JP6438264B2 - 物品検査装置 - Google Patents
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Description
図1において、本発明の一実施形態に係る物品検査装置1は、搬送部2と、検査部3と、表示操作部4と、判定部5と、制御回路6と、検査記録情報蓄積部9と、を備えている。
2 搬送部
3 検査部
3A X線検出部
3B 金属検出部
3C 重量検出部
4 表示操作部(表示部)
5 判定部
6 制御回路
7 記憶部
8 制御部(集計部)
9 検査記録情報蓄積部
52 搬入センサ
W 被検査物
Claims (4)
- 装置の動作来歴に関する情報である来歴情報を蓄積する検査記録情報蓄積部(9)と、 前記来歴情報から装置の異常の発生回数を前記異常の種別ごとに集計して発生回数の多い順に表示部(4)に表示させる集計部(8)と、を備える物品検査装置。
- 前記集計部は、前記来歴情報に区切りを設定し、前記区切りの前後での前記異常の発生回数を予め設定された条件で集計して表示部に表示させる請求項1に記載の物品検査装置。
- 前記集計部は、表示された前記異常の種別ごとの発生回数から選択された前記異常の種別の発生日時を全て前記表示部に表示させる請求項1または2に記載の物品検査装置。
- 前記集計部は、表示された前記異常の発生日時から選択された発生日時の前後の前記来歴情報を前記表示部に表示させる請求項3に記載の物品検査装置。
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