JP6518157B2 - イオン液体、潤滑剤及び磁気記録媒体 - Google Patents

イオン液体、潤滑剤及び磁気記録媒体 Download PDF

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Description

本発明は、ジカチオン構造を有するイオン液体、該イオン液体を含有する潤滑剤、及びそれを用いた磁気記録媒体に関する。
従来、薄膜磁気記録媒体では、磁気ヘッドと媒体表面における摩擦や摩耗を減少させるために磁性層表面に潤滑剤が塗布される。実際の潤滑剤の膜厚は、スティクションのような接着を避けるため、分子レベルになる。それゆえ、薄膜磁気記録媒体において、最も重要なことは、あらゆる環境下においても、優れた耐摩耗性を有する潤滑剤の選択にあるといっても過言ではない。
磁気記録媒体のライフにおいて、脱離、スピンオフ、化学的な劣化などを生じさせずに、潤滑剤を媒体表面に存在させることは重要である。潤滑剤を媒体表面に存在させることは、薄膜磁気記録媒体の表面が平滑になるほど困難となる。これは、薄膜磁気記録媒体が塗布型磁気記録媒体のような潤滑剤の補充能力を有していないからである。
また、潤滑剤と磁性層表面の保護膜との接着力が弱い場合には、加熱や摺動時に潤滑剤膜厚の減少が生じ、摩耗を加速することになるため、多量の潤滑剤が必要とされる。多量の潤滑剤は、移動性の潤滑剤となり、消失した潤滑剤の補充機能を持たせることができる。しかし、過剰な潤滑剤は、潤滑剤の膜厚を表面疎度よりも大きくするため、接着に関連する問題が生じ、致命的な場合にはスティクションとなってドライブ不良の原因になるというジレンマがある。これらの摩擦の問題は、従来のパーフルオロポリエーテル(PFPE)系潤滑剤では、十分には解決されていない。
特に、表面平滑性の高い薄膜磁気記録媒体では、これらのトレードオフを解消するために、新規潤滑剤が分子設計され、合成されている。また、PFPEの潤滑性に関する報告が数多く提出されている。このように、磁気記録媒体において、潤滑剤は、大変重要なものである。
表1に、代表的なPFPE系潤滑剤の化学構造を示す。
表1中のZ−DOLは、一般に使用されている薄膜磁気記録媒体用の潤滑剤の一つである。また、Z−tetraol(ZTMD)は、機能性の水酸基をPFPEの主鎖にさらに導入したものであり、ヘッドメディアインターフェイスの隙間を減少させながらドライブの信頼性を高めるとの報告がある。A20Hは、PFPE主鎖のルイス酸やルイス塩基による分解を抑え、トライボロジー特性を改善するとの報告がある。一方、Monoは、高分子主鎖及び極性基が、上記のPFPEと異なり、それぞれポリノルマルプロピルオキシとアミンであり、ニアコンタクトにおける接着相互作用を減少させるとの報告がある。
しかし、融点が高く熱的に安定と考えられる一般的な固体潤滑剤では、非常に高感度である電磁変換プロセスを妨害し、また、ヘッドによって削られた摩耗粉が走行トラックに生じるために摩耗特性が悪くなる。前述のように液体潤滑剤では、ヘッドによる摩耗によって取り除かれた潤滑剤に対して隣の潤滑層から移動して補充するといった移動性がある。しかし、この移動性のために、特に高温では、ディスク稼働中にディスク表面からスピンオフして潤滑剤が減少し、その結果、防護機能が失われる。このため、粘度が高くまた低揮発性の潤滑剤が好適に用いられており、蒸発速度を抑え、ディスクドライブの寿命を延ばすことを可能としている。
これらの潤滑機構から鑑みると、薄膜磁気記録媒体に用いられる低摩擦、低摩耗の潤滑剤への要求としては、以下のようになる。
(1)低揮発性であること。
(2)表面補充機能のために低表面張力であること。
(3)末端極性基とディスク表面への相互作用があること。
(4)使用期間での分解、減少がないように、熱的及び酸化安定性が高いこと。
(5)金属、ガラス、高分子に対して化学的に不活性で、ヘッドやガイドに対して摩耗粉を生じないこと。
(6)毒性、可燃性がないこと。
(7)境界潤滑特性に優れていること。
(8)有機溶媒に溶解すること。
近年、蓄電材料、分離技術、触媒技術などにおいて、イオン液体が、有機や無機材料合成のための環境にやさしい溶媒の一つとして、注目を集めている。イオン液体は、低融点の溶融塩という大きな範疇に入るが、一般的には、その中でも融点が100℃以下のものをいう。潤滑剤として使用するイオン液体の重要な特性として、揮発性が低いこと、可燃性がないこと、熱的に安定であること、溶解性能に優れていることがある。
例えば金属やセラミックス表面での摩擦及び摩耗が、あるイオン液体を用いることにより、従来の炭化水素系潤滑剤と比較して低減することがある。例えばフルオロアルキル基で置換してイミダゾールカチオンベースのイオン液体が合成され、アルキルイミダゾリウムのテトラフルオロホウ酸塩やヘキサフルオロリン酸塩が、鋼、アルミニウム、銅、単結晶SiO、シリコン、サイアロンセラミックス(Si−Al−O−N)に用いた場合、環状フォスファゼン(X−1P)やPFPEよりも優れたトライボロジー特性を示すとの報告がある。また、アンモニウムベースのイオン液体では、弾性流体から境界潤滑領域において、ベースオイルよりも摩擦を低下させる報告もある。また、イオン液体は、ベースオイルへの添加剤としての効果が調べられたり、化学的な及びトライボ化学的な反応が潤滑機構を理解するうえで研究されたりしているが、分子レベルでの潤滑特性が要求される磁気記録媒体としての応用例はほとんどない。
イオン液体の中でプロトン性のイオン液体は、ブレンステッド酸とブレンステッド塩基の当量の化学反応によって形成される化合物の総称である。Kohlerらによるカルボン酸とアミンの相互作用に関する研究では、化学等量でカルボン酸とアミンの1:1複合体ができることを報告している(例えば非特許文献1、及び2参照)。パーフルオロオクタン酸アルキルアンモニウム塩は、プロトン性イオン液体(PIL)であるが、既述のZ−DOLと比較して、著しく磁気記録媒体の摩擦低減の効果があることを報告している(特許文献1、及び2、並びに非特許文献3〜5参照)。
しかし、これらのパーフルオロカルボン酸アンモニウム塩は、以下の反応式(A)に示す反応の中で、カチオンとアニオンの相互作用が弱く、Le Chatelier’sの法則から、高温では平衡が左側になり、解離した中性の化合物となって熱的な安定性が悪くなる。つまり、高温ではプロトンの移動が起こり、平衡が中性の物質へと移動して解離する(例えば、非特許文献6参照)。
ところで、ハードディスクの面記録密度の限界は、1−2.5Tb/inと言われている。現在、その限界に近付きつつあるが、磁性粒子の微細化を大前提として、大容量化技術への精力的な開発が続けられている。大容量化の技術として、実効フライングハイトの減少、Shingle Writeの導入(BMP)などがある。
また、次世代記録技術として、「熱アシスト磁気記録(Heat Assisted Magnetic Recording)」がある。図1に、熱アシスト磁気記録の概略を示す。この技術の課題としては、記録再生時にレーザーで記録部分を加熱するために、磁性層表面の潤滑剤の蒸発あるいは分解による耐久性の悪化が挙げられる。熱アシスト磁気記録は、短い時間ではあるが400℃以上とも言われる高温に晒される可能性があり、一般に使用されている薄膜磁気記録媒体用の潤滑剤パーフルオロポリエーテル、例えばZ−DOLやZ−TETRAOLでは、その熱的な安定性が懸念されている。
プロトン性イオン液体は、前述のようにイオンを形成するために一般的には熱的な安定性が高い物質である。その平衡は次のScheme1に示される。
ここでHAはブレンステッド酸を、Bはブレンステッド塩基を示す。酸(HA)と塩基(B)はScheme1に示すように反応して塩(AHB)となる。
このときに酸及び塩基のそれぞれの解離定数Ka1及びKb2は、濃度を含めた形で次のScheme2のように表すことができる。
a1及びKb2は物質によって大きく異なり、場合によっては大きな桁数になるため、取扱いに不便なため、負の常用対数で表される場合が多い。つまり、次のScheme3に示すように−log10a1=pKa1と定義し、明らかにpKa1が小さい酸ほど酸性が強い。
ここで酸と塩基の酸解離定数の差ΔpKaについて議論する。酸・塩基反応はお互いにその酸性・塩基性(あるいはその共役酸の酸性)に影響され、その酸性度の差ΔpKaは併せて次のScheme3に表すことができる。
ΔpKaは、酸濃度及び塩基濃度に対して塩濃度[AHB]が大きくなると大きくなる、ことがわかる。
その中でYoshizawaらは、酸と塩基のpKaの差(ΔpKa)が10以上となるとプロトン移動が起こりやすくなり、
[AH]+[B]⇔[AHB
上記式の平衡がイオン側(右側)へシフトし、より安定性が増すことを報告している(例えば、非特許文献6参照)。また、渡邉らは、プロトン性イオン液体のプロトン移動性と熱的な安定性がΔpKaに大きく依存し、塩基としてDBU(1,8−ジアザビシクロ[5,4,0]ウンデ−7−センを用いた場合、そのΔpKaが15以上となる酸を用いることにより、イオン液体の熱的安定性が大きく向上することを報告している(非特許文献7参照)。また、近藤らは、ΔpKaが大きいパーフルオロオクタンスルホン酸オクタデシルアンモニウム塩系のプロトン性イオン液体が磁気記録媒体の耐久性を改善することを報告している(非特許文献8、特許文献3参照)。また、イオン液体の耐熱性に関しての最近の近藤らの報告では、ΔpKaがある程度までは分解温度は上昇するが、それ以上ではΔpKaを大きくしてもその分解温度はそれほど高くはならないことが報告されている(非特許文献9、及び10参照)。また、ジェミナルなジカチオンを持つピロリジニウム系イオン液体では、通常のモノカチオンのイオン液体よりも耐熱性を改善する場合があることが報告されている(非特許文献11参照)。しかし、非特許文献11にも掲載されているように、それを構成する分子構造と物理的又は化学的な性質との関係についてはよく理解されていない。カチオンとアニオンとのコンビネーションは、イオン液体の物理的又は化学的な性質に非常に影響を与える。アニオン部分はバライアティに富むが、構造的に類似なカチオンでなければその関係性は明確にはならない(例えば、非特許文献12参照)。例えば、ハロゲンの水素結合力が強いほど(Cl>Br>I)液体の粘性は増加する。しかし、粘性を増加させる方法はこれだけではなく、例えば、イミダゾールのアルキル鎖を変化させることによっても可能である。同様に融点、表面張力、熱安定性についても影響を与えるが、そのアニオンの効果は広範囲にわたっては研究されていない。それゆえ、カチオンやアニオンのコンビネーションにより、これらの物理的又は化学的な性質を変化させることは可能であるが、予測することは難しい。
特許第2581090号公報 特許第2629725号公報 国際公開第2014/104342号パンフレット
Kohler, F., Atrops, H., Kalall, H., Liebermann, E., Wilhelm, E., Ratkovics, F., & Salamon, T., (1981a). Molecular Interactions in Mixtures of Carboxylic acids with amines. 1. Melting Curves and Viscosities, J. Phys. Chem. Vol. 85, No. 17, (Aug. 1981), pp. 2520−2524, ISSN: 0022−3654 Kohler, F., Gopal, R., Goetze, G., Atrops, H., Demiriz, M.A., Liebermann, E., Wilhelm, E., Ratkovics, F., & Palagyl, B., (1981). Molecular Interactions in Mixtures of Carboxylic acids with amines. 2. Volumetric, Conductimetric, and NMR Properties, J. Phys. Chem. Vol. 85, No. 17, pp.2524−2529, ISSN: 0022−3654 Kondo, H., Seto, J., Haga. S., Ozawa, K.,(1989) Novel Lubricants for Magnetic Thin Film Media, Magnetic Soc. Japan, Vol. 13, Suppl. No. S1, pp.213−218 Kondo, H., Seki, A., Watanabe, H., & Seto, J., (1990). Frictional Properties of Novel Lubricants for Magnetic Thin Film Media, IEEE Trans. Magn. Vol.26, No. 5, (Sep. 1990), pp.2691−2693, , ISSN:0018−9464 Kondo, H., Seki, A., & Kita, A., (1994a). Comparison of an Amide and Amine Salt as Friction Modifiers for a Magnetic Thin Film Medium. Tribology Trans. Vol.37, No. 1, (Jan. 1994), pp. 99−105, ISSN: 0569−8197 Yoshizawa, M., Xu, W., Angell, C. A., Ionic Liquids by Proton Transfer: Vapor pressure, Conductivity, and the Relevance of ΔpKa from Aqueous Solutions, J. Am. Chem. Soc.,Vol.125, pp.15411−15419(2003) Miran, M.S., Kinoshita, H., Yasuda, T., Susan, M.A.B.H., Watanabe, M., Physicochemical Properties Determined by ΔpKa for Protic Ionic Liquids Based on an Organic Super−strong Base with Various Bronsted Acids, Phys. Chem. Chem. Phys., Vol 14, pp.5178−5186 (2012) Hirofumi Kondo, Makiya Ito, Koki Hatsuda, KyungSung Yun and Masayoshi Watanabe, "Novel Ionic Lubricants for Magnetic Thin Film" Media,IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS, VOL. 49, NO. 7, pp.3756−3759,JULY (2013) Hirofumi Kondo, Makiya Ito, Koki Hatsuda, Nobuo Tano, KyungSung Yun and Masayoshi Watanabe, IEEE International magetic conference Dresden, Germany, May 4−8,2014 Hirofumi Kondo, Makiya Ito, Koki Hatsuda, Nobuo Tano, KyungSung Yun and Masayoshi Watanabe,IEEE Trans. Magn., 2014, Vol. 50, Issue 11, Article#:3302504 Anderson, J. L., Ding R., Ellern A., Armstrong D. W., "Structure and Properties of High Stability Geminal DicationicIonic Liquids", J.Am. Chem.Soc., 2005, 127, 593−604. Dzyuba, S. V.; Bartsch, R. A. ,"Influence of Structural Variations in 1−Alkyl(aralkyl)−3−Methylimidazolium Hexafluorophosphates and Bis(trifluoromethylsulfonyl)imides on Physical Properties of the Ionic Liquids,Chem. Phys. Phys. Chem. 2002, 3, 161−166
しかし、磁気記録媒体の分野においては、潤滑剤の能力不足に起因して、走行性、耐摩耗性、耐久性等の実用特性に不満を残している。
本発明は、このような従来の実情に鑑みて提案されたものであり、高温においても優れた潤滑性を有するイオン液体、高温においても優れた潤滑性を有する潤滑剤、及び優れた実用特性を有する磁気記録媒体を提供する。
本件発明者は、鋭意検討を行った結果、ジカチオンを有するイオン液体が熱安定性を改善できることを見出し、かつ長鎖のアルキル基を導入することにより摩擦係数が低下して耐久性が大きく改善することを見出し、本発明を完成させるに至った。
<1> 共役塩基と、分子中に2個以上のカチオンを持つ共役酸とを有するイオン液体を含有し、
前記共役酸が、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む1価基を有し、
前記共役塩基の元となる酸のアセトニトリル中でのpKaが、10以下であることを特徴とする潤滑剤である。
<2> 前記イオン液体が、下記一般式(1)で表される前記<1>に記載の潤滑剤である。
ただし、前記一般式(1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。Aは、共役塩基を表す。nは、1以上20以下である。
<3> 前記イオン液体が、下記一般式(1−1)、下記一般式(1−2)、下記一般式(1−3)、及び下記一般式(1−4)のいずれかで表される前記<1>から<2>のいずれかに記載の潤滑剤である。
ただし、前記一般式(1−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。lは、1以上12以下である。
ただし、前記一般式(1−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
ただし、前記一般式(1−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。mは、0以上12以下である。
ただし、前記一般式(1−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
<4> 前記イオン液体が、下記一般式(2)で表される前記<1>に記載の潤滑剤である。
ただし、前記一般式(2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。Aは、共役塩基を表す。nは、1以上20以下である。
<5> 前記イオン液体が、下記一般式(2−1)、下記一般式(2−2)、下記一般式(2−3)、及び下記一般式(2−4)のいずれかで表される前記<1>及び<4>のいずれかに記載の潤滑剤である。
ただし、前記一般式(2−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。lは、1以上12以下である。
ただし、前記一般式(2−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
ただし、前記一般式(2−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。mは、0以上12以下である。
ただし、前記一般式(2−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
<6> 前記イオン液体が、下記一般式(3)で表される前記<1>に記載の潤滑剤である。
ただし、前記一般式(3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。Aは、共役塩基を表す。nは、1以上20以下である。
<7> 前記イオン液体が、下記一般式(3−1)、下記一般式(3−2)、下記一般式(3−3)、及び下記一般式(3−4)のいずれかで表される前記<1>及び<6>のいずれかに記載の潤滑剤である。
ただし、前記一般式(3−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。lは、1以上12以下である。
ただし、前記一般式(3−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
ただし、前記一般式(3−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。mは、0以上12以下である。
ただし、前記一般式(3−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
<8> 前記イオン液体が、下記一般式(4)で表される前記<1>に記載の潤滑剤である。
ただし、前記一般式(4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。Aは、共役塩基を表す。nは、1以上20以下である。
<9> 前記イオン液体が、下記一般式(4−1)、下記一般式(4−2)、下記一般式(4−3)、及び下記一般式(4−4)のいずれかで表される前記<1>及び<8>のいずれかに記載の潤滑剤である。
ただし、前記一般式(4−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。lは、1以上12以下である。
ただし、前記一般式(4−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
ただし、前記一般式(4−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。mは、0以上12以下である。
ただし、前記一般式(4−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
<10> 非磁性支持体と、前記非磁性支持体上に磁性層と、前記磁性層上に前記<1>から<9>のいずれかに記載の潤滑剤とを有することを特徴とする磁気記録媒体である。
<11> 共役塩基と、分子中に2個以上のカチオンを持つ共役酸とを有し、
前記共役酸が、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む1価基を有し、
前記共役塩基の元となる酸のアセトニトリル中でのpKaが、10以下であることを特徴とするイオン液体である。
<12> 下記一般式(1)で表される前記<11>に記載のイオン液体である。
ただし、前記一般式(1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。Aは、共役塩基を表す。nは、1以上20以下である。
<13> 下記一般式(1−1)、下記一般式(1−2)、下記一般式(1−3)、及び下記一般式(1−4)のいずれかで表される前記<11>から<12>のいずれかに記載のイオン液体である。
ただし、前記一般式(1−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。lは、1以上12以下である。
ただし、前記一般式(1−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
ただし、前記一般式(1−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。mは、0以上12以下である。
ただし、前記一般式(1−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
<14> 下記一般式(2)で表される前記<11>に記載のイオン液体である。
ただし、前記一般式(2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。Aは、共役塩基を表す。nは、1以上20以下である。
<15> 下記一般式(2−1)、下記一般式(2−2)、下記一般式(2−3)、及び下記一般式(2−4)のいずれかで表される前記<11>及び<14>のいずれかに記載のイオン液体である。
ただし、前記一般式(2−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。lは、1以上12以下である。
ただし、前記一般式(2−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
ただし、前記一般式(2−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。mは、0以上12以下である。
ただし、前記一般式(2−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
<16> 下記一般式(3)で表される前記<11>に記載のイオン液体である。
ただし、前記一般式(3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。Aは、共役塩基を表す。nは、1以上20以下である。
<17> 下記一般式(3−1)、下記一般式(3−2)、下記一般式(3−3)、及び下記一般式(3−4)のいずれかで表される前記<11>及び<16>のいずれかに記載のイオン液体である。
ただし、前記一般式(3−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。lは、1以上12以下である。
ただし、前記一般式(3−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
ただし、前記一般式(3−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。mは、0以上12以下である。
ただし、前記一般式(3−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
<18> 下記一般式(4)で表される前記<11>に記載のイオン液体である。
ただし、前記一般式(4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。Aは、共役塩基を表す。nは、1以上20以下である。
<19> 下記一般式(4−1)、下記一般式(4−2)、下記一般式(4−3)、及び下記一般式(4−4)のいずれかで表される前記<11>及び<18>のいずれかに記載のイオン液体である。
ただし、前記一般式(4−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。lは、1以上12以下である。
ただし、前記一般式(4−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
ただし、前記一般式(4−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。mは、0以上12以下である。
ただし、前記一般式(4−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
本発明によれば、潤滑剤の蒸発や熱分解といった熱的な安定性を改善し、かつ優れた潤滑特性を長期に亘り維持させることができる。また、潤滑剤を磁気記録媒体に用いた場合も、潤滑特性に優れ、走行性、耐摩耗性、耐久性等の実用特性を向上させることができる。
図1は、熱アシスト磁気記録を示す概略図である。 図2は、本発明の一実施の形態に係るハードディスクの一例を示す断面図である。 図3は、本発明の一実施の形態に係る磁気テープの一例を示す断面図である。 図4は、ピンオンディスク試験機の概略図である。 図5は、摩擦試験結果である。 図6は、摩擦試験結果である。 図7は、摩擦試験結果である。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら下記順序にて詳細に説明する。
1. 潤滑剤及びイオン液体
2. 磁気記録媒体
3. 実施例
<1.潤滑剤及びイオン液体>
本発明の一実施形態として示す潤滑剤は、共役塩基と、分子中に2個以上のカチオンを持つ共役酸とを有するイオン液体を含有する。
本発明の一実施形態として示すイオン液体は、共役塩基と、分子中に2個以上のカチオンを持つ共役酸とを有する。
前記イオン液体において、前記共役酸は、炭化水素基を含む1価基を有する。前記炭化水素基は、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基である。
前記イオン液体において、前記共役塩基の元となる酸のアセトニトリル中でのpKaは、10以下である。
本実施の形態におけるイオン液体は、共役塩基と、分子中に2個以上のカチオンを持つ共役酸とを有し、前記共役塩基の元となる酸のアセトニトリル中でのpKaが、10以下であるため、優れた熱安定性を発揮することができる。またカチオン部分に炭素数6以上の炭化水素基を含む1価基を持つために優れた潤滑特性を併せ持つことができる。
ここで、本明細書におけるpKaは、酸解離定数であって、アセトニトリル中における酸解離定数である。
前記pKaは、10以下の強酸であり、6.0以下が好ましい。
前記pKaの下限値としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記pKaは、−5.0以上が好ましい。
前記共役塩基としては、例えば、以下の構造で表される共役塩基が挙げられる。
ここで、前記共役塩基中、lは、1以上12以下であり、1以上6以下が好ましい。mは、0以上12以下であり、1以上12以下が好ましく、1以上6以下がより好ましい。
前記共役塩基の元となる酸(HA)としては、ビス((パーフルオロアルキル)スルホニル)イミド〔(C2l+1SONH〕(pKa=0〜0.3)、パーフルオロシクロプロパンスルホイミド(pKa=−0.8)、パーフルオロアルキルスルホン酸(C2m+1SOH)(pKa=0.7)、トリス(パーフルオロアルカンスルホニル)メチド化合物〔(CFSOCH〕(pKa=−3.7)、トリシアノメタン(pKa=5.1)、無機酸〔硝酸(pKa=9.4)、硫酸(pKa=8.7)等〕、テトラフルオロホウ酸(pKa=1.8)、ヘキサフルオロ燐酸などのスーパー酸に位置づけられるブレンステッド酸が好ましい。これらのpKaは、例えば、J. Org. Chem. Vol.76, No2, p.394に紹介されている。
前記カチオンとしては、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む1価基を有するジカチオン誘導体が用いられる。炭素水素鎖が長鎖であることにより、摩擦係数を低減し、潤滑特性を向上させることができる。
前記共役酸が有する直鎖状の炭化水素基を含む1価基における炭化水素基の炭素数は、6以上であり、10以上が好ましい。
前記直鎖状の炭化水素基の炭素数の上限値としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記炭素数は、25以下が好ましく、20以下がより好ましい。
炭化水素基は直鎖状であればよく、飽和炭化水素基でも、一部に二重結合を有する不飽和炭化水素基、又は一部に分岐を有する不飽和分枝炭化水素基のいずれでもよい。これらの中でも、耐摩耗性の観点から飽和炭化水素基であるアルキル基であることが好ましい。また、一部にも分岐を有さない直鎖状の炭化水素基であることも好ましい。
前記共役酸としては、例えば、以下の一般式(A)で表される共役酸、一般式(B)で表される共役酸、一般式(C)で表される共役酸、及び一般式(D)で表される共役酸が好ましい。
ただし、前記一般式(A)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。
ただし、前記一般式(B)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。
ただし、前記一般式(C)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。
なお、前記一般式(C)で表される共役酸は、他の共鳴構造(極限構造)を取りうる。即ち、ビシクロ環の付け根の1位の窒素原子がプラスの電荷を帯びている共鳴構造(極限構造)を取りうる。本発明においては、そのような共鳴構造(極限構造)を取る共役酸についても、前記一般式(C)で表される共役酸に含む。
ただし、前記一般式(D)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。
前記直鎖状の炭化水素基の炭素数の上限値としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記炭素数は、25以下が好ましく、20以下がより好ましい。
前記イオン液体としては、下記一般式(1)で表されるイオン液体が好ましく、下記一般式(1−1)で表されるイオン液体、下記一般式(1−2)で表されるイオン液体、下記一般式(1−3)で表されるイオン液体、及び下記一般式(1−4)で表されるイオン液体がより好ましい。
ただし、前記一般式(1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。Aは、共役塩基を表す。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。
ただし、前記一般式(1−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。lは、1以上12以下であり、1以上6以下が好ましい。
ただし、前記一般式(1−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。
ただし、前記一般式(1−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。mは、0以上12以下であり、1以上12以下が好ましく、1以上6以下がより好ましい。
ただし、前記一般式(1−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。
また、前記イオン液体としては、下記一般式(2)で表されるイオン液体が好ましく、下記一般式(2−1)で表されるイオン液体、下記一般式(2−2)で表されるイオン液体、下記一般式(2−3)で表されるイオン液体、及び下記一般式(2−4)で表されるイオン液体がより好ましい。
ただし、前記一般式(2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。Aは、共役塩基を表す。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。
ただし、前記一般式(2−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。lは、1以上12以下であり、1以上6以下が好ましい。
ただし、前記一般式(2−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。
ただし、前記一般式(2−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。mは、0以上12以下であり、1以上12以下が好ましく、1以上6以下がより好ましい。
ただし、前記一般式(2−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。
また、前記イオン液体としては、下記一般式(3)で表されるイオン液体が好ましく、下記一般式(3−1)で表されるイオン液体、下記一般式(3−2)で表されるイオン液体、下記一般式(3−3)で表されるイオン液体、及び下記一般式(3−4)で表されるイオン液体がより好ましい。
ただし、前記一般式(3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。Aは、共役塩基を表す。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。
ただし、前記一般式(3−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。lは、1以上12以下であり、1以上6以下が好ましい。
ただし、前記一般式(3−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。
ただし、前記一般式(3−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。mは、0以上12以下であり、1以上12以下が好ましく、1以上6以下がより好ましい。
ただし、前記一般式(3−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。
また、前記イオン液体としては、下記一般式(4)で表されるイオン液体が好ましく、下記一般式(4−1)で表されるイオン液体、下記一般式(4−2)で表されるイオン液体、下記一般式(4−3)で表されるイオン液体、及び下記一般式(4−4)で表されるイオン液体がより好ましい。
ただし、前記一般式(4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。Aは、共役塩基を表す。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。
ただし、前記一般式(4−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。lは、1以上12以下であり、1以上6以下が好ましい。
ただし、前記一般式(4−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。
ただし、前記一般式(4−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。mは、0以上12以下であり、1以上12以下が好ましく、1以上6以下がより好ましい。
ただし、前記一般式(4−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であり、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基であることが好ましい。nは、1以上20以下であり、3以上15以下が好ましい。
上記各一般式において、Rの好ましい態様である、前記炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基、の炭素数の上限値としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記炭素数は、25以下が好ましく、20以下がより好ましい。
前記イオン液体の合成方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、以下の実施例に記載の方法を参考にすることで、種々の前記イオン液体を合成することができる。
本実施の形態における潤滑剤は、前述のイオン液体を単独で使用してもよいが、従来公知の潤滑剤と組み合わせて用いてもよい。例えば、長鎖カルボン酸、長鎖カルボン酸エステル、パーフルオロアルキルカルボン酸エステル、カルボン酸パーフルオロアルキルエステル、パーフルオロアルキルカルボン酸パーフルオロアルキルエステル、パーフルオロポリエーテル誘導体などと組み合わせて使用することが可能である。
また、厳しい条件で潤滑効果を持続させるために、質量比30:70〜70:30程度の配合比で極圧剤を併用してもよい。前記極圧剤は、境界潤滑領域において部分的に金属接触が生じたときに、これに伴う摩擦熱によって金属面と反応し、反応生成物皮膜を形成することにより、摩擦・摩耗防止作用を行うものである。前記極圧剤としては、例えば、リン系極圧剤、イオウ系極圧剤、ハロゲン系極圧剤、有機金属系極圧剤、複合型極圧剤などのいずれも使用できる。
また、必要に応じて防錆剤を併用してもよい。前記防錆剤としては、通常この種の磁気記録媒体の防錆剤として使用可能であるものであればよく、例えば、フェノール類、ナフトール類、キノン類、窒素原子を含む複素環化合物、酸素原子を含む複素環化合物、硫黄原子を含む複素環化合物などが挙げられる。また、前記防錆剤は、潤滑剤として混合して用いてもよいが、非磁性支持体上に磁性層を形成し、その上部に防錆剤層を塗布した後、潤滑剤層を塗布するというように、2層以上に分けて被着してもよい。
また、前記潤滑剤の溶媒としては、例えば、イソプロピルアルコール(IPA)、エタノール等のアルコール系溶媒などから単独又は組み合わせて使用することができる。例えば、ノルマルヘキサンのような炭化水素系溶剤やフッ素系溶媒を混合しても使用することができる。
<2.磁気記録媒体>
次に、前述の潤滑剤を用いた磁気記録媒体について説明する。本発明の一実施形態として示す磁気記録媒体は、非磁性支持体上に少なくとも磁性層を有してなり、前記磁性層に前述の潤滑剤を保有してなるものである。
本実施の形態における潤滑剤は、磁性層が非磁性支持体表面に蒸着やスパッタリング等の手法により形成された、所謂、金属薄膜型の磁気記録媒体に適用することが可能である。また、非磁性支持体と磁性層との間に下地層を介した構成の磁気記録媒体にも適用することもできる。このような磁気記録媒体としては、磁気ディスク、磁気テープなどを挙げることができる
図2は、ハードディスクの一例を示す断面図である。このハードディスクは、基板11と、下地層12と、磁性層13と、カーボン保護層14と、潤滑剤層15とが順次積層された構造を有する。
また、図3は、磁気テープの一例を示す断面図である。この磁気テープは、バックコート層25と、基板21と、磁性層22と、カーボン保護層23と、潤滑剤層24とが順次積層された構造を有する。
図2に示す磁気ディスクにおいて、非磁性支持体は、基板11、下地層12が該当し、図3に示す磁気テープにおいて、非磁性支持体は、基板21が該当する。非磁性支持体として、Al合金板やガラス板等の剛性を有する基板を使用した場合、基板表面にアルマイト処理等の酸化皮膜やNi−P皮膜等を形成して、その表面を硬くしてもよい。
磁性層13、22は、メッキ、スパッタリング、真空蒸着、プラズマCVD等の手法により、連続膜として形成される。磁性層13、22としては、Fe、Co、Ni等の金属や、Co−Ni系合金、Co−Pt系合金、Co−Ni−Pt系合金、Fe−Co系合金、Fe−Ni系合金、Fe−Co−Ni系合金、Fe−Ni−B系合金、Fe−Co−B系合金、Fe−Co−Ni−B系合金等からなる面内磁化記録金属磁性膜や、Co−Cr系合金薄膜、Co−O系薄膜等の垂直磁化記録金属磁性薄膜が例示される。
特に、面内磁化記録金属磁性薄膜を形成する場合、予め非磁性支持体上にBi、Sb、Pb、Sn、Ga、In、Ge、Si、Tl等の非磁性材料を、下地層12として形成しておき、金属磁性材料を垂直方向から蒸着あるいはスパッタし、磁性金属薄膜中にこれら非磁性材料を拡散せしめ、配向性を解消して面内等方性を確保するとともに、抗磁力を向上するようにしてもよい。
また、磁性層13、22の表面に、カーボン膜、ダイヤモンド状カーボン膜、酸化クロム膜、SiO膜等の硬質な保護層14、23を形成してもよい。
このような金属薄膜型の磁気記録媒体に前述の潤滑剤を保有させる方法としては、図2及び図3に示すように、磁性層13、22の表面や、保護層14、23の表面にトップコートする方法が挙げられる。潤滑剤の塗布量としては、0.1mg/m〜100mg/mであることが好ましく、0.5mg/m〜30mg/mであることがより好ましく、0.5mg/m〜20mg/mであることが特に好ましい。
また、図3に示すように、金属薄膜型の磁気テープは、磁性層22である金属磁性薄膜の他に、バックコート層25が必要に応じて形成されていてもよい。
バックコート層25は、樹脂結合剤に導電性を付与するためのカーボン系微粉末や表面粗度をコントロールするための無機顔料を添加し塗布形成されるものである。本実施の形態においては、前述の潤滑剤を、バックコート層25に内添又はトップコートにより含有させてもよい。また、前述の潤滑剤を、磁性層22とバックコート層25のいずれにも内添、トップコートにより含有させてもよい。
また、他の実施の形態として、磁性塗料を非磁性支持体表面に塗布することにより磁性塗膜が磁性層として形成される、所謂、塗布型の磁気記録媒体にも潤滑剤の適用が可能である。塗布型の磁気記録媒体において、非磁性支持体や磁性塗膜を構成する磁性粉末、樹脂結合剤などは、従来公知のものがいずれも使用可能である。
例えば、前記非磁性支持体としては、例えば、ポリエステル類、ポリオレフィン類、セルロース誘導体、ビニル系樹脂、ポリイミド類、ポリアミド類、ポリカーボネート等に代表されるような高分子材料により形成される高分子支持体や、アルミニウム合金、チタン合金等からなる金属基板、アルミナガラス等からなるセラミックス基板、ガラス基板などが例示される。また、その形状も何ら限定されるものではなく、テープ状、シート状、ドラム状等、如何なる形態であってもよい。さらに、この非磁性支持体には、その表面性をコントロールするために、微細な凹凸が形成されるような表面処理が施されたものであってもよい。
前記磁性粉末としては、γ−Fe、コバルト被着γ−Fe等の強磁性酸化鉄系粒子、強磁性二酸化クロム系粒子、Fe、Co、Ni等の金属や、これらを含んだ合金からなる強磁性金属系粒子、六角板状の六方晶系フェライト微粒子等が例示される。
前記樹脂結合剤としては、塩化ビニル、酢酸ビニル、ビニルアルコール、塩化ビニリデン、アクリル酸エステル、メタクリル酸エステル、スチレン、ブタジエン、アクリロニトリル等の重合体、あるいはこれら二種以上を組み合わせた共重合体、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、エポキシ樹脂等が例示される。これら結合剤には、磁性粉末の分散性を改善するために、カルボン酸基やカルボキシル基、リン酸基等の親水性極性基が導入されてもよい。
前記磁性塗膜には、前記の磁性粉末、樹脂結合剤の他、添加剤として分散剤、研磨剤、帯電防止剤、防錆剤等が加えられてもよい。
このような塗布型の磁気記録媒体に前述の潤滑剤を保有させる方法としては、前記非磁性支持体上に形成される前記磁性塗膜を構成する前記磁性層中に内添する方法、前記磁性層の表面にトップコートする方法、若しくはこれら両者の併用等がある。また、前記潤滑剤を前記磁性塗膜中に内添する場合には、前記樹脂結合剤100質量部に対して0.2質量部〜20質量部の範囲で添加される。
また、前記潤滑剤を前記磁性層の表面にトップコートする場合には、その塗布量は0.1mg/m〜100mg/mであることが好ましく、0.5mg/m〜20mg/mであることがより好ましい。なお、前記潤滑剤をトップコートする場合の被着方法としては、イオン液体を溶媒に溶解し、得られた溶液を塗布若しくは噴霧するか、又はこの溶液中に磁気記録媒体を浸漬すればよい。
本実施の形態における潤滑剤を適用した磁気記録媒体は、潤滑作用により、優れた走行性、耐摩耗性、耐久性等を発揮し、さらに、熱的安定性を向上させることができる。
<3.実施例>
以下、本発明の具体的な実施例について説明する。本実施例では、イオン液体を合成し、イオン液体を含有する潤滑剤を作製した。そして、潤滑剤を用いて磁気ディスク及び磁気テープを作製し、それぞれディスク耐久性及びテープ耐久性について評価した。磁気ディスクの製造、ディスク耐久性試験、磁気テープの製造、及びテープ耐久性試験は、次のように行った。なお、本発明は、これらの実施例に限定されるものではない。
<磁気ディスクの製造>
例えば、国際公開第2005/068589号公報に従って、ガラス基板上に磁性薄膜を形成し、図2に示すような磁気ディスクを作製した。具体的には、アルミシリケートガラスからなる外径65mm、内径20mm、ディスク厚0.635mmの化学強化ガラスディスクを準備し、その表面をRmaxが4.8nm、Raが0.43nmになるように研磨した。ガラス基板を純水及び純度99.9%以上のイソプロピルアルコール(IPA)中で、それぞれ5分間超音波洗浄を行い、IPA飽和蒸気内に1.5分間放置後、乾燥させ、これを基板11とした。
この基板11上に、DCマグネトロンスパッタリング法によりシード層としてNiAl合金(Ni:50モル%、Al:50モル%)薄膜を30nm、下地層12としてCrMo合金(Cr:80モル%、Mo:20モル%)薄膜を8nm、磁性層13としてCoCrPtB合金(Co:62モル%、Cr:20モル%、Pt:12モル%、B:6モル%)薄膜を15nmとなるように順次形成した。
次に、プラズマCVD法によりアモルファスのダイヤモンドライクカーボンからなるカーボン保護層14を5nm製膜し、そのディスクサンプルを洗浄器内に純度99.9%以上のイソプロピルアルコール(IPA)中で10分間超音波洗浄を行い、ディスク表面上の不純物を取り除いた後に乾燥させた。その後、25℃50%相対湿度(RH)の環境においてディスク表面にイオン液体のIPA溶液を用いてディップコート法により塗布することで、潤滑剤層15を約1nm形成した。
<熱安定性測定>
TG/DTA測定では、セイコーインスツルメント社製EXSTAR6000を使用し、200ml/minの流量で空気中を導入しながら、10℃/minの昇温速度で30℃−600℃の温度範囲で測定を行った。
<ディスク耐久性試験1(ピンオンディスク試験)>
図4に示すピンオンディスク試験機を用いて、以下の測定条件でアームに生じる摩擦力をストレインゲージで検出した。
〔測定条件〕
・荷重 : 15g
・摺動速度: 1.7mm/sec (100mm/min)
・接触部 : 3mmφ 鋼球
・摺動距離: 20mm
・摺動回数: 100回
<ディスク耐久性試験2>
市販のひずみゲージ式ディスク摩擦・摩耗試験機を用いて、ハードディスクを14.7Ncmの締め付けトルクで回転スピンドルに装着後、ヘッドスライダーのハードディスクに対して内周側のエアベアリング面の中心が、ハードディスクの中心より17.5mmになるようにヘッドスライダーをハードディスク上に取り付けCSS耐久試験を行った。本測定に用いたヘッドは、IBM3370タイプのインライン型ヘッドであり、スライダーの材質はAl−TiC、ヘッド荷重は63.7mNである。本試験は、クリーン清浄度100、25℃60%RHの環境下で、CSS(Contact、Start、Stop)毎に摩擦力の最大値をモニターした。摩擦係数が1.0を超えた回数をCSS耐久試験の結果とした。CSS耐久試験の結果において、50,000回を超える場合には「>50,000」と表示した。また、耐熱性を調べるために、300℃の温度で3分間加熱試験を行った後のCSS耐久性試験を同様に行った。
<磁気テープの製造>
図3に示すような断面構造の磁気テープを作製した。先ず、5μm厚の東レ製ミクトロン(芳香族ポリアミド)フィルムからなる基板21に、斜め蒸着法によりCoを被着させ、膜厚100nmの強磁性金属薄膜からなる磁性層22を形成した。次に、この強磁性金属薄膜表面にプラズマCVD法により10nmのダイヤモンドライクカーボンからなるカーボン保護層23を形成させた後、6ミリ幅に裁断した。このカーボン保護層23上にIPAに溶解したイオン液体を、膜厚が1nm程度となるように塗布して潤滑剤層24を形成し、サンプルテープを作製した。
<テープ耐久性試験>
各サンプルテープについて、温度−5℃環境下、温度40℃30%RH環境下のスチル耐久性、並びに、温度−5℃環境下、温度40℃90%RH環境下の摩擦係数及びシャトル耐久性について測定を行った。スチル耐久性は、ポーズ状態での出力が−3dB低下するまでの減衰時間を評価した。シャトル耐久性は、1回につき2分間の繰り返しシャトル走行を行い、出力が3dB低下するまでのシャトル回数で評価した。また、耐熱性を調べるために、100℃の温度で10分間加熱試験を行った後の耐久性試験も同様に行った。
本実施の形態におけるイオン液体は、共役塩基と、分子中に2個以上のカチオンを持つ共役酸とを有し、前記共役塩基の元となる酸のアセトニトリル中でのpKaが、10以下である。更には、カチオン部分に炭素数6以上の炭化水素基を含む1価基を持つことが好ましい。そのようなイオン液体の熱安定性、及び前記イオン液体を用いた磁気記録媒体の耐久性についての影響を調べた。
(実施例1)
<1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナンの合成>
1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナンの合成は、以下のスキームにしたがって行った。
1−オクタデシルイミダゾールは、3gのイミダゾールを100mLのアセトニトリルに溶解させ、オクタデシルブロミド14.9gと水酸化カリウム2.51gとを加えて撹拌しながら加熱して4時間還流させて得た。溶媒を除去後、ジクロルメタンで抽出し、カラムクロマトグラフィーで精製した。ガスクロマトグラフィー分析したところ98.5%以上の純度であった。
1−オクタデシルイミダゾール10.91gと1,9−ジブロモノナン4.88gとをイソプロパノールに溶解させた。得られた液を、スリーワンモーターと冷却器とを取り付けた三口フラスコに加えて3時間加熱還流させた。溶媒を除去後、n−ヘキサンとエタノールとの混合溶媒から再結晶を行い、無色結晶の1,9−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウムブロミド)ノナン14.11gを得た。収率89%。
1,9−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウムブロミド)ノナン4.54gとトリフルオロメタンスルホニルイミドリチウム塩2.82gとをエタノールに溶解させ、常温で1時間撹拌後、2時間加熱還流させた。反応終了後、溶媒を除去し、水で十分に洗浄した。60℃で真空乾燥後にn−ヘキサンとエタノールとの混合溶媒から再結晶を行い、1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナン5.74gを得た。収率88%。
ここで、本明細書においてのFTIRの測定は、日本分光社製FT/IR−460を使用し、KBrプレート法あるいはKBr錠剤法を用いて透過法で測定を行った。そのときの分解能は4cm−1である。
H−NMR及び13C−NMRスペクトルは、Varian MercuryPlus300核磁気共鳴装置(バリアン社製)で測定した。H−NMRの化学シフトは、内部標準(0ppmにおけるTMSあるいは重水素化溶媒ピーク)との比較としてppmで表した。分裂パターンは、一重項をs、二重項をd、三重項をt、多重項をm、ブロードピークをbrとして示した。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1059cm−1にSNS逆対称伸縮振動、1136cm−1にSOの対称伸縮振動、1184cm−1にCFの対称伸縮振動、1350cm−1にSO結合の逆対称伸縮振動、1464cm−1にCHの変角振動、1558cm−1にイミダゾール環特有の伸縮振動、2848cm−1にCHの対称伸縮振動、2916cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、重DMSO中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(重DMSO,δppm);0.836(t,6H,J=7.2Hz), 1.150−1.300(m,70H), 1.744−1.790(m,8H), 4.141(t,8H,J=7.2Hz), 7.783(d,2H,J=3Hz), 7.786(d,2H,J=3Hz), 9.206(s,2H)
13C−NMR(重DMSO,δppm);14.073, 22.270, 25.627, 25.658, 28.482, 28.894, 29.016, 29.092, 29.230, 29.443, 29.474, 31.473, 49.010, 119.663, 122.624, 136.086
これらのスペクトルから、生成物が1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム−ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナンであることが同定された。
なお、1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム−ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナンにおける共役塩基の元となる酸〔ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド〕のアセトニトリル中でのpKaは、0.3である。
(実施例2)
<1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンの合成>
1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンの合成は、以下のスキームにしたがって行った。
実施例1と同様にして合成した1,9−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウムブロミド)ノナン4.63gとカリウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド3.21gとをエタノールに溶解させ、常温で1時間撹拌後、2時間加熱還流させた。反応終了後、水を加えて冷却後に濾過し、結晶を水で十分に洗浄した。60℃で真空乾燥後に、n−ヘキサンとエタノールとの混合溶媒から再結晶を行い、1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナン6.19gを得た。収率93%。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1092cm−1にSOの対称伸縮振動、1159cm−1にCFの対称伸縮振動、1354cm−1にSO結合の逆対称伸縮振動、1468cm−1にCHの変角振動、1556cm−1にイミダゾール特有の伸縮振動、2848cm−1にCHの対称伸縮振動、2916cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、重DMSO中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(重DMSO,δppm);0.838(t,6H,J=7.2Hz), 1.170−1.310(m,70H), 1.760−1.820(m,8H), 4.134(t,8H,J=7.2Hz), 7.773(d,2H,J=1.8Hz), 7.779(d,2H,J=1.8Hz), 9.162(s,2H)
13C−NMR(重DMSO,δppm);14.362, 22.543, 25.901, 25.962, 28.770, 29.152, 29.274, 29.350, 29.488, 29.701, 29.747, 31.746, 49.299, 122.897, 136.344
これらのスペクトルから、生成物が1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンであることが同定された。
なお、1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンにおける共役塩基の元となる酸〔ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド〕のアセトニトリル中でのpKaは、−0.8である。
(実施例3)
<1,9−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウム トリシアノメタニド)ノナンの合成>
1,9−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウム トリシアノメタニド)ノナンの合成は、以下のスキームにしたがって行った。
実施例1と同様にして合成した1,9−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウムブロミド)ノナン5.54gのエタノール溶液に水に溶解させたカリウムトリシアノメタニド1.54gを加え、常温で2時間撹拌後、2時間加熱還流させた。反応終了後、溶媒を除去し、更に水で十分に洗浄した。続いて、少量のエタノールに溶解させ、n−ヘキサンを加えて冷却した。結晶を濾過後60℃で真空乾燥を10時間行い、1,9−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウム トリシアノメタニド)ノナンの無色結晶を3.95g得た。収率70%。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1469cm−1にCHの変角振動、1160cm−1にイミダゾール特有の伸縮振動、2154cm−1にCN結合の伸縮振動、2848cm−1にCHの対称伸縮振動、2914cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、重DMSO中でのプロトン(H)NMR及び重メタノール中でのカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(重DMSO,δppm);0.893(t,6H,J=7.2Hz), 1.228−1.371(m,70H), 1.810−1.980(m,8H), 4.204(t,8H,J=7.2Hz), 7.630(d,2H,J=1.2Hz), 7.634(d,2H,J=1.2Hz), 8.979(s,2H)
13C−NMR(重メタノール,δppm);14.475, 23.740, 27.265, 29.997, 30.059, 30.318, 30.486, 30.532, 30.639, 30.791, 31.051, 31.081, 33.065, 50.908, 122.080, 123.789, 137.068
これらのスペクトルから、生成物が1,9−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウム トリシアノメタニド)ノナンであることが同定された。
なお、1,9−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウム トリシアノメタニド)ノナンにおける共役塩基の元となる酸(トリシアノメタニド)のアセトニトリル中でのpKaは、5.1である。
(実施例4)
<1,5−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ペンタンの合成>
1,5−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ペンタンの合成は、以下のスキームにしたがって行った。
1−オクタデシルイミダゾールは、3gのイミダゾールを100mLのアセトニトリルに溶解させ、オクタデシルブロミド14.9gと水酸化カリウム2.51gとを加えて撹拌しながら加熱して4時間還流させて得た。溶媒を除去後、ジクロルメタンで抽出し、カラムクロマトグラフィーで精製した。ガスクロマトグラフィー分析したところ98.5%以上の純度であった。
1−オクタデシルイミダゾール10.00gと1,5−ジブロモペンタン3.58gとをイソプロパノールに溶解させた。得られた液を、スリーワンモーターと冷却器とを取り付けた三口フラスコに加えて3時間加熱還流させた。溶媒を除去後、酢酸エチルとエタノールとの混合溶媒から再結晶を行い、無色結晶の1,5−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウムブロミド)ペンタン12.82gを得た。収率94%。
1,5−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウムブロミド)ペンタン3.15gを水に溶解させトリフルオロメタンスルホニルイミドリチウム塩2.08gの水溶液を加えた。常温で1時間撹拌後、2時間加熱還流させた。反応終了後、結晶を濾過した。濾液のAgNO試験が陰性になるまで水で十分に洗浄した。n−ヘキサンとエタノールとの混合溶媒から再結晶を行い、1,5−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ペンタン2.45gを得た。収率53.5%。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1057cm−1にSNS逆対称伸縮振動、1134cm−1にSOの対称伸縮振動、1232cm−1にCFの対称伸縮振動、1352cm−1にSO結合の逆対称伸縮振動、1464cm−1にCHの変角振動、2850cm−1にCHの対称伸縮振動、2918cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、重DMSO中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(重DMSO,δppm);0.840(t,6H,J=7.2Hz), 1.120−1.350(m,62H), 1.710−1.880(m,8H), 4.110−4.169(m,8H), 7.756−7.767(m,2H), 7.783−7.794(m,2H), 9.145(s,2H)
13C−NMR(重DMSO,δppm);14.089, 22.270, 25.689, 28.543, 28.772, 28.894, 29.016, 29.138, 29.230, 29.504, 31.473, 48.675, 49.041, 119.656(J=319Hz), 122.309,122.670, 136.071
これらのスペクトルから、生成物が1,5−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム−ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ペンタンであることが同定された。
なお、1,5−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム−ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ペンタンにおける共役塩基の元となる酸〔ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド〕のアセトニトリル中でのpKaは、0.3である。
(実施例5)
<1,5−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ペンタンの合成>
1,5−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ペンタンの合成は、以下のスキームにしたがって行った。
実施例4と同様にして合成した1,5−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウムブロミド)ペンタン3.65gを水に溶解させ、ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミドカリウム塩2.78gの水溶液を加えた。常温で1時間撹拌後、2時間加熱還流させた。反応終了後、冷却後に濾過し、濾液のAgNO試験が陰性になるまで水で十分に洗浄した。60℃で真空乾燥後に、n−ヘキサンとエタノールとの混合溶媒から再結晶を行い、1,5−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ペンタン5.07gを得た。収率94.9%。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1043cm−1にSNSの伸縮振動、1090cm−1にSOの対称伸縮振動、1155cm−1にCFの対称伸縮振動、1350cm−1にSO結合の逆対称伸縮振動、1469cm−1にCHの変角振動、2850cm−1にCHの対称伸縮振動、2920cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、重DMSO中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(重DMSO,δppm);0.839(t,6H,J=7.2Hz), 1.170−1.310(m,62H), 1.710−1.870(m,8H), 4.109−4.168(m,8H), 7.753−7.765(m,2H), 7.781−7.792(m,2H), 9.141(s,2H)
13C−NMR(重DMSO,δppm);14.089, 22.270, 25.689, 28.543, 28.787, 28.894, 29.016, 29.138, 29.230, 29.504, 31.473, 48.675, 49.056, 122.609, 122.655, 136.071
これらのスペクトルから、生成物が1,5−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ペンタンであることが同定された。
なお、1,5−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ペンタンにおける共役塩基の元となる酸〔ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド〕のアセトニトリル中でのpKaは、−0.8である。
(実施例6)
<1,5−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム−ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ペンタンの合成>
1,5−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム−ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ペンタンの合成は、以下のスキームにしたがって行った。
実施例4と同様にして合成した1,5−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウムブロミド)ペンタン1.93gを水に溶解させ、水と少量のエタノールに溶解させたビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミドカリウム塩2.76gを加え、常温で2時間撹拌後、2時間加熱還流させた。反応終了後濾過し、濾液のAgNO試験が陰性になるまで水で十分に洗浄した。70℃で真空乾燥を10時間行い、1,5−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム−ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ペンタンのろう状化合物を4.00g得た。収率96.5%。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1072cm−1にSOの対称伸縮振動、1167cm−1にCFの対称伸縮振動、1352cm−1にSO結合の逆対称伸縮振動、1468cm−1にCHの変角振動、1566cm−1にC=Nの伸縮振動、2854cm−1にCHの対称伸縮振動、2924cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、重DMSO中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(重DMSO,δppm);0.828(t,6H,J=6.9Hz), 1.130−1.340(m,62H), 1.710−1.880(m,8H), 4.106−4.169(m,8H), 7.750−7.761(m,2H), 7.772−7.782(m,2H), 9.141(s,2H)
13C−NMR(重DMSO,δppm);13.967, 22.239, 25.689, 28.543, 28.772, 28.879, 29.016, 29.138, 29.214, 29.520, 31.458, 48.675, 49.041, 122.594, 122.639, 136.086
これらのスペクトルから、生成物が1,5−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム−ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ペンタンであることが同定された。
なお、1,5−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム−ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ペンタンにおける共役塩基の元となる酸[ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]のアセトニトリル中でのpKaは、0.0である。
(実施例7)
<1,9−ビス[1−オクタデシルピロリジニウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナンの合成>
1,9−ビス[1−オクタデシルピロリジニウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナンの合成は、以下のスキームにしたがって行った。
1−オクタデシルピロリジンは、5.93gのピロリジンを100mLのアセトニトリルに溶解させ、オクタデシルブロミド27.74gと水酸化カリウム4.67gとを加えて撹拌しながら加熱して12時間還流させて得た。溶媒を除去後、ジクロルメタンで抽出し、カラムクロマトグラフィーで溶媒としてn−ヘキサンと酢酸エチル5:1の溶液を用いて精製した。ガスクロマトグラフィー分析したところ98.5%以上の純度であった。
1−オクタデシルピロリジン6.87gと1,9−ジブロモノナン3.04gとをイソプロパノールに溶解させた。得られた液を、スリーワンモーターと冷却器とを取り付けた三口フラスコに加えて32時間加熱還流させた。溶媒を除去後、水に溶解させ、酢酸エチル20mlで3回洗浄した。水層を乾燥後さらに酢酸エチルで洗浄して、無色結晶の1,9−ビス(ブロモ−1−オクタデシルピロリジニウム)ノナン7.00gを得た。収率71%。
1,9−ビス(ブロモ−1−オクタデシルピロリジニウム)ノナン3.00gを水に溶解させトリフルオロメタンスルホイミドリチウム塩1.86gの水溶液を加えた。常温で1時間撹拌後、1時間加熱還流させた。反応終了後、結晶を濾過した。濾液のAgNO試験が陰性になるまで水で十分に洗浄した後に乾燥させた。n−ヘキサンとエタノールとの混合溶媒から再結晶を行い、1,9−ビス[1−オクタデシルピロリジニウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナン2.46gを得た。収率57%。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1074cm−1にSNS逆対称伸縮振動、1134cm−1にSOの対称伸縮振動、1250cm−1にCFの対称伸縮振動、1468cm−1にCHの変角振動、2848cm−1にCHの対称伸縮振動、2916cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、重DMSO中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(重DMSO,δppm);0.843(t,6H,J=6.9Hz), 1.170−1.360(m,70H), 1.530−1.650(m,8H), 2.000−2.060(m,8H), 3.120−3.210(m,8H), 3.390−3.480)
13C−NMR(重DMSO,δppm);14.058, 21.537, 22.270, 22.560, 22.651, 25.963, 26.024, 28.619, 28.650, 28.909, 28.985, 29.123, 29.245, 31.488, 58.794, 62.274, 119.663(J=320Hz),
これらのスペクトルから、生成物が1,9−ビス[1−オクタデシルピロリジニウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナンであることが同定された。
なお、1,9−ビス[1−オクタデシルピロリジニウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナンにおける共役塩基の元となる酸〔ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド〕のアセトニトリル中でのpKaは、0.3である。
(実施例8)
<1,9−ビス[1−オクタデシルピロリジニウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンの合成>
1,9−ビス[1−オクタデシルピロリジニウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンの合成は、下記のスキームに従って行った。
実施例7と同様に合成した1,9−ビス(ブロモ−N−オクタデシルピロリジニウム)ノナン3.56gを水に溶解させヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミドカリウム塩2.44gの水溶液を加えた。常温で1時間撹拌後、1時間加熱還流させた。反応終了後、結晶を濾過した。濾液のAgNO試験が陰性になるまで水で十分に洗浄した後に乾燥させた。エタノールから再結晶を行い、1,9−ビス[1−オクタデシルピロリジニウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナン3.53gを得た。収率69%。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1155cm−1にCFの対称伸縮振動、1350cm−1にSOの対称伸縮振動、1468cm−1にCHの変角振動、2850cm−1にCHの対称伸縮振動、2920cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、重DMSO中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(重DMSO,δppm);0.842(t,6H,J=6.9Hz), 1.170−1.330(m,70H), 1.530−1.650(m,8H), 2.000−2.060(m,8H), 3.120−3.210(m,8H), 3.390−3.480)
13C−NMR(重DMSO,δppm);14.119, 21.537, 22.270, 22.544, 22.666, 25.948, 26.040, 28.619, 28.695, 28.894, 28.970, 29.107, 29.212, 31.473, 58.748, 62.274
これらのスペクトルから、生成物が1,9−ビス[1−オクタデシルピロリジニウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンであることが同定される。
なお、1,9−ビス[1−オクタデシルピロリジニウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンにおける共役塩基の元となる酸ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミドのアセトニトリル中でのpKaは、−0.8である。
(実施例9)
<1,9−ビス[6−オクタデシル−1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセニウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンの合成>
1,9−ビス[6−オクタデシル−1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセニウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンは、下記のスキームに従って合成した。
6−オクタデシル−1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセンはMurayamaらの方法で合成した(非特許文献:N.Matsumura,H.Nishiguchi,M.Okada,and S.Yoneda,J.Heterocyclic Chem. pp.885−887, Vol. 23, Issue 3 (1986))。つまり、1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセン(DBU)をテトラヒドロフランに溶解させ、0℃に冷却したところにブチルリチウムを滴下しながら加え、0℃で1時間攪拌した。この溶液にDBUと当モルのオクタデシルブロミドのTHF溶液を滴下した。反応終了後反応溶液を希塩酸で酸性にしてジエチルエーテルで抽出し、水溶液は水酸化ナトリウムでアルカリ性にした後にジエチルエーテルで抽出した。ジエチルエーテル層は水で洗浄した後に無水硫酸マグネシウムで乾燥させ、溶媒を除去した。その後にシリカゲルカラムクロマトにより精製を行った。収率75%。
得られた6−オクタデシル−1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセンと等モルの1,9−ジブロモノナンをイソプロパノールに溶解させて、加熱還流を48時間行った。反応終了後に溶媒を除去し、水に溶解させ酢酸エチルで不純物及び未反応物を抽出した。水層を溶媒除去してジブロモ化合物を得た。収率79%。
得られたジブロモ化合物を水に溶解させ、ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミドカリウム塩を水と少量のエタノールに溶解させた溶液を加えて、1時間攪拌後に加熱還流を1時間行った。冷却後析出物を水でAgNO試験が陰性になるまで洗浄後、析出物を100℃で12時間真空乾燥をさせた。収率70%。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1036cm−1にSNSの非対称伸縮振動、1088cm−1にSOの対称伸縮振動、1153cm−1にCFの対称伸縮振動、1352cm−1にSOの非対称伸縮振動、1618cm−1にC=Nの伸縮振動、2850cm−1にCHの対称伸縮振動、2920cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、CDOD中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(CDOD,δppm);0.872(t,6H,J=6.9Hz), 1.220−1.460(m,74H), 1.631−1.679(m,4H), 1.708−1.810(m,12H), 2.031−2.109(m,4H), 2.854−2.887(m,2H), 3.491−3.543(m,12H), 3.633−3.663(m,4H)
13C−NMR(CDOD,δppm);14.024, 19.336, 21.038, 22.633, 24.182, 25.121, 26.311, 27.021, 27.181, 27.387, 28.311, 29.005, 29.028, 29.303, 29.425, 29.532, 29.601, 29.608, 29.646, 29.654, 30.211, 30.272, 31.882, 38.491, 50.114, 55.014, 55.914, 167.915
これらのスペクトルから、生成物が1,9−ビス[6−オクタデシル−1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセニウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンであることが同定された。
なお、1,9−ビス[6−オクタデシル−1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセニウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンにおける共役塩基の元となる酸[ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]のアセトニトリル中でのpKaは、−0.8である。
(実施例10)
<1,3−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]プロパンの合成>
1,3−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]プロパンの合成は、以下のスキームにしたがって行った。
実施例1と同様に合成した1−オクタデシルイミダゾール11.51gと1,3−ジブロモプロパン3.60gとをイソプロパノールに溶解させた。得られた液を、スリーワンモーターと冷却器とを取り付けた三口フラスコに加えて3時間加熱還流させた。溶媒を除去後得られた結晶を酢酸エチルで十分に洗浄後、n−ヘキサンとエタノールとの混合溶媒から再結晶を行い、無色結晶の1,3−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウムブロミド)プロパン13.37gを得た。収率89%。
1,3−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウムブロミド)プロパン2.49gとノナフルオロブタンスルホニルイミドリチウム塩3.70gとをエタノールに溶解させ、常温で1時間撹拌後、2時間加熱還流させた。反応終了後、溶媒を除去し、ジクロルメタンに溶解させた後水で十分に洗浄した。n−ヘキサンとエタノールとの混合溶媒から再結晶を行い、1,3−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]プロパン4.80gを得た。収率85%。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1072cm−1にSNS逆対称伸縮振動、1167cm−1にCFの対称伸縮振動、1352cm−1にSO結合の逆対称伸縮振動、1468cm−1にCHの面外変角振動、1566cm−1にC=Nの伸縮振動、2854cm−1にCHの対称伸縮振動、2924cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、CDCl中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(CDCl,δppm);0.854(t,6H,J=7.2Hz), 1.150−1.350(m,60H), 1.780−1.900(m,4H), 2.481−2.587(m,2H), 4.098(t,4H,J=7.2Hz), 4.359(t,4H,J=7.2Hz), 7.189−7.200(m,2H), 7.600−6.610(m,2H), 9.206(s,2H), 8.333(2H,s)
13C−NMR(CDCl,δppm);14.085, 22.679, 26.143, 28.799, 29.257, 29.349, 29.455, 29.547, 29.654, 29.684, 29.883, 31.470, 31.913, 46.413, 50.412, 122.057, 123.308, 135.458
これらのスペクトルから、生成物が1,3−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム−ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]プロパンであることが同定された。
なお、1,3−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム−ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]プロパンにおける共役塩基の元となる酸〔ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド〕のアセトニトリル中でのpKaは、0.0である。
(実施例11)
<1,3−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]プロパンの合成>
1,3−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]プロパンの合成は、以下のスキームにしたがって行った。
実施例10と同様にして合成した1,3−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウムブロミド)プロパン2.78gと、カリウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド2.40gとをエタノール水溶液に溶解させ、常温で1時間撹拌後、2時間加熱還流させた。反応終了後、水を加えて冷却後に濾過し、結晶を水で十分に洗浄した。60℃で真空乾燥後に、n−ヘキサンとエタノールとの混合溶媒から再結晶を行い、1,3−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]プロパン3.62gを得た。収率91%。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1092cm−1にSOの対称伸縮振動、1159cm−1にCFの対称伸縮振動、1354cm−1にSO結合の逆対称伸縮振動、1468cm−1にCHの面外変角振動、1556cm−1にC=Nの伸縮振動、2848cm−1にCHの対称伸縮振動、2916cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、CDCl中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(CDCl,δppm);0.854(t,6H,J=7.2Hz), 1.140−1.360(m,60H), 1.770−1.900(m,4H), 2.470−2.600(m,2H), 4.112(t,4H,J=7.2Hz), 4.356(t,4H,J=7.2Hz), 7.192−7.204(m,2H), 7.570−7.582(m,2H), 8.768(s,2H)
13C−NMR(CDCl,δppm);14.085, 22.663, 26.174, 28.845, 29.272, 29.349, 29.471, 29.578, 29.639, 29.684, 29.898, 31.333, 31.913, 46.550, 50.381, 122.118, 123.186, 135.503
これらのスペクトルから、生成物が1,3−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]プロパンであることが同定された。
なお、1,3−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]プロパンにおける共役塩基の元となる酸〔ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド〕のアセトニトリル中でのpKaは、−0.8である。
(実施例12)
<1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ノナンの合成>
1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナンの合成は、以下のスキームにしたがって行った。
実施例1と同様に合成した1,9−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウムブロミド)ノナン3.00gを水に溶解させビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミドリチウム塩4.04gの水溶液を加えた。常温で1時間撹拌後、2時間加熱還流させた。反応終了後、結晶を濾過した。濾液のAgNO試験が陰性になるまで水で十分に洗浄を行い、1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ペンタン5.16gを得た。収率73.7%。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1072cm−1にSNS逆対称伸縮振動、1169cm−1にCFの対称伸縮振動、1352cm−1にSO結合の逆対称伸縮振動、1469cm−1にCHの変角振動、1564cm−1にC=Nの対称伸縮振動,2850cm−1にCHの対称伸縮振動、2920cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、CDCl中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(CDCl,δppm);0.870(t,6H,J=6.9Hz), 1.180−1.370(m,70H), 1.780−1.920(m,8H), 4.151(q,8H,J=7.2Hz), 7.244−7.257(m,2H), 7.398−7.410(m,2H), 8.816(s,2H)
13C−NMR(CDCl,δppm);14.055, 22.663, 25.334, 26.082, 27.807, 27.929, 28.845, 29.288, 29.333, 29.455, 29.562, 29.669, 29.730, 30.127, 31.898, 50.015, 50.091, 121.980, 122.621, 135.366
これらのスペクトルから、生成物が1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム−ビス(ノナフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナンであることが同定された。
なお、1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム−ビス(ノナフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナンにおける共役塩基の元となる酸〔ビス(ノナフルオロメタンスルホニル)イミド〕のアセトニトリル中でのpKaは、0.0である。
(実施例13)
<1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウムノナフルオロブタンスルホニウム]ノナンの合成>
1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウムノナフルオロブタンスルホニウム]ノナンの合成は、以下のスキームにしたがって行った。
実施例12と同様にして合成した1,9−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウムブロミド)ノナン2.48gを水に溶解させ、ノナフルオロブタンスルホン酸カリウム塩1.93gの水溶液を加えた。常温で1時間撹拌後、2時間加熱還流させた。反応終了後、冷却後に濾過し、濾液のAgNO 試験が陰性になるまで水で十分に洗浄した。60℃で真空乾燥後に、n−ヘキサンとエタノールとの混合溶媒から再結晶を行い、1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウムノナフルオロブタンスルホニウム]ノナン3.03gを得た。収率83.0%。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1134cm−1にSOの対称伸縮振動、1255cm−1にCFの対称伸縮振動、1352cm−1にSO結合の逆対称伸縮振動、1468cm−1にCHの変角振動、2850cm−1にCHの対称伸縮振動、2918cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、重クロロホルム中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(CDCl,δppm);0.850(t,6H,J=6.9Hz), 1.173−1.350(m,70H), 1.770−1.920(m,8H), 4.180(q,8H,J=7.2Hz), 7.270−7.282(m,2H), 7.471−7.482(m,2H), 9.214(s,2H)
13C−NMR(CDCl,δppm);14.085, 22.663, 25.258, 26.159, 27.654, 27.914, 28.906, 29.333, 29.471, 29.578, 29.639, 29.684, 30.173, 31.898, 49.893, 50.076, 122.904, 122.637, 136.190
これらのスペクトルから、生成物が1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウムノナフルオロブタンスルホニウム]ノナンであることが同定された。
なお、1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウムノナフルオロブタンスルホニウム]ノナンにおける共役塩基の元となる酸(ノナフルオロブタンスルホン酸)のアセトニトリル中でのpKaは、0.7である。
(実施例14)
<1,9−ビス[ジメチルオクタデシルアンモニウム−ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ノナンの合成>
1,9−ビス[ジメチルオクタデシルアンモニウム‐ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ノナンの合成は、以下のスキームにしたがって行った。
ジメチルオクタデシルアミン9.89gと1,9−ジブロムノナン4.55gとを2−プロパノール中に加え加熱還流を3時間行った。冷却後溶媒を除去し、n−ヘキサンとエタノールの混合溶媒から再結晶を行い、1,9−ビス[ジメチルオクタデシルアンモニウムブロミド]ノナンを12.63g得た。収率90.2%。
得られた1,9−ビス[ジメチルオクタデシルアンモニウムブロミド]ノナン2.02gとビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド2.88gとを、水とエタノールの混合溶媒に溶解させ、加熱還流させた。溶媒を除去後、AgNO試験が陰性になるまで水で十分に洗浄したのちに、60℃で5時間真空乾燥させ、n−ヘキサンとエタノールの混合溶媒から再結晶を行い、1,9−ビス[ジメチルオクタデシルアンモニウム−ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ノナン2.75gを得た。収率60.8%。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1030cm−1にSNSの逆対称伸縮振動、1080cm−1にSOの対称伸縮振動、1136cm−1と1192cm−1にCFの対称伸縮振動、1344cm−1にSO結合の逆対称伸縮振動、1469cm−1にCHの変角振動、2852cm−1にCHの対称伸縮振動、2922cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、重クロロホルム中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(CDCl,δppm);0.857(t,6H,J=6.6Hz), 1.160−1.400(m,70H), 1.600−1.780(m,8H), 2.998(s,12H), 3.148−3.246(m,4H), 3.262−3.303(m,4H)
13C−NMR(CDCl,δppm);14.085, 22.129, 22.679, 25.075, 26.036, 27.425, 27.670, 29.043, 29.303, 29.349, 29.394, 29.562, 29.623, 29.684, 31.913, 50.396, 65.095
これらのスペクトルから、生成物が1,9−ビス[ジメチルオクタデシルアンモニウム−ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ノナンであることが同定された。
なお、1,9−ビス[ジメチルオクタデシルアンモニウム−ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ノナンにおける共役塩基の元となる酸[ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]のアセトニトリル中でのpKaは、0.0である。
(実施例15)
<1,9−ビス[ジメチルオクタデシルアンモニウム−ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンの合成>
1,9−ビス[ジメチルオクタデシルアンモニウム−ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンの合成は、以下のスキームにしたがって行った。
実施例14と同様にして合成した1,9−ビス[ジメチルオクタデシルアンモニウムブロミド]ノナン2.91gを水に溶解させヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミドリチウム塩1.98gの水溶液を加えた。常温で1時間撹拌後、1時間加熱還流させた。反応終了後、結晶を濾過した。濾液のAgNO試験が陰性になるまで水で十分に洗浄した後に乾燥させた。n−ヘキサンとエタノールとの混合溶媒から再結晶を行い、1,9−ビス[ジメチルオクタデシルアンモニウム−ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナン3.61gを得た。収率83.8%。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1039cm−1にSNS逆対称伸縮振動、1090cm−1にSOの対称伸縮振動、1153cm−1にCFの対称伸縮振動、1350cm−1にSOの逆対称伸縮振動、1469cm−1にCHの変角振動、2850cm−1にCHの対称伸縮振動、2918cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、重クロロホルム中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(CDCl,δppm);0.855(t,6H,J=6.6Hz), 1.150−1.430(m,70H), 1.600−1.790(m,8H),2.998(s,12H), 3.147−3.203(m,4H), 3.235−3.292(m,4H)
13C−NMR(CDCl,δppm);14.085, 22.221, 22.618, 22.663, 25.365, 26.052, 27.868, 28.036, 28.998, 29.318, 29.349, 29.425, 29.578, 29.654, 29.700, 31.913, 50.564, 65.003
これらのスペクトルから、生成物が1,9−ビス[ジメチルオクタデシルアンモニウム−ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンであることが同定された。
なお、1,9−ビス[ジメチルオクタデシルアンモニウム−ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンにおける共役塩基の元となる酸〔ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド〕のアセトニトリル中でのpKaは、−0.8である。
(比較例1)
<1−ブチル−3−n−オクタデシルイミダゾリウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミドの合成>
比較のために、モノカチオンイオン液体である1−ブチル−3−n−オクタデシルイミダゾリウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミドの合成を、以下のスキームにしたがって行った。
実施例1で合成した1−オクタデシルイミダゾール10.7gとブロモブタン6.03gとをアセトニトリル中に溶解させ、加熱還流を5時間行った。溶媒を除去後、n−ヘキサンとエタノールとの混合溶媒から再結晶を行い、1−ブチル−3−オクタデシルイミダゾリウムブロミドを得た。このブロミド4.57gをエタノールに溶解させ、そこへ、カリウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド3.31gのエタノール溶液を添加し、撹拌すると無色の沈殿が発生した。この溶液を1時間加熱還流させ、冷却後に溶媒を除去した。これにジクロルメタンを加えて溶解する部分を濾過して、その濾液を乾燥させ、n−ヘキサンとエタノールとの混合溶媒から再結晶を行い、無色の結晶1−ブチル−3−n−オクタデシルイミダゾリウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド6.00gを得た。収率90%。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1091cm−1にSOの対称伸縮振動、1161cm−1にCFの対称伸縮振動、1356cm−1にSO結合の逆対称伸縮振動、1470cm−1 にCH の変角振動、1560cm−1にイミダゾール特有の伸縮振動、2850cm−1にCHの対称伸縮振動、2919cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、重クロロホルム中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(CDCl,δppm);0.850(t,3H,J=7.2Hz), 0.941(t,3H,J=7.2Hz), 1.170−1.410(m,32H), 1.835(5重線,4H), 4.160(m,4H), 7.267(d,1H,J=2.1Hz), 7.294(d,1H,J=2.1Hz), 8.749(s,1H)
13C−NMR(CDCl,δppm);13.254, 14.085, 19.351, 22.663, 26.113, 28.853, 29.303, 29.333, 29.448, 29.570, 29.631, 29.677, 30.127, 31.898, 32.004, 49.977, 50.244, 122.179, 122.263, 135.473
これらのスペクトルから、生成物が1−ブチル−3−n−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミドであることが同定された。
なお、1−ブチル−3−n−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミドにおける共役塩基の元となる酸〔ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド〕のアセトニトリル中でのpKaは、−0.8である。
(比較例2)
<1,9−ビス[1−メチルイミダゾリウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナンの合成>
ジカチオン構造を有するイオン液体ではあるが、長鎖の炭化水素の1価基を持たない1,9−ビス[1−メチルイミダゾリウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナンの合成を、以下のスキームにしたがって行った。
非特許文献〔J.Am.Chem.Soc.Vol.127(2005)p.593〕を参考にしてジブロム塩を合成した。即ち、7.62gの1−メチルイミダゾールに13.3gのジブロムノナンを常温で少量ずつ添加した後に、常温で10時間反応させた。100mLの水に溶解させ、約20mLの酢酸エチルで3回洗浄し、水層を分離した。水をエバポレーターで除去後、更に80℃の真空乾燥器で20時間乾燥させ、19.9gの粘ちょう液体のジブロム塩を得た。収率95%。
この臭素化物6.14gにトリフルオロメタンスルホイミドリチウム塩を水30mLに溶解させ、スルホイミド7.65gを水10mLに溶解させたものを加えた。10時間常温で撹拌後水層を取り除き、15mL程度の水で3回洗浄した。
CDCl中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(CDCl,δppm);1.140−1.310(m,10H), 1.690−1.810(m,4H), 3.832(s,6H), 4.126(t,4H,J=7.2Hz), 7.686(d,2H,J=1.5Hz), 7.734(d,2H,J=1.5Hz), 9.072(s,2H)
13C−NMR(CDCl,δppm);25.673, 28.512, 28.817, 29.550, 35.900, 48.949, 122.410, 123.784, 136.635
これらのスペクトルから、生成物が1,9−ビス[1−メチルイミダゾリウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナンであることが同定された。
なお、1,9−ビス[1−メチルイミダゾリウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナンにおける共役塩基の元となる酸〔ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド〕のアセトニトリル中でのpKaは、0.3である。
(比較例3)
<1,9−ビス[1−メチルイミダゾリウム ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ノナンの合成>
ジカチオン構造を有するイオン液体ではあるが、長鎖の炭化水素の1価基を持たない1,9−ビス[1−メチルイミダゾリウム ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ノナンの合成を、以下のスキームにしたがって行った。
比較例2で合成した臭素化物3.63gを水60mLに溶解させ、そこへスルホイミドを水とエタノールとの混合溶液に溶解させたものを添加した。これを常温で10時間反応させた後に溶媒を除去し、水15mLで3回洗浄を行った。硝酸銀試験で陰性であることを確認後、80℃で24時間乾燥させた。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1074cm−1にSOの対称伸縮振動、1169cm−1にCFの対称伸縮振動、1352cm−1にSO結合の逆対称伸縮振動、1471cm−1 にCH の変角振動、1574cm−1にイミダゾール特有の伸縮振動、2864cm−1にCHの対称伸縮振動、2937cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、CDCl中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(CDCl,δppm);1.140−1.280(m,10H), 1.700−1.800(m,4H), 3.830(s,6H), 4.124(t,4H,J=7.2Hz), 7.681(d,2H,J=1.5Hz), 7.733(d,2H,J=1.5Hz), 9.071(s,2H)
13C−NMR(CDCl,δppm);25.673, 28.512, 28.817, 29.550, 35.884, 48.934, 122.410, 123.784, 136.635
これらのスペクトルから、生成物が1,9−ビス[1−メチルイミダゾリウム ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ノナンであることが同定された。
なお、1,9−ビス[1−メチルイミダゾリウム ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ノナンにおける共役塩基の元となる酸〔ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド〕のアセトニトリル中でのpKaは、0.0である。
(比較例4)
<1,9−ビス[1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセニウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンの合成>
1,9−ビス[1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセニウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンは下記のスキームに従って合成した。
1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセンと、それの0.5倍モルの1,9−ジブロモノナンとを加えて攪拌した。発熱が収まったらフラスコ内温度を110℃になるように加熱して3時間攪拌した。反応終了後に酢酸エチルで不純物及び未反応物を抽出した。その後アセトンを加えて結晶を析出させた後に濾過して乾燥させた。収率80%。
得られたジブロモ化合物を水に溶解させ、2倍モルのヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミドカリウム塩を水と少量のエタノールに溶解させた溶液を加えて、1時間攪拌後に加熱還流を1時間行った。冷却後溶媒を除去し、ジクロルメタンで抽出し、無水硫酸マグネシウムで乾燥後溶媒を除去して、100℃で12時間真空乾燥をさせた。収率96%。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1036cm−1にSNSの非対称伸縮振動、1088cm−1にSOの対称伸縮振動、1153cm−1にCFの対称伸縮振動、1352cm−1にSOの非対称伸縮振動、1618cm−1にC=Nの伸縮振動、2860cm−1にCHの対称伸縮振動、2933cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、CDOD中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(CDOD,δppm);1.300−1.400(m,10H), 1.630−1.670(m,4H), 1.700−1.810(m,12H), 2.030−2.100(m,4H), 2.850−2.880(m,4H), 3.490−3.540(m,12H), 3.630−3.660(m,4H)
13C−NMR(CDOD,δppm);21.038, 24.182, 27.021, 27.387, 29.005, 29.601, 29.646, 30.210, 30.271, 50.111, 55.014, 55.915, 167.910
これらのスペクトルから、生成物が1,9−ビス[1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセニウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンであることが同定された。
なお、1,9−ビス[1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセニウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンにおける共役塩基の元となる酸[ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]のアセトニトリル中でのpKaは、−0.8である。
(比較例5)
<1−ブチル−3−n−オクタデシルイミダゾリウムビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミドの合成>
比較のために、モノカチオンイオン液体である1−ブチル−3−n−オクタデシルイミダゾリウムビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミドの合成を、以下のスキームにしたがって行った。
比較例1で合成した1−ブチル−3−オクタデシルイミダゾリウムブロミド1.27gをエタノールに溶解させ、そこへ、ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミドカリウム塩1.81gのエタノール溶液を添加し、撹拌すると無色の沈殿が発生した。この溶液を1時間加熱還流させ、冷却後に溶媒を除去した。これにジクロルメタンを加えて溶解する部分を濾過して、その濾液を乾燥させ、n−ヘキサンとエタノールとの混合溶媒から再結晶を行い、無色の結晶1−ブチル−3−n−オクタデシルイミダゾリウムビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド2.06gを得た。収率74.9%。
生成物のFTIR吸収とその帰属を以下に示す。
1072cm−1にSOの対称伸縮振動、1137及び1168cm−1にCFの対称伸縮振動、1352cm−1にSO結合の逆対称伸縮振動、1469cm−1にCHの変角振動、1564cm−1にイミダゾールのCN伸縮振動、2850cm−1にCHの対称伸縮振動、2920cm−1にCHの逆対称伸縮振動が見られた。
また、重DMSO中でのプロトン(H)NMR及びカーボン(13C)NMRのピークについて、以下に示す。
H−NMR(重DMSO,δppm);0.837(t,3H,J=7.2Hz), 0.885(t,3H,J=6.6Hz), 1.140−1.300(m,32H), 1.760(5重線,4H), 4.112−4.173(m,4H), 7.776(s,1H), 7.781(s,1H), 9.175(s,1H)
13C−NMR(重DMSO,δppm);13.341, 14.043, 18.927, 22.239, 25.627, 28.466, 28.863, 28.970, 29.062, 29.184, 29.413, 31.443, 48.751, 49.026, 122.624, 136.101
これらのスペクトルから、生成物が1−ブチル−3−n−オクタデシルイミダゾリウムビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミドであることが同定された。
なお、1−ブチル−3−n−オクタデシルイミダゾリウムビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミドにおける共役塩基の元となる酸〔ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド〕のアセトニトリル中でのpKaは、0.0である。
(実施例16)
<熱安定性測定結果>
実施例1で合成した1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナンの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ300.2℃、319.3℃、373.0℃であり、比較例として示した一般的に磁気記録媒体用途の潤滑剤として知られている市販品のパーフルオロポリエーテルZ−DOL(比較例11)と比較すると100℃以上、またZ−TETRAOL(比較例12)と比較しても50℃以上高いことが分かる。
(実施例17)
<熱安定性測定結果>
実施例2で合成した1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ367.7℃、392.7℃、416.2℃であり、モノカチオンである比較例1の1−ブチル−3−n−オクタデシルイミダゾリウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミドと比較して5%、10%、20%重量減少温度は高かった。これは、ジカチオンとした効果と考えられる。
また、市販品のパーフルオロポリエーテルZ−DOL(比較例11)やZ−TETRAOL(比較例12)と比較しても、熱安定性が大きく改善されていることが分かる。
(実施例18)
<熱安定性測定結果>
実施例3で合成した1,9−ビス(1−オクタデシルイミダゾリウム トリシアノメタニド)ノナンの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ313.6℃、326.8℃、344.0℃であった。市販品のパーフルオロポリエーテルZ−DOL(比較例11)やZ−TETRAOL(比較例12)と比較しても、熱安定性が改善されていることが分かる。
(実施例19)
<熱安定性測定結果>
実施例4で合成した1,5−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ペンタンの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ344.2℃、383.1℃、411.6℃であり、比較例として示した一般的に磁気記録媒体用途の潤滑剤として知られている市販品のパーフルオロポリエーテルZ−DOL(比較例11)と比較すると150℃以上、またZ−TETRAOL(比較例12)と比較しても100℃以上高いことが分かる。
(実施例20)
<熱安定性測定結果>
実施例5で合成した1,5−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ペンタンの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ362.3℃、397.8℃、423.5℃であり、モノカチオンである比較例1の1−ブチル−3−n−オクタデシルイミダゾリウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミドと比較して5%、10%、20%重量減少温度は高かった。これは、ジカチオンとした効果と考えられる。
また、市販品のパーフルオロポリエーテルZ−DOL(比較例11)やZ−TETRAOL(比較例12)と比較しても、熱安定性が大きく改善されていることが分かる。
(実施例21)
<熱安定性測定結果>
実施例6で合成した1,5−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム−ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド)ペンタンの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ359.9℃、383.4℃、411.5℃であった。市販品のパーフルオロポリエーテルZ−DOL(比較例11)やZ−TETRAOL(比較例12)と比較しても、熱安定性が改善されていることが分かる。
(実施例22)
<熱安定性測定結果>
実施例7で合成した1,9−ビス[1−オクタデシルピロリジニウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナンの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ303.6℃、356.0℃、377.8℃であった。市販品のパーフルオロポリエーテルZ−DOL(比較例11)やZ−TETRAOL(比較例12)と比較しても、熱安定性が改善されていることが分かる。
(実施例23)
<熱安定性測定結果>
実施例8で合成した1,9−ビス[1−オクタデシルピロリジニウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ333.9℃、373.4℃、395.7℃であった。市販品のパーフルオロポリエーテルZ−DOL(比較例11)やZ−TETRAOL(比較例12)と比較しても、熱安定性が改善されていることが分かる。
(実施例24)
<熱安定性測定結果>
実施例9で合成した1,9−ビス[6−オクタデシル−1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセニウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ410.2℃、426.2℃、445.8℃であった。市販品のパーフルオロポリエーテルZ−DOL(比較例11)やZ−TETRAOL(比較例12)と比較しても、熱安定性が改善されていることが分かる。
(実施例25)
<熱安定性測定結果>
実施例10で合成した1,3−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]プロパンの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ352.3℃、381.9℃、401.4℃であり、比較例として示した一般的に磁気記録媒体用途の潤滑剤として知られている市販品のパーフルオロポリエーテルZ−DOL(比較例11)と比較すると100℃以上、またZ−TETRAOL(比較例12)と比較しても50℃以上高いことが分かる。
(実施例26)
<熱安定性測定結果>
実施例11で合成した1,3−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]プロパンの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ342.9℃、382.4℃、412.7℃であり、モノカチオンである比較例1の1−ブチル−3−n−オクタデシルイミダゾリウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミドと比較して5%、10%、20%重量減少温度は高かった。これは、ジカチオンとした効果と考えられる。
また、市販品のパーフルオロポリエーテルZ−DOL(比較例11)やZ−TETRAOL(比較例12)と比較しても、熱安定性が大きく改善されていることが分かる。
(実施例27)
<熱安定性測定結果>
実施例12で合成した1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウム ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ノナンの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ355.1℃、381.0℃、400.9℃であった。比較例1と比較して5%、10%、20%重量減少温度は高かった。これは、ジカチオンとした効果と考えられる。市販品のパーフルオロポリエーテルZ−DOL(比較例11)やZ−TETRAOL(比較例12)と比較しても、熱安定性が改善されていることが分かる。
(実施例28)
<熱安定性測定結果>
実施例13で合成した1,9−ビス[1−オクタデシルイミダゾリウムノナフルオロブタンスルホニウム]ノナンの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ348.7℃、372.0℃、392.1℃であり、比較例として示した一般的に磁気記録媒体用途の潤滑剤として知られている市販品のパーフルオロポリエーテルZ−DOL(比較例11)と比較すると150℃以上、またZ−TETRAOL(比較例12)と比較しても100℃以上高いことが分かる。比較例1と比較すると5%重量減少温度は高いが、10%及び20%重量減少温度は低い。これは一般にパーフルオロスルホン酸塩はスルホニルイミドと比較すると分解温度が低いことによる。
(実施例29)
<熱安定性測定結果>
実施例14で合成した1,9−ビス[ジメチルオクタデシルアンモニウム−ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ノナンの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ334.1℃、365.1℃、386.6℃であり、市販品のパーフルオロポリエーテルZ−DOL(比較例11)やZ−TETRAOL(比較例12)と比較しても、熱安定性が大きく改善されていることが分かる。
(実施例30)
<熱安定性測定結果>
実施例15で合成した1,9−ビス[ジメチルオクタデシルアンモニウム−ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ330.6℃、369.6℃、392.5℃であった。市販品のパーフルオロポリエーテルZ−DOL(比較例11)やZ−TETRAOL(比較例12)と比較しても、熱安定性が改善されていることが分かる。
(比較例6)
<熱安定性測定結果>
比較例1で合成した、モノカチオンのイオン液体である1−ブチル−3−n−オクタデシルイミダゾリウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミドの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ342.8℃、372.6℃、400.8℃であった。イオン液体であるために熱安定性は高い。
(比較例7)
<熱安定性測定結果>
比較例2で合成した、ジカチオンで長鎖の炭化水素を持たないイオン液体である1,9−ビス[1−メチルイミダゾリウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド]ノナンの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ392.3℃、410.6℃、472.3℃であった。ジカチオン系のイオン液体であるために熱安定性はかなり高くなっている。
(比較例8)
<熱安定性測定結果>
比較例3で合成した、ジカチオンで長鎖の炭化水素を持たないイオン液体である1,9−ビス[1−メチルイミダゾリウム ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド]ノナンの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ380.4℃、394.5℃、406.4℃であった。ジカチオン系のイオン液体であるために熱安定性は改善されている。
(比較例9)
<熱安定性測定結果>
比較例4で合成した、ジカチオンで長鎖の炭化水素を持たないイオン液体である1,9−ビス[1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセニウムヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミド]ノナンについての5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ415.6℃、432.6℃、451.3℃であった。ジカチオン系のイオン液体であるために熱安定性は改善されている。
(比較例10)
<熱安定性測定結果>
比較例5で合成した、モノカチオンのイオン液体である1−ブチル−3−n−オクタデシルイミダゾリウムビスノナフルオロブタン(スルホニル)イミドの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ333.1℃、367.6℃、393.3℃であった。イオン液体であるために熱安定性は改善されている。
(比較例11)
<熱安定性測定結果>
市販品で磁気記録媒体用潤滑剤として一般的に使用されている、末端に水酸基をもつ分子量約2000のパーフルオロポリエーテル(Z−DOL)を、比較例11の潤滑剤として用いた。Z−DOLの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ165.0℃、197.0℃、226.0℃であり、重量減少は蒸発に起因している。
(比較例12)
<熱安定性測定結果>
市販品で磁気記録媒体用潤滑剤として一般的に使用されている、末端に水酸基を複数個持つ分子量約2000のパーフルオロポリエーテル(Z−TETRAOL)を、比較例12の潤滑剤として用いた。Z−TETRAOLの5%、10%、20%重量減少温度は、それぞれ240.0℃、261.0℃、282.0℃であり、分解時のメイン発熱温度は386.3℃であり、Z−DOL同様に重量減少は蒸発に起因している。
実施例16〜30、及び比較例6〜12の結果を、表2−1、及び表2−2にまとめた。
このようにイオン液体系の潤滑剤は、比較例11及び12の市販品のパーフルオロポリエーテルと比較して熱安定性に優れていることが分かる。
また、比較例1のイオン液体は実施例2及び5のイオン液体の結合鎖の中間で切断した構造をしている。その熱安定性を実施例16及び19と比較例6で比較する中で、ジカチオンとすることにより5%、10%及び20%重量減少温度は20℃近くは改善することが分かる。ヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミドより通常熱安定性が悪いビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミドやビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド塩においても、比較例より熱安定性は良くなることから、ジカチオンにすることの効果が現れている。
また実施例16、19、及び21と比較例7及び8の重量減少温度を比較すると、ジカチオンの中では長鎖アルキル鎖を持つ実施例16、19、及び21が短いアルキル鎖を持つ比較例7及び8よりも熱的安定性が低いことが分かった。
また、比較例6及び比較例10のイオン液体のカチオン部分は実施例25から28のイオン液体の結合鎖の中間で切断した化合物の類似構造をしている。アニオン部がヘキサフルオロシクロプロパン−1,3−ビス(スルホニル)イミドの場合には、実施例26と比較例6を比較することが出来るが、5%及び10%重量減少温度で10℃以上改善されていることが分かる。
また、アニオン部がビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミドの場合には、実施例25及び実施例27と比較例10を比較することが出来るが、5%及び10%重量減少温度で実施例25の場合及び実施例27の場合には15℃以上改善されていることが分かる。
このように熱安定性はジカチオンとすることによりモノカチオンよりも重量減少温度は改善することが分かる。
また、実施例25、26、27及び28と比較例7及び8の重量減少温度を比較すると、ジカチオンの中では長鎖アルキル鎖を持つ実施例25〜28が短いアルキル鎖を持つ比較例7及び8よりも熱的安定性が低いことが分かった。
非特許文献(Thermochim. Acta, 1991, Vol.185, pp.1−11)では、アルキル鎖が長くなるほど熱安定性が低下することが示唆されている。つまりこれはアルキル鎖のReverse Menshutkin reactionが起きるために熱安定性が低下したものと考察される。しかし後述するが、摩擦特性に関しては、長鎖アルキル鎖を持つ方が、大きく改善されている。
(実施例31)
<ディスク耐久性試験1>
図4に示すピンオンディスク試験機を用いて、実施例1の潤滑剤について摩擦試験を行った。結果を図5に示した。
(比較例13)
<ディスク耐性試験1>
実施例31と同様にして、比較例1の潤滑剤について、摩擦試験を行った。結果を図5に示した。
(比較例14)
<ディスク耐久性試験1>
実施例31と同様にして、比較例2の潤滑剤について、摩擦試験を行った。結果を図5に示した。
(比較例15)
<ディスク耐久性試験1>
実施例31と同様にして、市販潤滑剤であるZ−DOLについて、摩擦試験を行った。結果を図5に示した。
比較例15に示すように、ピンオンディスク試験では、市販潤滑剤であるZ−DOLの摩擦係数は安定して低かった。
実施例31に示すように、ジカチオンの潤滑剤の摩擦係数は安定して低く、市販品のZ−DOLよりも100回の往復摺動の中では低かった。
比較例1のモノカチオンでは、長鎖のアルキル鎖を持つものの、ジカチオンや市販品のZ−DOLのそれと比較すると摩擦係数は高かった(比較例13)。また、比較例14に示すように、ジカチオンのイオン液体で長鎖のアルキル鎖を持たないイオン液体では、摩擦係数は非常に高かった。
これから、一般的なピンオンディスク摩擦試験では、長鎖のアルキル鎖を持つジカチオンのイオン液体では、モノカチオンや長鎖のアルキル鎖を持たないイオン液体よりも摩擦係数は安定して低く、かつ市販のZ−DOLと比較してもその摩擦係数が低いことが分かった。
(実施例32)
<ディスク耐久性試験1>
実施例31と同様にして、実施例12の潤滑剤について摩擦試験を行った。結果を図6に示した。
(実施例33)
<ディスク耐久性試験1>
実施例31と同様にして、実施例13の潤滑剤について摩擦試験を行った。結果を図6に示した。
(比較例16)
<ディスク耐久性試験1>
実施例31と同様にして、比較例2の潤滑剤について、摩擦試験を行った。結果を図6に示した。
(比較例17)
<ディスク耐久性試験1>
実施例31と同様にして、市販潤滑剤であるZ−Tetraolについて、摩擦試験を行った。結果を図6に示した。
実施例32、実施例33、比較例16及び比較例17が示すように、25℃でのピンオンディスク試験では、市販潤滑剤であるZ−Tetraol、ジカチオン系イオン液体、及びモノカチオン系イオン液体の摩擦係数はいずれも安定して低かった。その中では実施例33が最も摩擦係数は低かった。
次に下記の温度条件での加熱試験を行い、その後に実施例32と同様にして図4に示すピンオンディスク試験を用いた摩擦測定を行い、その結果を下記表3、及び図7にまとめる。
具体的には、以下の表3に記載の試料を含む潤滑剤を塗布したメディアを以下の表3に記載の温度で10分間加熱したサンプルについて、実施例32と同様の摩擦試験を行った。100回目の往復運動の時の摩擦係数を求めた。
表3及び図7からわかるように、Z−Tetraolを塗布したメディアでは100℃を超えると摩擦係数が大きく増加し、その潤滑効果を失った。それに対してイオン液体系潤滑剤ではその摩擦係数は250℃加熱後まではその摩擦の上昇は少ない。モノカチオンとジカチオンでは、100℃加熱後では0.136(モノカチオン)と0.130(ジカチオン)、150℃加熱後では0.146(モノカチオン)と0.135(ジカチオン)、200℃加熱後では0.164(モノカチオン)と0.136(ジカチオン)、250℃加熱後では0.169(モノカチオン)と0.139(ジカチオン)であった。
ジカチオンでは摩擦係数が250℃加熱後まではほとんど上昇しないのに対して、モノカチオンは150℃を越えたあたりから摩擦係数は上昇を始める。つまりジカチオンにすることにより熱安定性が向上したために過熱試験後の摩擦係数は低く抑えられたと考えられる。
これから、一般的なピンオンディスクによる加熱試験後の摩擦試験で、ジカチオンのイオン液体では、市販のZ−Tetraolと比較してその摩擦係数は大きく改善されることが分かった。またジカチオンではモノカチオンのイオン液体よりも加熱試験後の摩擦係数は低く、ジカチオンとすることによる効果が見出せた。
(実施例34〜実施例48)
実施例1〜実施例15のそれぞれのイオン液体を含有する潤滑剤を用いて、前述の磁気ディスクを作製した。表4に示すように、磁気ディスクのCSS測定は、50,000回を超え、加熱試験後のCSS測定も50,000回を超え、優れた耐久性を示した。
(比較例18)
<ディスク耐久性試験2>
比較例1のイオン液体を含有する潤滑剤を用いて、前述の磁気ディスクを作製した。表4に示すように、磁気ディスクのCSS測定は、50,000回を超え、加熱試験後のCSS測定も50,000回を超え、優れた耐久性を示した。
(比較例19)
<ディスク耐久性試験2>
比較例2のイオン液体を含有する潤滑剤を用いて、前述の磁気ディスクを作製した。表4に示すように、磁気ディスクのCSS測定は、13,200回、加熱試験後のCSS測定は8,965回であり、耐久性としては不満足な結果であった。
(比較例20)
<ディスク耐久性試験2>
比較例3のイオン液体を含有する潤滑剤を用いて、前述の磁気ディスクを作製した。表4に示すように、磁気ディスクのCSS測定は、12,350回、加熱試験後のCSS測定は8,700回であり、耐久性としては不満足な結果であった。
(比較例21)
<ディスク耐久性試験2>
比較例4のイオン液体を含有する潤滑剤を用いて、前述の磁気ディスクを作製した。表4に示すように、磁気ディスクのCSS測定は、11,310回、加熱試験後のCSS測定は6,500回であり、耐久性としては不満足な結果であった。
(比較例22)
<ディスク耐久性試験2>
比較例5のイオン液体を含有する潤滑剤を用いて、前述の磁気ディスクを作製した。表4に示すように、磁気ディスクのCSS測定は、50,000回を超え、加熱試験後のCSS測定も50,000回を超え、優れた耐久性を示した。
(比較例23)
<ディスク耐久性試験2>
Z−DOLを含有する潤滑剤を用いて、前述の磁気ディスクを作製した。表4に示すように、磁気ディスクのCSS測定は、50,000回を超えたものの、加熱試験後のCSS測定は12,000回であり、加熱試験により耐久性が悪化した。
(比較例24)
<ディスク耐久性試験2>
Z−TETRAOLを含有する潤滑剤を用いて、前述の磁気ディスクを作製した。表4に示すように、磁気ディスクのCSS測定は、50,000回を超えたものの、加熱試験後のCSS測定は36,000回であり、加熱試験により耐久性が悪化した。
実施例34〜48、及び比較例18〜24の結果を、表4にまとめた。
次に、実施例1〜15の新規ジカチオン系イオン液体の潤滑剤、比較例1〜5の潤滑剤及び市販品のZ−DOL、Z−TETRAOLを磁気テープに適用した例を示す。
(実施例49〜実施例63、比較例25〜比較例3
実施例1〜実施例15のイオン液体、比較例1〜5のイオン液体、Z−DOL、及びZ−TETRAOLのそれぞれを含有する潤滑剤を用いて、前述の磁気テープを作製した。そして、以下の測定を行った。結果を表5−1〜表5−3に示す。
・100回のシャトル走行後の磁気テープの摩擦係数
温度−5℃の環境下、又は温度40℃、相対湿度90%環境下
・スチル耐久試験
温度−5℃の環境下、又は温度40℃、相対湿度30%環境下
・シャトル耐久試験
温度−5℃の環境下、又は温度40℃、相対湿度90%環境下
・加熱試験後の100回のシャトル走行後の磁気テープの摩擦係数
温度−5℃の環境下、又は温度40℃、相対湿度90%環境下
・加熱試験後のスチル耐久試験
温度−5℃の環境下、又は温度40℃、相対湿度30%環境下
・加熱試験後のシャトル耐久試験
温度−5℃の環境下、又は温度40℃、相対湿度90%環境下
表中、スチル耐久性の「>60」は、60分超であることを表す。
表中、シャトル耐久性の「>200」は、200回超であることを表す。
実施例1〜15のそれぞれのイオン液体を含有する潤滑剤を塗布した磁気テープは、優れた摩擦特性、スチル耐久性、及びシャトル耐久性を有することが分かった。
比較例1のイオン液体を含有する潤滑剤を塗布した磁気テープは、優れた摩擦特性、スチル耐久性、及びシャトル耐久性を有することが分かった。この比較例潤滑剤は優れた磁気テープ耐久性を示した。
比較例2〜4のそれぞれのイオン液体を含有する潤滑剤を塗布した磁気テープは、摩擦特性、スチル耐久性、及びシャトル耐久性に関して不満足であることが分かった。
Z−DOLを塗布した磁気テープは、スチル耐久性、及びシャトル耐久性の劣化が大きいことが分かった。
Z−TETRAOLを塗布した磁気テープは、スチル耐久性、及びシャトル耐久性の劣化が大きいことが分かった。
表3〜5から、共役塩基と、分子中に2個以上のカチオンを持つ共役酸とを有し、前記共役塩基の元となる酸のアセトニトリル中でのpKaが、10以下のイオン液体系潤滑剤を用いることにより、優れた耐熱性、並びに磁気テープ、及び磁気ディスクにおける耐久性を得られることが分かった。
以上の説明からも明らかなように、共役塩基と、分子中に2個以上のカチオンを持つ共役酸とを有し、前記共役塩基の元となる酸のアセトニトリル中でのpKaが、10以下のイオン液体系潤滑剤は、分解温度及び5%、10%、20%重量減少温度が高く熱安定性に優れる。また高温条件下においても従来のパーフルオロポリエーテルと比較しても優れた潤滑性を保つことができ、また、長期に亘って潤滑性を保つことができる。したがって、このイオン液体を含有する潤滑剤を用いた磁気記録媒体は、非常に優れた走行性、耐摩耗性、及び耐久性を得ることができる。
11 基板
12 下地層
13 磁性層
14 カーボン保護層
15 潤滑剤層
21 基板
22 磁性層
23 カーボン保護層
24 潤滑剤層
25 バックコート層

Claims (9)

  1. 共役塩基と、分子中に2個以上のカチオンを持つ共役酸とを有するイオン液体を含有し、
    前記イオン液体が、下記一般式(1−1)、下記一般式(1−2)、下記一般式(1−3)、及び下記一般式(1−4)のいずれかで表され、
    前記共役塩基の元となる酸のアセトニトリル中でのpKaが、10以下であることを特徴とする潤滑剤。
    ただし、前記一般式(1−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。lは、1以上12以下である。
    ただし、前記一般式(1−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
    ただし、前記一般式(1−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。mは、0以上12以下である。
    ただし、前記一般式(1−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
  2. 共役塩基と、分子中に2個以上のカチオンを持つ共役酸とを有するイオン液体を含有し、
    前記イオン液体が、下記一般式(2−1)、下記一般式(2−2)、下記一般式(2−3)、及び下記一般式(2−4)のいずれかで表され、
    前記共役塩基の元となる酸のアセトニトリル中でのpKaが、10以下であることを特徴とする潤滑剤。
    ただし、前記一般式(2−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。lは、1以上12以下である。
    ただし、前記一般式(2−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
    ただし、前記一般式(2−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。mは、0以上12以下である。
    ただし、前記一般式(2−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
  3. 共役塩基と、分子中に2個以上のカチオンを持つ共役酸とを有するイオン液体を含有し、
    前記イオン液体が、下記一般式(3−1)、下記一般式(3−2)、下記一般式(3−3)、及び下記一般式(3−4)のいずれかで表され、
    前記共役塩基の元となる酸のアセトニトリル中でのpKaが、10以下であることを特徴とする潤滑剤。
    ただし、前記一般式(3−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。lは、1以上12以下である。
    ただし、前記一般式(3−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
    ただし、前記一般式(3−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。mは、0以上12以下である。
    ただし、前記一般式(3−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
  4. 共役塩基と、分子中に2個以上のカチオンを持つ共役酸とを有するイオン液体を含有し、
    前記イオン液体が、下記一般式(4−1)、下記一般式(4−2)、下記一般式(4−3)、及び下記一般式(4−4)のいずれかで表され、
    前記共役塩基の元となる酸のアセトニトリル中でのpKaが、10以下であることを特徴とする潤滑剤。
    ただし、前記一般式(4−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。lは、1以上12以下である。
    ただし、前記一般式(4−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
    ただし、前記一般式(4−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。mは、0以上12以下である。
    ただし、前記一般式(4−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
  5. 非磁性支持体と、前記非磁性支持体上に磁性層と、前記磁性層上に請求項1から4のいずれかに記載の潤滑剤とを有することを特徴とする磁気記録媒体。
  6. 共役塩基と、分子中に2個以上のカチオンを持つ共役酸とを有し、
    下記一般式(1−1)、下記一般式(1−2)、下記一般式(1−3)、及び下記一般式(1−4)のいずれかで表され、
    前記共役塩基の元となる酸のアセトニトリル中でのpKaが、10以下であることを特徴とするイオン液体。
    ただし、前記一般式(1−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。lは、1以上12以下である。
    ただし、前記一般式(1−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
    ただし、前記一般式(1−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。mは、0以上12以下である。
    ただし、前記一般式(1−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
  7. 共役塩基と、分子中に2個以上のカチオンを持つ共役酸とを有し、
    下記一般式(2−1)、下記一般式(2−2)、下記一般式(2−3)、及び下記一般式(2−4)のいずれかで表され、
    前記共役塩基の元となる酸のアセトニトリル中でのpKaが、10以下であることを特徴とするイオン液体。
    ただし、前記一般式(2−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。lは、1以上12以下である。
    ただし、前記一般式(2−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
    ただし、前記一般式(2−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。mは、0以上12以下である。
    ただし、前記一般式(2−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
  8. 共役塩基と、分子中に2個以上のカチオンを持つ共役酸とを有し、
    下記一般式(3−1)、下記一般式(3−2)、下記一般式(3−3)、及び下記一般式(3−4)のいずれかで表され、
    前記共役塩基の元となる酸のアセトニトリル中でのpKaが、10以下であることを特徴とするイオン液体。
    ただし、前記一般式(3−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。lは、1以上12以下である。
    ただし、前記一般式(3−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
    ただし、前記一般式(3−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。mは、0以上12以下である。
    ただし、前記一般式(3−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
  9. 共役塩基と、分子中に2個以上のカチオンを持つ共役酸とを有し、
    下記一般式(4−1)、下記一般式(4−2)、下記一般式(4−3)、及び下記一般式(4−4)のいずれかで表され、
    前記共役塩基の元となる酸のアセトニトリル中でのpKaが、10以下であることを特徴とするイオン液体。
    ただし、前記一般式(4−1)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が10以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。lは、1以上12以下である。
    ただし、前記一般式(4−2)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
    ただし、前記一般式(4−3)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。mは、0以上12以下である。
    ただし、前記一般式(4−4)中、Rは、それぞれ独立して、炭素数が6以上の直鎖状の炭化水素基を含む基を表す。nは、1以上20以下である。
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