JP6418538B2 - 半導体装置及び半導体装置の製造方法 - Google Patents
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Description
また、「第2半導体層の表面には・・・所定の深さの複数のトレンチ」における「所定の深さ」には、第2半導体層と第3半導体層との境界面に達する深さを含むものとする。
また、「層間絶縁膜」とは、電極(第2電極)と半導体基体、又は、電極と他の電極(ゲート電極)との間に形成され、電極(第2電極)と半導体基体との間、又は、電極と他の電極(ゲート電極)との間を絶縁する比較的厚い絶縁膜をいう。
また、「平面的に見て第3半導体層の中央部」とは、平面的に見て、向かい合うトレンチの側壁の中間点付近の領域のことをいい、「平面的に見て第3半導体層の中央」は、平面的に見て、向かい合うトレンチの側壁の中間点のことをいう。
さらにまた、「開口」とは、層間絶縁膜が形成されていない領域のことをいい、例えば、層間絶縁膜が島状に形成されている場合であっても層間絶縁膜が形成されていない領域を開口という。
隣接する前記トレンチに挟まれた部分の前記第2半導体層のうち前記第4半導体層よりも深い部分を第1コラムとし、前記第3半導体層のうち前記第4半導体層よりも深い部分を第2コラムとしたときに、前記第1コラムと前記第2コラムとでスーパージャンクション構造が構成されていることが好ましい。
前記ゲートトレンチの内周面に形成されたゲート絶縁膜と、前記ゲート絶縁膜を介して前記ゲートトレンチの内部に埋め込まれてなるゲート電極とをさらに備えるトレンチゲート型のMOSFETであり、前記第2電極は、前記第4半導体層及び前記第1導電型高濃度拡散領域と接続されていることが好ましい。
1.実施形態1に係る半導体装置100の構成
実施形態1に係る半導体装置100は、図1に示すように、n+型の第1半導体層112の上にn−型の第2半導体層114が積層され、第2半導体層114の表面には所定の方向に沿って配列された所定の深さの複数のトレンチ118が形成され、当該トレンチ118内(トレンチ118内全体)には単結晶のエピタキシャル層からなるp−型の第3半導体層116が形成されている半導体基体(半導体基体710’と同様の構成、図22参照。)と、第1半導体層112の表面上に位置する第1電極126と、第2半導体層114及び第3半導体層116の表面上に位置し、平面的に見て少なくとも第3半導体層116が形成されている領域内に形成された所定の開口128を有する層間絶縁膜122と、層間絶縁膜122上に位置する第2電極124(例えば、アルミニウム)と、開口128の内部に第2電極124を構成する金属とは異なる金属(例えば、タングステン)が充填されてなる金属プラグ130とを備えるPINダイオードである。なお、第2半導体層114は、単結晶のエピタキシャル層からなる。
実施形態1に係る半導体装置100は、以下に示す製造工程を有する製造方法(実施形態1に係る半導体装置の製造方法)により製造することができる。
まず、n+型の第1半導体層112の上に単結晶のエピタキシャル層からなるn−型の第2半導体層114が積層され、第2半導体層114の表面には所定の方向に沿って配列された所定の深さの複数のトレンチ118が形成されており、当該トレンチ118内には単結晶のエピタキシャル層からなるp−型の第3半導体層116が形成されている半導体基体110を準備する。
次に、第2半導体層114及び第3半導体層116の表面の全部に熱酸化膜(図示せず。)を形成する。次に、第2半導体層114及び第3半導体層116の表面に熱酸化膜を介してp型不純物(例えばボロン)をイオン注入する(図3(c)参照。)。次に、当該p型不純物を熱拡散させて第2半導体層114及び第3半導体層116の表面の全部に第4半導体層120を形成する。
次に、上記熱酸化膜上にCVD法によりBPSG膜を形成することにより、第2半導体層114及び第3半導体層116の表面上に(第2半導体層114及び第3半導体層116の全面に)熱酸化膜(図示せず。)及びBPSG膜で構成された層間絶縁膜122を形成する(図3(d)参照。)。
次に、平面的に見て第2半導体層114及び第3半導体層116が形成されている領域内に開口を有するマスク(図示せず。)を層間絶縁膜122上に形成する。このとき、当該マスクにおいては、平面的に見て第3半導体層116が形成されている領域内においては、平面的に見て第3半導体層116の中央部を避けた位置に開口が設けられている。次に、当該マスクを用いてエッチングを行うことにより、層間絶縁膜における、平面的に見て第2半導体層114及び第3半導体層116が形成されている領域内に所定の開口を形成する(図4(a)参照。)。このとき、平面的に見て第3半導体層116が形成されている領域内においては、平面的に見て第3半導体層116の中央部を避けた位置に所定の開口を形成する。従って、第3半導体層116の中央部の表面は、層間絶縁膜122で覆われている。
次に、開口128の底面に、第4半導体層120よりも高い不純物濃度でp型不純物(例えばボロン)をイオン注入する(図4(b)参照。)。次に、当該p型不純物を熱拡散することにより、開口直下に、第4半導体層120よりも不純物濃度が高いp型高濃度拡散領域を開口128の底面と接触するように形成する(図4(c)参照。)。
次に、開口128の内部に第2電極124を構成する金属とは異なる金属を充填することによって金属プラグ130を形成する。具体的には、まず、スパッタ法により開口128の内周面にバリアメタル(図示せず。)を成膜し、当該バリアメタルをアニールする。次にCVD法により当該バリアメタル上にタングステンを成膜する(図5(a)参照。)。次に、CMP法によって層間絶縁膜122上のタングステンを除去することにより、開口128の内部にのみタングステンを残し金属プラグ130を形成する(図5(b)参照。)。なお、バリアメタルの組成としては、チタンナイトライド(TiN)、チタンタングステン(TiW)、モリブデンシリコン(MоSi)等を用いることができる。なお、金属プラグ130形成工程においても、第3半導体層116の中央部の表面は、層間絶縁膜122で覆われている。
次に、第1半導体層112の表面上にTi−Ni−Auなどの多層金属膜を成膜し、第1電極(カソード電極)126を形成するとともに、第3半導体層116及び層間絶縁膜122上にスパッタ法によりAl−Cu系金属を成膜することで第3半導体層116及び層間絶縁膜122上に金属プラグ130を介して接続される第2電極124を形成する(図5(c)参照。)。電極形成工程においても、第3半導体層116の中央部の表面は、層間絶縁膜122で覆われたままであるため、空洞Sに第2電極124の金属が入り込むことがない。
ところで、開口928(及び金属プラグ930)が、平面的に見て第3半導体層916の中央部に位置する半導体装置(比較例に係る半導体装置900、図6(b)参照。)においては、従来のMOSFET700と同様に、第3半導体層916と第2電極924とのコンタクトを取る際、上記空洞Sの内部に第2電極924の金属が入り込み、上記空洞Sの内部の金属が電極電位になる。従って、上記第2電極924に負の電位を与えた場合には、第2半導体層914と第3半導体層916との間のpn接合面から第2電極924側に伸びる空乏層が上記空洞Sの内部の金属に接触してリーチスルーモードのブレークダウンが発生し易く耐圧が低下し易くなる。
実施形態2に係る半導体装置102は、基本的には実施形態1に係る半導体装置100と同様の構成を有するが、第2電極が第3半導体層と直接接続されている点で実施形態1に係る半導体装置100の場合とは異なる。すなわち、実施形態2に係る半導体装置102においては、図7に示すように、開口128の内部には、第2電極124を構成する金属がそのまま充填されており、第2電極124は、第4半導体層120と直接接続されている。なお、開口128の内表面にバリアメタル(図示せず)が形成されていてもよい。
実施形態3に係る半導体装置104は、基本的には実施形態1に係る半導体装置100と同様の構成を有するが、PINダイオードではなくショットキーバリアダイオードである点で実施形態1に係る半導体装置100の場合とは異なる。すなわち、実施形態3に係る半導体装置104は、図8に示すように、金属プラグ130がバリア金属であり、第2電極124が第3半導体層116に加えて第2半導体層114とも接続されているショットキーバリアダイオードである。なお、実施形態3においては、実施形態1のようなp+型高濃度拡散領域132が形成されていない。また、第3半導体層116の表面には、p型拡散領域120’が形成されている。
実施形態4に係る半導体装置200は、基本的には実施形態1に係る半導体装置100と同様の構成を有するが、ダイオードではなくMOSFETである点で実施形態1に係る半導体装置100の場合とは異なる。すなわち、実施形態4に係る半導体装置200は、図9に示すように、半導体基体210において、第1半導体層212は、n+型の半導体層であり、第4半導体層220は、第2半導体層214及び第3半導体層216の表面の全部に形成されたベース層であり、第4半導体層220の表面には、第1導電型高濃度拡散領域240(ソース領域240)が形成されており、半導体装置200は、平面的に見てトレンチ218が形成されていない領域に位置し、第4半導体層220の最深部よりも深い深さ位置まで、かつ、ソース領域240の一部が内周面に露出するように形成されたゲートトレンチ234と、ゲートトレンチ234の内周面に形成されたゲート絶縁膜236と、ゲート絶縁膜236を介してゲートトレンチ234の内部に埋め込まれてなるゲート電極238とを備えるトレンチゲート型のMOSFETである。第2電極224は、第4半導体層220及びソース領域240と接続されている。
実施形態5に係る半導体装置202は、基本的には実施形態4に係る半導体装置200と同様の構成を有するが、第2電極が第3半導体層と直接接続されている点で実施形態4に係る半導体装置200の場合とは異なる。すなわち、実施形態5に係る半導体装置202においては、図10に示すように、開口228の内部には、第2電極224を構成する金属がそのまま充填されており、第2電極224は、第2半導体層214の表面に形成された第4半導体層220及びソース領域240と直接接続されている。
実施形態6に係る半導体装置204は、基本的には実施形態5に係る半導体装置202と同様の構成を有するが、トレンチゲートMOSFETではなくプレーナーゲートMOSFETである点が実施形態5に係る半導体装置202の場合とは異なる。すなわち、実施形態6に係る半導体装置204は、図11に示すように、半導体基体210において、第1半導体層212は、n+型の半導体層であり、第4半導体層220は、第2半導体層214の表面の一部及び第3半導体層216の表面の全部に形成されたベース層であり、第4半導体層220の表面の一部には、ソース領域240(第1導電型高濃度拡散領域)が形成されており、半導体装置204は、ソース領域240と第2半導体層214とに挟まれた第4半導体層220を少なくとも覆うようにゲート絶縁膜242を介して形成されたゲート電極244をさらに備えるプレーナーゲート型のMOSFETである。
実施形態7に係る半導体装置300は、基本的には実施形態4に係る半導体装置200と同様の構成を有するが、MOSFETではなくIGBTである点が実施形態4に係る半導体装置200の場合とは異なる。図12に示すように、第1半導体層312は、p+型の半導体層であり、実施形態7に係る半導体装置300は、トレンチゲート型のIGBTである。
Claims (16)
- 第1導電型又は第2導電型の第1半導体層の上に第1導電型の第2半導体層が積層され、前記第2半導体層の表面には所定の深さのトレンチが形成され、当該トレンチ内全体に単結晶のエピタキシャル層からなる第2導電型の第3半導体層が形成されている半導体基体と、
前記第1半導体層の表面上に位置する第1電極と、
前記第2半導体層及び前記第3半導体層の表面上に位置し、平面的に見て少なくとも前記第3半導体層が形成されている領域内に形成された所定の開口を有する層間絶縁膜と、
前記層間絶縁膜上に位置する第2電極とを備え、
前記開口の内部には金属が充填されている半導体装置であって、
前記開口は、平面的に見て前記第3半導体層の中央部を避けた位置に位置し、
前記第2電極は、前記開口の内部に充填された前記金属を介して少なくとも前記第3半導体層と接続されており、
前記第3半導体層の中央部の表面は、前記層間絶縁膜で覆われていることを特徴とする半導体装置。 - 平面的に見て前記第3半導体層の中央から前記開口の側壁のうち前記第3半導体層の中央に最も近い側壁までの長さが0.1μm以上であることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- 前記開口の内部に前記第2電極を構成する金属とは異なる金属が充填されてなる金属プラグをさらに備え、
前記第2電極は、前記金属プラグを介して少なくとも前記第3半導体層と接続されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体装置。 - 前記開口の内部には、前記第2電極を構成する金属がそのまま充填されており、
前記第2電極は、少なくとも前記第3半導体層と直接接続されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体装置。 - 前記半導体基体における前記第2半導体層及び前記第3半導体層の表面の少なくとも一部には第2導電型の第4半導体層が形成されており、
隣接する前記トレンチに挟まれた部分の前記第2半導体層のうち前記第4半導体層よりも深い部分を第1コラムとし、前記第3半導体層のうち前記第4半導体層よりも深い部分を第2コラムとしたときに、前記第1コラムと前記第2コラムとでスーパージャンクション構造が構成されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の半導体装置。 - 前記半導体装置は、前記第4半導体層が前記第2半導体層及び前記第3半導体層の表面の全部に形成され、前記第2電極が前記第4半導体層と接続されているPINダイオードであることを特徴とする請求項5に記載の半導体装置。
- 前記半導体基体において、
前記第1半導体層は、第1導電型の半導体層であり、
前記第4半導体層は、前記第2半導体層及び前記第3半導体層の表面の全部に形成されたベース層であり、
前記第4半導体層の表面には、第1導電型高濃度拡散領域が形成されており、
前記半導体装置は、
平面的に見て前記トレンチが形成されていない領域に位置し、前記第4半導体層の最深部よりも深い深さ位置まで、かつ、前記第1導電型高濃度拡散領域の一部が内周面に露出するように形成されたゲートトレンチと、
前記ゲートトレンチの内周面に形成されたゲート絶縁膜と、
前記ゲート絶縁膜を介して前記ゲートトレンチの内部に埋め込まれてなるゲート電極とをさらに備えるトレンチゲート型のMOSFETであり、
前記第2電極は、前記第4半導体層及び前記第1導電型高濃度拡散領域と接続されていることを特徴とする請求項5に記載の半導体装置。 - 前記半導体基体において、
前記第1半導体層は、第1導電型の半導体層であり、
前記第4半導体層は、前記第2半導体層の表面の一部及び前記第3半導体層の表面の全部に形成されたベース層であり、
前記第4半導体層の表面の一部には、第1導電型高濃度拡散領域が形成されており、
前記半導体装置は、前記第1導電型高濃度拡散領域と前記第2半導体層とに挟まれた前記第4半導体層を少なくとも覆うようにゲート絶縁膜を介して形成されたゲート電極をさらに備えるプレーナーゲート型のMOSFETであり、
前記第2電極は、前記第4半導体層及び前記第1導電型高濃度拡散領域と接続されていることを特徴とする請求項5に記載の半導体装置。 - 前記半導体基体において、
前記第1半導体層は、第2導電型の半導体層であり、
前記第4半導体層は、前記第2半導体層及び前記第3半導体層の表面の全部に形成されたベース層であり、
前記第4半導体層の表面には、第1導電型高濃度拡散領域が形成されており、
前記半導体装置は、
平面的に見て前記トレンチが形成されていない領域に位置し、前記第4半導体層の最深部よりも深い深さ位置まで、かつ、前記第1導電型高濃度拡散領域の一部が内周面に露出するように形成されたゲートトレンチと、
前記ゲートトレンチの内周面に形成されたゲート絶縁膜と、
前記ゲート絶縁膜を介して前記ゲートトレンチの内部に埋め込まれてなるゲート電極とをさらに備えるトレンチゲート型のIGBTであり、
前記第2電極は、前記第4半導体層及び前記第1導電型高濃度拡散領域と接続されていることを特徴とする請求項5に記載の半導体装置。 - 前記半導体基体において、
前記第1半導体層は、第2導電型の半導体層であり、
前記第4半導体層は、前記第2半導体層の表面の一部及び前記第3半導体層の表面の全部に形成されたベース層であり、
前記第4半導体層の表面の一部には、第1導電型高濃度拡散領域が形成されており、
前記半導体装置は、前記第1導電型高濃度拡散領域と前記第2半導体層とに挟まれた前記第4半導体層を少なくとも覆うようにゲート絶縁膜を介して形成されたゲート電極をさらに備えるプレーナーゲート型のIGBTであり、
前記第2電極は、前記第4半導体層及び前記第1導電型高濃度拡散領域と接続されていることを特徴とする請求項5に記載の半導体装置。 - 前記開口直下には、前記第4半導体層よりも不純物濃度が高い第2導電型高濃度拡散領域が前記開口の底面と接触するように形成されていることを特徴とする請求項5〜10のいずれかに記載の半導体装置。
- 隣接する前記トレンチに挟まれた部分の前記第2半導体層を第1コラムとし、前記第3半導体層を第2コラムとしたときに、前記第1コラムと前記第2コラムとでスーパージャンクション構造が構成されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の半導体装置。
- 前記半導体装置は、前記金属がバリア金属であり、前記第2電極が前記第3半導体層に加えて前記第2半導体層とも接続されているショットキーバリアダイオードであることを特徴とする請求項12に記載の半導体装置。
- 前記第2半導体層は、単結晶のエピタキシャル層からなることを特徴とする請求項1〜13のいずれかに記載の半導体装置。
- 請求項1〜14のいずれかに記載の半導体装置を製造するための半導体装置の製造方法であって、
第1導電型又は第2導電型の第1半導体層の上に第1導電型の第2半導体層が積層され、前記第2半導体層の表面には所定の深さのトレンチが形成されており、当該トレンチ内全体に単結晶のエピタキシャル層からなる第2導電型の第3半導体層が形成されている半導体基体を準備する半導体基体準備工程と、
前記第2半導体層及び前記第3半導体層の表面上に層間絶縁膜を形成する層間絶縁膜形成工程と、
前記層間絶縁膜における少なくとも前記第3半導体層が形成されている領域内に所定の開口を形成する開口形成工程と、
前記開口の内部に前記第2電極を構成する金属とは異なる金属を充填することによって金属プラグを形成する金属プラグ形成工程と、
前記第1半導体層の表面上に第1電極を形成するとともに、前記層間絶縁膜上に前記金属プラグを介して少なくとも前記第3半導体層と接続される第2電極を形成する電極形成工程とをこの順序で含み、
前記開口形成工程においては、平面的に見て前記第3半導体層の中央部を避けた位置に前記開口を形成し、
前記開口形成工程、前記金属プラグ形成工程及び前記電極形成工程において、前記第3半導体層の中央部の表面は、前記層間絶縁膜で覆われていることを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 請求項1〜14のいずれかに記載の半導体装置を製造するための半導体装置の製造方法であって、
第1導電型又は第2導電型の第1半導体層の上に第1導電型の第2半導体層が積層され、前記第2半導体層の表面には所定の深さのトレンチが形成されており、当該トレンチ内全体に単結晶のエピタキシャル層からなる第2導電型の第3半導体層が形成されている半導体基体を準備する半導体基体準備工程と、
前記第2半導体層及び前記第3半導体層の表面上に層間絶縁膜を形成する層間絶縁膜形成工程と、
前記層間絶縁膜における少なくとも前記第3半導体層が形成されている領域内に所定の開口を形成する開口形成工程と、
前記第1半導体層の表面上に第1電極を形成する工程、及び、前記層間絶縁膜上に、前記開口の内部に第2電極を構成する金属がそのまま充填され少なくとも前記第3半導体層と直接接続される前記第2電極を形成する工程を含む電極形成工程とをこの順序で含み、
前記開口形成工程においては、平面的に見て前記第3半導体層の中央部を避けた位置に前記開口を形成し、
前記開口形成工程及び前記電極形成工程において、前記第3半導体層の中央部の表面は、前記層間絶縁膜で覆われていることを特徴とする半導体装置の製造方法。
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