JP6352710B2 - 検査装置 - Google Patents
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Description
図1に示すX線検査装置1は、食品などの商品の生産ラインにおいて、複数の内容物GがパッケージPに収容された商品(物品)Wの品質検査を行う装置である。X線検査装置1は、連続的に搬送されてくる商品Wに対してX線を照射して、商品を透過したX線の透過量に基づいて、内容物Gの数量及び内容物Gの配列状態の不良判断を行う。商品Wは、例えば、食品などの搬送ラインにおいて搬送される真空パック用の袋に包装されたジャガイモである。
制御コンピュータ20は、X線検査装置1における各種動作を制御する部分であり、CPU(CentralProcessing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)などで構成される。図3に示されるように、制御コンピュータ20は、X線検査装置1における各種制御処理を実行する概念的な部分としての画像生成部21と、画素値情報取得部23と、内容物領域特定部25と、分離画像出力部27と、個数算出部29と、を有している。このような概念的な部分は、例えばROMに格納されているプログラムがRAM上にロードされてCPUで実行されるソフトウェアとして構成することができる。なお、制御コンピュータ4は、電子回路などによるハードウェアとして構成されてもよい。
画像生成部21は、商品Wを透過したX線に基づいて、商品WのX線透過画像40を生成する部分である。具体的には、画像生成部21は、X線ラインセンサ9から連続的に送信されてくる検出信号に基づいて、図4に示されるような、商品Wに関するX線透過画像40を生成する。X線透過画像40における1画素当たりの濃淡は、これに対応する商品W部分のX線透過量を示している。
画素値情報取得部23は、図5に示されるように、X線透過画像40のX軸方向(第1方向)に並ぶ画素55の画素列53(531,532、・・・、53n−1、53n)における画素55(551,552、・・・、55n−1、55n)ごとの濃淡値(画素値)を示す第1画素値情報51を、Y軸方向(第2方向)に沿って所定の間隔で取得する部分である。言い換えれば、画素値情報取得部23は、X軸方向の濃淡値(画素値)の変化を示す第1画素値情報51をY軸方向に沿って所定の間隔で取得する。第1画素値情報51は、例えば、横軸をX軸方向距離、縦軸を濃淡値として示したとき、図6(A)に示されるようなグラフで示すことができる。なお、図6(A)のグラフでは、淡い色の画素ほど高い数値の画素値を有している。
内容物領域特定部25は、X線透過画像40において、X軸方向及びY軸方向にそれぞれ隣接する内容物領域41同士を互いに区別して認識する部分である。X軸方向に隣接する内容物領域41同士を互いに区別して認識する方法について説明する。すなわち、内容物領域特定部25は、画素値情報取得部23によって取得された第1画素値情報51に基づいて、画素値がピーク値(変化点)となる画素55に対応するX線透過画像40上の位置をピーク値位置43として特定する。ここでいうピーク値とは、例えば、第1画素値情報を図6(A)及び図6(B)に示されるようなグラフに示した時のピーク(局地的な最大値)となる部分(ピーク値51A,61A)である。
分離画像出力部27は、仮想線45,47が視覚的に認識可能となるようにX線透過画像40を加工した分離透過画像49をモニタ11に出力する。例えば、図9に示されるように、仮想線45,47を内容物領域41と比べて明るい色の線で表示することで、仮想線45,47が視覚的に認識可能となる。これにより、X線透過画像40は、X軸方向及びY軸方向に並ぶ内容物領域41を分離したような分離透過画像49となる。
個数算出部29は、内容物領域特定部25において互いに隣接する内容物領域41同士を区別して認識した結果に基づいて、内容物Gの個数を算出する部分である。例えば、個数算出部29は、認識した内容物領域41に対しラベリング処理を行い、内容物領域41の面積又は周囲長が所定の範囲内にあれば正量品としてカウントする。
上記実施形態のX線検査装置1では、パッケージPに複数の内容物Gが収容された商品WにおいてX線を透過しやすい部分を、隣接する内容物G同士の境界とみなすことにより、隣接する内容物G同士の領域を互いに区別して認識(特定)している。具体的には、上記実施形態のX線検査装置1では、X線を透過しやすい部分を抽出するために、画像生成部21により取得されたX線透過画像40において、X軸方向における濃淡の変化(第1画素値情報51)を関数としてみたとき、ピーク値(図6(A)に示す51A)を抽出し、当該ピーク値を示す画素に対応するX線透過画像40上の位置をピーク値位置43として特定している。そして、内容物領域特定部25では、X線透過画像40においてY軸方向に隣接するピーク値位置43同士を結線した仮想線45をX軸方向に隣接する内容物領域41同士の境界とみなして、この仮想線45を挟んだ両側の内容物領域41を互いに区別して認識する。この結果、真空パック内の内容物Gの収容状態にかかわらず、隣接する内容物G同士を互いに区別して認識することができる。
以上、一実施形態について説明したが、本発明は、上記実施形態に限られるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
上記実施形態のX線検査装置1では、画素値情報取得部23は、図5に示されるように、X線透過画像40のX軸方向の画素列53(531,532、・・・、53n−1、53n)の画素55(551,552、・・・、55n−1、55n)ごとの濃淡値を示す第1画素値情報51と、図7に示されるように、X線透過画像40のY軸方向の画素列63(631,632、・・・、63n−1、63n)の画素65(651,652、・・・、65n−1、65n)ごとの濃淡値を示す第2画素値情報61と、を取得する例を挙げて説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、画素値情報取得部23は、上記第1画素値情報51のみを取得してもよい。この場合であっても、X軸方向に一次元に配列される内容物Gを含む商品WについてX軸方向に隣接する内容物Gを互いに区別して認識することができる。また、例えば、画素値情報取得部23は、上記第2画素値情報61のみを取得してもよい。この場合であっても、Y軸方向に一次元に配列される内容物Gを含む商品WについてY軸方向に隣接する内容物Gを互いに区別して認識することができる。
上記実施形態のX線検査装置1では、図5に示されるように、第1画素値情報51は、Y軸方向に沿って連続して並ぶ複数の画素列53(531,532、・・・、53n−1、53n)の平均値からなる例を挙げて説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、画素値情報取得部23は、X軸方向に並ぶ単独の画素列53の画素55ごとの画素値の情報である第1画素値情報51を、Y軸方向に沿って所定の間隔で取得してもよい。また、同様に、画素値情報取得部23は、Y軸方向に並ぶ単独の画素列63の画素65ごとの画素値の情報である第2画素値情報61を、X軸方向に沿って所定の間隔で取得してもよい。
Claims (7)
- 物品に光を照射する光照射部と、前記物品を透過した前記光に基づいて、前記物品の透過画像を生成する画像生成部と、を備え、パッケージに複数の内容物が収容された物品を検査する検査装置であって、
前記透過画像の第1方向に並ぶ画素の画素列における前記画素ごとの画素値の情報である第1画素値情報を、前記第1方向と交差する第2方向に沿って所定の間隔で取得する画素値情報取得部と、
前記第1画素値情報において前記画素値が変化点となる前記画素に対応する前記透過画像上の位置を変化点位置として特定し、前記透過画像において前記第2方向に隣接する前記変化点位置同士を結線した仮想線に基づいて前記第1方向に隣接する内容物領域同士を互いに区別して認識する内容物領域特定部と、
を備える、検査装置。 - 前記画素値情報取得部は、前記第2方向に沿って連続する複数の前記第1方向に並ぶ画素列の平均値からなる前記第1画素値情報を取得する、請求項1に記載の検査装置。
- 前記仮想線が視覚的に認識可能となるように前記透過画像を加工して出力する分離画像出力部を更に備えている、請求項1又は2に記載の検査装置。
- 前記内容物は不定形である、請求項1〜3の何れか一項に記載の検査装置。
- 前記画素値情報取得部は、前記第1画素値情報に加え、前記透過画像の第2方向に並ぶ画素の画素列における前記画素ごとの画素値の情報である第2画素値情報を、前記第1方向に沿って所定の間隔で取得し、
前記内容物領域特定部は、前記透過画像において前記第1方向に隣接する前記内容物領域同士を互いに区別する処理に加え、前記第2画素値情報において前記画素値が変化点となる前記画素に対応する前記透過画像上の位置を変化点位置として特定し、前記透過画像において前記第1方向に隣接する前記変化点位置同士を結線した仮想線に基づいて前記第2方向に隣接する前記内容物領域同士を互いに区別して認識する、請求項1〜4の何れか一項に記載の検査装置。 - 前記画素値情報取得部は、前記第1方向に沿って連続する複数の前記第2方向に並ぶ画素列の平均値からなる前記第2画素値情報を取得する、請求項5に記載の検査装置。
- 前記内容物領域特定部において互いに隣接する前記内容物領域同士を区別した結果に基づいて、前記内容物の個数を算出する個数算出部を更に備える、請求項1〜6の何れか一項に記載の検査装置。
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