JP6396861B2 - 光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法 - Google Patents

光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6396861B2
JP6396861B2 JP2015145540A JP2015145540A JP6396861B2 JP 6396861 B2 JP6396861 B2 JP 6396861B2 JP 2015145540 A JP2015145540 A JP 2015145540A JP 2015145540 A JP2015145540 A JP 2015145540A JP 6396861 B2 JP6396861 B2 JP 6396861B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical fiber
light
mode
test
under test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015145540A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2017026474A (ja
Inventor
中村 篤志
篤志 中村
岡本 圭司
圭司 岡本
優介 古敷谷
優介 古敷谷
真鍋 哲也
哲也 真鍋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP2015145540A priority Critical patent/JP6396861B2/ja
Publication of JP2017026474A publication Critical patent/JP2017026474A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6396861B2 publication Critical patent/JP6396861B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

本発明は、光ファイバの特性を検出するための光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法に関する。
光通信システムでは、伝送媒体である光ファイバは多様な方法で試験される。例えば、光ファイバ内を伝搬する光に由来するレイリー散乱光の後方散乱光やフレネル反射光を検出することで、光ファイバの長手方向における伝送損失の分布や接続点での反射減衰量が得られる。その結果に基づいて光ファイバの特性、例えば、曲げによる損失や、コネクタの接続点、反射点等の位置を特定することができる。このような原理を利用する、光ファイバ特性解析装置(光ファイバ線路分布測定装置)が知られている。光ファイバ特性解析装置は、光ファイバの破断や故障などの異常を検出し、その位置を特定するために用いられることができる。
光ファイバ特性解析装置として、OTDR(Optical Time Domain Reflectometer)や、OFDR(Optical Frequency Domain Reflectometer)が著名である。OTDRは、パルス化された試験光のラウンドトリップ時間に基づき分布データを取得する。OFDRは、周波数変調された試験光を用いて、その変調周波数を解析して位置情報を取得する。
ところで、光ファイバ特性解析装置の検出感度には限りがある。つまり検出感度よりも低い影響をもたらす異常を検出することはできない。例えば、曲げ半径の大きな曲げや低曲げ損失光ファイバに生じる曲げは、ほんの僅かな損失を発生させるにすぎない。つまりこれらの場所で生じる損失は既存の光ファイバ特性解析装置の検出感度よりも小さいので、異常を検出することが困難である。
ところで、光ファイバの曲げ損失は、基本モードに比べて高次モードにおいて、より大きいことが知られている。一方で、通常、OTDR等の光ファイバ特性解析装置に用いられる光デバイスは、不要な高次モードの発生によって生じる測定波形のうねりをなくすために、試験波長で単一モード動作するデバイスを用いる。
非特許文献1では、光ファイバに生じる曲げを高感度に検知するために、試験対象とされる光ファイバにおけるカットオフ波長より短い波長の試験光とモード合分波器を用いて、後方散乱光の高次モードを測定する手法が開示されている。
A. Nakamura, K. Okamoto, I. Ogushi, N. Hanzawa, K. Katayama and T. Manabe,"Highly Sensitive Detection of Fiber Bending Using 1−μm−band Mode−detection OTDR",OECC2014, TU6C4, 2014.
以上述べたように、既存の光ファイバ特性解析装置の検出感度には限りがあるので、この感度よりも小さい影響をもたらす異常を検出することはできない。光ファイバ特性解析装置の検出感度をさらに向上させることが望まれている。
しかし、後方散乱光の高次モードを測定することで検出感度を高めた非特許文献1の手法では、モード合分波器を用いているため、汎用的なOTDRと比べて装置を構成するデバイスの数が多くなり装置が高価である。測定装置が高価なほど導入に対する障壁が高くなるため、光ファイバ特性の検出感度が高く、且つ安価な装置構成での実現が望まれている。
本発明は、上記事情によりなされたもので、その目的は、光ファイバ特性の検出感度が高く、且つ安価な装置構成を実現できる光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法を提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明に係る光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法は、後方散乱光の高次モードと基本モードとを分離せずにまとめて測定することとした。
具体的には、本発明に係る第1の光ファイバ特性解析装置は、
被試験光ファイバのカットオフ波長より短い波長の試験光パルスを生成する生成部と、
前記生成部が生成した試験光パルスの一部またはすべてを高次モードに変換して前記被試験光ファイバに入射し、前記試験光パルスが前記被試験光ファイバを伝搬することで発生する後方散乱光のうち基本モードで伝搬する戻り光の一部またはすべてを高次モードに変換するとともに、前記後方散乱光のうち高次モードで伝搬する戻り光の一部またはすべてを基本モードに変換するモード変換部と、
前記モード変換部がモード変換した前記戻り光を光/電変換し、光強度の情報を持つ電気信号を生成する受光部と、
前記受光部が生成した前記電気信号を解析し、前記被試験光ファイバの距離に対する前記戻り光の強度分布を取得する信号処理部と、
を備える。
本発明に係る第1の光ファイバ特性解析装置の前記モード変換部は、軸ずれや角度ずれを伴う光ファイバの接続、又は長周期グレーティングであることを特徴とする。
本発明に係る第1の光ファイバ特性解析方法は、
被試験光ファイバのカットオフ波長より短い波長の試験光パルスを生成する生成手順と、
前記生成手順で生成された試験光パルスの一部またはすべてを高次モードに変換して前記被試験光ファイバに入射し、前記試験光パルスが前記被試験光ファイバを伝搬することで発生する後方散乱光のうち基本モードで伝搬する戻り光の一部またはすべてを高次モードに変換するとともに、前記後方散乱光のうち高次モードで伝搬する戻り光の一部またはすべてを基本モードに変換するモード変換手順と、
前記モード変換手順でモード変換された前記戻り光を光/電変換し、光強度の情報を持つ電気信号を生成する受光手順と、
前記受光手順で生成した前記電気信号を解析し、前記被試験光ファイバの距離に対する前記戻り光の強度分布を取得する信号処理手順と、
を行う。
また、本発明に係る第2の光ファイバ特性解析装置は、
被試験光ファイバのカットオフ波長より短い波長の試験光パルスを生成する生成部と、
前記生成部が生成した試験光パルスを前記被試験光ファイバに入射し、前記試験光パルスが前記被試験光ファイバを伝搬することで発生する後方散乱光が基本モード及び高次モードで伝搬する戻り光を抽出する入射抽出部と、
前記入射抽出部が抽出した前記戻り光を光/電変換し、光強度の情報を持つ電気信号を生成する受光部と、
前記受光部が生成した前記電気信号を解析し、前記被試験光ファイバの距離に対する前記戻り光の強度分布を取得する信号処理部と、
を備える。
本発明に係る第2の光ファイバ特性解析装置の前記入射抽出部は、前記試験光パルスの波長において基本モードと高次モードの双方の光強度を分配可能な光カプラであることを特徴とする。
本発明に係る第2の光ファイバ特性解析方法は、
被試験光ファイバのカットオフ波長より短い波長の試験光パルスを生成する生成手順と、
前記生成手順で生成された試験光パルスを前記被試験光ファイバに入射し、前記試験光パルスが前記被試験光ファイバを伝搬することで発生する後方散乱光が基本モード及び高次モードで伝搬する戻り光を抽出する入射抽出手順と、
前記入射抽出手順で抽出された前記戻り光を光/電変換し、光強度の情報を持つ電気信号を生成する受光手順と、
前記受光手順で生成された前記電気信号を解析し、前記被試験光ファイバの距離に対する前記戻り光の強度分布を取得する信号処理手順と、
を行う。
本光ファイバ特性解析装置及び本光ファイバ特性解析方法は、後方散乱光の高次モードと基本モードとを分離せずにまとめて測定するため、モード合分波器が不要であり構成が簡易になり装置の低価格化を実現できる。一方、本光ファイバ特性解析装置及び本光ファイバ特性解析方法は、高次モードで伝搬する試験光および後方散乱光に生じる損失情報を含む信号の強度分布を得ることができるため、基本モードのみを用いた場合に比べて高い感度で光ファイバ特性を検知可能である。
従って、本発明は、光ファイバ特性の検出感度が高く、且つ安価な装置構成を実現できる光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法を提供することができる。
本発明は、光ファイバ特性の検出感度が高く、且つ安価な装置構成を実現できる光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法を提供することができる。
本発明に係る光ファイバ特性解析装置を説明する図である。 本発明に係る光ファイバ特性解析装置を説明する図である。 本発明に係る光ファイバ特性解析装置及び本発明に関連する光ファイバ特性解析装置で被試験ファイバの測定を行った結果を説明する図である。 本発明に係る光ファイバ特性解析装置及び本発明に関連する光ファイバ特性解析装置で被試験ファイバの測定を行った結果を説明する図である。 カットオフ波長より短い波長の試験光パルスを入射された被試験光ファイバに生じる後方散乱光について説明するための図である。
添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。
(実施形態1)
図1は、本実施形態の光ファイバ特性解析装置301を説明する機能ブロック図である。光ファイバ特性解析装置301はOTDRの原理に基づいて、被試験光ファイバからの戻り光の距離に対する強度分布を解析して被試験光ファイバ10の特性を算出する。
光ファイバ特性解析装置301は、
被試験光ファイバのカットオフ波長より短い波長の試験光パルスを生成する生成部と、
前記生成部が生成した試験光パルスの一部またはすべてを高次モードに変換して前記被試験光ファイバに入射し、前記試験光パルスが前記被試験光ファイバを伝搬することで発生する後方散乱光のうち基本モードで伝搬する戻り光の一部またはすべてを高次モードに変換するとともに、前記後方散乱光のうち高次モードで伝搬する戻り光の一部またはすべてを基本モードに変換するモード変換部と、
前記モード変換部がモード変換した前記戻り光を光/電変換し、光強度の情報を持つ電気信号を生成する受光部と、
前記受光部が生成した前記電気信号を解析し、前記被試験光ファイバの距離に対する前記戻り光の強度分布を取得する信号処理部と、
を備える。
また、光ファイバ特性解析装置301が行う光ファイバ特性解析方法は、
被試験光ファイバのカットオフ波長より短い波長の試験光パルスを生成する生成手順と、
前記生成手順で生成された試験光パルスの一部またはすべてを高次モードに変換して前記被試験光ファイバに入射し、前記試験光パルスが前記被試験光ファイバを伝搬することで発生する後方散乱光のうち基本モードで伝搬する戻り光の一部またはすべてを高次モードに変換するとともに、前記後方散乱光のうち高次モードで伝搬する戻り光の一部またはすべてを基本モードに変換するモード変換手順と、
前記モード変換手順でモード変換された前記戻り光を光/電変換し、光強度の情報を持つ電気信号を生成する受光手順と、
前記受光手順で生成した前記電気信号を解析し、前記被試験光ファイバの距離に対する前記戻り光の強度分布を取得する信号処理手順と、
を行う。
図1において、前記生成部は、光源11と光パルス化器12である。前記モード変換部は、軸ずれや角度ずれを伴う光ファイバの接続、又は長周期グレーティングであるが、図1では、軸ずれ融着14である。前記受光部は、光受信器15である。前記信号処理部は、A/D変換器16と演算処理装置17である。
図1において、光源11から出力される連続光は光パルス化器12でパルス化される。光パルス化器12は、例えば音響光学素子をパルス駆動するようにした音響光学スイッチを備える、音響光学変調器である。本実施形態では、光源11から出力される連続光の波長を、被試験光ファイバ10において高次モードが伝搬可能な波長とする。つまり、光源11の発信波長を被試験光ファイバ10のカットオフ波長より短い波長にすることで、試験光パルスの波長を被試験光ファイバ10のカットオフ波長より短くする。本実施形態では、光源11の発信波長が被試験光ファイバ10で2モード動作する波長、すなわち基本モード(LP01モード)および第一高次モード(LP11モード)のみが伝搬可能な波長である場合を例にとって説明する。
光パルス化器12で生成された試験光パルスは光サーキュレータ13を介して軸ずれ融着点14に入射される。この試験光パルスは、軸ずれ融着点14で一部がモード変換され、LP01モードおよびLP11モードで被試験光ファイバ10に入射される。
ここで、図5を用いて、カットオフ波長より短い波長の試験光パルスを入射された被試験光ファイバ10に生じる後方散乱光について説明する。試験光パルスが被試験光ファイバ10中を伝搬すると、被試験光ファイバ10各所でレイリー散乱が生じる。このレイリー散乱の一部が入射端側の方向に伝搬する基本モードおよび高次モードに結合し、これにより後方散乱光の基本モードおよび高次モードが発生する。図5では、試験光パルスがLP01モードであるが、LP11モードであっても同様に基本モードおよび高次モードの後方散乱光が発生する。
被試験光ファイバ10において発生した試験光パルスの後方散乱光は、軸ずれ融着点14に再入射する。後方散乱光のLP01モードは軸ずれ融着点14を通過する際に、一部はLP01モードのまま透過し、一部はLP11モードに変換されて透過する。また、後方散乱光のLP11モードは軸ずれ融着点14を通過する際に、一部はLP11モードのまま透過し、一部はLP01モードに変換されて透過する。すなわち、軸ずれ融着点14を通過後にLP01モードとして伝搬する後方散乱光は、被試験光ファイバ10内でLP11モードとして伝搬した後方散乱光を含んでいる。一方、軸ずれ融着点14を通過後にLP11モードとして伝搬する後方散乱光は、被試験光ファイバ10内でLP01モードとして伝搬した後方散乱光を含んでいる。
光サーキュレータ13は試験光の波長で単一モード動作し、高次モードは透過しない。このため、軸ずれ融着点14を通過後にLP01モードとして伝搬する後方散乱光は、光サーキュレータ13経由で光受信器15に達し、光/電変換されたのちA/D(アナログ/ディジタル)変換器16でディジタルデータに変換される。一方、軸ずれ融着点14を通過後にLP11モードとして伝搬する後方散乱光は、光サーキュレータ13を通過する際に遮断される。
軸ずれ融着点14を通過後にLP01モードとして伝搬する後方散乱光に由来するディジタルデータは演算処理装置17に入力される。演算処理装置17は、ディジタルデータを解析して後方散乱光の強度分布を取得する。つまり、演算処理装置17は、後方散乱光の電圧値に対して演算処理を施し、距離に対する強度分布(損失分布と同義)を求める。
以上のように、光ファイバ特性解析装置301は、被試験光ファイバ10におけるLP01およびLP11モードの損失情報を含む損失分布を測定することが可能となる。換言すれば、光ファイバ特性解析装置301は、被試験光ファイバ10内でLP11モードとして伝搬した後方散乱光を含んでいる光信号を光受信器15で受信するため、基本モードのみを用いた従来のOTDRに比べて高い感度で光ファイバ特性を検知可能である。また、光ファイバ特性解析装置301は、後方散乱光の高次モードと基本モードとを分離せずにまとめて測定するため、モード合分波器が不要であり構成が簡易になり装置の低価格化を実現できる。
(実施形態2)
図2は、本実施形態の光ファイバ特性解析装置302を説明する機能ブロック図である。光ファイバ特性解析装置302はOTDRの原理に基づいて、被試験光ファイバからの戻り光の距離に対する強度分布を解析して被試験光ファイバ10の特性を算出する。
光ファイバ特性解析装置302は、
被試験光ファイバのカットオフ波長より短い波長の試験光パルスを生成する生成部と、
前記生成部が生成した試験光パルスを前記被試験光ファイバに入射し、前記試験光パルスが前記被試験光ファイバを伝搬することで発生する後方散乱光が基本モード及び高次モードで伝搬する戻り光を抽出する入射抽出部と、
前記入射抽出部が抽出した前記戻り光を光/電変換し、光強度の情報を持つ電気信号を生成する受光部と、
前記受光部が生成した前記電気信号を解析し、前記被試験光ファイバの距離に対する前記戻り光の強度分布を取得する信号処理部と、
を備える。
また、光ファイバ特性解析装置302が行う光ファイバ特性解析方法は、
被試験光ファイバのカットオフ波長より短い波長の試験光パルスを生成する生成手順と、
前記生成手順で生成された試験光パルスを前記被試験光ファイバに入射し、前記試験光パルスが前記被試験光ファイバを伝搬することで発生する後方散乱光が基本モード及び高次モードで伝搬する戻り光を抽出する入射抽出手順と、
前記入射抽出手順で抽出された前記戻り光を光/電変換し、光強度の情報を持つ電気信号を生成する受光手順と、
前記受光手順で生成された前記電気信号を解析し、前記被試験光ファイバの距離に対する前記戻り光の強度分布を取得する信号処理手順と、
を行う。
図2において、前記生成部は、光源11と光パルス化器12である。前記入射抽出部は、前記試験光パルスの波長において基本モードと高次モードの双方の光強度を分配可能な光カプラ21である。前記受光部は、光受信器15である。前記信号処理部は、A/D変換器16と演算処理装置17である。
図2において、光源11及び光パルス化器12は、図1での説明と同じである。
光パルス化器12で生成された試験光パルスは光カプラ21を介して被試験光ファイバ10に入射される。そして、図5で説明したように、試験光パルスが被試験光ファイバ10を伝搬することで後方散乱光の基本モード(LP01)および高次モード(LP11)が発生する。被試験光ファイバ10において発生した後方散乱光のLP01およびLP11モードは、光カプラ21に再入射する。
光カプラ21は、LP01モード及びLP11モードで伝搬する光を透過するカプラである。例えば、被試験光ファイバ10が汎用的なシングルモードファイバの場合、光カプラ21は波長1310nmや1550nmで動作する汎用的な2×2光カプラである。
このため、後方散乱光のLP01およびLP11モードは光カプラ21を透過し、光受信器15に達し、光/電変換されたのちA/D(アナログ/ディジタル)変換器16でディジタルデータに変換される。
後方散乱光のLP01およびLP11モードに由来するディジタルデータは演算処理装置17に入力される。図1での説明と同様に、演算処理装置17は、ディジタルデータを解析して後方散乱光の強度分布を取得する。つまり、演算処理装置17は、後方散乱光の電圧値に対して演算処理を施し、距離に対する強度分布(損失分布と同義)を求める。
以上のように、光ファイバ特性解析装置302は、被試験光ファイバ10におけるLP01およびLP11モードの損失情報を含む損失分布を測定することが可能となる。換言すれば、光ファイバ特性解析装置302は、被試験光ファイバ10内でLP01およびLP11モードとして伝搬した後方散乱光をまとめて光受信器15で受信するため、基本モードのみを用いた従来のOTDRに比べて高い感度で光ファイバ特性を検知可能である。また、光ファイバ特性解析装置302は、後方散乱光の高次モードと基本モードとを分離せずにまとめて測定するため、モード合分波器が不要であり構成が簡易になり装置の低価格化を実現できる。
(発明の効果)
図3は、本発明の効果を説明する図である。詳細には、図3(a)、図3(b)及び図3(c)は、それぞれ図1の光ファイバ特性解析装置301、図2の光ファイバ特性解析装置302、及び比較用の汎用OTDR(試験波長1650nm)を用いて被試験ファイバ10の特性(後方散乱光強度分布)を測定した結果である。被試験ファイバ10として全長2kmのシングルモードファイバを用い、約1km地点に半径20mmの曲げを付与した。試験光の波長は1050nmとし、空間分解能は5mとした。また、光ファイバ特性解析装置301の軸ずれ量は2.5μmとした。なお、被試験ファイバ10のシングルモードファイバとは、当該ファイバを伝搬する通常の通信光の波長(例えば、波長1310nmや1550nm)において単一モードで伝搬し、実効遮断波長が1260nm付近にある光ファイバである。つまり、実効遮断波長が1050nmより長い光ファイバという意味である。
図3(a)及び図3(b)は、それぞれ光ファイバ特性解析装置301及び光ファイバ特性解析装置302により得られる後方散乱光強度分布である。図3(c)は、比較のため、波長1650nmの汎用的なOTDRで測定された後方散乱光強度分布である。
図3(a)〜(c)の各グラフの横軸は、被試験光ファイバ10において後方散乱光の発生した距離を示す。縦軸は後方散乱光強度を表している。図3より、曲げ部付近において、波長1650nmの汎用的なOTDRで得られる波形には明確な損失は生じていないが、光ファイバ特性解析装置301及び光ファイバ特性解析装置302から得られる波形には明確に損失が生じていることがわかる。
図4は、被試験光ファイバに与える曲げ半径Rの変化に対する曲げ損失の解析結果をプロットしたグラフである。図4において、曲げ半径が大きい領域では、光ファイバ特性解析装置301及び光ファイバ特性解析装置302から得られる曲げ損失は、波長1650nmの汎用的なOTDRで得られる曲げ損失と比べて、大きいことがわかる。また、曲げ半径が17.5mmよりも大きい領域で、波長1650nmの汎用的なOTDRでは検知できない曲げを、光ファイバ特性解析装置301及び光ファイバ特性解析装置302では検知可能であることがわかる。
なお、この発明は上記実施形態に限定されるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施可能である。要するにこの発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。
10:被試験光ファイバ
11:光源
12:光パルス化器
13:光サーキュレータ
14:軸ずれ融着
15:光受信器
16:A/D変換器
17:演算処理装置
21:光カプラ
301、302:光ファイバ特性解析装置

Claims (8)

  1. 被試験光ファイバのカットオフ波長より短い波長の試験光パルスを生成する生成部と、
    前記生成部が生成した試験光パルスの一部またはすべてを高次モードに変換して前記被試験光ファイバに入射し、前記試験光パルスが前記被試験光ファイバを伝搬することで発生する後方散乱光のうち基本モードで伝搬する戻り光の一部またはすべてを高次モードに変換するとともに、前記後方散乱光のうち高次モードで伝搬する戻り光の一部またはすべてを基本モードに変換するモード変換部と、
    前記モード変換部がモード変換した前記戻り光のうち基本モードの光を光/電変換し、光強度の情報を持つ電気信号を生成する受光部と、
    前記受光部が生成した前記電気信号を解析し、前記被試験光ファイバの距離に対する前記戻り光の強度分布を取得する信号処理部と、
    を備える光ファイバ特性解析装置。
  2. 前記モード変換部は、軸ずれや角度ずれを伴う光ファイバの接続、又は長周期グレーティングであることを特徴とする請求項1に記載の光ファイバ特性解析装置。
  3. 被試験光ファイバのカットオフ波長より短い波長の試験光パルスを生成する生成部と、
    前記生成部が生成した試験光パルスの一部またはすべてを高次モードに変換して前記被試験光ファイバに入射し、前記試験光パルスが前記被試験光ファイバを伝搬することで発生する後方散乱光のうち基本モードで伝搬する戻り光の一部またはすべてを高次モードに変換するとともに、前記後方散乱光のうち高次モードで伝搬する戻り光の一部またはすべてを基本モードに変換するモード変換部と、
    前記モード変換部がモード変換した前記戻り光を光/電変換し、光強度の情報を持つ電気信号を生成する受光部と、
    前記受光部が生成した前記電気信号を解析し、前記被試験光ファイバの距離に対する前記戻り光の強度分布を取得する信号処理部と、
    を備え、
    前記モード変換部は、軸ずれや角度ずれを伴う光ファイバの接続、又は長周期グレーティングであることを特徴とする光ファイバ特性解析装置。
  4. 被試験光ファイバのカットオフ波長より短い波長の試験光パルスを生成する生成部と、
    前記生成部が生成した試験光パルスを前記被試験光ファイバに入射し、前記試験光パルスが前記被試験光ファイバを伝搬することで発生する後方散乱光が基本モード及び高次モードで伝搬する戻り光を抽出する入射抽出部と、
    前記入射抽出部が抽出した基本モード及び高次モードを含む前記戻り光を一括して光/電変換し、光強度の情報を持つ電気信号を生成する受光部と、
    前記受光部が生成した前記電気信号を解析し、前記被試験光ファイバの距離に対する前記戻り光の強度分布を取得する信号処理部と、
    を備える光ファイバ特性解析装置。
  5. 前記入射抽出部は、前記試験光パルスの波長において基本モードと高次モードの双方の光強度を分配可能な光カプラであることを特徴とする請求項に記載の光ファイバ特性解析装置。
  6. 被試験光ファイバのカットオフ波長より短い波長の試験光パルスを生成する生成手順と、
    前記生成手順で生成された試験光パルスの一部またはすべてを高次モードに変換して前記被試験光ファイバに入射し、前記試験光パルスが前記被試験光ファイバを伝搬することで発生する後方散乱光のうち基本モードで伝搬する戻り光の一部またはすべてを高次モードに変換するとともに、前記後方散乱光のうち高次モードで伝搬する戻り光の一部またはすべてを基本モードに変換するモード変換手順と、
    前記モード変換手順でモード変換された前記戻り光のうち基本モードの光を光/電変換し、光強度の情報を持つ電気信号を生成する受光手順と、
    前記受光手順で生成した前記電気信号を解析し、前記被試験光ファイバの距離に対する前記戻り光の強度分布を取得する信号処理手順と、
    を行う光ファイバ特性解析方法。
  7. 被試験光ファイバのカットオフ波長より短い波長の試験光パルスを生成する生成手順と、
    前記生成手順で生成された試験光パルスの一部またはすべてを高次モードに変換して前記被試験光ファイバに入射し、前記試験光パルスが前記被試験光ファイバを伝搬することで発生する後方散乱光のうち基本モードで伝搬する戻り光の一部またはすべてを高次モードに変換するとともに、前記後方散乱光のうち高次モードで伝搬する戻り光の一部またはすべてを基本モードに変換するモード変換手順と、
    前記モード変換手順でモード変換された前記戻り光を光/電変換し、光強度の情報を持つ電気信号を生成する受光手順と、
    前記受光手順で生成した前記電気信号を解析し、前記被試験光ファイバの距離に対する前記戻り光の強度分布を取得する信号処理手順と、
    を行い、
    前記モード変換手順では、軸ずれや角度ずれを伴う光ファイバの接続、又は長周期グレーティングでモード変換することを特徴とする光ファイバ特性解析方法。
  8. 被試験光ファイバのカットオフ波長より短い波長の試験光パルスを生成する生成手順と、
    前記生成手順で生成された試験光パルスを前記被試験光ファイバに入射し、前記試験光パルスが前記被試験光ファイバを伝搬することで発生する後方散乱光が基本モード及び高次モードで伝搬する戻り光を抽出する入射抽出手順と、
    前記入射抽出手順で抽出された基本モード及び高次モードを含む前記戻り光を一括して光/電変換し、光強度の情報を持つ電気信号を生成する受光手順と、
    前記受光手順で生成された前記電気信号を解析し、前記被試験光ファイバの距離に対する前記戻り光の強度分布を取得する信号処理手順と、
    を行う光ファイバ特性解析方法。
JP2015145540A 2015-07-23 2015-07-23 光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法 Active JP6396861B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015145540A JP6396861B2 (ja) 2015-07-23 2015-07-23 光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015145540A JP6396861B2 (ja) 2015-07-23 2015-07-23 光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017026474A JP2017026474A (ja) 2017-02-02
JP6396861B2 true JP6396861B2 (ja) 2018-09-26

Family

ID=57949629

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015145540A Active JP6396861B2 (ja) 2015-07-23 2015-07-23 光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6396861B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6791113B2 (ja) * 2017-12-27 2020-11-25 横河電機株式会社 光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法
WO2020075343A1 (ja) * 2018-10-12 2020-04-16 日本電信電話株式会社 光ファイバ試験方法及び光ファイバ試験装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02187641A (ja) * 1989-01-17 1990-07-23 Fujikura Ltd 光ファイバ線路状態の監視方法
US5251002A (en) * 1992-02-25 1993-10-05 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Mode transition matrix measuring system
JP6132332B2 (ja) * 2013-02-06 2017-05-24 国立大学法人東北大学 マルチモード光ファイバ用モード結合測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2017026474A (ja) 2017-02-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6777483B2 (ja) 光ファイバ試験装置及び光ファイバ試験方法
JP6338153B2 (ja) モード結合比率分布測定方法及びモード結合比率分布測定装置
JP6060099B2 (ja) 光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法
JP2016191659A (ja) 光ファイバ歪み測定装置及び光ファイバ歪み測定方法
JP7040391B2 (ja) 後方散乱光増幅装置、光パルス試験装置、後方散乱光増幅方法、及び光パルス試験方法
JP7156386B2 (ja) 光パルス試験装置及び光パルス試験方法
JP2020148606A (ja) マルチコア光ファイバセンシングシステム
JP6263426B2 (ja) 分岐光線路特性解析システム、分岐光線路とその製造方法
JP2019105530A (ja) モード遅延時間差分布試験方法および試験装置
JP5000443B2 (ja) 光ファイバの後方ブリルアン散乱光測定方法及び装置
JP6220764B2 (ja) 光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法
JP6683973B2 (ja) モード結合比率分布測定装置及びモード結合比率分布測定方法
JP6097712B2 (ja) 光ファイバの伝搬定数測定装置及び方法
JP6396861B2 (ja) 光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法
WO2020054143A1 (ja) 振動検知光ファイバセンサ及び振動検知方法
JP6411306B2 (ja) 光線路特性解析装置及び光線路特性解析方法
JP6085573B2 (ja) 分岐光線路の特性解析装置および分岐光線路の特性解析方法
JP5053120B2 (ja) 光ファイバの後方ブリルアン散乱光測定方法及び装置
JP6653617B2 (ja) 光パルス試験装置および光パルス試験方法
JP2018189600A (ja) 光パルス試験装置及び光パルス試験方法
JP5256225B2 (ja) 光線路測定装置及び光線路測定方法
CA2629902A1 (en) Detection and location of breaks in distributed brillouin fiber sensors
JP6602689B2 (ja) 光線路特性解析装置及び信号処理方法
JP4932509B2 (ja) ブリルアン周波数シフト測定方法及び装置
JP2006242634A (ja) 光伝送媒体の分散測定方法及び装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170830

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180427

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180515

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180614

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180828

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180830

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6396861

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150