JP6409987B2 - イオントラップ質量分析装置及び該装置を用いた質量分析方法 - Google Patents
イオントラップ質量分析装置及び該装置を用いた質量分析方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6409987B2 JP6409987B2 JP2017562177A JP2017562177A JP6409987B2 JP 6409987 B2 JP6409987 B2 JP 6409987B2 JP 2017562177 A JP2017562177 A JP 2017562177A JP 2017562177 A JP2017562177 A JP 2017562177A JP 6409987 B2 JP6409987 B2 JP 6409987B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion
- mass
- ions
- dissociation
- ion trap
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
- H01J49/0031—Step by step routines describing the use of the apparatus
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/426—Methods for controlling ions
- H01J49/427—Ejection and selection methods
Description
上述したような手法によればイオンを解離させることが可能であるものの、その解離効率は手法によって異なり、例えばCIDではイオンを励振させる際の電圧や反応時間を変更することによって、またIRMPDではレーザ光パワーやレーザ光照射時間を変更することによって、解離対象であるプリカーサイオンをほぼ完全に解離させることができる。つまりプリカーサイオンの解離効率はほぼ100%である。これに対し、HAD、ECD、ETDはCID等に比べるとプリカーサイオンの解離効率が低い。例えばECDにおけるプリカーサイオンの解離効率はペプチドで15%程度、タンパク質では30%程度であることが非特許文献5で報告されている。
図7はイオン解離手法としてCID及びHADを用いたときのMS/MSスペクトルの比較を示す図である。図7(a)に示すようにCIDを用いた場合には、プリカーサイオンの信号強度は非常に低くなり、プロダクトイオンの信号強度は全体的に高くなる。これに対し、図7(b)に示すようにHADを用いた場合には、多くの量のプリカーサイオンが解離されずに残るため該プリカーサイオンの信号強度は高く、逆に、プロダクトイオンの信号強度は全体的に低くなってしまう。
a)前記イオントラップに捕捉されているイオンのうち、特定の質量電荷比を有する目的イオン以外のイオンを該イオントラップから排出するイオン選別ステップと、
b)前記イオン選別ステップによって前記イオントラップに残された前記目的イオンを所定の解離手法によって解離させるイオン解離操作、及び、その解離操作後に前記イオントラップに捕捉されているイオンのうち前記目的イオンの質量電荷比よりも質量電荷比が小さいイオンを低質量電荷比側から質量電荷比が高くなる方向に又はその逆方向に質量走査しながら排出するイオン排出操作、を複数回繰り返し行うイオン解離・排出ステップと、
c)前記イオン解離・排出ステップにおける複数回のイオン排出操作時に前記イオントラップから排出されたイオンを検出した結果に基づいてマススペクトルを作成するマススペクトル作成ステップと、
を有することを特徴としている。
a)前記イオントラップに捕捉されているイオンのうち、特定の質量電荷比を有する目的イオン以外のイオンを該イオントラップから排出する電場を形成するように、該イオントラップを構成する少なくとも一つの電極に所定の電圧を印加するイオン選別実行部と、
b)前記イオン選別実行部によるイオン選別操作によって前記イオントラップに残された前記目的イオンを所定の解離手法によって解離させるイオン解離操作、及び、その解離操作後に前記イオントラップに捕捉されているイオンのうち前記目的イオンの質量電荷比よりも質量電荷比が小さいイオンを低質量電荷比側から質量電荷比が高くなる方向に又はその逆方向に質量走査しながら排出するように前記イオントラップを構成する少なくとも一つの電極に所定の電圧を印加するイオン排出操作、を複数回繰り返し行うイオン解離・排出実行部と、
c)前記イオン解離・排出実行部による複数回のイオン排出操作時に前記イオントラップから排出されたイオンを検出した結果に基づいてマススペクトルを作成するマススペクトル作成部と、
を備えることを特徴としている。
図1は本実施例のイオントラップ質量分析装置の全体構成図である。
イオン源1において目的試料から生成された各種イオンはパケット状にイオン源1から射出され、入口側エンドキャップ電極22に形成されているイオン導入孔23を経てイオントラップ2の内部に導入される。イオントラップ2内に導入された試料由来のイオンは、トラップ電圧発生部8からリング電極21に印加される高周波電圧によってイオントラップ2内に形成される高周波電場に捕捉される。そのあと、トラップ電圧発生部8からリング電極21等に所定の電圧が印加され、それによって特定の質量電荷比を有する目的イオン以外の質量電荷比範囲に含まれるイオンは励振され、イオントラップ2から排除される。これにより、イオントラップ2内に、特定の質量電荷比を有する目的イオン、つまりプリカーサイオンが選択的に捕捉される。
図2はこのMS/MS分析動作のフローチャート、図3はこのMS/MS分析動作を説明するためのマススペクトル(積算スペクトル)を示す図である。なお、図3は実測結果ではなく、P物質(Substance P)を試料としたときに得られると推定される積算スペクトルの概念図である。
2…イオントラップ
21…リング電極
22、24…エンドキャップ電極
23…イオン導入孔
25…イオン射出孔
26…ラジカル粒子導入口
3…検出器
4…アナログデジタル変換部
5…データ処理部
51…マススペクトル積算部
6…水素ラジカル照射部
61…水素ラジカル供給源
62…バルブ
63…ノズル
7…ガス導入部
71…ガス供給源
72…バルブ
8…トラップ電圧発生部
9…制御部
Claims (6)
- 複数の電極から成るイオントラップの内部空間に試料由来のイオンを捕捉し、該イオンを所定のイオン解離手法により解離させ、それにより得られたプロダクトイオンを前記イオントラップから排出して検出するイオントラップ質量分析装置を用いた質量分析方法であって、
a)前記イオントラップに捕捉されているイオンのうち、特定の質量電荷比を有する目的イオン以外のイオンを該イオントラップから排出するイオン選別ステップと、
b)前記イオン選別ステップによって前記イオントラップに残された前記目的イオンを所定の解離手法によって解離させるイオン解離操作、及び、その解離操作後に前記イオントラップに捕捉されているイオンのうち前記目的イオンの質量電荷比よりも質量電荷比が小さいイオンを低質量電荷比側から質量電荷比が高くなる方向に又はその逆方向に質量走査しながら排出するイオン排出操作、を複数回繰り返し行うイオン解離・排出ステップと、
c)前記イオン解離・排出ステップにおける複数回のイオン排出操作時に前記イオントラップから排出されたイオンを検出した結果に基づいてマススペクトルを作成するマススペクトル作成ステップと、
を有することを特徴とする質量分析方法。 - 請求項1に記載の質量分析方法であって、
前記イオン解離・排出ステップでは、前記イオントラップに捕捉されているイオンを低質量電荷比側から質量電荷比が高くなる方向に順に前記目的イオンの質量電荷比の直前まで質量走査しながらイオンを排出するイオン排出操作を行うことを特徴とする質量分析方法。 - 請求項1又は2に記載の質量分析方法であって、
前記イオン解離手法は、水素ラジカル付着解離、電子移動解離、又は電子捕獲解離の一つを含むことを特徴とする質量分析方法。 - 請求項3に記載の質量分析方法であって、
前記イオン解離・排出ステップにおいて繰り返し行われる複数回のイオン解離操作では同一のイオン解離手法が用いられることを特徴とする質量分析方法。 - 請求項3に記載の質量分析方法であって、
前記イオン解離・排出ステップにおいて繰り返し行われる複数回のイオン解離操作では互いに異なる二つ以上のイオン解離手法が用いられることを特徴とする質量分析方法。 - 複数の電極から成るイオントラップの内部空間に試料由来のイオンを捕捉し、該イオンを所定のイオン解離手法により解離させ、それにより得られたプロダクトイオンを前記イオントラップから排出して検出するイオントラップ質量分析装置であって、
a)前記イオントラップに捕捉されているイオンのうち、特定の質量電荷比を有する目的イオン以外のイオンを該イオントラップから排出する電場を形成するように、該イオントラップを構成する少なくとも一つの電極に所定の電圧を印加するイオン選別実行部と、
b)前記イオン選別実行部によるイオン選別操作によって前記イオントラップに残された前記目的イオンを所定の解離手法によって解離させるイオン解離操作、及び、その解離操作後に前記イオントラップに捕捉されているイオンのうち前記目的イオンの質量電荷比よりも質量電荷比が小さいイオンを低質量電荷比側から質量電荷比が高くなる方向に又はその逆方向に質量走査しながら排出するように前記イオントラップを構成する少なくとも一つの電極に所定の電圧を印加するイオン排出操作、を複数回繰り返し行うイオン解離・排出実行部と、
c)前記イオン解離・排出実行部による複数回のイオン排出操作時に前記イオントラップから排出されたイオンを検出した結果に基づいてマススペクトルを作成するマススペクトル作成部と、
を備えることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2016/051269 WO2017126006A1 (ja) | 2016-01-18 | 2016-01-18 | イオントラップ質量分析装置及び該装置を用いた質量分析方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2017126006A1 JPWO2017126006A1 (ja) | 2018-06-28 |
JP6409987B2 true JP6409987B2 (ja) | 2018-10-24 |
Family
ID=59361666
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017562177A Active JP6409987B2 (ja) | 2016-01-18 | 2016-01-18 | イオントラップ質量分析装置及び該装置を用いた質量分析方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10510524B2 (ja) |
EP (1) | EP3425383A4 (ja) |
JP (1) | JP6409987B2 (ja) |
CN (1) | CN108474762B (ja) |
WO (1) | WO2017126006A1 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB201802917D0 (en) | 2018-02-22 | 2018-04-11 | Micromass Ltd | Charge detection mass spectrometry |
JP7215121B2 (ja) | 2018-12-05 | 2023-01-31 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ質量分析装置 |
US11908671B2 (en) * | 2019-04-02 | 2024-02-20 | Shimadzu Corporation | Ion analyzer |
US20240102962A1 (en) * | 2019-11-11 | 2024-03-28 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometry method and mass spectrometer |
US11842891B2 (en) | 2020-04-09 | 2023-12-12 | Waters Technologies Corporation | Ion detector |
WO2022070584A1 (ja) * | 2020-09-30 | 2022-04-07 | 株式会社島津製作所 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
CN113964014B (zh) * | 2021-08-17 | 2024-03-19 | 上海裕达实业有限公司 | 基于线性离子阱质谱仪的离子碎裂装置及方法 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6147348A (en) * | 1997-04-11 | 2000-11-14 | University Of Florida | Method for performing a scan function on quadrupole ion trap mass spectrometers |
JP2007198884A (ja) * | 2006-01-26 | 2007-08-09 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置及び質量分析方法 |
JP4369454B2 (ja) * | 2006-09-04 | 2009-11-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | イオントラップ質量分析方法 |
US7692142B2 (en) * | 2006-12-13 | 2010-04-06 | Thermo Finnigan Llc | Differential-pressure dual ion trap mass analyzer and methods of use thereof |
US20080210860A1 (en) * | 2007-03-02 | 2008-09-04 | Kovtoun Viatcheslav V | Segmented ion trap mass spectrometry |
JP2009068981A (ja) * | 2007-09-13 | 2009-04-02 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析システム及び質量分析方法 |
GB0810125D0 (en) * | 2008-06-03 | 2008-07-09 | Thermo Fisher Scient Bremen | Collosion cell |
WO2011010649A1 (ja) * | 2009-07-24 | 2011-01-27 | 株式会社日立製作所 | 質量分析方法及びイオン解離装置 |
JP5440449B2 (ja) | 2010-08-30 | 2014-03-12 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ質量分析装置 |
WO2012137806A1 (ja) * | 2011-04-04 | 2012-10-11 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置及び質量分析方法 |
EP2893550B1 (en) * | 2012-05-18 | 2019-11-06 | Micromass UK Limited | IMPROVED METHOD OF MSe MASS SPECTROMETRY |
EP2894654B1 (en) * | 2012-09-10 | 2019-05-08 | Shimadzu Corporation | Ion selection method in ion trap and ion trap device |
CN102937622B (zh) * | 2012-11-20 | 2015-06-17 | 复旦大学 | 一种在离子阱中进行的串级质谱分析方法 |
JP6044385B2 (ja) * | 2013-02-26 | 2016-12-14 | 株式会社島津製作所 | タンデム型質量分析装置 |
JP6229529B2 (ja) * | 2014-02-19 | 2017-11-15 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ質量分析装置及びイオントラップ質量分析方法 |
EP3093871A4 (en) | 2014-03-04 | 2017-01-04 | Shimadzu Corporation | Ion analyzer |
US10347477B2 (en) * | 2017-03-24 | 2019-07-09 | Thermo Finnigan Llc | Methods and systems for quantitative mass analysis |
-
2016
- 2016-01-18 JP JP2017562177A patent/JP6409987B2/ja active Active
- 2016-01-18 US US16/070,659 patent/US10510524B2/en active Active
- 2016-01-18 CN CN201680079369.3A patent/CN108474762B/zh active Active
- 2016-01-18 EP EP16886249.8A patent/EP3425383A4/en not_active Withdrawn
- 2016-01-18 WO PCT/JP2016/051269 patent/WO2017126006A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3425383A4 (en) | 2019-12-11 |
WO2017126006A1 (ja) | 2017-07-27 |
CN108474762B (zh) | 2021-03-26 |
CN108474762A (zh) | 2018-08-31 |
US20190108993A1 (en) | 2019-04-11 |
US10510524B2 (en) | 2019-12-17 |
EP3425383A1 (en) | 2019-01-09 |
JPWO2017126006A1 (ja) | 2018-06-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6409987B2 (ja) | イオントラップ質量分析装置及び該装置を用いた質量分析方法 | |
US7541575B2 (en) | Fragmenting ions in mass spectrometry | |
JP4687787B2 (ja) | 質量分析方法及び質量分析装置 | |
JP4690641B2 (ja) | 質量分析計 | |
US7329862B2 (en) | Mass spectrometer | |
JP5001965B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP4636943B2 (ja) | 質量分析装置 | |
US8164053B2 (en) | Mass analyzer and mass analyzing method | |
JP5533612B2 (ja) | イオントラップ飛行時間型質量分析装置 | |
JP3752458B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP5481115B2 (ja) | 質量分析計及び質量分析方法 | |
JP5737144B2 (ja) | イオントラップ質量分析装置 | |
JP2006093160A (ja) | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム | |
JP5423408B2 (ja) | 質量分析方法及び質量分析装置 | |
JP2022500812A (ja) | Rfイオントラップイオン装填方法 | |
JP7452348B2 (ja) | イオントラップへのイオン導入方法、イオントラップ質量分析装置、及び、イオントラップ質量分析用プログラム | |
JP2015170445A (ja) | 質量分析装置及び質量分析方法 | |
WO2019220501A1 (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
JP2022500813A (ja) | Rfイオントラップイオン装填方法 | |
JP2007033322A (ja) | 質量分析方法及び装置 | |
US20230126290A1 (en) | Ion activation and fragmentation in sub-ambient pressure for ion mobility and mass spectrometry | |
WO2019211918A1 (ja) | 直交加速飛行時間型質量分析装置 | |
JP2011034981A (ja) | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム | |
JP2009146913A (ja) | 質量分析計 | |
JP2015173072A (ja) | 質量分析装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180131 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180131 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180828 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180910 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6409987 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |