JP6396375B2 - 波形測定表示装置および波形測定表示方法 - Google Patents
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Description
前記波形データ生成部にて生成された波形データをサンプル位置毎に積算した合計値として更新記憶する記憶部4と、
前記対象信号の波形数、前記波形データのサンプル数、前記対象信号のサンプリング時間の何れかを前記記憶部に更新記憶された波形データの読み出し開始条件として設定する設定部2と、
前記対象信号の波形を表示する表示部5と、
前記読み出し開始条件を満たしたときに、前記記憶部に更新記憶された1波形のサンプル位置毎に積算した合計値による波形データを読み出し、読み出した波形データに基づく1枚の表示画像による波形を前記表示部に描画制御する制御部6とを備えたことを特徴とする。
前記生成された波形データをサンプル位置毎に積算した合計値として更新記憶するステップと、
前記対象信号の波形数、前記波形データのサンプル数、前記対象信号のサンプリング時間の何れかを前記更新記憶された波形データの読み出し開始条件として設定するステップと、
前記読み出し開始条件を満たしたときに、前記更新記憶された1波形のサンプル位置毎に積算した合計値による波形データを読み出し、読み出した波形データに基づく1枚の表示画像による波形を描画制御するステップとを含むことを特徴とする。
2 設定部
3 波形データ生成部
4 記憶部
5 表示部
6 制御部
Claims (2)
- 周期的な信号からなる対象信号をサンプリングして波形データを生成する波形データ生成部(3)と、
前記波形データ生成部にて生成された波形データをサンプル位置毎に積算した合計値として更新記憶する記憶部(4)と、
前記対象信号の波形数、前記波形データのサンプル数、前記対象信号のサンプリング時間の何れかを前記記憶部に更新記憶された波形データの読み出し開始条件として設定する設定部(2)と、
前記対象信号の波形を表示する表示部(5)と、
前記読み出し開始条件を満たしたときに、前記記憶部に更新記憶された1波形のサンプル位置毎に積算した合計値による波形データを読み出し、読み出した波形データに基づく1枚の表示画像による波形を前記表示部に描画制御する制御部(6)とを備えたことを特徴とする波形測定表示装置。 - 周期的な信号からなる対象信号をサンプリングして波形データを生成するステップと、
前記生成された波形データをサンプル位置毎に積算した合計値として更新記憶するステップと、
前記対象信号の波形数、前記波形データのサンプル数、前記対象信号のサンプリング時間の何れかを前記更新記憶された波形データの読み出し開始条件として設定するステップと、
前記読み出し開始条件を満たしたときに、前記更新記憶された1波形のサンプル位置毎に積算した合計値による波形データを読み出し、読み出した波形データに基づく1枚の表示画像による波形を描画制御するステップとを含むことを特徴とする波形測定表示方法。
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