JP6529590B2 - ウェハにおける臨界寸法問題及びパターン不良の干渉法を用いた予測及び制御 - Google Patents
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Description
本願は、米国特許法第119条(e)の規定に基づき2014年12月3日付米国暫定特許出願第62/087,194号の利益を主張する出願である。この米国暫定特許出願第62/087,194号の全容をこの参照を以て繰り入れることにする。
Claims (22)
- 少なくとも1枚の基準ウェハについてパターン品質データを取得するステップと、
上記少なくとも1枚の基準ウェハについて少なくとも1個のパターン品質バイナリマップを生成するステップと、
上記少なくとも1枚の基準ウェハについてパターンドウェハ幾何データを取得するステップと、
少なくとも一通りのしきい値に基づき上記少なくとも1枚の基準ウェハについて少なくとも1個のパターンドウェハ幾何バイナリマップを生成するステップと、
上記少なくとも1個のパターンドウェハ幾何バイナリマップと上記少なくとも1個のパターン品質バイナリマップとの間に最良マッチングをもたらすしきい値を上記少なくとも一通りのしきい値のなかから選択するステップと、
選択されたしきい値に基づき新たなウェハについてパターン品質データ予測を提供するステップと、
を有する方法。 - 請求項1記載の方法であって、選択されたしきい値に基づき新たなウェハについてパターン品質データ予測を提供する上掲のステップが、更に、
上記新たなウェハについてパターンドウェハ幾何データを取得するステップと、
上記選択されたしきい値に基づき上記新たなウェハについてパターンドウェハ幾何バイナリマップを生成するステップと、
パターンドウェハ幾何バイナリマップに基づき上記新たなウェハについて予測パターン品質バイナリマップを提供するステップと、
を有する方法。 - 請求項1記載の方法であって、上記パターン品質データが臨界寸法測度及びパターン欠陥測度のうち少なくとも一方を含む方法。
- 請求項1記載の方法であって、少なくとも1枚の基準ウェハについて少なくとも1個のパターン品質バイナリマップを生成する上掲のステップが、更に、
上記少なくとも1枚の基準ウェハを複数個のパターン品質計測サイトに区画するステップと、
上記複数個のパターン品質計測サイトにおけるパターン品質データを許容可能か不可能かを指し示すステップと、
を有する方法。 - 請求項4記載の方法であって、少なくとも一通りのしきい値に基づき少なくとも1枚の基準ウェハについて少なくとも1個のパターンドウェハ幾何バイナリマップを生成する上掲のステップが、更に、
上記少なくとも1枚の基準ウェハを複数個のパターンドウェハ幾何計測サイトに区画するステップと、
上記複数個の計測サイトにおけるパターンドウェハ幾何データが上記少なくとも一通りのしきい値を下回るか上回るかを指し示すステップと、
を有する方法。 - 請求項5記載の方法であって、上記複数個のパターン品質計測サイト及び上記複数個のパターンドウェハ幾何計測サイトが実質的に同様である方法。
- 請求項1記載の方法であって、上記新たなウェハについてのパターン品質データ予測が、その新たなウェハがリソグラフィプロセスに供されるのに先立ち提供される方法。
- 請求項7記載の方法であって、更に、
上記新たなウェハについてのパターン品質データ予測が許容不可能なものになると予測される場合にその新たなウェハがリソグラフィプロセスに入ることを妨げるステップを有する方法。 - 請求項7記載の方法であって、更に、
上記新たなウェハについてフォーカスコレクタブル及びティルトコレクタブルのうち少なくとも一方を算出するステップと、
フォーカスコレクタブル及びティルトコレクタブルのうち上記少なくとも一方をリソグラフィプロセスに提供することでそのリソグラフィプロセス中にフォーカスエラー及びティルトエラーのうち少なくとも一方を補正するステップと、
を有する方法。 - 少なくとも1枚の基準ウェハについてパターン品質データ及びパターンドウェハ幾何データを取得するよう構成されているイメージングデバイスと、
上記イメージングデバイスと通信するプロセッサと、
を備え、上記プロセッサが、
上記少なくとも1枚の基準ウェハについて少なくとも1個のパターン品質バイナリマップを生成し、
少なくとも一通りのしきい値に基づき上記少なくとも1枚の基準ウェハについて少なくとも1個のパターンドウェハ幾何バイナリマップを生成し、
上記少なくとも1個のパターンドウェハ幾何バイナリマップと上記少なくとも1個のパターン品質バイナリマップとの間に最良マッチングをもたらすしきい値を上記少なくとも一通りのしきい値のなかから選択し、且つ
選択されたしきい値に基づき新たなウェハについてパターン品質データ予測を提供する、
よう構成されているシステム。 - 請求項10記載のシステムであって、上記イメージングデバイスが、更に、上記新たなウェハについてパターンドウェハ幾何データを取得するよう構成されており、且つ、上記プロセッサが、更に、上記選択されたしきい値に基づき上記新たなウェハについてパターンドウェハ幾何バイナリマップを生成し、そのパターンドウェハ幾何バイナリマップに基づき上記新たなウェハについて予測パターン品質バイナリマップを提供するよう構成されているシステム。
- 請求項10記載のシステムであって、上記パターン品質データが臨界寸法測度及びパターン欠陥測度のうち少なくとも一方を含むシステム。
- 請求項10記載のシステムであって、上記プロセッサが、上記少なくとも1枚の基準ウェハを複数個のパターン品質計測サイトに区画しそれら複数個のパターン品質計測サイトにおけるパターン品質データを許容可能か不可能かを指し示すことによって、上記少なくとも1枚の基準ウェハについて上記少なくとも1個のパターン品質バイナリマップを生成するシステム。
- 請求項13記載のシステムであって、上記プロセッサが、上記少なくとも1枚の基準ウェハを複数個のパターンドウェハ幾何計測サイトに区画しそれら複数個の計測サイトにおけるパターンドウェハ幾何データが上記少なくとも一通りのしきい値を下回るか上回るかを指し示すことによって、上記少なくとも1枚の基準ウェハについて上記少なくとも1個のパターンドウェハ幾何バイナリマップを生成するシステム。
- 請求項14記載のシステムであって、上記複数個のパターン品質計測サイト及び上記複数個のパターンドウェハ幾何計測サイトが実質的に同様であるシステム。
- 請求項10記載のシステムであって、上記プロセッサが、上記新たなウェハについてのパターン品質データ予測を、その新たなウェハがリソグラフィプロセスに供されるのに先立ち提供するシステム。
- 請求項16記載のシステムであって、上記プロセッサが、更に、上記新たなウェハについてのパターン品質データ予測が許容不可能なものになると予測される場合に、その新たなウェハがリソグラフィプロセスに入ることを妨げるよう構成されているシステム。
- 請求項16記載のシステムであって、上記プロセッサが、更に、上記新たなウェハについてフォーカスコレクタブル及びティルトコレクタブルのうち少なくとも一方を算出し、フォーカスコレクタブル及びティルトコレクタブルのうち上記少なくとも一方をリソグラフィプロセスに提供することでそのリソグラフィプロセス中にフォーカスエラー及びティルトエラーのうち少なくとも一方を補正するよう、構成されているシステム。
- 複数個の臨界寸法計測サイトにて基準ウェハについて臨界寸法測度を取得するステップと、
上記複数個の臨界寸法計測サイトにおける上記臨界寸法を許容可能か不可能かを示す臨界寸法バイナリマップを基準ウェハについて生成するステップと、
複数個のパターンドウェハ幾何計測サイトにて基準ウェハについてパターンドウェハ幾何測度を取得するステップと、
少なくとも一通りのしきい値に基づき基準ウェハについて少なくとも1個のパターンドウェハ幾何バイナリマップを生成するステップと、
臨界寸法バイナリマップに対する最良マッチングパターンドウェハ幾何バイナリマップを生成する責を負うしきい値を上記少なくとも一通りのしきい値のなかから選択するステップと、
選択されたしきい値に基づき新たなウェハについて臨界寸法予測を提供するステップと、
を有する方法。 - 請求項19記載の方法であって、選択されたしきい値に基づき新たなウェハについて臨界寸法予測を提供する上掲のステップが、更に、
上記新たなウェハについてパターンドウェハ幾何データを取得するステップと、
上記選択されたしきい値に基づき上記新たなウェハについてパターンドウェハ幾何バイナリマップを生成するステップと、
パターンドウェハ幾何バイナリマップに基づき上記新たなウェハについて予測臨界寸法バイナリマップを提供するステップと、
を有する方法。 - 複数個のパターン欠陥計測サイトにて基準ウェハについてパターン欠陥測度を取得するステップと、
上記複数個のパターン欠陥計測サイトにおけるパターン欠陥測度が許容可能か不可能かを示すパターン欠陥バイナリマップを基準ウェハについて生成するステップと、
複数個のパターンドウェハ幾何計測サイトにて基準ウェハについてパターンドウェハ幾何測度を取得するステップと、
少なくとも一通りのしきい値に基づき基準ウェハについて少なくとも1個のパターンドウェハ幾何バイナリマップを生成するステップと、
パターン欠陥バイナリマップに対する最良マッチングパターンドウェハ幾何バイナリマップを生成する責を負うしきい値を上記少なくとも一通りのしきい値のなかから選択するステップと、
選択されたしきい値に基づき新たなウェハについてパターン欠陥予測を提供するステップと、
を有する方法。 - 請求項21記載の方法であって、選択されたしきい値に基づき新たなウェハについてパターン欠陥予測を提供する上掲のステップが、更に、
上記新たなウェハについてパターンドウェハ幾何データを取得するステップと、
上記選択されたしきい値に基づき上記新たなウェハについてパターンドウェハ幾何バイナリマップを生成するステップと、
パターンドウェハ幾何バイナリマップに基づき上記新たなウェハについて予測パターン欠陥バイナリマップを提供するステップと、
を有する方法。
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