JP4492654B2 - 3次元計測方法および3次元計測装置 - Google Patents
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Description
一方、凹部や段差のように周囲より後退した部位を計測する場合には、計測対象部位の周囲の高さに合わせて仮想平面を設定し、これを基準平面としてもよい。
第1ステップでは、カメラにより計測対象物を撮像して2次元画像を生成し、この2次元画像から計測対象部位を抽出して3次元計測処理を実行する。第2ステップでは、2次元画像中の計測対象部位に対応する画素に、基準平面からの距離として3次元計測により算出された座標を設定し、その他の画素に基準平面からの距離として一定の値の座標を設定する。そして、この2次元画像の座標系を構成する2軸(以下、x軸およびy軸とする。)と前記基準平面からの距離を表す軸(以下z軸とする。)とによる3次元空間において、前記設定のなされた各画素を、それぞれ設定された距離を表す座標と2次元画像中の当該画素の座標とにより特定される位置に仮想配置して、各画素を所定の方向から透視変換する。さらに第3ステップでは、透視変換により生成された2次元画像を、計測対象部位とその他の部位とを識別できるように加工して表示する。
さらに、透視変換により生成された画像を、計測対象部位とその他の部位とを識別できるように加工して表示するので、ユーザは、計測対象部位と周囲との関係を把握しながら、3次元計測結果を視覚により容易に確認することができる。
さらに、他の好ましい態様では、第1ステップにおいて、計測対象部位として2次元画像中の特徴点またはあらかじめ登録した特徴パターンを含む領域を抽出するとともに、特徴パターンを含む領域を抽出した場合には、その領域内の一代表点を対象に3次元計測処理を実行する。また、特徴点に対しては、第3ステップにおいて、透視変換により生成された画像を、当該画像中の当該特徴点に対応する位置に識別のためのマークを設定したものに加工する。また、特徴パターンを含む領域に対しては、第2ステップにおいて、当該領域に含まれる全ての画素に基準平面からの距離を表す座標として、代表点に対する3次元計測処理により求めた座標を一律に設定して、前記3次元空間への各画素の仮想配置および透視変換を実行することにより、領域全体を前記3次元計測の結果を反映する位置に投影する。このようにすれば、1つの特徴点または領域内の一点に3次元計測の対象を限定するとともに、3次元計測結果をわかりやすく表示することができる。
他の好ましい態様では、第3ステップにおいて、計測対象部位について、基準平面からの距離として計測対象部位以外の各画素に設定された一定の値の座標を設定して透視変換を行った場合に当該計測対象部位が投影される位置を求め、この位置と計測対象部位が実際に投影される位置との間に補助線が設定されるように透視変換により生成された画像を加工する。このようにすれば、補助線の長さによって、計測対象部位に対する計測結果を容易に確認することができる。
さらに他の好ましい態様による3次元計測装置では、処理結果画像生成手段は、計測対象部位について、基準平面からの距離として計測対象部位以外の各画素に設定された一定の値の座標を設定して透視変換を行った場合に当該計測対象部位が投影される位置を求め、この位置と計測対象部位が実際に投影される位置との間に補助線が設定されるように、透視変換により生成された画像を加工して表示する。
この実施例の3次元計測装置は、工場の生産ライン又は検査ラインを搬送される同形状の計測対象物(以下、「ワークW」という。)を撮像部1により順に撮像し、各ワークWのあらかじめ定められた計測対象部位の高さを計測するものである。計測された高さ情報は、ロボットハンド等の駆動系の位置決め制御や、検査における判別処理などに使用される。
座標変換部108は、この透視変換のための演算(後記する(1)(2)式によるもの)を実行する。変換後画像生成部109は、この演算結果に基づき、画像メモリ102内の基準画像を用いて処理対象画像を生成する。生成された画像は、出力部110から表示部12に出力され、表示される。
残りの計測対象点P3,P4は、パッケージの段差部分の境界線の構成点である。これらの点も、エッジ抽出等の処理により抽出される。
なお、ユーザの設定操作は、角度θやφの具体的な数値を入力するものに限らない。たとえば、表示部12にx,y,zの各軸を表示して、これらの軸をマウスのドラッグ操作により回転させ、その回転角度からθやφを特定してもよい。
また(1)式中の(x0,y0)は、基準画像中の3次元座標系の原点に対応する座標である。また(xt,yt)は、変換後の画像の表示位置をx,yの各軸方向において移動させた場合の移動量を示す。mxyは、変換後画像のx,yの各軸方向における倍率であり、mzは、変換後画像のz方向における倍率である。
さらに、(1)式を変形することにより、z座標が既知であることを前提にして、変換後の画像中の1つの座標(x´,y´)について、基準画像側の対応画素の座標(x,y)を求める式を導出することができる。具体的な演算式は(2)式のようになる。
この処理では、まず、基準画像全体を対象にした透視変換処理を実行する。具体的には、変換後画像の各座標(x´,y´)について、それぞれz=0として(2)式を実行することにより、基準画像側で(x´,y´)に対応する座標(x,y)を算出する(ステップA)。つぎに、変換後画像の各座標に、上記の演算により特定された基準画像側の対応座標の画像データを設定する(ステップB)。これらステップA,Bの処理により、正面視状態を表す基準画像を、斜視状態を表す画像に変換することができる。
さらにステップEでは、再びステップAの演算結果を用いて、変換後画像の中から、z=0とした場合に計測対象領域に対応する座標を特定し、特定された各座標の画像データをマーキング用の色彩を表すデータに置き換える。
この処理は、カメラC0,C1による撮像対象範囲に計測対象のワークWが搬入されたことにより開始される。まず最初のステップ1では、各カメラC0,C1を同時に駆動することにより、基準画像および比較画像の生成を行う。
この実施例では、凹部の外周縁を表すエッジの中から径方向に対向する一対のエッジ点p,qを抽出し、これらの点p,qと、凹部の中心点に相当する点o(線分pqの中点)の3点を計測対象点として、各点のz座標を算出する。そして、これら計測対象点に算出されたz座標をあてはめ、(1)式を用いて変換後画像における対応点o´,p´,q´を求める。一方、全ての画素に、z座標として0より大きい一定の値をあてはめ、(2)式に基づく透視変換処理により、基準画像全体を変換する。
この表示によれば、凹部の中心点oが外周縁に対してどの程度落ち込んでいるかや、目的とする部位を正しく計測しているかなどを、容易に確認することができる。
この装置は、光切断法による高さ計測を行うもので、レーザスリット光22を照射する投光部20および2次元カメラ21と、図示しない制御処理部とにより構成される。ワークWはICであり、計測対象は電極ピン30である。
10 制御処理部
11 操作部
12 表示部
104 画像処理部
107 3次元計測部
108 座標変換部
Claims (9)
- あらかじめ1または複数の計測対象部位が定められた計測対象物を、カメラを含む光学的3次元計測手段を用いて観測し、前記カメラの光軸と交わる所定の平面を基準平面として、各計測対象部位につき少なくとも前記基準平面からの距離を表す座標を算出する3次元計測方法であって、
前記カメラにより計測対象物を撮像して2次元画像を生成し、この2次元画像から前記計測対象部位を抽出して3次元計測処理を実行する第1ステップと、
前記2次元画像中の前記計測対象部位に対応する画素に、前記基準平面からの距離として前記3次元計測処理により算出された座標を設定するとともに、その他の画素に前記基準平面からの距離として一定の値の座標を設定し、前記2次元画像の座標系を構成する2軸と前記基準平面からの距離を表す軸とによる3次元空間において、前記設定のなされた各画素を、それぞれ設定された距離を表す座標と前記2次元画像中の当該画素の座標とにより特定される位置に仮想配置して、各画素を所定の方向から透視変換する第2ステップと、
前記透視変換により生成された2次元画像を、前記計測対象部位とその他の部位とを識別できるように加工して表示する第3ステップとを、実行することを特徴とする3次元計測方法。 - 請求項1に記載された方法において、
前記第2ステップでは、前記計測対象物を正面視する方向から撮像することにより生成された正面視画像を透視変換の対象画像に設定するとともに、この正面視画像を表示しながら、この正面視の方向を基準にして透視変換の方向を設定する操作を受け付け、この操作により設定された方向から前記3次元空間に仮想配置された画素群を透視変換する、3次元計測方法。 - 請求項1または2に記載された方法において、
前記第1ステップでは、前記光学的3次元計測手段として、各視野が所定の範囲で重なり合った複数台のカメラを用いて3次元計測を行う装置を使用して、各カメラにより生成された複数の2次元画像からそれぞれ計測対象部位を抽出して当該計測対象部位に対応する座標を特定した後に、各2次元画像で特定された座標を用いて前記基準平面からの距離を表す座標を算出し、
前記第2ステップでは、前記3次元計測に使用されたいずれかの2次元画像を対象に、この画像中の各構成画素のうち、計測対象部位に対応するものとして座標が特定された画素に前記基準平面からの距離を表す座標として算出された座標を設定し、その他の画素に前記基準平面からの距離を表す座標として前記一定の値の座標を設定する、3次元計測方法。 - 請求項1に記載された方法において、
前記第1ステップでは、前記計測対象部位として、2次元画像中の特徴点またはあらかじめ登録した特徴パターンを含む領域を抽出するとともに、特徴パターンを含む領域を抽出した場合には、その領域内の一代表点を対象に3次元計測処理を実行し、
前記特徴点に対しては、前記第3ステップにおいて、前記透視変換により生成された画像を、当該画素中の当該特徴点に対応する位置に識別のためのマークを設定したものに加工し、
前記特徴パターンを含む領域に対しては、前記第2ステップにおいて、当該領域に含まれる全ての画素に基準平面からの距離を表す座標として、前記代表点に対する3次元計測処理により求めた座標を一律に設定して、前記3次元空間への各画素の仮想配置および透視変換を実行することにより、領域全体を前記代表点に対する3次元計測の結果を反映する位置に投影する、3次元計測方法。 - 請求項1に記載された方法において、
前記第3ステップでは、前記計測対象部位について、前記基準平面からの距離として計測対象部位以外の各画素に設定された一定の値の座標を設定して透視変換を行った場合に当該計測対象部位が投影される位置を求め、この位置と前記計測対象部位が実際に投影される位置との間に補助線が設定されるように前記透視変換により生成された画像を加工する、3次元計測方法。 - それぞれの視野が所定の範囲で重なるように位置関係および光軸方向を定めて配置された複数台のカメラと、
前記各カメラの視野が重なる範囲に入った計測対象物を各カメラにより撮像して生成された複数の2次元画像を、個別に入力する画像入力手段と、
前記計測対象物のあらかじめ定めた1または複数の計測対象部位につき、それぞれ各入力画像から当該部位を抽出して3次元計測の対象とする座標を特定し、特定された各座標を用いて各計測対象部位に対する3次元計測処理を実行する計測手段と、
前記計測手段による計測結果を表す2次元の処理結果画像を生成する処理結果画像生成手段と、
前記処理結果画像を表示するための表示手段とを備え、
前記計測手段は、各カメラの光軸と交わる所定の平面を基準平面として、前記3次元計測処理により、各計測対象部位につき、少なくとも基準平面からの距離を表す座標を算出し、
前記処理結果画像生成手段は、前記複数台のカメラのうちの特定のカメラにより生成された画像を対象に、この画像中の各構成画素のうち、計測対象部位として抽出された箇所の画素に、前記基準平面からの距離を表す座標として3次元計測により算出された座標を設定し、その他の画素に前記基準平面からの距離を表す座標として一定の値の座標を設定し、前記特定のカメラによる画像の座標系を構成する2軸と前記基準平面からの距離を表す軸とによる3次元空間において、前記設定のなされた各画素を、それぞれ設定された距離を表す座標と前記特定のカメラによる画像中の当該画素の座標とにより特定される位置に仮想配置して、各画素を所定の方向から透視変換し、この透視変換画像を前記計測対象部位とその他の部位とを識別できるように加工したものを処理結果画像として生成する、3次元計測装置。 - 前記特定のカメラは前記計測対象物を正面視する方向から撮像を行うように配置されるとともに、この正面視の方向を基準にして透視変換の方向を設定する操作を行うための操作部をさらに備え、
前記処理結果画像生成手段は、前記特定のカメラにより生成された計測対象物の正面視画像を表示手段に表示し、この状態下で前記操作部による設定操作を受け付けて、この操作により設定された角度が表す方向から前記3次元空間に仮想配置された画素群を透視変換する、請求項6に記載された3次元計測装置。 - 前記計測手段は、各入力画像から前記計測対象部位として、特徴点またはあらかじめ登録した特徴パターンを含む領域を抽出するとともに、特徴パターンを含む領域を抽出した場合には、その領域内の一代表点を対象に3次元計測処理を実行し、
前記処理結果画像生成手段は、前記特徴点に対しては、前記透視変換により生成された画像を、当該画像中の当該特徴点に対応する位置に識別のためのマークを付したものに加工し、前記特徴パターンを含む領域に対しては、当該領域に含まれる全ての画素に基準平面からの距離を表す座標として、前記代表点に対する3次元計測処理により求めた座標を一律に設定して、前記3次元空間への各画素の仮想配置および透視変換を実行することにより、領域全体を前記代表点に対する3次元計測の結果を反映する位置に投影する、請求項6に記載された3次元計測装置。 - 前記処理結果画像生成手段は、前記計測対象部位について、前記基準平面からの距離として計測対象部位以外の各画素に設定された一定の値の座標を設定して透視変換を行った場合に当該計測対象部位が投影される位置を求め、この位置と前記計測対象部位が実際に投影される位置との間に補助線が設定されるように前記透視変換により生成された画像を加工する、請求項6に記載された3次元計測装置。
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Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5218177B2 (ja) * | 2009-03-13 | 2013-06-26 | オムロン株式会社 | 画像処理装置および方法 |
JP5257335B2 (ja) | 2009-11-24 | 2013-08-07 | オムロン株式会社 | 3次元視覚センサにおける計測有効領域の表示方法および3次元視覚センサ |
US10586341B2 (en) | 2011-03-04 | 2020-03-10 | General Electric Company | Method and device for measuring features on or near an object |
US9013469B2 (en) * | 2011-03-04 | 2015-04-21 | General Electric Company | Method and device for displaying a three-dimensional view of the surface of a viewed object |
US9875574B2 (en) | 2013-12-17 | 2018-01-23 | General Electric Company | Method and device for automatically identifying the deepest point on the surface of an anomaly |
US9984474B2 (en) | 2011-03-04 | 2018-05-29 | General Electric Company | Method and device for measuring features on or near an object |
US10157495B2 (en) | 2011-03-04 | 2018-12-18 | General Electric Company | Method and device for displaying a two-dimensional image of a viewed object simultaneously with an image depicting the three-dimensional geometry of the viewed object |
US10019812B2 (en) | 2011-03-04 | 2018-07-10 | General Electric Company | Graphic overlay for measuring dimensions of features using a video inspection device |
KR101276208B1 (ko) * | 2011-05-30 | 2013-06-18 | 전자부품연구원 | 스테레오 카메라용 보정 시스템 및 스테레오 영상 보정 장치 |
DE202011051565U1 (de) * | 2011-10-06 | 2011-11-03 | Leuze Electronic Gmbh & Co. Kg | Optischer Sensor |
KR20130086773A (ko) * | 2012-01-26 | 2013-08-05 | 두산인프라코어 주식회사 | 비전 기반 공작물 셋업 방법 |
US9521294B2 (en) | 2012-06-04 | 2016-12-13 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Adjusting digital images for parallax |
CN103033132B (zh) * | 2012-12-20 | 2016-05-18 | 中国科学院自动化研究所 | 基于单目视觉的平面测量方法及装置 |
JP6149676B2 (ja) * | 2013-10-09 | 2017-06-21 | 富士通株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、及び、プログラム |
DE102013111761B4 (de) * | 2013-10-25 | 2018-02-15 | Gerhard Schubert Gmbh | Verfahren und Scanner zum berührungslosen Ermitteln der Position und dreidimensionalen Form von Produkten auf einer laufenden Fläche |
US9842430B2 (en) | 2013-12-17 | 2017-12-12 | General Electric Company | Method and device for automatically identifying a point of interest on a viewed object |
US9818039B2 (en) | 2013-12-17 | 2017-11-14 | General Electric Company | Method and device for automatically identifying a point of interest in a depth measurement on a viewed object |
US9600928B2 (en) | 2013-12-17 | 2017-03-21 | General Electric Company | Method and device for automatically identifying a point of interest on the surface of an anomaly |
DE102014114506B4 (de) * | 2014-10-07 | 2020-06-04 | Sick Ag | Kamera zur Montage an einer Fördereinrichtung und Verfahren zur Inspektion oder Identifikation |
US10121249B2 (en) * | 2016-04-01 | 2018-11-06 | Baja Education, Inc. | Enhanced visualization of areas of interest in image data |
JP6817804B2 (ja) * | 2016-12-16 | 2021-01-20 | クラリオン株式会社 | 区画線認識装置 |
JP7378934B2 (ja) * | 2019-01-29 | 2023-11-14 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法及びシステム |
US10928186B2 (en) * | 2019-04-02 | 2021-02-23 | Premier Innovations, LLC | System and method for thickness measurement in tortilla production |
CN110365884A (zh) * | 2019-07-29 | 2019-10-22 | 威米深智(苏州)工业技术有限公司 | 一种高精度光学引导局部成像方法 |
DE102020101191A1 (de) * | 2020-01-20 | 2021-07-22 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop und Verfahren zum Ermitteln eines Messortes eines Mikroskops |
JPWO2021199730A1 (ja) * | 2020-03-31 | 2021-10-07 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006349586A (ja) * | 2005-06-17 | 2006-12-28 | Omron Corp | 3次元計測方法および3次元計測装置 |
JP2007206211A (ja) * | 2006-01-31 | 2007-08-16 | Eyemetrics Japan Co Ltd | 眼鏡装着シミュレーション方法及び装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5479252A (en) * | 1993-06-17 | 1995-12-26 | Ultrapointe Corporation | Laser imaging system for inspection and analysis of sub-micron particles |
DE4419359A1 (de) * | 1994-06-03 | 1995-12-07 | Wolfram Dipl Ing Kirchner | Verfahren zur Erfassung, Auswertung, Ausmessung und Speicherung von Geo-Informationen |
JP2000039566A (ja) * | 1998-07-24 | 2000-02-08 | Sony Corp | 拡大観察装置 |
GB2372656A (en) * | 2001-02-23 | 2002-08-28 | Ind Control Systems Ltd | Optical position determination |
US7643025B2 (en) * | 2003-09-30 | 2010-01-05 | Eric Belk Lange | Method and apparatus for applying stereoscopic imagery to three-dimensionally defined substrates |
KR101155816B1 (ko) * | 2005-06-17 | 2012-06-12 | 오므론 가부시키가이샤 | 3차원 계측을 행하는 화상 처리 장치 및 화상 처리 방법 |
US8023156B2 (en) * | 2007-04-10 | 2011-09-20 | Xerox Corporation | Image output color management system and method |
-
2007
- 2007-08-29 JP JP2007222356A patent/JP4492654B2/ja active Active
-
2008
- 2008-08-25 DE DE102008041523.5A patent/DE102008041523B4/de active Active
- 2008-08-28 US US12/230,442 patent/US8564655B2/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006349586A (ja) * | 2005-06-17 | 2006-12-28 | Omron Corp | 3次元計測方法および3次元計測装置 |
JP2007206211A (ja) * | 2006-01-31 | 2007-08-16 | Eyemetrics Japan Co Ltd | 眼鏡装着シミュレーション方法及び装置 |
Also Published As
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---|---|
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