JP2015173072A - 質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
Description
a)試料をイオン化するイオン源と、
b)前記イオン源で生成されたイオンを保持するとともに、特定の質量電荷比を有するイオンの選択、及びその選択されたイオンに対する衝突誘起解離を実施可能であるイオントラップと、
c)前記イオントラップから射出されたイオン又は該イオンに由来するイオンを質量電荷比に応じて分離して検出する質量分析部と、
d)前記イオントラップと前記質量分析部との間のイオン飛行経路上に配置され、前記イオントラップから射出されたイオンに対する衝突誘起解離を実施可能であるコリジョンセルと、
を備えることを特徴としている。
以上のように本発明に係る質量分析装置では、高エネルギCIDによるMS/MS分析、低エネルギCIDのみによるMSn分析、及び、低エネルギCIDと高エネルギCIDとを組み合わせたMSn分析を選択的に行うことができる。
この構成によれば、高エネルギCIDを実施したい場合にはガス供給部によりコリジョンセルにCIDガスを供給し、低エネルギCIDを実施したい場合にはガス供給部によりイオントラップにCIDガスを供給し、高エネルギCIDと低エネルギCIDを共に実施したい場合には、ガス供給部によりコリジョンセルとイオントラップとの両方にCIDガスを供給すればよい。
前記イオントラップで特定の質量電荷比を有するイオンの選択を行ったあとにその選択されたイオンを該イオントラップから射出して衝突誘起解離ガスを供給した前記コリジョンセルに導入することで、イオンを高エネルギCIDにより解離させ、これにより生成されたプロダクトイオンを前記質量分析部に導入して質量分析する第1の分析モードと、
前記イオントラップで特定の質量電荷比を有するイオンの選択とその選択されたイオンに対する低エネルギCIDとを任意の回数繰り返し、それにより生成されたプロダクトイオンを前記イオントラップから射出し前記コリジョンセルを素通りさせ前記質量分析部に導入して質量分析する第2の分析モードと、
前記イオントラップで特定の質量電荷比を有するイオンの選択とその選択されたイオンに対する低エネルギCIDとを任意の回数繰り返したあとに、保持していたイオンを前記イオントラップから射出し衝突誘起解離ガスを供給した前記コリジョンセルに導入することで、イオンを高エネルギCIDにより解離させ、これにより生成されたプロダクトイオンを前記質量分析部に導入して質量分析する第3の分析モードと、
を選択的に実施するように前記各部を制御する制御部をさらに備える構成とするとよい。
図2(a)〜(c)は、本実施例の質量分析装置における高エネルギCIDモードの動作を説明する概略図である。
高エネルギCIDモードでは、第1ガスバルブ6は閉鎖、第2ガスバルブ7は開放される。これにより、ガス供給源5からコリジョンセル3内にCIDガスが供給され、コリジョンセル3内のガス圧はその周囲の真空チャンバ内よりも高くなる。一方、イオントラップ2内にはCIDガスは供給されないので、イオントラップ2内は高真空状態に維持される。
なお、プリカーサイオンの質量電荷比又は質量電荷比範囲は、例えば操作部12からユーザが分析条件の一つとして予め設定しておくようにすることができる。
図3(a)〜(d)は、本実施例の質量分析装置における低エネルギCIDモードの動作を説明する概略図である。
低エネルギCIDモードでは、第2ガスバルブ7は閉鎖、第1ガスバルブ6は所定のタイミングで開放される。コリジョンセル3内にはCIDガスは供給されないので、コリジョンセル3内は高真空状態に維持される。一方、ガス供給源5からイオントラップ2内にCIDガスが供給されると、イオントラップ2内のガス圧は真空チャンバ内のその周囲の領域よりも高くなる。
図4(a)〜(c)及び図5(a)〜(b)は、本実施例の質量分析装置における低エネルギCID-高エネルギCID組み合わせモードの動作を説明する概略図である。
低エネルギCID-高エネルギCID組み合わせモードでは、第2ガスバルブ7は開放され、第1ガスバルブ6も所定のタイミングで開放される。これにより、ガス供給源5からコリジョンセル3内にCIDガスが供給され、コリジョンセル3内のガス圧はその周囲の真空チャンバ内よりも高くなる。一方、ガス供給源5からイオントラップ2内にCIDガスが供給されると、イオントラップ2内のガス圧はその周囲の真空チャンバ内よりも高くなる。
2…イオントラップ
21…リング電極
22…入口側エンドキャップ電極
23…イオン入射孔
24…出口側エンドキャップ電極
25…イオン出射孔
3…コリジョンセル
4…質量分析部
41…飛行時間型質量分析器
42…イオン検出器
5…ガス供給源
6…第1ガスバルブ
7…第2ガスバルブ
8…主電圧発生部
9…補助電圧発生部
10…データ処理部
11…制御部
12…操作部
Claims (3)
- a)試料をイオン化するイオン源と、
b)前記イオン源で生成されたイオンを保持するとともに、特定の質量電荷比を有するイオンの選択、及びその選択されたイオンに対する衝突誘起解離を実施可能であるイオントラップと、
c)前記イオントラップから射出されたイオン又は該イオンに由来するイオンを質量電荷比に応じて分離して検出する質量分析部と、
d)前記イオントラップと前記質量分析部との間のイオン飛行経路上に配置され、前記イオントラップから射出されたイオンに対する衝突誘起解離を実施可能であるコリジョンセルと、
を備えることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置であって、
前記イオントラップと前記コリジョンセルとにそれぞれ独立に衝突誘起解離ガスを供給するガス供給部をさらに備えることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項2に記載の質量分析装置であって、
前記イオントラップで特定の質量電荷比を有するイオンの選択を行ったあとにその選択されたイオンを該イオントラップから射出して衝突誘起解離ガスを供給した前記コリジョンセルに導入することで、イオンを高エネルギ衝突誘起解離により解離させ、これにより生成されたプロダクトイオンを前記質量分析部に導入して質量分析する第1の分析モードと、
前記イオントラップで特定の質量電荷比を有するイオンの選択とその選択されたイオンに対する低エネルギ衝突誘起解離とを任意の回数繰り返し、それにより生成されたプロダクトイオンを前記イオントラップから射出し前記コリジョンセルを素通りさせ前記質量分析部に導入して質量分析する第2の分析モードと、
前記イオントラップで特定の質量電荷比を有するイオンの選択とその選択されたイオンに対する低エネルギ衝突誘起解離とを任意の回数繰り返したあとに、保持していたイオンを前記イオントラップから射出し衝突誘起解離ガスを供給した前記コリジョンセルに導入することで、イオンを高エネルギ衝突誘起解離により解離させ、これにより生成されたプロダクトイオンを前記質量分析部に導入して質量分析する第3の分析モードと、
を選択的に実施するように前記各部を制御する制御部をさらに備えることを特徴とする質量分析装置。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003103007A1 (en) * | 2002-06-03 | 2003-12-11 | The State Of Oregon Acting By And Through The State Board Of Higher Education Onbehalf Of Oregonof Oregon State University | Mass spectrometer |
JP2007173228A (ja) * | 2005-12-20 | 2007-07-05 | Agilent Technol Inc | タンデム型質量分析法のための分子活性化 |
JP2008257982A (ja) * | 2007-04-04 | 2008-10-23 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
WO2010095586A1 (ja) * | 2009-02-19 | 2010-08-26 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析システム |
JP2012516013A (ja) * | 2009-01-21 | 2012-07-12 | マイクロマス・ユーケイ・リミテッド | Ms/ms/msを行なう質量分析計 |
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2014
- 2014-03-12 JP JP2014049142A patent/JP2015173072A/ja active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003103007A1 (en) * | 2002-06-03 | 2003-12-11 | The State Of Oregon Acting By And Through The State Board Of Higher Education Onbehalf Of Oregonof Oregon State University | Mass spectrometer |
JP2007173228A (ja) * | 2005-12-20 | 2007-07-05 | Agilent Technol Inc | タンデム型質量分析法のための分子活性化 |
JP2008257982A (ja) * | 2007-04-04 | 2008-10-23 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
JP2012516013A (ja) * | 2009-01-21 | 2012-07-12 | マイクロマス・ユーケイ・リミテッド | Ms/ms/msを行なう質量分析計 |
WO2010095586A1 (ja) * | 2009-02-19 | 2010-08-26 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析システム |
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