thus, the timing of executing the imaging operation is optimized. As a result, the necessary image data can be acquired efficiently, so that the efficiency of inspection of the mounted state can be improved.

また、移載装置(部品移載装置13)が供給された電子部品を複数保持してから当該保持した数量に等しい回数分の装着動作が繰り返し終えるまでの動作を装着サイクルと定義する。撮像制御部33は、装着サイクルに含まれる装着動作および当該装着動作に対応する撮像動作を対象として実行順序を最適化する。このような構成によると、装着サイクルを一単位として複数回の装着動作および複数回の撮像動作の実行順序が最適化される。よって、一の装着サイクルによって装着される電子部品に複数の検査部品50が含まれる場合に、他の装着サイクルに影響することなく、装着サイクルにおける実装処理への影響を抑制しつつ、必要な撮像処理を実行できる。 In addition, the operation from the holding of a plurality of supplied electronic components by the transfer device (component transfer device 13) to the end of the mounting operation for the number of times equal to the held number is defined as a mounting cycle. The imaging control unit 33 optimizes the execution order for the mounting operation included in the mounting cycle and the imaging operation corresponding to the mounting operation. According to such a configuration, the execution sequence of a plurality of mounting operations and a plurality of imaging operations is optimized with the mounting cycle as one unit. Therefore, when a plurality of inspection components 50 are included in the electronic components mounted in one mounting cycle, the necessary imaging is performed while suppressing the influence on the mounting process in the mounting cycle without affecting other mounting cycles. Can perform processing.

また、装着サイクルのうち連続する複数の装着動作の各々に対応する複数の撮像動作(第一装着グループMg1、第二装着グループMg2)は、複数の装着動作が終了した後に一連で実行される。このような構成によると、例えば第二装着グループMg2により装着される複数の検査部品50同士の装着位置Mpが比較的近い場合に、これらの検査部品50に対応する装着動作を一連で実行するとともに、その後に複数の撮像動作を一連でまとめて実行する。これにより、撮像処理の実行による移動台22の移動距離を短くすることができる。 Further, the plurality of imaging operations (first mounting group Mg1 and second mounting group Mg2) corresponding to each of the plurality of consecutive mounting operations in the mounting cycle are executed in series after the plurality of mounting operations are completed. According to such a configuration, for example, when the mounting positions Mp of the plurality of inspection components 50 mounted by the second mounting group Mg2 are relatively close to each other, the mounting operation corresponding to these inspection components 50 is performed in series. After that, a plurality of imaging operations are collectively executed in a series. As a result, the moving distance of the moving table 22 due to the execution of the image pickup process can be shortened.

また、複数の装着動作の各々に対応する複数の撮像動作は、複数の装着動作の実行順序と逆順で実行される。このような構成によると、例えば第一装着グループMg1における最後の装着動作に対応する装着位置Mpの上方に吸着ノズル24が位置する状態において、この状態での基板カメラ16の位置が、最初の装着位置Mpに対応する装着位置Mpよりも最後の装着動作に対応する装着位置Mpに近い場合に、これらの検査部品50に対応する装着動作を装着動作の逆順で実行する。これにより、撮像処理の実行による移動台22の移動距離を短くすることができる。 Further, the plurality of imaging operations corresponding to each of the plurality of mounting operations are executed in the reverse order of the execution order of the plurality of mounting operations. With this configuration, for example, when the suction nozzle 24 is located above the mounting position Mp corresponding to the last mounting operation in the first mounting group Mg1, the position of the substrate camera 16 in this state is the first mounting position. When it is closer to the mounting position Mp corresponding to the last mounting operation than the mounting position Mp corresponding to the position Mp, the mounting operations corresponding to these inspection components 50 are executed in the reverse order of the mounting operation. As a result, the moving distance of the moving table 22 due to the execution of the image pickup process can be shortened.

また、装着サイクルのうち連続する複数の装着動作の各々に対応する複数の撮像動作(第三装着グループMg3)は、対応する装着動作の実行後に実行される。このような構成によると、装着グループMg3により装着される複数の検査部品50同士の装着位置Mpが比較的遠い場合に、これらの検査部品50に対応する装着動作と撮像動作を交互に実行する。これにより、撮像処理の実行によって、移動台22の移動距離が延びることが抑制される。 Further, the plurality of imaging operations (third mounting group Mg3) corresponding to each of the plurality of consecutive mounting operations in the mounting cycle are executed after the corresponding mounting operation is executed. With such a configuration, when the mounting positions Mp of the plurality of inspection components 50 mounted by the mounting group Mg3 are relatively far, the mounting operation and the imaging operation corresponding to these inspection components 50 are alternately executed. As a result, it is possible to prevent the movement distance of the movable table 22 from being extended due to the execution of the imaging process.

また、撮像制御部33は、部品実装機1による実装処理の実行中において、予め設定された条件に基づいて、複数回の装着動作および複数回の撮像動作の実行順序を最適化する処理を実行し、カメラ(基板カメラ16)の撮像処理を実装処理に割り込ませる。このような構成によると、特に装着精度が要求される部品種別の電子部品を検査対象としたり、定期的な検査を行ったりすることが可能となる。よって、回路基板40製品の品質が維持される。 In addition, the image pickup control unit 33 executes processing for optimizing the execution sequence of a plurality of mounting operations and a plurality of image pickup operations based on a preset condition during execution of the mounting processing by the mounter 1. Then, the imaging process of the camera (board camera 16) is interrupted in the mounting process. According to such a configuration, it becomes possible to inspect an electronic component of a component type for which mounting accuracy is particularly required or perform a regular inspection. Therefore, the quality of the circuit board 40 product is maintained.

また、予め設定された条件は、装着予定の部品種別、現在時刻、実行された装着動作の回数、または前回の検査から現在までの時間である。このような構成によると、作業者による任意のタイミングで検査を行うことができる。これにより、回路基板40製品の品質が好適に維持される。 In addition, the preset conditions are the type of parts to be mounted, the current time, the number of mounting operations performed, or the time from the previous inspection to the present. With such a configuration, the inspection can be performed at any timing by the operator. Thereby, the quality of the product of the circuit board 40 is preferably maintained.

また、撮像制御部33は、画像データを取得してから検査の結果が入力されるまでの期間に、吸着ノズル24を現在位置NCpから次の装着動作における装着位置Mpの上方へと移動させる予備動作を実行する。これにより、例えば装着状態が良好との結果が入力された場合には、吸着ノズル24を下降させて速やかに次の電子部品に係る装着動作を実行できる。よって、撮像処理の実行に伴うスループットの低下が抑制される。また、装着状態が不良との結果が入力された場合には、以降の装着動作が取り消されることによって、電子部品の浪費を防止することができる。 In addition, the imaging control unit 33 reserves for moving the suction nozzle 24 from the current position NCp to above the mounting position Mp in the next mounting operation during the period from the acquisition of the image data to the input of the inspection result. Perform an action. As a result, for example, when a result indicating that the mounting state is good is input, the suction nozzle 24 can be lowered to quickly execute the mounting operation for the next electronic component. Therefore, it is possible to suppress a decrease in throughput due to the execution of the imaging process. Further, when the result indicating that the mounting state is poor is input, the subsequent mounting operation is canceled, so that waste of electronic components can be prevented.

<実施形態の変形態様>実施形態において、検査支援装置90の撮像制御部33は、S23で算出された複数の実行パターンについて、装着動作および撮像動作の実行順序における移動台22の移動距離を算出する(S24)。これに対して、撮像制御部33は、複数の実行パターンについて、実行順序における装着動作MV1〜MV12および撮像動作IV1〜IV12に要する動作時間(所要時間)を算出してもよい。 <Modification of Embodiment> In the embodiment, the imaging control unit 33 of the inspection support apparatus 90 calculates the movement distance of the movable table 22 in the execution sequence of the mounting operation and the imaging operation for the plurality of execution patterns calculated in S23. Yes (S24). On the other hand, the imaging control unit 33 may calculate the operation time (required time) required for the mounting operations MV1 to MV12 and the imaging operations IV1 to IV12 in the execution order for a plurality of execution patterns.

つまり、撮像制御部33は、S26において、移動台22の移動距離に換えて、それぞれの実行順序を実行した場合の所要時間に基づいて、最適な実行順序を選択する。ここで、移動台22の移動距離と所要時間との間には相関関係があるが、必ずしも比例関係とならない。これは、所要時間には、部品移載装置13の動作における加速および減速に要する時間が含まれたり、移動台22の移動動作と装着ヘッド23の動作(例えば、吸着ノズル24の割り出し動作など)が並行して実行され得たりすることに起因する。 That is, in S26, the imaging control unit 33 selects the optimum execution order based on the time required to execute each execution order instead of the movement distance of the movable table 22. Here, although there is a correlation between the moving distance of the movable table 22 and the required time, it is not necessarily proportional. This is because the required time includes the time required for acceleration and deceleration in the operation of the component transfer device 13, the movement operation of the moving table 22 and the operation of the mounting head 23 (for example, the indexing operation of the suction nozzle 24). Can be executed in parallel.

そのため、撮像制御部33は、所要時間に基づいて実行順序を最適化する構成としてもよい。これにより、移動台22の移動距離に基づく場合と比較して、より正確に装着動作および撮像動作の実行順序を最適化することができる。また、最適化による処理負荷を軽減する観点からは、実施形態にて例示した態様が好適である。 Therefore, the imaging control unit 33 may be configured to optimize the execution order based on the required time. As a result, it is possible to more accurately optimize the execution sequence of the mounting operation and the imaging operation, as compared with the case based on the moving distance of the moving table 22. Further, from the viewpoint of reducing the processing load due to optimization, the aspect exemplified in the embodiment is preferable.

また、実施形態において、検査支援装置90は、一の装着サイクルを最適化の対象とした。これに対して、検査支援装置90は、複数の装着サイクルをまとめて最適化の対象としてもよいし、また装着サイクルの一部である装着グループを最適化の対象としてもよい。このような構成よると、実施形態と同様の効果を奏する。 Further, in the embodiment, the inspection support device 90 targets one mounting cycle for optimization. On the other hand, the inspection support apparatus 90 may collectively target a plurality of mounting cycles for optimization, or may target a mounting group that is a part of the mounting cycle for optimization. With such a configuration, the same effect as that of the embodiment can be obtained.

1:部品実装機、2:基台13:部品移載装置(移載装置)22:移動台、23:装着ヘッド、24:吸着ノズル16:基板カメラ(カメラ)30:制御装置、33:撮像制御部、40:回路基板、50:検査部品(電子部品)90:検査支援装置Sp:供給位置、Mp:装着位置NCp:現在位置NCp1:第一現在位置、NCp2:第二現在位置CCp:現在位置CCp1:第一現在位置、CCp2:第二現在位置Mg1:第一装着グループMg2:第二装着グループMg3:第三装着グループ 1: Component mounter 2: Base 13: Component transfer device (transfer device) 22: Moving table, 23: Mounting head, 24: Suction nozzle 16: Substrate camera (camera) 30: Control device, 33: Imaging Control unit, 40: circuit board, 50: inspection component (electronic component) 90: inspection support device Sp: supply position, Mp: mounting position NCp: current position NCp1: first current position, NCp2: second current position CCp: current Position CCp1: first current position, CCp2: second current position Mg1: first mounting group Mg2: second mounting group Mg3: third mounting group

Claims (9)

供給位置に供給された電子部品を保持して回路基板上の装着位置まで当該電子部品を移載する移載装置を備える部品実装機に適用され、
前記回路基板に装着された前記電子部品を対象として行われる装着状態の検査を支援する検査支援装置であって、
前記移載装置は、
基台に対して相対移動可能に支持された移動台と、
前記電子部品を保持する吸着ノズルを複数支持し、前記移動台に設けられる装着ヘッドと、を有し、
前記検査支援装置は、
前記ヘッドが設けられた前記移動台に、前記回路基板を撮像可能に設けられたカメラと、
前記部品実装機による実装処理において前記電子部品のうち前記検査の対象とされる検査部品が前記回路基板に装着された場合に、前記カメラの撮像処理を制御して、当該検査部品が収められた画像データを取得する撮像制御部と、を備え、
前記吸着ノズルを、直前動作に依存する位置であり、この直前動作が終了した時点における吸着ノズルの位置に相当する現在位置から前記装着位置の上方へと移動させるとともに前記吸着ノズルを昇降させて、当該吸着ノズルに保持された前記検査部品を前記装着位置に装着する前記移載装置の動作であって、制御プログラムに従った順序で実行される前記動作を装着動作と定義し、
記カメラを、直前動作に依存する位置であり、この直前動作が終了した時点における基板カメラの位置に相当する現在位置から、前記装着位置に装着された前記検査部品を前記カメラが撮像可能な前記装着位置の上方へと移動させる前記移載装置の動作を撮像動作と定義し、
前記撮像制御部は、複数回の前記装着動作と当該装着動作に対応する複数回の前記撮像動作とを含む前記移載装置の動作の実行順序を、当該実行順序における前記移動台の合計の移動距離が短くなるように、または当該実行順序における前記装着動作および前記撮像動作に要する合計の動作時間が短くなるように最適化する検査支援装置。
Applied to a component mounter equipped with a transfer device that holds an electronic component supplied at a supply position and transfers the electronic component to a mounting position on a circuit board,
An inspection support device for supporting an inspection of a mounting state performed on the electronic component mounted on the circuit board,
The transfer device,
A moving base supported so that it can move relative to the base,
A plurality of suction nozzles for holding the electronic component are supported, and a mounting head provided on the movable table,
The inspection support device,
A camera provided on the movable table provided with the head so that the circuit board can be imaged ;
In the mounting process by the component mounter, when the inspection component to be inspected among the electronic components is mounted on the circuit board, the imaging process of the camera is controlled to store the inspection component. An imaging control unit for acquiring image data,
The suction nozzle is a position that depends on the immediately preceding operation, and the suction nozzle is moved up and down while moving from the current position corresponding to the position of the suction nozzle at the time when the immediately previous operation is finished to above the mounting position, The operation of the transfer device for mounting the inspection component held by the suction nozzle at the mounting position, wherein the operation executed in the order according to the control program is defined as a mounting operation,
The pre-Symbol camera, a dependent position immediately before the operation, from a current position corresponding to the position of the board camera at the time immediately before this operation is completed, the test components mounted on the mounting position the camera capable imaging The operation of the transfer device for moving the mounting position above is defined as an imaging operation,
The imaging control unit sets the execution order of the operations of the transfer device including the plurality of mounting operations and the plurality of imaging operations corresponding to the mounting operations, and the total movement of the movable table in the execution order. An inspection support apparatus that is optimized so that the distance is shortened or the total operation time required for the mounting operation and the imaging operation in the execution sequence is shortened .
前記移載装置が供給された前記電子部品を複数保持してから当該保持した数量に等しい回数分の前記装着動作が繰り返し終えるまでの動作を装着サイクルと定義し、前記撮像制御部は、前記装着サイクルに含まれる前記装着動作および当該装着動作に対応する前記撮像動作を対象として前記実行順序を最適化する、請求項1に記載の検査支援装置。 The operation from the holding of a plurality of the supplied electronic components by the transfer device to the repetition of the mounting operation for a number of times equal to the held number is defined as a mounting cycle. The inspection support apparatus according to claim 1, wherein the execution order is optimized for the mounting operation included in a cycle and the imaging operation corresponding to the mounting operation. 前記装着サイクルのうち連続する複数の前記装着動作の各々に対応する複数の前記撮像動作は、複数の前記装着動作が終了した後に一連で実行される、請求項2に記載の検査支援装置。 The inspection support apparatus according to claim 2, wherein the plurality of imaging operations corresponding to each of the plurality of consecutive mounting operations in the mounting cycle are executed in series after the plurality of mounting operations are completed. 複数の前記装着動作の各々に対応する複数の前記撮像動作は、複数の前記装着動作の実行順序と逆順で実行される、請求項3に記載の検査支援装置。 The inspection support apparatus according to claim 3, wherein the plurality of imaging operations corresponding to each of the plurality of mounting operations are executed in a reverse order of an execution order of the plurality of mounting operations. 前記装着サイクルのうち連続する複数の前記装着動作の各々に対応する複数の前記撮像動作は、対応する前記装着動作の実行後に実行される、請求項2〜4の何れか一項に記載の検査支援装置。 The inspection according to any one of claims 2 to 4, wherein the plurality of imaging operations corresponding to each of the plurality of consecutive mounting operations in the mounting cycle are executed after the corresponding mounting operation is executed. Support device. 前記撮像制御部は、前記部品実装機による実装処理の実行中において、予め設定された条件に基づいて、複数回の前記装着動作および複数回の前記撮像動作の実行順序を最適化する処理を実行し、前記カメラの撮像処理を前記実装処理に割り込ませる、請求項1〜5の何れか一項に記載の検査支援装置。 The imaging control unit executes processing for optimizing an execution sequence of the mounting operation and the imaging operation a plurality of times based on a preset condition during execution of the mounting processing by the mounter. The inspection support apparatus according to claim 1, wherein the imaging process of the camera is interrupted in the mounting process. 予め設定された前記条件は、装着予定の部品種別、現在時刻、実行された前記装着動作の回数、または前回の前記検査から現在までの時間である、請求項6に記載の検査支援装置。 The inspection support apparatus according to claim 6, wherein the preset condition is a component type scheduled to be mounted, a current time, the number of times of the mounting operation executed, or a time from the previous inspection to the present. 前記撮像制御部は、前記画像データを取得してから前記検査の結果が入力されるまでの期間に、前記吸着ノズルを現在位置から次の前記装着動作における前記装着位置の上方へと移動させる予備動作を実行する、請求項1〜7の何れかに記載の検査支援装置。 The imaging control unit reserves for moving the suction nozzle from the current position to above the mounting position in the next mounting operation during a period from the acquisition of the image data to the input of the inspection result. The inspection support apparatus according to claim 1, which performs an operation. 供給位置に供給された電子部品を保持して回路基板上の装着位置まで当該電子部品を移載する移載装置を備える部品実装機に適用され、前記回路基板に装着された前記電子部品を対象として行われる装着状態の検査を支援する検査支援方法であって、前記移載装置は、基台に対して相対移動可能に支持された移動台と、前記電子部品を保持する吸着ノズルを複数支持し、前記移動台に設けられる装着ヘッドと、を有し、前記吸着ノズルを、直前動作に依存する位置であり、この直前動作が終了した時点における吸着ノズルの位置に相当する現在位置から前記装着位置の上方へと移動させるとともに前記吸着ノズルを昇降させて、当該吸着ノズルに保持された前記検査部品を前記装着位置に装着する前記移載装置の動作であって、制御プログラムに従った順序で実行される前記動作を装着動作と定義し、前記ヘッドが設けられた前記移動台に前記回路基板を撮像可能に設けられたカメラを、直前動作に依存する位置であり、この直前動作が終了した時点における基板カメラの位置に相当する現在位置から、前記装着位置に装着された前記検査部品を前記カメラが撮像可能な前記装着位置の上方へと移動させる前記移載装置の動作を撮像動作と定義し、前記検査支援方法は、複数回の前記装着動作と当該装着動作に対応する複数回の前記撮像動作とを含む前記移載装置の動作の実行順序を、当該実行順序における前記移動台の合計の移動距離が短くなるように、または当該実行順序における前記装着動作および前記撮像動作に要する合計の動作時間が短くなるように最適化し、前記部品実装機による実装処理において前記電子部品のうち前記検査の対象とされる検査部品が前記回路基板に装着された場合に、前記カメラの撮像処理を制御して、当該検査部品が収められた画像データを取得する検査支援方法。 Applied to a component mounter equipped with a transfer device that holds an electronic component supplied at a supply position and transfers the electronic component to a mounting position on a circuit board, and targets the electronic component mounted on the circuit board. And a plurality of suction nozzles for holding the electronic components, the moving apparatus being supported so as to be movable relative to a base. And a mounting head provided on the movable table, the suction nozzle being a position depending on the immediately preceding operation, and the mounting from the current position corresponding to the position of the suction nozzle at the time when the immediately preceding operation is completed. An operation of the transfer device that moves the suction nozzle up and down while moving the suction nozzle to the position above and mounts the inspection component held by the suction nozzle at the mounting position, in an order according to a control program. The operation to be executed is defined as a mounting operation, and the camera provided on the movable table provided with the head so as to be able to capture an image of the circuit board is a position that depends on the immediately preceding operation, and the immediately preceding operation is completed. An operation of the transfer device that moves the inspection component mounted at the mounting position above the mounting position where the camera can image from the current position corresponding to the position of the board camera at the time point is defined as an imaging operation. However , the inspection support method, the execution sequence of the operation of the transfer apparatus including a plurality of times of the mounting operation and a plurality of times of the imaging operation corresponding to the mounting operation, the total of the movable table in the execution order. as the moving distance is short, or optimized to operate the total time required for the mounting operation and the imaging operation in the execution sequence becomes shorter, the inspection of the electronic component in the mounting process by the component mounter The inspection support method for controlling the imaging process of the camera to acquire the image data containing the inspection component when the inspection component to be targeted is attached to the circuit board.
JP2016141116A 2016-07-19 2016-07-19 Inspection support apparatus and inspection support method Active JP6715714B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016141116A JP6715714B2 (en) 2016-07-19 2016-07-19 Inspection support apparatus and inspection support method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016141116A JP6715714B2 (en) 2016-07-19 2016-07-19 Inspection support apparatus and inspection support method

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020099744A Division JP7017723B2 (en) 2020-06-09 2020-06-09 Inspection method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018014344A JP2018014344A (en) 2018-01-25
JP6715714B2 true JP6715714B2 (en) 2020-07-01

Family

ID=61021184

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016141116A Active JP6715714B2 (en) 2016-07-19 2016-07-19 Inspection support apparatus and inspection support method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6715714B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114026975B (en) * 2019-07-04 2023-04-14 株式会社富士 Component mounting apparatus
JP7377870B2 (en) * 2019-07-24 2023-11-10 株式会社Fuji Mounting equipment and mounting equipment control method

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6418049A (en) * 1987-07-14 1989-01-20 Sharp Kk Inspection for mounting of chip part
JP4767995B2 (en) * 2007-05-24 2011-09-07 パナソニック株式会社 Component mounting method, component mounting machine, mounting condition determining method, mounting condition determining apparatus, and program
JP5301172B2 (en) * 2008-02-26 2013-09-25 パナソニック株式会社 Component mounting machine and component mounting method
CN107006148B (en) * 2014-12-16 2020-06-30 株式会社富士 Component mounting device and component mounting system
WO2016117017A1 (en) * 2015-01-20 2016-07-28 富士機械製造株式会社 Inspection support device and inspection support method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2018014344A (en) 2018-01-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6498704B2 (en) Inspection support apparatus and inspection support method
JP6310058B2 (en) Image processing apparatus and substrate production system
JP6684792B2 (en) Mounting device, imaging processing method, and imaging unit
JP6571116B2 (en) Inspection support device
US10070570B2 (en) Mounting device, image processing method, and imaging unit
JP6715714B2 (en) Inspection support apparatus and inspection support method
JP2018064045A (en) Device for optimizing attachment processing
JP6795520B2 (en) Mounting device and imaging processing method
JP2018064019A (en) Device for optimizing attachment processing
JP7017723B2 (en) Inspection method
JP6670410B2 (en) Inspection support device and inspection support method
JPWO2018134997A1 (en) Parts mounting machine
JP2018037586A (en) Mounting device
CN117280885A (en) Identification device and identification method
WO2020170349A1 (en) Appearance inspection method, mounting device
JP2016025148A (en) Mounting setting device and mounting setting method
JP2004327695A (en) Electronic part installing device and method therefor
JP2005236311A (en) Method of mounting electronic component, and device for mounting electronic component

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190514

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20191212

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A132

Effective date: 20191217

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200211

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200512

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200609

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6715714

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250