JP2013113648A - 放射線測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】波形分析器4のノイズ判定ロジック41は、逆極性波高過大判定ロジック411、パルス幅異常判定ロジック412、アンダーシュート不足判定ロジック413、波高過大判定ロジック414を含み、各判定ロジックによるノイズ判定結果をb1〜b4の各カウンタ416〜419により個別に計数する。その計数値に基づいて演算器5は個別ノイズ混入率を求め、表示器7は指示値と共に個別ノイズ混入率、ノイズ波形の特徴から推定されるノイズ発生箇所及びノイズ要因等を表示する。これにより、指示値上昇の原因が放射線の増加によるものかノイズの影響によるものか、さらにノイズが放射線検出器1の異常によるものか外来ノイズによるものかを正確且つ迅速に判断することができる。
【選択図】図4
Description
以下に、本発明の実施の形態1に係る放射線測定装置について、図面に基づいて説明する。図1は、本実施の形態1に係る放射線測定装置の構成を示している。本実施の形態1に係る放射線測定装置は、原子炉施設、使用済燃料再処理施設等において放射線量を監視するために使用される放射線測定装置であり、図1に示すように、放射線検出器1、パルス増幅器2、高速ADコンデンサ3、波形分析器4、演算器5、メモリ6及び表示器7を含んで構成される。
パルスの波形を測定し、波形データを出力する。
τ=1/(2mσ2)・・・(式2)
m=eγM=2γM/ln2・・・(式3)
γ=2σ2=1/(mτ)=2−λln2・・・(式4)
α=11−λ・・・(式5)
m(今回)=eγM(今回)=2γM(今回)/In2・・・(式7)
本発明の実施の形態2に係る放射線測定装置の構成は、上記実施の形態1と同様であるので図1を流用して説明する。本実施の形態2では、今回ノイズ混入率が所定の値以上であった場合に、一過性のノイズであるかどうかを確認し、一過性のノイズによる指示値(計数率または放射線量)上昇を抑制するものである。
YES)、ステップ5(S5)に進み、ノイズ侵入累積回数に1を加算する。
S3において今回ノイズ混入率B´/A´が所定の値k以上であったのは、一過性のノイズによるものではなく、放射線検出器1の故障等に起因する継続的なノイズであると判断している。
め、放射線測定装置の耐ノイズ性評価を行うことができる。
図4は、本発明の実施の形態3に係る放射線測定装置の構成を示している。なお、図4中、図1と同一部分には同一符号を付し説明を省略する。上記実施の形態1では、高速ADC3から出力されたアナログパルスの波形データを、波形分析器4のノイズ判定ロジック41において、b1〜b4の各判定ロジック411〜414の判定順序を特に規定せずにノイズ判定し、ORロジック415でOR処理を行った。
シュート不足」及び「波高過大」の場合は、ノイズ箇所は「放射線検出器」と表示される。また、「アンダーシュート不足」のノイズ要因として、HV信号ライン絶縁不良(暗流放電ノイズ)、HV信号ライン断線(接断ノイズ)、HV信号ライン絶縁物剥離(電荷移動ノイズ)と表示される。また、「波高過大」のノイズ要因として、絶縁物の擦れ、割れ(静電気放電光ノイズ)と表示される。
図6は、本発明の実施の形態4に係る放射線測定装置の構成を示している。なお、図6中、図4と同一部分には同一符号を付し説明を省略する。上記実施の形態3では、波形分析器4のノイズ判定ロジック41において、b1、b2、b3、b4(あるいはb2、b1、b3、b4)の各判定ロジックの順にノイズ判定を行い、それぞれのノイズ判定結果をb1〜b4の各カウンタ416〜419により個別にカウントするようにした。
図7は、本発明の実施の形態5に係る放射線測定装置の構成を示している。なお、図7中、図1と同一部分には同一符号を付し説明を省略する。本実施の形態5に係る放射線測定装置は、上記実施の形態1と同様の構成(図1)に加え、波形分析器4に、加算入力451と減算入力452を有するアップダウンカウンタ45と、周波数合成器(回路)46及び積算制御器(回路)47を備えたものである。
M=(1/γ)ln(m)・・・(式31)
回数が所定の値になるまで、前回演算周期の放射線量p(前回M)を出力する。なお、ノイズ侵入累積回数とは、ノイズ混入率が所定の値以上でありノイズの影響が有ると判断された回数である。
以下の場合(YES)、ステップ15(S15)に進み、ノイズ侵入累積回数に1を加算する。
においてノイズ侵入継続回数がwより大きい場合(NO)には、一過性のノイズではないと判断し、S24に進み、今回出力として正規の出力である放射線量p(今回M)を採用する。S18、S24の処理実行後は、ステップ25(S25)に進み、所定の演算処理を実行し、S11に戻る。
5 演算器、6 メモリ、7 表示器、41 ノイズ判定ロジック、
42 波高a判定ロジック、43 第1のカウンタ、44 第2のカウンタ、
45 アップダウンカウンタ、46 周波数合成器、47 積算制御器、
411 逆極性波高過大(b1)判定ロジック、
412 パルス幅異常(b2)判定ロジック、
413 アンダーシュート不足(b3)判定ロジック、
414 波高過大(b4)判定ロジック、415 ORロジック、
416 逆極性波高過大(b1)カウンタ、417 パルス幅異常(b2)カウンタ、
418 アンダーシュート不足(b3)カウンタ、419 波高過大(b4)カウンタ、451 加算入力、452 減算入力。
Claims (17)
- 放射線を検出してアナログパルスを出力する放射線検出手段、
該アナログパルスを入力して所定の波高レベル以上のものについて波形を測定し波形データを出力する波形測定手段、
前記波形測定手段から入力した波形データを分析し、所定の波高範囲条件を満たす波形のパルスaを計数した計数値Aと、ノイズ波形のパルスbを計数した計数値Bを出力する波形分析手段、
計数値A及び計数値Bを定周期で入力し、該計数値Aに基づく計数率mと放射線量p(A)を求めると共に、計数値A及び計数値Bの所定数の演算周期の移動平均値であるA´及びB´からノイズ混入率B´/A´を求める演算手段、
前記演算手段から出力された計数率m及び放射線量p(A)の少なくとも一つを表示すると共に、必要に応じてノイズ混入率を表示する表示手段を備え、
前記波形分析手段は、入力された波形データの中からノイズ波形の特徴を有するものを識別するノイズ判定手段を有し、前記ノイズ判定手段は、波高が逆極性に所定のレベルを逸脱した部分を有する波形を識別する逆極性波高過大判定手段と、パルス幅が所定の範囲を逸脱した波形を識別するパルス幅異常判定手段と、パルスの立下りのアンダーシュートが逆極性の所定範囲に至らない波形を識別するアンダーシュート不足判定手段と、波高が所定のレベルを超えた波形を識別する波高過大判定手段を含むことを特徴とする放射線測定装置。 - 前記波形測定手段は、電圧データがトリガレベル以上になった時点からの所定時間と、該トリガレベル直前の所定時間を合わせた期間における時系列的に並べられた電圧データを、当該アナログパルスの波形データとして出力することを特徴とする請求項1記載の放射線測定装置。
- 前記演算手段は、放射線量p(A)が所定の値以上の場合に警報を出力し、前記表示手段は、該警報を表示することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の放射線測定装置。
- 前記ノイズ判定手段は、前記逆極性波高過大判定手段、前記パルス幅異常判定手段、前記アンダーシュート不足判定手段、及び前記波高過大判定手段による判定を順次行い、いずれかの判定手段においてノイズと判定された場合には、それ以降の判定をスキップすることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の放射線測定装置。
- 前記波形分析手段は、前記逆極性波高過大判定手段、前記パルス幅異常判定手段、前記アンダーシュート不足判定手段、及び前記波高過大判定手段によりノイズと判定された波形のパルスをそれぞれ個別に計数した計数値B1、B2、B3、B4を出力し、前記演算手段は、計数値A及び計数値B1、B2、B3、B4の所定数の演算周期の移動平均値であるA´及びB1´、B2´、B3´、B4´から、個別ノイズ混入率B1´/A´、B2´/A´、B3´/A´、B4´/A´を求めることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の放射線測定装置。
- 前記ノイズ判定手段は、前記逆極性波高過大判定手段、前記パルス幅異常判定手段、前記アンダーシュート不足判定手段、前記波高過大判定手段の順に判定を行い、最初にノイズと判定した判定手段に対応したノイズとして計数することを特徴とする請求項5記載の放射線測定装置。
- 前記ノイズ判定手段は、前記パルス幅異常判定手段、前記逆極性波高過大判定手段、前記アンダーシュート不足判定手段、前記波高過大判定手段の順に判定を行い、最初にノイ
ズと判定した判定手段に対応したノイズとして計数することを特徴とする請求項5記載の放射線測定装置。 - 前記ノイズ判定手段は、前記逆極性波高過大判定手段、前記パルス幅異常判定手段、前記アンダーシュート不足判定手段、及び前記波高過大判定手段による判定を並行して行い、複数の前記判定手段においてノイズと判定された場合には、優先順位の高い前記判定手段の判定を採用することを特徴とする請求項5記載の放射線測定装置。
- 前記各判定手段の優先順位は、高い方から前記波高過大判定手段、前記アンダーシュート不足判定手段、前記パルス幅異常判定手段、前記逆極性波高過大判定手段であることを特徴とする請求項8記載の放射線測定装置。
- 前記各判定手段の優先順位は、高い方から前記波高過大判定手段、前記アンダーシュート不足判定手段、前記逆極性波高過大判定手段、前記パルス幅異常判定手段であることを特徴とする請求項8記載の放射線測定装置。
- 前記演算手段は、前記各判定手段によりノイズと判定された波形の特徴から、ノイズの発生箇所と要因を推定し、前記表示手段は、ノイズ混入率、個別ノイズ混入率、ノイズ波形の特徴、発生箇所及び要因をそれぞれ必要に応じて表示することを特徴とする請求項5〜請求項10のいずれか一項に記載の放射線測定装置。
- 前記演算手段は、前記逆極性波高過大判定手段及び前記パルス幅異常判定手段により判定されたノイズについて、発生箇所は前記放射線検出手段、放射線測定手段、伝送手段、電源入力手段、及び接地線のいずかであり、要因は外来ノイズであると推定することを特徴とする請求項11記載の放射線測定装置。
- 前記演算手段は、前記アンダーシュート不足判定手段により判定されたノイズについて、発生箇所は前記放射線検出手段であり、要因はHV信号重畳ラインの絶縁不良、断線、及び絶縁物剥離のいずれかであると推定することを特徴とする請求項11記載の放射線測定装置。
- 前記演算手段は、前記波高過大判定手段により判定されたノイズについて、発生箇所は前記放射線検出手段であり、要因は前記放射線検出手段内部の絶縁物の擦れ、割れであると推定することを特徴とする請求項11記載の放射線測定装置。
- 前記演算手段は、ノイズ混入率が所定の値以上の場合にノイズ侵入累計回数を確認し、該回数が所定の値以下の場合には、前回演算周期の計数値Aに基づく放射線量p(前回A)を出力し、所定の値よりも大きい場合には、今回演算周期の計数値Aに基づく放射線量p(今回A)を出力することを特徴とする請求項1〜請求項14のいずれか一項に記載の放射線測定装置。
- 前記波形分析手段は、ノイズ波形のパルスbを所定の重み付けを行って加算計数し、その積算値Mに対応した繰り返し周波数の負帰還パルスを所定の重み付けを行って減算した積算値Mを出力し、前記演算手段は、積算値Mを入力し、計数率m、標準偏差σ、定数γ=2σ2とした時、関係式M=(1/γ)ln(m)から計数率mを求め、積算値Mに基づく放射線量p(M)を求めることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の放射線測定装置。
- 前記演算手段は、今回演算周期の積算値Mに基づく放射線量p(今回M)を正規の出力、今回演算周期の計数値Aに基づく放射線量p(今回A)をバックアップの出力としてそれぞれ求め、通常は放射線量p(今回M)を出力し、ノイズ混入率が所定の値以上の場合にはノイズ侵入累積回数を確認し、該回数が所定の値以下の場合には前回演算周期の放射線量p(前回M)を出力し、所定の値よりも大きい場合には放射線量p(今回M)を出力し、さらに、ノイズ混入率が所定の値より小さくノイズの影響がないと判断され、放射線量p(今回M)が放射線量p(今回A)と同等レベルに復帰するまでの間は、放射線量p(今回A)を出力することを特徴とする請求項16記載の放射線測定装置。
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