JP6446251B2 - 異常の表面上の関心点を自動的に識別するための方法およびデバイス - Google Patents
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Description
ここで、(xiRS、yiRS、ziRS)は定義された基準表面250上の任意の3次元点の座標であり、およびk0RS、k1RS、およびk2RSは3次元座標のカーブフィッティングにより得られた係数である。
y(d1)=ky0+ky1*d1+ky2*d1 2 (3)
z(d1)=kz0+kz1*d1+kz2*d1 2 (4)
ここでd1は、例えば0.0から1.0の範囲の第1の基準線510に沿った端数である。例えば、図8に示すように、第1の基準線510は10個のセグメントに分割されている(d1=0.0、0.10、0.20、...0.90、1.00)。定数(k)の項の一組のセグメントは第1の基準線510に対して決定される。同じプロセスが、同数のセグメントで、第2の基準線520に対して実行される(すなわち、d2=0.0、0.10、0.20、...0.90、1.00)。例示的な実施形態ではあるが、第1の基準線510および第2の基準線520は同数のセグメントで同じ長さとして示され、他の実施形態では、基準線510および520は異なる長さおよび/または異なるセグメント数とすることができる。
ここで(x、y、z)は定義された基準表面550上の任意の3次元点の座標であり、およびa0、a1、およびa2は3次元座標のフィッティングにより得られた係数である。例示的な実施形態では、基準表面550は基準線510、520(すなわち、d1=d2)の2つの対応するセグメントからの点に基づいて決定される一方、他の実施形態では、基準表面550は対応していない(すなわち、d1≠d2)2つのセグメントに基づいて決定されることができる。
102 プローブ
110 挿入チューブ
112 イメージャハーネス
120 ヘッドアセンブリ
122 プローブ光学系
124 イメージャ
126 イメージャハイブリッド
130 取り外し可能な先端部
132 先端視野光学系
140 プローブ電子回路
142 イメージャインタフェース電子回路
144 キャリブレーションメモリ
146 マイクロコントローラ
150 CPU
152 CPUプログラムメモリ
154 揮発性メモリ
156 不揮発性メモリ
158 コンピュータI/Oインタフェース
160 ビデオプロセッサ
162 ビデオメモリ
170 一体型ディスプレイ
172 外付けモニタ
180 ジョイスティック
182 ボタン
184 キーパッド
186 マイクロフォン
200 画像
202 表示対象物
204 異常
210 対象表面
221 基準表面点
222 基準表面点
223 基準表面点
224 最深表面点
231 基準表面カーソル
232 基準表面カーソル
233 基準表面カーソル
234 最深点カーソル
241 画素
242 画素
243 画素
250 基準表面
260 基準表面形状
261 基準表面点
262 基準表面点
263 基準表面点
264 基準表面点
270 関心領域
271 関心領域形状
280 関心領域
281 関心領域形状
282 最深点グラフィックインジケータ
290 深さ
300 方法
310 表面の画像(ステップ)
320 表面点の3D(ステップ)
330 基準表面(ステップ)
340 関心領域(ステップ)
350 関心領域内の表面点の深さ(ステップ)
360 最深表面点の位置および深さ(ステップ)
400 プロファイル
500 画像
501 対象表面点
502 対象表面点(関心点)
503 対象表面点
510 第1の基準線
511 第1の基準線の終点(第1の基準線)
512 第2の基準線の終点(第1の基準線)
514 基準線点(第1の基準線)
515 基準線点(第1の基準線)
516 基準線点(第1の基準線)
517 基準線点(第1の基準線)
518 基準線点(第1の基準線)
520 第2の基準線
521 第3の基準線の終点(第2の基準線)
522 第4の基準線の終点(第2の基準線)
524 基準線点(第2の基準線)
525 基準線点(第2の基準線)
526 基準線点(第2の基準線)
527 基準線点(第2の基準線)
528 基準線点(第2の基準線)
550 基準表面
561 第1の画素(第1の基準カーソル)
562 第2の画素(第2の基準カーソル)
563 第3の画素(第3の基準カーソル)
564 第4の画素(第4の基準カーソル)
570 関心領域
571 関心領域形状
572 第1の関心領域距離
573 第2の関心領域距離
574 表面点から平面への距離
575 表面点から平面への距離
580 関心領域平面(基準表面に対する平面)
581 第1の基準線平面(対象表面に対する平面)
582 第2の基準線平面(対象表面に対する平面)
583 基準表面に対する平面
584 基準表面に対する平面
591 第1の表面輪郭線
592 第2の表面輪郭線
594 プロファイル表面輪郭線
600 プロファイル
602 深さ測定
604 深さ測定表示
700 方法
710 対象表面の画像(ステップ)
720 対象表面点の3−D(ステップ)
730 第1の基準線(ステップ)
732 第1の基準線点の3−D(ステップ)
734 第2の基準線(ステップ)
736 第2の基準線点の3−D(ステップ)
740 基準表面(複数可)(ステップ)
750 関心領域(複数可)(ステップ)
760 異常表面点の距離(ステップ)
770 関心点の3−D(ステップ)
780 プロファイル表面輪郭線の3−D(ステップ)
790 対象表面のプロファイル(ステップ)
Claims (15)
- 表示対象物(202)の対象表面上の異常(204)の表面上の関心点を自動的に識別する方法であって、
前記対象表面の画像をモニタ(170、172)上に表示するステップと、
中央処理ユニット(150)を使用して前記対象表面上の複数の点の3次元座標を決定するステップと、
ポインティングデバイスを使用して前記画像の第1の画素上の第1の基準線(510)の終点(511)を選択するステップと、
前記ポインティングデバイスを使用して前記画像の第2の画素上の第2の基準線(520)の終点(512)を選択するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記第1の基準線(510)の終点(511)および前記第2の基準線(520)の終点(512)との間に延びる第1の基準線(510)上の複数の点の3次元座標を決定するステップと、
前記ポインティングデバイスを使用して前記画像の第3の画素上の第3の基準線の終点(521)を選択するステップと、
前記ポインティングデバイスを使用して前記画像の第4の画素上の第4の基準線の終点(522)を選択するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記第3の基準線の終点(521)および前記第4の基準線の終点(522)との間に延びる第2の基準線(520)上の複数の点の3次元座標を決定するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記第1の基準線(510)上の少なくとも2つの前記複数の点および前記第2の基準線(520)上の少なくとも1つの前記点の前記3次元座標に基づいて基準表面(250、550)を決定するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記異常(204)の前記表面上の複数の点を備える前記基準表面(250、550)のための関心領域(270、280、570)を決定するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記基準表面(250、550)および前記関心領域(270、280、570)内の前記異常(204)の前記表面上の前記複数の点との間の距離を決定するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記基準表面(250、550)からの最大距離を有する前記関心領域(270、280、570)内の前記異常(204)の前記表面上の前記関心点の3次元座標を決定するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記異常(204)の前記表面上の前記関心点を含む前記第1の基準線(510)および前記第2の基準線(520)との間の前記対象表面上のプロファイル表面輪郭線の複数の点の3次元座標を決定するステップと、
前記中央処理ユニット(150)を使用して前記基準表面(250、550)から前記対象表面上の前記プロファイル表面輪郭線の前記複数の点への距離を決定することにより前記対象表面のプロファイルを決定するステップと、
を備える方法。 - 前記第1の基準線(510)上の前記複数の点の前記3次元座標を決定する前記ステップは、
前記対象表面と交差し、および前記第1の基準線(510)の終点(511)および前記第2の基準線(520)の終点(512)を通る第1の基準線平面(581)を決定するステップと、
前記第1の基準線平面(581)に近接する前記対象表面上の第1の表面輪郭線の複数の点の3次元座標を決定するステップと、
を備える請求項1に記載の方法。 - 前記第1の基準線(510)は直線状である請求項1に記載の方法。
- 前記基準表面(250、550)は基準平面である請求項1に記載の方法。
- 前記基準表面(250、550)のための前記関心領域(270、280、570)を決定する前記ステップは前記第1の基準線(510)上の少なくとも2つの前記複数の点および前記第2の基準線(520)上の少なくとも1つの前記複数の点に基づいて頂点で前記基準表面(250、550)上のポリゴンを決定するステップであって、前記関心領域(270、280、570)は前記基準表面(250、550)の法線上に位置し、および前記ポリゴン内で前記基準表面(250、550)と交差する前記異常(204)の前記表面上の複数の点を備える、決定するステップを備える請求項1に記載の方法。
- 前記基準表面(250、550)のための前記関心領域(270、280、570)を決定する前記ステップは前記基準表面(250、550)と交差し、および前記第1の基準線(510)上の少なくとも2つの前記複数の点の間で前記第1の基準線(510)を通る関心領域平面(580)を決定するステップであって、前記関心領域(270、280、570)は前記関心領域平面(580)の所定距離内に位置する前記異常(204)の前記表面上の複数の点を備える、決定するステップを備える請求項1に記載の方法。
- 前記プロファイル表面輪郭線での前記表示対象物(202)の断面を備えた前記対象表面の前記プロファイルのグラフィカル表示を前記モニタ(170、172)上に表示するステップをさらに備える請求項1に記載の方法。
- 前記基準表面(250、550)および前記異常(204)の前記表面上の前記関心点との間の距離を前記モニタ(170、172)上に表示するステップをさらに備える請求項1に記載の方法。
- 前記プロファイル表面輪郭線の3次元表示を備える点群画像を前記モニタ(170、172)上に表示するステップをさらに備える請求項1に記載の方法。
- 前記画像は2次元画像である請求項1に記載の方法。
- 前記第1の基準線(510)上の前記複数の点の前記3次元座標を決定する前記ステップは前記第1の画素および前記第2の画素との間の直線に近接する前記画像の画素に対応する前記対象表面上の前記複数の点の前記3次元座標上で回帰を実行するステップを備える請求項1に記載の方法。
- 前記第1の基準線(510)上の前記複数の点の前記3次元座標を決定する前記ステップは前記第1の画素および前記第2の画素との間の直線に近接する前記画像の画素に対応する前記対象表面上の前記複数の点の前記3次元座標上でローパスフィルタリングを実行するステップを備える請求項1に記載の方法。
- 前記対象表面上の前記プロファイル表面輪郭線は前記第1の基準線(510)上に存するまたは近接する第1の点、および前記第2の基準線(520)上に存するまたは近接する第2の点を備える請求項1に記載の方法。
- 前記関心領域平面(580)は前記基準表面(250、550)に垂直な前記基準表面(250、550)に交差する請求項6に記載の方法。
- 表示対象物(202)の対象表面上の異常(204)の表面上の関心点を自動的に識別するためのデバイスであって、
前記対象表面の画像を表示するモニタ(170、172)と、
ポインティングデバイスであって、
前記画像の第1の画素上の第1の基準線(510)の終点(511)を選択することと、
前記画像の第2の画素上の第2の基準線(520)の終点(512)を選択することと、
前記画像の第3の画素上の第3の基準線の終点(521)を選択することと、
前記画像の第4の画素上の第4の基準線の終点(522)を選択することと、
のためのポインティングデバイスと、
中央処理ユニット(150)であって、
前記対象表面上の複数の点の3次元座標を決定することと、
前記第1の基準線(510)の終点(511)および前記第2の基準線(520)の終点(512)との間に延びる第1の基準線(510)上の複数の点の3次元座標を決定することと、
前記第3の基準線の終点(521)および前記第4の基準線の終点(522)との間に延びる第2の基準線(520)上の複数の点の3次元座標を決定することと、
前記第1の基準線(510)上の少なくとも2つの前記複数の点および前記第2の基準線(520)上の少なくとも1つの前記複数の点の前記3次元座標に基づいて基準表面(250、550)を決定することと、
前記異常(204)の前記表面上の複数の点を備える前記基準表面(250、550)のための関心領域(270、280、570)を決定することと、
前記基準表面(250、550)および前記関心領域(270、280、570)内の前記異常(204)の前記表面上の前記複数の点との間の距離を決定することと、
前記基準表面(250、550)からの最大距離を有する前記関心領域(270、280、570)内の前記異常(204)の前記表面上の前記関心点の3次元座標を決定することと、
前記異常(204)の前記表面上の前記関心点を含む前記第1の基準線(510)および前記第2の基準線(520)との間の前記対象表面上のプロファイル表面輪郭線の複数の点の3次元座標を決定することと、
前記基準表面(250、550)から前記対象表面上の前記プロファイル表面輪郭線の前記複数の点への距離を決定することにより前記対象表面のプロファイルを決定することと、
のための中央処理ユニット(150)と、
を備えるデバイス。
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JP7143057B2 (ja) * | 2016-12-28 | 2022-09-28 | 株式会社キーエンス | 三次元測定装置 |
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CN108663006B (zh) * | 2018-08-01 | 2019-03-19 | 昆山市建设工程质量检测中心 | 一种检测全灌浆套筒钢筋接头中连接钢筋插入深度的方法 |
CN109632825A (zh) * | 2019-01-18 | 2019-04-16 | 创新奇智(重庆)科技有限公司 | 一种钢卷表面异常突起的自动检测方法 |
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KR20080064155A (ko) * | 2005-10-14 | 2008-07-08 | 어플라이드 리써치 어쏘시에이츠 뉴질랜드 리미티드 | 표면 특징을 모니터링하는 방법 및 장치 |
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IT1395344B1 (it) * | 2009-05-28 | 2012-09-14 | Geosoft S R L | Metodo di restituzione fotogrammetrica assistita da nuvola di punti e relativo apparato. |
US8760447B2 (en) * | 2010-02-26 | 2014-06-24 | Ge Inspection Technologies, Lp | Method of determining the profile of a surface of an object |
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