JP6488998B2 - 半導体モジュール及び半導体モジュールの製造方法 - Google Patents

半導体モジュール及び半導体モジュールの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6488998B2
JP6488998B2 JP2015236808A JP2015236808A JP6488998B2 JP 6488998 B2 JP6488998 B2 JP 6488998B2 JP 2015236808 A JP2015236808 A JP 2015236808A JP 2015236808 A JP2015236808 A JP 2015236808A JP 6488998 B2 JP6488998 B2 JP 6488998B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
support plate
semiconductor module
resin
terminal
conversion circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015236808A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2017103392A (ja
Inventor
研一 澤田
研一 澤田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority to JP2015236808A priority Critical patent/JP6488998B2/ja
Publication of JP2017103392A publication Critical patent/JP2017103392A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6488998B2 publication Critical patent/JP6488998B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4911Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain
    • H01L2224/49113Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain the connectors connecting different bonding areas on the semiconductor or solid-state body to a common bonding area outside the body, e.g. converging wires
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19107Disposition of discrete passive components off-chip wires

Landscapes

  • Inverter Devices (AREA)

Description

本発明は半導体モジュール及び半導体モジュールの製造方法に関する。
特許文献1には、インバータ等に利用できる半導体モジュール(半導体装置)が開示されている。この半導体モジュールでは、放熱体に筒状の外装ケースが設けられることによって、収容部が形成されている。この収容部内には、セラミックス基板と、セラミックス基板に接している金属部材と、金属部材上に搭載された半導体素子及びチップ部品などの電子部品が設けられており、収容部には、絶縁樹脂が充填されている。上記半導体モジュールでは、電子部品に、電極が接続され、電極は、外装ケースにおいてセラミックス基板と反対側から外装ケース外に引き出されている。このような電極は、電子部品等で構成される回路に入力電力を印加するため入力用電極及び上記回路からの出力電力を取り出すための出力用電極として機能すると考えられる。
特許第5101971号公報
特許文献1記載の半導体モジュールが例えばパワーデバイスとして利用される場合、通常、コンデンサと組み合わせて使用される。パワーデバイスとしての半導体モジュールに利用されるコンデンサは、比較的大きく、鉛直方向に延在しているものが多い。このようなコンデンサと半導体モジュールとを組み合わせる際には、半導体モジュールに含まれるセラミックス基板(又は金属部材)の厚さ方向を鉛直方向に一致させた状態で半導体モジュールをコンデンサの側方に配置することが一般的である。以下、このような配置状態を半導体モジュールの横置き状態と称す。このような横置き状態で、鉛直方向における半導体モジュールの厚さは、通常、コンデンサの鉛直方向の長さより短い。半導体モジュールが有するセラミックス基板には放熱のためにヒートシンクが設けられることから、コンデンサと組み合わされた半導体モジュールの鉛直下方の領域はヒートシンクの配置領域として利用されていた。
近年、半導体モジュールの小型化、薄型化及び効率化が図られている。半導体モジュールの効率化が図られると、半導体モジュールに使用されるヒートシンクのサイズも小型化され得る。
このように半導体モジュールの小型化等が図れても、半導体モジュールを横置きし、小コンデンサの側方に配置している限り、半導体モジュールの幅方向に対する半導体モジュールの設置領域は存在するため、省スペース化という観点では、半導体モジュールの小型化及び薄型化のメリットが活かしにくい。
これを解決するためには、半導体モジュールをコンデンサの上端部上に配置することが考えられる。鉛直方向に延在するコンデンサは、その上端部に外部接続用の端子が設けられている。よって、コンデンサの側方に配置されていた半導体モジュールをそのままコンデンサの上端部に設けても、半導体モジュールの入力用電極と、コンデンサの外部接続用端部との接続が困難である。半導体モジュールの入力用電極と、コンデンサの外部接続用端部との接続の容易性の観点からは、入力用電極が鉛直下方に位置するように、半導体モジュールを反転させてコンデンサの上端部に搭載することが考えられる。半導体モジュールを長期的に使用していると、経年劣化により樹脂が軟化する場合がある。そして、入力用電極が鉛直下方に位置するように、半導体モジュールを反転させている場合において、上記樹脂の軟化が生じると、半導体モジュールの外装ケースから樹脂が漏れて、半導体モジュールの信頼性が低下する虞がある。
そこで、本発明は、鉛直方向に延在するコンデンサと組み合わせた状態で省スペース化を図りながら信頼性を維持可能な半導体モジュール及び半導体モジュールの製造方法を提供することを目的とする。
本発明の一側面に係る半導体モジュールは、鉛直方向に延在しており上端部に外部接続用の第1端子及び第2端子を有するコンデンサの上記上端部に取り付けられる半導体モジュールであって、電力変換回路を構成する複数のトランジスタが搭載される基板と、上記基板を支持する支持板及び上記支持板に取り付けられ上記支持板と共に上記複数のトランジスタが搭載された上記基板を収容する収容空間を形成するカバー部を有する収容部と、上記収容部から、上記支持板の厚さ方向において上記支持板に対して上記カバー部が配置される側に延びており、上記収容部を上記コンデンサの上記上端部に接続するための脚部と、上記電力変換回路に入力用電力を供給する第1及び第2の入力端子と、上記電力変換回路からの出力電力を取り出すための出力端子と、上記収容空間内に設けられ上記電力変換回路を埋設する樹脂部と、を備え、上記第1及び第2の入力端子並びに上記出力端子の外部接続用端部は、上記カバー部を介さずに、上記収容部の外部に引き出されており、上記第1及び第2の入力端子の上記外部接続用端部は、上記カバー部に対して上記コンデンサ側に配置されている。
本発明の他の側面に係る半導体モジュールの製造方法は、電力変換回路を構成する複数のトランジスタが搭載される基板と、上記基板を支持する支持板及び上記支持板に取り付けられ上記支持板と共に上記複数のトランジスタが搭載された上記基板を収容する収容空間を形成するカバー部を有する収容部と、上記収容部から、上記支持板の厚さ方向において上記支持板に対して上記カバー部が配置される側に延びている脚部と、上記電力変換回路に入力用電力を供給する第1及び第2の入力端子と、上記電力変換回路からの出力電力を取り出すための出力端子と、を備え、上記第1及び第2の入力端子並びに上記出力端子の外部接続用端部は、上記カバー部を介さずに、上記収容部の外部に引き出されている、半導体モジュールの製造方法であって、上記支持板の主面における基板搭載領域の外側から上記支持板の厚さ方向に上記脚部が立設されており、上記支持板の上記主面上に上記第1及び第2の入力端子の回路接続用端部が配置され上記第1及び第2の入力端子の外部接続用端部が上記脚部のうち上記主面に臨む面から引き出されるように上記第1及び第2の入力端子の一部が上記支持板及び上記脚部に埋設されると共に、上記支持板の上記主面上に上記出力端子の回路接続用端部が配置され上記出力端子の外部接続用端部が上記支持板から引き出されるように上記出力端子の一部が上記支持板に埋設された支持体を準備する準備工程と、上記電力変換回路を構成する上記複数のトランジスタが搭載された上記基板を、上記支持板の上記基板搭載領域に固定すると共に、上記電力変換回路と、上記第1及び第2の入力端子並びに上記出力端子の回路接続用端部との電気的な接続を施す基板搭載工程と、上記カバー部を上記支持板に固定して上記収容部を形成する収容部形成工程と、 上記支持板と上記カバー部とで構成される上記収容部の収容空間内に樹脂を流し込み上記収容空間内に樹脂部を形成する樹脂部形成工程と、を備える。
本発明によれば、鉛直方向に延在するコンデンサと組み合わせた状態で省スペース化を図りながら信頼性を維持可能な半導体モジュール及び半導体モジュールの製造方法を提供し得る。
図1は、一実施形態に係る半導体モジュールユニットの概略構成を示すための図面である。 図2は、図1に示した半導体モジュールユニットを、図1に示した白抜き矢印の方向からみた図面である。 図3は、半導体モジュールユニットの分解斜視図である。 図4は、図3に示した半導体モジュールをカバー部側からみた斜視図である。 図5は、図3に示したV−V線に沿った半導体モジュールの断面の模式図である。 図6は、図3に示したVI−VI線に沿った半導体モジュールの断面の模式図である。 図7は、図4のVII―VII線に沿った半導体モジュールの断面の模式図である。 図8は、複数のトランジスタが搭載された基板を説明するための図面である。 図9は、図8のIX―IX線に沿った断面の模式図である。 図10は、半導体モジュールの製造に利用する支持体の概略構成を示す斜視図である。 図11(a)は、複数のトランジスタを含み電力変換回路が実装された基板を支持体に搭載する工程を説明するための図面であり、図11(b)は、電力変換回路を予備樹脂部で埋設する工程を説明するための図面である。 図12(a)は、カバー部を支持板に取り付ける工程を説明する図面であり、図12(b)は、樹脂部を形成する工程を説明する図面であり、図12(c)は、放熱部材を取り付ける工程を説明する図面である。
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。図面の説明において、同一要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
[本発明の実施形態の説明]
最初に、本発明の実施形態の内容を列記して説明する。
本発明の一側面に係る半導体モジュールは、鉛直方向に延在しており上端部に外部接続用の第1端子及び第2端子を有するコンデンサの上記上端部に取り付けられる半導体モジュールであって、電力変換回路を構成する複数のトランジスタが搭載される基板と、上記基板を支持する支持板及び上記支持板に取り付けられ上記支持板と共に上記複数のトランジスタが搭載された上記基板を収容する収容空間を形成するカバー部を有する収容部と、上記収容部から、上記支持板の厚さ方向において上記支持板に対して上記カバー部が配置される側に延びており、上記収容部を上記コンデンサの上記上端部に接続するための脚部と、上記電力変換回路に入力用電力を供給する第1及び第2の入力端子と、上記電力変換回路からの出力電力を取り出すための出力端子と、上記収容空間内に設けられ上記電力変換回路を埋設する樹脂部と、を備え、上記第1及び第2の入力端子並びに上記出力端子の外部接続用端部は、上記カバー部を介さずに、上記収容部の外部に引き出されており、上記第1及び第2の入力端子の上記外部接続用端部は、上記カバー部に対して上記コンデンサ側に配置されている。
上記構成では、複数のトランジスタが搭載された基板は、支持板とカバー部とで構成される収容部に収容される。収容部から第1及び第2の入力端子並びに出力端子の外部接続用端部が引き出されているので、第1及び第2の入力端子並びに出力端子の外部接続用端部を利用して、電力変換回路に入力用電力を供給すると共に、出力電力を取り出すことができる。上記半導体モジュールでは、コンデンサに接続される脚部が収容部から延びている。脚部は、コンデンサの上端部に接続されるので、半導体モジュールはコンデンサに対して鉛直上方に配置される。よって、半導体モジュールをコンデンサに取り付けた際に、半導体モジュールとコンデンサとから構成されるユニットの省スペース化が図れている。脚部は、支持板に対してカバー部が配置されている側に延びているので、半導体モジュールがコンデンサに取り付けられた状態で、支持板に対してカバー部は鉛直下方に位置する。このように、カバー部が支持板に対して鉛直下方に位置しても、第1及び第2の入力端子並びに出力端子の外部接続用端部は、上記カバー部を介さずに収容部から引き出されているので、収容空間内の樹脂が漏れ難い。よって、経年劣化で樹脂が軟化しても、半導体モジュールの信頼性を維持できる。
上記脚部は、上記支持板に一体的に立設されており、上記第1及び第2の入力端子の一部は、上記支持板と上記脚部に埋設されていてもよい。この場合、第1及び第2の入力端子の外部接続用端部は、上記支持体と上記脚部とを通して、収容部の外側に引き出され得る。
上記出力端子の上記外部接続用端部は、上記支持板の側方又は上記支持板からみて上記カバー部と反対側から引き出されていてもよい。
この構成では、例えば、半導体モジュールが小型化しても、第1及び第2の入力端子の外部接続用端部と、出力端子の外部接続用端部との絶縁距離を確保できる。
本発明の他の側面に係る半導体モジュールの製造方法は、電力変換回路を構成する複数のトランジスタが搭載される基板と、上記基板を支持する支持板及び上記支持板に取り付けられ上記支持板と共に上記複数のトランジスタが搭載された上記基板を収容する収容空間を形成するカバー部を有する収容部と、上記収容部から、上記支持板の厚さ方向において上記支持板に対して上記カバー部が配置される側に延びている脚部と、上記電力変換回路に入力用電力を供給する第1及び第2の入力端子と、上記電力変換回路からの出力電力を取り出すための出力端子と、を備え、上記第1及び第2の入力端子並びに上記出力端子の外部接続用端部は、上記カバー部を介さずに、上記収容部の外部に引き出されている、半導体モジュールの製造方法であって、上記支持板の主面における基板搭載領域の外側から上記支持板の厚さ方向に上記脚部が立設されており、上記支持板の上記主面上に上記第1及び第2の入力端子の回路接続用端部が配置され上記第1及び第2の入力端子の外部接続用端部が上記脚部のうち上記主面に臨む面から引き出されるように上記第1及び第2の入力端子の一部が上記支持板及び上記脚部に埋設されると共に、上記支持板の上記主面上に上記出力端子の回路接続用端部が配置され上記出力端子の外部接続用端部が上記支持板から引き出されるように上記出力端子の一部が上記支持板に埋設された支持体を準備する準備工程と、上記電力変換回路を構成する上記複数のトランジスタが搭載された上記基板を、上記支持板の上記基板搭載領域に固定すると共に、上記電力変換回路と、上記第1及び第2の入力端子並びに上記出力端子の回路接続用端部との電気的な接続を施す基板搭載工程と、上記カバー部を上記支持板に固定して上記収容部を形成する収容部形成工程と、 上記支持板と上記カバー部とで構成される上記収容部の収容空間内に樹脂を流し込み上記収容空間内に樹脂部を形成する樹脂部形成工程と、を備える。
上記製造方法では、支持板に脚部が立設された支持体を準備して、支持板にカバー部を固定して収容部を形成した後、支持板とカバー部とで構成される収容空間内に樹脂部を形成することによって、半導体モジュールを製造している。この半導体モジュールは、脚部を有しているので、脚部を利用して、鉛直方向に延在するコンデンサの上端部に取り付けることができる。よって、半導体モジュールをコンデンサに取り付けた際に、半導体モジュールとコンデンサとから構成されるユニットの省スペース化が図れている。すなわち、上記製造方法は、上記コンデンサに取りけた際に省スペースかを図れる半導体モジュールを製造可能である。
上記製造方法における準備工程で準備される支持体において、第1及び第2の入力端子における回路接続用端部と外部接続用端部との間の領域の一部は、支持板及び脚部に埋設されている。同様に、出力端子における回路接続用端部と外部接続用端部との間の領域の一部は、支持板に埋設されている。よって、カバー部を支持板に固定して収容部を形成しても、第1及び第2の入力端子並びに出力端子の外部接続用端部は、カバー部を介さずに収容部の外側に引き出されていることになる。脚部を利用して半導体モジュールを、上記コンデンサの上端部に取り付けると、支持板に対してカバー部は鉛直下方に位置する。すなわち、収容空間及び樹脂部は支持板の鉛直下方に位置する。このように、カバー部が支持板に対して鉛直下方に位置しても、第1及び第2の入力端子並びに出力端子の外部接続用端部は、上記カバー部を介さずに収容部から引き出されているので、収容空間内の樹脂が漏れ難い。よって、経年劣化で樹脂が軟化しても、半導体モジュールの信頼性を維持できる。すなわち、上記製造方法では、鉛直方向に延びるコンデンサの上端部に取り付けられた状態で、省スペースかを実現可能であって信頼性を維持可能な半導体モジュールを製造可能である。
上記半導体モジュールの製造方法は、上記基板搭載工程と上記収容部形成工程との間に、上記電力変換回路を予備樹脂からなる予備樹脂部で埋設する工程を更に備え、上記支持板には貫通孔が形成されており、上記樹脂部形成工程では、上記カバー部を鉛直方向において上記支持板の下側に配置した状態で上記貫通孔から前記収容空間に樹脂を流しこむことによって上記樹脂部を形成してもよい。
上記のように、予備樹脂部で予め電力変換回路を埋設していることで、カバー部を支持板に対して鉛直下方に配置した状態で収容空間内に樹脂を充填して樹脂部を形成しても、電力変換回路を確実に樹脂で埋設できる。予備樹脂部と構成する予備樹脂と、樹脂部を形成する樹脂とは同じでもよいし、或いは、異なっていてもよい。
[本願発明の実施形態の詳細]
本発明の実施形態の具体例を、以下に図面を参照しつつ説明する。本発明はこれらの例示に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。図面の説明においては同一要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
図1及び図2に模試的に示した半導体モジュールユニット1は、半導体モジュール2と、コンデンサ3とを備え、インバータ装置といった電力変換装置として機能する。半導体モジュールユニット1は、産業機械、電車、電気自動車及び家電(例えばエアコン)などに利用され得る。半導体モジュール2とコンデンサ3とは、電気的に接続されている。
半導体モジュール2は、収容ユニット10を有する。収容ユニット10内には回路基板(基板)20が設けられており、回路基板20上には、電力変換回路を構成する複数のトランジスタTrが搭載されている。半導体モジュール2の収容ユニット10からは、上記電力変換回路に入力用電力(例えば、直流電圧)を供給するための第1の入力端子31及び第2の入力端子32、電力変換回路からの出力電力(例えば交流電圧)を出力するための出力端子33が引き出されている。以下の説明では、入力用電力は、直流電圧であり、出力電力は、交流電圧である。図1及び図2において、回路基板20及びトランジスタTrは、その大きさ及び配置関係などは模式的に示している。
コンデンサ3は、一方向に延在した柱状を呈する。コンデンサ3の延在方向から見た場合の形状の例は円形であるが、矩形及び正方形といった四角形でもよい。コンデンサ3は、その延在方向が鉛直方向に実質的に一致するように配置されている。コンデンサ3の例は、高耐圧コンデンサである。コンデンサ3は、一対の電極間に誘電体が配置された公知の構成を取り得る。コンデンサ3は、鉛直方向における上端部3aに外部接続用の第1端子41及び第2端子42が設けられている。第1端子41は、上記一対の電極の一方に電気的に接続されており、第2端子42は、上記一対の電極の他方に電気的に接続されている。本実施形態では、第1端子41及び第2端子42には、第1端子41及び第2端子42を、第1の入力端子31及び第2の入力端子32に接続するために、雄ネジ部が形成されている。よって、第1端子41及び第2端子42は、図1及び図2に示したように、雄ねじ部にナットNを螺合させることで、第1の入力端子31及び第2の入力端子32に接合され得る。ただし、第1端子41及び第2端子42と、第1の入力端子31及び第2の入力端子32とは電気的に接続できれば、その接合方法は限定されない。
以下、説明の便宜のため、コンデンサ3の延在方向をZ方向と称し、Z方向に直交する2つの方向をX方向及びY方向と称す。X方向及びY方向は直交している。Z方向が鉛直方向に対応する。
次に、図3〜図7を利用して半導体モジュール2について詳細に説明する。図3は、半導体モジュール2の分解斜視図である。図4は、図3に示した半導体モジュール2を鉛直下方からみた場合の概略構成を示す斜視図である。図4では、後述する放熱部材の図示を省略していると共に、半導体モジュール2の説明の便宜のため、第1及び第2の入力端子31,32が図中において奥側に配置されるように、半導体モジュール2を図示している。図5は、図3に示したV−V線に沿った半導体モジュール2の断面の模式図である。図6は、図3に示したVI−VI線に沿った半導体モジュール2の断面の模式図である。図7は、図4のVII―VII線に沿った半導体モジュール2の断面の模式図である。図8は、複数のトランジスタTrが搭載された回路基板20を説明するための図面である。図9は、図8のIX―IX線に沿った断面の模式図である。
図3〜図7(特に、図5及び図6)に示したように、半導体モジュール2は、回路基板20と、複数のトランジスタTrと、収容ユニット10と、第1の入力端子31、第2の入力端子32、出力端子33及び制御端子34,35を備える。半導体モジュール2は、予備端子36,37を備えてもよい。半導体モジュール2は、例えば、図3に示したように放熱部材50を更に備えてもよい。
図7〜図9を利用して、複数のトランジスタTrが搭載された回路基板20について説明する。回路基板20は、絶縁基板21を有する。絶縁基板21は例えばセラミックス基板である。絶縁基板21の材料の例は、AlN、SiN及びAlを含む。絶縁基板21の厚さ方向から見た形状は限定されないが、例えば、図7に示したように、矩形である。図7では後述する樹脂部R(後述)の図示を省略している。
図8及び図9に示したように、絶縁基板21の表面には、配線パターン22が設けられている。配線パターン22は、複数のトランジスタTrの電気的な接続に使用される。配線パターン22は、互いに絶縁された第1〜第7の導電パターン22a,22b,22c,22d,22e,22f,22gを含む。絶縁基板21が矩形である場合、第1〜第7の導電パターン22a〜22gは、電力変換回路Cを構成するための複数のトランジスタTrとの接続の容易性及び第1の入力端子31、第2の入力端子32及び出力端子33などとの接続の容易性を考慮したパターンで配置されていればよい。第1〜第7の導電パターン22a〜22gの例は金属層である。第1〜第7の導電パターン22a〜22gの材料は、導電性を有する材料であればよいが、例えば、銅である。
複数のトランジスタTrは、回路基板20上に実装される。トランジスタTrの材料の例は、SiC及びGaN等のワイドバンドギャップ半導体及びSiを含む。トランジスタTrの例は、MOSFET(Metal−Oxide−Semiconductor Field−Effect Transistor)でもよいし、絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(IGBT:Insulated Gate Bipolar Transistor)でもよい。以下、断らない限り、トランジスタTrは、MOSFETである。
トランジスタTrは、縦型トランジスタであり、図8及び図9に示したように、第1の上部電極SPと、第2の上部電極GPと、下部電極DPとを有する。第1の上部電極SP及び下部電極DPのそれぞれは、トランジスタTrに電圧を供給するための第1及び第2の主電極である。第2の上部電極GPは、トランジスタTrに制御信号(或いは制御電圧)を供給するための制御電極である。トランジスタTrは、第2の上部電極GPに印加される制御信号に応じて第1の上部電極SP及び下部電極DP間の導通状態が制御される。トランジスタTrは横型トランジスタでもよい。
トランジスタTrがMOSFETである場合、第1の上部電極SP、第2の上部電極GP及び下部電極DPは、それぞれソース電極、ゲート電極及びドレイン電極に対応する。トランジスタTrがIGBTである場合、第1の上部電極SP、第2の上部電極GP及び下部電極DPはそれぞれ、エミッタ電極、ゲート電極及びコレクタ電極に対応する。
複数のトランジスタTrは、配線パターン22を介して適宜電気的に接続されることで、電力変換回路Cを構成する。本実施形態において、電力変換回路Cは、単層インバータ回路である。複数のトランジスタTrのうち、電力変換回路Cにおける上アームを構成するトランジスタTrを第1のトランジスタTr1と称し、下アームを構成するトランジスタTrを第2のトランジスタTr2と称す。本実施形態では、半導体モジュール2が5個の第1のトランジスタTr1及び5個の第2のトランジスタTr2を有する形態について例示しているが、第1のトランジスタTr1及び第2のトランジスタTr2の数は5個に限定されず、それぞれ1個ずつあればよい。
図8に示した形態では、第1のトランジスタTr1は、第1のトランジスタTr1の下部電極DPが電気的に第1の導電パターン22aに接続されるように第1の導電パターン22a上に搭載されており、第2のトランジスタTr2は、第2のトランジスタTr2の下部電極DPが電気的に第2の導電パターン22bに接続されるように第2の導電パターン22b上に搭載されている。
第1のトランジスタTr1の第1の上部電極SPは、ワイヤW1を介して第2の導電パターン22bに接続されている。これにより、第1のトランジスタTr1の第1の上部電極SPと、第2のトランジスタTr2の下部電極DPとが電気的に接続されている。換言すれば、第1及び第2のトランジスタTr1,Tr2が電気的に直列接続されている。第1のトランジスタTr1の第1の上部電極SPは、第4の導電パターン22dにもワイヤW2を介して接続されている。
第2のトランジスタTr2の第1の上部電極SPは、ワイヤW3を介して第3の導電パターン22cに接続されていると共に、ワイヤW4を介して第5の導電パターン22eにも接続されている。
第1のトランジスタTr1の第2の上部電極GPは、第1のトランジスタTr1の第1の上部電極SPと絶縁されており、ワイヤW5を介して第6の導電パターン22fに接続されている。第2のトランジスタTr2の第2の上部電極GPは、第2のトランジスタTr2の第1の上部電極SPと絶縁されており、ワイヤW6を介して第7の導電パターン22gに接続されている。
上記配線構造では、複数の第1のトランジスタTr1は並列接続されており、複数の第2のトランジスタTr2は並列接続されている。したがって、電力変換回路Cに、大きな電流を流し得る。
図5及び図6に示したように、絶縁基板21の裏面(表面と反対側の面)には、放熱部材50が設けられる。一実施形態において、裏面と放熱部材50との間には、放熱層23が設けられてもよい。放熱層23の材料の例は、銅である。図5及び図6では、ワイヤW1〜W6などの配線構造の図示は省略している。
放熱部材50は、放熱板51と、ヒートシンク52とを有する。放熱板51及びヒートシンク52の材料は、熱伝導性が高い材料から構成される。放熱板51及びヒートシンク52の材料の例は、銅及びアルミであるが、公知の放熱用の材料であればよい。ヒートシンク52は、板状の支持体52aと、その外面に設けられた複数のフィン52bを有する。複数のフィン52bのそれぞれはY方向に延在する板状を呈する。複数のフィン52bは並列に配置されており、ヒートシンク52は、櫛状を呈する。ヒートシンク52は、支持体52aが放熱板51に接合されることによって放熱板51に固定されている。放熱板51は、絶縁基板21の裏面に直接又は図5及び図6に例示したように放熱層23を介して絶縁基板21に固定されている。ヒートシンク52の一形態について説明したが、ヒートシンク52の形状は、例示したものに限定さない。放熱板51とヒートシンク52は一体的に形成された一つの部材であってもよい。
複数のトランジスタTrが搭載された回路基板20は、収容ユニット10が有する収容部11に収容されている。収容ユニット10は、図3〜図7に示したように、収容部11と、4つの脚部12A,12B,12C,12Dとを有する。
図3〜図6に示したように、収容部11は、支持板13と、カバー部14とを有し、カバー部14が支持板13に取り付けられることによって、複数のトランジスタTrが搭載された回路基板20を収容する収容空間60が形成されている。
支持板13は、回路基板20を支持するための壁部であり、半導体モジュール2がコンデンサ3に取り付けられた状態で半導体モジュール2の天壁に対応する。支持板13の材料の例は樹脂であり、樹脂の例は、PPS(ポリフェニレンサルファイド)及びPBT(ポリブチレンテレフタレート)などの熱可塑性樹脂である。図5〜図7に示したように、支持板13の主面131のうち回路基板20の基板搭載領域131aの周囲には枠体132が主面131に設けられている。枠体132は、回路基板20を囲う囲い或いは隔壁であり、一実施形態において、主面131に対する枠体132の高さは、回路基板20に搭載されたトランジスタTrの主面131に対する高さより高い。枠体132の材料の例は、支持板13の材料と同じとし得る。枠体132は、主面131に一体的に設けられている。
基板搭載領域131aには、放熱部材50を回路基板20に接合し、放熱部材50の回路基板20と反対側(すなわち、少なくともフィン52b)を露出させるために、図3、図5及び図6に示したように開口部133が形成されている。支持板13において、基板搭載領域131aの外側、より具体的には枠体132の外側には、スリットSが形成されている。スリットSは、支持板13を貫通する貫通孔である。スリットSは、収容空間60内に樹脂を流し込むための注入口として機能する。よって、スリットSは、収容空間60に連通するように、すなわち、主面131においてカバー部14が当接する領域より内側に形成されている。スリットSは少なくとも一つ形成されていればよい。
図4〜図6に示したように、カバー部14は、カバー本体部141を有する。カバー本体部141の材料の例は、支持板13で例示した樹脂と同様の樹脂で有り得る。
カバー本体部141は、壁板141aと、壁板141aに立設された4つの壁板141b,141c,141d,141eを有し、有底筒状を呈する。壁板141aは、その厚さ方向からみた場合、矩形又は正方形といった四角形状を呈し、4つの壁板141b,141c,141d,141eは、壁板141aの縁部から立設されている。本実施形態において、図4〜図6に示したように、壁板141bと壁板141cとは対向しており、壁板141dと壁板141eとは対向している。
図5及び図6に示したように、カバー本体部141は、カバー本体部141の開口を支持板13で塞ぐように、支持板13に取り付けられている。よって、有底筒状のカバー本体部141の底部に対応する壁板141aは、回路基板20においてトランジスタTrが搭載される側及び支持板13と対向する壁部である。カバー本体部141は、支持板13に接着剤で支持板13に取り付けられてもよいし、ネジ止めされてもよい。
一実施形態において、カバー本体部141の開口縁部には、フランジ部(或いは、つば部)122が設けられてもよい。カバー部14がフランジ部122を有する形態では、カバー本体部141とフランジ部122とは一体的に成型され得る。
カバー部14が支持板13に取り付けられることによって、複数のトランジスタTrが搭載された回路基板20を収容する収容空間60が形成されている。収容空間60内には樹脂が充填されることによって樹脂部Rが形成されている。樹脂部Rを構成する樹脂の例は、シリコーンゲルである。樹脂部Rは、樹脂硬化物である。回路基板20及び複数のトランジスタTrは、樹脂部Rに埋設されている。よって、電力変換回路Cも樹脂部Rに埋設されている。
脚部12A〜12Dは、図1及び図2に示したように、半導体モジュール2をコンデンサ3に連結するため連結部材である。脚部12A〜12Dは、例えば、板状部材である。図4〜図7に示したように、脚部12A〜12Dは、支持板13の主面131のうち基板搭載領域131aの外側、より具体的には、カバー部14の固定領域より外側に配置されている。本実施形態では、脚部12A〜12Dは、支持板13の4つの縁部にそれぞれ配置されている。具体的には、脚部12A、脚部12B、脚部12C及び脚部12Dは、支持板13の側面134a,134b、134c、134dそれぞれに対応する縁部に配置されている。本実施形態において、脚部12A〜12Dは、支持板13に一体的に設けられている。
図4〜図6に示したように、支持板13の主面131対する脚部12A〜12Dの長さ(Z方向の長さ)は、カバー部14の厚さ(具体的には、主面131と、カバー部14における主面131と反対側の外面との間の距離)よりも長く、カバー部14と、コンデンサ3の上端部3aとの間に、第1及び第2の入力端子31,32と第1及び第2端子41,42との接続領域を確保できる長さである。
脚部12A〜12Dは、例えば、接着剤などを用いてコンデンサ3に接合されてもよいし、或いは、脚部12A〜12Dの自由端(コンデンサ3との接合側の端)に、コンデンサ3との連結用の構造(例えば、コンデンサ3の上端に係合する爪部など)が形成されており、それを利用してコンデンサ3に取り付けられてもよい。
本実施形態において、脚部12A〜12Dの幅(脚部12A〜12Dの厚さ方向に直交する方向の長さ)は、支持板13の対応する縁部の幅より短い。よって、支持板13の周方向において隣接する脚部の間には隙間が生じている。これにより、半導体モジュール2をコンデンサ3に取り付ける際に、第1の入力端子31及び第2の入力端子32と、第1端子41及び第2端子42とを容易に接続し易い。
脚部12A〜12Dの幅は、脚部12A〜12Dの延在方向において一定でなくてもよい。例えば、脚部12A〜12Dは、その延在方向において、支持板13側から幅の異なる第1領域(幅広領域)及び第2領域(幅狭領域)を有してもよい。この場合、第1領域は、支持板における対応する縁部の幅と同じ幅であり、第2領域は、支持板13の対応する縁部の幅より狭い幅とし得る。このように脚部12A〜12Dを構成すれば、支持板13の周方向において、隣接する脚部の第2領域の間に隙間が形成される。よって、半導体モジュール2をコンデンサ3に取り付ける際に、第1の入力端子31及び第2の入力端子32と、第1端子41及び第2端子42とを接続するための作業スペースを確保できる。
以下、説明の便宜のため、支持板13と4つの脚部12A〜12Dとの一体成型品を支持体15と称す場合もある。
第1の入力端子31は、電力変換回路Cに直流電圧を供給するための一対の入力端子を第2の入力端子32と構成する入力端子である。具体的には、第1の入力端子31は正電圧を電力変換回路Cに供給するための端子である。第1の入力端子31は、例えば、板状の導電部材である。第1の入力端子31の例はバスバーである。第1の入力端子31は、図4及び図7に示したように、第1領域31a、中間領域31b及び第2領域31cを有する。
図7に示したように、第1領域31aは、枠体132の表面132a上に配置される回路接続用端部311を含み、第1の入力端子31のうち収容空間60内に配置される部分である。第1領域31aは主面131側から回路接続用端部311に向けて回路接続用端部311が枠体132の表面132aに位置するように折り曲げられている。例えば、第1領域31aは、枠体132の形状に沿って折り曲げられている。回路接続用端部311は、例えば、枠体132の表面132aにおいて、支持板13の側面134a側に配置されている。図7に示したように、回路接続用端部311は、ワイヤW7を介して第1の導電パターンに接続される。これにより、第1の入力端子31を介して複数の第1のトランジスタTr1の下部電極DPに正電圧を印加できる。
中間領域31bは、第1の入力端子31のうち第1領域31aと第2領域31cとを繋いでいる領域である。中間領域31bは、支持体15内に埋設されている。具体的には、中間領域31bは支持板13及び脚部12Aに埋設されている。中間領域31bは、第1領域31aと第2領域31cを繋ぐように折り曲げられ得る。脚部12Aのうち、中間領域31bが埋設されている部分は、肉厚に形成されていてもよい。
図4に示したように、第2領域31cは、コンデンサ3の第1端子41と接続される第1の入力端子31の外部接続用端部312を含み、脚部12Aのうち主面131に臨む面から引き出されている部分である。外部接続用端部312には、第1端子41の雄ねじ部を通す挿通孔313が形成されている。第2領域31cは、半導体モジュール2がコンデンサ3に取り付けられた状態で、外部接続用端部312が、第1端子41上に位置するように脚部12Aから引き出されていればよい。例えば、第2領域31cは、脚部12Aから脚部12Bに向けて引き出されており、図4に示したように、途中で主面131の法線方向に曲げられた後、主面131と平行な方向に曲げられ得る。
第2の入力端子32は、電力変換回路Cに直流電圧を供給するための一対の入力端子を第1の入力端子31と構成する入力端子である。具体的には、第2の入力端子32は負電圧を電力変換回路Cに供給するための端子である。第2の入力端子32は、第1の入力端子31と同様に、板状の導電部材であり得る。第2の入力端子32の例はバスバーである。第2の入力端子32は、図4、図5及び図7に示したように、第1領域32a、中間領域32b及び第2領域32cを有する。
図7に示したように、第1領域32aは、枠体132の表面132a上に配置される回路接続用端部321を含み、第2の入力端子32のうち収容空間60内の部分である。第1領域32aは、主面131側から回路接続用端部321に向けて、回路接続用端部321が枠体132の表面132aに位置するように曲げられている。例えば、第1領域32aは、枠体132の形状に沿って折り曲げられている。回路接続用端部311は、例えば、枠体132の表面132aにおいて、支持板13の側面134a側に配置されている。回路接続用端部321は、ワイヤW8を介して第3の導電パターン22cに接続される。これにより、第2の入力端子32を介して複数の第2のトランジスタTr2の第1の上部電極SPに負電圧を印加できる。
中間領域32bは、第2の入力端子32のうち第1領域32aと第2領域32cとを繋いでいる領域である。中間領域32bは、支持体15内に埋設されている。具体的には、中間領域32bは支持板13及び脚部12Aに埋設されている。中間領域32bは、第1領域32aと第2領域32cを繋ぐように折り曲げられ得る。脚部のうち、中間領域32bが埋設されている部分は、肉厚に形成されていてもよい。
図4に示したように、第2領域32cは、コンデンサ3の第2端子42と接続される第2の入力端子32の外部接続用端部322を含み、脚部12Aのうち主面131に臨む面から引き出されている部分である。外部接続用端部322側には、第2端子42の雄ねじ部を通す挿通孔323が形成されている。第2領域32cは、外部接続用端部322が、第2端子42上に位置するように脚部12Aから引き出されていればよい。例えば、第2領域32cは、脚部12Aから脚部12Bに向けて引き出されており、図4に示したように、途中で主面131の法線方向に曲げられた後、主面131と平行な方向に曲げられ得る。
出力端子33は、電力変換回路Cからの出力電圧を取り出すための端子である。出力端子33は、第1及び第2の入力端子31,32と同様の導電部材(例えば、バスバー)であり得る。出力端子33は、図6及び図7に示したように、回路接続用端部331と、外部接続用端部332とを有する。
図7に示したように、回路接続用端部331は、枠体132の表面132a上に配置されている。具体的には、表面132aのうち支持板13の側面134c側に配置されている。回路接続用端部331は、図7に示したように、ワイヤW9を介して第2の導電パターン22bに接続される。これにより、これにより、直列接続された第1のトランジスタTr1と第2のトランジスタTr2の接続部から出力電圧を、出力端子33を介して取り出し得る。
外部接続用端部332は、支持板13の側面131bから引き出されており、外部機器(或いは回路)に接続するための端部である。外部接続用端部332には、外部接続のために、ボルトなどを挿通する挿通孔が形成されていてもよい。出力端子33において、回路接続用端部331と外部接続用端部332の間の一部は、支持板13内に埋設されている。よって、出力端子33も、支持板13から収容空間60側に引き出されている第1領域、支持板13内に埋設された第2領域、及び、支持板13から収容ユニット10の外側に引き出されている第3領域を有する。
制御端子34は、複数のトランジスタTrのうち上アームを構成する複数の第1のトランジスタTr1の第2の上部電極GPに制御信号を供給するための端子であり、制御端子35は、複数のトランジスタTrのうち下アームを構成する複数の第2のトランジスタTr2の第2の上部電極GPに制御信号を供給するための端子である。すなわち、制御端子34は、上アーム側の制御信号を電力変換回路Cに供給するための端子であり、制御端子35は、下アーム側の制御信号を電力変換回路Cに供給するための端子である。制御端子34,35は、導電部材であり得る。制御端子34,35は、棒状でもよいし、或いは、板状でもよい。制御端子34は、回路接続用端部341と、外部接続用端部342とを有し、制御端子35は、回路接続用端部351と、外部接続用端部352とを有する。
回路接続用端部341,351は、枠体132の表面132a上に並設して配置されている。具体的には、表面132aのうち支持板13の側面134d側に配置されている。回路接続用端部341は、ワイヤW10を介して第6の導電パターン22fに接続され、回路接続用端部351は、ワイヤW11を介して、第7の導電パターン22gに接続されている。これにより、制御端子34を介して複数の第1のトランジスタTr1に制御信号を供給できると共に、制御端子35を介して複数の第2のトランジスタTr2に制御信号を供給できる。
外部接続用端部342,352は、支持板13の側面131cから引き出されており、外部機器(或いは回路)に接続するための端部である。外部接続用端部342,352には、外部接続のために、ボルトなどを挿通する挿通孔が形成されていてもよい。制御端子34,35において、回路接続用端部341,351と外部接続用端部342,352の間の一部は、支持板13内に埋設されている。よって、制御端子34,35も、支持板13から収容空間60側に引き出されている第1領域、支持板13内に埋設された第2領域、及び、支持板13から収容ユニット10の外側に引き出されている第3領域を有する。
予備端子36は、第1のトランジスタTr1の第1の上部電極SPの電圧(或いは電位)を取り出すための端子であり、予備端子37は、第2のトランジスタTr2の第1の上部電極SPの電圧(或いは電位)を取り出すための端子である。予備端子36,37は、導電部材であり得る。予備端子36,37は、棒状でもよいし、或いは、板状でもよい。予備端子36,37から取り出された電圧(或いは電位)は、例えば、第1及び第2のトランジスタTr1,Tr2に供給する制御信号を生成するために使用される。予備端子36は、回路接続用端部361と、外部接続用端部362とを有し、予備端子37は、回路接続用端部371と、外部接続用端部372とを有する。
回路接続用端部361,371は、枠体132の表面132a上に並設して配置されている。具体的には、表面132aのうち支持板13の側面134d側に配置されている。回路接続用端部361は、ワイヤW12を介して第4の導電パターン22dに接続され、回路接続用端部371は、ワイヤW13を介して、第5の導電パターン22eに接続されている。これにより、予備端子36を介して第1のトランジスタTr1の第1の上部電極SPの電圧(或いは電位)を取り出せ、予備端子37を介して第2のトランジスタTr2の第1の上部電極SPの電圧(或いは電位)を取り出し得る。
外部接続用端部362,372は、支持板13の側面131cから引き出されており、外部機器(或いは回路)に接続するための端部である。外部接続用端部362,372には、外部接続のために、ボルトなどを挿通する挿通孔が形成されていてもよい。予備端子36,37において、回路接続用端部361,371と外部接続用端部362,372の間の一部は、支持板13内に埋設されている。よって、予備端子36,37も、支持板13から収容空間60側に引き出されている第1領域、支持板13内に埋設された第2領域、及び、支持板13から収容ユニット10の外側に引き出されている第3領域を有する。
次に、半導体モジュール2の製造方法の一例について、図10、図11(a)、図11(b)及び図12(a)〜図12(c)を利用して説明する。図10は、半導体モジュール2の製造に利用する支持体15の斜視図である。図11(a)は、複数のトランジスタTrを含み電力変換回路Cが実装された回路基板20を支持体15に搭載する工程を説明するための図面であり、図11(b)は、電力変換回路Cを予備樹脂部で埋設する工程を説明するための図面である。図12(a)は、カバー部14を支持板13に取り付ける工程を説明する図面であり、図12(b)は、樹脂部Rを形成する工程を説明する図面であり、図12(c)は、放熱部材50を取り付ける工程を説明する図面である。
図12(a)〜図12(c)は、図6に示した断面構成に対応し、図11(a)及び図11(b)は、製造過程における支持体15の反転工程を考慮した場合の、図12(a)〜図12(c)に対応した断面構成を示している。図11(a)、図11(b)及び図12(a)〜図12(c)ではワイヤなどの配線部材の図示を省略している。
まず、図10に示したように支持体15を準備する。支持体15の構成は、前述した通りであるが、この工程で準備された支持体15において、第1及び第2の入力端子31,32の第2領域31c,32cは、脚部12Aから引き出された後、支持板13の厚さ方向に折り曲げられている。支持体15は、例えば、モールド成型により形成され得る。
次に、図11(a)に示したように、電力変換回路Cが実装された回路基板20を支持体15が有する支持板13の基板搭載領域131aに搭載し、電力変換回路Cと、第1及び第2の入力端子31,32、出力端子33、制御端子34,35及び予備端子36,37を配線パターン22に接続する。
具体的には、回路基板20の配線パターン22に対して、複数の第1のトランジスタTr1及び複数の第2のトランジスタTr2を搭載する。その後、図7及び図8などを利用して説明したように、第1及び第2のトランジスタTr1,Tr2と配線パターン22とをワイヤで接続して、電力変換回路Cを構成する。このようにして、電力変換回路Cが実装された回路基板20を、支持板13の基板搭載領域131aに配置し、固定する。その後、図7を利用して説明したように、第1の入力端子31、第2の入力端子32、出力端子33、制御端子34、制御端子35、予備端子36及び予備端子37を、第1〜第7の導電パターン22a〜22gのうち対応する導電パターンに接続する。
その後、図11(b)に示したように、枠体132内に樹脂を流し込み、硬化させて予備樹脂部R0を形成する。樹脂の硬化方法は、樹脂の種類に応じて適宜選択され得る。例えば、樹脂が熱硬化樹脂であれば、樹脂を熱硬化させる。これにより、電力変換回路Cが予備樹脂部R0に埋設される。以下、予備樹脂部R0を構成する樹脂を、予備樹脂と称す場合もある。
次いで、予備樹脂部R0が鉛直方向において下側になるように、支持体15を反転させた後、支持板13にカバー部14を固定し、収容部11を形成する。これにより、収容空間60が形成されると共に、収容ユニット10が得られる。図10に示したように、第1及び第2の入力端子31,32の第2領域31c,32cを支持板13の法線方向に折り曲げている場合には、第2領域31c,32cの途中で、支持板13の主面131に平行に更に折り曲げる。この折り曲げ工程は、カバー部14を支持板13に固定した後であればよい。
その後、支持板13のスリットSを利用して、収容空間60内に予備樹脂部R0を形成した樹脂と同じ樹脂を流し込む。その後、流し込んだ樹脂を硬化させて樹脂部Rを形成する。樹脂の硬化方法は、予備樹脂部R0を形成する場合と同様とし得る。
続いて、開口部133の収容ユニット10外側から放熱板51を回路基板に固定した後、放熱板51にヒートシンク52を固定することで、半導体モジュール2が得られる。
上記のように、半導体モジュール2を製造した後、半導体モジュール2をコンデンサ3の上端上に配置し、第1及び第2の入力端子31,32と、第1端子41及び第2端子42を電気的に接続することによって、半導体モジュールユニット1が得られる。
上記半導体モジュール2の製造方法は一例であり、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で半導体モジュール2を製造できれば、半導体モジュール2の製造方法は限定されない。
半導体モジュール2は、電力変換回路Cを内蔵しているため、制御端子34,35を介して第1及び第2のトランジスタTr1,Tr2に供給される制御信号に応じて、第1及び第2の入力端子31,32に印加される直流電圧(入力用電力)を、交流電圧(出力電力)に変換して出力端子33から出力できる。第1及び第2の入力端子31,32は、コンデンサ3の第1端子41及び第2端子42に接続されているため、第1及び第2の入力端子31,32に、コンデンサ3を介して直流電圧を入力できる。そのため、安定した直流電圧を電力変換回路Cに供給可能である。
半導体モジュールユニット1では、半導体モジュール2をコンデンサ3上に配置している。これにより、コンデンサ3の側方に、半導体モジュール2を配置する場合に比べて、半導体モジュールユニット1の鉛直方向に直交する方向の幅を短くできる。したがって、半導体モジュールユニット1では、省スペース化が図れている。
半導体モジュール2では、収容ユニット10が収容部11と脚部12A〜12Dを有しており、脚部12A〜12Dを介して、半導体モジュール2は、コンデンサ3の上端部3aに取り付けられる。脚部12A〜12Dは、支持板13の主面131から主面131の法線方向においてカバー部14側に延びている。よって、半導体モジュールユニット1において、カバー部14は、コンデンサ3側、すなわち、支持板13の鉛直下方に位置する。この場合、樹脂部Rも支持板13の鉛直下方に位置する。
第1の入力端子31及び第2の入力端子32の外部接続用端部312及び外部接続用端部322は、カバー部14を介さずに収容部11の外部に引き出されている。具体的には、外部接続用端部312及び外部接続用端部322は、支持板13及び脚部12A(換言すれば、支持体15)を通して、コンデンサ3側に引き出されている。出力端子33、制御端子34,35及び予備端子36,37それぞれの外部接続用端部332,342,352,362,372もカバー部14を介さずに収容部11の外側に引き出されている。具体的には、外部接続用端部332,342,352,362,372は、支持板13を通して引き出されている。したがって、カバー部14及び樹脂部Rが支持板13の鉛直下方に位置した状態において、樹脂部Rが仮に経年劣化して軟化しても、カバー部14から漏れ出ることはない。したがって、半導体モジュール2は、長期的に信頼性を維持可能である。
半導体モジュール2は、電気的に並列接続された複数の第1のトランジスタTr1を有すると共に、電気的に並列接続された複数の第2のトランジスタTr2を有する。そのため、前述したように、半導体モジュール2には、より大きな電流を流すことができる。第1及び第2のトランジスタTr1,Tr2の材料に、SiN及びGaNなどのワイドバンドギャップ半導体を用いれば、耐圧性も向上する。よって、半導体モジュール2は、高耐圧大容量モジュールとし得る。
半導体モジュール2が放熱部材50を備えている形態では、放熱部材50により、電力変換回路Cを駆動した際に生じる熱を効率的に放熱できる。その結果、樹脂部Rが軟化し難い。
半導体モジュール2の小型化或いは薄型化が図られると共に、電力変換効率の向上が図られ、ヒートシンク52も小型化されると、半導体モジュール2の構成は、半導体モジュールユニット1の省スペース化に更に資する構成である。
第1及び第2の入力端子31,32の外部接続用端部312,322は、コンデンサ3側に配置されている。そのため、半導体モジュール2の構成では、半導体モジュール2をコンデンサ3の上端部3aに取り付けた際、半導体モジュール2とコンデンサ3とを電気的に接続し易い。
出力端子33の外部接続用端部332は、支持板13の側方に配置されている。一方、第1及び第2の入力端子31,32の外部接続用端部312,322は支持板13の下方に配置されている。したがって、例えば、半導体モジュール2の小型化及び薄型化などが図られても、第1及び第2の入力端子31,32と、出力端子33との間の絶縁距離を確保し易い。
上記半導体モジュール2を製造する方法では、半導体モジュール2を製造できるので、半導体モジュール2と同様の作用効果を有する。図10、図11(a)、図11(b)及び図12(a)〜図12(c)で説明した形態では、図11(b)に示したように、予備樹脂部R0で予め電力変換回路Cを埋設している。したがって、図12(b)に示したように、支持板13をカバー部14の鉛直上方に配置した状態で、スリットSから樹脂を収容空間60に流し込んで樹脂部Rを形成しても、複数のトランジスタTr及び配線パターン22等(或いは、電力変換回路C)を確実に樹脂で封止できる。その結果、樹脂部Rで確保すべき複数のトランジスタTr間等の絶縁性を確実に確保可能である。
以上、種々の実施形態について説明したが、本発明は、これまで説明した種々の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。例えば、予備樹脂部R0を構成する予備樹脂と、樹脂部Rを形成するためにスリットSから収容空間60に流し込む樹脂とは異なっていてもよい。この場合、例えば、予備樹脂と、樹脂部Rを形成するためにスリットSから収容空間60に流し込む樹脂との一方を第1樹脂と称し、他方を第2樹脂と称した場合、樹脂部Rは、第1樹脂からなる第1樹脂部と第2樹脂からなる第2樹脂部とを有する。
出力端子、制御端子及び予備端子の外部接続用端部は、カバー部を介さずに、収容部の外側に引き出されていればよい。したがって、出力端子、制御端子及び予備端子の外部接続用端部は、例えば、支持板に対してカバー部と反対側(図1及び図2等において、放熱部材側)に引き出されていてもよい。
第1及び第2の入力端子31,32の外部接続用端部は、カバー部を介さずに、収容部の外側に引き出されていればよい。
収容部をコンデンサに連結するための連結部として4つの脚部を例示したが、脚部の数は、4つに限定されず、収容部をコンデンサに安定して連結できれば1個〜3個の何れかでもよいし、5つ以上でもよい。
電力変換回路Cは、単相インバータ回路といった単層の電力変換回路に限定されず、二相又は三相の電力変換回路でもよい。
2…半導体モジュール、3…コンデンサ、3a…上端部、10…収容ユニット、11…収容部、12A,12B,12C,12D…脚部、13…支持板、14…カバー部、15…支持体、20…回路基板(基板)、31…第1の入力端子、32…第2の入力端子、33…出力端子、41…第1端子、42…第2端子、60…収容空間、131…主面、131a…基板搭載領域、311…回路接続用端部(第1の入力端子の回路接続用端部)、312…外部接続用端部(第1の入力端子の外部接続用端部)、321…回路接続用端部(第2の入力端子の回路接続用端部)、322…外部接続用端部(第2の入力端子の外部接続用端部)、331…回路接続用端部(出力端子の回路接続用端部)、332…外部接続用端部(出力端子の外部接続用端部)C…電力変換回路、R…樹脂部、R0…予備樹脂部、S…スリット(貫通孔)。

Claims (5)

  1. 鉛直方向に延在しており上端部に外部接続用の第1端子及び第2端子を有するコンデンサの前記上端部に取り付けられる半導体モジュールであって、
    電力変換回路を構成する複数のトランジスタが搭載される基板と、
    前記基板を支持する支持板及び前記支持板に取り付けられ前記支持板と共に前記複数のトランジスタが搭載された前記基板を収容する収容空間を形成するカバー部を有する収容部と、
    前記収容部から、前記支持板の厚さ方向において前記支持板に対して前記カバー部が配置される側に延びており、前記収容部を前記コンデンサの前記上端部に接続するための脚部と、
    前記電力変換回路に入力用電力を供給する第1及び第2の入力端子と、
    前記電力変換回路からの出力電力を取り出すための出力端子と、
    前記収容空間内に設けられ前記電力変換回路を埋設する樹脂部と、
    を備え、
    前記第1及び第2の入力端子並びに前記出力端子の外部接続用端部は、前記カバー部を介さずに、前記収容部の外部に引き出されており、
    前記第1及び第2の入力端子の前記外部接続用端部は、前記カバー部に対して前記コンデンサ側に配置されている、
    半導体モジュール。
  2. 前記脚部は、前記支持板に一体的に立設されており、
    前記第1及び第2の入力端子の一部は、前記支持板と前記脚部に埋設されている、
    請求項1に記載の半導体モジュール。
  3. 前記出力端子の前記外部接続用端部は、前記支持板の側方又は前記支持板からみて前記カバー部と反対側から引き出されている、
    請求項1又は2に記載の半導体モジュール。
  4. 電力変換回路を構成する複数のトランジスタが搭載される基板と、前記基板を支持する支持板及び前記支持板に取り付けられ前記支持板と共に前記複数のトランジスタが搭載された前記基板を収容する収容空間を形成するカバー部を有する収容部と、前記収容部から、前記支持板の厚さ方向において前記支持板に対して前記カバー部が配置される側に延びている脚部と、前記電力変換回路に入力用電力を供給する第1及び第2の入力端子と、前記電力変換回路からの出力電力を取り出すための出力端子と、を備え、前記第1及び第2の入力端子並びに前記出力端子の外部接続用端部は、前記カバー部を介さずに、前記収容部の外部に引き出されている、半導体モジュールの製造方法であって、
    前記支持板の主面における基板搭載領域の外側から前記支持板の厚さ方向に前記脚部が立設されており、前記支持板の前記主面上に前記第1及び第2の入力端子の回路接続用端部が配置され前記第1及び第2の入力端子の外部接続用端部が前記脚部のうち前記主面に臨む面から引き出されるように前記第1及び第2の入力端子の一部が前記支持板及び前記脚部に埋設されると共に、前記支持板の前記主面上に前記出力端子の回路接続用端部が配置され前記出力端子の外部接続用端部が前記支持板から引き出されるように前記出力端子の一部が前記支持板に埋設された支持体を準備する準備工程と、
    前記電力変換回路を構成する前記複数のトランジスタが搭載された前記基板を、前記支持板の前記基板搭載領域に固定すると共に、前記電力変換回路と、前記第1及び第2の入力端子並びに前記出力端子の回路接続用端部との電気的な接続を施す基板搭載工程と、
    前記カバー部を前記支持板に固定して前記収容部を形成する収容部形成工程と、
    前記支持板と前記カバー部とで構成される前記収容部の収容空間内に樹脂を流し込み前記収容空間内に樹脂部を形成する樹脂部形成工程と、
    を備える、
    半導体モジュールの製造方法。
  5. 前記基板搭載工程と前記収容部形成工程との間に、前記電力変換回路を予備樹脂部で埋設する工程を更に備え、
    前記支持板には貫通孔が形成されており、
    前記樹脂部形成工程では、前記カバー部を鉛直方向において前記支持板の下側に配置した状態で前記貫通孔から前記収容空間に樹脂を流しこむことによって前記樹脂部を形成する、
    請求項4に記載の半導体モジュールの製造方法。
JP2015236808A 2015-12-03 2015-12-03 半導体モジュール及び半導体モジュールの製造方法 Active JP6488998B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015236808A JP6488998B2 (ja) 2015-12-03 2015-12-03 半導体モジュール及び半導体モジュールの製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015236808A JP6488998B2 (ja) 2015-12-03 2015-12-03 半導体モジュール及び半導体モジュールの製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017103392A JP2017103392A (ja) 2017-06-08
JP6488998B2 true JP6488998B2 (ja) 2019-03-27

Family

ID=59015698

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015236808A Active JP6488998B2 (ja) 2015-12-03 2015-12-03 半導体モジュール及び半導体モジュールの製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6488998B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019073506A1 (ja) * 2017-10-10 2019-04-18 新電元工業株式会社 半導体装置、及び、電力変換装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4751810B2 (ja) * 2006-11-02 2011-08-17 日立オートモティブシステムズ株式会社 電力変換装置
JP5481148B2 (ja) * 2009-10-02 2014-04-23 日立オートモティブシステムズ株式会社 半導体装置、およびパワー半導体モジュール、およびパワー半導体モジュールを備えた電力変換装置
JP5531992B2 (ja) * 2011-03-11 2014-06-25 株式会社デンソー 電力変換装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2017103392A (ja) 2017-06-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6237912B2 (ja) パワー半導体モジュール
US9761567B2 (en) Power semiconductor module and composite module
JP2016182037A5 (ja)
CN104637891B (zh) 包括两个半导体模块和横向延伸连接器的半导体封装
US10130015B2 (en) Electronic circuit unit
CN104659012A (zh) 具有在再分配结构和装配结构之间的电子芯片的电子部件
TW200807678A (en) Power semiconductor apparatus
CN109995246B (zh) 开关电源装置
KR20070103876A (ko) 전력 시스템 모듈 및 그 제조 방법
JP4538474B2 (ja) インバータ装置
JP2015099846A (ja) 半導体装置および半導体装置の製造方法
KR20180129614A (ko) 전자 장치
JP2009219273A (ja) パワーモジュール
JP4055643B2 (ja) インバータ装置
JP3740329B2 (ja) 部品実装基板
JP6488998B2 (ja) 半導体モジュール及び半導体モジュールの製造方法
CN112600442A (zh) 多相逆变器装置
JP6544222B2 (ja) 半導体モジュール及び半導体モジュールユニット
US10083935B2 (en) Semiconductor device and a manufacturing method of the semiconductor device
US20240040702A1 (en) Power semiconductor device
KR20140040406A (ko) 전력 모듈 패키지
JP6769556B2 (ja) 半導体装置及び半導体モジュール
WO2019150870A1 (ja) 半導体モジュール
JP3196683U (ja) 半導体モジュール
US20230386966A1 (en) Terminal structure, method for manufacturing terminal structure, and semiconductor apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180521

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190109

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190129

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190211

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6488998

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250