JP6443041B2 - シリカゾル分散液及びシリカ多孔質膜形成用組成物 - Google Patents
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Description
シリカゾル分散液中の疎水性シリカ粒子と分散剤の質量比(疎水性シリカ粒子:分散剤)は、100:1〜100:15である。シリカゾル分散液中の疎水性シリカ粒子と分散剤の質量比を上記範囲に限定したのは、疎水性シリカ粒子に対する分散剤の割合が下限値未満になると分散剤の吸着不足により十分な分散性が得られないという不具合が生じ、一方、上限値を超えると過剰に存在する液中の分散剤が変性し、塗布膜の透明性を損なうことがある等の不具合が生じるからである。このうち、100:1〜100:10であることが好ましい。
以下の表2に示す割合でシリカゾル分散液とバインダ(荒川化学社製 商品名:「ビームセット577(登録商標)」)を混合することによりシリカ多孔質膜形成用組成物を調製した。なお、表2中、シリカゾル分散液とバインダの割合(組成)は、シリカゾル分散液中のSiO2量とバインダ中の固形分量の質量割合で示したものであり、「A」は、シリカゾル分散液中に含まれるSiO2量を示し、「B」はバインダ中の固形分量を示す。また、表2に示す分類I〜XIIのシリカゾル分散液について、調製に使用した各成分及び割合を以下の表1に示す。なお、表1に示すシリカ粒子の平均一次粒子径及び平均二次粒子径は、前述の方法により求めた又は測定した値である。
実施例1〜10及び比較例1〜6で調製したシリカゾル分散液組成物を用いて、以下の(i)〜(iv)の評価を行った。これらの結果を以下の表2に示す。
次に、ヘーズメーター (スガ試験機社製 HZ-2)を用いて、上記得られたシリカ多孔質膜のヘーズ値を測定した。このヘーズ値を、エリプソメトリー(J.A.Woollam社製 型番:M-2000DI)による測定及び解析から求めたシリカ多孔質膜の膜厚で除することにより、膜厚100nm当たりのヘーズ値に換算し、この値をシリカ多孔質膜のヘーズとして評価した。
Claims (7)
- シリカ粒子と、分散剤及び溶媒を含有する液成分とを含み、
前記シリカ粒子が粒子表面を疎水性官能基で置換した疎水性シリカ粒子であり、
前記分散剤が−NH2構造を分子中に1以上含み、かつ小数点以下を切り捨てて整数にしたときの分子量が73以下の化合物であり、
前記疎水性シリカ粒子と前記分散剤の質量比(疎水性シリカ粒子:分散剤)が100:1〜100:15であるシリカゾル分散液。 - 前記疎水性シリカ粒子がヒュームドシリカに表面処理を施して粒子表面を疎水性官能基で置換したシリカ粒子である請求項1記載のシリカゾル分散液。
- 前記疎水性官能基がメチル基又はメチルシリル基である請求項1又は2記載のシリカゾル分散液。
- 前記分散剤がエチレンジアミン又はブチルアミンである請求項1ないし3いずれか1項に記載のシリカゾル分散液。
- 前記疎水性シリカ粒子の平均一次粒子径が10nm以下である請求項1ないし4いずれか1項に記載のシリカゾル分散液。
- 前記疎水性シリカ粒子の平均二次粒子径が80〜150nmである請求項1ないし5いずれか1項に記載のシリカゾル分散液。
- 請求項1ないし6いずれか1項に記載のシリカゾル分散液に更にバインダを添加、混合して得られたシリカゾル分散液組成物。
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