JP6537814B2 - 異常の表面上の最深点を自動的に識別するための方法およびデバイス - Google Patents
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Description
ここで、(xiRS、yiRS、ziRS)は定義された基準表面250上の任意の3次元点の座標であり、およびk0RS、k1RS、およびk2RSは3次元座標のカーブフィッティングにより得られた係数である。
102 プローブ
110 挿入チューブ
112 イメージャハーネス
120 ヘッドアセンブリ
122 プローブ光学系
124 イメージャ
126 イメージャハイブリッド
130 取り外し可能な先端部
132 先端視野光学系
140 プローブ電子回路
142 イメージャインタフェース電子回路
144 キャリブレーションメモリ
146 マイクロコントローラ
150 CPU
152 CPUプログラムメモリ
154 揮発性メモリ
156 不揮発性メモリ
158 コンピュータI/Oインタフェース
160 ビデオプロセッサ
162 ビデオメモリ
170 一体型ディスプレイ
172 外付けモニタ
180 ジョイスティック
182 ボタン
184 キーパッド
186 マイクロフォン
200 画像
202 表示対象物
204 異常
210 表面
221 基準表面点
222 基準表面点
223 基準表面点
224 最深表面点
231 基準表面カーソル
232 基準表面カーソル
233 基準表面カーソル
234 最深点カーソル
241 画素
242 画素
243 画素
250 基準表面
260 基準表面形状
261 基準表面点
262 基準表面点
263 基準表面点
264 基準表面点
270 関心領域
271 関心領域形状
280 関心領域
281 関心領域形状
282 最深点グラフィックインジケータ
290 深さ
300 方法
310 表面の画像(ステップ)
320 表面点の3D(ステップ)
330 基準表面(ステップ)
340 関心領域(ステップ)
350 関心領域内の表面点の深さ(ステップ)
360 最深表面点の位置および深さ
400 プロファイル
Claims (13)
- 表示対象物(202)の表面上の異常(204)の表面上の最深点を自動的に識別する方法であって、
前記表示対象物(202)の前記表面の画像をイメージャ(124)で取得するステップと、
前記表示対象物(202)の画像をモニタ(170、172)上に表示するステップと、
中央処理ユニット(150)を使用して前記表示対象物(202)の前記表面上の複数の点の3次元座標を決定するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して基準表面(250)を決定するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記異常(204)の前記表面上の複数の点を含む関心領域(270、280)を決定するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記関心領域(270、280)内の前記異常(204)の前記表面上の前記複数の点のそれぞれについて深さを決定するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記異常(204)の前記表面上の前記最深点として最大の深さを有する前記関心領域(270、280)内の前記異常(204)の前記表面上の点を決定するステップと、
前記異常(204)の前記表面の前記画像上の前記異常(204)の前記表面上の前記最深点の位置でのグラフィカルインジケータ(282)を前記モニタ(170、172)上に表示するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記関心領域(270、280)内の前記グラフィカルインジケータ(282)の動きを監視するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記グラフィカルインジケータ(282)が移動を停止したかどうかを検出するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記グラフィカルインジケータ(282)に近接する前記異常(204)の前記表面上の前記複数の点のそれぞれについて深さを決定するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記グラフィカルインジケータ(282)に近接する前記異常(204)の前記表面上の前記最深点として最大の深さを有する前記グラフィカルインジケータ(282)に近接する前記異常(204)の前記表面上の前記点を識別するステップと、
前記グラフィカルインジケータ(282)に近接する前記異常(204)の前記表面上の前記最深点に前記グラフィカルインジケータ(282)を移動するステップと、
を含み、
前記基準表面(250)を決定する前記ステップは、
ポインティングデバイスを使用して前記異常(204)に近接する前記表示対象物(202)の前記表面の複数の基準表面点(221、222、223、261、262、263、264)を選択するステップと、
前記複数の基準表面点(221、222、223、261、262、263、264)の3次元座標のカーブフィッティングを実行するステップと、
を含む、
方法。 - 前記グラフィカルインジケータ(282)はカーソルである、請求項1に記載の方法。
- 前記異常(204)の前記表面上の前記最深点の前記深さを前記モニタ(170、172)上に表示するステップをさらに備える、請求項1または2に記載の方法。
- 前記画像は2次元画像である、請求項1から3のいずれかに記載の方法。
- 前記基準表面(250)は平面、円柱、および球体の1つである、請求項1から4のいずれかに記載の方法。
- 前記異常(204)の前記表面上の前記複数の点を含む前記関心領域(270、280)を決定する前記ステップは前記表示対象物(202)の前記表面上の前記基準表面点(221、222、223、261、262、263、264)に基づいて前記異常(204)に近接する関心領域形状(271、281)を形成するステップを備える、請求項1から5のいずれかに記載の方法。
- 前記関心領域形状(271、281)は前記基準表面点(221、222、223、261、262、263、264)を形状が通過するまたは近接することにより形成される、請求項6に記載の方法。
- 前記関心領域形状(271、281)は円形、正方形、長方形、三角形、および円筒の1つである、請求項6または7に記載の方法。
- 前記関心領域(270、280)内の前記異常(204)の前記表面上の前記複数の点のそれぞれについて前記深さを決定する前記ステップは、前記基準表面(250)および各点との間に延びる線の距離を決定するステップであって、前記線は前記基準表面(250)と垂直に交差する、決定するステップを備える、請求項1から8のいずれかに記載の方法。
- 前記異常(204)の前記表面上の前記最深点として最大の深さを有する前記関心領域(270、280)内の前記異常(204)の前記表面上の前記点を決定する前記ステップは前記基準表面(250)および前記関心領域(270、280)内の前記異常(204)の前記表面上の前記複数の点のそれぞれとの間に延びる最も長い線で前記点を選択するステップを備える、請求項1から9のいずれかに記載の方法。
- 前記関心領域(270、280)内の前記異常(204)の前記表面上の前記最深点は前記基準表面(250)に対して凹んでいる、請求項1から10のいずれかに記載の方法。
- 前記関心領域(270、280)内の前記異常(204)の前記表面上の前記最深点は前記基準表面(250)に対して突出している、請求項1から10のいずれかに記載の方法。
- 表示対象物(202)の表面上の異常(204)の表面上の最深点を自動的に識別するデバイスであって、
前記表示対象物(202)の前記表面の画像を取得するイメージャ(124)と、
前記表示対象物(202)の画像を表示するモニタ(170、172)と、
中央処理ユニット(150)であって、
前記表示対象物(202)の前記表面上の複数の点の3次元座標を決定することと、
基準表面(250)を決定することと、
前記異常(204)の前記表面上の複数の点を含む関心領域(270、280)を決定することと、
前記関心領域(270、280)内の前記異常(204)の前記表面上の前記複数の点のそれぞれについて深さを決定することと、
前記異常(204)の前記表面上の前記最深点として最大の深さを有する前記関心領域(270、280)の前記異常(204)の前記表面上の点を決定することと、
前記異常(204)の前記表面の前記画像上の前記異常(204)の前記表面上の前記最深点の位置でのグラフィカルインジケータ(282)を前記モニタ(170、172)上に表示することと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記関心領域(270、280)内の前記グラフィカルインジケータ(282)の動きを監視することと
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記グラフィカルインジケータ(282)が移動を停止したかどうかを検出することと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記グラフィカルインジケータ(282)に近接する前記異常(204)の前記表面上の前記複数の点のそれぞれについて深さを決定することと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記グラフィカルインジケータ(282)に近接する前記異常(204)の前記表面上の前記最深点として最大の深さを有する前記グラフィカルインジケータ(282)に近接する前記異常(204)の前記表面上の前記点を識別することと、
前記グラフィカルインジケータ(282)に近接する前記異常(204)の前記表面上の前記最深点に前記グラフィカルインジケータ(282)を移動することと、
のための中央処理ユニット(150)と、
前記異常(204)に近接する前記表示対象物(202)の前記表面上の複数の基準表面点(221、222、223、261、262、263、264)を選択するためのポインティングデバイスであって、前記複数の基準表面点(221、222、223、261、262、263、264)は前記複数の基準表面点(221、222、223、261、262、263、264)の3次元座標のカーブフィッティングを実行することにより前記基準表面(250)を決定するために使用される、ポインティングデバイスと、
を備える、デバイス。
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Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10019812B2 (en) | 2011-03-04 | 2018-07-10 | General Electric Company | Graphic overlay for measuring dimensions of features using a video inspection device |
US10586341B2 (en) | 2011-03-04 | 2020-03-10 | General Electric Company | Method and device for measuring features on or near an object |
US10157495B2 (en) | 2011-03-04 | 2018-12-18 | General Electric Company | Method and device for displaying a two-dimensional image of a viewed object simultaneously with an image depicting the three-dimensional geometry of the viewed object |
US9984474B2 (en) | 2011-03-04 | 2018-05-29 | General Electric Company | Method and device for measuring features on or near an object |
US9818039B2 (en) | 2013-12-17 | 2017-11-14 | General Electric Company | Method and device for automatically identifying a point of interest in a depth measurement on a viewed object |
US9842430B2 (en) | 2013-12-17 | 2017-12-12 | General Electric Company | Method and device for automatically identifying a point of interest on a viewed object |
CA2998880C (en) * | 2015-09-25 | 2024-01-09 | General Electric Company | Method and device for measuring features on or near an object |
JP6865046B2 (ja) * | 2016-02-08 | 2021-04-28 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 視認物体の深度測定において関心点を自動的に識別する方法および装置 |
JP6736383B2 (ja) * | 2016-06-27 | 2020-08-05 | 株式会社キーエンス | 測定装置 |
JP6695748B2 (ja) * | 2016-06-27 | 2020-05-20 | 株式会社キーエンス | 測定装置 |
CA3009798A1 (en) * | 2017-07-12 | 2019-01-12 | General Electric Company | Graphic overlay for measuring dimensions of features using a video inspection device |
WO2019244345A1 (ja) * | 2018-06-22 | 2019-12-26 | オリンパス株式会社 | ランドマーク推定方法、及び、内視鏡装置 |
KR102022964B1 (ko) * | 2018-06-26 | 2019-09-19 | 주식회사 노바테크 | 구조물 내부 점검 장치 |
KR102013732B1 (ko) * | 2018-07-16 | 2019-08-23 | 금나송 | 스캔용 마커 장치 및 이를 이용한 스캔 시스템 |
CN109900713B (zh) * | 2019-04-17 | 2022-01-18 | 中国人民解放军国防科技大学 | 摄像引导的无人机风电叶片缺陷动态检测系统及其方法 |
JP2021049248A (ja) * | 2019-09-26 | 2021-04-01 | キヤノン株式会社 | 画像処理システム及びその制御方法 |
CN113393464B (zh) * | 2021-08-18 | 2021-11-05 | 苏州鼎纳自动化技术有限公司 | 一种平板玻璃缺陷的三维检测方法 |
Family Cites Families (108)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL6918432A (ja) * | 1969-01-09 | 1970-07-13 | ||
US4357660A (en) * | 1973-05-01 | 1982-11-02 | Schlumberger Technology Corporation | Formation dip and azimuth processing technique |
US4188122A (en) * | 1978-03-27 | 1980-02-12 | Rockwell International Corporation | Interferometer |
US4493105A (en) | 1982-03-31 | 1985-01-08 | General Electric Company | Method and apparatus for visual image processing |
US4688184A (en) * | 1984-03-29 | 1987-08-18 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | System for measuring three-dimensional coordinates |
US4983836A (en) * | 1988-06-30 | 1991-01-08 | Nkk Corporation | Method for detecting thinned out portion on inner surface or outer surface of pipe |
US4988886A (en) | 1989-04-06 | 1991-01-29 | Eastman Kodak Company | Moire distance measurement method and apparatus |
FR2647913B1 (fr) | 1989-06-05 | 1991-09-13 | Essilor Int | Dispositif optique a reseau et element separateur pour le controle, par detection de phase, d'un quelconque systeme optique, en particulier d'une lentille ophtalmique |
US4980763A (en) | 1989-06-12 | 1990-12-25 | Welch Allyn, Inc. | System for measuring objects viewed through a borescope |
US5198877A (en) * | 1990-10-15 | 1993-03-30 | Pixsys, Inc. | Method and apparatus for three-dimensional non-contact shape sensing |
US5434669A (en) | 1990-10-23 | 1995-07-18 | Olympus Optical Co., Ltd. | Measuring interferometric endoscope having a laser radiation source |
US5175601A (en) | 1991-10-15 | 1992-12-29 | Electro-Optical Information Systems | High-speed 3-D surface measurement surface inspection and reverse-CAD system |
EP0549182A2 (en) | 1991-12-23 | 1993-06-30 | General Electric Company | Apparatus and method for displaying surgical cuts in three-dimensional models |
DE4301716C2 (de) | 1992-02-04 | 1999-08-12 | Hitachi Ltd | Projektionsbelichtungsgerät und -verfahren |
US5273429A (en) * | 1992-04-03 | 1993-12-28 | Foster-Miller, Inc. | Method and apparatus for modeling a dental prosthesis |
US5716324A (en) | 1992-08-25 | 1998-02-10 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Endoscope with surface and deep portion imaging systems |
US5307152A (en) | 1992-09-29 | 1994-04-26 | Industrial Technology Institute | Moire inspection system |
US5633675A (en) | 1993-02-16 | 1997-05-27 | Welch Allyn, Inc, | Shadow probe |
US5645740A (en) * | 1993-11-01 | 1997-07-08 | Naiman; Charles S. | System and assemblage for producing microtexturized substrates and implants |
US5510833A (en) | 1994-06-13 | 1996-04-23 | Display Laboratories Inc. | Method and apparatus for transforming coordinate systems in an automated video monitor alignment system |
US5581352A (en) | 1994-09-22 | 1996-12-03 | Zeien; Robert | Phase shifting device with selectively activated grating generator |
US5782762A (en) | 1994-10-27 | 1998-07-21 | Wake Forest University | Method and system for producing interactive, three-dimensional renderings of selected body organs having hollow lumens to enable simulated movement through the lumen |
US6208416B1 (en) | 1996-03-22 | 2001-03-27 | Loughborough University Innovations Limited | Method and apparatus for measuring shape of objects |
US6064759A (en) | 1996-11-08 | 2000-05-16 | Buckley; B. Shawn | Computer aided inspection machine |
US5822066A (en) | 1997-02-26 | 1998-10-13 | Ultratech Stepper, Inc. | Point diffraction interferometer and pin mirror for use therewith |
GB9716240D0 (en) | 1997-07-31 | 1997-10-08 | Tricorder Technology Plc | Scanning apparatus and methods |
US6201541B1 (en) | 1997-12-11 | 2001-03-13 | Cognitens, Ltd. | System and method for “Stitching” a plurality of reconstructions of three-dimensional surface features of object(s) in a scene defined relative to respective coordinate systems to relate them to a common coordinate system |
US6438272B1 (en) | 1997-12-31 | 2002-08-20 | The Research Foundation Of State University Of Ny | Method and apparatus for three dimensional surface contouring using a digital video projection system |
US6011624A (en) | 1998-01-06 | 2000-01-04 | Zygo Corporation | Geometrically-Desensitized interferometer with adjustable range of measurement depths |
JP3561403B2 (ja) | 1998-01-21 | 2004-09-02 | 富士通株式会社 | 3次元データ変換装置及び記録媒体 |
US6717578B1 (en) | 1998-02-17 | 2004-04-06 | Sun Microsystems, Inc. | Graphics system with a variable-resolution sample buffer |
US6256595B1 (en) | 1998-03-04 | 2001-07-03 | Amada Company, Limited | Apparatus and method for manually selecting, displaying, and repositioning dimensions of a part model |
JP2000227326A (ja) | 1998-12-02 | 2000-08-15 | Nikon Corp | 平坦度測定装置 |
US6129722A (en) * | 1999-03-10 | 2000-10-10 | Ruiz; Luis Antonio | Interactive corrective eye surgery system with topography and laser system interface |
US6459481B1 (en) | 1999-05-06 | 2002-10-01 | David F. Schaack | Simple system for endoscopic non-contact three-dimentional measurement |
JP4399068B2 (ja) * | 1999-11-18 | 2010-01-13 | 本田技研工業株式会社 | 筒形状加工物の評価方法および評価装置 |
JP4574770B2 (ja) | 1999-11-29 | 2010-11-04 | 株式会社東芝 | 医用三次元画像表示装置 |
US7065242B2 (en) | 2000-03-28 | 2006-06-20 | Viewpoint Corporation | System and method of three-dimensional image capture and modeling |
US6956576B1 (en) | 2000-05-16 | 2005-10-18 | Sun Microsystems, Inc. | Graphics system using sample masks for motion blur, depth of field, and transparency |
US6670962B2 (en) | 2001-03-16 | 2003-12-30 | Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. | Surface following interaction method for adaptively sampled distance fields |
JP2002286422A (ja) * | 2001-03-25 | 2002-10-03 | Omron Corp | 変位センサ |
US20020163573A1 (en) | 2001-04-11 | 2002-11-07 | Bieman Leonard H. | Imaging system |
CA2463570C (en) * | 2001-10-11 | 2012-06-19 | Laser Projection Technologies, Inc. | Method and system for visualizing surface errors |
US6714307B2 (en) | 2001-10-16 | 2004-03-30 | Zygo Corporation | Measurement of complex surface shapes using a spherical wavefront |
JP3898945B2 (ja) | 2001-12-21 | 2007-03-28 | ペンタックス株式会社 | 写真測量システムと写真測量方法と写真測量プログラムが格納された記録媒体 |
US7170677B1 (en) | 2002-01-25 | 2007-01-30 | Everest Vit | Stereo-measurement borescope with 3-D viewing |
GB2389914B (en) | 2002-06-18 | 2004-05-26 | Keymed | Dual capability borescope |
JP3938721B2 (ja) | 2002-07-01 | 2007-06-27 | オリンパス株式会社 | 計測用内視鏡装置 |
DE10242922A1 (de) | 2002-09-16 | 2004-04-01 | Siemens Ag | Rechnergestütztes Selektionsverfahren für einen Teil eines Volumens |
US6909988B2 (en) * | 2002-10-15 | 2005-06-21 | General Electric Company | Method for positioning defects in metal billets |
DE10308383A1 (de) | 2003-02-27 | 2004-09-16 | Storz Endoskop Produktions Gmbh | Verfahren und optisches System zur Vermessung der Topographie eines Meßobjekts |
US7286246B2 (en) | 2003-03-31 | 2007-10-23 | Mitutoyo Corporation | Method and apparatus for non-contact three-dimensional surface measurement |
SE526735C2 (sv) | 2003-06-13 | 2005-11-01 | Atos Medical Ab | Anordning för mätning av fysiska egenskaper hos trumhinnan |
WO2005054780A1 (en) | 2003-11-28 | 2005-06-16 | The General Hospital Corporation | Method and apparatus for three-dimensional spectrally encoded imaging |
FR2868156B1 (fr) * | 2004-03-25 | 2006-11-10 | Airbus France Sas | Procede et dispositif de controle non destructif de structure et de caracterisation des endommagements de structure par le principe de moire d'ombre |
JP4536422B2 (ja) | 2004-05-21 | 2010-09-01 | 株式会社キーエンス | 拡大観察装置、拡大画像観察方法、拡大観察用操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体または記録した機器 |
EP1600564A1 (de) | 2004-05-24 | 2005-11-30 | Leica Geosystems AG | Verfahren zur Steuerung einer oberflächenverändernden Maschine |
WO2006056614A1 (en) | 2004-11-27 | 2006-06-01 | Bracco Imaging S.P.A. | 2d / 3d integrated contour editor |
US7755817B2 (en) | 2004-12-07 | 2010-07-13 | Chimei Innolux Corporation | Color gamut mapping |
JP2007029460A (ja) | 2005-07-27 | 2007-02-08 | Topcon Corp | 眼科画像処理装置及び眼科画像処理プログラム |
JP4701948B2 (ja) | 2005-09-21 | 2011-06-15 | オムロン株式会社 | パタン光照射装置、3次元形状計測装置、及びパタン光照射方法 |
WO2007043899A1 (en) * | 2005-10-14 | 2007-04-19 | Applied Research Associates Nz Limited | A method of monitoring a surface feature and apparatus therefor |
CA2528791A1 (en) | 2005-12-01 | 2007-06-01 | Peirong Jia | Full-field three-dimensional measurement method |
JP4869699B2 (ja) | 2005-12-13 | 2012-02-08 | オリンパス株式会社 | 内視鏡装置 |
JP2007205918A (ja) | 2006-02-02 | 2007-08-16 | Olympus Corp | 計測内視鏡 |
US7855732B2 (en) | 2006-09-05 | 2010-12-21 | Pc Connection, Inc. | Hand producer for background separated images |
DE102006048234A1 (de) | 2006-10-11 | 2008-04-17 | Steinbichler Optotechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der 3D-Koordinaten eines Objekts |
US8810636B2 (en) | 2006-12-20 | 2014-08-19 | Ge Inspection Technologies, Lp | Inspection apparatus method and apparatus comprising selective frame output |
US7782453B2 (en) | 2006-12-28 | 2010-08-24 | Ge Inspection Technologies, Lp | Method for measuring missing corner dimensions |
US20080198159A1 (en) | 2007-02-16 | 2008-08-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method and apparatus for efficient and flexible surveillance visualization with context sensitive privacy preserving and power lens data mining |
AU2008271910A1 (en) | 2007-06-29 | 2009-01-08 | Three Pixels Wide Pty Ltd | Method and system for generating a 3D model from images |
US20090041553A1 (en) * | 2007-08-06 | 2009-02-12 | 3M Innovative Properties Company | Fly-cutting system and method, and related tooling and articles |
JP4492654B2 (ja) | 2007-08-29 | 2010-06-30 | オムロン株式会社 | 3次元計測方法および3次元計測装置 |
US8199813B2 (en) | 2007-12-18 | 2012-06-12 | GE Inspection Technologies | Method for embedding frames of high quality image data in a streaming video |
US8422030B2 (en) | 2008-03-05 | 2013-04-16 | General Electric Company | Fringe projection system with intensity modulating by columns of a plurality of grating elements |
US7821649B2 (en) | 2008-03-05 | 2010-10-26 | Ge Inspection Technologies, Lp | Fringe projection system and method for a probe suitable for phase-shift analysis |
US8107083B2 (en) | 2008-03-05 | 2012-01-31 | General Electric Company | System aspects for a probe system that utilizes structured-light |
US7812968B2 (en) | 2008-03-05 | 2010-10-12 | Ge Inspection Technologies, Lp | Fringe projection system and method for a probe using a coherent fiber bundle |
US7969583B2 (en) | 2008-03-05 | 2011-06-28 | General Electric Company | System and method to determine an object distance from a reference point to a point on the object surface |
US8265425B2 (en) * | 2008-05-20 | 2012-09-11 | Honda Motor Co., Ltd. | Rectangular table detection using hybrid RGB and depth camera sensors |
EP2313868B1 (en) * | 2008-07-18 | 2016-03-16 | Vorum Research Corporation | Method, apparatus, signals and media for producing a computer representation of a three-dimensional surface of an appliance for a living body |
JP5253109B2 (ja) * | 2008-11-25 | 2013-07-31 | オリンパス株式会社 | 内視鏡装置および内視鏡画像用プログラム |
CA2754812A1 (en) | 2009-03-19 | 2010-09-23 | General Electric Company | Optical gage and three-dimensional surface profile measurement method |
WO2010110237A1 (ja) * | 2009-03-26 | 2010-09-30 | Hoya株式会社 | 反射型マスク用多層反射膜付基板及び反射型マスクブランク並びにそれらの製造方法 |
CN101871767B (zh) | 2009-04-25 | 2012-05-30 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 零件形位公差检测系统及方法 |
IT1395344B1 (it) | 2009-05-28 | 2012-09-14 | Geosoft S R L | Metodo di restituzione fotogrammetrica assistita da nuvola di punti e relativo apparato. |
JP5503935B2 (ja) * | 2009-09-30 | 2014-05-28 | 富士フイルム株式会社 | ハードコートフィルム、反射防止フィルム、偏光板及び画像表示装置 |
KR20110054852A (ko) * | 2009-11-18 | 2011-05-25 | 삼성전자주식회사 | 터치 스크린을 구비한 단말기 및 그 단말기에서 기하학적 데이터 측정 방법 |
JP2011158549A (ja) | 2010-01-29 | 2011-08-18 | Olympus Corp | 内視鏡装置およびプログラム |
US8760447B2 (en) * | 2010-02-26 | 2014-06-24 | Ge Inspection Technologies, Lp | Method of determining the profile of a surface of an object |
JP5530225B2 (ja) * | 2010-03-09 | 2014-06-25 | オリンパス株式会社 | 内視鏡装置およびプログラム |
US8422034B2 (en) * | 2010-04-21 | 2013-04-16 | Faro Technologies, Inc. | Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker |
US8165351B2 (en) | 2010-07-19 | 2012-04-24 | General Electric Company | Method of structured light-based measurement |
US9013469B2 (en) * | 2011-03-04 | 2015-04-21 | General Electric Company | Method and device for displaying a three-dimensional view of the surface of a viewed object |
US9984474B2 (en) * | 2011-03-04 | 2018-05-29 | General Electric Company | Method and device for measuring features on or near an object |
US8411083B2 (en) | 2011-04-06 | 2013-04-02 | General Electric Company | Method and device for displaying an indication of the quality of the three-dimensional data for a surface of a viewed object |
US8686943B1 (en) * | 2011-05-13 | 2014-04-01 | Imimtek, Inc. | Two-dimensional method and system enabling three-dimensional user interaction with a device |
US10018467B2 (en) | 2011-06-09 | 2018-07-10 | Clark Alexander Bendall | System and method for measuring a distance to an object |
US8849620B2 (en) * | 2011-11-18 | 2014-09-30 | Nike, Inc. | Automated 3-D modeling of shoe parts |
US20130287288A1 (en) * | 2012-04-25 | 2013-10-31 | General Electric Company | Method and device for determining the offset distance between two surfaces |
US10330608B2 (en) * | 2012-05-11 | 2019-06-25 | Kla-Tencor Corporation | Systems and methods for wafer surface feature detection, classification and quantification with wafer geometry metrology tools |
JP6052956B2 (ja) * | 2012-07-02 | 2016-12-27 | 株式会社ミツトヨ | 形状解析方法および形状解析プログラム |
GB2505926A (en) | 2012-09-14 | 2014-03-19 | Sony Corp | Display of Depth Information Within a Scene |
JP6176978B2 (ja) * | 2013-01-31 | 2017-08-09 | オリンパス株式会社 | 内視鏡用画像処理装置、内視鏡装置、内視鏡用画像処理装置の作動方法及び画像処理プログラム |
JP6737705B2 (ja) * | 2013-11-14 | 2020-08-12 | ザ・ジョージ・ワシントン・ユニバーシティThe George Washingtonuniversity | 損傷部位の深さを決定するシステムの動作方法及び心臓組織の画像を生成するシステム |
US9818039B2 (en) * | 2013-12-17 | 2017-11-14 | General Electric Company | Method and device for automatically identifying a point of interest in a depth measurement on a viewed object |
US9600928B2 (en) * | 2013-12-17 | 2017-03-21 | General Electric Company | Method and device for automatically identifying a point of interest on the surface of an anomaly |
US9842430B2 (en) * | 2013-12-17 | 2017-12-12 | General Electric Company | Method and device for automatically identifying a point of interest on a viewed object |
-
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