JP6030837B2 - 観察対象物の表面の3次元ビューを表示するための方法および装置 - Google Patents
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Description
([xi1 yi1 zi1]−[xM1avg yM1avg zM1avg])*[T]=[xi2 yi2 zi2] (14)
ここで[T]は、変換行列である。
xi2=(xi1−xM1avg)*T00+(yi1−yM1avg)*T10+(zi1−zM1avg)*T20 (15)
yi2=(xi1−xM1avg)*T01+(yi1−yM1avg)*T11+(zi1−zM1avg)*T21 (16)
zi2=(xi1−xM1avg)*T02+(yi1−yM1avg)*T12+(zi1−zM1avg)*T22 (17)
ここで、変換行列の値は、第1の座標系における新しいx軸、y軸、およびz軸の直線方向の値である。
102 プローブ
110 挿入管
120 ヘッドアセンブリ
130 取り外し可能先端部
140 プローブ電子回路
150 CPU
202 観察対象物
Claims (13)
- 観察対象物(202)の表面(210)の3次元ビューを表示するための方法であって、
前記観察対象物(202)の前記表面(210)で複数の表面点の第1の座標系における3次元座標を決定するステップ(310)と、
前記観察対象物(202)の前記表面(210)で複数の測定点(221、222、223、224)の選択を受け取るステップ(320)と、
前記複数の測定点(221、222、223、224)の1つまたは複数に隣接した前記複数の表面点の3つ以上の前記第1の座標系における前記3次元座標に基づいて基準表面(250)を決定するステップ(330)と、
前記基準表面(250)および前記複数の測定点(221、222、223、224)に基づいて、第2の座標系の原点を前記複数の測定点(221、222、223、224)のうちの2つ以上に対応する前記基準表面(250)上の点の3次元座標の平均的位置(225)に隣接して位置するように指定することにより、前記第1の座標系とは異なる前記第2の座標系を設けるステップと、
前記複数の表面点の前記第1の座標系における前記3次元座標を前記第2の座標系における前記3次元座標に変換するステップ(350)と、
前記観察対象物(202)の前記表面(210)の対象領域内にある前記複数の表面点のサブセットを決定するステップであって、前記対象領域が、前記複数の測定点(221、222、223、224)に基づいているステップ(360)と、
前記第2の座標系の前記3次元座標に前記複数の表面点の前記サブセットの描画された3次元ビュー(400)を、モニタ上に表示するステップ(370)と、
を含み、
前記表示するステップ(370)は、対象領域の測定された幾何的寸法を表示するステップを含み、
前記測定された幾何的寸法は、前記観察対象物(202)の表面の凸凹の深さを含む、
方法。 - 前記観察対象物(202)の前記表面(210)の2次元画像を取得して表示するステップ(300)をさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記観察対象物(202)の前記表面(210)の画像を取得して表示するステップ(300)をさらに含み、
前記複数の測定点(221、222、223、224)の選択を受け取るステップが、表示された前記画像上で、ポインティングデバイスにより複数のカーソル位置で示された入力を受け取るステップを含む、請求項1または2に記載の方法。 - 前記基準表面(250)が平面である、請求項1から3のいずれかに記載の方法。
- 前記対象領域が、前記第2の座標系の前記原点から一定の距離内の表面点を含む、請求項1から4のいずれかに記載の方法。
- 前記対象領域が、前記平均的位置(225)から一定の距離内の表面点を含む、請求項1から4のいずれかに記載の方法。
- 前記対象領域が、前記測定点(221、222、223、224)および前記基準表面(250)の1つまたは複数からの距離に基づいて、前記基準表面(250)からの距離が一定の範囲内である表面点を含む、請求項1から4のいずれかに記載の方法。
- 前記複数の表面点の前記サブセットの前記描画された3次元ビュー(400)を表示する前記ステップが、前記複数の表面点の前記サブセットのポイントクラウドビューを表示するステップを含む、請求項1から7のいずれかに記載の方法。
- 前記描画された3次元ビュー(400)の回転が、前記第2の座標系の原点を中心とする、請求項1から8のいずれかに記載の方法。
- 前記第2の座標系の前記3次元座標における前記複数の表面点の前記サブセットの前記描画された3次元ビュー(400)を表示する前記ステップが、前記複数の表面点の前記サブセットと前記基準表面(250)との間の距離を示すためにカラーマップを使用するステップを含む、請求項1から9のいずれかに記載の方法。
- 前記描画された3次元ビュー(400)が、前記基準表面(250)からの垂直距離を示すスケールをさらに含む、請求項1から10のいずれかに記載の方法。
- 前記描画された3次元ビュー(400)に前記複数の測定点(221、222、223、224)を表示する前記ステップをさらに含む、請求項1から11のいずれかに記載の方法。
- 前記複数の表面点の前記第1の座標系における前記3次元座標を第2の座標系(350)における前記3次元座標に変換する前記ステップが、前記観察対象物(202)の前記表面(210)で対象領域内にある前記複数の表面点のサブセットを決定する前記ステップ(360)の後に行われ、前記複数の表面点の前記サブセットのみが変換される、請求項1から12のいずれかに記載の方法。
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