JP6439187B1 - フィルタ装置及びガス分析システム - Google Patents

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    • G01N1/22Devices for withdrawing samples in the gaseous state

Abstract

【課題】低コストでフィルタの目詰まりを防止する。
【解決手段】煤塵含有ガスが導入されるガス導入口3と、ガス導入口3から導入された煤塵含有ガスEGをそのまま排出するガス排出口4と、フィルタ5と、煤塵含有ガスEGをフィルタ5の一部を介して排出する第一排出口6と、煤塵含有ガスEGをフィルタ5の一部とは異なるフィルタ5の他部を介して排出する第二排出口7と、を備えたフィルタ部2と、第一排出口6を開閉する第一弁9と、第二排出口7を開閉する第二弁10と、第一弁6及び第二弁7を開閉制御する制御装置12と、を有し、制御装置12は、第一弁9を開弁し且つ第二弁10を閉弁し、フィルタ5の目詰まりが進行した場合、または所定時間が経過した場合に、第一弁9を閉弁し且つ第二弁10を開弁するフィルタ装置1を提供する。
【選択図】図1

Description

本発明は、フィルタ装置及びガス分析システムに関する。
焼却炉等で発生する排ガスは有害成分(ダイオキシン、水銀等)を含有しているため、排ガスをダクトから直接的にサンプリングして、有害物質の含有量を連続的に分析し、分析結果に応じて炉内燃焼等を制御する技術が知られている。
特許文献1には、排ガス中の水銀濃度をできるだけ上流で分析し、濃度が所定値より大きい場合に活性炭を噴霧する等して濃度低減を図り、水銀濃度が高いままで排ガスを排出しないための技術が開示されている。
この技術においては、焼却炉の排ガスは煤塵が多く含まれるため、煤塵フィルタで煤塵を除去する前処理を行っている。そして、煤塵でフィルタが目詰まりした場合には、逆洗を行って目詰まりを解消させている。
また、特許文献2には、排ガス中の有害物質の濃度を測定装置で計測する技術であるが、有害成分があることや煤塵が多いことに鑑み、サンプリングした排ガスを炉内へ排出するとともに、フィルタ内蔵の集塵管路を並列に2系統設置し、逆洗も行う技術が開示されている。
特開2017−205761号公報 特開2003−121319号公報
ところで、上記2つの技術では、長時間の分析を行うには、フィルタの目詰まりを解消するための逆洗装置が必要であり、イニシャルコストやメンテナンスコストが大きくなるという課題がある。
この発明は、低コストでフィルタの目詰まりを防止することができるフィルタ装置及びガス分析システムを提供することを目的とする。
本発明の第一の態様によれば、フィルタ装置は、煤塵含有ガスが導入されるガス導入口と、前記ガス導入口から導入された前記煤塵含有ガスをそのまま排出するガス排出口と、フィルタと、前記煤塵含有ガスを前記フィルタの一部を介して排出する第一排出口と、前記煤塵含有ガスを前記フィルタの一部とは異なる前記フィルタの他部を介して排出する第二排出口と、を備えたフィルタ部と、前記第一排出口を開閉する第一弁と、前記第二排出口を開閉する第二弁と、前記第一弁及び前記第二弁を開閉制御する制御装置と、前記ガス導入口から導入される前記煤塵含有ガスのガス流を乱流に変化させる乱流発生部と、を有し、前記制御装置は、前記第一弁を開弁し且つ前記第二弁を閉弁し、前記フィルタの前記一部の目詰まりが進行した場合、または所定時間が経過した場合に、前記第一弁を閉弁し且つ前記第二弁を開弁して前記乱流により前記一部のセルフクリーニングをし、前記セルフクリーニングの後、再び前記第一弁を開弁することを特徴とする。
このような構成によれば、第一弁を開弁することでフィルタの一部の目詰まりが進行した場合に、第一弁を閉弁するので、当該フィルタの一部を通過する煤塵含有ガスの流れが止まり、当該フィルタの一部へのそれ以上の煤塵の堆積や当該フィルタの一部の表層への煤塵の入り込みを止めることができる。すなわち、フィルタの目詰まりの進行を止めることができる。さらに、上記フィルタの一部とは異なるフィルタの他部を用いたフィルタリングを継続しながら、ガス導入口からガス排出口に向かう煤塵含有ガスの流れによって、当該フィルタの一部に堆積した煤塵を除去することができる。すなわち、フィルタのセルフクリーニングが可能となる。
これにより、逆洗装置などの装置を付加することなく、低コストでフィルタの目詰まりを防止することができる。
上記フィルタ装置において、前記フィルタは、筒状をなし、前記ガス導入口は、前記フィルタの内周側に前記煤塵含有ガスを導入するように配置され、前記乱流発生部は、前記ガス流を螺旋状に変化させる渦流発生機構、又は前記ガス流を前記螺旋状以外の乱流に変化させるオリフィスを有してよい。
このような構成によれば、ガス流を螺旋状の乱流に変化させるか、又は、螺旋状以外の乱流に変化させることによって、フィルタに堆積した煤塵やフィルタの表層に入りこんだ煤塵にガス流が効果的に当たり、フィルタに堆積等した煤塵を吹き飛ばすことができる。すなわち、フィルタのセルフクリーニングをより効果的に行うことができる。
上記フィルタ装置において、前記フィルタ部は、筒状のパンチングメタルと、前記パンチングメタルの一方の端部に設けられた第一フランジと、を有する内筒と、前記内筒本体の外周側に配置された筒状の外筒本体と、前記外筒本体の一方の端部に設けられて前記第一フランジと接続される第二フランジと、前記外筒本体の他方の端部に設けられて前記ガス排出口をなす第三フランジと、を有する外筒と、前記パンチングメタルの外周面と前記外筒の内周面との間を気密に仕切って第一室及び第二室を形成する仕切部と、第一配管本体と、前記第一配管本体の他方の端部に設けられて前記第一フランジと接続される第四フランジと、を有する第一配管と、第二配管本体と、前記第二配管本体の一方の端部に設けられて前記第三フランジと接続される第五フランジと、を有する第二配管と、を有し、前記フィルタは、前記パンチングメタルの内周に沿って配置された筒状の濾布であり、前記第一排出口は、前記外筒の前記第一室に対応する位置に配置され、前記第二排出口は、前記外筒の前記第二室に対応する位置に配置され、前記第一フランジと前記第二フランジは、Oリングまたはガスケットを介して接続され、前記第一フランジと前記第四フランジは、Oリングまたはガスケットを介し且つ前記濾布を挟み込んで接続され、前記第三フランジと前記第五フランジは、Oリングまたはガスケットを介し且つ前記濾布を挟み込んで接続されてよい。
このような構成によれば、フィルタ部の組み立て、及びメンテナンスが容易となる。すなわち、内筒は、一方の端部にのみフランジを備え、他方にはフランジを備えていないので、パンチングメタルの外周面に仕切部を取り付けた状態でパンチングメタルを外筒に挿入し、第一室及び第二室を有するフィルタ部を容易に組み立てることができる。
また、フランジ間に挟み込むことによって、濾布を固定することができる。
上記フィルタ装置において、前記外筒を振動させるバイブレータと、前記ガス導入口、前記ガス排出口、前記第一排出口、及び前記第二排出口に配置されたフレキシブル管と、をさらに有し、前記制御装置は、フィルタの目詰まりが進行した場合、または所定時間が経過した場合に、前記バイブレータを駆動してよい。この構成により、フィルタ装置に接続された他の配管や機器へのバイブレータの振動の伝達を回避または低減しつつ、フィルタ装置のフィルタを振動させてフィルタに堆積した煤塵等を振り落すことができるので、フィルタのセルフクリーニングをさらに効果的に行うことができる。
本発明の第二の態様によれば、ガス分析システムは、上記いずれかのフィルタ装置と、前記煤塵含有ガスが流れるダクトと、前記ダクトに配置された取込口と、前記取込口と前記ガス導入口との間に配置され、前記取込口から前記ガス導入口へ前記煤塵含有ガスを送り込む昇圧ブロアと、前記第一弁及び前記第二弁の下流側に接続されたガス分析計と、前記ガス排出口から排出された前記煤塵含有ガスを前記ダクトへ返送する返送ラインと、を有することを特徴とする。
このようなガス分析システムによれば、フィルタをセルフクリーニングできるフィルタ装置を使用するため、ガス分析システムを停止してフィルタ清掃を行う必要がない。従って、所望のタイミングでガス分析できるのみならず、連続的にガス分析を行うことができる。
本発明によれば、フィルタリングしているフィルタの一部に煤塵が堆積等して目詰まりが進行した場合に、当該一部のフィルタリングを止めて当該一部と異なる他部からフィルタリングを開始し、当該一部へのそれ以上の煤塵の堆積等を止めるとともに、ガス導入口からガス排出口に向かう煤塵含有ガスの流れによって当該一部に堆積した煤塵等を除去することができる。すなわち、フィルタリングを継続的に行いながら、フィルタのセルフクリーニングが可能となる。
これにより、逆洗装置などの装置を付加することなく、低コストでフィルタの目詰まりを防止し、継続して連続的にフィルタリングを行うことができる。
本発明の実施形態のガス分析システムの概略図である。 本発明の実施形態のフィルタ装置の断面図である。 本発明の実施形態の乱流発生部の斜視図である。 本発明の実施形態のフィルタ装置の組み立て方法を説明する図であって、内筒の外周面に仕切部を巻き付ける様子を示す図である。 本発明の実施形態のフィルタ装置の組み立て方法を説明する図であって、フィルタが挿入された内筒を外筒の内周側に挿入する様子を示す図である。 本発明の実施形態のガス分析システムの制御方法を説明するフローチャートである。 本発明の実施形態の第一の変形例の乱流発生部の斜視図である。 本発明の実施形態の第二の変形例の乱流発生部の斜視図である。
以下、本発明の実施形態のフィルタ装置、及びフィルタ装置を備えるガス分析システムについて図面を参照して詳細に説明する。
ガス分析システムは、例えば、焼却炉などの設備で発生する排ガス(煤塵含有ガス)に含まれる有害成分(ダイオキシン、水銀など)の含有量を、ガス分析計を用いて分析するシステムである。排ガスは、排ガスが流れるダクトから直接サンプリングされる。ガス分析システムは、ガス分析計に導入される排ガスに含まれる煤塵を除去するフィルタ装置を備えている。
図1に示すように、本実施形態のガス分析システム50は、排ガスEGが流れるダクト51に配置された取込口52と、取込口52から取り込まれた排ガスEGから煤塵を除去するフィルタ装置1と、フィルタ装置1にて煤塵が取り除かれた排ガスEGを分析するガス分析計53と、を備えている。
排ガスEGは、取込口52を介してフィルタ装置1に導入される。フィルタ装置1に導入された排ガスEGの一部は、ガス分析計53によって分析され、それ以外の排ガスEGは、ダクト51に戻される。
ガス分析システム50は、焼却炉から排出される排ガスEGに含まれる塩化水素や硫黄酸化物などの有害物質を除去する排ガス処理装置に設けられている。具体的には、排ガス温度を低下させる減温塔と、煤塵を集塵するバグフィルタなどの集塵装置との間のダクト51に設けられている。ガス分析システム50をこの位置に設けることによって、排ガスEGを冷却する装置を別途設けることなくガスの分析が可能となる。ガス分析システム50は上記位置に限らず、様々な箇所に取り付けることができる。
本実施形態のガス分析システム50は、2系統のフィルタ装置1A、1Bを有しているが、フィルタ装置1は1系統でもよいし、3系統以上でもよい。2系統以上のフィルタ装置1を設けることによって、システムの連続運転性とメンテナンス性を向上させることができる。
取込口52とフィルタ装置1とは、取込ライン54を介して接続されている。取込ライン54には、電磁弁55と昇圧ブロア56が設けられている。電磁弁55を開弁することによって、排ガスEGを取込ライン54に取り込むことができる。取り込まれた排ガスEGは昇圧ブロア56によって昇圧されて、フィルタ装置1に送り込まれる。
取込口52は、ダクト51内で、排ガスEGの下流側を向いて開口している。取込ライン54は、昇圧ブロア56の下流側で2系統に分岐している。取込ライン54は、一方のフィルタ装置1Aと接続される第一取込ライン54aと、他方のフィルタ装置1Bと接続される第二取込ライン54bとに分岐している。
第一取込ライン54aには、第一取込弁45aが設けられている。第二取込ライン54bには、第二取込弁45bが設けられている。第一取込弁45aと第二取込弁45bを操作することで、排ガスEGが導入されるフィルタ装置1を選択することができる。
フィルタ装置1の下流側とダクト51とは、返送ライン57によって接続されている。返送ライン57の下流側の端部の返送口59は、排ガスEGが流れ込まないよう、排ガスEGの下流側を向いて開口している。
フィルタ装置1は、排ガスEGを導入するガス導入口3と、ガス導入口3から導入された排ガスEGをそのまま排出するガス排出口4と、煤塵を濾過するフィルタ5と、排ガスEGをフィルタ5を介して排出する排出口(第一排出口6、第二排出口7、及び第三排出口8)と、を有するフィルタ部2を有している。
フィルタ装置1は、第一排出口6を開閉する第一弁9と、第二排出口7を開閉する第二弁10と、第三排出口8を開閉する第三弁11と、制御装置12と、第一弁9、第二弁10、及び第三弁11の下流側とガス分析計53とを接続する分析ライン13と、を有している。分析ライン13は、各々の弁に設けられており、下流側で1つにまとめられている。
分析ライン13には、フィルタ装置1を流れる排ガスEGを吸引する機能を有するポンプ14が設けられている。ポンプ14は、後述のガス分析計53に内蔵されてもよい。ガス分析計53を経た排ガスEGは、第二返送ライン58を介してダクト51に返送される。第二返送ライン58の下流側の端部の返送口は、排ガスEGの下流側を向いて開口している。
フィルタ装置1は、取込ライン54を流れる排ガスEGの圧力と、分析ライン13を流れる排ガスEGの圧力との差圧を計測する差圧計15を有している。差圧計15と制御装置12とは、電気的に接続されている。即ち、差圧計15で計測された差圧は、制御装置12に入力される。
制御装置12と、第一弁9、第二弁10及び第三弁11とは、電気的に接続されている。また、制御装置12は、電磁弁55、昇圧ブロア56、第一取込弁45a、第二取込弁45b、ポンプ14、及びガス分析計53と電気的に接続されている。制御装置12は、第一弁9、第二弁10、第三弁11、電磁弁55、昇圧ブロア56、第一取込弁45a、第二取込弁45b、ポンプ14、及びガス分析計53を適宜制御して、排ガスEGの分析を実施する。
次に、フィルタ装置1の詳細構造について説明する。
図2に示すように、フィルタ装置1は、取込ライン54に接続された第一配管17と、第一配管17の下流側に接続されたフィルタ部2と、フィルタ部2の下流側に接続された第二配管20と、を有している。
第一配管17は、取込ライン54の下流側に接続されている配管である。第一配管17は、管状の第一配管本体18と、第一配管本体18の端部に設けられて径方向外側に突出する第一配管フランジ19(第四フランジ)と、を有している。
第一配管17と取込ライン54とは、フレキシブル管23を介して接続されている。フレキシブル管23は、可撓性を有する継手であって、例えば、フッ素樹脂によって形成されている。フレキシブル管23を形成する材料としては、フッ素樹脂に限ることはなく、メタルホース、ゴムなどで耐圧性、耐熱性かつ柔軟性を有する材料の採用も可能である。
第一配管17には、乱流発生部25が設けられている。乱流発生部25は、取込ライン54を介して流入する排ガスEGのガス流を乱流に変化させる部位である。取込ライン54を介して流入する排ガスEGは、層流に近い状態であるが、乱流発生部25を通過することによって乱流に変化する。
本実施形態の乱流発生部25は、第一配管17に配置されたオリフィスである。図3に示すように、乱流発生部25は、主面が第一配管17の延在方向と直交する板状部材である本体部26と、本体部26の中心に形成された孔部27と、を有している。孔部27は、円形であり、本体部26の中心に形成されている。孔部27の形状、位置、及び数はこれに限ることはなく、例えば、矩形状の孔を複数形成してもよい。
また、乱流発生部25は、フィルタ部2の上流側に設けられていれば、第一配管17に設ける必要はなく、第一配管17から独立して設けてもよい。
第二配管20は、返送ライン57の上流側に接続されている配管である。第二配管20は、第二配管本体21と、第二配管本体21の端部に設けられて径方向外側に突出する第二配管フランジ22(第五フランジ)と、を有している。第二配管本体21は、フレキシブル管23と同様に、可撓性を有する材料によって形成されている。
フィルタ部2は、円筒形状の内筒28と、内筒28の内周側に配置された円筒状のフィルタ5と、内筒28の外周側に配置された外筒31と、フィルタ部2を複数の室に仕切る仕切部35と、を有している。内筒28と外筒31とは、同軸状に配置されている。
内筒28は、筒状のパンチングメタル筒29と、パンチングメタル筒29の一方の端部に設けられた内筒フランジ30(第一フランジ)と、を有している。パンチングメタル筒29は、複数の貫通孔43が規則的に形成されているパンチングメタルによって形成されている。パンチングメタル筒29の他方の端部には、フランジは設けられていない。
フィルタ5は、筒状をなしている濾過部材である。フィルタ5は、例えば、濾布によって形成することができる。濾布は、例えば、ガラス繊維や、PTFEなどの樹脂によって形成された繊維を織り込んだ織布や、不織布によって形成されている。
フィルタ5は、内筒28よりも十分長くなるように形成されている。フィルタ5の両端部は、端部に向かうにしたがって広がる形状をなしている。
仕切部35は、内筒28と外筒31との間の円筒形状の空間をフィルタ5の延在方向で仕切る部材である。仕切部35は、内筒28の外周面28aと外筒31の内周面31aとに気密に接触するように形成された環状の部材である。仕切部35は、例えば、PTFEによって形成することができる。
本実施形態のフィルタ部2は、2つの仕切部35を有しており、これにより、空間は、第一室36と、第二室37と、第三室38とに仕切られる。
外筒31は、筒状の外筒本体32と、外筒本体32の一方の端部に設けられた上流側外筒フランジ33(第二フランジ)と、外筒本体32の他方の端部に設けられた下流側外筒フランジ34(第三フランジ)と、を有している。
外筒本体32の第一室36に対応する箇所には、第一排出口6が設けられている。第一排出口6は、第一分析ライン13aを介してガス分析計53と接続されている。第一分析ライン13aと第一排出口6との間には、フレキシブル管40が介在している。第一弁9は、第一分析ライン13a上に設けられている。
外筒本体32の第二室37に対応する箇所には、第二排出口7が設けられている。第二排出口7は、第二分析ライン13bを介してガス分析計53と接続されている。第二分析ライン13bと第二排出口7との間には、フレキシブル管40が介在している。第二弁10は、第二分析ライン13b上に設けられている。
外筒本体32の第三室38に対応する箇所には、第三排出口8が設けられている。第三排出口8は、第三分析ライン13cを介してガス分析計53と接続されている。第三分析ライン13cと第三排出口8との間には、フレキシブル管40が介在している。第三弁11は、第三分析ライン13c上に設けられている。
上記したように、フィルタ部2と、フィルタ部2に接続される配管との間には、フレキシブル管が介在している。具体的には、フィルタ部2と取込ライン54との間には、フレキシブル管23が設けられ、フィルタ部2と返送ライン57との間には、フレキシブル管として機能する第二配管20が設けられ、フィルタ部2と分析ライン13との間には、フレキシブル管40が設けられている。
外筒31には、外筒31を振動させるバイブレータ44が取り付けられている。バイブレータ44は、例えば、モータと、モータのシャフトに取り付けられた錘とからなる装置を採用することができる。バイブレータ44は制御装置12と電気的に接続され、制御装置12により駆動される。バイブレータ44は、外筒本体32の外周面に取り付けられている。バイブレータ44が駆動することによって、外筒31を介してフィルタ5を振動させることができる。
ここで、フィルタ装置1の組み立て方法について説明する。
(1)まず、図4に示すように、内筒28の外周面に仕切部35を巻き付ける。仕切部35は、内筒28の長さ方向で、第一室36と第二室37と第三室38とが略同じ大きさとなるような位置に配置する。
(2)次いで、図5に示すように、筒状のフィルタ5を内筒フランジ30側から内筒28の内側に挿入する。次いで、フィルタ5の両端部を全周にわたって内筒28の径方向外側に広げる。
(3)次いで、図5に示すように、内筒28の外周面にOリング46(又はガスケット)などのシール装置を挿入した後、内筒28を外筒31の径方向内側に挿入する。次いで、フィルタ5の端部を、外筒31の外側に引き出す。
(4)次いで、図2に示すように、フィルタ部2の内筒フランジ30及び上流側外筒フランジ33と、第一配管17の第一配管フランジ19とをボルト及びナットなどの締結部材47で締結する。この際、内筒フランジ30と第一配管フランジ19との間にOリング46(又はガスケット)などのシール装置を配置する。また、内筒フランジ30と第一配管フランジ19とは、内筒フランジ30と第一配管フランジ19との間にフィルタ5を挟み込んで接続される。
(5)次いで、図2に示すように、フィルタ部2の下流側外筒フランジ34と、第二配管20の第二配管フランジ22とをボルト及びナットなどの締結部材47で締結する。この際、下流側外筒フランジ34と第二配管フランジ22との間にOリング46(又はガスケット)などのシール装置を配置する。また、下流側外筒フランジ34と第二配管フランジ22とは、下流側外筒フランジ34と第二配管フランジ22との間に、フィルタ5を挟み込んで接続される。
以上の組み立て方法を実施し、さらに外筒31にバイブレータ44を取り付けることによって、図2に示すようなフィルタ装置1が完成する。
制御装置12は、まず、第一弁9、第二弁10、及び第三弁11のうち一つの弁、例えば、第一弁9のみを開弁する制御を行う。即ち、複数の弁のうち、一つの弁のみを開弁する制御を行う。
次に、制御装置12は、差圧計15によって計測された差圧が所定値以上であった場合に、すでに開弁していた弁と異なる弁、例えば、第二弁10のみを開弁する制御を行う。即ち、差圧が所定値以上であった場合に、その時点で開弁している弁とは異なる弁のみを開弁する制御を行う。換言すれば、差圧が所定値以上となり、フィルタ5の目詰まりが進行しているとみなされる場合に、開弁する弁を変更する制御を行う。
本実施形態のフィルタ装置1のように、第一弁9、第二弁10、及び第三弁11の三つの弁を有する構成では、第一弁9が開弁している状態で、差圧が所定値以上になった場合、例えば、第二弁10のみを開弁し、第一弁9を閉弁するように変更する。また、第二弁10が開弁している状態で、差圧が所定値以上になった場合、これまでに開弁した第一部及び第二弁以外の第三弁11のみを開弁し、第二弁10を閉弁するように変更する。さらに、第三弁11が開弁している状態で、差圧が所定値以上になった場合、第一弁から第三弁の全ての弁が一度は開弁したので、再び開弁手順を第一弁9から繰り返す。すなわち、第一弁9のみを開弁し、第三弁11を閉弁するように変更する。このように、現時点で開弁している弁に対応する部屋のフィルタにおける差圧が所定値以上になった場合、当該弁を閉じ、別の弁を開弁して別の部屋のフィルタを用いてフィルタリングを継続する。本実施形態では、開弁する弁は、第一弁、第二弁、第三弁の順で、順次変更される。しかしながら、開弁の順番はこれに限定されることなく、第一弁、第三弁、第二弁の順で開弁されるなど、適宜設計可能である。
ここで、弁の切り替えのタイミングは厳密なものではなく、例えば、全ての弁が閉弁するタイミングがあってよい。
なお、ここでは、弁フィルタ装置1は、第一弁9、第二弁10、及び第三弁11の三つの弁を備えているが、弁の数は、三つに限らず、二つ、または四つ以上であってもよい。その場合も、上記と同様に動作し、現時点で開弁している弁に対応する部屋のフィルタにおける差圧が所定値以上になった場合、当該弁を閉じ、別の弁を開弁して別の部屋のフィルタを用いてフィルタリングを継続する。
次に、ガス分析システム50の制御方法について説明する。なお、ガス分析システム50では、2つのフィルタ装置1A、1Bのうち、一方のフィルタ装置1Aを使用し、定期的に使用するフィルタ装置1を変更したり、メンテナンス時に異なるフィルタ装置1を使用したりする。
図6に示すように、ガス分析システム50の制御方法は、電磁弁55を開弁するとともに、昇圧ブロア56を始動する排ガス導入工程S1と、3つの弁のうち一の弁のみを開弁し、他の2つの弁は閉弁する第一開弁工程S2と、差圧計15によって計測された差圧が所定値以上か否かを判定する差圧判定工程S3と、一の弁と異なる弁のうち1つの弁のみを開弁し、他の2つの弁は閉弁する弁変更工程(第二開弁工程)S4と、差圧計15によって計測された差圧が所定値以上か否かを判定する差圧判定工程S5と、3つの弁のうち第一及び第二開弁工程で開弁していない1つの弁を開弁し、他の2つの弁は閉弁する弁変更工程(第三開弁工程)S6と、差圧計15によって計測された差圧が所定値以上か否かを判定する差圧判定工程S7を有している。
以下にフィルタ装置1としてフィルタ装置1Aを使用した各工程について説明する。説明は省略するがフィルタ装置1Bを使用した場合も同様である。
排ガス導入工程S1では、制御装置12は、電磁弁55及び第一取込弁45aを開弁するとともに、昇圧ブロア56を始動する。これにより、取込口52及び取込ライン54と取込ライン54aを介して排ガスEGがフィルタ装置1に導入される。
第一開弁工程S2では、制御装置12は、第一弁9、第二弁10、及び第三弁11のうち、例えば、第一弁9のみを開弁し、第二弁10と第三弁11は閉弁する。取込ライン54では昇圧ブロア56で排ガスEGがフィルタ装置1に昇圧されて送り込まれるとともに、分析ライン13では排ガスEGがポンプ14により吸引されているので、排ガスEGは、第一室36に流入し、その際、第一室36に対応するフィルタ5の一部によって煤塵が除去される。煤塵が除去された排ガスEGはガス分析計53に導入される。ガス分析計53は、導入された排ガスEGの有害成分の含有量を分析する。
差圧判定工程S3では、制御装置12は、差圧計15によって計測された取込ライン54を流れる排ガスEGの圧力と、分析ライン13を流れる排ガスEGの圧力との差圧が所定値以上か否かを判定する。差圧が所定値より小さい場合(No)、開弁する弁を変更することなく、分析を続行する。
差圧が所定値以上である場合(Yes)、即ち、フィルタ5の目詰まりが進行している場合、弁変更工程(第二開弁工程)S4に進んで、第一弁9とは異なる弁、例えば第二弁10のみを開弁し、第一弁9を閉弁する。先述の第一弁9の開弁の場合と同様、昇圧ブロア56とポンプ14により、排ガスEGは、第二室37に流入し、その際、第二室37に対応するフィルタ5の一部によって煤塵が除去される。
差圧判定工程S5では、差圧判定工程S3と同様、差圧が所定値より小さい場合(No)、制御装置12は、開弁する弁を変更することなく、分析を続行する。差圧が所定値以上である場合(Yes)、弁変更工程(第三開弁工程)S6に進んで、第一弁9と第二弁10とは異なる弁、すなわち第三弁11のみを開弁し、第二弁10を閉弁する。先述の第一弁9の開弁の場合と同様、昇圧ブロア56とポンプ14により、排ガスEGは、第三室38に流入し、その際、第三室38に対応するフィルタ5の一部によって煤塵が除去される。
差圧判定工程S7では、差圧判定工程S3、S5と同様、差圧が所定値より小さい場合(No)、制御装置12は、開弁する弁を変更することなく、分析を続行する。差圧が所定値以上である場合(Yes)、第一開弁工程S2に進む。
次に、本実施形態のフィルタ装置1の作用について説明する。
第一弁9が開弁されることによって、排ガスEGが第一室36に対応するフィルタ、すなわちフィルタ5の一部5aを介して第一排出口6から排出されてガス分析計53に送られる。また、第二弁10が開弁されることによって、排ガスEGがフィルタ5の一部5aとは異なる他部5bを介して第二排出口7から排出されてガス分析計53に送られる。他部5bは、第二室37に対応するフィルタであり、フィルタ5の一部である。さらに、第三弁11が開弁されることによって、排ガスEGがフィルタ5の一部5a、他部5bとは異なる他部5cを介して第三排出口8から排出されてガス分析計53に送られる。他部5cは、第三室38に対応するフィルタであり、フィルタ5の一部である。即ち、開弁する弁を切り替えることによって、濾過に使用されるフィルタ5の部位が変更される。
制御装置12によって、開弁される弁が切り替えられることによって、第一室36、第二室37、第三室38のうちフィルタリングが行われている一つの部屋に対応するフィルタ(フィルタ5の一部であり、フィルタリングが行われている箇所)において、煤塵がフィルタ5の奥深くに入り込む前に、当該箇所でのフィルタリングを止め、別の部屋に対応するフィルタ(フィルタ5の一部)で、フィルタリングを行うことができる。上記一つの部屋に対応するフィルタ(フィルタ5の一部)は、分析ライン13に接続される弁が切り替えられることでフィルタリングが止められ、ポンプ14の吸引力が及ばない。このため、当該一部に堆積または目詰まりした煤塵は、ガス導入口3からガス排出口4に向かうガスEGの昇圧された流れによって、容易に吹き飛ばすことができる。すなわち、逆洗装置など特別な装置を要することなく、フィルタのセルフクリーニングが可能となる。
また、排ガスEGは、乱流発生部25を通過することによって、乱流に変化する。乱流となった排ガスEGがフィルタ5の内面上を流れることによって、フィルタ5上に堆積した煤塵やフィルタ5の表層に入り込んだ煤塵を容易に吹き飛ばすことができる。
また、制御装置12によってバイブレータ44が駆動されて、外筒31を介してフィルタ5が振動する。これにより、フィルタ5上に堆積した煤塵やフィルタ5の表層に入り込んだ煤塵を振るい落とすことができる。
以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述したが、具体的な構成はこの実施の形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。
なお、上記実施形態では、差圧計15によって計測された差圧に基づいて弁の制御を行う構成としたが、これに限ることはない。例えば、所定時間が経過した場合に開弁する弁を変更してもよい。即ち、取込ライン54を流れる排ガスEGの圧力と、分析ライン13を流れる排ガスEGの圧力との間の差圧を参照することなく、順次開弁する弁を切り替える制御を行ってもよい。このような構成によれば、差圧計15を設けることなく、フィルタ5のセルフクリーニングが可能となる。
また、上記実施形態では、仕切部35によって3つの室(第一室36、第二室37、第三室38)を形成する構成としたが、室の数はこれに限ることはなく、仕切部35によって複数の室が形成されていればよい。その場合、各室に対応する排出口(第一排出口6、第二排出口7、第三排出口8、など)及び弁(第一弁9、第二弁10、第三弁11、など)が配置される。
なお、上記実施形態では、乱流発生部25をオリフィスとしたが、これに限ることはない。例えば、図7に示す第一変形例のように乱流発生部25を渦流発生機構として、ガス流を螺旋状に変化させてもよい。第一変形例の乱流発生部25Bは、配管を閉塞するように形成された円柱部材41と、円柱部材41の外周面に形成された螺旋状の溝42と、を有している。乱流発生部25Bを通過したガス流は、螺旋状の溝42と第一配管17の内周面との間を通過することによって、渦流となる。
また、乱流発生部25を、図8に示す第二変形例のような形態としてもよい。第二変形例の乱流発生部25Cは、第一配管17を閉塞するような円柱部材41と、円柱部材41の一面41aと他面41bとの間を貫通する複数の貫通孔43と、を有している。各々の貫通孔43は、ガス流が渦流となるように、配管の軸線方向に対して傾斜するように形成されている。
1 フィルタ装置
2 フィルタ部
3 ガス導入口
4 ガス排出口
5 フィルタ
6 第一排出口
7 第二排出口
8 第三排出口
9 第一弁
10 第二弁
11 第三弁
12 制御装置
13 分析ライン
13a 第一分析ライン
13b 第二分析ライン
13c 第三分析ライン
14 ポンプ
15 差圧計
17 第一配管
18 第一配管本体
19 第一配管フランジ(第四フランジ)
20 第二配管
21 第二配管本体
22 第二配管フランジ(第五フランジ)
23 フレキシブル管
25 乱流発生部
26 本体部
27 孔部
28 内筒
29 パンチングメタル筒
30 内筒フランジ(第一フランジ)
31 外筒
32 外筒本体
33 上流側外筒フランジ(第二フランジ)
34 下流側外筒フランジ(第三フランジ)
35 仕切部
36 第一室
37 第二室
38 第三室
40 フレキシブル管
41 円柱部材
42 溝
43 貫通孔
44 バイブレータ
45a 第一取込弁
45b 第二取込弁
50 ガス分析システム
51 ダクト
52 取込口
53 ガス分析計
54 取込ライン
54a 第一取込ライン
54b 第二取込ライン
55 電磁弁
56 昇圧ブロア
57 返送ライン
58 第二返送ライン
EG 排ガス

Claims (5)

  1. 煤塵含有ガスが導入されるガス導入口と、前記ガス導入口から導入された前記煤塵含有ガスをそのまま排出するガス排出口と、フィルタと、前記煤塵含有ガスを前記フィルタの一部を介して排出する第一排出口と、前記煤塵含有ガスを前記フィルタの一部とは異なる前記フィルタの他部を介して排出する第二排出口と、を備えたフィルタ部と、
    前記第一排出口を開閉する第一弁と、
    前記第二排出口を開閉する第二弁と、
    前記第一弁及び前記第二弁を開閉制御する制御装置と、
    前記ガス導入口から導入される前記煤塵含有ガスのガス流を乱流に変化させる乱流発生部と、
    を有し、
    前記制御装置は、前記第一弁を開弁し且つ前記第二弁を閉弁し、前記フィルタの前記一部の目詰まりが進行した場合、または所定時間が経過した場合に、前記第一弁を閉弁し且つ前記第二弁を開弁して前記乱流により前記一部のセルフクリーニングをし、前記セルフクリーニングの後、再び前記第一弁を開弁することを特徴とするフィルタ装置。
  2. 記フィルタは、筒状をなし、
    前記ガス導入口は、前記フィルタの内周側に前記煤塵含有ガスを導入するように配置され、
    前記乱流発生部は、前記ガス流を螺旋状に変化させる渦流発生機構、又は前記ガス流を前記螺旋状以外の乱流に変化させるオリフィスを有することを特徴とする請求項1に記載のフィルタ装置。
  3. 前記フィルタ部は、
    筒状のパンチングメタルと、前記パンチングメタルの一方の端部に設けられた第一フランジと、を有する内筒と、
    前記内筒の外周側に配置された筒状の外筒本体と、前記外筒本体の一方の端部に設けられて前記第一フランジと接続される第二フランジと、前記外筒本体の他方の端部に設けられて前記ガス排出口をなす第三フランジと、を有する外筒と、
    前記パンチングメタルの外周面と前記外筒の内周面との間を気密に仕切って第一室及び第二室を形成する仕切部と、
    第一配管本体と、前記第一配管本体の他方の端部に設けられて前記第一フランジと接続される第四フランジと、を有する第一配管と、
    第二配管本体と、前記第二配管本体の一方の端部に設けられて前記第三フランジと接続される第五フランジと、を有する第二配管と、を有し、
    前記フィルタは、前記パンチングメタルの内周に沿って配置された筒状の濾布であり、
    前記第一排出口は、前記外筒の前記第一室に対応する位置に配置され、
    前記第二排出口は、前記外筒の前記第二室に対応する位置に配置され、
    前記第一フランジと前記第二フランジは、Oリングまたはガスケットを介して接続され、
    前記第一フランジと前記第四フランジは、Oリングまたはガスケットを介し且つ前記濾布を挟み込んで接続され、
    前記第三フランジと前記第五フランジは、Oリングまたはガスケットを介し且つ前記濾布を挟み込んで接続されることを特徴とする請求項2に記載のフィルタ装置。
  4. 前記外筒を振動させるバイブレータと、
    前記ガス導入口、前記ガス排出口、前記第一排出口、及び前記第二排出口に配置されたフレキシブル管と、をさらに有し、
    前記制御装置は、フィルタの目詰まりが進行した場合、または所定時間が経過した場合に、前記バイブレータを駆動することを特徴とする請求項3に記載のフィルタ装置。
  5. 請求項1から請求項4のいずれか一項に記載のフィルタ装置と、
    前記煤塵含有ガスが流れるダクトと、
    前記ダクトに配置された取込口と、
    前記取込口と前記ガス導入口との間に配置され、前記取込口から前記ガス導入口へ前記煤塵含有ガスを送り込む昇圧ブロアと、
    前記第一弁及び前記第二弁の下流側に接続されたガス分析計と、
    前記ガス排出口から排出された前記煤塵含有ガスを前記ダクトへ返送する返送ラインと、を有することを特徴とするガス分析システム。
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